JP7063381B2 - 質量分析装置及び質量分析方法 - Google Patents
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- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 title claims description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 9
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 205
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 147
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 141
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 claims description 11
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 20
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 15
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 8
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 5
- 238000000132 electrospray ionisation Methods 0.000 description 3
- 238000000065 atmospheric pressure chemical ionisation Methods 0.000 description 2
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000000752 ionisation method Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
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- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
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- H—ELECTRICITY
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
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- H—ELECTRICITY
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
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- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
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- Biochemistry (AREA)
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係る質量分析装置の概略構成を示したブロック図である。本実施形態に係る質量分析装置は、例えば質量分析部1、制御部2、記憶部3及び表示部4などを備えている。
図2は、プリカーサイオン選択処理部22がプリカーサイオンを選択する際の態様について説明するための図である。
図3は、ある試料をイオン化して質量分析を行うことにより取得されたMSスペクトルデータの一例を示す図である。この実施例では、取得されたMSスペクトルデータに含まれる複数のピークのうち、所定の閾値V以上の強度を有する12個のピークにそれぞれ対応する質量電荷比のイオンが、プリカーサイオンとして選択される候補となり得る。
(1)本実施形態では、質量電荷比の異なるプリカーサイオンを順次選択して、各プリカーサイオンに対応するMS/MSスペクトルデータを取得する際、既にMS/MSスペクトルデータが取得されているプリカーサイオンの質量電荷比(図4における「461」、「510」、「542」、「479」、「496」、「519」)に対して所定の範囲内に含まれる質量電荷比(図5における「459」、「463」、「481」、「498」、「512」、「521」)のイオンは選択されない。これにより、必要最小限のMS/MSスペクトルデータを取得することができ、近似するMS/MSスペクトルデータが無駄に取得されるのを防止することができる。その結果、時間及び記憶領域を無駄に使用するのを防止することができる。
2 制御部
3 記憶部
4 表示部
21 MSスペクトルデータ取得処理部
22 プリカーサイオン選択処理部
23 MSスペクトルデータ取得処理部
24 表示処理部
31 MSスペクトルデータ記憶部
32 MS/MSスペクトルデータ記憶部
Claims (2)
- 試料をイオン化して質量分析を行うことによりMSスペクトルデータを取得するMSスペクトルデータ取得処理部と、
前記MSスペクトルデータに基づいてプリカーサイオンを選択するプリカーサイオン選択処理部と、
選択された前記プリカーサイオンを開裂させて質量分析を行うことによりMS/MSスペクトルデータを取得するMS/MSスペクトルデータ取得処理部と、
前記MS/MSスペクトルデータ取得処理部により取得されたMS/MSスペクトルデータを表示させる表示処理部とを備え、
前記プリカーサイオン選択処理部は、質量電荷比の異なるプリカーサイオンを順次選択して、前記MS/MSスペクトルデータ取得処理部により各プリカーサイオンに対応するMS/MSスペクトルデータを取得させるものであり、既にMS/MSスペクトルデータが取得されているプリカーサイオンの質量電荷比に対して所定の範囲内に含まれない質量電荷比のプリカーサイオンを順次選択し、
前記表示処理部は、前記プリカーサイオン選択処理部によりプリカーサイオンとして選択されなかったイオンに対応するMS/MSスペクトルデータとして、当該イオンの質量電荷比を前記所定の範囲内に含むプリカーサイオンに対応するMS/MSスペクトルデータを表示させ、さらにその際に、当該イオンがプリカーサイオンとして選択されてMS/MSスペクトルデータが取得されていたとした場合の保持時間を表示させることを特徴とする質量分析装置。 - 試料をイオン化して質量分析を行うことによりMSスペクトルデータを取得するMSスペクトルデータ取得ステップと、
前記MSスペクトルデータに基づいてプリカーサイオンを選択するプリカーサイオン選択ステップと、
選択された前記プリカーサイオンを開裂させて質量分析を行うことによりMS/MSスペクトルデータを取得するMS/MSスペクトルデータ取得ステップと、
前記MS/MSスペクトルデータ取得ステップにより取得されたMS/MSスペクトルデータを表示させる表示ステップとを含み、
前記プリカーサイオン選択ステップは、質量電荷比の異なるプリカーサイオンを順次選択して、前記MS/MSスペクトルデータ取得ステップにより各プリカーサイオンに対応するMS/MSスペクトルデータを取得させるものであり、既にMS/MSスペクトルデータが取得されているプリカーサイオンの質量電荷比に対して所定の範囲内に含まれない質量電荷比のプリカーサイオンを順次選択し、
前記表示ステップでは、前記プリカーサイオン選択ステップによりプリカーサイオンとして選択されなかったイオンに対応するMS/MSスペクトルデータとして、当該イオンの質量電荷比を前記所定の範囲内に含むプリカーサイオンに対応するMS/MSスペクトルデータを表示させ、さらにその際に、当該イオンがプリカーサイオンとして選択されてMS/MSスペクトルデータが取得されていたとした場合の保持時間を表示させることを特徴とする質量分析方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2018/020520 WO2019229839A1 (ja) | 2018-05-29 | 2018-05-29 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019229839A1 JPWO2019229839A1 (ja) | 2021-04-08 |
JP7063381B2 true JP7063381B2 (ja) | 2022-05-09 |
Family
ID=68697881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020522426A Active JP7063381B2 (ja) | 2018-05-29 | 2018-05-29 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11527392B2 (ja) |
JP (1) | JP7063381B2 (ja) |
WO (1) | WO2019229839A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020076765A1 (en) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | Purdue Research Foundation | Mass spectrometry via frequency tagging |
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JP2010019655A (ja) | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析装置 |
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CN109830426B (zh) * | 2017-11-23 | 2021-04-02 | 株式会社岛津制作所 | 质谱数据采集方法 |
US12103990B2 (en) * | 2019-03-12 | 2024-10-01 | Rohm And Haas Company | Aqueous dispersion of (meth)acrylic polymer and polysilsesquioxane nano particles |
-
2018
- 2018-05-29 JP JP2020522426A patent/JP7063381B2/ja active Active
- 2018-05-29 WO PCT/JP2018/020520 patent/WO2019229839A1/ja active Application Filing
- 2018-05-29 US US17/057,964 patent/US11527392B2/en active Active
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JP2016520967A (ja) | 2013-04-23 | 2016-07-14 | レコ コーポレイションLeco Corporation | 高スループットを有する多重反射質量分析計 |
WO2015079529A1 (ja) | 2013-11-28 | 2015-06-04 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2019229839A1 (ja) | 2021-04-08 |
US20210305034A1 (en) | 2021-09-30 |
WO2019229839A1 (ja) | 2019-12-05 |
US11527392B2 (en) | 2022-12-13 |
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