JP6816144B2 - 被検体をx線撮像する装置 - Google Patents
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Description
− X線源と、
− X線干渉計装置と、
− X線検出器と、
− 処理ユニットと、
を有する。
a)X線の検出に関するデータを供給するステップであって、X線検出器がX線源に対して該X線源と当該X線検出器との間の領域の少なくとも一部が被検体を収容する検査領域となるように配置されるように構成され、X線干渉計装置が前記X線源と前記検査領域との間又は前記X線検出器と前記検査領域との間に配置されるように構成されるステップと、
b)前記被検体の少なくとも一部を透過したX線放射に関する少なくとも1つのX線暗視野係数を決定するステップと、
c)前記被検体の少なくとも一部を透過したX線放射に関する少なくとも1つの透過係数を決定するステップと、
d)前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の強度を、前記決定された少なくとも1つの暗視野係数及びX線放射の前記決定された少なくとも1つの透過係数の関数として自動的に制御するステップと、
を有する。
特定のスキャンアーム位置において、検出器の読み出しが実行されて、幾つかの測定値を提供し:
Claims (11)
- 被検体をX線撮像する装置であって、
X線源と、
X線干渉計装置と、
X線検出器と、
処理ユニットと、を有し、
前記X線検出器は、前記X線源に対して該X線源と当該X線検出器との間の領域の少なくとも一部が被検体を収容する検査領域となるように配置されると共に、前記処理ユニットに前記X線干渉計装置を少なくとも部分的に通過したX線放射の検出に関するデータを供給し、
前記X線干渉計装置は、前記X線源と前記検査領域との間又は前記X線検出器と前記検査領域との間に配置され、
前記処理ユニットは、前記被検体の少なくとも一部を透過したX線放射に関する少なくとも1つの透過係数であって、前記被検体の前記少なくとも一部を透過したX線放射の強度の割合である当該少なくとも1つの透過係数を決定すると共に、前記被検体の少なくとも一部を透過したX線放射に関する少なくとも1つの暗視野係数であって、干渉縞視認性が前記被検体の前記少なくとも一部により減少された割合である当該少なくとも1つの暗視野係数を決定し、
前記処理ユニットは、前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の強度を、決定された前記少なくとも1つの透過係数及び決定された前記少なくとも1つの暗視野係数の関数として自動的に制御する、
装置。 - 前記処理ユニットが、前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の前記強度を、前記決定された少なくとも1つの暗視野係数の単調減少関数として制御する、請求項1に記載の装置。
- 前記処理ユニットが、前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の前記強度を、前記決定された少なくとも1つの透過係数の単調減少関数として制御する、請求項1又は請求項2に記載の装置。
- 前記X線干渉計装置は前記検査領域に対して前記X線検出器により検出されるX線放射が全て該X線干渉計装置を通過しなかったものとなるように配置可能であり、前記処理ユニットが前記少なくとも1つの暗視野係数を前記少なくとも1つの透過係数の関数として決定する、請求項1ないし3の何れか一項に記載の装置。
- 前記処理ユニットは前記被検体の部分内で関心領域を決定し、前記被検体の前記少なくとも一部が該関心領域である、請求項1ないし4の何れか一項に記載の装置。
- 被検体をX線撮像する方法であって、前記方法は、
a)X線放射の検出に関するデータを供給するステップであって、X線検出器がX線源に対して該X線源と当該X線検出器との間の領域の少なくとも一部が被検体を収容する検査領域となるように配置され、X線干渉計装置が前記X線源と前記検査領域との間又は前記X線検出器と前記検査領域との間に配置されるステップと、
b)前記被検体の少なくとも一部を透過したX線放射に関する少なくとも1つの暗視野係数であって、干渉縞視認性が前記被検体の前記少なくとも一部により減少された割合である当該少なくとも1つの暗視野係数を決定するステップと、
c)前記被検体の少なくとも一部を透過したX線放射に関する少なくとも1つの透過係数であって、前記被検体の前記少なくとも一部を透過したX線放射の強度の割合である当該少なくとも1つの透過係数を決定するステップと、
d)前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の強度を、決定された前記少なくとも1つの暗視野係数及び決定された前記少なくとも1つの透過係数の関数として自動的に制御するステップと、
を有する、方法。 - ステップd)が、前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の前記強度を前記決定された少なくとも1つの暗視野係数の単調減少関数として制御するステップ、及び/又は前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の前記強度を前記決定された少なくとも1つの透過係数の単調減少関数として制御するステップを有する、請求項6に記載の方法。
- ステップd)が、前記被検体の前記少なくとも一部に向かって放出されるべきX線放射の前記強度を前記決定された少なくとも1つの透過係数の平方根の逆数の関数として制御するステップを有する、請求項7に記載の方法。
- ステップc)が、前記少なくとも1つの透過係数を決定すると共に、前記X線干渉計装置を前記検査領域に対して前記X線検出器により検出されるX線放射が全て該X線干渉計装置を通過しなかったものとなるように配置するステップを有し、ステップb)が前記少なくとも1つの暗視野係数を前記少なくとも1つの透過係数の関数として決定するステップを有する、請求項6ないし8の何れか一項に記載の方法。
- 請求項1ないし5の何れか一項に記載の装置を制御するコンピュータプログラムであって、プロセッサにより実行された場合に請求項6ないし9の何れか一項に記載の方法を実行する、コンピュータプログラム。
- 請求項10に記載のコンピュータプログラムを記憶した、コンピュータ読取可能な媒体。
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