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JP7031206B2 - Resin composition - Google Patents

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JP7031206B2
JP7031206B2 JP2017193049A JP2017193049A JP7031206B2 JP 7031206 B2 JP7031206 B2 JP 7031206B2 JP 2017193049 A JP2017193049 A JP 2017193049A JP 2017193049 A JP2017193049 A JP 2017193049A JP 7031206 B2 JP7031206 B2 JP 7031206B2
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Description

本発明は、磁性フィラーを含有する樹脂組成物に関する。さらには、当該樹脂組成物を用いて得られる、樹脂シート、インダクタ部品に関する。 The present invention relates to a resin composition containing a magnetic filler. Further, the present invention relates to a resin sheet and an inductor component obtained by using the resin composition.

近年、電子機器の小型化、高性能化が進み、プリント配線板のみならず、プリント配線板に搭載されるインダクタ部品(コイル)も、小型化、薄型化の要求が高まっている。このため、インダクタ部品に用いる基材(コア材)の薄型化や、さらにはコアレス構造のインダクタ部品などが求められている(例えば、特許文献1等参照)。 In recent years, electronic devices have become smaller and more sophisticated, and there is an increasing demand for smaller and thinner inductor components (coils) mounted on printed wiring boards as well as printed wiring boards. For this reason, there is a demand for thinner base materials (core materials) used for inductor parts, and further, inductor parts having a coreless structure (see, for example, Patent Document 1 and the like).

特開2016-134424号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-134424

薄いインダクタ部品や、コアレス構造のインダクタ部品を製造する場合、磁性フィラーを含有する樹脂組成物により磁性層(絶縁層)を形成する際に、磁性層自身の硬化収縮により、インダクタ部品に反りが発生しやすいという課題が生じる。反りが発生すると、インダクタ部品をプリント配線板に実装する際に、実装の信頼性が損なわれる。 When manufacturing a thin inductor component or an inductor component having a coreless structure, when the magnetic layer (insulating layer) is formed by a resin composition containing a magnetic filler, the inductor component is warped due to the curing shrinkage of the magnetic layer itself. The problem of being easy to do arises. When warpage occurs, the reliability of mounting is impaired when the inductor component is mounted on the printed wiring board.

一方、反りを抑制するために、樹脂硬化物(磁性層)の柔軟性を高める成分を配合することが考えられる。しかし、反り防止効果を十分発揮させるには、柔軟性を高める成分を相当量配合させることが求められるので、磁性フィラーの含有量が相対的に下がるため、磁性層の高透磁率化には不利となり、インダクタ部品の性能が低下する傾向となる。 On the other hand, in order to suppress warpage, it is conceivable to add a component that enhances the flexibility of the cured resin product (magnetic layer). However, in order to fully exert the warp prevention effect, it is necessary to add a considerable amount of a component that enhances flexibility, so that the content of the magnetic filler is relatively low, which is disadvantageous for increasing the magnetic permeability of the magnetic layer. Therefore, the performance of the inductor components tends to deteriorate.

よって本発明の課題は、インダクタ部品の高透磁率化を維持しつつ、薄型化した場合でも反りの発生の抑制し得る、インダクタ部品の磁性層を形成用の樹脂組成物;当該樹脂組成物を用いて得られる、樹脂シート;インダクタ素子内蔵配線板;及びプリント配線板を提供することにある。 Therefore, the subject of the present invention is a resin composition for forming a magnetic layer of an inductor component, which can suppress the occurrence of warpage even when the inductor component is made thinner while maintaining a high magnetic permeability of the inductor component; It is an object of the present invention to provide a resin sheet; a wiring board with a built-in inductor element; and a printed wiring board, which are obtained by using the resin sheet.

本発明者らは、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、エポキシ樹脂、磁性フィラー、硬化剤、及び両親媒性ポリエーテルブロックコポリマーを含有する樹脂組成物が、磁性層を形成する際に、透磁率の維持と反りの抑制を同時に達成し得ることを見出し、本発明を完成させるに至った。 As a result of diligent studies to solve the above problems, the present inventors have found that a resin composition containing an epoxy resin, a magnetic filler, a curing agent, and an amphoteric polyether block copolymer forms a magnetic layer. We have found that the maintenance of magnetic permeability and the suppression of warpage can be achieved at the same time, and have completed the present invention.

すなわち、本発明は以下の内容を含む。
[1] (A)エポキシ樹脂、
(B)磁性フィラー、
(C)硬化剤、及び
(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー、を含有する樹脂組成物。
[2] (B)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、75質量%以上95質量%未満である、[1]に記載の樹脂組成物。
[3] (D)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、0.3質量%以上15質量%以下である、[1]又は[2]に記載の樹脂組成物。
[4] (D)成分が、少なくとも一つのエポキシ樹脂混和性ポリエーテルブロックセグメントと、少なくとも一つのエポキシ樹脂非混和性ポリエーテルブロックセグメントとを含むブロックコポリマーである、[1]~[3]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[5] エポキシ樹脂混和性ポリエーテルブロックセグメントが、ポリエチレンオキシドブロック、ポリプロピレンオキシドブロック、ポリ(エチレンオキシド-co-プロピレンオキシド)ブロック、ポリ(エチレンオキシド-ran-プロピレンオキシド)ブロック、及びそれらの混合物から選択される1種以上のポリアルキレンオキシドブロックであり、
エポキシ樹脂非混和性ポリエーテルブロックセグメントが、ポリブチレンオキシドブロック、ポリヘキシレンオキシドブロック、ポリドデシレンオキシドブロック、及びそれらの混合物から選択される1種以上のポリアルキレンオキシドブロックである、[4]に記載の樹脂組成物。
[6] さらに、(E)カルボジイミド化合物を含有する、[1]~[5]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[7] さらに、(F)熱可塑性樹脂を含有する、[1]~[6]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[8] (C)成分が、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤、及び活性エステル系硬化剤から選ばれる1種以上である、[1]~[7]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[9] (A)成分が、縮合環構造を有するエポキシ樹脂を含有する、[1]~[8]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[10] 樹脂組成物を、100℃で30分間、さらに190℃で60分間熱硬化させた硬化物の硬化収縮率が0.27%以下である、[1]~[9]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[11] 樹脂組成物を190℃で90分間熱硬化させた硬化物の30℃~150℃における線熱膨張係数が3ppm/℃以上30ppm/℃以下である、[1]~[10]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[12] インダクタ素子を備える配線板の磁性層形成用である、[1]~[11]のいずれかに記載の樹脂組成物。
[13] 支持体と、該支持体上に設けられた、[1]~[12]のいずれかに記載の樹脂組成物で形成された樹脂組成物層を含む、樹脂シート。
[14] [13]に記載の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物である磁性層と、該磁性層に少なくとも一部分が埋め込まれた導電性構造体とを有しており、
前記導電性構造体と、前記磁性層の厚さ方向に延在し、かつ前記導電性構造体に囲まれた前記磁性層のうちの一部分によって構成されるインダクタ素子を含む、インダクタ素子内蔵配線板。
[15] [14]に記載のインダクタ素子内蔵配線板を内層基板として含むプリント配線板。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] (A) Epoxy resin,
(B) Magnetic filler,
A resin composition containing (C) a curing agent and (D) an amphipathic polyether block copolymer.
[2] The resin composition according to [1], wherein the content of the component (B) is 75% by mass or more and less than 95% by mass when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass.
[3] The content of the component (D) is 0.3% by mass or more and 15% by mass or less when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, according to [1] or [2]. Resin composition.
[4] The component (D) is a block copolymer containing at least one epoxy resin miscible polyether block segment and at least one epoxy resin immiscible polyether block segment, according to [1] to [3]. The resin composition according to any one.
[5] Epoxy resin miscible polyether block segments are selected from polyethylene oxide blocks, polypropylene oxide blocks, poly (ethylene oxide-co-propylene oxide) blocks, poly (ethylene oxide-ran-propylene oxide) blocks, and mixtures thereof. One or more polyalkylene oxide blocks
Epoxy resin immiscible polyether block segments are one or more polyalkylene oxide blocks selected from polybutylene oxide blocks, polyhexylene oxide blocks, polydodecylene oxide blocks, and mixtures thereof, [4. ] The resin composition according to.
[6] The resin composition according to any one of [1] to [5], further containing (E) a carbodiimide compound.
[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], further containing (F) a thermoplastic resin.
[8] The resin composition according to any one of [1] to [7], wherein the component (C) is at least one selected from a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent and an active ester-based curing agent.
[9] The resin composition according to any one of [1] to [8], wherein the component (A) contains an epoxy resin having a condensed ring structure.
[10] Any of [1] to [9], wherein the cured product obtained by thermally curing the resin composition at 100 ° C. for 30 minutes and further at 190 ° C. for 60 minutes has a curing shrinkage rate of 0.27% or less. The resin composition described.
[11] Any of [1] to [10], wherein the cured product obtained by thermally curing the resin composition at 190 ° C. for 90 minutes has a linear thermal expansion coefficient of 3 ppm / ° C. or higher and 30 ppm / ° C. or lower at 30 ° C. to 150 ° C. The resin composition described in Crab.
[12] The resin composition according to any one of [1] to [11], which is used for forming a magnetic layer of a wiring board including an inductor element.
[13] A resin sheet comprising a support and a resin composition layer provided on the support and formed of the resin composition according to any one of [1] to [12].
[14] It has a magnetic layer which is a cured product of the resin composition layer of the resin sheet according to [13], and a conductive structure in which at least a part thereof is embedded in the magnetic layer.
A wiring board with a built-in inductor element, which includes an inductor element formed of the conductive structure and a part of the magnetic layer extending in the thickness direction of the magnetic layer and surrounded by the conductive structure. ..
[15] A printed wiring board including the wiring board with a built-in inductor element according to [14] as an inner layer board.

本発明によれば、インダクタ部品の高透磁率化を維持しつつ、薄型化した場合でも反りの発生の抑制し得る、インダクタ部品の磁性層を形成用の樹脂組成物;当該樹脂組成物を用いて得られる、樹脂シート;インダクタ素子内蔵配線板;及びプリント配線板を提供することができる。 According to the present invention, a resin composition for forming a magnetic layer of an inductor component, which can suppress the occurrence of warpage even when the inductor component is made thinner while maintaining a high magnetic permeability of the inductor component; the resin composition is used. A resin sheet; a wiring board with a built-in inductor element; and a printed wiring board can be provided.

図1は、一例としての第1実施形態のインダクタ素子内蔵配線板をその厚さ方向の一方からみた模式的な平面図である。FIG. 1 is a schematic plan view of the inductor element built-in wiring board of the first embodiment as an example, as viewed from one side in the thickness direction. 図2は、一例としてのII-II一点鎖線で示した位置で切断した第1実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の切断端面を示す模式的な図である。FIG. 2 is a schematic view showing a cut end surface of the wiring board with a built-in inductor element of the first embodiment cut at the position indicated by the II-II alternate long and short dash line as an example. 図3は、一例としての第1実施形態のインダクタ素子内蔵配線板のうちの第1配線層の構成を説明するための模式的な平面図である。FIG. 3 is a schematic plan view for explaining the configuration of the first wiring layer in the inductor element built-in wiring board of the first embodiment as an example. 図4は、一例としての第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の製造方法を説明するための模式的な断面図である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to a second embodiment as an example. 図5は、一例としての第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の製造方法を説明するための模式的な断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to a second embodiment as an example. 図6は、一例としての第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の製造方法を説明するための模式的な断面図である。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to a second embodiment as an example. 図7は、一例としての第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の製造方法を説明するための模式的な断面図である。FIG. 7 is a schematic cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to a second embodiment as an example. 図8は、一例としての第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の製造方法を説明するための模式的な断面図である。FIG. 8 is a schematic cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to a second embodiment as an example. 図9は、一例としての第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の製造方法を説明するための模式的な断面図である。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to a second embodiment as an example. 図10は、一例としての第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の製造方法を説明するための模式的な断面図である。FIG. 10 is a schematic cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to a second embodiment as an example. 図11は、一例としての第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の製造方法を説明するための模式的な断面図である。FIG. 11 is a schematic cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to a second embodiment as an example. 図12は、硬化収縮率を測定する際の樹脂シートの一例を示した概略図である。FIG. 12 is a schematic view showing an example of a resin sheet for measuring the curing shrinkage rate.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。なお、各図面は、発明が理解できる程度に、構成要素の形状、大きさおよび配置が概略的に示されているに過ぎない。本発明は以下の記述によって限定されるものではなく、各構成要素は本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。以下の説明に用いる図面において、同様の構成要素については同一の符号を付して示し、重複する説明については省略する場合がある。また、本発明の実施形態にかかる構成は、必ずしも図示例の配置により、製造されたり、使用されたりするとは限らない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. It should be noted that each drawing merely shows the shape, size and arrangement of the components schematically to the extent that the invention can be understood. The present invention is not limited to the following description, and each component can be appropriately modified without departing from the gist of the present invention. In the drawings used in the following description, similar components may be designated with the same reference numerals, and duplicate description may be omitted. Further, the configuration according to the embodiment of the present invention is not always manufactured or used by the arrangement of the illustrated examples.

[樹脂組成物]
本発明の樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂、(B)磁性フィラー、(C)硬化剤、及び(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー、を含有する。
[Resin composition]
The resin composition of the present invention contains (A) an epoxy resin, (B) a magnetic filler, (C) a curing agent, and (D) an amphipathic polyether block copolymer.

(A)成分、(B)成分、(C)成分、及び(D)成分を樹脂組成物に含有させることで、反りを抑制することができる磁性層を得ることが可能となる。樹脂組成物は、必要に応じて、さらに(E)カルボジイミド化合物、(F)硬化促進剤、(G)熱可塑性樹脂、(H)その他の添加剤を含み得る。 By incorporating the component (A), the component (B), the component (C), and the component (D) into the resin composition, it is possible to obtain a magnetic layer capable of suppressing warpage. The resin composition may further contain (E) a carbodiimide compound, (F) a curing accelerator, (G) a thermoplastic resin, and (H) other additives, if necessary.

<(A)エポキシ樹脂>
樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂を含有する。エポキシ樹脂としては、例えば、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂等の縮合環構造を有するエポキシ樹脂;ビスフェノールA型エポキシ樹脂;ビスフェノールF型エポキシ樹脂;ビスフェノールS型エポキシ樹脂;ビスフェノールAF型エポキシ樹脂;トリスフェノール型エポキシ樹脂;ノボラック型エポキシ樹脂;ナフトールノボラック型エポキシ樹脂;フェノールノボラック型エポキシ樹脂;tert-ブチル-カテコール型エポキシ樹脂;グリシジルアミン型エポキシ樹脂;グリシジルエステル型エポキシ樹脂;クレゾールノボラック型エポキシ樹脂;ビフェニル型エポキシ樹脂;線状脂肪族エポキシ樹脂;ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂;脂環式エポキシ樹脂;複素環式エポキシ樹脂;スピロ環含有エポキシ樹脂;シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂;トリメチロール型エポキシ樹脂;テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂;ビキシレノール型エポキシ樹脂等が挙げられる。エポキシ樹脂は1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
<(A) Epoxy resin>
The resin composition contains (A) an epoxy resin. Examples of the epoxy resin include naphthalene type epoxy resin, naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, and naphthalene type. Epoxy resin having a fused ring structure such as tetrafunctional epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin; bisphenol A type epoxy resin; bisphenol F type epoxy resin; bisphenol S type epoxy resin Bisphenol AF type epoxy resin; Trisphenol type epoxy resin; Novorak type epoxy resin; Naftor Novolak type epoxy resin; Phenol novolak type epoxy resin; tert-butyl-catechol type epoxy resin; Glycidylamine type epoxy resin; Cresol novolak type epoxy resin; Biphenyl type epoxy resin; Linear aliphatic epoxy resin; Epoxy resin having a butadiene structure; Oil ring type epoxy resin; Heterocyclic epoxy resin; Spiro ring-containing epoxy resin; Cyclohexanedimethanol type epoxy resin ; Trimethylol type epoxy resin; Tetraphenyl ethane type epoxy resin; Bixirenol type epoxy resin and the like can be mentioned. The epoxy resin may be used alone or in combination of two or more.

(A)エポキシ樹脂は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂及び縮合環構造を有するエポキシ樹脂から選択される1種以上であることが好ましい。中でも、(A)成分としては、平均線熱膨張係数などの物性に優れた磁性層を得る観点から、縮合環構造を有するエポキシ樹脂を含有することがより好ましい。縮合環構造を有するエポキシ樹脂としては、上記例示したもののうち、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂が好ましく、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂が特に好ましい。 The epoxy resin (A) is preferably one or more selected from bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin and epoxy resin having a fused ring structure. Above all, as the component (A), it is more preferable to contain an epoxy resin having a condensed ring structure from the viewpoint of obtaining a magnetic layer having excellent physical properties such as an average linear thermal expansion coefficient. Examples of the epoxy resin having a fused ring structure include naphthalene type epoxy resin, naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, and dicyclopentadiene type epoxy. Resins are preferable, and naphthalene type epoxy resins and naphthol type epoxy resins are particularly preferable.

(A)エポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。エポキシ樹脂の不揮発成分を100質量%とした場合に、少なくとも50質量%以上は1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂であるのが好ましい。中でも、樹脂組成物は、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下「液状エポキシ樹脂」という。)と、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂(以下「固体状エポキシ樹脂」という。)とを組み合わせて含むことが好ましい。エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを併用することで、優れた可撓性を有する樹脂組成物が得られる。また、樹脂組成物の硬化物の破断強度も向上する。液状エポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有する液状エポキシ樹脂が好ましい。固体状エポキシ樹脂は、1分子中に3個以上のエポキシ基を有する固体状エポキシ樹脂が好ましい。 The epoxy resin (A) preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the non-volatile component of the epoxy resin is 100% by mass, at least 50% by mass or more is preferably an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Among them, the resin composition is a combination of a liquid epoxy resin at a temperature of 20 ° C. (hereinafter referred to as “liquid epoxy resin”) and a solid epoxy resin at a temperature of 20 ° C. (hereinafter referred to as “solid epoxy resin”). It is preferable to include it. By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination as the epoxy resin, a resin composition having excellent flexibility can be obtained. In addition, the breaking strength of the cured product of the resin composition is also improved. The liquid epoxy resin is preferably a liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. The solid epoxy resin is preferably a solid epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule.

液状エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、及びブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましく、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂及びナフタレン型エポキシ樹脂がより好ましい。液状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC社製の「HP4032」、「HP4032D」、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、三菱ケミカル社製の「828US」、「jER828EL」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、「jER807」(ビスフェノールF型エポキシ樹脂)、「jER152」(フェノールノボラック型エポキシ樹脂)、「630」、「630LSD」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂)、新日鉄住金化学社製の「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品)、ナガセケムテックス社製の「EX-721」(グリシジルエステル型エポキシ樹脂)、ダイセル社製の「セロキサイド2021P」(エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂)、「PB-3600」(ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂)、新日鉄住金化学社製の「ZX1658」、「ZX1658GS」(液状1,4-グリシジルシクロヘキサン)、三菱ケミカル社製の「630LSD」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂)、ADEKA社製の「EP-3980S」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, and ester skeleton. An alicyclic epoxy resin, a cyclohexanedimethanol type epoxy resin, a glycidylamine type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and a glycidylamine type epoxy resin, a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, and a bisphenol AF are preferable. Type epoxy resin and naphthalene type epoxy resin are more preferable. Specific examples of the liquid epoxy resin include "HP4032", "HP4032D" and "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC, and "828US" and "jER828EL" (bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. , "JER807" (bisphenol F type epoxy resin), "jER152" (phenol novolak type epoxy resin), "630", "630LSD" (glycidylamine type epoxy resin), "ZX1059" (bisphenol A) manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation. (Mixed product of type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin), "EX-721" (glycidyl ester type epoxy resin) manufactured by Nagase Chemtex Co., Ltd., "Selokiside 2021P" (alicyclic epoxy having an ester skeleton) manufactured by Daicel Co., Ltd. Resin), "PB-3600" (epoxy resin having a butadiene structure), "ZX1658", "ZX1658GS" (liquid 1,4-glycidylcyclohexane) manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, "630LSD" (glycidyl) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (Amine type epoxy resin), "EP-3980S" (glycidylamine type epoxy resin) manufactured by ADEKA, and the like can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.

固体状エポキシ樹脂としては、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂が好ましく、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、及びビフェニル型エポキシ樹脂がより好ましい。固体状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC社製の「HP4032H」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、「HP-4700」、「HP-4710」(ナフタレン型4官能エポキシ樹脂)、「N-690」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂)、「N-695」、「N-680」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂)、「HP-7200」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂)、「HP-7200HH」、「HP-7200H」、「EXA-7311」、「EXA-7311-G3」、「EXA-7311-G4」、「EXA-7311-G4S」、「HP6000」(ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂)、日本化薬社製の「EPPN-502H」(トリスフェノール型エポキシ樹脂)、「NC7000L」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂)、「NC3000H」、「NC3000」、「NC3000L」、「NC3100」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、新日鉄住金化学社製の「ESN475V」(ナフタレン型エポキシ樹脂)、「ESN485」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂)、三菱ケミカル社製の「YX4000H」、「YL6121」(ビフェニル型エポキシ樹脂)、「YX4000HK」(ビキシレノール型エポキシ樹脂)、「YX8800」(アントラセン型エポキシ樹脂)、大阪ガスケミカル社製の「PG-100」、「CG-500」、三菱ケミカル社製の「YL7760」(ビスフェノールAF型エポキシ樹脂)、「YL7800」(フルオレン型エポキシ樹脂)、三菱ケミカル社製の「jER1010」(固体状ビスフェノールA型エポキシ樹脂)、「jER1031S」(テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂)、「157S70」(ノボラック型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Examples of the solid epoxy resin include naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and naphthylene ether type epoxy resin. Anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, and tetraphenylethane type epoxy resin are preferable, and naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, naphthol type epoxy resin, and biphenyl type epoxy resin are more preferable. Specific examples of the solid epoxy resin include "HP4032H" (naphthalene type epoxy resin), "HP-4700", "HP-4710" (naphthalen type tetrafunctional epoxy resin), and "N-690" manufactured by DIC. Cresol novolak type epoxy resin), "N-695", "N-680" (cresol novolak type epoxy resin), "HP-7200" (dicyclopentadiene type epoxy resin), "HP-7200HH", "HP-7200H" , "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", "HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin), manufactured by Nippon Kayakusha. "EPPN-502H" (trisphenol type epoxy resin), "NC7000L" (naphthol novolac type epoxy resin), "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin), Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation "ESN475V" (naphthalen type epoxy resin), "ESN485" (naphthol novolac type epoxy resin), "YX4000H", "YL6121" (biphenyl type epoxy resin), "YX4000HK" (bixilenol type epoxy) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. Resin), "YX8800" (anthracene type epoxy resin), "PG-100", "CG-500" manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd., "YL7760" (bisphenol AF type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., "YL7800" (Fluorene type epoxy resin), "jER1010" (solid bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., "jER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin), "157S70" (novolak type epoxy resin) and the like can be mentioned. .. These may be used alone or in combination of two or more.

(A)エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを併用する場合、それらの量比(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は、質量比で、1:0.1~1:15の範囲が好ましい。液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂との量比を斯かる範囲とすることにより、i)樹脂シートの形態で使用する場合に適度な粘着性がもたらされる、ii)樹脂シートの形態で使用する場合に十分な可撓性が得られ、取り扱い性が向上する、並びにiii)十分な破断強度を有する硬化物を得ることができる等の効果が得られる。上記i)~iii)の効果の観点から、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂の量比(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は、質量比で、1:0.3~1:10の範囲がより好ましく、1:0.5~1:8の範囲がさらに好ましい。 (A) When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as the epoxy resin, their quantitative ratios (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) are 1: 0.1 to 1:15 in terms of mass ratio. The range of is preferable. By setting the amount ratio of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin within such a range, i) when used in the form of a resin sheet, appropriate adhesiveness is obtained, and ii) when used in the form of a resin sheet. Sufficient flexibility can be obtained, handleability is improved, and iii) a cured product having sufficient breaking strength can be obtained. From the viewpoint of the effects of i) to iii) above, the quantitative ratio of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is in the range of 1: 0.3 to 1:10 in terms of mass ratio. Is more preferable, and the range of 1: 0.5 to 1: 8 is even more preferable.

(A)エポキシ樹脂の含有量は、良好な機械強度、絶縁信頼性を示す磁性層を得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは1質量%以上、より好ましくは2質量%以上、さらに好ましくは3質量%以上である。(A)エポキシ樹脂の含有量の上限は、本発明の効果が奏される限りにおいて特に限定されないが、好ましくは20質量%以下、より好ましくは15質量%以下、さらに好ましくは10質量%以下である。 The content of the epoxy resin (A) is preferably 1% by mass or more when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of obtaining a magnetic layer exhibiting good mechanical strength and insulation reliability. It is preferably 2% by mass or more, more preferably 3% by mass or more. The upper limit of the content of the epoxy resin (A) is not particularly limited as long as the effect of the present invention is exhibited, but is preferably 20% by mass or less, more preferably 15% by mass or less, still more preferably 10% by mass or less. be.

(A)エポキシ樹脂のエポキシ当量は、好ましくは50~5000、より好ましくは50~3000、さらに好ましくは80~2000、さらにより好ましくは110~1000である。この範囲となることで、硬化物の架橋密度が十分となり表面粗さの小さい磁性層をもたらすことができる。なお、エポキシ当量は、JIS K7236に従って測定することができ、1当量のエポキシ基を含む樹脂の質量である。 The epoxy equivalent of the epoxy resin (A) is preferably 50 to 5000, more preferably 50 to 3000, still more preferably 80 to 2000, and even more preferably 110 to 1000. Within this range, the crosslink density of the cured product becomes sufficient, and a magnetic layer having a small surface roughness can be obtained. The epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236, and is the mass of the resin containing 1 equivalent of the epoxy group.

(A)エポキシ樹脂の重量平均分子量は、好ましくは100~5000、より好ましくは250~3000、さらに好ましくは400~1500である。ここで、エポキシ樹脂の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定されるポリスチレン換算の重量平均分子量である。 The weight average molecular weight of the epoxy resin (A) is preferably 100 to 5000, more preferably 250 to 3000, and even more preferably 400 to 1500. Here, the weight average molecular weight of the epoxy resin is a polystyrene-equivalent weight average molecular weight measured by a gel permeation chromatography (GPC) method.

(A)エポキシ樹脂の数平均分子量は、好ましくは5000未満、より好ましくは4000以下、さらに好ましくは3000以下である。下限は、好ましくは100以上、より好ましくは300以上、さらに好ましくは500以上である。数平均分子量(Mn)は、GPC(ゲル浸透クロマトグラフィー)を使用して測定されるポリスチレン換算の数平均分子量である。 The number average molecular weight of the epoxy resin (A) is preferably less than 5,000, more preferably 4,000 or less, and even more preferably 3,000 or less. The lower limit is preferably 100 or more, more preferably 300 or more, and even more preferably 500 or more. The number average molecular weight (Mn) is a polystyrene-equivalent number average molecular weight measured using GPC (gel permeation chromatography).

(A)エポキシ樹脂のガラス転移温度(Tg)は、好ましくは25℃を超え、より好ましくは30℃以上、さらに好ましくは35℃以上である。上限は、好ましくは500℃以下、より好ましくは400℃以下、さらに好ましくは300℃以下である。 (A) The glass transition temperature (Tg) of the epoxy resin is preferably more than 25 ° C, more preferably 30 ° C or higher, still more preferably 35 ° C or higher. The upper limit is preferably 500 ° C. or lower, more preferably 400 ° C. or lower, still more preferably 300 ° C. or lower.

<(B)磁性フィラー>
樹脂組成物は、(B)磁性フィラーを含有する。(B)磁性フィラーの材料は特に限定されず、例えば、純鉄粉末、Fe-Si系合金粉末、Fe-Si-Al系合金粉末、Fe-Cr系合金粉末、Fe-Cr-Si系合金粉末、Fe-Ni-Cr系合金粉末、Fe-Cr-Al系合金粉末、Fe-Ni系合金粉末、Fe-Ni-Mo系合金粉末、Fe-Ni-Mo-Cu系合金粉末、Fe-Co系合金粉末、あるいはFe-Ni-Co系合金粉末などのFe合金類、Fe基アモルファス、Co基アモルファスなどのアモルファス合金類、Mg-Zn系フェライト、Mn-Zn系フェライト、Mn-Mg系フェライト、Cu-Zn系フェライト、Mg-Mn-Sr系フェライト、Ni-Zn系フェライトなどのスピネル型フェライト類、Ba-Zn系フェライト、Ba-Mg系フェライト、Ba-Ni系フェライト、Ba-Co系フェライト、Ba-Ni-Co系フェライトなどの六方晶型フェライト類、Y系フェライトなどのガーネット型フェライト類が挙げられる。中でも、(B)磁性フィラーとしては、Fe-Si系合金粉末、Fe-Si-Al系合金粉末、Fe-Cr系合金粉末、Fe-Cr-Si系合金粉末、Fe-Ni-Cr系合金粉末、Fe-Cr-Al系合金粉末等の、Si、Al、及びCrから選ばれる1種以上の元素を含むFe合金類が好ましく、Si及びCrを含むFe合金類がより好ましい。(B)磁性フィラーは1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
<(B) Magnetic filler>
The resin composition contains (B) a magnetic filler. The material of the magnetic filler (B) is not particularly limited, and is, for example, pure iron powder, Fe—Si alloy powder, Fe—Si—Al alloy powder, Fe—Cr alloy powder, Fe—Cr—Si alloy powder. , Fe—Ni—Cr alloy powder, Fe—Cr—Al alloy powder, Fe—Ni alloy powder, Fe—Ni—Mo alloy powder, Fe—Ni—Mo—Cu alloy powder, Fe—Co series Alloy powder, Fe alloys such as Fe—Ni—Co alloy powder, amorphous alloys such as Fe-based amorphous and Co-based amorphous, Mg—Zn-based ferrite, Mn—Zn-based ferrite, Mn—Mg-based ferrite, Cu Spinel-type ferrites such as -Zn-based ferrite, Mg-Mn-Sr-based ferrite, Ni-Zn-based ferrite, Ba-Zn-based ferrite, Ba-Mg-based ferrite, Ba-Ni-based ferrite, Ba-Co-based ferrite, Ba -Examples include hexagonal ferrites such as Ni—Co-based ferrite and garnet-type ferrites such as Y-based ferrite. Among them, as the (B) magnetic filler, Fe—Si alloy powder, Fe—Si—Al alloy powder, Fe—Cr alloy powder, Fe—Cr—Si alloy powder, Fe—Ni—Cr alloy powder Fe alloys containing one or more elements selected from Si, Al, and Cr, such as Fe—Cr—Al alloy powder, are preferable, and Fe alloys containing Si and Cr are more preferable. (B) The magnetic filler may be used alone or in combination of two or more.

(B)磁性フィラーとしては、市販の磁性フィラーを用いることができる。用いられ得る市販の磁性フィラーの具体例としては、山陽特殊製鋼社製「PST-S」、エプソンアトミックス社製「AW2-08」、「AW2-08PF20F」、「AW2-08PF10F」、「AW2-08PF3F」、「Fe-3.5Si-4.5CrPF20F」、「Fe-50NiPF20F」、「Fe-80Ni-4MoPF20F」、JFEケミカル社製「LD-M」、「LD-MH」、「KNI-106」、「KNI-106GSM」、「KNI-106GS」、「KNI-109」、「KNI-109GSM」、「KNI-109GS」、戸田工業社製「KNS-415」、「BSF-547」、「BSF-029」、「BSN-125」、「BSN-714」、「BSN-828」、「S-1281」、「S-1641」、「S-1651」、「S-1470」、「S-1511」、「S-2430」、日本重化学工業社製「JR09P2」、CIKナノテック社製「Nanotek」、キンセイマテック社製「JEMK-S」、「JEMK-H」、ALDRICH社製「Yttrium iron oxide」等が挙げられる。 (B) As the magnetic filler, a commercially available magnetic filler can be used. Specific examples of commercially available magnetic fillers that can be used include "PST-S" manufactured by Sanyo Special Steel Co., Ltd., "AW2-08", "AW2-08PF20F" manufactured by Epson Atmix Co., Ltd., "AW2-08PF10F", and "AW2-". 08PF3F ”,“ Fe-3.5Si-4.5CrPF20F ”,“ Fe-50NiPF20F ”,“ Fe-80Ni-4MoPF20F ”, JFE Chemical Co., Ltd.“ LD-M ”,“ LD-MH ”,“ KNI-106 ” , "KNI-106GSM", "KNI-106GS", "KNI-109", "KNI-109GSM", "KNI-109GS", Toda Kogyo Co., Ltd. "KNS-415", "BSF-547", "BSF-" 029 "," BSN-125 "," BSN-714 "," BSN-828 "," S-1281 "," S-1641 "," S-1651 "," S-1470 "," S-1511 " , "S-2430", "JR09P2" manufactured by Nippon Heavy Chemical Industries, Ltd., "Nanotek" manufactured by CIK Nanotech, "JEMK-S", "JEMK-H" manufactured by Kinsei Matech, "Ytrium iron oxide" manufactured by ALDRICH, etc. Can be mentioned.

(B)磁性フィラーは、球状であることが好ましい。(B)磁性フィラーの粉体の長辺の長さを短辺の長さで除した値(アスペクト比)としては、好ましくは2以下、より好ましくは1.5以下、さらに好ましくは1.2以下である。一般に、磁性フィラーは球状ではない扁平な形状であるほうが、比透磁率を向上させやすい。しかし、透磁率の維持と反りの抑制を同時に達成する観点から、球状の(B)磁性フィラーを用いる方が、所望の特性を有する樹脂組成物を容易に得ることができる。 (B) The magnetic filler is preferably spherical. (B) The value (aspect ratio) obtained by dividing the length of the long side of the powder of the magnetic filler by the length of the short side is preferably 2 or less, more preferably 1.5 or less, still more preferably 1.2. It is as follows. In general, it is easier to improve the relative permeability when the magnetic filler has a flat shape that is not spherical. However, from the viewpoint of maintaining the magnetic permeability and suppressing the warp at the same time, it is easier to obtain a resin composition having desired properties by using the spherical (B) magnetic filler.

(B)磁性フィラーの平均粒径は、好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.5μm以上、さらに好ましくは1μm以上である。また、好ましくは8μm以下、より好ましくは5μm以下、さらに好ましくは4μm以下である。(B)磁性フィラーの平均粒径を斯かる範囲内とすることにより、透磁率の維持と反りの抑制を同時に達成することが可能となる。 (B) The average particle size of the magnetic filler is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.5 μm or more, still more preferably 1 μm or more. Further, it is preferably 8 μm or less, more preferably 5 μm or less, still more preferably 4 μm or less. (B) By setting the average particle size of the magnetic filler within such a range, it is possible to maintain the magnetic permeability and suppress the warp at the same time.

(B)磁性フィラーの平均粒径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折散乱式粒度分布測定装置により、磁性フィラーの粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、磁性フィラーを超音波によりメチルエチルケトン中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折散乱式粒度分布測定装置としては、堀場製作所社製「LA-500」、島津製作所社製「SALD-2200」等を使用することができる。 (B) The average particle size of the magnetic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can be measured by creating a particle size distribution of the magnetic filler on a volume basis using a laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device and using the median diameter as the average particle size. As the measurement sample, a magnetic filler dispersed in methyl ethyl ketone by ultrasonic waves can be preferably used. As the laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device, "LA-500" manufactured by HORIBA, Ltd., "SALD-2200" manufactured by Shimadzu Corporation, or the like can be used.

(B)磁性フィラーの含有量(体積%)は、比透磁率を向上させる観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100体積%とした場合、好ましくは10体積%以上、より好ましくは20体積%以上、さらに好ましくは30体積%以上である。また、好ましくは85体積%以下、より好ましくは75体積%以下、さらに好ましくは65体積%以下である。 (B) The content (% by volume) of the magnetic filler is preferably 10% by volume or more, more preferably 20% by volume when the non-volatile component in the resin composition is 100% by volume from the viewpoint of improving the specific magnetic permeability. % Or more, more preferably 30% by volume or more. Further, it is preferably 85% by volume or less, more preferably 75% by volume or less, and further preferably 65% by volume or less.

(B)磁性フィラーの含有量は、比透磁率を向上させる観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは75質量%以上、より好ましくは76質量%以上、さらに好ましくは77質量%以上である。また、好ましくは95質量%未満、より好ましくは94質量%以下、さらに好ましくは93質量%以下である。 The content of the magnetic filler (B) is preferably 75% by mass or more, more preferably 76% by mass or more, and further, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of improving the specific magnetic permeability. It is preferably 77% by mass or more. Further, it is preferably less than 95% by mass, more preferably 94% by mass or less, and further preferably 93% by mass or less.

<(C)硬化剤>
樹脂組成物は、(C)硬化剤を含有する。(C)硬化剤としては、(A)エポキシ樹脂等を硬化する機能を有する限り特に限定されず、例えば、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、及びシアネートエステル系硬化剤などが挙げられる。硬化剤は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。(C)成分は、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤及びシアネートエステル系硬化剤から選択される1種以上であることが好ましく、フェノール系硬化剤、及び活性エステル系硬化剤から選択される1種以上であることが好ましく、一態様として、ピール強度、透磁率などの特性を良好にする観点から、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤、及び活性エステル系硬化剤から選ばれる1種以上であることがさらに好ましい。
<(C) Curing agent>
The resin composition contains (C) a curing agent. The (C) curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing the (A) epoxy resin or the like, and for example, a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, an active ester-based curing agent, a benzoxazine-based curing agent, and the like. And cyanate ester-based curing agents and the like. The curing agent may be used alone or in combination of two or more. The component (C) is preferably one or more selected from a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, an active ester-based curing agent, and a cyanate ester-based curing agent, and is preferably a phenol-based curing agent and an active ester-based curing agent. It is preferably one or more selected from the agents, and as one embodiment, it is selected from a triazine skeleton-containing phenolic curing agent and an active ester-based curing agent from the viewpoint of improving characteristics such as peel strength and magnetic permeability. It is more preferable that the number is one or more.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤としては、硬化物が十分な強度を得る観点から、ノボラック構造を有するフェノール系硬化剤、又はノボラック構造を有するナフトール系硬化剤が好ましい。また、導体層との密着性の観点から、含窒素フェノール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤がより好ましい。 As the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoint of obtaining sufficient strength of the cured product. Further, from the viewpoint of adhesion to the conductor layer, a nitrogen-containing phenol-based curing agent is preferable, and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent is more preferable.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤の具体例としては、明和化成社製の「MEH-7700」、「MEH-7810」、「MEH-7851」、日本化薬社製の「NHN」、「CBN」、「GPH」、新日鉄住金化学社製の「SN170」、「SN180」、「SN190」、「SN475」、「SN485」、「SN495V」、「SN375」、「SN395」、DIC社製の「TD2090」、「TD2090-60M」、「LA-7052」、「LA-7054」、「LA-1356」、「LA-3018」、「LA-3018-50P」、「EXB-9500」、「HPC-9500」、「KA-1160」、「KA-1163」、「KA-1165」、群栄化学社製の「GDP-6115L」、「GDP-6115H」、「ELPC75」等が挙げられる。 Specific examples of the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent include "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and "NHN" and "CBN" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. , "GPH", "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495V", "SN375", "SN395" manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, "TD2090" manufactured by DIC Corporation. , "TD2090-60M", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018", "LA-3018-50P", "EXB-9500", "HPC-9500" , "KA-1160", "KA-1163", "KA-1165", "GDP-6115L", "GDP-6115H", "ELPC75" manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd. and the like.

活性エステル系硬化剤としては、特に制限はないが、一般にフェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N-ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましく用いられる。当該活性エステル系硬化剤は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル系硬化剤が好ましく、カルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル系硬化剤がより好ましい。カルボン酸化合物としては、例えば安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。フェノール化合物又はナフトール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o-クレゾール、m-クレゾール、p-クレゾール、カテコール、α-ナフトール、β-ナフトール、1,5-ジヒドロキシナフタレン、1,6-ジヒドロキシナフタレン、2,6-ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物、フェノールノボラック等が挙げられる。ここで、「ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物」とは、ジシクロペンタジエン1分子にフェノール2分子が縮合して得られるジフェノール化合物をいう。 The active ester-based curing agent is not particularly limited, but generally contains an ester group having high reaction activity such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds in one molecule. A compound having two or more esters is preferably used. The active ester-based curing agent is preferably obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and / or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and / or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester-based curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester-based curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and / or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, pyromellitic acid and the like. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m-. Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenol, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglucin, Examples thereof include benzenetriol, dicyclopentadiene-type diphenol compound, and phenol novolac. Here, the "dicyclopentadiene-type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing two phenol molecules with one dicyclopentadiene molecule.

具体的には、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル硬化剤、ナフタレン構造を含む活性エステル硬化剤、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル硬化剤、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル硬化剤が好ましく、中でもナフタレン構造を含む活性エステル硬化剤、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル硬化剤がより好ましい。「ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造」とは、フェニレン-ジシクロペンチレン-フェニレンからなる2価の構造を表す。 Specifically, an active ester curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, an active ester curing agent containing a naphthalene structure, an active ester curing agent containing an acetylated product of phenol novolac, and an active ester curing agent containing a benzoylated product of phenol novolac. Agents are preferable, and among them, an active ester curing agent containing a naphthalene structure and an active ester curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure are more preferable. The "dicyclopentadiene-type diphenol structure" represents a divalent structure composed of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

活性エステル系硬化剤の市販品としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル硬化剤として、「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「HPC-8000」、「HPC-8000H」、「HPC-8000-65T」、「EXB-8000L」(DIC社製)、ナフタレン構造を含む活性エステル硬化剤として「EXB9416-70BK」(DIC社製)、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル硬化剤として「DC808」(三菱ケミカル社製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル硬化剤として「YLH1026」(三菱ケミカル社製)、フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル系硬化剤として「DC808」(三菱ケミカル社製)、フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル系硬化剤として「YLH1026」(三菱ケミカル社製)、「YLH1030」(三菱ケミカル社製)、「YLH1048」(三菱ケミカル社製)等が挙げられる。 Commercially available products of the active ester-based curing agent include "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC-8000", "HPC-8000H", as active ester curing agents containing a dicyclopentadiene type diphenol structure. "HPC-8000-65T", "EXB-8000L" (manufactured by DIC), "EXB9416-70BK" (manufactured by DIC) as an active ester curing agent containing a naphthalene structure, an active ester curing agent containing an acetylated product of phenol novolac. "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester curing agent containing a benzoylated product of phenol novolac, and "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) as an active ester curing agent containing an acetylated product of phenol novolac. Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), "YLH1030" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.), etc. Can be mentioned.

ベンゾオキサジン系硬化剤の具体例としては、昭和高分子社製の「HFB2006M」、四国化成工業社製の「P-d」、「F-a」が挙げられる。 Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include "HFB2006M" manufactured by Showa High Polymer Co., Ltd., "Pd" and "FA" manufactured by Shikoku Chemicals Corporation.

シアネートエステル系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート、オリゴ(3-メチレン-1,5-フェニレンシアネート)、4,4’-メチレンビス(2,6-ジメチルフェニルシアネート)、4,4’-エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2-ビス(4-シアネート)フェニルプロパン、1,1-ビス(4-シアネートフェニルメタン)、ビス(4-シアネート-3,5-ジメチルフェニル)メタン、1,3-ビス(4-シアネートフェニル-1-(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4-シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4-シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。シアネートエステル系硬化剤の具体例としては、ロンザジャパン社製の「PT30」及び「PT60」(いずれもフェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」、「BA230S75」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)等が挙げられる。 Examples of the cyanate ester-based curing agent include bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene-1,5-phenylencyanate), 4,4'-methylenebis (2,6-dimethylphenylcyanate), and 4,4. '-Etilidendiphenyl disyanate, hexafluorobisphenol A disyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanate phenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethyl) Bifunctional cyanate resins such as phenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, and bis (4-cyanatephenyl) ether, phenol. Examples thereof include polyfunctional cyanate resins derived from novolak and cresol novolak, and prepolymers in which these cyanate resins are partially triazined. Specific examples of the cyanate ester-based curing agent include "PT30" and "PT60" (both are phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resins), "BA230", and "BA230S75" (part of bisphenol A dicyanate) manufactured by Lonza Japan. Alternatively, a prepolymer in which the whole is triazined to become a trimer) and the like can be mentioned.

(C)硬化剤の含有量は、樹脂組成物中の樹脂成分を100質量%とした場合、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは0.5質量%以上、さらに好ましくは1質量%以上であり、好ましくは5質量%以下、より好ましくは3質量%以下、さらに好ましくは2質量%以下である。(C)硬化剤の含有量を斯かる範囲内とすることにより、磁性層を形成する際に発生する反りを抑制することができ、さらには線熱膨張係数、ピール強度などの物性に優れた磁性層を得ることができる。 The content of the curing agent (C) is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.5% by mass or more, still more preferably 1% by mass, when the resin component in the resin composition is 100% by mass. The above is preferably 5% by mass or less, more preferably 3% by mass or less, and further preferably 2% by mass or less. (C) By setting the content of the curing agent within such a range, the warp generated when the magnetic layer is formed can be suppressed, and further, the physical properties such as the coefficient of linear thermal expansion and the peel strength are excellent. A magnetic layer can be obtained.

<(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー>
樹脂組成物は、(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマーを含有する。本願明細書において、両親媒性ポリエーテルブロックコポリマーとは、少なくとも一つのエポキシ樹脂混和性ポリエーテルブロックセグメントと、少なくとも一つのエポキシ樹脂非混和性ポリエーテルブロックセグメントとを含むブロックコポリマーを言う。(D)成分を含有することで樹脂組成物の靱性向上、応力緩和性能を向上させることができ、これにより樹脂組成物の硬化物の反り量を低減することができる。
<(D) Amphiphilic polyether block copolymer>
The resin composition contains (D) amphipathic polyether block copolymers. As used herein, the amphoteric polyether block copolymer refers to a block copolymer comprising at least one epoxy resin miscible polyether block segment and at least one epoxy resin immiscible polyether block segment. By containing the component (D), the toughness of the resin composition and the stress relaxation performance can be improved, whereby the amount of warpage of the cured product of the resin composition can be reduced.

エポキシ樹脂混和性ポリエーテルブロックセグメントとしては、例えばアルキレンオキシドから誘導されるエポキシ樹脂混和性ポリエーテルブロックセグメントが挙げられる。アルキレンオキシドから誘導されるエポキシ樹脂混和性ポリエーテルブロックセグメントとしては、ポリエチレンオキシドブロック、ポリプロピレンオキシドブロック、ポリ(エチレンオキシド-co-プロピレンオキシド)ブロック、ポリ(エチレンオキシド-ran-プロピレンオキシド)ブロック、及びそれらの混合物から選択される1種以上のポリアルキレンオキシドブロックが好ましく、ポリエチレンオキシドブロックがより好ましい。 Examples of the epoxy resin miscible polyether block segment include an epoxy resin miscible polyether block segment derived from an alkylene oxide. Epoxy resin mixed polyether block segments derived from alkylene oxide include polyethylene oxide blocks, polypropylene oxide blocks, poly (ethylene oxide-co-propylene oxide) blocks, poly (ethylene oxide-ran-propylene oxide) blocks, and theirs. One or more polyalkylene oxide blocks selected from the mixture are preferred, and polyethylene oxide blocks are more preferred.

エポキシ樹脂非混和性ブロックセグメントとしては、例えば、アルキレンオキシドから誘導される少なくとも一つのエポキシ樹脂非混和性ポリエーテルブロックセグメントが挙げられる。アルキレンオキシドから誘導される少なくとも一つのエポキシ樹脂非混和性ポリエーテルブロックセグメントとしては、例えば、ポリブチレンオキシドブロック、1,2-エポキシヘキサンから誘導されるポリヘキシレンオキシドブロック、1,2-エポキシドデカンから誘導されるポリドデシレンオキシドブロック、及びそれらの混合物から選択される1種以上のポリアルキレンオキシドブロックが好ましく、ポリブチレンオキシドブロックがより好ましい。 Epoxy resin immiscible block segments include, for example, at least one epoxy resin immiscible polyether block segment derived from an alkylene oxide. The at least one epoxy resin immiscible polyether block segment derived from alkylene oxide includes, for example, a polybutylene oxide block, a polyhexylene oxide block derived from 1,2-epoxyhexane, 1,2-epoxydodecane. A polydodecylene oxide block derived from, and one or more polyalkylene oxide blocks selected from a mixture thereof are preferred, and a polybutylene oxide block is more preferred.

(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマーは、1種以上のエポキシ樹脂混和性ブロックセグメントを有することが好ましく、2種以上のエポキシ樹脂混和性ブロックセグメントを有することより好ましい。同様に、1種以上のエポキシ樹脂非混和性ブロックセグメントを有することが好ましく、2種以上のエポキシ樹脂非混和性ブロックセグメントを有することがより好ましい。従って、(D)成分は、例えば、ジブロック、直鎖トリブロック、直鎖テトラブロック、高次マルチブロック構造、分岐ブロック構造、星型ブロック構造、及びそれらの組合せから成る群から選択されるエポキシ樹脂混和性ブロックセグメント、又はエポキシ樹脂非混和性ブロックセグメントを有することが好ましい。 (D) The amphipathic polyether block copolymer preferably has one or more epoxy resin miscible block segments, and more preferably two or more epoxy resin miscible block segments. Similarly, it is preferable to have one or more types of epoxy resin immiscible block segments, and it is more preferable to have two or more types of epoxy resin immiscible block segments. Therefore, the component (D) is an epoxy selected from the group consisting of, for example, diblock, linear triblock, linear tetrablock, higher-order multi-block structure, branched block structure, star-shaped block structure, and a combination thereof. It is preferable to have a resin miscible block segment or an epoxy resin immiscible block segment.

両親媒性ポリエーテルブロックコポリマーは、その効果を損なわない範囲で、分子中に他のセグメントを含有してもよい。他のセグメントとしては、例えば、ポリエチレンプロピレン(PEP)、ポリブタジエン、ポリイソプレン、ポリジメチルシロキサン、ポリブチレンオキシド、ポリヘキシレンオキシド、ポリエチルヘキシルメタクリレート等のポリアルキルメチルメタクリレート、及びそれらの混合物から誘導されるセグメント等が挙げられる。 The amphipathic polyether block copolymer may contain other segments in the molecule as long as the effect is not impaired. Other segments are derived from, for example, polyalkylmethyl methacrylates such as polyethylene propylene (PEP), polybutadiene, polyisoprene, polydimethylsiloxane, polybutylene oxide, polyhexylene oxide, polyethylhexyl methacrylate, and mixtures thereof. Examples include segments.

(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマーの数平均分子量は、好ましくは3,000~20,000である。数平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定されるポリスチレン換算の重量平均分子量である。 (D) The number average molecular weight of the amphipathic polyether block copolymer is preferably 3,000 to 20,000. The number average molecular weight is a polystyrene-equivalent weight average molecular weight measured by a gel permeation chromatography (GPC) method.

(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマーとしては、例えば、ポリ(エチレンオキシド)-b-ポリ(ブチレンオキシド)(PEO-PBO);ポリ(エチレンオキシド)-b-ポリ(ブチレンオキシド)-b-ポリ(エチレンオキシド)(PEO-PBO-PEO)等の両親媒性ポリエーテルトリブロックコポリマー等が挙げられる。両親媒性ブロックコポリマーは市販品を用いることもできる。市販品としては、例えばThe Dow Chemical Company社製の「Fortegra100」等が挙げられる。(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマーは1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 (D) Examples of the amphoteric polyether block copolymer include poly (ethylene oxide) -b-poly (butylene oxide) (PEO-PBO); poly (ethylene oxide) -b-poly (butylene oxide) -b-poly ( Examples thereof include an amphipathic polyether triblock copolymer such as polyethylene oxide (PEO-PBO-PEO). Commercially available products can also be used as amphipathic block copolymers. Examples of commercially available products include "Fortegra 100" manufactured by The Dow Chemical Company. (D) The amphipathic polyether block copolymer may be used alone or in combination of two or more.

(D)成分の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、反り量を抑制する観点から、好ましくは0.3質量%以上、より好ましくは0.4質量%以上、さらに好ましくは0.5質量%以上である。上限は、ピール強度、透磁率などの特性を良好にする観点から、好ましくは15質量%以下、より好ましくは10質量%以下、さらに好ましくは5質量%以下である。 The content of the component (D) is preferably 0.3% by mass or more, more preferably 0.4% by mass or more, from the viewpoint of suppressing the amount of warpage when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. , More preferably 0.5% by mass or more. The upper limit is preferably 15% by mass or less, more preferably 10% by mass or less, still more preferably 5% by mass or less, from the viewpoint of improving characteristics such as peel strength and magnetic permeability.

<(E)カルボジイミド化合物>
樹脂組成物は、(E)カルボジイミド化合物を含有し得る。(E)カルボジイミド化合物は、1分子中にカルボジイミド基(-N=C=N-)を1個以上有する化合物であり、(E)カルボジイミド化合物を含有させることで導体層との密着性に優れる磁性層をもたらすことができる。(E)カルボジイミド化合物としては、1分子中にカルボジイミド基を2個以上有する化合物が好ましい。(E)カルボジイミド化合物は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
<(E) Carbodiimide compound>
The resin composition may contain (E) a carbodiimide compound. The (E) carbodiimide compound is a compound having one or more carbodiimide groups (-N = C = N-) in one molecule, and the inclusion of the (E) carbodiimide compound provides magnetism with excellent adhesion to the conductor layer. Can bring layers. As the (E) carbodiimide compound, a compound having two or more carbodiimide groups in one molecule is preferable. (E) The carbodiimide compound may be used alone or in combination of two or more.

一実施形態において、本発明の樹脂組成物に含まれるカルボジイミド化合物は、下記式(1)で表される構造を含有する。 In one embodiment, the carbodiimide compound contained in the resin composition of the present invention contains a structure represented by the following formula (1).

Figure 0007031206000001
(式中、Xは、アルキレン基、シクロアルキレン基又はアリーレン基を表し、これらは置換基を有していてもよい。pは1~5の整数を表す。Xが複数存在する場合、それらは同一でも相異なってもよい。*は結合手を表す。)
Figure 0007031206000001
(In the formula, X represents an alkylene group, a cycloalkylene group or an arylene group, which may have a substituent. P represents an integer of 1 to 5. If a plurality of Xs are present, they may have a substituent. It may be the same or different. * Indicates a bond.)

Xで表されるアルキレン基の炭素原子数は、好ましくは1~20、より好ましくは1~10、さらに好ましくは1~6、1~4、又は1~3である。該炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アルキレン基の好適な例としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基が挙げられる。 The number of carbon atoms of the alkylene group represented by X is preferably 1 to 20, more preferably 1 to 10, still more preferably 1 to 6, 1 to 4, or 1 to 3. The number of carbon atoms does not include the number of carbon atoms of the substituent. Preferable examples of the alkylene group include a methylene group, an ethylene group, a propylene group and a butylene group.

Xで表されるシクロアルキレン基の炭素原子数は、好ましくは3~20、より好ましくは3~12、さらに好ましくは3~6である。該炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該シクロアルキレン基の好適な例としては、シクロプロピレン基、シクロブチレン基、シクロペンチレン基、シクロヘキシレン基が挙げられる。 The number of carbon atoms of the cycloalkylene group represented by X is preferably 3 to 20, more preferably 3 to 12, and even more preferably 3 to 6. The number of carbon atoms does not include the number of carbon atoms of the substituent. Preferable examples of the cycloalkylene group include a cyclopropylene group, a cyclobutylene group, a cyclopentylene group, and a cyclohexylene group.

Xで表されるアリーレン基は、芳香族炭化水素から芳香環上の水素原子を2個除いた基である。該アリーレン基の炭素原子数は、好ましくは6~24、より好ましくは6~18、さらに好ましくは6~14、さらにより好ましくは6~10である。該炭素原子数に置換基の炭素原子数は含まれない。該アリーレン基の好適な例としては、フェニレン基、ナフチレン基、アントラセニレン基が挙げられる。 The arylene group represented by X is a group obtained by removing two hydrogen atoms on an aromatic ring from an aromatic hydrocarbon. The arylene group preferably has 6 to 24 carbon atoms, more preferably 6 to 18, still more preferably 6 to 14, and even more preferably 6 to 10. The number of carbon atoms does not include the number of carbon atoms of the substituent. Preferable examples of the arylene group include a phenylene group, a naphthylene group and an anthrasenylene group.

Xで表されるアルキレン基、シクロアルキレン基又はアリール基は置換基を有していてもよい。該置換基としては、特に限定されないが、例えば、ハロゲン原子、アルキル基、アルコキシ基、シクロアルキル基、シクロアルキルオキシ基、アリール基、アリールオキシ基、アシル基及びアシルオキシ基が挙げられる。置換基として用いられるハロゲン原子としては、例えば、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられる。置換基として用いられるアルキル基、アルコキシ基は、直鎖状、分岐状のいずれであってもよく、その炭素原子数は、好ましくは1~20、より好ましくは1~10、さらに好ましくは1~6、1~4、又は1~3である。置換基として用いられるシクロアルキル基、シクロアルキルオキシ基の炭素原子数は、好ましくは3~20、より好ましくは3~12、さらに好ましくは3~6である。置換基として用いられるアリール基は、芳香族炭化水素から芳香環上の水素原子を1個除いた基であり、その炭素原子数は、好ましくは6~24、より好ましくは6~18、さらに好ましくは6~14、さらにより好ましくは6~10である。置換基として用いられるアリールオキシ基の炭素原子数は、好ましくは6~24、より好ましくは6~18、さらに好ましくは6~14、さらにより好ましくは6~10である。置換基として用いられるアシル基は、式:-C(=O)-Rで表される基(式中、Rはアルキル基又はアリール基を表す。)をいう。Rで表されるアルキル基は、直鎖状、分岐状のいずれであってもよく、その炭素原子数は、好ましくは1~20、より好ましくは1~10、さらに好ましくは1~6、1~4、又は1~3である。Rで表されるアリール基の炭素原子数は、好ましくは6~24、より好ましくは6~18、さらに好ましくは6~14、さらにより好ましくは6~10である。置換基として用いられるアシルオキシ基は、式:-O-C(=O)-Rで表される基(式中、Rは上記と同じ意味を表す。)をいう。中でも、置換基としては、アルキル基、アルコキシ基、及びアシルオキシ基が好ましく、アルキル基がより好ましい。 The alkylene group, cycloalkylene group or aryl group represented by X may have a substituent. The substituent is not particularly limited, and examples thereof include a halogen atom, an alkyl group, an alkoxy group, a cycloalkyl group, a cycloalkyloxy group, an aryl group, an aryloxy group, an acyl group and an acyloxy group. Examples of the halogen atom used as the substituent include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom. The alkyl group and the alkoxy group used as the substituent may be linear or branched, and the number of carbon atoms thereof is preferably 1 to 20, more preferably 1 to 10, still more preferably 1 to 1. 6, 1 to 4, or 1 to 3. The number of carbon atoms of the cycloalkyl group and the cycloalkyloxy group used as the substituent is preferably 3 to 20, more preferably 3 to 12, still more preferably 3 to 6. The aryl group used as a substituent is a group obtained by removing one hydrogen atom on the aromatic ring from an aromatic hydrocarbon, and the number of carbon atoms thereof is preferably 6 to 24, more preferably 6 to 18, still more preferable. Is 6 to 14, and even more preferably 6 to 10. The aryloxy group used as a substituent preferably has 6 to 24 carbon atoms, more preferably 6 to 18, still more preferably 6 to 14, and even more preferably 6 to 10. The acyl group used as a substituent refers to a group represented by the formula: -C (= O) -R 1 (in the formula, R 1 represents an alkyl group or an aryl group). The alkyl group represented by R 1 may be linear or branched, and the number of carbon atoms thereof is preferably 1 to 20, more preferably 1 to 10, still more preferably 1 to 6. 1 to 4 or 1 to 3. The number of carbon atoms of the aryl group represented by R 1 is preferably 6 to 24, more preferably 6 to 18, still more preferably 6 to 14, and even more preferably 6 to 10. The acyloxy group used as a substituent refers to a group represented by the formula: -OC (= O) -R 1 (in the formula, R 1 has the same meaning as described above). Among them, as the substituent, an alkyl group, an alkoxy group, and an acyloxy group are preferable, and an alkyl group is more preferable.

式(1)中、pは1~5の整数を表す。耐熱性、レーザービア信頼性、及びピール強度に一層優れる磁性層を実現する観点から、pは、好ましくは1~4、より好ましくは2~4、さらに好ましくは2又は3である。 In equation (1), p represents an integer of 1 to 5. From the viewpoint of realizing a magnetic layer having further excellent heat resistance, laser via reliability, and peel strength, p is preferably 1 to 4, more preferably 2 to 4, still more preferably 2 or 3.

式(1)中、Xが複数存在する場合、それらは同一でも相異なっていてもよい。好適な一実施形態において、少なくとも1つのXは、アルキレン基又はシクロアルキレン基であり、これらは置換基を有していてもよい。 When a plurality of Xs exist in the formula (1), they may be the same or different from each other. In one preferred embodiment, at least one X is an alkylene group or a cycloalkylene group, which may have a substituent.

好適な一実施形態において、カルボジイミド化合物は、カルボジイミド化合物の分子全体の質量を100質量%としたとき、好ましくは50質量%以上、より好ましくは60質量%以上、さらに好ましくは70質量%以上、さらにより好ましくは80質量%以上又は90質量%以上にて、式(1)で表される構造を含有する。カルボジイミド化合物は、末端構造を除いて、式(1)で表される構造から実質的になってもよい。カルボジイミド化合物の末端構造としては、特に限定されないが、例えば、アルキル基、シクロアルキル基及びアリール基が挙げられ、これらは置換基を有していてもよい。末端構造として用いられるアルキル基、シクロアルキル基、アリール基は、Xで表される基が有していてもよい置換基について説明したアルキル基、シクロアルキル基、アリール基と同じであってよい。また、末端構造として用いられる基が有していてもよい置換基は、Xで表される基が有していてもよい置換基と同じであってよい。 In a preferred embodiment, the carbodiimide compound is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, still more preferably 70% by mass or more, and further preferably 70% by mass or more, when the total mass of the molecule of the carbodiimide compound is 100% by mass. More preferably, it contains a structure represented by the formula (1) in an amount of 80% by mass or more or 90% by mass or more. The carbodiimide compound may substantially be the structure represented by the formula (1) except for the terminal structure. The terminal structure of the carbodiimide compound is not particularly limited, and examples thereof include an alkyl group, a cycloalkyl group, and an aryl group, which may have a substituent. The alkyl group, cycloalkyl group, and aryl group used as the terminal structure may be the same as the alkyl group, cycloalkyl group, and aryl group described for the substituent which the group represented by X may have. Further, the substituent which may be possessed by the group used as the terminal structure may be the same as the substituent which may be possessed by the group represented by X.

樹脂組成物を硬化する際のアウトガスの発生を抑制し得る観点から、カルボジイミド化合物の重量平均分子量は、好ましくは500以上、より好ましくは600以上、さらに好ましくは700以上、さらにより好ましくは800以上、特に好ましくは900以上又は1000以上である。また、良好な相溶性を得る観点から、カルボジイミド化合物の重量平均分子量の上限は、好ましくは5000以下、より好ましくは4500以下、さらに好ましくは4000以下、さらにより好ましくは3500以下、特に好ましくは3000以下である。カルボジイミド化合物の重量平均分子量は、例えば、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定することができる。 From the viewpoint of suppressing the generation of outgas when the resin composition is cured, the weight average molecular weight of the carbodiimide compound is preferably 500 or more, more preferably 600 or more, still more preferably 700 or more, still more preferably 800 or more. Particularly preferably, it is 900 or more or 1000 or more. Further, from the viewpoint of obtaining good compatibility, the upper limit of the weight average molecular weight of the carbodiimide compound is preferably 5000 or less, more preferably 4500 or less, still more preferably 4000 or less, still more preferably 3500 or less, and particularly preferably 3000 or less. Is. The weight average molecular weight of the carbodiimide compound can be measured by, for example, a gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene equivalent).

なお、カルボジイミド化合物は、その製法に由来して、分子中にイソシアネート基(-N=C=O)を含有する場合がある。良好な保存安定性を示す樹脂組成物を得る観点、ひいては所期の特性を示す磁性層を実現する観点から、カルボジイミド化合物中のイソシアネート基の含有量(「NCO含有量」ともいう。)は、好ましくは5質量%以下、より好ましくは4質量%以下、さらに好ましくは3質量%以下、さらにより好ましくは2質量%以下、特に好ましくは1質量%以下又は0.5質量%以下である。 The carbodiimide compound may contain an isocyanate group (-N = C = O) in the molecule due to its production method. The content of isocyanate groups (also referred to as "NCO content") in the carbodiimide compound is determined from the viewpoint of obtaining a resin composition exhibiting good storage stability and, by extension, realizing a magnetic layer exhibiting desired characteristics. It is preferably 5% by mass or less, more preferably 4% by mass or less, still more preferably 3% by mass or less, still more preferably 2% by mass or less, and particularly preferably 1% by mass or less or 0.5% by mass or less.

カルボジイミド化合物は、市販品を使用してもよい。市販のカルボジイミド化合物としては、例えば、日清紡ケミカル社製のカルボジライト(登録商標)V-02B、V-03、V-04K、V-07及びV-09、ラインケミー社製のスタバクゾール(登録商標)P、P400、及びハイカジル510が挙げられる。 As the carbodiimide compound, a commercially available product may be used. Examples of commercially available carbodiimide compounds include Carbodilite (registered trademark) V-02B, V-03, V-04K, V-07 and V-09 manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., and Stavaxol (registered trademark) P manufactured by Rheinchemy Co., Ltd. Examples thereof include P400 and Hykazil 510.

樹脂組成物が(E)カルボジイミド化合物を含有する場合、(E)カルボジイミド化合物の含有量は、耐熱性、レーザービア信頼性、及び導体層との密着性のいずれの特性にも優れる磁性層を得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、0.1質量%以上が好ましく、0.15質量%以上がより好ましく、0.2質量%以上がさらに好ましい。(E)カルボジイミド化合物の含有量の上限は特に限定されないが、1.5質量%以下が好ましく、1質量%以下がより好ましく、0.5質量%以下がさらに好ましい。 When the resin composition contains (E) a carbodiimide compound, the content of the (E) carbodiimide compound obtains a magnetic layer having excellent properties of heat resistance, laser via reliability, and adhesion to a conductor layer. From the viewpoint, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, 0.1% by mass or more is preferable, 0.15% by mass or more is more preferable, and 0.2% by mass or more is further preferable. The upper limit of the content of the (E) carbodiimide compound is not particularly limited, but is preferably 1.5% by mass or less, more preferably 1% by mass or less, still more preferably 0.5% by mass or less.

<(F)熱可塑性樹脂>
樹脂組成物は、(F)熱可塑性樹脂を含有し得る。(F)熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリブタジエン樹脂、シロキサン樹脂、ポリ(メタ)アクリル樹脂、ポリアルキレン樹脂、ポリアルキレンオキシ樹脂、ポリイソプレン樹脂、ポリイソブチレン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂が挙げられる。ポリ(メタ)アクリル樹脂とは、ポリアクリル樹脂とポリメタクリル樹脂とを指す。
<(F) Thermoplastic resin>
The resin composition may contain (F) a thermoplastic resin. Examples of the thermoplastic resin (F) include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, siloxane resin, poly (meth) acrylic resin, polyalkylene resin, polyalkyleneoxy resin, polyisoprene resin, and polyisobutylene resin. , Polygonide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyether ether ketone resin, polyester resin. The poly (meth) acrylic resin refers to a polyacrylic resin and a polymethacrylic resin.

フェノキシ樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は8,000~70,000の範囲が好ましく、10,000~60,000の範囲がより好ましく、20,000~60,000の範囲がさらに好ましい。フェノキシ樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法で測定される。具体的には、フェノキシ樹脂のポリスチレン換算の重量平均分子量は、測定装置として島津製作所社製LC-9A/RID-6Aを、カラムとして昭和電工社製Shodex K-800P/K-804L/K-804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度を40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。 The polystyrene-equivalent weight average molecular weight of the phenoxy resin is preferably in the range of 8,000 to 70,000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and even more preferably in the range of 20,000 to 60,000. The polystyrene-equivalent weight average molecular weight of the phenoxy resin is measured by a gel permeation chromatography (GPC) method. Specifically, the polystyrene-equivalent weight average molecular weight of the phenoxy resin is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device and Shodex K-800P / K-804L / K-804L manufactured by Showa Denko Corporation as a column. Can be calculated by measuring the column temperature at 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase and using a standard polystyrene calibration curve.

フェノキシ樹脂の具体例としては、三菱ケミカル社製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA構造含有フェノキシ樹脂)、「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂)、及び「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン構造含有フェノキシ樹脂)が挙げられ、その他にも、新日鉄住金化学社製の「FX280」及び「FX293」、三菱ケミカル社製の「YX7180」、「YX6954」、「YX7553」、「YX7553BH30」、「YL7553BH30」、「YL7769」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」、「YL7891」、「YL7482」等が挙げられる。中でもポリアルキレンオキシ構造を有するフェノキシ樹脂が好ましく、具体例としては三菱ケミカル社製の「YX-7180」、「YL7553BH30」が挙げられる。 Specific examples of the phenoxy resin include "1256" and "4250" (both bisphenol A structure-containing phenoxy resin), "YX8100" (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin), and "YX6954" (bisphenol acetophenone) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. Structure-containing phenoxy resin), and also "FX280" and "FX293" manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation, "YX7180", "YX6954", "YX7553", "YX7553BH30", "YL7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. , "YL7769", "YL6794", "YL7213", "YL7290", "YL7891", "YL7482" and the like. Of these, a phenoxy resin having a polyalkyleneoxy structure is preferable, and specific examples thereof include "YX-7180" and "YL7553BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

(F)成分は、分子内に、ポリブタジエン構造、ポリシロキサン構造、ポリ(メタ)アクリレート構造、ポリアルキレン構造、ポリアルキレンオキシ構造、ポリイソプレン構造、ポリイソブチレン構造、及びポリカーボネート構造から選択される1種以上の構造を有することが好ましく、ポリブタジエン構造、ポリ(メタ)アクリレート構造、ポリアルキレンオキシ構造、ポリイソプレン構造、ポリイソブチレン構造、及びポリカーボネート構造から選択される1種または2種以上の構造を有することがより好ましく、ポリブタジエン構造、及びポリアルキレンオキシ構造から選択される1以上の構造を有することがさらに好ましい。上記の構造を有する樹脂を含むことで磁性層が低弾性となり、シェア強度、破断曲げひずみ、及び割れ性に優れるようになり、さらに反りの発生を抑制することがきる。なお、「(メタ)アクリレート」とは、メタクリレート及びアクリレートを指す。これらの構造は主鎖に含まれていても側鎖に含まれていてもよい。
なお、ポリブタジエン構造は、一部又は全てが水素添加されていてもよい。
ポリアルキレンオキシ構造は、炭素原子数2~15のポリアルキレンオキシ構造が好ましく、炭素原子数3~10のポリアルキレンオキシ構造がより好ましく、炭素原子数5~6のポリアルキレンオキシ構造がさらに好ましい。
The component (F) is one selected from a polybutadiene structure, a polysiloxane structure, a poly (meth) acrylate structure, a polyalkylene structure, a polyalkyleneoxy structure, a polyisoprene structure, a polyisobutylene structure, and a polycarbonate structure in the molecule. It is preferable to have the above structure, and it is preferable to have one or more structures selected from a polybutadiene structure, a poly (meth) acrylate structure, a polyalkyleneoxy structure, a polyisoprene structure, a polyisobutylene structure, and a polycarbonate structure. Is more preferable, and it is further preferable to have one or more structures selected from a polybutadiene structure and a polyalkylene oxy structure. By containing the resin having the above structure, the magnetic layer becomes low elasticity, becomes excellent in shear strength, breaking bending strain, and crackability, and further suppresses the occurrence of warpage. In addition, "(meth) acrylate" refers to methacrylate and acrylate. These structures may be contained in the main chain or the side chain.
The polybutadiene structure may be partially or completely hydrogenated.
As the polyalkylene oxy structure, a polyalkylene oxy structure having 2 to 15 carbon atoms is preferable, a polyalkylene oxy structure having 3 to 10 carbon atoms is more preferable, and a polyalkylene oxy structure having 5 to 6 carbon atoms is further preferable.

(F)成分は、樹脂組成物が硬化した際の反りを低下させるために高分子量であることが好ましい。数平均分子量(Mn)は、好ましくは1,000以上、より好ましくは1500以上、さらに好ましくは3000以上、5000以上である。上限は、好ましくは1,000,000以下、より好ましくは900,000以下である。数平均分子量(Mn)は、GPC(ゲル浸透クロマトグラフィー)を使用して測定されるポリスチレン換算の数平均分子量である。 The component (F) is preferably in a high molecular weight in order to reduce the warp when the resin composition is cured. The number average molecular weight (Mn) is preferably 1,000 or more, more preferably 1500 or more, still more preferably 3000 or more and 5000 or more. The upper limit is preferably 1,000,000 or less, more preferably 900,000 or less. The number average molecular weight (Mn) is a polystyrene-equivalent number average molecular weight measured using GPC (gel permeation chromatography).

(F)成分は、硬化物の機械的強度を向上させる観点から、(A)成分と反応し得る官能基を有することが好ましい。なお、(A)成分と反応し得る官能基としては、加熱によって現れる官能基も含めるものとする。 The component (F) preferably has a functional group capable of reacting with the component (A) from the viewpoint of improving the mechanical strength of the cured product. The functional group that can react with the component (A) includes a functional group that appears by heating.

好適な一実施形態において、(A)成分と反応し得る官能基は、ヒドロキシ基、カルボキシ基、酸無水物基、フェノール性水酸基、エポキシ基、イソシアネート基及びウレタン基からなる群から選択される1種以上の官能基である。中でも、当該官能基としては、ヒドロキシ基、酸無水物基、フェノール性水酸基、エポキシ基、イソシアネート基及びウレタン基が好ましく、ヒドロキシ基、酸無水物基、フェノール性水酸基、エポキシ基がより好ましく、フェノール性水酸基が特に好ましい。ただし、官能基としてエポキシ基を含む場合、数平均分子量(Mn)は、5,000以上であることが好ましい。 In one preferred embodiment, the functional group capable of reacting with the component (A) is selected from the group consisting of a hydroxy group, a carboxy group, an acid anhydride group, a phenolic hydroxyl group, an epoxy group, an isocyanate group and a urethane group. It is a functional group that is more than a species. Among them, as the functional group, a hydroxy group, an acid anhydride group, a phenolic hydroxyl group, an epoxy group, an isocyanate group and a urethane group are preferable, a hydroxy group, an acid anhydride group, a phenolic hydroxyl group and an epoxy group are more preferable, and phenol. Sexual hydroxyl groups are particularly preferred. However, when an epoxy group is contained as a functional group, the number average molecular weight (Mn) is preferably 5,000 or more.

ポリブタジエン樹脂の具体例としては、クレイバレー社製の「Ricon 130MA8」、「Ricon 130MA13」、「Ricon 130MA20」、「Ricon 131MA5」、「Ricon 131MA10」、「Ricon 131MA17」、「Ricon 131MA20」、「Ricon 184MA6」(酸無水物基含有ポリブタジエン)、日本曹達社製の「GQ-1000」(水酸基、カルボキシル基導入ポリブタジエン)、「G-1000」、「G-2000」、「G-3000」(両末端水酸基ポリブタジエン)、「GI-1000」、「GI-2000」、「GI-3000」(両末端水酸基水素化ポリブタジエン)、ナガセケムテックス社製の「FCA-061L」(水素化ポリブタジエン骨格エポキシ樹脂)等が挙げられる。一実施形態として、ヒドロキシル基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を原料とする線状ポリイミド(特開2006-37083号公報、国際公開第2008/153208号に記載のポリイミド)等が挙げられる。該ポリイミド樹脂のブタジエン構造の含有率は、好ましくは60質量%~95質量%、より好ましくは75質量%~85質量%である。該ポリイミド樹脂の詳細は、特開2006-37083号公報、国際公開第2008/153208号の記載を参酌することができ、この内容は本明細書に組み込まれる。 Specific examples of the polybutadiene resin include "Ricon 130MA8", "Ricon 130MA13", "Ricon 130MA20", "Ricon 131MA5", "Ricon 131MA10", "Ricon 131MA17", "Ricon 131MA20", and "Ricon" manufactured by Clay Valley. 184MA6 "(polybutadiene containing acid anhydride group)," GQ-1000 "(hydroxyl-terminated, carboxyl group-introduced polybutadiene)," G-1000 "," G-2000 "," G-3000 "(both ends) manufactured by Nippon Soda. Hydroxyl-terminated polybutadiene), "GI-1000", "GI-2000", "GI-3000" (hydroxyl-terminated polybutadiene with both ends), "FCA-061L" (hydroxyl-terminated polybutadiene skeleton epoxy resin) manufactured by Nagase ChemteX, etc. Can be mentioned. As one embodiment, linear polyimide using hydroxyl group-terminated polybutadiene, diisocyanate compound, and tetrabasic acid anhydride as raw materials (polyimide described in JP-A-2006-37083, International Publication No. 2008/153208) and the like can be mentioned. .. The content of the butadiene structure of the polyimide resin is preferably 60% by mass to 95% by mass, more preferably 75% by mass to 85% by mass. For the details of the polyimide resin, the description of JP-A-2006-37083 and International Publication No. 2008/153208 can be referred to, and the contents thereof are incorporated in the present specification.

ポリ(メタ)アクリル樹脂としては、ナガセケムテックス社製のテイサンレジン、根上工業社製の「ME-2000」、「W-116.3」、「W-197C」、「KG-25」、「KG-3000」等が挙げられる。
ポリカーボネート樹脂としては、旭化成ケミカルズ社製の「T6002」、「T6001」(ポリカーボネートジオール)、クラレ社製の「C-1090」、「C-2090」、「C-3090」(ポリカーボネートジオール)等が挙げられる。またヒドロキシル基末端ポリカーボネート、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を原料とする線状ポリイミドを使用することもできる。該ポリイミド樹脂のカーボネート構造の含有率は、好ましくは60質量%~95質量%、より好ましくは75質量%~85質量%である。該ポリイミド樹脂の詳細は、国際公開第2016/129541号の記載を参酌することができ、この内容は本明細書に組み込まれる。
As poly (meth) acrylic resin, Teisan resin manufactured by Nagase ChemteX, "ME-2000", "W-116.3", "W-197C", "KG-25", "KG-25" manufactured by Negami Kogyo Co., Ltd. KG-3000 ”and the like.
Examples of the polycarbonate resin include "T6002" and "T6001" (polycarbonate diol) manufactured by Asahi Kasei Chemicals, "C-1090", "C-2090" and "C-3090" (polycarbonate diol) manufactured by Kuraray. Be done. Further, a linear polyimide made from a hydroxyl group-terminated polycarbonate, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride can also be used. The content of the carbonate structure of the polyimide resin is preferably 60% by mass to 95% by mass, more preferably 75% by mass to 85% by mass. The details of the polyimide resin can be referred to in International Publication No. 2016/129541, and the contents thereof are incorporated in the present specification.

また、他の具体例としては信越シリコーン社製の「SMP-2006」、「SMP-2003PGMEA」、「SMP-5005PGMEA」、アミン基末端ポリシロキサンおよび四塩基酸無水物を原料とする線状ポリイミド(国際公開第2010/053185号公報、特開2002-12667号公報及び特開2000-319386号公報等)、旭化成せんい社製の「PTXG-1000」、「PTXG-1800」、クラレ社製の「KL-610」、「KL613」、カネカ社製の「SIBSTAR-073T」(スチレン-イソブチレン-スチレントリブロック共重合体)、「SIBSTAR-042D」(スチレン-イソブチレンジブロック共重合体)、電気化学工業社製の「電化ブチラール4000-2」、「電化ブチラール5000-A」、「電化ブチラール6000-C」、「電化ブチラール6000-EP」、積水化学工業社製のエスレックBHシリーズ、BXシリーズ(例えばBX-5Z)、KSシリーズ(例えばKS-1)、BLシリーズ、BMシリーズ、新日本理化社製の「リカコートSN20」及び「リカコートPN20」、東洋紡社製の「バイロマックスHR11NN」及び「バイロマックスHR16NN」、日立化成社製の「KS9100」及び「KS9300」、住友化学社製の「PES5003P」、ソルベイアドバンストポリマーズ社製のポリスルホン「P1700」及び「P3500」、ガンツ化成社製の「AC3832」等が挙げられる。 Further, as another specific example, "SMP-2006", "SMP-2003PGMEA", "SMP-5005PGMEA" manufactured by Shinetsu Silicone Co., Ltd., an amine group-terminated polysiloxane, and a linear polyimide made from tetrabasic acid anhydride as raw materials ( International Publication No. 2010/053185, JP-A-2002-12667, JP-A-2000-31386, etc.), "PTXG-1000" and "PTXG-1800" manufactured by Asahi Kasei Fibers, and "KL" manufactured by Kuraray. -610 "," KL613 ", Kaneka's" SIBSTAR-073T "(styrene-isobutylene-styrenepolyimide copolymer)," SIBSTAR-042D "(styrene-isobutyrene block copolymer), Electrochemical Industry Co., Ltd. "Electrified Butyral 4000-2", "Electrified Butyral 5000-A", "Electrified Butyral 6000-C", "Electrified Butyral 6000-EP", Sekisui Chemical Co., Ltd. Eslek BH series, BX series (for example, BX- 5Z), KS series (eg KS-1), BL series, BM series, "Ricacoat SN20" and "Ricacoat PN20" manufactured by Shin Nihon Rika, "Vilomax HR11NN" and "Vilomax HR16NN" manufactured by Toyo Spinning Co., Ltd., Examples thereof include "KS9100" and "KS9300" manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., "PES5003P" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., polysulfones "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers, and "AC3832" manufactured by Ganz Kasei Co., Ltd.

樹脂組成物が(F)成分を含有する場合、(F)成分の含有量は、柔軟性付与の観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは0.15質量%以上、さらに好ましくは0.2質量%以上であり、好ましくは1.5質量%以下、より好ましくは1質量%以下、さらに好ましくは0.8質量%以下である。(F)成分の含有量を斯かる範囲内とすることにより、硬化物の透磁率を維持でき、反りを抑制させることができる。 When the resin composition contains the component (F), the content of the component (F) is preferably 0.1% by mass when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass from the viewpoint of imparting flexibility. % Or more, more preferably 0.15% by mass or more, still more preferably 0.2% by mass or more, preferably 1.5% by mass or less, more preferably 1% by mass or less, still more preferably 0.8% by mass. It is as follows. By setting the content of the component (F) within such a range, the magnetic permeability of the cured product can be maintained and warpage can be suppressed.

<(G)硬化促進剤>
樹脂組成物は、(G)硬化促進剤を含有し得る。硬化促進剤としては、例えば、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、金属系硬化促進剤等が挙げられ、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤が好ましく、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤がより好ましい。硬化促進剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
<(G) Curing accelerator>
The resin composition may contain (G) a curing accelerator. Examples of the curing accelerator include phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, and the like, and phosphorus-based curing accelerators and amine-based curing agents. Curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, and metal-based curing accelerators are preferable, and amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, and metal-based curing accelerators are more preferable. The curing accelerator may be used alone or in combination of two or more.

リン系硬化促進剤としては、例えば、トリフェニルホスフィン、ホスホニウムボレート化合物、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、n-ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩、(4-メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、ブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネート等が挙げられ、トリフェニルホスフィン、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩が好ましい。 Examples of the phosphorus-based curing accelerator include triphenylphosphine, phosphonium borate compound, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, and (4-methylphenyl) triphenylphosphonium thiocyanate. , Tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate and the like, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.

アミン系硬化促進剤としては、例えば、トリエチルアミン、トリブチルアミン等のトリアルキルアミン、4-ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6,-トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8-ジアザビシクロ(5,4,0)-ウンデセン等が挙げられ、4-ジメチルアミノピリジン、1,8-ジアザビシクロ(5,4,0)-ウンデセンが好ましい。 Examples of the amine-based curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6, -tris (dimethylaminomethyl) phenol, and 1,8-diazabicyclo. Examples thereof include (5,4,0) -undecene, and 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene are preferable.

イミダゾール系硬化促進剤としては、例えば、2-メチルイミダゾール、2-ウンデシルイミダゾール、2-ヘプタデシルイミダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、2-フェニルイミダゾール、2-フェニル-4-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール、1-シアノエチル-2-エチル-4-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-ウンデシルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-エチル-4’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジンイソシアヌル酸付加物、2-フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2-フェニル-4,5-ジヒドロキシメチルイミダゾール、2-フェニル-4-メチル-5-ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3-ジヒドロ-1H-ピロロ[1,2-a]ベンズイミダゾール、1-ドデシル-2-メチル-3-ベンジルイミダゾリウムクロライド、2-メチルイミダゾリン、2-フェニルイミダゾリン等のイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられ、2-エチル-4-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-フェニルイミダゾールが好ましい。 Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and the like. 2-Ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-Cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl- 2-Phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecyl Imidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4- Diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2- Phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline Examples thereof include imidazole compounds such as 2-phenylimidazolin and adducts of the imidazole compound and an epoxy resin, and 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

イミダゾール系硬化促進剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三菱ケミカル社製の「P200-H50」等が挙げられる。 As the imidazole-based curing accelerator, a commercially available product may be used, and examples thereof include "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

グアニジン系硬化促進剤としては、例えば、ジシアンジアミド、1-メチルグアニジン、1-エチルグアニジン、1-シクロヘキシルグアニジン、1-フェニルグアニジン、1-(o-トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エン、7-メチル-1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エン、1-メチルビグアニド、1-エチルビグアニド、1-n-ブチルビグアニド、1-n-オクタデシルビグアニド、1,1-ジメチルビグアニド、1,1-ジエチルビグアニド、1-シクロヘキシルビグアニド、1-アリルビグアニド、1-フェニルビグアニド、1-(o-トリル)ビグアニド等が挙げられ、ジシアンジアミド、1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エンが好ましい。 Examples of the guanidine-based curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, and trimethylguanidine. Tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylviguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1,1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1 -Allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1- (o-tolyl) biguanide and the like can be mentioned, with dicyandiamide and 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene being preferred.

金属系硬化促進剤としては、例えば、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体等が挙げられる。有機金属塩としては、例えば、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛等が挙げられる。 Examples of the metal-based curing accelerator include organic metal complexes or organic metal salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. Examples thereof include an organic zinc complex such as iron (III) acetylacetonate, an organic nickel complex such as nickel (II) acetylacetonate, and an organic manganese complex such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, zinc stearate and the like.

樹脂組成物が(G)成分を含有する場合、(G)成分の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.001質量%以上、より好ましくは0.005質量%以上、さらに好ましくは0.01質量%以上、好ましくは0.1質量%以下、より好ましくは0.8質量%以下、さらに好ましくは0.5質量%以下である。(G)成分の含有量を斯かる範囲内とすることにより、硬化物の透磁率を維持でき、反りを抑制させることができる。 When the resin composition contains the component (G), the content of the component (G) is preferably 0.001% by mass or more, more preferably 0 when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. It is .005% by mass or more, more preferably 0.01% by mass or more, preferably 0.1% by mass or less, more preferably 0.8% by mass or less, still more preferably 0.5% by mass or less. By setting the content of the component (G) within such a range, the magnetic permeability of the cured product can be maintained and warpage can be suppressed.

<(H)任意の添加剤>
樹脂組成物は、さらに必要に応じて、他の添加剤を含んでいてもよく、斯かる他の添加剤としては、例えば、難燃剤、有機銅化合物、有機亜鉛化合物及び有機コバルト化合物等の有機金属化合物、並びに、バインダー、増粘剤、消泡剤、レベリング剤、密着性付与剤、及び着色剤等の樹脂添加剤等が挙げられる。
<(H) Arbitrary additive>
The resin composition may further contain other additives, if necessary, and such other additives include, for example, an organic flame retardant, an organic copper compound, an organic zinc compound, an organic cobalt compound, and the like. Examples thereof include metal compounds, binders, thickeners, defoaming agents, leveling agents, adhesion-imparting agents, resin additives such as colorants, and the like.

難燃剤としては、例えば、ホスファゼン化合物、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。ホスファゼン化合物の具体例としては、例えば、大塚化学社製の「SPH-100」、「SPS-100」、「SPB-100」、「SPE-100」、伏見製薬所社製の「FP-100」、「FP-110」、「FP-300」、「FP-400」等が挙げられ、ホスファゼン化合物以外の難燃剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三光社製の「HCA-HQ」、大八化学工業社製の「PX-200」等が挙げられる。 Examples of the flame retardant include phosphazene compounds, organic phosphorus flame retardants, organic nitrogen-containing phosphorus compounds, nitrogen compounds, silicone flame retardants, metal hydroxides and the like. Specific examples of the phosphazene compound include, for example, "SPH-100", "SPS-100", "SPB-100", "SPE-100" manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd., and "FP-100" manufactured by Fushimi Pharmaceutical Co., Ltd. , "FP-110", "FP-300", "FP-400" and the like, and as a flame retardant other than the phosphazene compound, a commercially available product may be used, for example, "HCA-HQ" manufactured by Sanko Co., Ltd. , "PX-200" manufactured by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd. and the like.

<樹脂組成物の物性>
本発明の樹脂組成物を、100℃で30分間、さらに190℃で60分間熱硬化させた硬化物は、硬化収縮率が低いという特性を示す。即ち、硬化収縮が抑えられ、これにより反りを抑制することができる磁性層をもたらす。硬化収縮率としては、好ましくは0.27%以下、より好ましくは0.25%以下、さらに好ましくは0.2%以下である。硬化収縮率の下限値は特に限定されないが、0.01%以上等とし得る。硬化収縮率は、後述する実施例に記載の方法に従って測定することができる。
<Physical characteristics of resin composition>
A cured product obtained by thermally curing the resin composition of the present invention at 100 ° C. for 30 minutes and further at 190 ° C. for 60 minutes exhibits a characteristic of low curing shrinkage rate. That is, the curing shrinkage is suppressed, thereby providing a magnetic layer capable of suppressing warpage. The curing shrinkage rate is preferably 0.27% or less, more preferably 0.25% or less, still more preferably 0.2% or less. The lower limit of the curing shrinkage rate is not particularly limited, but may be 0.01% or more. The curing shrinkage rate can be measured according to the method described in Examples described later.

本発明の樹脂組成物を190℃90分間熱硬化させた硬化物は、反りを抑制するという特性を示す。具体的には、硬化物の中央部が凸部となる側の面を下向きにして平滑な台上に載置したとき、台上と硬化物との距離の絶対値が20mm未満であることが好ましく、15mm未満であることがより好ましい。反りの評価は、後述する実施例に記載の方法に従って評価することができる。 The cured product obtained by thermally curing the resin composition of the present invention at 190 ° C. for 90 minutes exhibits a property of suppressing warpage. Specifically, when the cured product is placed on a smooth table with the surface on the side where the central portion becomes the convex portion facing downward, the absolute value of the distance between the table and the cured product is less than 20 mm. It is preferably less than 15 mm. The warpage can be evaluated according to the method described in Examples described later.

本発明の樹脂組成物を130℃で30分間、さらに190℃で60分間熱硬化させた硬化物は、金属層、特にメッキにより形成されたメッキ導体層とのピール強度に優れるという特性を示す。即ちピール強度に優れた磁性層をもたらす。ピール強度としては、好ましくは0.5kgf/cm以上、より好ましくは0.6kgf/cm以上、さらに好ましくは0.7kgf/cm以上である。一方、ピール強度の上限値は特に限定されないが、1.5kgf/cm以下等とし得る。ピール強度の評価は、後述する実施例に記載の方法に従って測定することができる。 The cured product obtained by thermally curing the resin composition of the present invention at 130 ° C. for 30 minutes and further at 190 ° C. for 60 minutes exhibits a characteristic of being excellent in peel strength with a metal layer, particularly a plated conductor layer formed by plating. That is, it provides a magnetic layer having excellent peel strength. The peel strength is preferably 0.5 kgf / cm or more, more preferably 0.6 kgf / cm or more, and further preferably 0.7 kgf / cm or more. On the other hand, the upper limit of the peel strength is not particularly limited, but may be 1.5 kgf / cm or less. The evaluation of peel strength can be measured according to the method described in Examples described later.

本発明の樹脂組成物を190℃で90分間熱硬化させた硬化物は、平均線熱膨張係数(熱膨張率)が低いという特性を示す。即ち、熱膨張率が低い磁性層をもたらす。30℃~150℃における平均線熱膨張係数の上限値は30ppm/℃以下が好ましく、25ppm/℃以下がより好ましく、20ppm/℃以下が更に好ましく、15ppm/℃以下が更に一層好ましく、10ppm/℃以下が特に好ましい。一方、線熱膨張係数の下限値は特に限定されず、3ppm/℃以上、4ppm/℃以上、5ppm/℃以上などし得る。熱膨張率の測定は、後述する実施例に記載の方法に従って測定することができる。 The cured product obtained by thermally curing the resin composition of the present invention at 190 ° C. for 90 minutes exhibits a characteristic that the average linear thermal expansion coefficient (thermal expansion coefficient) is low. That is, it provides a magnetic layer having a low thermal expansion rate. The upper limit of the average coefficient of linear thermal expansion from 30 ° C. to 150 ° C. is preferably 30 ppm / ° C. or lower, more preferably 25 ppm / ° C. or lower, further preferably 20 ppm / ° C. or lower, even more preferably 15 ppm / ° C. or lower, and 10 ppm / ° C. The following are particularly preferred. On the other hand, the lower limit of the coefficient of linear thermal expansion is not particularly limited, and may be 3 ppm / ° C. or higher, 4 ppm / ° C. or higher, 5 ppm / ° C. or higher, or the like. The thermal expansion rate can be measured according to the method described in Examples described later.

樹脂組成物を190℃で90分間熱硬化させた硬化物は、周波数100MHzにおける比透磁率が高いという特性を示す。周波数100MHzにおける比透磁率は、好ましくは5以上、より好ましくは7以上、さらに好ましくは9以上である。また、好ましくは20以下、より好ましくは18以下、さらに好ましくは15以下である。比透磁率は、後述する実施例に記載の方法に従って測定することができる。 The cured product obtained by thermally curing the resin composition at 190 ° C. for 90 minutes exhibits a characteristic of high relative magnetic permeability at a frequency of 100 MHz. The relative magnetic permeability at a frequency of 100 MHz is preferably 5 or more, more preferably 7 or more, still more preferably 9 or more. Further, it is preferably 20 or less, more preferably 18 or less, and further preferably 15 or less. The relative magnetic permeability can be measured according to the method described in Examples described later.

樹脂組成物を190℃で90分間熱硬化させた硬化物は、周波数100MHzにおける損失係数が低いという特性を示す。周波数100MHzにおける損失係数は、好ましくは0.07以下、より好ましくは0.06以下、さらに好ましくは0.05以下である。下限は特に限定されないが0.0001以上等とし得る。損失係数は、後述する実施例に記載の方法に従って測定することができる。 The cured product obtained by thermally curing the resin composition at 190 ° C. for 90 minutes exhibits a characteristic that the loss coefficient at a frequency of 100 MHz is low. The loss coefficient at a frequency of 100 MHz is preferably 0.07 or less, more preferably 0.06 or less, still more preferably 0.05 or less. The lower limit is not particularly limited, but may be 0.0001 or more. The loss factor can be measured according to the method described in Examples described later.

本実施形態の樹脂組成物は、磁性層形成時の流動性に優れており、磁性層(硬化物)としたときの配線層の封止性に優れている。また、本実施形態の樹脂組成物を熱硬化させて得られる磁性層(硬化物)は、絶縁性にも優れる。 The resin composition of the present embodiment is excellent in fluidity when forming a magnetic layer, and is excellent in sealing property of a wiring layer when it is used as a magnetic layer (cured product). Further, the magnetic layer (cured product) obtained by thermally curing the resin composition of the present embodiment is also excellent in insulating properties.

よって、本実施形態の樹脂組成物は、磁性層(複数層の磁性層が積層された磁性体部)の厚さ内にコイルが作り込まれた、いわゆるフィルム構造のインダクタ素子を備える配線板の磁性層の材料として好適に用いることができる。 Therefore, the resin composition of the present embodiment is a wiring board provided with a so-called film-structured inductor element in which a coil is formed within the thickness of a magnetic layer (a magnetic material portion in which a plurality of magnetic layers are laminated). It can be suitably used as a material for a magnetic layer.

[樹脂シート]
本発明の樹脂シートは、支持体と、該支持体上に設けられた、本発明の樹脂組成物で形成された樹脂組成物層とを含む。
[Resin sheet]
The resin sheet of the present invention includes a support and a resin composition layer provided on the support and formed of the resin composition of the present invention.

樹脂組成物層の厚さは、薄型化の観点から、好ましくは250μm以下、より好ましくは200μm以下、さらに好ましくは150μm以下、100μm以下、80μm以下、60μm以下又は40μm以下である。樹脂組成物層の厚さの下限は、特に限定されないが、通常、5μm以上、10μm以上、20μm以上等とし得る。 From the viewpoint of thinning, the thickness of the resin composition layer is preferably 250 μm or less, more preferably 200 μm or less, still more preferably 150 μm or less, 100 μm or less, 80 μm or less, 60 μm or less, or 40 μm or less. The lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, but may be usually 5 μm or more, 10 μm or more, 20 μm or more, and the like.

支持体としては、例えば、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔、離型紙が挙げられ、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔が好ましい。 Examples of the support include a film made of a plastic material, a metal foil, and a release paper, and a film made of a plastic material and a metal foil are preferable.

支持体としてプラスチック材料からなるフィルムを使用する場合、プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート(以下「PEN」と略称することがある。)等のポリエステル、ポリカーボネート(以下「PC」と略称することがある。)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリル、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミド等が挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。 When a film made of a plastic material is used as a support, the plastic material may be, for example, polyethylene terephthalate (hereinafter abbreviated as "PET") or polyethylene naphthalate (hereinafter abbreviated as "PEN"). ) And other polyesters, polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as "PC"), acrylics such as polymethylmethacrylate (PMMA), cyclic polyolefins, triacetylcellulose (TAC), polyethersulfide (PES), polyethers. Examples thereof include ketones and polyimides. Of these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

支持体として金属箔を使用する場合、金属箔としては、例えば、銅箔、アルミニウム箔等が挙げられ、銅箔が好ましい。銅箔としては、銅の単金属からなる箔を用いてもよく、銅と他の金属(例えば、スズ、クロム、銀、マグネシウム、ニッケル、ジルコニウム、ケイ素、チタン等)との合金からなる箔を用いてもよい。 When a metal foil is used as the support, examples of the metal foil include copper foil, aluminum foil, and the like, and copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, and a foil made of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. You may use it.

支持体は、樹脂組成物層と接合する面にマット処理、コロナ処理を施してあってもよい。 The support may be matted or corona-treated on the surface to be joined to the resin composition layer.

また、支持体としては、樹脂組成物層と接合する面に離型層を有する離型層付き支持体を使用してもよい。離型層付き支持体の離型層に使用する離型剤としては、例えば、アルキド樹脂、ポリオレフィン樹脂、ウレタン樹脂、及びシリコーン樹脂からなる群から選択される1種以上の離型剤が挙げられる。離型層付き支持体は、市販品を用いてもよく、例えば、アルキド樹脂系離型剤を主成分とする離型層を有するPETフィルムである、リンテック社製の「SK-1」、「AL-5」、「AL-7」、東レ社製の「ルミラーT60」、帝人社製の「ピューレックス」、ユニチカ社製の「ユニピール」等が挙げられる。 Further, as the support, a support with a release layer having a release layer on the surface to be joined to the resin composition layer may be used. Examples of the release agent used for the release layer of the support with the release layer include one or more release agents selected from the group consisting of alkyd resin, polyolefin resin, urethane resin, and silicone resin. .. As the support with a release layer, a commercially available product may be used. For example, "SK-1" and "SK-1" manufactured by Lintec Corporation, which are PET films having a release layer containing an alkyd resin-based mold release agent as a main component. Examples include "AL-5", "AL-7", "Lumilar T60" manufactured by Toray Industries, "Purex" manufactured by Teijin Ltd., and "Unipee" manufactured by Unitika Ltd.

支持体の厚みとしては、特に限定されないが、5μm~75μmの範囲が好ましく、10μm~60μmの範囲がより好ましい。なお、離型層付き支持体を使用する場合、離型層付き支持体全体の厚さが上記範囲であることが好ましい。 The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 μm to 75 μm, and more preferably in the range of 10 μm to 60 μm. When a support with a release layer is used, the thickness of the entire support with a release layer is preferably in the above range.

樹脂シートは、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーター等を用いて支持体上に塗布し、更に乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。 For the resin sheet, for example, a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent is prepared, and this resin varnish is applied onto a support using a die coater or the like and further dried to form a resin composition layer. It can be manufactured by.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)及びシクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート及びカルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ及びブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン及びキシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド(DMAc)及びN-メチルピロリドン等のアミド系溶媒等を挙げることができる。有機溶剤は1種単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。 Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK) and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, cellosolve and butyl carbitol and the like. Examples thereof include carbitols, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone. The organic solvent may be used alone or in combination of two or more.

乾燥は、加熱、熱風吹きつけ等の公知の方法により実施してよい。乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層中の有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。樹脂ワニス中の有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30質量%~60質量%の有機溶剤を含む樹脂ワニスを用いる場合、50℃~150℃で3分間~10分間乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。 Drying may be carried out by a known method such as heating or blowing hot air. The drying conditions are not particularly limited, but the resin composition layer is dried so that the content of the organic solvent is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Although it depends on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish, for example, when a resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of an organic solvent is used, the resin composition is obtained by drying at 50 ° C. to 150 ° C. for 3 to 10 minutes. A layer can be formed.

樹脂シートにおいて、樹脂組成物層の支持体と接合していない面(即ち、支持体とは反対側の面)には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚さは、特に限定されるものではないが、例えば、1μm~40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを抑制することができる。樹脂シートは、ロール状に巻きとって保存することが可能である。樹脂シートが保護フィルムを有する場合、保護フィルムを剥がすことによって使用可能となる。 In the resin sheet, a protective film similar to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer that is not bonded to the support (that is, the surface opposite to the support). The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 μm to 40 μm. By laminating the protective film, it is possible to suppress the adhesion and scratches of dust and the like on the surface of the resin composition layer. The resin sheet can be rolled up and stored. If the resin sheet has a protective film, it can be used by peeling off the protective film.

[インダクタ素子内蔵配線板及びインダクタ素子内蔵配線板の製造方法]
(第1実施形態)
第1実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の構成例について、図1、図2および図3を参照して説明する。図1は、インダクタ素子内蔵配線板をその厚さ方向の一方からみた模式的な平面図である。図2は、II-II一点鎖線で示した位置で切断したインダクタ素子内蔵配線板の切断端面を示す模式的な図である。図3は、インダクタ素子内蔵配線板のうちの第1配線層の構成を説明するための模式的な平面図である。以下、インダクタ素子内蔵配線板を、単に「配線板」ということがある。
[Manufacturing method of wiring board with built-in inductor element and wiring board with built-in inductor element]
(First Embodiment)
A configuration example of the wiring board with a built-in inductor element of the first embodiment will be described with reference to FIGS. 1, 2, and 3. FIG. 1 is a schematic plan view of a wiring board with a built-in inductor element as viewed from one side in the thickness direction. FIG. 2 is a schematic view showing a cut end surface of a wiring board with a built-in inductor element cut at a position indicated by an alternate long and short dash line II-II. FIG. 3 is a schematic plan view for explaining the configuration of the first wiring layer in the wiring board with a built-in inductor element. Hereinafter, the wiring board with a built-in inductor element may be simply referred to as a “wiring board”.

配線板は、樹脂組成物(樹脂組成物層)の硬化体である磁性層と、この磁性層に少なくとも一部分が埋め込まれた導電性構造体とを有しており、この導電性構造体と、磁性層の厚さ方向に延在し、かつ導電性構造体に囲まれた磁性層のうちの一部分によって構成されるインダクタ素子を含んでいる。 The wiring board has a magnetic layer which is a cured body of the resin composition (resin composition layer) and a conductive structure in which at least a part thereof is embedded in the magnetic layer. It includes an inductor element that extends in the thickness direction of the magnetic layer and is composed of a part of the magnetic layer surrounded by a conductive structure.

本実施形態の配線板が備えるインダクタ素子が機能し得る周波数は10MHz~200MHzであることが想定されている。また、本実施形態の配線板が備えるインダクタ素子は電源系が想定されている。 It is assumed that the frequency at which the inductor element included in the wiring board of the present embodiment can function is 10 MHz to 200 MHz. Further, the inductor element provided in the wiring board of this embodiment is assumed to be a power supply system.

図1および図2に示されるように、配線板10は、ビルドアップ磁性層を有するビルドアップ配線板である。配線板10は、コア基材20を備えている。コア基材20は第1主表面20aおよび第1主表面20aとは反対側の第2主表面20bを有している。コア基材20は絶縁性の基板である。コア基材20は、その厚さ内に配線等が作り込まれた内層回路基板であってもよい。 As shown in FIGS. 1 and 2, the wiring board 10 is a build-up wiring board having a build-up magnetic layer. The wiring board 10 includes a core base material 20. The core base material 20 has a first main surface 20a and a second main surface 20b opposite to the first main surface 20a. The core base material 20 is an insulating substrate. The core base material 20 may be an inner layer circuit board in which wiring or the like is built within the thickness thereof.

コア基材20の材料の例としては、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の絶縁性基材が挙げられる。 Examples of the material of the core base material 20 include an insulating base material such as a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, and a thermosetting polyphenylene ether substrate.

コア基材20は、第1主表面20aに設けられる第1配線層42と、第2主表面20bに設けられる外部端子24とを有している。第1配線層42および第2配線層44は、複数の配線を含んでいる。図示例ではインダクタ素子のコイル状導電性構造体40を構成する配線のみが示されている。外部端子24は図示されていない外部の装置等と電気的に接続するための端子である。外部端子24は、第2主表面20bに設けられる配線層の一部として構成することができる。 The core base material 20 has a first wiring layer 42 provided on the first main surface 20a and an external terminal 24 provided on the second main surface 20b. The first wiring layer 42 and the second wiring layer 44 include a plurality of wirings. In the illustrated example, only the wiring constituting the coiled conductive structure 40 of the inductor element is shown. The external terminal 24 is a terminal for electrically connecting to an external device or the like (not shown). The external terminal 24 can be configured as a part of the wiring layer provided on the second main surface 20b.

第1配線層42、第2配線層44、外部端子24、その他の配線を構成し得る導体材料としては、例えば、金、白金、パラジウム、銀、銅、アルミニウム、コバルト、クロム、亜鉛、ニッケル、チタン、タングステン、鉄、スズおよびインジウムからなる群から選択される1種以上の金属が挙げられる。第1配線層42、第2配線層44、外部端子24、その他の配線は、単金属により構成されていても合金により構成されていてもよく、合金としては、例えば、上記の群から選択される2種以上の金属の合金(例えば、ニッケルクロム合金、銅ニッケル合金および銅チタン合金)が挙げられる。中でも、汎用性、コスト、パターニングの容易性等の観点から、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅、又はニッケルクロム合金、銅ニッケル合金、銅チタン合金を用いることが好ましく、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅、又はニッケルクロム合金を用いることがより好ましく、銅を用いることがさらに好ましい。 Examples of the conductor material that can constitute the first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24, and other wiring include gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, and nickel. Included is one or more metals selected from the group consisting of titanium, tungsten, iron, tin and indium. The first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24, and other wirings may be made of a single metal or an alloy, and the alloy may be selected from, for example, the above group. Examples include alloys of two or more metals (eg, nickel-chromium alloys, copper-nickel alloys and copper-titanium alloys). Above all, from the viewpoint of versatility, cost, ease of patterning, etc., it is possible to use chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or nickel-chromium alloy, copper nickel alloy, copper titanium alloy. It is preferable to use chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, and even more preferably copper.

第1配線層42、第2配線層44、外部端子24、その他の配線は、単層構造であっても、異なる種類の金属若しくは合金からなる単金属層又は合金層が2層以上積層した複層構造であってもよい。第1配線層42、第2配線層44、外部端子24、その他の配線が複層構造である場合、磁性層と接する層は、クロム、亜鉛若しくはチタンの単金属層、又はニッケルクロム合金の合金層であることが好ましい。 Even if the first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24, and other wiring have a single layer structure, a single metal layer made of a different type of metal or alloy or a plurality of alloy layers are laminated. It may have a layered structure. When the first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24, and other wiring have a multi-layer structure, the layer in contact with the magnetic layer is a single metal layer of chromium, zinc, or titanium, or an alloy of nickel-chromium alloy. It is preferably a layer.

第1配線層42、第2配線層44、外部端子24、その他の配線の厚さは、所望の多層プリント配線板のデザインによるが、一般に3μm~35μm、好ましくは5μm~30μmである。 The thickness of the first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24, and other wiring depends on the design of the desired multilayer printed wiring board, but is generally 3 μm to 35 μm, preferably 5 μm to 30 μm.

コア基材20が有する第1配線層42および外部端子24の厚さは特に限定されない。第1配線層42および外部端子24の厚さは、薄型化の観点から、好ましくは70μm以下であり、より好ましくは60μm以下であり、さらに好ましくは50μm以下、さらにより好ましくは40μm以下、特に好ましくは30μm以下、20μm以下、15μm以下又は10μm以下である。外部端子24の厚さの下限は特に制限されないが、好ましくは1μm以上、より好ましくは3μm以上、さらに好ましくは5μm以上である。 The thickness of the first wiring layer 42 and the external terminal 24 included in the core base material 20 is not particularly limited. The thickness of the first wiring layer 42 and the external terminal 24 is preferably 70 μm or less, more preferably 60 μm or less, still more preferably 50 μm or less, still more preferably 40 μm or less, and particularly preferably 40 μm or less, from the viewpoint of thinning. Is 30 μm or less, 20 μm or less, 15 μm or less, or 10 μm or less. The lower limit of the thickness of the external terminal 24 is not particularly limited, but is preferably 1 μm or more, more preferably 3 μm or more, and further preferably 5 μm or more.

第1配線層42および外部端子24のライン(L)/スペース(S)比は特に制限されないが、表面の凹凸を減少させて平滑性に優れる磁性層を得る観点から、通常、900/900μm以下、好ましくは700/700μm以下、より好ましくは500/500μm以下、さらに好ましくは300/300μm以下、さらにより好ましくは200/200μm以下である。ライン/スペース比の下限は特に制限されないが、スペースへの樹脂組成物の埋め込みを良好にする観点から、好ましくは1/1μm以上である。 The line (L) / space (S) ratio of the first wiring layer 42 and the external terminal 24 is not particularly limited, but is usually 900/900 μm or less from the viewpoint of reducing surface irregularities and obtaining a magnetic layer having excellent smoothness. It is preferably 700/700 μm or less, more preferably 500/500 μm or less, still more preferably 300/300 μm or less, still more preferably 200/200 μm or less. The lower limit of the line / space ratio is not particularly limited, but is preferably 1/1 μm or more from the viewpoint of improving the embedding of the resin composition in the space.

コア基材20としては、例えば、ガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板であるパナソニック社製「R1515A」を用い、銅層をパターニングすることにより配線層とした配線板が挙げられる。 Examples of the core base material 20 include a wiring board made of a glass cloth base material epoxy resin double-sided copper-clad laminate "R1515A" manufactured by Panasonic Corporation and having a copper layer patterned to form a wiring layer.

コア基材20は第1主表面20aから第2主表面20bに至るようにコア基材20を貫通する複数のスルーホール22を有している。スルーホール22にはスルーホール内配線22aが設けられている。スルーホール内配線22aは、第1配線層42と外部端子24とを電気的に接続している。 The core base material 20 has a plurality of through holes 22 penetrating the core base material 20 from the first main surface 20a to the second main surface 20b. The through hole 22 is provided with wiring 22a in the through hole. The wiring 22a in the through hole electrically connects the first wiring layer 42 and the external terminal 24.

図3に示されるように、第1配線層42はコイル状導電性構造体40を構成するための渦巻状の配線部と、スルーホール内配線22aと電気的に接続される矩形状のランド42aとを含んでいる。図示例では渦巻状の配線部は直線状部と直角に屈曲する屈曲部とランド42aを迂回する迂回部を含んでいる。図示例では第1配線層42の渦巻状の配線部は全体の輪郭が略矩形状であって、中心側からその外側に向かうにあたり反時計回りに巻いている形状を有している。 As shown in FIG. 3, the first wiring layer 42 has a spiral wiring portion for forming the coiled conductive structure 40 and a rectangular land 42a electrically connected to the wiring 22a in the through hole. And include. In the illustrated example, the spiral wiring portion includes a bending portion that bends at a right angle to the linear portion and a detour portion that bypasses the land 42a. In the illustrated example, the spiral wiring portion of the first wiring layer 42 has a substantially rectangular outline as a whole, and has a shape of being wound counterclockwise from the center side toward the outside thereof.

第1配線層42が設けられたコア基材20の第1主表面20a側には第1配線層42および第1配線層42から露出する第1主表面20aを覆うように第1磁性層32が設けられている。 On the first main surface 20a side of the core base material 20 provided with the first wiring layer 42, the first magnetic layer 32 covers the first wiring layer 42 and the first main surface 20a exposed from the first wiring layer 42. Is provided.

第1磁性層32は、既に説明した樹脂シートに由来する層であるので、第1配線層42の封止性に優れている。また第1磁性層32は、前記樹脂シートを用いて形成されるので、周波数が10MHz~200MHzの範囲における比透磁率が向上しており、さらに、通常は磁性損失が低減されている。 Since the first magnetic layer 32 is a layer derived from the resin sheet already described, the first wiring layer 42 is excellent in sealing property. Further, since the first magnetic layer 32 is formed by using the resin sheet, the relative magnetic permeability in the frequency range of 10 MHz to 200 MHz is improved, and the magnetic loss is usually reduced.

第1磁性層32には、第1磁性層32をその厚さ方向に貫通するビアホール36が設けられている。 The first magnetic layer 32 is provided with a via hole 36 that penetrates the first magnetic layer 32 in the thickness direction thereof.

第1磁性層32上には第2配線層44が設けられている。第2配線層44はコイル状導電性構造体40を構成するための渦巻状の配線部を含んでいる。図示例では渦巻状の配線部は直線状部と直角に屈曲する屈曲部とを含んでいる。図示例では第2配線層44の渦巻状の配線部は全体の輪郭が略矩形状であって、中心側からその外側に向かうにあたり時計回りに巻いている形状を有している。 A second wiring layer 44 is provided on the first magnetic layer 32. The second wiring layer 44 includes a spiral wiring portion for forming the coiled conductive structure 40. In the illustrated example, the spiral wiring portion includes a linear portion and a bent portion that bends at a right angle. In the illustrated example, the spiral wiring portion of the second wiring layer 44 has a substantially rectangular outline as a whole, and has a shape of being wound clockwise from the center side toward the outside thereof.

ビアホール36内にはビアホール内配線36aが設けられている。第2配線層44の渦巻状の配線部のうちの中心側の一端はビアホール内配線36aにより第1配線層42の渦巻状の配線部のうちの中心側の一端に電気的に接続されている。第2配線層44の渦巻状の配線部のうちの外周側の他端はビアホール内配線36aにより第1配線層42のランド42aに電気的に接続されている。よって第2配線層44の渦巻状の配線部のうちの外周側の他端はビアホール内配線36a、ランド42a、スルーホール内配線22aを経て外部端子24に電気的に接続されている。 A wiring 36a in the via hole is provided in the via hole 36. One end of the spiral wiring portion of the second wiring layer 44 on the center side is electrically connected to one end of the spiral wiring portion of the first wiring layer 42 on the center side by the wiring 36a in the via hole. .. The other end of the spiral wiring portion of the second wiring layer 44 on the outer peripheral side is electrically connected to the land 42a of the first wiring layer 42 by the wiring 36a in the via hole. Therefore, the other end of the spiral wiring portion of the second wiring layer 44 on the outer peripheral side is electrically connected to the external terminal 24 via the via hole wiring 36a, the land 42a, and the through hole wiring 22a.

コイル状導電性構造体40は、第1配線層42の一部分である渦巻状の配線部、第2配線層44の一部分である渦巻状の配線部、第1配線層42の渦巻状の配線部と第2配線層44の渦巻状の配線部とを電気的に接続しているビアホール内配線36aにより構成されている。 The coil-shaped conductive structure 40 has a spiral wiring portion that is a part of the first wiring layer 42, a spiral wiring portion that is a part of the second wiring layer 44, and a spiral wiring portion of the first wiring layer 42. It is composed of the wiring 36a in the via hole that electrically connects the wiring portion of the second wiring layer 44 and the spiral wiring portion of the second wiring layer 44.

第2配線層44が設けられた第1磁性層32上には第2配線層44および第2配線層44から露出する第1磁性層32を覆うように第2磁性層34が設けられている。 A second magnetic layer 34 is provided on the first magnetic layer 32 provided with the second wiring layer 44 so as to cover the second wiring layer 44 and the first magnetic layer 32 exposed from the second wiring layer 44. ..

第2磁性層34は、第1磁性層32と同様に既に説明した樹脂シートに由来する層であり、樹脂シートの樹脂組成物層は磁性層形成時の流動性に優れているので、第2配線層44の封止性に優れている。また第2磁性層34は、前記樹脂シートを用いて形成されるので、比透磁率が向上しており、さらに通常は磁性損失が低減されている。 The second magnetic layer 34 is a layer derived from the resin sheet already described as in the case of the first magnetic layer 32, and the resin composition layer of the resin sheet is excellent in fluidity at the time of forming the magnetic layer, so that the second magnetic layer 34 is the second. The wiring layer 44 has excellent sealing properties. Further, since the second magnetic layer 34 is formed by using the resin sheet, the relative magnetic permeability is improved, and the magnetic loss is usually reduced.

第1磁性層32および第2磁性層34は一体的な磁性層としてみることができる磁性部30を構成している。よってコイル状導電性構造体40は、磁性部30に少なくとも一部分が埋め込まれるように設けられている。すなわち、本実施形態の配線板10において、インダクタ素子はコイル状導電性構造体40と、磁性部30の厚さ方向に延在し、かつコイル状導電性構造体40に囲まれた磁性部30のうちの一部分である芯部によって構成されている。 The first magnetic layer 32 and the second magnetic layer 34 constitute a magnetic portion 30 that can be seen as an integral magnetic layer. Therefore, the coil-shaped conductive structure 40 is provided so that at least a part thereof is embedded in the magnetic portion 30. That is, in the wiring plate 10 of the present embodiment, the inductor element extends in the thickness direction of the coiled conductive structure 40 and the magnetic portion 30, and is surrounded by the coiled conductive structure 40. It is composed of a core that is a part of the core.

本実施形態では、コイル状導電性構造体40が、第1配線層42および第2配線層44の2層の配線層を含む例を説明したが、3層以上の配線層(および3層以上のビルドアップ磁性層)によりコイル状導電性構造体40を構成することもできる。この場合には、最上層の配線層と最下層の配線層とに挟まれるように配置される図示しない配線層の渦巻状の配線部は、その一端が最上層側であって直近に配置される配線層の渦巻状の配線部のいずれか一方の端部に電気的接続され、その他端が最下層側であって直近に配置される配線層の渦巻状の配線部のいずれか一方の端部に電気的接続される。 In the present embodiment, an example in which the coiled conductive structure 40 includes two wiring layers of the first wiring layer 42 and the second wiring layer 44 has been described, but three or more wiring layers (and three or more layers) have been described. The coiled conductive structure 40 can also be formed by the build-up magnetic layer). In this case, the spiral wiring portion of the wiring layer (not shown) arranged so as to be sandwiched between the wiring layer of the uppermost layer and the wiring layer of the lowermost layer has one end thereof on the uppermost layer side and is arranged in the immediate vicinity. One end of the spiral wiring part of the wiring layer that is electrically connected to one end of the spiral wiring part of the wiring layer, and the other end is the lowest layer side and is arranged closest to the spiral wiring part of the wiring layer. It is electrically connected to the part.

本実施形態にかかる配線板によれば、磁性層を前記樹脂シートにより形成するので、形成される磁性層の比透磁率を高めることができ、反り量を低減することができる。 According to the wiring board according to the present embodiment, since the magnetic layer is formed by the resin sheet, the specific magnetic permeability of the formed magnetic layer can be increased and the amount of warpage can be reduced.

以下、第1実施形態にかかるインダクタ素子内蔵配線板の製造方法について図2を参照して説明する。 Hereinafter, a method for manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to the first embodiment will be described with reference to FIG.

本実施形態にかかる配線板の製造方法は、第1磁性層および第2磁性層を含む磁性部と、磁性部に少なくとも一部分が埋め込まれたコイル状導電性構造体とを有しており、コイル状導電性構造体と磁性部のうちの一部分とにより構成されるインダクタ素子を含む配線板の製造方法であって、本実施形態にかかる樹脂シート、および第1配線層が設けられたコア基材を用意する工程と、コア基材に樹脂シートの樹脂組成物層をラミネートする工程と、樹脂組成物層を熱硬化して第1磁性層を形成する工程と、第1磁性層にビアホールを形成する工程と、ビアホールが形成された第1磁性層に対して粗化処理する工程と、第1磁性層に第2配線層を形成し、第1配線層と第2配線層とを電気的に接続するビアホール内配線を形成する工程と、第2配線層およびビアホール内配線が形成された第1磁性層にさらに本実施形態にかかる樹脂シートをラミネートし、熱硬化して第2磁性層を形成する工程と、第1配線層の一部分と第2配線層の一部分とビアホール内配線とを含むコイル状導電性構造体、および磁性部の厚さ方向に延在し、かつコイル状導電性構造体に囲まれた磁性部の一部分を含むインダクタ素子を形成する工程とを含む。 The method for manufacturing a wiring plate according to the present embodiment includes a magnetic portion including a first magnetic layer and a second magnetic layer, and a coiled conductive structure in which at least a part thereof is embedded in the magnetic portion. A method for manufacturing a wiring plate including an inductor element composed of a conductive structure and a part of a magnetic portion, wherein the resin sheet according to the present embodiment and a core base material provided with a first wiring layer are provided. A step of laminating a resin composition layer of a resin sheet on a core base material, a step of thermally curing the resin composition layer to form a first magnetic layer, and a step of forming a via hole in the first magnetic layer. A step of roughening the first magnetic layer on which a via hole is formed, a step of forming a second wiring layer on the first magnetic layer, and electrically connecting the first wiring layer and the second wiring layer. The process of forming the wiring inside the via hole to be connected, the second wiring layer, and the first magnetic layer on which the wiring inside the via hole is formed are further laminated with the resin sheet according to the present embodiment and heat-cured to form the second magnetic layer. A coiled conductive structure including a part of the first wiring layer, a part of the second wiring layer, and wiring in the via hole, and a coiled conductive structure extending in the thickness direction of the magnetic portion. It includes a step of forming an inductor element including a part of a magnetic part surrounded by.

まず、第1主表面20aに設けられる第1配線層42と、第2主表面20bに設けられる外部端子24と、スルーホール22と、スルーホール内配線22aが設けられているコア基材(内層回路基板)20および樹脂シートを用意する。 First, a core base material (inner layer) provided with a first wiring layer 42 provided on the first main surface 20a, an external terminal 24 provided on the second main surface 20b, a through hole 22, and a through hole inner wiring 22a. Circuit board) 20 and a resin sheet are prepared.

<第1磁性層の形成工程>
次に第1磁性層32を形成する。まずコア基材の第1配線層42に接触するように樹脂シートの樹脂組成物層をラミネートするラミネート工程を行う。
<Step of forming the first magnetic layer>
Next, the first magnetic layer 32 is formed. First, a laminating step of laminating the resin composition layer of the resin sheet so as to be in contact with the first wiring layer 42 of the core base material is performed.

ラミネート工程の条件は特に限定されず、樹脂シートを用いて磁性層(ビルドアップ磁性層)を形成するにあたり使用される条件を採用することができる。例えば、加熱されたステンレス鏡板等の金属板を樹脂シートの支持体側からプレスすることにより行うことができる。この場合、金属板を直接的にプレスするのではなく、コア基材20の表面の凹凸に樹脂シートが十分に追随するよう、耐熱ゴム等からなる弾性部材を介してプレスを行うことが好ましい。プレス温度は、好ましくは70℃~140℃の範囲であり、プレス圧力は好ましくは1kgf/cm~11kgf/cm(0.098MPa~1.079MPa)の範囲であり、プレス時間は好ましくは5秒間~3分間の範囲である。 The conditions of the laminating process are not particularly limited, and the conditions used for forming the magnetic layer (build-up magnetic layer) using the resin sheet can be adopted. For example, it can be performed by pressing a heated metal plate such as a stainless steel end plate from the support side of the resin sheet. In this case, instead of directly pressing the metal plate, it is preferable to press through an elastic member made of heat-resistant rubber or the like so that the resin sheet sufficiently follows the unevenness of the surface of the core base material 20. The press temperature is preferably in the range of 70 ° C to 140 ° C, the press pressure is preferably in the range of 1 kgf / cm 2 to 11 kgf / cm 2 (0.098 MPa to 1.079 MPa), and the press time is preferably 5. The range is from 1 second to 3 minutes.

また、ラミネート工程は、好ましくは20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下で実施される。ラミネート工程は、市販されている真空ラミネーターを用いて実施することができる。市販されている真空ラミネーターとしては、例えば、名機製作所社製の真空加圧式ラミネーター、ニッコー・マテリアルズ社製のバキュームアプリケーター等が挙げられる。 Further, the laminating step is preferably carried out under a reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less. The laminating step can be carried out using a commercially available vacuum laminator. Examples of the vacuum laminator on the market include a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., and the like.

ラミネート工程の終了後、コア基材20にラミネートされた樹脂シートを、加熱および加圧処理する平滑化工程を実施してもよい。 After the completion of the laminating step, a smoothing step of heating and pressurizing the resin sheet laminated on the core base material 20 may be performed.

平滑化工程は、一般に、常圧(大気圧)下、加熱された金属板又は金属ロールにより、コア基材20にラミネートされている樹脂シートを加熱および加圧処理することにより実施される。加熱および加圧処理の条件は、上記ラミネート工程の条件と同様の条件を用いることができる。 The smoothing step is generally carried out by heating and pressurizing the resin sheet laminated on the core base material 20 with a heated metal plate or metal roll under normal pressure (atmospheric pressure). As the conditions for the heating and pressure treatment, the same conditions as those for the laminating step can be used.

ラミネート工程および平滑化工程は、同一の真空ラミネーターを用いて連続的に実施することもできる。 The laminating and smoothing steps can also be performed continuously using the same vacuum laminator.

なお、前記ラミネート工程又は前記平滑化工程の実施後の任意のタイミングで樹脂シートに由来する支持体を剥離する工程を行う。支持体を剥離する工程は、例えば、市販の自動剥離装置により機械的に実施することができる。 A step of peeling off the support derived from the resin sheet is performed at an arbitrary timing after the laminating step or the smoothing step is performed. The step of peeling the support can be mechanically performed by, for example, a commercially available automatic peeling device.

次いで、コア基材20にラミネートされた樹脂組成物層を熱硬化して磁性層(ビルドアップ磁性層)を形成する熱硬化工程を実施する。 Next, a thermosetting step of thermosetting the resin composition layer laminated on the core base material 20 to form a magnetic layer (build-up magnetic layer) is carried out.

熱硬化工程の条件は特に限定されず、多層プリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常採用される条件を適用することができる。 The conditions of the thermosetting step are not particularly limited, and the conditions usually adopted when forming the insulating layer of the multilayer printed wiring board can be applied.

熱硬化工程の条件は、樹脂組成物層に用いられる樹脂組成物の組成等により任意好適な条件とすることができる。熱硬化工程の条件は、例えば硬化温度を120℃~240℃の範囲(好ましくは150℃~210℃の範囲、より好ましくは170℃~190℃の範囲)とし、硬化時間を5分間~90分間の範囲(好ましくは10分間~75分間、より好ましくは15分間~60分間)とすることができる。 The conditions of the thermosetting step can be arbitrarily suitable depending on the composition of the resin composition used for the resin composition layer and the like. The conditions of the thermosetting step are, for example, a curing temperature in the range of 120 ° C. to 240 ° C. (preferably in the range of 150 ° C. to 210 ° C., more preferably a range of 170 ° C. to 190 ° C.), and a curing time of 5 minutes to 90 minutes. (Preferably 10 minutes to 75 minutes, more preferably 15 minutes to 60 minutes).

熱硬化工程を実施する前に、樹脂組成物層を硬化温度よりも低い温度にて予備加熱する工程を実施してもよい。熱硬化工程の実施に先立ち、例えば50℃以上120℃未満(好ましくは60℃以上110℃以下、より好ましくは70℃以上100℃以下)の温度にて、樹脂組成物層を5分間以上(好ましくは5分間~150分間、より好ましくは15分間~120分間)予備加熱してもよい。予備加熱は、大気圧下(常圧下)にて行うことが好ましい。 Before carrying out the thermosetting step, a step of preheating the resin composition layer at a temperature lower than the curing temperature may be carried out. Prior to carrying out the thermosetting step, the resin composition layer is applied to the resin composition layer at a temperature of, for example, 50 ° C. or higher and lower than 120 ° C. (preferably 60 ° C. or higher and 110 ° C. or lower, more preferably 70 ° C. or higher and 100 ° C. or lower) for 5 minutes or longer (preferably). May be preheated for 5 to 150 minutes, more preferably 15 to 120 minutes). Preheating is preferably performed under atmospheric pressure (normal pressure).

以上の工程によりコア基材20に設けられる第1磁性層32を形成することができる。 By the above steps, the first magnetic layer 32 provided on the core base material 20 can be formed.

また、コア基材20に第1磁性層32を形成する工程は、一般の真空ホットプレス機を用いて行うことも可能である。例えば、加熱されたSUS板等の金属板を用いてコア基材20と樹脂組成物層とを支持体側からプレスすることにより行うことができる。プレス条件は、減圧度を通常1×10-2MPa以下、好ましくは1×10-3MPa以下の減圧下とする。加熱及び加圧は、1段階で行うこともできるが、樹脂のしみだしを制御する観点から2段階以上の工程としてそれぞれプレス条件を変えて行うことが好ましい。例えば、1段階目のプレス条件を、温度を70℃~150℃とし、圧力を1kgf/cm~15kgf/cmの範囲とし、2段階目のプレス条件を、温度を150℃~200℃とし、圧力を1kgf/cm~40kgf/cmの範囲として行うのが好ましい。各段階の時間は30分間~120分間として行うのが好ましい。市販されている真空ホットプレス機としては、例えば、名機製作所社製「MNPC-V-750-5-200」、北川精機社製「VH1-1603」等が挙げられる。 Further, the step of forming the first magnetic layer 32 on the core base material 20 can also be performed using a general vacuum hot press machine. For example, it can be performed by pressing the core base material 20 and the resin composition layer from the support side using a heated metal plate such as a SUS plate. The pressing conditions are such that the degree of decompression is usually 1 × 10 −2 MPa or less, preferably 1 × 10 -3 MPa or less. Although heating and pressurization can be performed in one step, it is preferable to change the pressing conditions as two or more steps from the viewpoint of controlling the seepage of the resin. For example, the press condition of the first stage is a temperature of 70 ° C. to 150 ° C., the pressure is in the range of 1 kgf / cm 2 to 15 kgf / cm 2 , and the press condition of the second stage is a temperature of 150 ° C. to 200 ° C. The pressure is preferably in the range of 1 kgf / cm 2 to 40 kgf / cm 2 . The time of each step is preferably 30 minutes to 120 minutes. Examples of commercially available vacuum hot press machines include "MNPC-V-750-5-200" manufactured by Meiki Co., Ltd. and "VH1-1603" manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.

<ビアホールの形成工程>
形成された第1磁性層32にビアホール36を形成する。ビアホール36は、第1配線層42と第2配線層44とを電気的に接続するための経路となる。ビアホール36は第1磁性層32の特性を考慮して、ドリル、レーザー、プラズマ等を用いる公知の方法により形成することができる。例えば、この時点で樹脂シートの支持体が残存している場合には、支持体を介してレーザー光を第1磁性層32に照射することにより、ビアホール36を形成することもできる。
<Beer hall forming process>
A via hole 36 is formed in the formed first magnetic layer 32. The via hole 36 serves as a path for electrically connecting the first wiring layer 42 and the second wiring layer 44. The via hole 36 can be formed by a known method using a drill, a laser, a plasma, or the like in consideration of the characteristics of the first magnetic layer 32. For example, if the support of the resin sheet remains at this point, the via hole 36 can be formed by irradiating the first magnetic layer 32 with laser light via the support.

ビアホール36の形成に用いられ得るレーザー光源としては、例えば、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー、エキシマレーザー等が挙げられる。中でも、加工速度、コストの観点から、炭酸ガスレーザーが好ましい。 Examples of the laser light source that can be used for forming the via hole 36 include a carbon dioxide laser, a YAG laser, and an excimer laser. Of these, a carbon dioxide laser is preferable from the viewpoint of processing speed and cost.

ビアホール36の形成は、市販されているレーザー装置を用いて実施することができる。市販されている炭酸ガスレーザー装置としては、例えば、日立ビアメカニクス社製「LC-2E21B/1C」、三菱電機社製「ML605GTWII」、松下溶接システム社製の基板穴あけレーザー加工機が挙げられる。 The formation of the via hole 36 can be carried out using a commercially available laser device. Examples of commercially available carbon dioxide laser devices include "LC-2E21B / 1C" manufactured by Hitachi Via Mechanics, "ML605GTWII" manufactured by Mitsubishi Electric, and a substrate drilling laser machine manufactured by Matsushita Welding System.

<粗化工程>
次にビアホール36が形成された第1磁性層32に対して粗化処理する粗化工程を行う。粗化工程の手順、条件は特に限定されず、多層プリント配線板の製造方法に際して通常使用される手順、条件を採用することができる。粗化工程としては、例えば、乾式スパッタにより行うことが好ましく、また、膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理、中和液による中和処理をこの順に実施することにより第1磁性層32を粗化処理してもよい。
<Roughening process>
Next, a roughening step of roughening the first magnetic layer 32 on which the via hole 36 is formed is performed. The procedure and conditions of the roughening step are not particularly limited, and the procedures and conditions usually used in the method of manufacturing a multilayer printed wiring board can be adopted. As the roughening step, for example, it is preferable to carry out by dry sputtering, and by carrying out the swelling treatment with a swelling liquid, the roughening treatment with an oxidizing agent, and the neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order, the first magnetic layer 32 May be roughened.

粗化工程は、第1磁性層32に形成されたビアホール36のスミア除去を行うためのいわゆるデスミア工程を兼ねていてもよい。 The roughening step may also serve as a so-called desmear step for removing smear of the via hole 36 formed in the first magnetic layer 32.

また、粗化工程とは別に、ビアホール36に対してデスミア工程を実施してもよい。なお、このデスミア工程は、湿式のデスミア工程であっても、乾式のデスミア工程であってもよい。 Further, a desmear step may be carried out on the via hole 36 separately from the roughening step. The desmear step may be a wet desmear step or a dry desmear step.

<第2配線層の形成>
次に粗化工程(およびデスミア工程)が行われた第1磁性層32に第2配線層44を形成する。
<Formation of the second wiring layer>
Next, the second wiring layer 44 is formed on the first magnetic layer 32 in which the roughening step (and the desmear step) has been performed.

第2配線層44は、めっきにより形成することができる。第2配線層44は、例えば、無電解めっき工程、マスクパターン形成工程、電解めっき工程、フラッシュエッチング工程を含むセミアディティブ法、フルアディティブ法等の従来公知の技術により形成することにより、所望の配線パターンを含む配線層として形成することができる。なお、この第2配線層44の形成工程により、ビアホール36内にビアホール内配線36aが併せて形成される。 The second wiring layer 44 can be formed by plating. The second wiring layer 44 is formed by, for example, a conventionally known technique such as an electroless plating step, a mask pattern forming step, an electrolytic plating step, a semi-additive method including a flash etching step, and a full additive method, so that the desired wiring can be obtained. It can be formed as a wiring layer containing a pattern. By the process of forming the second wiring layer 44, the wiring 36a in the via hole is also formed in the via hole 36.

第1磁性層32がビルドアップ磁性層であり、第2配線層44がビルドアップ配線層であるビルドアップ層としてみた場合、本実施形態の配線板においてビルドアップ層がさらに1層以上必要な場合には、前記第1磁性層32の形成工程から前記第2配線層44の形成工程までの既に説明した一連の工程をさらに1回以上繰り返して実施すればよい。 When the first magnetic layer 32 is a build-up magnetic layer and the second wiring layer 44 is a build-up layer which is a build-up wiring layer, when one or more build-up layers are required in the wiring board of the present embodiment. The series of steps already described from the step of forming the first magnetic layer 32 to the step of forming the second wiring layer 44 may be repeated one or more times.

<第2磁性層の形成>
次に、第2配線層44およびビアホール内配線36aが形成された第1磁性層32に第2磁性層34を形成する。第2磁性層34は既に説明した樹脂シートのラミネート工程、平滑化工程、熱硬化工程を含む第1磁性層32の形成工程と同様の材料を用いて同様の工程により形成すればよい。
<Formation of the second magnetic layer>
Next, the second magnetic layer 34 is formed on the first magnetic layer 32 on which the second wiring layer 44 and the wiring 36a in the via hole are formed. The second magnetic layer 34 may be formed by the same step using the same material as the first magnetic layer 32 forming step including the resin sheet laminating step, the smoothing step, and the thermosetting step already described.

以上の工程により、磁性部30に少なくとも一部分が埋め込まれたコイル状導電性構造体40を有しており、第1配線層42の一部分と第2配線層44の一部分とビアホール内配線36aとを含むコイル状導電性構造体40と磁性部30の厚さ方向に延在し、かつコイル状導電性構造体40に囲まれた磁性部30のうちの一部分とを含むインダクタ素子を含む配線板10を製造することができる。 Through the above steps, the coiled conductive structure 40 having at least a part embedded in the magnetic portion 30 has a part of the first wiring layer 42, a part of the second wiring layer 44, and the wiring 36a in the via hole. A wiring board 10 including an inductor element including a coiled conductive structure 40 including a portion of the magnetic portion 30 extending in the thickness direction of the magnetic portion 30 and surrounded by the coiled conductive structure 40. Can be manufactured.

(第2実施形態)
第2実施形態のインダクタ素子内蔵配線板の構成例について、図11を参照して説明する。第1実施形態と同様の構成要素については同一の符号を付して示し、重複する説明を省略する場合がある。
(Second Embodiment)
A configuration example of the wiring board with a built-in inductor element of the second embodiment will be described with reference to FIG. The same components as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and duplicate description may be omitted.

図11に示すように、配線板11は、樹脂組成物(樹脂組成物層)の硬化体である磁性層と、この磁性層に少なくとも一部分が埋め込まれた導電性構造体とを有しており、この導電性構造体と、磁性層の厚さ方向に延在し、かつ導電性構造体に囲まれた磁性層のうちの一部分によって構成されるインダクタ素子を含んでいる。配線板11は、ビルドアップ磁性層を有するビルドアップ配線板である。配線板11は、コア基材を有さない点で第1実施形態の配線板10と異なる。 As shown in FIG. 11, the wiring plate 11 has a magnetic layer which is a cured body of the resin composition (resin composition layer), and a conductive structure in which at least a part thereof is embedded in the magnetic layer. Includes this conductive structure and an inductor element that extends in the thickness direction of the magnetic layer and is composed of a portion of the magnetic layer surrounded by the conductive structure. The wiring board 11 is a build-up wiring board having a build-up magnetic layer. The wiring board 11 is different from the wiring board 10 of the first embodiment in that it does not have a core base material.

配線板11が備えるインダクタ素子が機能し得る周波数は10MHz~200MHzであることが想定されている。また、配線板11が備えるインダクタ素子は電源系が想定されている。 It is assumed that the frequency at which the inductor element included in the wiring board 11 can function is 10 MHz to 200 MHz. Further, the inductor element included in the wiring board 11 is assumed to be a power supply system.

配線板11は、第1配線層42、第2配線層44、及び第3配線層46を含む。第1配線層42、第2配線層44、及び第3配線層46は、通常複数の配線を含んでいる。図示例ではインダクタ素子のコイル状導電性構造体40を構成する配線のみが示されている。第1配線層42、第2配線層44、外部端子24、及びその他の配線については、第1実施形態における第1配線層42、第2配線層44、外部端子24、及びその他の配線と同様である。 The wiring board 11 includes a first wiring layer 42, a second wiring layer 44, and a third wiring layer 46. The first wiring layer 42, the second wiring layer 44, and the third wiring layer 46 usually include a plurality of wirings. In the illustrated example, only the wiring constituting the coiled conductive structure 40 of the inductor element is shown. The first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24, and other wiring are the same as those of the first wiring layer 42, the second wiring layer 44, the external terminal 24, and other wiring in the first embodiment. Is.

第3配線層46を構成し得る導体材料としては、第1実施形態における第1配線層42を構成し得る導体材料と同様である。また、第3配線層46の厚さとしては、第1実施形態における第1配線層42の厚さと同様である。 The conductor material that can form the third wiring layer 46 is the same as the conductor material that can form the first wiring layer 42 in the first embodiment. The thickness of the third wiring layer 46 is the same as the thickness of the first wiring layer 42 in the first embodiment.

第3配線層46は、単層構造であっても、異なる種類の金属若しくは合金からなる単金属層又は合金層が2層以上積層した複層構造であってもよい。第3配線層46が複層構造である場合、磁性層と接する層は、クロム、亜鉛若しくはチタンの単金属層、又はニッケルクロム合金の合金層であることが好ましい。 The third wiring layer 46 may have a single-layer structure, a single metal layer made of different types of metals or alloys, or a multi-layer structure in which two or more alloy layers are laminated. When the third wiring layer 46 has a multi-layer structure, the layer in contact with the magnetic layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy.

第1磁性層32、第2磁性層34、及び第3磁性層38は一体的な磁性層としてみることができる磁性部30を構成している。第1磁性層32及び第2磁性層34は、第1実施形態における第1磁性層32及び第2磁性層34と同様である。 The first magnetic layer 32, the second magnetic layer 34, and the third magnetic layer 38 constitute a magnetic portion 30 that can be seen as an integral magnetic layer. The first magnetic layer 32 and the second magnetic layer 34 are the same as the first magnetic layer 32 and the second magnetic layer 34 in the first embodiment.

第3磁性層38は、既に説明した樹脂シートに由来する層であり、樹脂シートの樹脂組成物層は磁性層形成時の流動性に優れているので、第2配線層44の封止性に優れている。また第3磁性層38は、前記樹脂シートを用いて形成されるので、周波数が10MHz~200MHzの範囲における比透磁率が向上しており、さらに通常は磁性損失が低減されている。 The third magnetic layer 38 is a layer derived from the resin sheet already described, and the resin composition layer of the resin sheet has excellent fluidity at the time of forming the magnetic layer, so that the sealing property of the second wiring layer 44 is improved. Are better. Further, since the third magnetic layer 38 is formed by using the resin sheet, the relative magnetic permeability in the frequency range of 10 MHz to 200 MHz is improved, and the magnetic loss is usually reduced.

第1磁性層32及び第2磁性層34には、ビアホール36が形成されている。ビアホール36内にはビアホール内配線36aが設けられている。第1配線層42、第2配線層44、及び第3配線層46はビアホール内配線36a等によりに電気的に接続されている。 Via holes 36 are formed in the first magnetic layer 32 and the second magnetic layer 34. A wiring 36a in the via hole is provided in the via hole 36. The first wiring layer 42, the second wiring layer 44, and the third wiring layer 46 are electrically connected by the wiring 36a in the via hole or the like.

本実施形態では、コイル状導電性構造体40が、第1配線層42、第2配線層44、及び第3配線層46の3層の配線層を含む例を説明したが、4層以上の配線層(及び4層以上のビルドアップ磁性層)によりコイル状導電性構造体40を構成することもできる。この場合には、最上層の配線層と最下層の配線層とに挟まれるように配置される図示しない配線層の渦巻状の配線部は、その一端が最上層側であって直近に配置される配線層の渦巻状の配線部のいずれか一方の端部に電気的接続され、その他端が最下層側であって直近に配置される配線層の渦巻状の配線部のいずれか一方の端部に電気的接続される。 In the present embodiment, an example in which the coiled conductive structure 40 includes three wiring layers of a first wiring layer 42, a second wiring layer 44, and a third wiring layer 46 has been described, but four or more layers have been described. The coiled conductive structure 40 can also be formed by a wiring layer (and four or more built-up magnetic layers). In this case, the spiral wiring portion of the wiring layer (not shown) arranged so as to be sandwiched between the wiring layer of the uppermost layer and the wiring layer of the lowermost layer has one end thereof on the uppermost layer side and is arranged in the immediate vicinity. One end of the spiral wiring part of the wiring layer that is electrically connected to one end of the spiral wiring part of the wiring layer, and the other end is the lowest layer side and is arranged closest to the spiral wiring part of the wiring layer. It is electrically connected to the part.

本実施形態にかかる配線板によれば、磁性層を前記樹脂シートにより形成するので、形成される磁性層の比透磁率、難燃性を高めることができ、反り量を低減することができる。 According to the wiring board according to the present embodiment, since the magnetic layer is formed by the resin sheet, the specific magnetic permeability and flame retardancy of the formed magnetic layer can be increased, and the amount of warpage can be reduced.

以下、第2実施形態にかかるインダクタ素子内蔵配線板の製造方法について図4~図11を参照して説明する。第1実施形態と説明が重複する箇所については適宜説明を省略する。 Hereinafter, a method for manufacturing a wiring board with a built-in inductor element according to the second embodiment will be described with reference to FIGS. 4 to 11. The description of the part where the description overlaps with that of the first embodiment will be omitted as appropriate.

本実施形態に係る配線板の製造方法は、
(1)基材51と、該基材51の少なくとも一方の面に設けられたキャリア付金属層52とを有するキャリア付金属層付き基材50を準備する工程、
(2)キャリア付金属層付き基材50に樹脂シートの樹脂組成物層をラミネートし、該樹脂組成物層を熱硬化させ第1磁性層32を形成する工程、
(3)第1磁性層32上に第1配線層42を形成する工程、
(4)第1配線層42および第1磁性層32上に樹脂シートの樹脂組成物層をラミネートし、該樹脂組成物層を熱硬化して第2磁性層34を形成する工程、
(5)第2磁性層34にビアホール36を形成し、ビアホール36が形成された第2磁性層34に対して粗化処理する工程、
(6)第2磁性層34上に第2配線層44を形成する工程、
(7)第2配線層44および第2磁性層34上に樹脂シートの樹脂組成物層をラミネートし、該樹脂組成物層を熱硬化して第3磁性層38を形成する工程、
(8)キャリア付金属層付き基材50を除去する工程、
(9)第3磁性層38にビアホール(図示せず)を形成し、ビアホールが形成された第3磁性層38に対して粗化処理する工程と、
(10)第1磁性層32にビアホール36を形成し、ビアホール36が形成された第1磁性層32に対して粗化処理する工程と、
(11)第3磁性層38上に第3配線層46を形成する工程、及び
(12)第1磁性層32上に外部端子24を形成する工程、を含む。
The method for manufacturing a wiring board according to this embodiment is
(1) A step of preparing a base material 50 with a metal layer with a carrier having a base material 51 and a metal layer with a carrier 52 provided on at least one surface of the base material 51.
(2) A step of laminating a resin composition layer of a resin sheet on a base material 50 with a metal layer with a carrier and thermosetting the resin composition layer to form a first magnetic layer 32.
(3) A step of forming the first wiring layer 42 on the first magnetic layer 32,
(4) A step of laminating a resin composition layer of a resin sheet on a first wiring layer 42 and a first magnetic layer 32 and thermosetting the resin composition layer to form a second magnetic layer 34.
(5) A step of forming a via hole 36 in the second magnetic layer 34 and roughening the second magnetic layer 34 on which the via hole 36 is formed.
(6) A step of forming the second wiring layer 44 on the second magnetic layer 34,
(7) A step of laminating a resin composition layer of a resin sheet on a second wiring layer 44 and a second magnetic layer 34 and thermosetting the resin composition layer to form a third magnetic layer 38.
(8) Step of removing the base material 50 with a metal layer with a carrier,
(9) A step of forming a via hole (not shown) in the third magnetic layer 38 and roughening the third magnetic layer 38 on which the via hole is formed.
(10) A step of forming a via hole 36 in the first magnetic layer 32 and roughening the first magnetic layer 32 on which the via hole 36 is formed.
It includes (11) a step of forming a third wiring layer 46 on the third magnetic layer 38, and (12) a step of forming an external terminal 24 on the first magnetic layer 32.

工程(9)と工程(10)とは順序を入れ替えて行ってもよく、同時に行ってもよい。また、工程(11)と工程(12)とは、順序を入れ替えて行ってもよく、同時に行ってもよい。 The steps (9) and the step (10) may be performed in a different order, or may be performed at the same time. Further, the steps (11) and the steps (12) may be performed in a different order or at the same time.

<工程(1)>
工程(1)は、基材51と、該基材51の少なくとも一方の面に設けられたキャリア付金属層52とを有するキャリア付金属層付き基材50を準備する工程である。図4に一例を示すように、通常、キャリア付金属層付き基材50は、基材51と、該基材51の少なくとも一方の面にキャリア付金属層52が設けられている。キャリア付金属層52は、後述する工程(8)の作業性を高める観点から、基材51側から第1金属層521、第2金属層522の順で備える構成であることが好ましい。
<Process (1)>
The step (1) is a step of preparing a base material 50 with a metal layer with a carrier having a base material 51 and a metal layer 52 with a carrier provided on at least one surface of the base material 51. As an example shown in FIG. 4, the base material 50 with a metal layer with a carrier is usually provided with a base material 51 and a metal layer 52 with a carrier on at least one surface of the base material 51. From the viewpoint of improving the workability of the step (8) described later, the metal layer 52 with a carrier is preferably configured so that the first metal layer 521 and the second metal layer 522 are provided in this order from the base material 51 side.

基材51の材料としては、第1実施形態におけるコア基材と同様である。キャリア付金属層52の材料としては、例えば、キャリア付銅箔、その他、剥離可能な支持体付き金属箔等が挙げられる。キャリア付金属層付き基材50は、市販品を用いることができる。市販品としては、例えば三井金属社製「MT-EX」等が挙げられる。 The material of the base material 51 is the same as that of the core base material in the first embodiment. Examples of the material of the metal layer 52 with a carrier include a copper foil with a carrier, a metal foil with a peelable support, and the like. As the base material 50 with a metal layer with a carrier, a commercially available product can be used. Examples of commercially available products include "MT-EX" manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.

<工程(2)>
工程(2)は、図5に一例を示すように、キャリア付金属層付き基材50に樹脂シートの樹脂組成物層をラミネートし、該樹脂組成物層を熱硬化させ第1磁性層32を形成する工程である。
<Process (2)>
In the step (2), as shown by an example in FIG. 5, the resin composition layer of the resin sheet is laminated on the base material 50 with the metal layer with a carrier, and the resin composition layer is thermally cured to form the first magnetic layer 32. This is the process of forming.

工程(2)における第1磁性層32の形成は、第1実施形態における第1磁性層の形成と同様の方法により形成することができる。 The formation of the first magnetic layer 32 in the step (2) can be formed by the same method as the formation of the first magnetic layer in the first embodiment.

工程(2)終了後、必要に応じて、形成した第1磁性層上に粗化工程を施してもよい。粗化工程は、第1実施形態における、第1磁性層に対して行う粗化工程と同様の方法により行うことができる。 After the step (2) is completed, a roughening step may be performed on the formed first magnetic layer, if necessary. The roughening step can be performed by the same method as the roughening step performed on the first magnetic layer in the first embodiment.

<工程(3)>
工程(3)は、図6に一例を示すように、第1磁性層32上に第1配線層42を形成する工程である。第1配線層42は、めっきにより形成することができる。第1配線層42は、第1実施形態における第2配線層44の形成と同様の方法により形成することができる。また、第1配線層42は、第1実施形態における第1配線層と同様の導体材料を用いることができる。
<Process (3)>
The step (3) is a step of forming the first wiring layer 42 on the first magnetic layer 32, as shown by an example in FIG. The first wiring layer 42 can be formed by plating. The first wiring layer 42 can be formed by the same method as the formation of the second wiring layer 44 in the first embodiment. Further, as the first wiring layer 42, the same conductor material as the first wiring layer in the first embodiment can be used.

<工程(4)>
工程(4)は、図7に一例を示すように、第1配線層42及び第1磁性層32上に樹脂シートの樹脂組成物層をラミネートし、該樹脂組成物層を熱硬化して第2磁性層34を形成する工程である。
<Process (4)>
In the step (4), as shown by an example in FIG. 7, the resin composition layer of the resin sheet is laminated on the first wiring layer 42 and the first magnetic layer 32, and the resin composition layer is thermosetting. 2 This is a step of forming the magnetic layer 34.

第2磁性層34は、先述した工程(2)と同様の方法により形成することができる。第2磁性層34を形成する樹脂シートは、第1磁性層32を形成する際に使用した樹脂シートと同様のものを用いてもよく、異なる樹脂シートを用いてもよい。 The second magnetic layer 34 can be formed by the same method as in the above-mentioned step (2). As the resin sheet forming the second magnetic layer 34, the same resin sheet as that used when forming the first magnetic layer 32 may be used, or a different resin sheet may be used.

<工程(5)>
工程(5)は、図8に一例を示すように、第2磁性層34にビアホール36を形成し、ビアホール36が形成された第2磁性層34に対して粗化処理する工程である。ビアホール36内にはビアホール内配線36aが設けられている。ビアホール36は、第1配線層42と第2配線層44とを電気的に接続するための経路となる。
<Process (5)>
The step (5) is a step of forming a via hole 36 in the second magnetic layer 34 and roughening the second magnetic layer 34 in which the via hole 36 is formed, as shown by an example in FIG. A wiring 36a in the via hole is provided in the via hole 36. The via hole 36 serves as a path for electrically connecting the first wiring layer 42 and the second wiring layer 44.

ビアホール36の形成は、第1実施形態におけるビアホールの形成工程と同様の方法により形成することができる。また、粗化処理は、第1実施形態における、第1磁性層に対して行う粗化工程と同様の方法により行うことができる。 The via hole 36 can be formed by the same method as the via hole forming step in the first embodiment. Further, the roughening treatment can be performed by the same method as the roughening step performed on the first magnetic layer in the first embodiment.

<工程(6)>
工程(6)は、図8に一例を示すように、第2磁性層34上に第2配線層44を形成する工程である。詳細は、第2磁性層34におけるビアホール36上に第2配線層44を形成する。第2配線層44は、めっきにより形成することができる。第2配線層44は、第1実施形態における第2配線層44の形成と同様の方法により形成することができる。また、第2配線層44は、第1実施形態における第2配線層と同様の導体材料を用いることができる。
<Step (6)>
The step (6) is a step of forming the second wiring layer 44 on the second magnetic layer 34, as shown by an example in FIG. For details, the second wiring layer 44 is formed on the via hole 36 in the second magnetic layer 34. The second wiring layer 44 can be formed by plating. The second wiring layer 44 can be formed by the same method as the formation of the second wiring layer 44 in the first embodiment. Further, as the second wiring layer 44, the same conductor material as the second wiring layer in the first embodiment can be used.

<工程(7)>
工程(7)は、図9に一例を示すように、第2配線層44及び第2磁性層34上に樹脂シートの樹脂組成物層をラミネートし、該樹脂組成物層を熱硬化して第3磁性層38を形成する工程である。
<Process (7)>
In the step (7), as shown by an example in FIG. 9, the resin composition layer of the resin sheet is laminated on the second wiring layer 44 and the second magnetic layer 34, and the resin composition layer is thermosetting. 3 This is a step of forming the magnetic layer 38.

第3磁性層38は、先述した工程(2)と同様の方法により形成することができる。第3磁性層38を形成する樹脂シートは、第1磁性層32及び第2磁性層34を形成する際に使用した樹脂シートと同様のものを用いてもよく、異なるものを用いてもよい。 The third magnetic layer 38 can be formed by the same method as in the above-mentioned step (2). As the resin sheet forming the third magnetic layer 38, the same resin sheet as the resin sheet used for forming the first magnetic layer 32 and the second magnetic layer 34 may be used, or different ones may be used.

<工程(8)>
工程(8)は、図10に一例を示すように、キャリア付金属層付き基材50を除去する工程である。キャリア付金属層付き基材50の除去方法は特に限定されない。好適な一実施形態は、第1金属層521及び第2金属層522の界面で基材51及び第1金属層521を剥離し、第2金属層522を例えば塩化銅水溶液などでエッチング除去する。必要に応じて、第3磁性層38を保護フィルムで保護した状態でキャリア付金属層付き基材50を剥離してもよい。
<Process (8)>
Step (8) is a step of removing the base material 50 with a metal layer with a carrier, as shown in FIG. 10 as an example. The method for removing the base material 50 with a metal layer with a carrier is not particularly limited. In one preferred embodiment, the base material 51 and the first metal layer 521 are peeled off at the interface between the first metal layer 521 and the second metal layer 522, and the second metal layer 522 is removed by etching with, for example, an aqueous solution of copper chloride. If necessary, the base material 50 with a metal layer with a carrier may be peeled off while the third magnetic layer 38 is protected by a protective film.

<工程(9)>
工程(9)は、第3磁性層38に、図11に図示しないビアホールを形成し、ビアホールが形成された第3磁性層38に対して粗化処理する工程である。ビアホール内にはビアホール内配線が設けられている。ビアホールは、第2配線層44と第3配線層46とを電気的に接続するための経路となる。このビアホールの形成及び粗化処理は、第1実施形態と同様の方法により形成することができる。
<Process (9)>
The step (9) is a step of forming a via hole (not shown in FIG. 11) on the third magnetic layer 38 and roughening the third magnetic layer 38 on which the via hole is formed. Wiring in the via hole is provided in the via hole. The via hole serves as a path for electrically connecting the second wiring layer 44 and the third wiring layer 46. The via hole can be formed and roughened by the same method as in the first embodiment.

<工程(10)>
工程(10)は、図11に一例を示すように、第1磁性層32にビアホール36を形成し、ビアホール36が形成された第1磁性層32に対して粗化処理する工程である。詳細は、第1磁性層32のキャリア付金属層付き基材50を除去した側の面側にビアホール36を形成し、該ビアホール36上に外部端子24を形成する。ビアホール36内にはビアホール内配線36aが設けられている。このビアホール36は、第1配線層42と外部端子24とを電気的に接続するための経路となる。このビアホール36の形成及び粗化処理は、第1実施形態と同様の方法により形成することができる。
<Process (10)>
The step (10) is a step of forming a via hole 36 in the first magnetic layer 32 and roughening the first magnetic layer 32 in which the via hole 36 is formed, as shown by an example in FIG. Specifically, a via hole 36 is formed on the surface side of the first magnetic layer 32 on the side where the base material with a metal layer with a carrier 50 is removed, and an external terminal 24 is formed on the via hole 36. A wiring 36a in the via hole is provided in the via hole 36. The via hole 36 serves as a path for electrically connecting the first wiring layer 42 and the external terminal 24. The via hole 36 can be formed and roughened by the same method as in the first embodiment.

<工程(11)>
工程(11)は、図11に一例を示すように、第3磁性層38上に第3配線層46を形成する工程である。詳細は、第3磁性層38に形成した、図示しないビアホールの粗化処理を行った後、該ビアホール上に第3配線層46を形成する。第3配線層46は、第1実施形態における第2配線層44と同様の方法により形成することができ、また、第1実施形態における第1及び第2配線層と同様の導体材料を用いることができる。
<Process (11)>
The step (11) is a step of forming the third wiring layer 46 on the third magnetic layer 38, as shown by an example in FIG. For details, after roughening the via hole (not shown) formed in the third magnetic layer 38, the third wiring layer 46 is formed on the via hole. The third wiring layer 46 can be formed by the same method as the second wiring layer 44 in the first embodiment, and the same conductor material as the first and second wiring layers in the first embodiment is used. Can be done.

<工程(12)>
工程(12)は、図11に一例を示すように、第1磁性層32上に外部端子24を形成する工程である。詳細は、第1磁性層32に形成したビアホール36の粗化処理を行った後、該ビアホール36上に外部端子24を接続する。
<Process (12)>
The step (12) is a step of forming the external terminal 24 on the first magnetic layer 32, as shown in FIG. 11 as an example. For details, after roughening the via hole 36 formed in the first magnetic layer 32, the external terminal 24 is connected on the via hole 36.

以上の工程により、基材がなく、且つインダクタ素子を含む配線板を製造することができる。このインダクタ素子は、コイル状導電性構造体40と磁性部30の厚さ方向に延在し、且つコイル状導電性構造体40に囲まれた磁性部30のうち一部分とを含む。そして、コイル状導電性構造体40は、第1配線層42の一部分と第2配線層44の一部分と第3配線層46の一部分とビアホール内配線36aとを含む。 By the above steps, it is possible to manufacture a wiring board without a base material and including an inductor element. This inductor element includes a coiled conductive structure 40 and a part of the magnetic portion 30 extending in the thickness direction of the magnetic portion 30 and surrounded by the coiled conductive structure 40. The coiled conductive structure 40 includes a part of the first wiring layer 42, a part of the second wiring layer 44, a part of the third wiring layer 46, and the wiring 36a in the via hole.

第1磁性層32がビルドアップ磁性層であり、第2配線層44がビルドアップ配線層であるビルドアップ層としてみた場合、本実施形態の配線板においてビルドアップ層がさらに1層以上必要な場合には、前記第1磁性層32の形成工程から前記第2配線層44の形成工程までの既に説明した一連の工程をさらに1回以上繰り返して実施すればよい。 When the first magnetic layer 32 is a build-up magnetic layer and the second wiring layer 44 is a build-up layer which is a build-up wiring layer, when one or more build-up layers are required in the wiring board of the present embodiment. The series of steps already described from the step of forming the first magnetic layer 32 to the step of forming the second wiring layer 44 may be repeated one or more times.

本発明の樹脂シートを用いれば、比透磁率を向上させることができ、かつ反り量が低減された磁性層を形成することができるので、空芯構造とすることなく磁性層の一部分により構成される芯部を含む、より高性能なインダクタ素子が作り込まれた配線板を、より簡便な工程で提供することができる。 By using the resin sheet of the present invention, the specific magnetic permeability can be improved and a magnetic layer having a reduced amount of warpage can be formed. Therefore, the resin sheet is composed of a part of the magnetic layer without forming an air core structure. It is possible to provide a wiring board in which a higher-performance inductor element including a magnetic core is incorporated in a simpler process.

本実施形態にかかる配線板は、半導体チップ等の電子部品を搭載するための配線板として用いることができ、かかる配線板を内層基板として使用した(多層)プリント配線板として用いることもできる。また、かかる配線板を個片化したチップインダクタ部品として用いることもでき、該チップインダクタ部品を表面実装したプリント配線板として用いることもできる。 The wiring board according to this embodiment can be used as a wiring board for mounting an electronic component such as a semiconductor chip, and can also be used as a (multilayer) printed wiring board using such a wiring board as an inner layer board. Further, the wiring board can be used as an individualized chip inductor component, or the chip inductor component can be used as a surface-mounted printed wiring board.

またかかる配線板を用いて、種々の態様の半導体装置を製造することができる。かかる配線板を含む半導体装置は、電気製品(例えば、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラおよびテレビ等)および乗物(例えば、自動二輪車、自動車、電車、船舶および航空機等)等に好適に用いることができる。 Further, various aspects of the semiconductor device can be manufactured by using such a wiring board. The semiconductor device including such a wiring board can be suitably used for electric products (for example, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (for example, motorcycles, automobiles, trains, ships, aircraft, etc.) and the like. ..

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、以下の記載において、量を表す「部」及び「%」は、別途明示のない限り、それぞれ「質量部」及び「質量%」を意味する。 Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples, but the present invention is not limited to these Examples. In the following description, "parts" and "%" representing quantities mean "parts by mass" and "% by mass", respectively, unless otherwise specified.

<熱硬化収縮率の測定>
(1)樹脂付ポリイミドフィルムの調製
実施例及び比較例で作製した樹脂ワニスをアルキド樹脂系離型剤(リンテック社製「AL-5」)で離型処理したPETフィルム(東レ社製「ルミラーR80」、厚み38μm、軟化点130℃、以下「離型PET」ということがある)上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚さが120μmとなるようにダイコーターにて塗布し、65℃~115℃(平均100℃)にて7分間乾燥し樹脂シートを得た。この樹脂シートを200mm角になる様に切り取った。作製した樹脂シート(200mm角)を、バッチ式真空加圧ラミネーター(ニッコー・マテリアルズ社製、2ステージビルドアップラミネーター、CVP700)を用いて、樹脂組成物層がポリイミドフィルム(宇部興産社製ユーピレックス25S、25μm厚、240mm角)の平滑面の中央と接するように、片面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とした後、100℃、圧力0.74MPaにて30秒間圧着させることにより実施した。これにより、樹脂付ポリイミドフィルムを得た。
<Measurement of thermosetting shrinkage rate>
(1) Preparation of Polyimide Film with Resin PET film ("Lumilar R80" manufactured by Toray Co., Ltd.) obtained by mold-releasing the resin varnish produced in Examples and Comparative Examples with an alkyd resin-based mold release agent ("AL-5" manufactured by Lintec Co., Ltd.). , Thickness 38 μm, softening point 130 ° C., hereinafter sometimes referred to as “release PET”), and applied with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying is 120 μm, from 65 ° C. A resin sheet was obtained by drying at 115 ° C. (average 100 ° C.) for 7 minutes. This resin sheet was cut to a size of 200 mm square. The prepared resin sheet (200 mm square) was subjected to a batch type vacuum pressurizing laminator (2-stage build-up laminator manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., CVP700), and the resin composition layer was a polyimide film (Ube Industries Co., Ltd. Iupirex 25S). , 25 μm thick, 240 mm square), laminated on one side so as to be in contact with the center of the smooth surface. Lamination was carried out by reducing the pressure for 30 seconds to reduce the atmospheric pressure to 13 hPa or less, and then crimping at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. As a result, a polyimide film with resin was obtained.

(2)初期長の測定
得られた樹脂付ポリイミドフィルムを樹脂シートの離型PET上から、樹脂組成物層の4角から20mm程度の部分に、貫通穴(直径約6mm)を、パンチングによって4つ形成し(穴を時計回りにA、B、C、Dと仮に称する。)、離型PETを剥離後、形成した各穴の中央間の長さL(LAB、LBC、LCD、LDA、LAC、LBD)(図12参照)を非接触型画像測定器(ミツトヨ社製、Quick Vision、「QVH1X606-PRO III_BHU2G」)で測定した。
(2) Measurement of initial length The obtained polyimide film with resin is punched from the mold release PET of the resin sheet into a through hole (diameter about 6 mm) from the four corners to about 20 mm of the resin composition layer. After forming one (the holes are tentatively referred to as A, B, C, D in the clockwise direction) and peeling off the release PET , the length L ( LAB, LBC , LCD) between the centers of each formed hole is formed. L DA , L AC , L BD ) (see FIG. 12) were measured with a non-contact image measuring instrument (Mitutoyo, Quick Vision, "QVH1X606-PRO III_BHU2G").

(3)樹脂組成物層の熱硬化
(2)初期長の測定を終了した樹脂付ポリイミドフィルムのポリイミドフィルム面を、255mm×255mmサイズのガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(0.7mm厚、松下電工社製「R5715ES」)上に設置し、四辺をポリイミド接着テープ(幅10mm)で固定し、100℃で30分間、さらに190℃で60分間加熱して、樹脂組成物層を熱硬化して、硬化物層を得た。
(3) Thermosetting of the resin composition layer (2) The polyimide film surface of the polyimide film with resin whose initial length has been measured is a glass cloth base material epoxy resin double-sided copper-clad laminate (0.7 mm) having a size of 255 mm × 255 mm. The resin composition layer is heated by installing it on "R5715ES" manufactured by Matsushita Electric Works Co., Ltd., fixing the four sides with polyimide adhesive tape (width 10 mm), and heating at 100 ° C for 30 minutes and then at 190 ° C for 60 minutes. It was cured to obtain a cured product layer.

(4)硬化収縮率の測定
熱硬化後、ポリイミド接着テープを剥がし、硬化物層付ポリイミドフィルムを積層板から取り外し、更に硬化物層をポリイミドフィルムから剥離して、(2)で形成した各穴の中央間の硬化後の長さL’(L’AB、L’BC、L’CD、L’DA、L’AC、L’BD)を、長さLと同じように非接触型画像測定器で測定した。
(4) Measurement of curing shrinkage rate After heat curing, the polyimide adhesive tape is peeled off, the polyimide film with a cured product layer is removed from the laminated plate, and the cured product layer is further peeled off from the polyimide film to form each hole formed in (2). Non-contact image measurement of the length L'(L' AB , L' BC , L' CD , L' DA , L' AC , L' BD ) between the centers of the film as well as the length L. Measured with a vessel.

穴A、穴B間の長さLABの硬化後の収縮率s1ABを下記式(1)により求めた。同様にしてLBC、LCD、LDA、LAC及びLBDの硬化後の収縮率s1BC、s1CD、s1DA、s1AC及びs1DAを求めた。
s1AB=(LAB-L’AB)/LAB (1)
The shrinkage rate s1 AB after curing of the length LAB between the holes A and the holes B was determined by the following formula (1). Similarly, the shrinkage rates of LBC , LCD, LDA, LAC and LBD after curing were determined as s1 BC , s1 CD , s1 DA , s1 AC and s1 DA .
s1 AB = (LA AB - L'AB) / L AB ( 1)

硬化物層の硬化収縮率は下記式(2)で算出した。
硬化収縮率[x-y方向の収縮率:S1](%)
={(s1AB+s1BC+s1CD+s1DA+s1AC+s1DA)/6}×100 (2)
The curing shrinkage rate of the cured product layer was calculated by the following formula (2).
Curing shrinkage rate [shrinkage rate in the xy direction: S1] (%)
= {(S1 AB + s1 BC + s1 CD + s1 DA + s1 AC + s1 DA ) / 6} x 100 (2)

<反り試験>
実施例及び比較例で作製した樹脂ワニスを離型PET上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚さが200μmとなるようにダイコーターにて塗布し、65℃~115℃(平均110℃)にて12分間乾燥し樹脂シートを得た。この樹脂シートを、バッチ式真空加圧ラミネーター(名機社製、MVLP-500)を用いて、厚み0.2mm、10cm×10cmのSUS304板上に樹脂組成物層が接するようにラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaでプレスすることにより行った。ラミネートされた樹脂シートの離型PETを除去し190℃90分の条件で熱硬化し反り評価用サンプルを得た。
<Warp test>
The resin varnish produced in Examples and Comparative Examples was applied onto a mold release PET with a die coater so that the thickness of the resin composition layer after drying was 200 μm, and the temperature was 65 ° C to 115 ° C (average 110 ° C). Was dried for 12 minutes to obtain a resin sheet. This resin sheet was laminated using a batch type vacuum pressurizing laminator (MVLP-500 manufactured by Meiki Co., Ltd.) so that the resin composition layer was in contact with a SUS304 plate having a thickness of 0.2 mm and a thickness of 10 cm × 10 cm. Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressing at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. The release PET of the laminated resin sheet was removed and heat-cured at 190 ° C. for 90 minutes to obtain a sample for warp evaluation.

得られた反り評価用サンプルの中央部が凸部となる側の面を下向きにして平滑な台上に設置し、平滑な台上と反り評価用サンプルとの距離が最も大きい箇所の距離を測定し反り量とした。反り量の絶対値が15mm未満を「○」、15mm以上を「×」とした。 Place the obtained warp evaluation sample on a smooth table with the surface on the side where the central part becomes the convex part facing down, and measure the distance between the smooth table and the part where the distance between the warp evaluation sample is the largest. The amount of warpage was used. An absolute value of the amount of warpage of less than 15 mm was designated as “◯”, and a value of 15 mm or more was designated as “x”.

<ピール強度の測定>
(1)内層回路基板の下地処理
内層回路を形成したガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔の厚さ18μm、基板厚み0.8mm、パナソニック社製、R1515A)の両面を、エッチング剤(メック社製、CZ8101)にて1μmエッチングして銅表面の粗化処理をおこなった。
<Measurement of peel strength>
(1) Base treatment of inner layer circuit board Both sides of the glass cloth base material epoxy resin double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.8 mm, manufactured by Panasonic, R1515A) on which the inner layer circuit is formed are etched. The copper surface was roughened by etching 1 μm with an agent (CZ8101 manufactured by MEC).

(2)樹脂シートのラミネート
銅箔(JX金属社製JXUT-II箔、厚さ18μm)を用意した。該銅箔のシード銅側に、ダイコーターにて実施例及び比較例で作製した樹脂ワニスを塗布し、65℃~115℃(平均100℃)にて7分間乾燥させ、厚さ100μmの樹脂層を有する樹脂シートを作製した。実施例及び比較例で作製した樹脂シートを、バッチ式真空加圧ラミネーター(名機製作所社製、MVLP-500)を用いて、内層回路基板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaで圧着することにより行った。
(2) Laminating of resin sheet A copper foil (JXUT-II foil manufactured by JX Nippon Mining & Metals Co., Ltd., thickness 18 μm) was prepared. The resin varnish prepared in Examples and Comparative Examples was applied to the seed copper side of the copper foil, dried at 65 ° C to 115 ° C (average 100 ° C) for 7 minutes, and a resin layer having a thickness of 100 μm was applied. A resin sheet having the above was produced. The resin sheets produced in Examples and Comparative Examples were laminated on both sides of the inner layer circuit board using a batch type vacuum pressurizing laminator (MVLP-500 manufactured by Meiki Co., Ltd.). Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then crimping at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.

(3)樹脂組成物層の熱硬化
樹脂シートを、130℃、30分続けて190℃、60分の硬化条件で樹脂組成物層を硬化した。その後銅箔を剥離した。
(3) Thermosetting of Resin Composition Layer The resin sheet was cured at 130 ° C. for 30 minutes and then at 190 ° C. for 60 minutes under the curing conditions. After that, the copper foil was peeled off.

(4)電気メッキ
この基板に、硫酸銅電解メッキを行い、25μmの厚さで導体層を形成した。次に、アニール処理を180℃にて60分間行った。この基板を評価基板とした。
(4) Electroplating This substrate was electrolytically plated with copper sulfate to form a conductor layer with a thickness of 25 μm. Next, the annealing treatment was performed at 180 ° C. for 60 minutes. This substrate was used as an evaluation substrate.

(5)メッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定
評価基板の導体層に、幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれ、この一端を剥がして、つかみ具であるオートコム型試験機(ティー・エス・イー製、AC-50C-SL)で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重(kgf/cm)を測定した。
(5) Measurement of peeling strength (peel strength) of the plated conductor layer Make a notch in the conductor layer of the evaluation board with a width of 10 mm and a length of 100 mm, and peel off one end of the cut, which is an autocom type that is a gripper. The load (kgf / cm) when 35 mm was peeled off in the vertical direction at a speed of 50 mm / min at room temperature was measured by grasping with a testing machine (manufactured by TSE, AC-50C-SL).

<平均線熱膨張係数(熱膨張率)、透磁率、及び損失係数の測定>
(1)評価用硬化物の調整
支持体として、フッ素樹脂系離型剤(ETFE)処理を施したPETフィルム(三菱樹脂社製、フルオロージュRL50KSE)を用いた以外は硬化収縮率の測定と同様にして、各実施例および各比較例で作製した樹脂ワニスと同じ樹脂組成物層を有する樹脂シートを得た。得られた樹脂シートを190℃で90分間加熱することにより樹脂組成物層を熱硬化し、PETフィルムを剥離することによりシート状の硬化体を得た。
<Measurement of average linear thermal expansion coefficient (thermal expansion coefficient), magnetic permeability, and loss coefficient>
(1) Adjustment of the cured product for evaluation Same as the measurement of the curing shrinkage rate except that a PET film (Fluororesin RL50KSE manufactured by Mitsubishi Resin Co., Ltd.) treated with a fluororesin-based mold release agent (ETFE) was used as the support. A resin sheet having the same resin composition layer as the resin varnish produced in each Example and each Comparative Example was obtained. The obtained resin sheet was heated at 190 ° C. for 90 minutes to thermally cure the resin composition layer, and the PET film was peeled off to obtain a sheet-like cured product.

(2)平均線熱膨張係数(熱膨張率)の測定
得られた評価用硬化物を、幅5mm、長さ15mmの試験片に切断し、熱機械分析装置(リガク社製「Thermo Plus TMA8310」)を用いて、引張加重法にて熱機械分析を行った。詳細には、試験片を前記熱機械分析装置に装着した後、荷重1g、昇温速度5℃/分の測定条件にて連続して2回測定した。そして2回目の測定において、30℃から150℃までの範囲における平面方向の平均線熱膨張係数(α1;ppm/℃)を算出した。この操作を3回行いその平均値を表に示した。
(2) Measurement of average linear thermal expansion coefficient (coefficient of thermal expansion) The obtained cured product for evaluation was cut into test pieces having a width of 5 mm and a length of 15 mm, and a thermomechanical analyzer ("Thermo Plus TMA8310" manufactured by Rigaku Co., Ltd.). ) Was used for thermomechanical analysis by the tensile weighting method. Specifically, after the test piece was attached to the thermomechanical analyzer, measurements were taken twice in succession under the measurement conditions of a load of 1 g and a heating rate of 5 ° C./min. Then, in the second measurement, the average linear thermal expansion coefficient (α1; ppm / ° C.) in the plane direction in the range of 30 ° C. to 150 ° C. was calculated. This operation was performed three times, and the average value is shown in the table.

(3)比透磁率(透磁率)、損失係数の測定
得られた評価用硬化物を、幅5mm、長さ18mmの試験片に切断し、評価サンプルとした。この評価サンプルを、アジレントテクノロジーズ(Agilent Technologies)社製「HP8362B」を用いて、短絡ストリップライン法にて測定周波数を1MHzから10GHzの範囲とし、室温23℃にて透磁率(μ’)および透磁損失(μ’’)を測定した。また、測定周波数が100MHzである場合の透磁率、透磁損失を測定し、損失係数を得た。損失係数は、以下の式より算出した。
tanδ=μ’/μ’’
(3) Measurement of relative magnetic permeability (permeability) and loss coefficient The obtained cured product for evaluation was cut into test pieces having a width of 5 mm and a length of 18 mm to prepare an evaluation sample. This evaluation sample was sampled using "HP8632B" manufactured by Agilent Technologies, with a measurement frequency in the range of 1 MHz to 10 GHz by the short-circuit stripline method, and magnetic permeability (μ') and magnetic permeability at room temperature of 23 ° C. The loss (μ'') was measured. Further, the magnetic permeability and the magnetic permeability loss when the measurement frequency was 100 MHz were measured, and the loss coefficient was obtained. The loss coefficient was calculated from the following formula.
tan δ = μ'/ μ''

<実施例1>
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製「828US」、エポキシ当量約180)10部、ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬社製「NC3000L」、エポキシ当量約269)10部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(DIC社製「N-680」、エポキシ当量210)10部、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂(DIC社製「EXA-7311」、エポキシ当量277)20部、磁性フィラー(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3F」、Fe-Cr-Si系合金(アモルファス)、平均粒径3.0μm)735部、トリアジン骨格含有フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」、水酸基当量約125の固形分60%のMEK溶液)10部、活性エステル硬化剤(DIC社製「HPC-8000-65T」、活性基当量約223の固形分65%のトルエン溶液)6部、両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー(Dow Chemical Co.製「Fortegra100」)6部、カルボジイミド化合物(日清紡ケミカル社製「V-03」、固形分50%のトルエン溶液)4部、イミダゾール系硬化促進剤(四国化成工業社製「1-ベンジル-2-フェニルイミダゾール(1B2PZ)」、固形分10%のMEK溶液)3部、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YL7553BH30」、固形分30%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)7部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニス1を作製した。
<Example 1>
10 parts of bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical's "828US", epoxy equivalent about 180), 10 parts of biphenyl type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC3000L", epoxy equivalent about 269), cresol novolak type epoxy resin ( DIC "N-680", epoxy equivalent 210) 10 parts, naphthylene ether type epoxy resin (DIC "EXA-7311", epoxy equivalent 277) 20 parts, magnetic filler (Epson Atmix "AW2-" 08PF3F ”, Fe—Cr—Si based alloy (amorphous), average particle size 3.0 μm) 735 parts, triazine skeleton-containing phenol resin (“LA-7054” manufactured by DIC, hydroxyl equivalent of about 125, solid content 60% MEK 10 parts of solution), 6 parts of active ester curing agent (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC, a toluene solution having an active group equivalent of about 223 and a solid content of 65%), and an amphoteric polyether block copolymer (Dow Chemical Co., Ltd.). 6 parts of "Fortegra 100" manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd. ("V-03" manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., a toluene solution with a solid content of 50%), 4 parts of an imidazole-based curing accelerator ("1-benzyl-2-" manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) 3 parts of phenylimidazole (1B2PZ) ", MEK solution with 10% solid content) and 7 parts of phenoxy resin (" YL7553BH30 "manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., 1: 1 solution of MEK with 30% solid content and cyclohexanone) are mixed at high speed. The resin varnish 1 was produced by uniformly dispersing it with a rotary mixer.

<実施例2>
実施例1において、両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー(Dow Chemical Co.製「Fortegra100」)の量を6部から3部に変え、磁性フィラー(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3F」、Fe-Cr-Si系合金(アモルファス)、平均粒径3.0μm)の量を735部から710部に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニス2を作製した。
<Example 2>
In Example 1, the amount of amphipathic polyether block copolymer (“Fortegra 100” manufactured by Dow Chemical Co.) was changed from 6 parts to 3 parts, and the magnetic filler (“AW2-08PF3F” manufactured by Epson Atmix Co., Ltd., Fe-Cr. -Si-based alloy (amorphous), average particle size 3.0 μm) was changed from 735 parts to 710 parts. Except for the above items, the resin varnish 2 was produced in the same manner as in Example 1.

<実施例3>
実施例1において、両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー(Dow Chemical Co.製「Fortegra100」)の量を6部から12部に変え、磁性フィラー(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3F」、Fe-Cr-Si系合金(アモルファス)、平均粒径3.0μm)の量を735部から800部に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニス3を作製した。
<Example 3>
In Example 1, the amount of amphipathic polyether block copolymer (“Fortegra 100” manufactured by Dow Chemical Co.) was changed from 6 parts to 12 parts, and the magnetic filler (“AW2-08PF3F” manufactured by Epson Atmix Co., Ltd., Fe-Cr. -Si-based alloy (amorphous), average particle size 3.0 μm) was changed from 735 parts to 800 parts. Except for the above items, the resin varnish 3 was produced in the same manner as in Example 1.

<実施例4>
実施例1において、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製「828US」、エポキシ当量約180)の量を10部から20部へ変え、ナフタレンエーテル骨格型エポキシ樹脂(DIC社製「EXA-7311」、エポキシ当量277)の量を20部から10部に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニス4を作製した。
<Example 4>
In Example 1, the amount of the bisphenol A type epoxy resin (“828US” manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent of about 180) was changed from 10 parts to 20 parts, and the naphthalene ether skeleton type epoxy resin (“EXA-7311” manufactured by DIC Co., Ltd.” was changed. , The amount of epoxy equivalent 277) was changed from 20 parts to 10 parts. Except for the above items, the resin varnish 4 was produced in the same manner as in Example 1.

<実施例5>
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製「828US」、エポキシ当量約180)23部、ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬社製「NC3000L」、エポキシ当量約269)23部、磁性フィラー(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3F」、Fe-Cr-Si系合金(アモルファス)、平均粒径3.0μm)735部、トリアジン骨格含有フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」、水酸基当量約125の固形分60%のMEK溶液)6部、活性エステル硬化剤(DIC社製「HPC-8000-65T」、活性基当量約223の固形分65%のトルエン溶液)18部、両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー(Dow Chemical Co.製「Fortegra100」)6部、カルボジイミド化合物(日清紡ケミカル社製「V-03」、固形分50%のトルエン溶液)8部、アミン系硬化促進剤(和光純薬工業社製「4-ジメチルアミノピリジン(DMAP)」、固形分10%のMEK溶液)1.5部、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YL7553BH30」、固形分30%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)14部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニス5を作製した。
<Example 5>
Bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical's "828US", epoxy equivalent about 180) 23 parts, biphenyl type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC3000L", epoxy equivalent about 269) 23 parts, magnetic filler (Epson Atmix) "AW2-08PF3F" manufactured by DIC, Fe-Cr-Si based alloy (amorphous), average particle size 3.0 μm) 735 parts, triazine skeleton-containing phenolic resin ("LA-7054" manufactured by DIC, solid with a hydroxyl group equivalent of about 125) 60% MEK solution), 18 parts of active ester curing agent (DIC "HPC-8000-65T", 65% solids toluene solution with active group equivalent of about 223), amphoteric polyether block copolymer ("Fortegura 100" manufactured by Dow Chemical Co.) 6 parts, Carbodiimide compound ("V-03" manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., toluene solution with 50% solid content), 8 parts, amine-based curing accelerator ("Wako Pure Chemical Industries, Ltd." 4-Dimethylaminopyridine (DMAP) ", 1.5 parts of MEK solution with 10% solid content), 14 parts of phenoxy resin (" YL7553BH30 "manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., 1: 1 solution of MEK and cyclohexanone with 30% solid content) Was mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish 5.

<実施例6>
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製「828US」、エポキシ当量約180)20部、ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬社製「NC3000L」、エポキシ当量約269)10部、ナフタレンエーテル型エポキシ樹脂(DIC社製「EXA-7311」、エポキシ当量277)20部、磁性フィラー(エプソンアトミックス社製「AW2-08PF3F」、Fe-Cr-Si系合金(アモルファス)、平均粒径3.0μm)735部、トリアジン骨格含有フェノール樹脂(DIC社製「LA-7054」、水酸基当量約125の固形分60%のMEK溶液)14部、活性エステル硬化剤(DIC社製「HPC-8000-65T」、活性基当量約223の固形分65%のトルエン溶液)6部、両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー(Dow Chemical Co.製「Fortegra100」)6部、イミダゾール系硬化促進剤(四国化成工業社製「1-ベンジル-2-フェニルイミダゾール(1B2PZ)」、固形分10%のMEK溶液)3部、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YL7553BH30」、固形分30%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)7部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニス6を作製した。
<Example 6>
20 parts of bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "828US", epoxy equivalent about 180), 10 parts of biphenyl type epoxy resin (Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC3000L", epoxy equivalent about 269), naphthalene ether type epoxy resin ( DIC "EXA-7311", epoxy equivalent 277) 20 parts, magnetic filler (Epson Atmix "AW2-08PF3F", Fe-Cr-Si alloy (amorphous), average particle size 3.0 μm) 735 parts , Triazine skeleton-containing phenolic resin (DIC's "LA-7054", MEK solution with a hydroxyl equivalent of about 125 and a solid content of 60%), 14 parts, active ester curing agent (DIC's "HPC-8000-65T", active group 6 parts of a toluene solution having an equivalent amount of about 223 with a solid content of 65%, 6 parts of an amphoteric polyether block copolymer (“Fortegra 100” manufactured by Dow Chemical Co.), and an imidazole-based curing accelerator (“1-benzyl” manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.). -2-Phenylimidazole (1B2PZ) ", 3 parts of MEK solution with 10% solid content) and 7 parts of phenoxy resin (" YL7553BH30 "manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., 1: 1 solution of MEK and cyclohexanone with 30% solid content) are mixed. Then, the resin varnish 6 was produced by uniformly dispersing it with a high-speed rotating mixer.

<比較例1>
実施例1において、両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー(Dow Chemical Co.製「Fortegra100」)を含有させなかった。以上の事項以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニス7を作製した。
<Comparative Example 1>
In Example 1, an amphipathic polyether block copolymer (“Fortegra 100” manufactured by Dow Chemical Co.) was not contained. Except for the above items, the resin varnish 7 was produced in the same manner as in Example 1.

<比較例2>
実施例5において、両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー(Dow Chemical Co.製「Fortegra100」)を含有させなかった。以上の事項以外は、実施例5と同様にして樹脂ワニス8を作製した。
<Comparative Example 2>
In Example 5, an amphipathic polyether block copolymer (“Fortegra 100” manufactured by Dow Chemical Co.) was not contained. Except for the above items, the resin varnish 8 was produced in the same manner as in Example 5.

上述した実施例及び比較例の結果を、下記の表に示す。また、下記の表において、略称の意味は、下記のとおりである。
828US:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱ケミカル社製、エポキシ当量約180)
NC3000L:ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬社製、エポキシ当量約269)
N-680:クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(DIC社製、エポキシ当量210)
EXA-7311:ナフタレンエーテル型エポキシ樹脂(DIC社製、エポキシ当量277)
AW2-08PF3F:磁性フィラー(エプソンアトミックス社製、Fe-Cr-Si系合金(アモルファス)、平均粒径3.0μm)
LA-7054:トリアジン骨格含有フェノール樹脂(DIC社製、水酸基当量約125の固形分60%のMEK溶液)
HPC-8000-65T:活性エステル硬化剤(DIC社製、活性基当量約223の固形分65%のトルエン溶液)
Fortegra100:両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー(Dow Chemical Co.製)
V-03:カルボジイミド化合物(日清紡ケミカル社製、固形分50%のトルエン溶液)
1B2PZ:イミダゾール系硬化促進剤(四国化成工業社製「1-ベンジル-2-フェニルイミダゾール」、固形分10%のMEK溶液)
DMAP:アミン系硬化促進剤(和光純薬工業社製「4-ジメチルアミノピリジン」、固形分10%のMEK溶液)
YL7553BH30:フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製、固形分30%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)
The results of the above-mentioned Examples and Comparative Examples are shown in the table below. In the table below, the meanings of the abbreviations are as follows.
828US: Bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent about 180)
NC3000L: Biphenyl type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent about 269)
N-680: Cresol novolac type epoxy resin (manufactured by DIC, epoxy equivalent 210)
EXA-7311: Naphthalene ether type epoxy resin (manufactured by DIC Corporation, epoxy equivalent 277)
AW2-08PF3F: Magnetic filler (manufactured by Epson Atmix, Fe-Cr-Si alloy (amorphous), average particle size 3.0 μm)
LA-7054: Triazine skeleton-containing phenolic resin (manufactured by DIC, MEK solution having a hydroxyl group equivalent of about 125 and a solid content of 60%)
HPC-8000-65T: Active ester curing agent (manufactured by DIC, toluene solution having an active group equivalent of about 223 and a solid content of 65%)
Fortegra100: Amphiphilic polyether block copolymer (manufactured by Dow Chemical Co.)
V-03: Carbodiimide compound (manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., toluene solution with a solid content of 50%)
1B2PZ: Imidazole-based curing accelerator ("1-benzyl-2-phenylimidazole" manufactured by Shikoku Chemicals Corporation, MEK solution with a solid content of 10%)
DMAP: Amine-based curing accelerator ("4-dimethylaminopyridine" manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., MEK solution with a solid content of 10%)
YL7553BH30: Phenoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, 1: 1 solution of MEK with a solid content of 30% and cyclohexanone)

Figure 0007031206000002
Figure 0007031206000002

各実施例において、(E)~(G)成分を含有しない場合であっても、程度に差はあるものの上記実施例と同様の結果に帰着することを確認している。 In each example, it has been confirmed that even when the components (E) to (G) are not contained, the same result as in the above-mentioned example is obtained, although the degree is different.

10 配線板
20 コア基材
20a 第1主表面
20b 第2主表面
22 スルーホール
22a スルーホール内配線
24 外部端子
30 磁性部
32 第1磁性層
34 第2磁性層
36 ビアホール
36a ビアホール内配線
38 第3磁性層
40 コイル状導電性構造体
42 第1配線層
42a ランド
44 第2配線層
46 第3配線層
50 キャリア付金属層付き基材
51 基材
52 キャリア付金属層
521 第1金属層
522 第2金属層
10 Wiring board 20 Core base material 20a 1st main surface 20b 2nd main surface 22 Through hole 22a Through hole inner wiring 24 External terminal 30 Magnetic part 32 1st magnetic layer 34 2nd magnetic layer 36 Via hole 36a Via hole inner wiring 38 3rd Magnetic layer 40 Coiled conductive structure 42 1st wiring layer 42a Land 44 2nd wiring layer 46 3rd wiring layer 50 Base material with metal layer with carrier 51 Base material 52 Metal layer with carrier 521 1st metal layer 522 2nd Metal layer

Claims (14)

(A)エポキシ樹脂、
(B)磁性フィラー、
(C)硬化剤、及び
(D)両親媒性ポリエーテルブロックコポリマー、を含有する樹脂組成物であって、
(A)エポキシ樹脂の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、1質量%以上20質量%以下であり、
(B)磁性フィラーの含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、75質量%以上95質量%未満である、樹脂組成物
(A) Epoxy resin,
(B) Magnetic filler,
A resin composition containing (C) a curing agent and (D) an amphipathic polyether block copolymer .
The content of the epoxy resin (A) is 1% by mass or more and 20% by mass or less when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass.
(B) The content of the magnetic filler is 75% by mass or more and less than 95% by mass when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass .
(D)成分の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、0.3質量%以上15質量%以下である、請求項1に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to claim 1, wherein the content of the component (D) is 0.3% by mass or more and 15% by mass or less when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. (D)成分が、少なくとも一つのエポキシ樹脂混和性ポリエーテルブロックセグメントと、少なくとも一つのエポキシ樹脂非混和性ポリエーテルブロックセグメントとを含むブロックコポリマーである、請求項1又は2に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to claim 1 or 2 , wherein the component (D) is a block copolymer containing at least one epoxy resin miscible polyether block segment and at least one epoxy resin immiscible polyether block segment. .. エポキシ樹脂混和性ポリエーテルブロックセグメントが、ポリエチレンオキシドブロック、ポリプロピレンオキシドブロック、ポリ(エチレンオキシド-co-プロピレンオキシド)ブロック、ポリ(エチレンオキシド-ran-プロピレンオキシド)ブロック、及びそれらの混合物から選択される1種以上のポリアルキレンオキシドブロックであり、
エポキシ樹脂非混和性ポリエーテルブロックセグメントが、ポリブチレンオキシドブロック、ポリヘキシレンオキシドブロック、ポリドデシレンオキシドブロック、及びそれらの混合物から選択される1種以上のポリアルキレンオキシドブロックである、請求項に記載の樹脂組成物。
One of the epoxy resin miscible polyether block segments selected from polyethylene oxide block, polypropylene oxide block, poly (ethylene oxide-co-propylene oxide) block, poly (ethylene oxide-ran-propylene oxide) block, and mixtures thereof. The above polyalkylene oxide block,
Claimed that the epoxy resin immiscible polyether block segment is one or more polyalkylene oxide blocks selected from a polybutylene oxide block, a polyhexylene oxide block, a polydodecylene oxide block, and a mixture thereof. 3. The resin composition according to 3.
さらに、(E)カルボジイミド化合物を含有する、請求項1~のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 4 , further comprising (E) a carbodiimide compound. さらに、(F)熱可塑性樹脂を含有する、請求項1~のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 5 , further comprising (F) a thermoplastic resin. (C)成分が、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤、及び活性エステル系硬化剤から選ばれる1種以上である、請求項1~のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 6 , wherein the component (C) is at least one selected from a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent and an active ester-based curing agent. (A)成分が、縮合環構造を有するエポキシ樹脂を含有する、請求項1~のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 7 , wherein the component (A) contains an epoxy resin having a condensed ring structure. 樹脂組成物を、100℃で30分間、さらに190℃で60分間熱硬化させた硬化物の硬化収縮率が0.27%以下である、請求項1~のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin according to any one of claims 1 to 8 , wherein the cured product obtained by thermally curing the resin composition at 100 ° C. for 30 minutes and further at 190 ° C. for 60 minutes has a curing shrinkage rate of 0.27% or less. Composition. 樹脂組成物を190℃で90分間熱硬化させた硬化物の30℃~150℃における線熱膨張係数が3ppm/℃以上30ppm/℃以下である、請求項1~のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The invention according to any one of claims 1 to 9 , wherein the cured product obtained by thermally curing the resin composition at 190 ° C. for 90 minutes has a linear thermal expansion coefficient of 3 ppm / ° C. or higher and 30 ppm / ° C. or lower at 30 ° C. to 150 ° C. Resin composition. インダクタ素子を備える配線板の磁性層形成用である、請求項1~1のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 10, which is used for forming a magnetic layer of a wiring board including an inductor element. 支持体と、該支持体上に設けられた、請求項1~1のいずれか1項に記載の樹脂組成物で形成された樹脂組成物層を含む、樹脂シート。 A resin sheet comprising a support and a resin composition layer provided on the support and formed of the resin composition according to any one of claims 1 to 11. 請求項1に記載の樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物である磁性層と、該磁性層に少なくとも一部分が埋め込まれた導電性構造体とを有しており、
前記導電性構造体と、前記磁性層の厚さ方向に延在し、かつ前記導電性構造体に囲まれた前記磁性層のうちの一部分によって構成されるインダクタ素子を含む、インダクタ素子内蔵配線板。
It has a magnetic layer which is a cured product of the resin composition layer of the resin sheet according to claim 12 and a conductive structure in which at least a part thereof is embedded in the magnetic layer.
A wiring board with a built-in inductor element, which includes an inductor element formed of the conductive structure and a part of the magnetic layer extending in the thickness direction of the magnetic layer and surrounded by the conductive structure. ..
請求項1に記載のインダクタ素子内蔵配線板を内層基板として含むプリント配線板。
A printed wiring board including the wiring board with a built - in inductor element according to claim 13 as an inner layer board.
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