JP6904123B2 - 検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、検査装置に関する。

特許文献１に記載のプリント基板の検査装置は、プリント基板上の電子部品を個々に収納する空間を形成した上下一対の挟着板と、一対の挟着板の上下に真空吸引可能な領域を有して支持された一対のプローブ用基盤と、上記プローブ用基盤の所定位置に配設され、上記電子部品のリード線やプリント基板上に設けたプローブパッドに触針するプローブ針とを有する。

特開平０６−２５８３９１号公報

検査装置は、内部に基板（制御基板）等が配置された筐体と、筐体の天板に置かれた被検査基板の接触点に接触して通電する通電体（プローブピン）と、通電体と筐体の内部に配置された基板とを電気的に接続する配線群とを備えている。通電体の上端が、筐体の外部に突出しており、被検査基板の接触点に接触しており、通電体の下端が、筐体の内部に突出しており、配線群と電気的に接続されている。また、筐体の内部の基板は、筐体の底板に置かれている。

さらに、筐体の内部の基板、及び通電体の下端を保守（メンテナンス）するため、筐体は、下筐体と、下筐体に対して蝶番を介して取り付けられている上筐体とから構成されている。そして、上筐体を回転させることで、筐体の内部が開放される。

本発明の課題は、基板が下筐体の底板に取り付けられている場合と比して、基板及び通電体の保守性を維持した上で、配線群の長さを短くすることである。

本発明の請求項１に係る検査装置は、下筐体に対して蝶番を介して取り付けられた上筐体の天板に置かれた被検査基板に接触して通電する通電体と、一端が該通電体に電気的に接続され、該上筐体の内部に配置された配線群と、該下筐体の底板と比して該天板に近接し、該下筐体又は該上筐体に対して他の蝶番を介して取付けられ、回転して該天板に接近又は離間すると共に、該配線群の他端が電気的に接続される基板とを備えることを特徴とする。

本発明の請求項２に係る検査装置は、請求項１に記載の検査装置において、前記他の蝶番の回転軸方向は、前記蝶番の回転軸方向に沿っており、前記蝶番の回転軸方向から見て、前記他の蝶番の回転軸は、前記下筐体に対して近接離間する前記上筐体の開放端と比して前記蝶番の回転軸に近接していることを特徴とする。

本発明の請求項３に係る検査装置は、請求項２に記載の検査装置において、前記上筐体を前記開放端側において前記下筐体から離間させて、前記下筐体及び前記上筐体の内部を開放した状態で、回転する前記基板を、前記天板から離間する第一位置と、前記第一位置に比して前記天板に近接する第二位置とに規制する規制部材を備えることを特徴とする。

本発明の請求項４に係る検査装置は、請求項３に記載の検査装置において、前記第一位置に前記基板が規制された状態で、前記基板の板面は上下方向を向くことを特徴とする。

本発明の請求項５に係る検査装置は、請求項１から４の何れか１項に記載の検査装置において、前記配線群は、前記蝶番の回転軸方向から見て、前記下筐体に対して近接離間する前記上筐体の開放端と比して前記蝶番の回転軸に近接していることを特徴とする。

本発明の請求項６に係る検査装置は、請求項１から５の何れか１項に記載の検査装置において、前記基板を支持する支持部材を備え、前記支持部材は、前記他の蝶番を介して前記下筐体又は前記上筐体に取り付けられていることを特徴とする。

本発明の請求項７に係る検査装置は、請求項６に記載の検査装置において、前記基板は、前記支持部材に着脱可能に取り付けられていることを特徴とする。

本発明の請求項１の検査装置によれば、基板が下筐体の底板に取り付けられている場合と比して、基板及び通電体の保守性を維持した上で、配線群の長さを短くすることである。

本発明の請求項２の検査装置によれば、他の蝶番の回転軸が蝶番の回転軸よりも上筐体の開放端に近接している場合と比して、筐体の内部の部材を保守する場合に、基板と下筐体との間の空間を広げることができる。

本発明の請求項３の検査装置によれば、作業者が回転する基板を第一位置及び第二位置で保持することなく、筐体の内部の部材を保守することができる。

本発明の請求項４の検査装置によれば、第一位置に基板が配置された状態で、基板の板面が、上下方向に対して傾斜する場合と比して、基板に対する保守性を向上させることができる。

本発明の請求項５の検査装置によれば、配線群が蝶番の回転軸よりも上筐体の開放端に近接している場合と比して、配線群の長さを短くすることができる。

本発明の請求項６の検査装置によれば、基板が直に他の蝶番を介して上筐体又は下筐体に取り付けられている場合と比して、基板に生じる損傷を抑制することができる。

本発明の請求項７の検査装置によれば、基板が支持部材に接着剤等を用いて取り付けられている場合と比して、検査装置の汎用性を向上させることができる。

本発明の実施形態に係る検査装置を示し、上筐体が閉塞位置に配置された状態の断面図である。 本発明の実施形態に係る検査装置を示し、上筐体が開放位置に配置された状態の断面図である。 本発明の実施形態に係る検査装置を示し、上筐体が開放位置に配置された状態の断面図である。 本発明の実施形態に係る検査装置を示した全体斜視図である。 本発明の実施形態に係る検査装置の下側治具等を示した斜視図である。 本発明の実施形態に係る検査装置を示し、上筐体が開放位置に配置された状態の斜視図である。 （Ａ）（Ｂ）本発明の実施形態に係る検査装置であって、検査工程を示した断面図である。 （Ａ）（Ｂ）本発明の実施形態に係る検査装置であって、検査工程を示した断面図である。 本発明の実施形態に係る検査装置の上側治具、下側治具等を示した斜視図である。 本発明の実施形態に係る検査装置の検査対象品である基板装置を示した斜視図である。 本発明の実施形態に対する比較形態に係る検査装置を示し、上筐体が閉塞位置に配置された状態の断面図である。 本発明の実施形態に対する比較形態に係る検査装置を示し、上筐体が開放位置に配置された状態の断面図である。

本発明の実施形態に係る検査装置の一例について、図１〜図１２に従って説明する。なお、図中に示す矢印Ｈは装置上下方向（鉛直方向）を示し、矢印Ｗは装置幅方向（水平方向）を示し、矢印Ｄは装置奥行方向（水平方向）を示す。

先ず、本実施形態に係る検査装置１０によって検査される被検査基板の一例としてのプリント配線被検査基板１００（以下「被検査基板１００」）を説明し、その後、検査装置１０について説明する。なお、被検査基板１００については、被検査基板１００が検査装置１０によって検査されている状態での方向を用いて説明する。

（被検査基板１００）
被検査基板１００は、図１０に示されるように、基板本体１０２と、基板本体１０２に実装されている、電子部品１０４及び電子部品１０６とを備えている。

基板本体１０２は、板面が上下方向を向き、上方から見て、矩形状とされている。この基板本体１０２の四隅には、後述する下側治具３４に対する位置決め用の貫通孔１０２Ｂが夫々形成されている。そして、基板本体１０２において上方を向いた上面１０２Ａに、電子部品１０４及び電子部品１０６が装置奥行方向に並んで実装されている。

電子部品１０４は、表面実装タイプの電子部品であって、電子部品１０６に比して装置奥行方向の奥側に配置されている。この電子部品１０４は、直方体状の本体部１０４Ａと、４個のリード１０４Ｂとを有している。この４個のリード１０４Ｂの先端が、基板本体１０２の上面１０２Ａに形成された４個の端子１０２Ｃに夫々半田付けされている。

電子部品１０６は、スルーホール実装タイプの電子部品であって、直方体状の本体部１０６Ａと、４個のリード１０６Ｂとを有している。この４個のリード１０６Ｂは、基板本体１０２に形成された４個のスルーホール１０２Ｄに夫々挿入されており、挿入された状態で夫々半田付けされている。

（検査装置１０）
検査装置１０は、図４に示されるように、筐体１２と、筐体１２の上方に配置されている離間部材１６と、筐体１２に支持されていると共に、離間部材１６を支持している支持部材２０と、離間部材１６を上下移動させるためのレバー２２とを備えている。また、検査装置１０は、検査装置１０を制御する制御基板３０、３２と、電源２４と、筐体１２に着脱可能に取り付けられる下側治具３４と、離間部材１６に着脱可能に取り付けられる上側治具３６とを備えている。

さらに、検査装置１０は、制御基板３０を支持するための支持機構２６と、制御基板３０と下側治具３４とを電気的に接続する配線ケーブル２８（図１参照）とを備えている。制御基板３０は、基板の一例であって、配線ケーブル２８は、配線群の一例である。なお、制御基板３０、支持機構２６、及び配線ケーブル２８については、詳細を後述する。

〔筐体１２〕
筐体１２は、図４に示されるように、内部が空洞とされた直方体状とされており、上方から見て、一対の辺が装置幅方向に沿っており、他の一対の辺が装置奥行方向に沿っている矩形状とされている。つまり、筐体１２は天板（後述する上筐体７０の天板７０Ａ）と、底板（後述する下筐体７２の底板７２Ａ）と４枚の側板とを含んで構成されている。

そして、筐体１２は、上下方向の中央側で上筐体７０と、上筐体７０の下側に配置された下筐体７２とに分割されている。そして、上筐体７０と下筐体７２との分割線は、装置幅方向から見て、装置奥行方向に延び、装置奥行方向から見て、装置幅方向に延びている。さらに、筐体１２は、上筐体７０と下筐体７２とを連結する蝶番７４とを有している。

蝶番７４は、上筐体７０及び下筐体７２に対して装置奥行方向の奥側に配置されており、蝶番７４の回転軸方向は、装置幅方向とされている。そして、図１、図２に示されるように、装置幅方向から見て、上筐体７０において蝶番７４に対して反対側で、装置幅方向に延びる上筐体７０の端縁が、開放端７０Ｂとされている。上筐体７０を回転させることで、この開放端７０Ｂが、下筐体７２に対して近接離間するようになっている。また、上筐体７０の天板７０Ａには、図４に示されるように、上方から見て矩形状とされた開口１４が形成されている。

この構成において、筐体１２の内部の部材を保守（メンテナンス）する場合には、蝶番７４の回転軸を中心に上筐体７０を回転させることで、上筐体７０は、図示せぬストッパーと当たって、図１、図２に示されるように、筐体１２の内部を開放する開放位置で停止する。このように、上筐体７０は、筐体１２の内部を開放する開放位置（図２、図３参照）と、筐体１２の内部を閉じる閉塞位置（図１参照）とへ移動する。

なお、検査装置１０には、上筐体７０を開放位置に保持する図示せぬ保持部材が設けられている。

〔離間部材１６、支持部材２０、レバー２２〕
離間部材１６は、図４に示されるように、上筐体７０の天板７０Ａの上方に配置されている。そして、離間部材１６は、内部が空洞とされた直方体状とされており、上方から見て、一対の辺が装置幅方向に沿っており、他の一対の辺が装置奥行方向に沿っている矩形状とされている。また、離間部材１６において上筐体７０の天板７０Ａと対向する対向板１８には、上方から見て矩形状とされた開口１８Ａが形成されている。

支持部材２０は、上筐体７０の天板７０Ａにおいて、装置奥行方向の奥側の部分に支持され、内部が空洞とされた直方体状とされている。この支持部材２０は、離間部材１６の装置奥行方向の奥側の部分と接触し、離間部材１６を片持ち状態で支持している。そして、支持部材２０の内部には、レバー２２の回転動作に伴い離間部材１６を上下方向へ移動させて、離間部材１６を上筐体７０の天板７０Ａに接近又は離間させる、リンク機構（図示省略）の一部が配置されている。

レバー２２は、下筐体７２の側板に、回転可能に取り付けられ、初期位置（図７（Ａ）参照）と、操作位置（図８（Ａ）参照）との間を回転するようになっている。そして、レバー２２には、ばね等の弾性部材（図示省略）の弾性力が付与されており、レバー２２に外力が付与されていない状態（自由状態）では、レバー２２は、初期位置に配置されている。

この構成において、レバー２２が初期位置に配置されている状態では、図７（Ａ）に示されるように、離間部材１６は、筐体１２の天板７０Ａに対して離間する離間位置に配置される。一方、レバー２２が操作位置されている状態では、図８（Ａ）に示されるように、離間部材１６は、筐体１２の天板７０Ａに対して接近する接近位置に配置される。

〔下側治具３４〕
下側治具３４は、図４、図９に示されるように、上筐体７０の天板７０Ａに取り付けられている。また、下側治具３４が天板７０Ａに取り付けられた状態（図４参照）では、下側治具３４は、天板７０Ａの開口１４を上方から閉じている。この下側治具３４は、矩形板状の本体部３４Ａと、被検査基板１００の位置を決める位置決めピン３４Ｂと、被検査基板１００に接触して通電する通電体３４Ｃ（プローブピン）とを有している。さらに、この下側治具３４は、図５に示されるように、雌型コネクタ３４Ｄと、雌型コネクタ３４Ｄと通電体３４Ｃとを電気的に接続させる導通部３４Ｅとを有している。

位置決めピン３４Ｂは、図９に示されるように、本体部３４Ａの表面（離間部材１６側を向いた面）に取り付けられている。そして、位置決めピン３４Ｂは、小径部と大径部とを有する段付きピンであって、４個設けられており、本体部３４Ａの四隅に取り付けられている。通電体３４Ｃは、上下方向に延びる円柱状であって、４個設けられており、位置決めピン３４Ｂによって位置決めされた被検査基板１００のリード１０６Ｂに上端で夫々接触するようになっている。通電体３４Ｃは、図１に示されるように、本体部３４Ａを貫通した状態で本体部３４Ａに取り付けられており、通電体３４Ｃの上端、及び下端は、本体部３４Ａから突出している。

このように、被検査基板１００は、下側治具３４に置かれるようになっている。換言すれば、被検査基板１００は、下側治具３４を介して上筐体７０の天板７０Ａに置かれるようになっている。

雌型コネクタ３４Ｄは、図１、図５に示されるように、本体部３４Ａの裏面（筐体１２の内部を向いた面）に取り付けられている。上筐体７０が閉塞位置に配置された状態で、装置幅方向（蝶番７４の回転軸方向）から見て、この雌型コネクタ３４Ｄは、本体部３４Ａに取り付けられている部材の中で最も蝶番７４の回転軸に近接している。そして、上筐体７０が閉塞位置に配置された状態で、装置幅方向（蝶番７４の回転軸方向）から見て、この雌型コネクタ３４Ｄは、上筐体７０の開放端７０Ｂと比して蝶番７４の回転軸に近接している。

導通部３４Ｅは、図５に示されるように、配線パターンであって、４個設けられており、本体部３４Ａの裏面に形成されている。そして、導通部３４Ｅは、前述したように、雌型コネクタ３４Ｄと夫々の通電体３４Ｃとを電気的に接続している。

〔上側治具３６〕
上側治具３６は、図４、図９に示されるように、離間部材１６の対向板１８に取り付けられている。また、上側治具３６が対向板１８に取り付けられた状態（図４参照）では、上側治具３６は、対向板１８の開口１８Ａを下方から閉じている。この上側治具３６は、矩形板状の本体部３６Ａと、被検査基板１００に接触して通電する通電体３６Ｂとを有している。

通電体３６Ｂは、上下方向に延びる円柱状であって、４個設けられており、離間部材１６が接近位置に配置された状態で、位置決めピン３４Ｂによって位置決めされた被検査基板１００の端子１０２Ｃと夫々接触するようになっている。

〔電源２４、制御基板３２〕
電源２４は、２個設けられ、図１、図４に示されるように、下筐体７２の底板７２Ａに置かれている。そして、電源２４は、各部材に電力を供給するようになっている。

制御基板３２には、上下方向に延びる４個のスペーサ（符号省略）を介して、下筐体７２の底板７２Ａに置かれている。そして、制御基板３２は、図示せぬ複数の電子部品が実装されており、上側治具３６の通電体３６Ｂ及び図示せぬ配線ケーブルを介して、被検査基板１００から速度の遅い電気信号を受け取るようになっている。

このように、制御基板３２は速度の遅い電気信号を受け取るため、電圧の異なる複数種の電気信号が配線ケーブルを流れることで生じるノイズが制御基板３２による検査精度に与える影響は、小さい。

（要部構成）
次に、制御基板３０、支持機構２６、及び配線ケーブル２８について説明する。

〔制御基板３０〕
制御基板３０は、図１、図４に示されるように、上筐体７０が閉塞位置に配置された状態で、筐体１２の内部で、かつ、下筐体７２の底板７２Ａと比して上筐体７０の天板７０Ａに近接している。制御基板３０は、基板の一例である。

この制御基板３０は、図６に示されるように、基板本体３０Ａと、基板本体３０Ａに実装されている複数の電子部品３０Ｂと、雌型コネクタ３０Ｃとを有している。

上筐体７０が閉塞位置に配置された状態で、図１に示されるように、基板本体３０Ａの板面は、上下方向を向いている。さらに、上方から見て、基板本体３０Ａは、一対の辺が装置幅方向に沿っており、他の一対の辺が装置奥行方向に沿っている矩形状とされている。また、雌型コネクタ３０Ｃは、基板本体３０Ａの上面において、装置奥行方向の奥側の部分に実装されている。そして、上筐体７０が閉塞位置、及び開放位置に配置された状態で、雌型コネクタ３０Ｃは、図１、図２、図３に示されるように、上筐体７０の開放端７０Ｂと比して蝶番７４の回転軸に近接している。

さらに、制御基板３０は、図５に示す下側治具３４の通電体３４Ｃ、導通部３４Ｅ、雌型コネクタ３４Ｄ及び配線ケーブル２８を介して、被検査基板１００（図９参照）から速度の速い電気信号を受け取るようになっている。

このように、制御基板３０は速度の速い電気信号を受け取るため、電圧の異なる複数種の電気信号が配線ケーブルを流れることで生じるノイズが制御基板３０による検査精度に与える影響は、小さくない。

ここで、「速度の速い電気信号」とは、２２Ｍ〔Ｈｚ〕以上の電気信号である。

〔支持機構２６〕
支持機構２６は、図１、図６に示されるように、制御基板３０を下方から支持する支持板４６と、制御基板３０と支持板４６との間に空間を確保する４個のスペーサ４８と、支持板４６と上筐体７０とを連結する蝶番５０とを備えている。さらに、支持機構２６は、支持板４６を介して制御基板３０の位置を規制するチェックリンク５２を有している。支持板４６は、支持部材の一例であって、蝶番５０は、他の蝶番の一例であり、チェックリンク５２は、規制部材の一例である。

−支持板４６・スペーサ４８−
支持板４６は、図１、図４に示されるように上筐体７０が閉塞位置に配置された状態で、制御基板３０の下方に配置されている。そして、支持板４６の板面は、上下方向を向いている。また、上方から見て、支持板４６は、一対の辺が装置幅方向に沿っており、他の一対の辺が装置奥行方向に沿っている矩形状とされている。さらに、上方から見て、支持板４６の外周縁が、制御基板３０の外周縁を囲んでいる。

４個のスペーサ４８は、制御基板３０の四隅で、制御基板３０と支持板４６との間に夫々配置されている。夫々のスペーサ４８は、上下方向に延びる円柱状とされており、スペーサ４８の先端は、図示せぬ取付具で制御基板３０の下面に取り付けられており、スペーサ４８の基端は、図示せぬ取付具で支持板４６の上面に取り付けられている。

そして、制御基板３０をスペーサ４８に取り付ける取付具（例えば、ボルト、ナット、ねじ等）を工具を用いて回転させることで、制御基板３０が、スペーサ４８の先端に取り付け、スペーサ４８の先端から取り外しされるようになっている。換言すれば、制御基板３０は、支持板４６に着脱可能に取り付けられている。

−蝶番５０−
蝶番５０は、図１に示されるように、支持板４６の装置奥行方向の奥側に配置されている。蝶番５０の回転軸方向は、蝶番７４の回転軸方向に沿っており、装置幅方向とされている。また、上筐体７０が開放位置、及び閉塞位置に配置された状態で、装置幅方向から見て、図１、図３に示されるように、蝶番５０の回転軸は、上筐体７０の開放端７０Ｂと比して蝶番７４の回転軸に近接している。

−チェックリンク５２−
チェックリンク５２は、図１、図４に示されるように、装置奥行方向の奥側で、かつ、支持板４６に対して装置幅方向の一方側（図４の右側）に配置されている。このチェックリンク５２は、図２、図３に示されるように、一端が支持板４６に回転可能に取り付けられている第一アーム５２Ａと、一端が上筐体７０の背板７０Ｃ（板面が装置奥行方向の奥側の向いた側板）に回転可能に取り付けられている第二アーム５２Ｂとを備えている。さらに、チェックリンク５２は、第一アーム５２Ａの基端と第二アーム５２Ｂの基端とを回転可能に支持する軸部５２Ｃと、軸部５２Ｃに巻かれた図示せぬトーションンばねとを備えている。そして、各部材の回転軸方向は、装置奥行方向とされている。

制御基板３０を第一位置と、第二位置とに規制するため、第一アーム５２Ａには、第二アーム５２Ｂの一部に当たって、第一アーム５２Ａと第二アーム５２Ｂとの開き角と予め決められた範囲内に規制する規制部（図示省略）が形成されている。また、前述したトーションンばねの付勢力によって、制御基板３０を第一位置（図３参照）と、第二位置（図２参照）とに保持されるようになっている。

この構成において、上筐体７０が開放位置に配置された状態で、チェックリンク５２は、蝶番５０によって回転する支持板４６の回転位置を規制することで、制御基板３０を第一位置（図３参照）と、第二位置（図２参照）とに規制する。具体的には、制御基板３０が第一位置に配置された状態で、図３に示されるように、基板本体３０Ａの板面が上下方向を向く。また、制御基板３０が第二位置に配置された状態で、図２に示されるように、基板本体３０Ａが上筐体７０の天板７０Ａに近接して天板７０Ａと対向する。

さらに、制御基板３０が第二位置に配置された状態で、開放位置に配置された上筐体７０を閉塞位置へ移動させると、図１に示されるように、基板本体３０Ａの板面が上下方向を向く。

なお、制御基板３０が第一位置に配置された状態で、開放位置に配置された上筐体７０を閉塞位置へ移動させようとすると、上筐体７０の一部が図示せぬ誤動作防止部に当たって、上筐体７０は、閉塞位置に到達しない。このため、開放位置に配置された上筐体７０を閉塞位置へ移動させる場合は、制御基板３０を第二位置に配置しなければならない。そして、制御基板３０を第二位置に配置した状態で、開放位置に配置された上筐体７０を閉塞位置へ移動させると、図１に示されるように、制御基板３０の基板本体３０Ａの板面が上下方向に向く。

〔配線ケーブル２８〕
配線ケーブル２８は、装置幅方向から見て、図１、図３に示されるように、筐体１２の内部で、天板７０Ａ（下側治具３４）と制御基板３０との間に配置されている。具体的には、上筐体７０が開放位置、及び閉塞位置に配置された状態で、装置幅方向から見て、配線ケーブル２８は、天板７０Ａと制御基板３０との間で、かつ、上筐体７０の開放端７０Ｂと比して蝶番７４の回転軸に近接している。配線ケーブル２８は、配線群の一例である。

配線ケーブル２８は、複数の配線がまとめられた配線部２８Ａと、配線部２８Ａの両端部に夫々接続された雄型コネクタ２８Ｂとを有している。そして、一方の雄型コネクタ２８Ｂは、制御基板３０の雌型コネクタ３０Ｃに接続され（図６参照）、他方の雄型コネクタ２８Ｂは、下側治具３４の雌型コネクタ３４Ｄに接続されている（図５参照）。

また、配線ケーブル２８の長さは、上筐体７０が閉塞位置に配置された状態（図１参照）、及び上筐体７０が開放位置で、かつ、制御基板３０が第一位置に配置された状態（図３参照）で、不要な弛みがないように決められている。

（作用）
次に、検査装置１０の作用について、検査装置１０を用いて、被検査基板１００を検査する作業と、筐体１２の内部の部材を保守（メンテナンス）する作業とについて、比較形態に係る検査装置５１０と比較しつつ説明する。先ず、比較形態に係る検査装置５１０について、検査装置１０と異なる部分を主に説明する。

〔比較形態に係る検査装置５１０〕
検査装置５１０は、検査装置１０と異なり、被検査基板１００から速度の速い電気信号を受け取る制御基板３０、制御基板３０を支持するための支持機構２６、及び配線ケーブル２８を備えていない。検査装置５１０は、図１１に示されるように、被検査基板１００（図９参照）から速度の速い電気信号を受け取る制御基板５３０と、配線ケーブル５２８とを備えている。

−制御基板５３０−
制御基板５３０は、制御基板３２に対して装置奥行方向の奥側に配置されており、上下方向に延びる４個のスペーサ（符号省略）を介して、下筐体７２の底板７２Ａに置かれている。そして、制御基板５３０は、基板本体５３０Ａと、基板本体５３０Ａに実装される複数の電子部品５３０Ｂと、雌型コネクタ５３０Ｃを有している。

この制御基板５３０は、下側治具３４の通電体３４Ｃ、導通部３４Ｅ、雌型コネクタ３４Ｄ（図５参照）及び配線ケーブル５２８を介して、被検査基板１００から速度の速い電気信号を受け取るようになっている。

このように、制御基板５３０は速度の速い電気信号を受け取るため、電圧の異なる複数種の電気信号が配線ケーブルを流れることで生じるノイズが制御基板５３０による検査精度に与える影響は、小さくない。

−配線ケーブル５２８−
配線ケーブル５２８は、筐体１２の内部に配置されており、装置幅方向から見て、上筐体７０の開放端７０Ｂと比して蝶番７４の回転軸に近接している。この配線ケーブル５２８は、複数の配線がまとめられた配線部５２８Ａと、配線部５２８Ａの両端部に夫々接続された雄型コネクタ５２８Ｂとを有している。そして、一方の雄型コネクタ５２８Ｂは、制御基板５３０の雌型コネクタ５３０Ｃに接続され、他方の雄型コネクタ５２８Ｂは、下側治具３４の雌型コネクタ３４Ｄに接続されている。

また、配線ケーブル５２８の長さは、上筐体７０が閉塞位置に配置された状態、及び上筐体７０が開放位置に配置された状態（図１２参照）で、不要な弛みがないように決められている。このため、配線ケーブル２８の長さは、配線ケーブル５２８の長さと比して短くなっている。そこで、電圧の異なる複数種の電気信号が配線ケーブル２８を流れることで生じるノイズは、電圧の異なる複数種の電気信号が配線ケーブル５２８を流れることで生じるノイズと比して小さくなってしまう。

〔被検査基板１００を検査する作業〕
次に、検査装置１０を用いて、被検査基板１００を検査する作業について説明する。なお、検査装置５１０については、検査装置１０と異なる部分を主に説明する。

被検査基板１００を検査する前の状態では、図１に示されるように、上筐体７０は、閉塞位置に配置されており、レバー２２は、初期位置に配置されており、離間部材１６は、離間位置に配置されている。

被検査基板１００を検査する場合には、先ず、作業者は、図７（Ａ）（Ｂ）に示されるように、下側治具３４の上側に、被検査基板１００を置く。換言すれば、作業者は、下側治具３４を介して上筐体７０の天板７０Ａに、被検査基板１００を置く。具体的には、作業者は、図９に示されるように、基板本体１０２の貫通孔１０２Ｂに、下側治具３４の位置決めピン３４Ｂの小径部を貫通させ、基板本体１０２を位置決めピン３４Ｂの大径部に被検査基板１００を支持させる。

これにより、下側治具３４の夫々の通電体３４Ｃは、被検査基板１００のリード１０６Ｂ（図９参照）と接触して、電子部品１０６へ通電する。そして、図５に示す通電体３４Ｃ、導通部３４Ｅ、及び配線ケーブル２８を介して、速度の速い電気信号が制御基板３０へ送られる（図５、図６参照）。

これに対して、検査装置５１０では、通電体３４Ｃ、導通部３４Ｅ（図５参照）、及び配線ケーブル５２８を介して、速度の速い電気信号が制御基板５３０へ送られる（図１１参照）。ここで、前述したように、検査装置１０の配線ケーブル２８の長さは、検査装置５１０の配線ケーブル５２８の長さと比して短い。このため、電気が配線ケーブル２８を流れることで生じるノイズは、電気が配線ケーブル５２８を流れることで生じるノイズと比して小さい。つまり、制御基板３０が配線ケーブル２８から受けるノイズは、制御基板５３０が配線ケーブル５２８から受けるノイズと比して小さい。

これにより、速度の速い電気信号を受け取る制御基板５３０による検査精度が、速度の速い電気信号を受け取る制御基板３０による検査精度と比して低くなる。換言すれば、検査装置１０では、検査装置５１０を用いた場合と比して、被検査基板１００を検査する検査精度の低下が抑制される。

次に、作業者は、図７（Ｂ）、図８（Ａ）に示されるように、レバー２２を初期位置から操作位置へ回転させる。これにより、離間部材１６は、離間位置から接近位置へ移動する。これにより、上側治具３６の夫々の通電体３６Ｂは、被検査基板１００の端子１０２Ｃと接触して、電子部品１０４へ通電する。そして、通電体３６Ｃ、図示せぬ配線ケーブルを介して、速度の遅い電気信号が制御基板３２へ送られる。なお、制御基板３２は速度の遅い電気信号を受け取るため、配線ケーブルを流れることで生じるノイズが、制御基板３２による検査精度に与える影響は、小さい。

このようにして、被検査基板１００が検査される。

次に、作業者は、レバー２２に負荷している力を解放する。これにより、レバー２２が、図８（Ａ）（Ｂ）に示されるように、操作位置から初期位置へ回転し、さらに、離間部材１６が、接近位置から離間位置へ移動する。そして、一枚の被検査基板１００の検査が終了する。

〔筐体１２の内部の部材を保守する作業〕
次に、検査装置１０の筐体１２の内部の部材を保守する作業について説明する。なお、この作業に入る前の状態では、図１に示されるように、上筐体７０は、閉塞位置に配置されており、制御基板３０の基板本体３０Ａの板面は上下方向を向いている。

筐体１２の内部の部材を保守する場合には、先ず、検査装置１０に対して装置奥行方向の手前側に立つ作業者は、図１、図２に示されるように、閉塞位置に配置された上筐体７０を開放位置へ移動する。この状態で、制御基板３０は、基板本体３０Ａが天板７０Ａと対向する第二位置へ配置されている。

そして、検査装置１０に対して装置奥行方向の手前側に立つ作業者は、上筐体７０と下筐体７２との間から、下筐体７２の底板７２Ａに置かれた電源２４及び制御基板３２等を保守する。

次に、作業者は、図２、図３に示されるように、第二位置に配置された制御基板３０を第一位置へ移動する。これにより、制御基板３０の基板本体３０Ａの板面が上下方向を向く。そして、検査装置１０に対して装置奥行方向の手前側に立つ作業者は、上筐体７０と下筐体７２との間から、下側治具３４の通電体３４Ｃの下端及び制御基板３０等を保守する。

これに対して、検査装置５１０では、検査装置５１０に対して装置奥行方向の手前側に立つ作業者は、図１１、図１２に示されるように、閉塞位置に配置された上筐体７０を開放位置へ移動する。この状態で、作業者は、上筐体７０と下筐体７２との間から、下筐体７２の底板７２Ａに置かれた電源２４、制御基板３２及び制御基板５３０を保守する。さらに、作業者は、上筐体７０の天板７０Ａに取り付けられている下側治具３４の通電体３４Ｃの下端を保守する。

各部材の保守が終了すると、作業者が開放位置に配置された上筐体７０を閉塞位置へ移動する。これにより、全ての作業が終了する。

これに対して、検査装置１０では、各部材の保守が終了すると、作業者が、第一位置に配置された制御基板３０を第二位置へ移動する。さらに、作業者は、開放位置に配置された上筐体７０を閉塞位置へ移動する。これにより、全ての作業が終了する。

（まとめ）
以上説明したように、 検査装置１０では、速度の速い電気信号を受け取る制御基板５３０が下筐体７２の底板７２Ａに置かれている検査装置５１０と同様に、制御基板３０及び通電体３４Ｃ等の保守性（メンテナンス性）が維持されている。つまり、検査装置１０では、検査装置５１０と比して、基板３０及び通電体３４Ｃの保守性を維持した上で、配線ケーブル２８の長さが短くなる。

これにより、電圧の異なる複数種の電気信号が配線ケーブル２８を流れることで生じるノイズは、電圧の異なる複数種の電気信号が配線ケーブル５２８を流れることで生じるノイズと比して小さくなる。

また、検査装置１０では、制御基板５３０が下筐体７２の底板７２Ａに置かれている場合と比して、制御基板３０及び通電体３４Ｃの保守性を維持した上で、被検査基板１００を検査する検査精度の低下が抑制される。

また、検査装置１０では、蝶番５０の回転軸方向は、蝶番７４の回転軸方向と同様とされ、蝶番７４の回転軸方向から見て、蝶番５０の回転軸は、上筐体７０の開放端７０Ｂと比して蝶番７４の回転軸に近接している。このため、例えば、蝶番５０の回転軸が蝶番７４の回転軸よりも上筐体７０の開放端７０Ｂに近接している場合と比して、制御基板３０が第二位置に配置された状態で制御基板３０と下筐体７２との間の空間が広がる。このため、底板７２Ａに置かれた電源２４等に対する保守性が向上する。

また、上筐体７０を開放位置に配置した状態で、回転する制御基板３０を、第一位置と、第二位置とに規制するチェックリンク５２を備えている。このため、作業者が回転する制御基板３０を、第一位置及び第二位置で保持することなく、筐体１２の内部の部材が保守される。

また、第一位置に制御基板３０が配置された（規制された）状態で、制御基板３０の基板本体３０Ａの板面は上下方向を向いている。このため、第一位置に制御基板３０が配置された状態で、制御基板３０の基板本体３０Ａの板面が、上下方向に対して傾斜する場合と比して、制御基板３０に対する保守性が向上する。

また、配線ケーブル２８は、装置幅方向（蝶番７４の回転軸方向）から見て、上筐体７０の開放端７０Ｂと比して蝶番７４の回転軸に近接している。このため、配線ケーブル２８が蝶番７４の回転軸よりも上筐体７０の開放端７０Ｂに近接している場合と比して、配線ケーブル２８の長さが短くなる。つまり、電気が配線ケーブル２８を流れることで生じるノイズが小さくなる。

また、制御基板３０を支持する支持板４６は、蝶番５０を介して上筐体７０に取り付けられている。制御基板３０が、直に蝶番５０を介して上筐体７０に取り付けられている場合と比して、制御基板３０に蝶番５０からの荷重が直に作用することがないため、制御基板３０に生じる損傷が抑制される。

また、制御基板３０は、支持板４６に着脱可能に取り付けられている。このため、制御基板３０が支持板４６に接着剤等を用いて取り付けられている場合と比して、検査装置１０の汎用性が向上する。

なお、本発明を特定の実施形態について詳細に説明したが、本発明は係る実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内にて他の種々の実施形態が可能であることは当業者にとって明らかである。例えば、上記実施形態では、制御基板３０は、上筐体７０に取り付けられたが、下筐体７２に取り付けられてもよい。

また、上記実施形態では、回転する制御基板３０を、第一位置と第二位置とに規制するチェックリンク５２が備えられたが、チェックリンク５２が備えられなくてもよい。しかし、この場合には、チェックリンク５２が備えられることで奏する作用は奏しない。

また、上記実施形態では、制御基板３０を支持する支持板４６が備えられたが、支持板４６が備えられなくてもよい。しかし、この場合には、支持板４６が備えられることで奏する作用は奏しない。

また、上記実施形態では、上筐体７０の天板７０Ａと、下側治具３４の板状の本体部３４Ａを別部材として説明したが、本体部３４Ａが、上筐体７０の天板の一部を構成する部材であってもよい。

また、上記実施形態では、底板７２Ａに電源２４等が置かれたが、他の機能部品が置かれていてもよい。

また、上記実施形態では、特に説明しなかったが、蝶番５０、７４とは、一の部材を他の部材に対して回転可能に支持する部材である。

また、上記実施形態では、チェックリンク５２は、１個であったが複数個あってもよい。

１０ 検査装置
１２ 筐体
２８ 配線ケーブル（配線群の一例）
３０ 制御基板（基板の一例）
３４Ｃ 通電体
４６ 支持板（支持部材の一例）
５０ 蝶番（他の蝶番の一例）
５２ チェックリンク（規制部材の一例）
７０ 上筐体
７０Ａ 天板
７０Ｂ 開放端
７２ 下筐体
７２Ａ 底板
７４ 蝶番
１００ 被検査基板

Claims (7)

1. 下筐体に対して蝶番を介して取り付けられた上筐体の天板に置かれた被検査基板に接触して通電する通電体と、
   一端が該通電体に電気的に接続され、該上筐体の内部に配置された配線群と、
   該下筐体の底板と比して該天板に近接し、該下筐体又は該上筐体に対して他の蝶番を介して取付けられ、回転して該天板に接近又は離間すると共に、該配線群の他端が電気的に接続される基板と、
   を備える検査装置。
2. 前記他の蝶番の回転軸方向は、前記蝶番の回転軸方向に沿っており、前記蝶番の回転軸方向から見て、前記他の蝶番の回転軸は、前記下筐体に対して近接離間する前記上筐体の開放端と比して前記蝶番の回転軸に近接している請求項１に記載の検査装置。
3. 前記上筐体を前記開放端側において前記下筐体から離間させて、前記下筐体及び前記上筐体の内部を開放した状態で、回転する前記基板を、前記天板から離間する第一位置と、前記第一位置に比して前記天板に近接する第二位置とに規制する規制部材を備える請求項２に記載の検査装置。
4. 前記第一位置に前記基板が規制された状態で、前記基板の板面は上下方向を向く請求項３に記載の検査装置。
5. 前記配線群は、前記蝶番の回転軸方向から見て、前記下筐体に対して近接離間する前記上筐体の開放端と比して前記蝶番の回転軸に近接している請求項１から４の何れか１項に記載の検査装置。
6. 前記基板を支持する支持部材を備え、
   前記支持部材は、前記他の蝶番を介して前記下筐体又は前記上筐体に取り付けられている請求項１から５の何れか１項に記載の検査装置。
7. 前記基板は、前記支持部材に着脱可能に取り付けられている請求項６に記載の検査装置。

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