JP6815955B2 - 積層体、偏光板、液晶表示パネルおよび画像表示装置 - Google Patents
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Description
一方の面上に機能層を形成されて積層体をなす積層基材であって、
面内の複屈折性を有する光透過性基材と、
前記光透過性基材と積層され面内の複屈折性を有する屈折率調整層であって、前記光透過性基材と前記機能層との間に位置するようになる屈折率調整層と、を備え、
前記光透過性基材の面内における最も屈折率が大きい方向である遅相軸方向における屈折率n1x、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2x、および、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行となる方向における前記機能層の屈折率n3xが、
n1x<n2x<n3x、又は、n1x>n2x>n3x
なる関係を満たし、
前記光透過性基材の前記遅相軸方向に直交する進相軸方向における屈折率n1y、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2y、および、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行となる方向における前記機能層の屈折率n3yが、
n1y<n2y<n3y、又は、n1y>n2y>n3y
なる関係を満たす。
n2x>n2y
なる関係を満たすようにしてもよい。
なる関係を満たすようにしてもよい。
(n1x−n1y)>(n2a−n2b)
なる関係を満たすようにしてもよい。
前記光透過性基材の前記遅相軸方向における前記屈折率n1x、前記光透過性基材の前記遅相軸方向dxと平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2x、及び、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行な方向における前記機能層の屈折率n3xが、
n2=(n2x+n2y)/2、且つ
|n2x−((n1x+n3x)/2)|<|n2−((n1x+n3x)/2)|
なる関係を満たし、
前記光透過性基材の前記進相軸方向における屈折率n1y、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2y、及び、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行な方向における前記機能層の屈折率n3yが、
n2=(n2x+n2y)/2、且つ
|n2y−((n1y+n3y)/2)|<|n2−((n1y+n3y)/2)|
なる関係を満たすようにしてもよい。
上述した本発明による積層基材のいずれかと、
前記積層基材の一方の面上に形成された機能層と、を備え、
前記屈折率調整層が、前記光透過性基材と前記機能層との間に位置している。
偏光素子と、
上述した本発明による積層基材のいずれか、または、上述した本発明による積層体のいずれか、請求項9〜12のいずれか一項に記載の積層体と、を備える。
<積層基材および積層体の全体構成>
まず、積層基材11および積層体10の全体構成について説明する。図1に示すように、積層体10は、積層基材11と、積層基材11の一方の面上に形成された機能層15と、を有している。積層基材11は、光透過性基材12と、光透過性基材12と積層された屈折率調整層13と、を有している。積層体10内において、屈折率調整層13は、光透過性基材12と機能層15との間に位置する。すなわち、機能層15は、屈折率調整層13の側から積層基材11に積層されている。図示された例において、積層基材11内において、屈折率調整層13は、光透過性基材12の一方の面上に形成されている。すなわち、積層体10は、光透過性基材12、屈折率調整層13、機能層15の三つの層をこの順番で含むように構成されており、屈折率調整層13は、光透過性基材12および機能層15に隣接して配置され、光透過性基材12および機能層15との間で、それぞれ、界面を形成している。
Δn≧0.0005
なる条件を満たすか否かで判断する。すなわち、光透過性基材12の面内での最大屈折率差Δnが0.0005以上であれば、当該光透過性基材12は複屈折性を有しており、光透過性基材12の面内での最大屈折率差Δnが0.0005未満であれば、当該光透過性基材12は複屈折性を有していないと判断する。同様に、屈折率調整層13の面内での最大屈折率差Δnが0.0005以上であれば、当該屈折率調整層13は複屈折性を有しており、屈折率調整層13の面内での最大屈折率差Δnが0.0005未満であれば、当該屈折率調整層13は複屈折性を有していないと判断する。複屈折率は、王子計測機器社製KOBRA−WRを用いて、測定角0°かつ測定波長552.1nmに設定して、測定を行うことができる。この時、複屈折率算出には、膜厚、平均屈折率が必要となる。膜厚は、例えば、光透過性フィルムについては、マイクロメーター(Digimatic Micrometer、ミツトヨ社製)や、電気マイクロメータ(アンリツ社製)を用いて測定することができる。
また、屈折率調整層13が薄膜層として形成されている場合には、TEM断面観察し、対象層の高さを、少なくとも10点以上測定し、平均値を膜厚として求められる。平均屈折率は、アッベ屈折率計(アタゴ社製 NAR−4T)や、日本分光(株)社製の「エリプソメーター」を用いて測定することができる。
n1x<n2x<n3x、又は、n1x>n2x>n3x
なる条件(a)を満たすようになっている。加えて、光透過性基材12の面内において遅相軸方向dxに直交する進相軸方向dyにおける屈折率n1y、光透過性基材11の進相軸方向dyと平行な方向における屈折率調整層13の屈折率n2y、および、光透過性基材12の進相軸方向dyと平行となる方向における機能層15の屈折率n3yが、
n1y<n2y<n3y、又は、n1y>n2y>n3y
なる条件(b)を満たす。
n2x>n2y
なる条件(c)を満たすことが好ましい。この場合、機能層15と複屈性を有した光透過性基材12との間において、光透過性基材12の遅相軸方向dxにおける屈折率を二回にわけて少しずつ変化させることができ、且つ、光透過性基材12の進相軸方向dyにおける屈折率も二回にわけて少しずつ変化させることができる。これにより、機能層15の側から積層体10に入射した光が、光透過性基材12に進む間に、反射により進行方向を折り返すことを、より効果的に防止することができる。この結果、干渉縞をより効果的に目立たなくさせることができる。
(n1x−n1y)>(n2x−n2y)
なる条件(d)を満たすことがさらに好ましい。例えば、光透過性基材12の遅相軸方向dxと平行な方向における機能層15の屈折率n3x、および、光透過性基材12の進相軸方向dyと平行な方向における機能層15の屈折率n3yが大きく相違しない場合、典型的には、機能層15が光学等方性であり、複屈性を有していない場合には、条件(c)及び条件(d)が満たされることによって、屈折率調整層13が必要以上に強い複屈折性を呈することなく、光透過性基材12の遅相軸方向dxおよび進相軸方向dyの両方向において、屈折率を少しずつ二回にわけて変化させることができる。これにより、機能層15の側から積層体10に入射した光が、光透過性基材12に進む間に、反射により進行方向を折り返すことを、さらに効果的に防止することができる。この結果、干渉縞をさらに効果的に目立たなくさせることができる。
これにより、機能層15の側から積層体10に入射した光が、光透過性基材12に進む間に、反射により進行方向を折り返すことを、極めて効果的に防止することができ、干渉縞を極めて効果的に目立たなくさせることができる。
同様に、図4における屈折率調整層13上に描かれた楕円は、屈折率調整層13の屈折率の分布を示す屈折率楕円体の一例についての屈折率調整層13上での断面を示している。
n1<n2<n3、又は、n1>n2>n3
なる条件(h)を満たすことが好ましい。条件(h)が満たされる場合、屈折率調整層13に適度な複屈折性が付与され、これにより、干渉縞を効果的に目立たなくさせることができる。
|n2x-((n1x+n3x))/2)|<
|((n2x+n2y)/2)-((n1x+n3x)/2)|、且つ、
|n2y-((n1y+n3y))/2)|<
|((n2x+n2y)/2)-((n1y+n3y)/2)|
なる条件(i)を満たすことが好ましい。条件(i)が満たされる場合、屈折率調整層13と光透過性基材12との間の屈折率差、並びに、屈折率調整層13と機能層15との間の屈折率差が、大きくなってしまうことを回避することができ、結果として、光透過性基材12から機能層15までの屈折率差を少しずつ変化させていくことができる。これにより、干渉縞を効果的に目立たなくさせることができる。
Re〔nm〕=(nmax−nmin)×d〔nm〕
特許文献1でも開示されているように、ニジムラを防止する観点からは、積層基材11が、3000nm以上のリタデーションを有していることが好ましい。また、条件(d)や条件(g)が満たされる場合には、光透過性基材12が、3000nm以上のリタデーションを有していることがさらに好ましい。リタデーションは、例えば、王子計測機器製KOBRA−WRを用いて、測定角0°且つ測定波長589.3nmに設定して、測定された値とすることができる。また、リタデーションは、二枚の偏光板を用いて、フィルムの配向軸方向(主軸の方向)を求め、配向軸方向に対して直交する二つの軸の屈折率(nx,ny)を、アッベ屈折率計(アタゴ社製 NAR−4T)によって求めた。ここで、より大きい屈折率を示す軸を遅相軸と定義する。フィルム厚みd(nm)は、電気マイクロメータ(アンリツ社製)を用いて測定し、単位をnmに換算した。屈折率差(nx−ny)と、フィルムの厚みd(nm)の積より、リタデーションを計算することもできる。
R(%)=(1−n)2/(1+n)2
日本分光社製)を用い、偏光測定の条件をS偏光として、S偏光の振動方向と当該測定対象の遅相軸の方向とが平行となる場合の反射率を5回測定して平均値を算出し、また、S偏光の振動方向と当該測定対象の進相軸の方向とが平行となる場合の反射率を5回測定して平均値を算出する。S偏光の振動方向と測定対象の遅相軸の方向とが平行となる場合の反射率の平均値を、次の式の反射率R(%)として、測定対象の遅相軸方向における屈折率nxを得ることができ、同様に、S偏光の振動方向と測定対象の進相軸の方向とが平行となる場合の反射率の平均値を、次の式の反射率R(%)として、測定対象の進相軸方向における屈折率nyを得ることができる。
R(%)=(1−n)2/(1+n)2
次に、積層基材11の光透過性基材12について詳述する。光透過性基材12は、少なくとも面内位相差を有する可視光透過性を有した基材であれば特に限定されない。例えば、光透過性基材12として、ポリカーボネート、シクロオレフィンポリマー、アクリル、ポリエステル等からなる基材が挙げられる。このうち、ポリエステル基材は、コスト及び機械的強度の面において有利である。以下の説明では、ポリエステル基材を例にあげて、面内に複屈折率を有する光透過性基材12をより詳細に説明する。
次に、屈折率調整層13について詳述する。屈折率調整層13は、上述した条件(a)〜(i)の一以上を満たすことにより、光透過性基材12と機能層15との間に存在する界面の屈折率差を低減し、当該界面での反射を抑制して干渉縞を目立たなくさせようとするものである。屈折率調整層13は、面内複屈折性を有し可視光透過性を有する層であれば、特に限定されない。また、屈折率調整層13は、光透過性基材12と機能層15との間で屈折率を調節すること以外の機能を有していてもよい。例えば、プライマー層、より具体的な例として、易接着層として機能するプライマー層に、面内屈折率差を付与することによって、当該プライマー層が屈折率調整層13を形成するようにしてもよい。
また、屈折率調整層13の厚みの上限は、屈折率調整層13の機能上、特に設定されるものではないが、工業上の理由から1μm以下に設定されることが好ましい。
次に、機能層15および第2機能層17について説明する。機能層15および第2機能層17は、積層体10において、何らかの機能を発揮することを意図された層であり、具体的には、例えば、ハードコート性、反射防止性、帯電防止性、または防汚性等の機能を発揮する層が挙げられる。既に説明したように、積層体10に含まれる機能層の数は、当該積層体の用途等に応じて、一以上の任意の数とすることができる。図1に示された積層体10では、機能層15が、積層基材11の一方の面上に形成されたハードコート層から構成されている。また、図2に示された積層体10では、機能層15が、積層基材11の一方の面上に形成されたハードコート層から構成されるとともに、第2機能層17が、ハードコート層の積層基材11とは逆側の面上に形成された低屈折率層から構成されている。以下、機能層15としてのハードコート層、および、第2機能層17としての低屈折率層について、説明する。
一実施の形態として以上に説明してきた積層基材11および積層体10によれば、積層基材11上に設けられた機能層15と、積層基材11の光透過性基材12との間に、屈折率調整層13が設けられている。この屈折率調整層13の屈折率は、面内複屈折性を有しており、同様に面内複屈折性を有する光透過性基材12の遅相軸方向dxおよび進相軸方向dyの両方向に沿った屈折率を、光透過性基材12と機能層15との間で調整している。より具体的には、光透過性基材12と機能層15との間に、光透過性基材12の遅相軸方向dxにおける屈折率が大きく変化する光学界面が存在せず、且つ、光透過性基材12の進相軸方向dyにおける屈折率が大きく変化する光学界面も存在しないようになっている。すなわち、光透過性基材12と機能層15との間に、屈折率差が大きいことから反射率が高くなってしまう界面が存在しないようになる。したがって、機能層15の側から積層体10内に入射したが光が、面内複屈折性を有した光透過性基材12に到達するまでに反射してしまうことを効果的に防止することができる。これにより、積層体10の表面で反射する光と、積層体10の内部で反射する光と、の干渉に起因して視認され得るようになる干渉縞を効果的に目立たなくさせることができる。
積層基材11および積層体10は、例えば、偏光板20に組み込んで使用することができる。図5は、図1に示された積層体10および積層基材11を組み込んだ偏光板20の概略構成図である。図5に示されるように偏光板20は、積層体10と、偏光素子21と、保護フィルム22とを備えている。偏光素子21は、積層基材11における機能層15が形成されている面とは反対側の面に形成されている。保護フィルム22は、偏光素子21の積層体10が設けられている面とは反対側の面に設けられている。保護フィルム22は位相差フィルムであってもよい。
積層基材11、積層体10および偏光板20は、液晶表示パネルに組み込んで使用することができる。図6は、図1に示された積層体10および積層基材11、並びに、図5に示された偏光板20を組み込んだ液晶表示パネル30の概略構成図である。
積層基材11、積層体10、偏光板20、液晶表示パネル30は、画像表示装置に組み込んで使用することができる。画像表示装置としては、例えば液晶ディスプレイ(LCD)、陰極線管表示装置(CRT)、プラズマディスプレイ(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)、フィールドエミッションディスプレイ(FED)、タッチパネル、タブレットPC、電子ペーパー等が挙げられる。図7は、図1に示された積層体10および積層基材11、図5に示された偏光板20、並びに、図6に示された液晶表示パネル30を組み込んだ画像表示装置40の一例である液晶ディスプレイの概略構成図である。
また、上述した積層基材11および積層体10は、画像表示装置30の表示面上に直接配置される用途以外の用途として、タッチパネルセンサを介して画像表示装置30上に設けられるようにしてもよい。この例においては、予めタッチパネルセンサ上に直接或いはたの部材を介して積層基材11又は積層体10を配置してなるタッチパネル装置を用意しておき、このタッチパネル装置を画像表示装置上に設けるようにしてもよい。
ポリエチレンテレフタレート材料を290℃で溶融して、フィルム形成ダイを通して、シート状に押出し、水冷冷却した回転急冷ドラム上に密着させて冷却し、未延伸フィルムを作製した。この未延伸フィルムを二軸延伸試験装置(東洋精機製)にて、120℃にて1分間予熱した後、120℃にて、延伸倍率4.5倍に延伸した後、その延伸方向とは90度の方向に延伸倍率1.5倍にて延伸を行い、n1x=1.70、n1y=1.60、膜厚80μm、リタデーション=8000nmの光透過性基材を得た。
ポリエチレンテレフタレート材料を290℃で溶融して、フィルム形成ダイを通して、シート状に押出し、水冷冷却した回転急冷ドラム上に密着させて冷却し、未延伸フィルムを作製した。この未延伸フィルムを二軸延伸試験装置(東洋精機製)にて、120℃にて1分間予熱した後、120℃にて、延伸倍率4.5倍に延伸した後、その延伸方向とは90度の方向に延伸倍率1.5倍にて延伸を行い、n1x=1.70、n1y=1.60、膜厚33μm、リタデーション=3300nmの光透過性基材を得た。得られた光透過性基材上に、実施例1と同様にして屈折率調整層及び機能層を形成して、実施例2に係る積層体を得た。すなわち、実施例2に係る積層体は、実施例1に係る積層体と、光透過性基材の厚みが異なっている。
実施例1の屈折率調整層の変わりに、ペンタエリスリトールトリアクリレート:五酸化アンチモン=7:3からなる中間層を用いた以外は、実施例1に係る積層体と同様の方法にて、比較例1に係る積層体を作製した。比較例1に係る積層体の中間層は光学的に等方性であり、n2x=n2y=1.575であった。
ポリエチレンテレフタレート材料を290℃で溶融して、フィルム形成ダイを通して、シート状に押出し、水冷冷却した回転急冷ドラム上に密着させて冷却し、未延伸フィルムを作製した。この未延伸フィルムを二軸延伸試験装置(東洋精機製)にて、120℃にて1分間予熱した後、120℃にて、延伸倍率4.5倍に延伸した後、その延伸方向とは90度の方向に延伸倍率1.5倍にて延伸を行い、n1x=1.70、n1y=1.60、膜厚28μm、リタデーション=2800nmの光透過性基材を得た。得られた光透過性基材上に、実施例1と同様にして屈折率調整層及び機能層を形成して、参考例1に係る積層体を得た。すなわち、実施例2に係る積層体は、実施例1に係る積層体と、光透過性基材の厚みが異なっている。
光透過基材の屈折率とリタデーションは、次のようにして測定した。まず、延伸後の光透過基材を、二枚の偏光板を用いて、フィルムの配向軸方向を求め、配向軸方向に対して直交する二つの軸の波長590nmに対する屈折率(nx,ny)を、アッベ屈折率計(アタゴ社製 NAR−4T)によって求めた。ここで、より大きい屈折率を示す軸を遅相軸と定義する。フィルム厚みd(nm)は、電気マイクロメータ(アンリツ社製)を用いて測定し、単位をnmに換算した。屈折率差(n1x−n1y)と、フィルムの厚みd(nm)の積より、リタデーションを計算した。
屈折率調整層の屈折率は、次のようにして測定した。実施例1および2に用いた光重合性液晶化合物の場合、光学的に等方性であるガラス基板上に、配向膜材料であるポリイミドを塗布し、ラビング処理を施す。この基材上に光重合性液晶化合物を、シクロヘキサノンとn−プロピルアルコールの混合溶媒(溶媒比9:1)に20質量%溶解させたインキを、スピンコーターにより、乾燥後の膜厚が1umとなるように、塗布した。次いで、70℃で4分間加熱して溶剤を乾燥除去すると共に、該光重合性液晶化合物を配向させ、さらに、塗工面に紫外線を照射することにより、上記光重合性液晶化合物を固定化して得た屈折率調整層を、光透過基材と同様の方法にて、屈折率を測定した。
複屈折を有するか否かは、次のようにして判断した。王子計測機器製KOBRA−WRを用いて、測定角0°且つ測定波長589.3nmに設定して、面内位相差を測定し、面内位相差が20nm未満のものは、複屈折を有さないと判断し、20nm以上のものは、複屈折を有すると判断した。
等方性である材料(中間層および機能層)の屈折率は、アッベ屈折率計(アタゴ社製 NAR−4T)によって測定した。
各積層体における干渉縞の発生を次のようにして評価した。フナテック社製の干渉縞検査ランプ(Naランプ)を用い、目視にて得られた防眩性フィルムの干渉縞の有無を検査し、下記基準で評価した。得られた防眩性フィルムは、塗工面の反対側を黒インキで塗りつぶし、塗工面に干渉縞検査ランプをあて、反射観察にて評価を行った。
○:干渉縞が観察されるが、極めて薄く、実使用上問題ないレベル。
×:干渉縞がはっきり観察される。
各サンプルにおけるニジムラの発生を次のようにして評価した。各積層基材を、LEDバックライト液晶モニター(FLATORON IPS226V(LG Electronics Japan社製))の観察者側の偏光素子上に配置し、液晶表示装置を作製した。なお、ポリエステル基材の遅相軸と液晶モニターの観察者側の偏光素子の吸収軸とのなす角度が45°となるように配置した。そして、暗所及び明所(液晶モニター周辺照度400ルクス)にて、正面及び斜め方向(約50度)から目視及び偏光サングラス越しに表示画像の観察を行い、ニジムラの有無を以下の基準に従い評価した。偏光サングラス越しの観察は、目視よりも非常に厳しい評価法である。観察は10人で行い、最多数の評価を観察結果としている。
◎:ニジムラが観測されない
○:ニジムラが観測されるが、実使用上問題ないレベル
×:ニジムラが強く観測される
Claims (16)
- 積層基材と、
前記積層基材の一方の面上に設けられた機能層と、を備え、
前記積層基材は、
面内の複屈折性を有する光透過性基材と、
前記光透過性基材と積層され面内の複屈折性を有する光透過性基材であって、前記光透過性基材と前記機能層との間に位置して前記光透過性基材と前記機能層との間に存在する界面の屈折率差を前記光透過性基材と前記機能層との屈折率差よりも低減するようになる屈折率調整層と、を備え、
前記光透過性基材の面内における最も屈折率が大きい方向である遅相軸方向における屈折率n1x、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2x、および、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行となる方向における前記機能層の屈折率n3xが、
n1x>n2x>n3x
なる関係を満たし、
前記光透過性基材の前記遅相軸方向に直交する進相軸方向における屈折率n1y、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2y、および、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行となる方向における前記機能層の屈折率n3yが、
n1y<n2y<n3y
なる関係を満たす、積層体。 - 前記機能層は、光学等方性である、請求項1に記載の積層体。
- 前記積層基材を法線方向から観察した場合に、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と、前記屈折率調整層の面内における最も屈折率が大きい方向である前記屈折率調整層の遅相軸方向と、によってなされる角度の大きさが、45°未満である、請求項1又は2に記載の積層体。
- 前記光透過性基材の前記遅相軸方向が、前記屈折率調整層の面内における最も屈折率が大きい方向である前記屈折率調整層の遅相軸方向と平行となっている、請求項1〜3のいずれか一項に記載の積層体。
- 前記光透過性基材の前記遅相軸方向における屈折率n1x、前記光透過性基材の前記進相軸方向における屈折率n1y、前記屈折率調整層の面内における最も屈折率が大きい方向である前記屈折率調整層の遅相軸方向における屈折率n2a、および、前記屈折率調整層の前記遅相軸方向に直交する前記屈折率調整層の進相軸方向における屈折率n2bが、
(n1x−n1y)>(n2a−n2b)なる関係を満たす、請求項3または4に記載の積層体。 - 前記光透過性基材の前記遅相軸方向における前記屈折率n1x、前記光透過性基材の前記遅相軸方向dxと平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2x、及び、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行な方向における前記機能層の屈折率n3xが、
n2=(n2x+n2y)/2、且つ
|n2x−((n1x+n3x)/2)|<|n2−((n1x+n3x)/2)|なる関係を満たし、
前記光透過性基材の前記進相軸方向における屈折率n1y、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2y、及び、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行な方向における前記機能層の屈折率n3yが、
n2=(n2x+n2y)/2、且つ
|n2y−((n1y+n3y)/2)|<|n2−((n1y+n3y)/2)|なる関係を満たす、請求項1〜5のいずれか一項に記載の積層体。 - 前記積層基材が、3000nm以上のリタデーションを有する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の積層体。
- 前記光透過性基材が、3000nm以上のリタデーションを有する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の積層体。
- 前記機能層は、ハードコート層である、請求項1〜8のいずれか一項に記載の積層体。
- 前記機能層の前記積層基材側とは反対側に設けられた第2機能層を、さらに備える請求項1〜9のいずれか一項に記載の積層体。
- 前記第2機能層が、前記機能層よりも低い屈折率を有する低屈折率層である、請求項10に記載の積層体。
- 偏光素子と、
請求項1〜11のいずれか一項に記載の積層体と、を備える、偏光板。 - 請求項1〜11のいずれか一項に記載の積層体、または、請求項12の偏光板を備える、液晶表示パネル。
- 請求項1〜11のいずれか一項に記載の積層体、または、請求項12の偏光板を備える、画像表示装置。
- 積層基材の一方の面上に積層して機能層を使用する方法であって、
前記積層基材は、
面内の複屈折性を有する光透過性基材と、
前記光透過性基材と積層され面内の複屈折性を有する屈折率調整層であって、前記光透過性基材と前記機能層との間に位置して前記光透過性基材と前記機能層との間に存在する界面の屈折率差を前記光透過性基材と前記機能層との屈折率差よりも低減するようになる屈折率調整層と、を備え、
前記光透過性基材の面内における最も屈折率が大きい方向である遅相軸方向における屈折率n1x、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2x、および、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行となる方向における前記機能層の屈折率n3xが、
n1x>n2x>n3x
なる関係を満たし、
前記光透過性基材の前記遅相軸方向に直交する進相軸方向における屈折率n1y、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2y、および、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行となる方向における前記機能層の屈折率n3yが、
n1y<n2y<n3y
なる関係を満たす、機能層の使用方法。 - 積層基材の一方の面上に機能層を積層する工程を備え、
前記積層基材は、
面内の複屈折性を有する光透過性基材と、
前記光透過性基材と積層され面内の複屈折性を有する屈折率調整層であって、前記光透過性基材と前記機能層との間に位置して前記光透過性基材と前記機能層との間に存在する界面の屈折率差を前記光透過性基材と前記機能層との屈折率差よりも低減するようになる屈折率調整層と、を備え、
前記光透過性基材の面内における最も屈折率が大きい方向である遅相軸方向における屈折率n1x、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2x、および、前記光透過性基材の前記遅相軸方向と平行となる方向における前記機能層の屈折率n3xが、
n1x>n2x>n3x
なる関係を満たし、
前記光透過性基材の前記遅相軸方向に直交する進相軸方向における屈折率n1y、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行な方向における前記屈折率調整層の屈折率n2y、および、前記光透過性基材の前記進相軸方向と平行となる方向における前記機能層の屈折率n3yが、
n1y<n2y<n3y
なる関係を満たす、積層体の製造方法。
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