JP7077180B2 - シリルホスフィン化合物の製造方法及びシリルホスフィン化合物 - Google Patents
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Description
従って、本発明の目的は、安全性が高く反応率を向上でき、高純度のシリルホスフィン化合物が得られるシリルホスフィン化合物の製造方法を提供することにある。
Rで表される炭素数6以上10以下のアリール基としては、フェニル基、トリル基、エチルフェニル基、プロピルフェニル基、iso-プロピルフェニル基、ブチルフェニル基、sec-ブチルフェニル基、tert-ブチルフェニル基、iso-ブチルフェニル基、メチルエチルフェニル基、トリメチルフェニル基等が挙げられる。
これらのアルキル基及びアリール基は1又は2以上の置換基を有していてもよく、アルキル基の置換基としては、ヒドロキシ基、ハロゲン原子、シアノ基、アミノ基等が挙げられ、アリール基の置換基としては、炭素数1以上5以下のアルキル基、炭素数1以上5以下のアルコキシ基、ヒドロキシ基、ハロゲン原子、シアノ基、アミノ基等が挙げられる。アリール基がアルキル基やアルコキシ基で置換されていた場合、アリール基の炭素数に、これらアルキル基やアルコキシ基の炭素数を含めることとする。
(第一工程)
本工程は、シリル化剤と塩基性化合物と比誘電率が4以下である溶媒とホスフィンとを混合して、シリルホスフィン化合物を含む溶液を得る。特に、シリル化剤と塩基性化合物と比誘電率が4以下である溶媒とを有する混合溶液と、ホスフィンとを混合してシリルホスフィン化合物を含む溶液を得ることが各成分の混和のしやすさや作業性、安全性の点で好ましい。とりわけ、当該混合溶液にホスフィンを導入することで、当該混合溶液とホスフィンとを混合してシリルホスフィン化合物を含む溶液を得ることがより好ましい。
これらの中でも、とりわけ、メチルアミン、ジメチルアミン、トリメチルアミン、エチルアミン、ジメチルアミン、トリエチルアミン、エチレンジアミン、アニリン、トルイジン、ピリジン及びピペリジンから選ばれる1種又は2種以上を用いると、効率的に反応が進む点から好ましい。
以上の第一工程によりシリルホスフィン化合物を含む溶液を得る。
具体的には、第一工程(好ましくは前記の熟成処理を含む工程)で得られたシリルホスフィン化合物を含む溶液を静置することにより、シリルホスフィン化合物を含む層と、HBA +X-を含む層とを分離させ、分液により後者を除去することで、HBA +X-を除去することができる。なお、静置時間は0.5時間以上48時間以下が好ましく、1時間以上24時間以下がより好ましい。分液は不活性雰囲気下で行われることが好ましい。
第二工程における溶媒の除去方法としては、シリルホスフィン化合物を含む溶液を、目的とするシリルホスフィン化合物がほとんど残留する条件下に減圧下に加熱して溶媒を蒸発させる方法が挙げられる。この処理は例えばロータリーエバポレーター等、溶媒を除去するための任意の蒸留器で行うことができる。第二工程においてシリルホスフィン化合物を含む溶液を減圧下に加熱する際の液温は、効率的に溶媒除去する観点及び、シリルホスフィン化合物の分解や変質を防止する観点から、最高液温が20℃以上140℃以下であることが好ましく、25℃以上90℃以下であることがより好ましい。同様の観点から、減圧時の圧力(最低圧力)は、絶対圧基準で2kPa以上20kPa以下が好ましく、5kPa以上10kPa以下がより好ましい。濃縮は不活性雰囲気下で行われることが好ましい。
次いで、第二工程で得られた濃縮液を蒸留する第三工程を行う。蒸留の条件は、シリルホスフィン化合物が気化する条件であり、蒸留温度(塔頂温度)が50℃以上であることが、目的化合物の分離性に優れる点で好ましい。蒸留温度は150℃以下であることが、目的化合物の分解抑制や品質維持の点で好ましい。これらの点から、蒸留温度は、50℃以上150℃以下であることが好ましく、70℃以上120℃以下であることがより好ましい。
このような条件とするために、例えば、溶媒は、減圧下又は真空条件下で加熱しながら、脱気及び脱水した後に、窒素ガス雰囲気下、シリルホスフィン化合物と混合するとともに気密な容器に充填する。
これらの処理により、不純物を十分に低減されたシリルホスフィン化合物の分散液を容易に得ることができる。
シリルホスフィン化合物の分散液中、シリルホスフィン化合物の割合は、3質量%以上50質量%以下が好ましく、8質量%以上30質量%以下がより好ましい。
本発明のシリルホスフィン化合物は、従来除去が困難とされている不純物である一般式(2)で表される化合物の量が極めて少ないものである。具体的には、本発明のシリルホスフィン化合物は、一般式(2)で表される化合物の含有量が0.5モル%以下であり、0.3モル%以下であることがより好ましい。本発明のシリルホスフィン化合物は、従来の製造方法では除去しがたかった不純物量が低減されていることにより、これを原料として製造された有機合成品や量子ドットの物性を損なう、或いは、得られた製品の物性を損なうといった弊害を効果的に防止することができる。一般式(2)で表される化合物を前記の上限以下とするためには、前述した本発明の製造方法にて一般式(1)で表される化合物を製造したり、シリル化剤とホスフィンとの量比を調整すればよい。一般式(2)で表される化合物の含有量は、一般式(1)で表される化合物に対する割合である。一般式(1)で表される化合物及び一般式(2)で表される化合物の含有量は、31P-NMRによる分析により例えば後述する実施例に記載の方法にて測定することができる。
反応容器に脱気及び脱水済みのトルエン(質量基準で水分量20ppm以下)189.8kgを仕込んだのち、トリエチルアミン82kgとトリフルオロメタンスルホン酸トリメチルシリル149.5kgを仕込み、反応容器内を窒素置換した後、液温を30℃に調整した。
ホスフィンガスを反応容器内に3時間かけて7.4kg仕込み、液温を35℃に調整した後、4時間の熟成を行った。
得られた反応溶液424.9kgは二層に分離しており、上層を用いるために12時間静置後、下層を分液した。上層は、低沸分を取り除くために濃縮缶により、減圧下、最終的な圧力が絶対圧基準で6.3KPa、液温が70℃となるまで濃縮して60.1kgの濃縮液を得た。第二工程後のシリルホスフィン化合物を含む溶液におけるシリルホスフィン化合物の量は、第二工程の開始時点の前記溶液におけるシリルホスフィン化合物の量に対する減少割合が3.2質量%であった。
得られた濃縮液を0.5KPaの減圧下、塔頂温度85℃で蒸留し、初留分を除去後、本留分を49.3kg回収し、回収物を得た。第三工程後、シリルホスフィン化合物を気化した後の蒸留残液におけるシリルホスフィン化合物の量は、第三工程の開始時点のシリルホスフィン化合物を含む溶液におけるシリルホスフィン化合物の量に対する減少割合が93質量%であった。
下記条件の31P-NMRによる分析により、回収物(液体)がトリス(トリメチルシリル)ホスフィン(TMSP)であることを確認し、その純度及び収率をh測定した。結果を下記表1に示す。また、31P-NMRによる分析により得られたスペクトルを図1に示す。図1においては、目的物であるTMSPのピークがδ-251.225ppmに観察されている。また図1には、式(2)~(7)で表される化合物のピークは観察されていないが、前記条件の31P-NMRによる分析においては、通常、前記式(2)で表される化合物(Rはメチル)のピーク位置はδ-237.4(d,J=186Hz)ppm、前記式(3)で表される化合物(Rはメチル)のピーク位置はδ-239±2.0(q,J=180Hz)、前記式(5)で表される化合物(Rはメチル)のピーク位置は115.1ppm、前記式(6)で表される化合物(Rはメチル)のピーク位置:24.2ppm、前記式(7)で表される化合物(Rはメチル)のピーク位置:-244.1ppmである。
前記のスペクトルに基づき、31P-NMRによる分析によりトリス(トリメチルシリル)ホスフィン中の前記式(2)、(3)、(5)、(6)及び(7)のそれぞれで表される化合物(いずれもRはメチル)の含量を測定した。結果を下記表2に示す。
またガスクロマトグラフィー分析によりトリス(トリメチルシリル)ホスフィン中の式(4)で表される化合物(Rはメチル)の含量を測定した。結果を下記表2に示す。またガスクロマトグラフィー分析で得られたスペクトルを図2に示す。なお図2において、ピーク番号1番のピークが、式(4)で表される化合物に由来する。
測定する試料を重ベンゼンに20質量%となるように溶解した。得られた溶液を、日本電子株式会社製JNM-ECA500で下記条件にて測定した。
観測周波数:202.4MHz、パルス:45度、捕捉時間:5秒、積算回数:256回、測定温度:22℃、標準物質:85質量%リン酸
測定試料を不活性ガス雰囲気下でセプタムキャップ付きの容器に小分けし、シリンジで測定試料0.2μLをガスクロマトグラフィー(株式会社島津製作所製、「GC-2010」)に打ち込み、下記条件にて測定した。
・カラム:Agilent J&W社製、「DB1」(内径0.25mm、長さ30m)・インジェクション温度:250℃、ディテクタ温度:300℃
・検出器:FID、キャリアガス:He(100kPa圧)
・スプリット比:1:100
・昇温条件:50℃×3分間維持→昇温速度10℃/分で200℃まで昇温→昇温速度50℃/分で300℃まで昇温→300℃×10分間維持
反応容器に脱気及び脱水済みのn-ヘキサン(質量基準で水分量10ppm以下)144.1gを仕込んだのち、トリエチルアミン82gとトリフルオロメタンスルホン酸トリメチルシリル149.5gを仕込み、反応容器内を窒素置換した後、液温を30℃に調整した。
ホスフィンガスを反応容器内に3時間かけて7.4g仕込み、液温を35℃に調整した後、4時間の熟成を行った。
得られた反応溶液380gは二層に分離しており、上層を用いるために12時間静置後、下層を分液した。上層は、低沸分を取り除くために濃縮缶により、減圧下、最終的な圧力が2.2KPa、液温が70℃となるまで濃縮して58.4gの濃縮液を得た。
得られた濃縮液を0.5KPaの減圧下、塔頂温度85℃で蒸留し、初留分を除去後、本留分49.4g回収した。
前記条件の31P-NMRによる分析により、回収物(液体)がトリス(トリメチルシリル)ホスフィンであることを確認し、その純度及び収率を測定した。結果を表1に示す。
また実施例1と同様に式(2)~(7)の化合物の含量を測定した。結果を表2に示す。
反応容器に脱気及び脱水済みのジエチルエーテル(質量基準で水分量10ppm以下)156.9gを仕込んだのち、トリエチルアミン82gとトリフルオロメタンスルホン酸トリメチルシリル149.5gを仕込み、反応容器内を窒素置換した後、液温を30℃に調整した。
ホスフィンガスを反応容器内に3時間かけて7.4g仕込み、液温を35℃に調整した後、4時間の熟成を行った。
得られた反応溶液424.9gは二層に分離しており、上層を用いるために12時間静置後、下層を分液した。上層は、低沸分を取り除くために濃縮缶により、減圧下、最終的な圧力が2.2KPa、液温が70℃となるまで濃縮して59.1gの濃縮液を得た。
得られた濃縮液を0.5KPaの減圧下、塔頂温度85℃で蒸留し、初留分を除去後、本留分を49.9g回収した。
前記条件の31P-NMRによる分析により、回収物におけるトリス(トリメチルシリル)ホスフィンの純度及び収率を測定した。結果を表1に示す。また実施例1と同様に式(2)~(7)の化合物の含量を測定した。結果を表2に示す。
<比較例2>
反応容器に脱気及び脱水済みのシクロペンチルメチルエーテル(質量基準で水分量10ppm以下)2150gを仕込んだのち、トリエチルアミン121.4gとトリフルオロメタンスルホン酸トリメチルシリル280gを仕込み、反応容器内を窒素置換した後、液温を30℃に調整した。
ホスフィンガスを反応容器内に15分間かけて14.4g仕込み、液温を35℃に調整した後、4時間の熟成を行った。
得られた反応溶液2480.66gは二層に分離しており、上層を用いるために12時間静置後、下層を分液した。上層は、低沸分を取り除くために濃縮缶により最終的な圧力が2.2KPa、液温が70℃となるまで濃縮して110gの濃縮液を得た。
得られた濃縮液を0.5KPaの減圧下、塔頂温度85℃で蒸留し、初留分を除去後、本留分を97.3g回収した。
前記条件の31P-NMRによる分析により、回収物におけるトリス(トリメチルシリル)ホスフィンの純度及び収率を測定した。結果を表1に示す。また実施例1と同様に式(2)~(7)の化合物の含量を測定した。結果を表2に示す。
更に実施例1及び2では、不純物である一般式(2)~(7)で表される化合物の量が極めて微量であり、比較例1及び2の量を大きく下回ることが示された。
有機溶媒として、真空条件下で加熱して脱気及び脱水した1-オクタデセン(質量基準で水分量5.4ppm)を用いた。この有機溶媒89.2質量部と実施例1で得られたシリルホスフィン化合物10.8質量部とを窒素雰囲気下、密閉空間中にて混合し、シリルホスフィン化合物溶液を得た。そのまま密閉容器に充填し、12時間経過後、得られた溶液における式(2)~(7)の化合物の量を下記の方法で測定した。結果を表3に示す。なお、水分量はカール フィッシャー水分計(京都電子製MKC610)を用いて測定した。
水分量測定方法:
使用試薬:アクアミクロンAS(発生液)、対極液アクアミクロンCXU(対極液)を測定セルに入れた後、充分に安定化させる。安定化後、窒素置換した5ml以上のガスタイトシリンジに5gの液を採取し、発生液に導入して測定した。
31P-NMRによる分析により溶液中の前記式(1)、(2)、(3)、(5)、(6)及び(7)のそれぞれで表される化合物の含量を測定した。31P-NMRの測定条件は、試料を以下のように調製した。それ以外は上記液体の31P-NMRによる分析条件と同様とした。式(1)で表される化合物に対する式(2)、(3)、(5)、(6)及び(7)の化合物(いずれもRはメチル)の割合を下記表3に示す。
(31P-NMRの測定試料の調製方法)
不活性ガス雰囲気下で溶液0.4mlと重ベンゼン0.2mlを混合しサンプルチューブを作製する。
(ガスクロマトグラフィーの測定試料の調製方法)
不活性ガス雰囲気で10mLの脱水グレードヘキサンに1mlのTMSP希釈溶液を混合し溶液を調整する。シリンジで測定試料1.0μLをガスクロマトグラフィーに注入し測定した。
有機溶媒として、蒸留により脱気及び脱水処理したトリオクチルホスフィン(質量基準で水分量5ppm以下)を用いた。また実施例1で得られたシリルホスフィン化合物の代わりに、実施例2で得られたシリルホスフィン化合物を用いた。これらの点以外は、実施例3と同様にして、シリルホスフィン化合物溶液を得た。得られた溶液中における式(1)の化合物に対する式(2)~(7)の化合物の割合を実施例3と同様にして測定し、表3に示す。
有機溶媒として脱気及び脱水処理をしていない1-オクタデセン(質量基準で水分量40ppmを用いた。この点以外は、実施例3と同様にして、シリルホスフィン化合物溶液を得た。得られた溶液中における式(1)の化合物に対する式(2)~(7)の化合物の割合を実施例3と同様にして測定し、表3に示す。
Claims (4)
- 下記一般式(1)で表されるシリルホスフィン化合物の含有量が99.0モル%以上であり、
下記一般式(2)で表される化合物の含有量が0.3モル%以下であり、
下記一般式(4)で表される化合物の含有量が0.15モル%以下であり、
下記一般式(5)で表される化合物の含有量が0.05モル%以下であり、
下記一般式(6)で表される化合物の含有量が0.05モル%以下であり、
下記一般式(7)で表される化合物の含有量が0.21モル%以下であり、
少なくとも下記一般式(2)で表される化合物、下記一般式(4)で表される化合物、及び下記一般式(7)で表される化合物を含有する、組成物。
(Rはそれぞれ独立に、メチル基、エチル基、n-プロピル基、n-ブチル基、sec-ブチル基、tert-ブチル基、iso-ブチル基、n-アミル基、iso-アミル基及びtert-アミル基から選ばれるアルキル基、又は、炭素数6以上10以下のアリール基である。)
(Rは一般式(1)と同じである。)
(Rは一般式(1)と同じである。)
(Rは一般式(1)と同じである。)
(Rは一般式(1)と同じである。)
(Rは一般式(1)と同じである。) - インジウムリン量子ドットの原料に用いられる、請求項1に記載の組成物。
- 有機溶媒中に分散された状態で存在している、請求項1又は2に記載の組成物。
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