JP6858646B2 - タッチ検出装置及びタッチ検出方法 - Google Patents

Description

本発明は、複数のタッチを同時に検出可能なタッチ検出装置及びタッチ検出方法に関するものである。

ユーザがタッチした位置座標を特定することが可能なタッチパネルは、優れたユーザーインターフェース手段としてディスプレイや携帯端末用に広く採用されている。このようなタッチパネルの代表的な方式としては、例えば抵抗膜方式や静電容量方式が挙げられる。特に投射型の静電容量方式のタッチパネルでは、複数のタッチを同時に検出できるため、ズームイン／ズームアウトや回転等の多彩なユーザ操作が実現可能である。

例えば、特許文献１に記載の静電容量方式のタッチパネルは、絶縁層を挟んで対向する複数の行電極と列電極を有しており、行電極と列電極の交点に設けられたタッチセンサの静電容量の変化に基づく信号の分布の極大を測定してマルチタッチを検出している。

特開２０１５−１２５５６９号公報

近年ディスプレイの大型化に伴い、ディスプレイに用いられるタッチパネルも大型化している。一方で、タッチパネルに用いるタッチセンサの数を増やすことは消費電力や製造コストが大きくなるため難しい。このため、タッチパネルが大型化すると、タッチセンサの配置間隔は大きくなり、タッチパネルのタッチ分解能は低下する傾向にある。

特許文献１に記載の技術では、タッチパネルが大型化してタッチセンサの配置間隔がマルチタッチのタッチ間隔と同等、或いはそれ以上になると、複数のタッチを区別することができなってしまうという課題があった。

本発明の一観点によれば、複数のタッチセンサが２次元状に配置されたタッチパネルと、タッチセンサで検知した信号の２次元分布に基づいてマルチタッチを検出するタッチ検出部と、を備えたタッチ検出装置であって、タッチ検出部において、信号の２次元分布の極大からタッチポイント及びタッチ数を検出する第１の検出部と、タッチポイントの周辺領域における信号の総和からタッチ数を推定する第２の検出部と、を有し、第１の検出部で検出したタッチ数と第２の検出部で推定したタッチ数とが一致しない場合は、周辺領域から他のタッチ候補を検索するタッチ検出装置が提供される。

本発明の別観点によれば、複数のタッチセンサが２次元状に配置されたタッチパネルと、タッチセンサで検知した信号の２次元分布に基づいてマルチタッチを検出するタッチ検出部と、を備えたタッチ検出装置において用いられるタッチ検出方法であって、信号の２次元分布の極大からタッチポイント及びタッチ数を検出する第１の検出ステップと、タッチポイントの周辺領域における信号の総和からタッチ数を推定する第２の検出ステップと、第１の検出ステップで検出したタッチ数と第２の検出ステップで推定したタッチ数とが一致しない場合は、周辺領域から他のタッチ候補を検索する検索ステップと、を有するタッチ検出方法が提供される。

本発明によれば、複数のタッチを同時に検出する分解能を向上し得るタッチ検出装置及びタッチ検出方法を提供することができる。

第１実施形態に係るタッチ検出装置の構成を概念的に示すブロック図である。 相互容量検出型の静電容量方式のタッチパネルの構成の例を概略的に示す図である。 第１実施形態に係るタッチ検出装置におけるタッチセンサの配列の例を模式的に示す図である。 第１実施形態に係るタッチ検出装置におけるタッチ候補の検索処理を説明するための図である。 第１実施形態に係るタッチ検出方法を示すフローチャートである。 第２実施形態に係るタッチ検出方法における重心計算処理を説明するための図である。

以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。また、各図において同一、又は相当する機能を有するものは、同一符号を付し、その説明を省略又は簡潔にすることもある。

（第１実施形態）
以下、本発明の第１実施形態に係るタッチ検出装置について説明する。図１は、第１実施形態に係るタッチ検出装置の構成を概念的に示すブロック図である。本実施形態のタッチ検出装置は、タッチパネル１及び制御装置２を備えて構成される。図１に示すタッチ検出装置は、例えばディスプレイ装置や携帯端末等に対して適用され得る。

タッチパネル１は、原理的にマルチタッチを検出することが可能なものであればよい。例えば図２には、相互容量検出型の静電容量方式のタッチパネル１の構成の例を概略的に示している。相互容量検出型のタッチパネル１は、図２に示すように、絶縁層を挟んで対向する複数の行電極１０１と列電極１０２を有している。そして、行電極１０１と列電極１０２の交点に設けられた後述のタッチセンサの静電容量の変化に基づく信号を測定してタッチを検知する。タッチパネル１は、相互容量検出型以外にも、例えば自己容量検出型であってもよい。

制御装置２は、タッチパネル１を制御するためのマイクロプロセッサ及びメモリを備えた半導体ＩＣであって、タッチ検出部２０、駆動部２１、及び制御部２２を有している。駆動部２１は、図２に示すように、タッチパネル１の行電極１０１と列電極１０２を介してタッチセンサに電圧を印加する。

タッチ検出部２０は、行電極１０１と列電極１０２の交点に設けられたタッチセンサの静電容量の変化に基づく信号の２次元分布を解析してマルチタッチを検出する。本実施形態のタッチ検出部２０は、第１の検出部２０１と第２の検出部２０２とを有することを特徴としている。第１の検出部２０１と第２の検出部２０２の具体的な動作については、この後、図３を用いて説明する。

制御部２２は、制御装置２の外部からの入力に応じてタッチパネル１の全体を制御するとともに、タッチ検出部２０が検出したタッチデータを制御装置２の外部に出力する。

図３は、第１実施形態に係るタッチ検出装置におけるタッチセンサ１００の配列の例を模式的に示す図である。本実施形態のタッチパネル１は、２次元状に配置された複数のタッチセンサ１００を有している。

図３（ａ）〜図３（ｃ）は、シングルタッチ１１０、マルチタッチ１１１〜１１３、ビッグタッチ１１４が、タッチセンサ１００の配列に対して行われた場合の例をそれぞれ示している。また、図３（ｄ）〜図３（ｆ）は、シングルタッチ１１０、マルチタッチ１１１〜１１３、ビッグタッチ１１４が行われた場合の、タッチセンサ１００の静電容量の変化に基づく信号の２次元分布をそれぞれ示している。

ここで、シングルタッチ１１０とは、例えば一つの指によってタッチが行われたような場合である。また、マルチタッチ１１１〜１１３とは、例えば複数の指によって同時にタッチが行われたような場合である。また、ビッグタッチ１１４とは、例えば面積の大きい親指等で広範囲にタッチが行われたような場合や、水滴等が静電容量方式のタッチパネル１に付着したような場合である。

なお、図３（ａ）〜図３（ｃ）には、６行×６列（又は５列）の計３３個のタッチセンサ１００のみを図示しているが、一般的なタッチパネル１はより多くのタッチセンサ１００を有している。また、図３（ａ）〜図３（ｃ）では、タッチセンサ１００の形状をクロス形状としたが、タッチセンサ１００の形状は、行方向の長さと列方向の長さを等しくした十字形状であってもよいし、その他の例えば長方形状や正方形状等であってもよい。タッチセンサ１００をクロス形状又は十字形状とすることで、隣接するタッチセンサ１００の数を増やすことができるため、後述の重心計算における精度を向上させることができる。

シングルタッチ１１０、マルチタッチ１１１〜１１３、ビッグタッチ１１４は、それぞれ取得される信号分布に特徴があり、図３（ｄ）〜図３（ｆ）に示すような信号の２次元分布を解析して判別することが可能である。例えばビッグタッチ１１４は、図３（ｆ）に示すように、所定の閾値（図３（ｆ）では２００）を超える信号の極大を有していることで判別が可能である。

次に、図３（ａ）に示すシングルタッチ１１０の検出方法について説明する。前述のように、本実施形態のタッチ検出部２０は、第１の検出部２０１及び第２の検出部２０２を有することを特徴としている。まず、第１の検出部２０１は、ユーザによりタッチされた位置座標（以下「タッチポイント」）と、タッチポイントの総数（以下「タッチ数」）を、信号分布の極大から検出する。例えば図３（ｄ）では、信号分布において所定の第１の閾値（＝１０）を超えている極大（＝９０）を、シングルタッチ１１０として検出している。

また、第１の検出部２０１は、検出したシングルタッチ１１０に対してユニークなＩＤを付加（ラベリング）する。そして、シングルタッチ１１０の周辺のラベリング領域１２０を、シングルタッチ１１０の信号分布を特徴付ける領域として設定する。例えば図３（ｄ）では、シングルタッチ１１０の極大に隣接する６つのタッチセンサ１００の領域を、ラベリング領域１２０として設定している。

なお、ここで設定されるラベリング領域１２０は、後の重心計算処理において重心を計算するための重心計算領域としても利用される。このラベリング領域１２０は、検出した極大値の大きさ等に応じて範囲を異ならせることも可能であるが、ラベリング領域１２０を広くし過ぎると後の重心計算処理に時間を要してタッチパネル１の応答が遅くなってしまうので、用途に応じて適宜調整され得る。

一方、第２の検出部２０２は、第１の検出部２０１が設定したラベリング領域１２０における信号の総和から、タッチ数を推定する。例えば図３（ｄ）では、ラベリング領域１２０における信号の総和（＝１２７）を所定の第２の閾値（＝８０）で除算し、その値（１２７／８０＝１．５９）の小数点以下を切り捨てた値（＝１）をタッチ数として推定している。タッチ検出部２０は、第１の検出部２０１で検出したタッチ数と第２の検出部２０２で推定したタッチ数とが、共に１で一致しているので、シングルタッチ１１０が行われたと判別する。なお、第２の検出部２０２で総和を計算するシングルタッチ１１０の周辺領域は、ラベリング領域１２０とは別の領域であってもよい。例えば、何らかの（所定の閾値以上の）信号が検出された領域で総和を計算するようにしてもよい。

次に、図３（ｂ）に示すマルチタッチ１１１〜１１３の検出方法について説明する。まず、第１の検出部２０１は、ユーザによりタッチされたタッチポイント及びタッチ数を、信号分布の極大から検出する。例えば図３（ｅ）では、信号分布において所定の第１の閾値（＝１０）を超えている極大（＝８１、７２）を、それぞれマルチタッチ１１１、１１２として検出している。

また、第１の検出部２０１は、検出したマルチタッチ１１１、１１２に対してユニークなＩＤを付加（ラベリング）する。そして、マルチタッチ１１１、１１２の周辺のラベリング領域１２１、１２２を、マルチタッチ１１１、１１２の信号分布を特徴付ける領域としてそれぞれ設定する。例えば図３（ｅ）では、マルチタッチ１１１の極大に隣接する６つのタッチセンサ１００の領域を、ラベリング領域１２１として設定している。また、マルチタッチ１１２の極大に隣接する６つのタッチセンサ１００の領域を、ラベリング領域１２２として設定している。

ここで、図３（ｅ）では、第１の検出部２０１はマルチタッチ１１３を検出することができておらず、タッチ数は２であると検出している。これは、図３（ｂ）においてマルチタッチ１１２、１１３が互いに近接しすぎており、タッチセンサ１００の配置間隔がマルチタッチ１１２、１１３のタッチ間隔と同等、或いはそれ以上となっているためである。この結果、図３（ｅ）では、マルチタッチ１１３の信号にマルチタッチ１１２の信号が重畳されて、マルチタッチ１１３の極大が消失してしまっている。また、図３（ｅ）では、マルチタッチ１１３の信号が２つのタッチセンサ１００に分散しており、これも、第１の検出部２０１がマルチタッチ１１３の極大を検出できない理由の一つとなっている。

そこで、第２の検出部２０２は、第１の検出部２０１が設定したラベリング領域１２１、１２２における信号の総和から、タッチ数を推定する。例えば図３（ｅ）では、ラベリング領域１２１、１２２における信号の総和（＝２９２）を所定の第２の閾値（＝８０）で除算し、その値（２９２／８０＝３．６５）の小数点以下を切り捨てた値（＝３）をタッチ数として推定している。なお、第２の検出部２０２で総和を計算するマルチタッチ１１１、１１２の周辺領域は、ラベリング領域１２１、１２２とは別の領域であってもよい。例えば、何らかの（所定の閾値以上の）信号が検出された領域で総和を計算するようにしてもよい。

タッチ検出部２０は、第１の検出部２０１で検出したタッチ数（＝２）と、第２の検出部２０２で推定したタッチ数（＝３）とが一致していないため、第１の検出部２０１により検出されなかったタッチポイントが他に存在すると判断する。そして、ラベリング領域１２１、１２２内から他のタッチ候補を検索する。このタッチ候補の検索処理については、この後、図４を用いて説明する。

このように、本実施形態では、信号分布の極大からタッチポイントを検出する第１の検出部２０１と、信号の総和からタッチ数を推定する第２の検出部２０２を併用している。これにより、タッチセンサ１００の配置間隔がマルチタッチ１１２、１１３のタッチ間隔と同等、或いはそれ以上である場合でも、複数のタッチを区別することができる。

また、図３（ｃ）に示すビッグタッチ１１４を判別する場合も、第２の検出部２０２を併用することで、ビッグタッチ１１４をより正確に判別することができる。例えば図３（ｆ）では、ビッグタッチ１１４の周辺のラベリング領域１２４おける信号の総和は２６３１と非常に大きくなっている。従って、ラベリング領域１２４おける信号の総和が、所定の第３の閾値（図３（ｆ）では２０００）を超えている極大を、ビッグタッチ１１４として判別することができる。

なお、第１の検出部２０１で用いる第１の閾値や、第２の検出部２０２で用いる第２の閾値は、タッチセンサ１００の位置座標ごとに設定するようにしてもよい。これにより、タッチパネル１の端部に配置されたタッチセンサ１００と、タッチパネル１の中央部に配置されたタッチセンサ１００とで感度レベルが異なるような場合でも、タッチを正確に検出することができる。

図４は、第１実施形態に係るタッチ検出装置におけるタッチ候補の検索処理を説明するための図である。左側に示す図４（ｂ）及び図４（ｅ）は、先の図３（ｂ）及び図３（ｅ）と同じ図である。一方、図４（ｇ）及び図４（ｈ）は、第１の検出部２０１と第２の検出部２０２とでタッチ数とが一致しない場合に、他のタッチ候補を検索する処理の例を示している。

図４（ｇ）では、ラベリング領域１２１、１２２内において、マルチタッチ１１１、１１２を除いて最も大きい信号（＝３９）を、タッチ候補として検索している。このタッチ候補は、マルチタッチ１１２と近接しすぎて第１の検出部２０１では検出できなかったマルチタッチ１１３である。本実施形態では、このように第１の検出部２０１と第２の検出部２０２とを併用することで、マルチタッチ１１２、１１３のタッチ間隔が小さい場合でも両者を区別することができる。なお、タッチ候補の検索は、検索範囲を広げたりして、より高度な検索処理を行うことも可能であるが、アルゴリズムを複雑にし過ぎると検索処理に時間を要してタッチパネル１の応答が遅くなってしまうので、用途に応じて適宜調整され得る。

その後、第１の検出部２０１は、検索されたタッチ候補を含めて、再度、信号分布の極大値からタッチポイント及びタッチ数を検出する。そして、図４（ｈ）では、検出されたマルチタッチ１１１〜１１３に対してユニークなＩＤを付加（ラベリング）するとともに、マルチタッチ１１１〜１１３の信号分布を特徴付ける領域としてラベリング領域１２１〜１２３をそれぞれ設定する。

この結果、第１の検出部２０１で検出したタッチ数と第２の検出部２０２で推定したタッチ数とが、共に３で一致するので、タッチ検出部２０は、３つのマルチタッチ１１１〜１１３が行われたと判別する。その後、タッチ検出部２０は、検出されたマルチタッチ１１１〜１１３の重心を計算する。重心計算の具体的な方法については、この後、第２実施形態で図６を用いて説明する。

図５は、第１実施形態に係るタッチ検出方法を示すフローチャートである。図５は、これまでに説明したマルチタッチ１１１〜１１３の検出方法をフローチャートとして表したものである。

まず、ステップＳ０１において、駆動部２１は、タッチパネル１の行電極１０１と列電極１０２を介してタッチセンサ１００に電圧を印加する。タッチ検出部２０は、行電極１０１と列電極１０２の交点に設けられたタッチセンサ１００の静電容量の変化に基づく信号をＡＤ変換し、その２次元分布を取得する。

次に、ステップＳ０２において、タッチ検出部２０は、ステップＳ０１で取得した信号の２次元分布を解析して、タッチポイントを検出するための位置算出領域を設定する。この位置算出領域は、例えばステップＳ０１において何らかの（所定の閾値以上の）信号が検出された領域が設定される。以降の処理は、この位置算出領域において行われる。

ステップＳ０３において、第１の検出部２０１は、信号分布の極大からタッチポイント及びタッチ数を検出する。一方、ステップＳ０４において、第２の検出部２０２は、タッチポイントの周辺領域における信号の総和からタッチ数を推定する。ここで、ステップＳ０３とステップＳ０４は、どちらを先に行ってもよい。第２の検出部２０２による推定処理を、第１の検出部２０１による検出処理よりも後に行う場合は、図４に示したラベリング領域１２１、１２２を周辺領域として、信号の総和を計算する。一方、第２の検出部２０２による推定処理を、第１の検出部２０１による検出処理よりも先に行う場合は、ステップＳ０２において設定した位置算出領域を周辺領域として、信号の総和を計算する。

ステップＳ０５において、タッチ検出部２０は、第１の検出部２０１で検出したタッチ数と第２の検出部２０２で推定したタッチ数とが一致するか否かを判定する。タッチ数が一致する場合（ＹＥＳ）は、ステップＳ０６に進み、検出したマルチタッチ１１１〜１１３の重心計算を含む座標補正処理を行い、タッチ検知処理を終了する。一方、タッチ数が一致しない場合（ＮＯ）は、ステップＳ０７に進む。

ステップＳ０７において、タッチ検出部２０は、第１の検出部２０１により検出されなかったタッチポイントが他に存在すると判断して、第１の検出部２０１により設定されたラベリング領域１２１、１２２から他のタッチ候補を検索する。この検索処理は、例えば図４を用いて説明したとおりである。

その後、ステップＳ０３に戻り、第１の検出部２０１は、検索されたタッチ候補を含めて、再度、信号分布の極大からタッチポイント及びタッチ数を検出する。そして、ステップＳ０５において、タッチ検出部２０は、第１の検出部２０１で検出したタッチ数と第２の検出部２０２で推定したタッチ数とが一致するまで、ステップＳ０７〜ステップＳ０５を繰り返す。タッチ数が一致すると、ステップＳ０６に進み、検出したマルチタッチ１１１〜１１３の重心計算を含む座標補正処理を行い、タッチ検知処理を終了する。

以上のように、本実施形態では、タッチセンサで検知した信号の２次元分布の極大からタッチポイント及びタッチ数を検出する第１の検出部と、タッチポイントの周辺領域における信号の総和からタッチ数を推定する第２の検出部とを有している。そして、第１の検出部で検出したタッチ数と第２の検出部で推定したタッチ数とが一致しない場合は、周辺領域から他のタッチ候補を検索するようにしている。

このような構成によれば、タッチセンサ１００の配置間隔がタッチ間隔と同等、或いはそれ以上であるような場合や、タッチが２つのタッチセンサ１００に分散しているような場合でも、複数のタッチを区別することができる。特に、本実施形態では、近年大型化しているディスプレイに用いられるインセル型或いはオンセル型のタッチ検出装置において、消費電力やコストを抑えつつ複数のタッチを同時に検出する分解能を向上させることができる。

（第２実施形態）
以下、本発明の第２実施形態に係るタッチ検出装置について説明する。本実施形態では、図５に示したステップＳ０６における座標補正処理をより高精度に行う方法について説明する。図６は、第２実施形態に係るタッチ検出方法における重心計算処理を説明するための図である。

一番左側に示す図６（ｈ）は、先の図４（ｈ）と同じ図である。一方、図６（ｉ）〜図６（ｍ）は、先の第１実施形態で説明した方法を用いて検出したマルチタッチ１１１〜１１３に対する重心計算処理の例を示している。以下では、第１実施形態と異なる点を中心に説明を行い、第１実施形態と重複する説明については省略又は簡潔にすることもある。

まず、第１のタッチ１１１の重心計算方法について図６（ｉ）を用いて説明する。第１のタッチ１１１のラベリング領域１２１内には、他の第２のタッチ１１２、第３のタッチ１１３が存在しない。すなわち、第１のタッチ１１１の信号分布は、他の第２のタッチ１１２、第３のタッチ１１３の信号による影響が少ないので、通常の重心計算方法を用いることができる。具体的には、タッチ検出部２０は、第１のタッチ１１１の重心ｘ_Ｇを、下式（１）により計算する。
ｘ_Ｇ＝Σ（ｓ（ｘ_ｉｊ）・ｘ_ｉｊ）／Σｓ（ｘ_ｉｊ） （１）

ここで、重心ｘ_Ｇ、及び位置座標ｘ_ｉｊはベクトルである。信号ｓ（ｘ_ｉｊ）は、位置座標ｘ_ｉｊに配置されたタッチセンサ１００で検知された信号値であり、位置座標ｘ_ｉｊの添え字は、タッチセンサ１００が配置された行電極１０１の行番号ｉ及び列電極１０２の列番号ｊを表している。Σの和は、ラベリング領域１２１内の全ての位置座標ｘ_ｉｊについて行われる。

次に、第２のタッチ１１２の重心計算方法について図６（ｊ）及び図６（ｌ）を用いて説明する。第２のタッチ１１２のラベリング領域１２２内には、他の第３のタッチ１１３が存在する。すなわち、第２のタッチ１１２の信号分布は、他の第３のタッチ１１３の信号による影響が大きいので、第１のタッチ１１１と同じ重心計算をそのまま行うと、第２のタッチ１１２の重心が第３のタッチ１１３の側に大きく偏って計算されてしまう。

そこで、本実施形態では、第２のタッチ１１２の重心計算領域内に他の第３のタッチ１１３が存在する場合は、他の第３のタッチ１１３の重心計算領域内の信号レベルを下げる補正を行った後で、上式（１）の重心計算を行う。例えば図６（ｌ）では、ラベリング領域１２３内の信号値を１／１６に補正した後で、第２のタッチ１１２の重心ｘ_Ｇを、上式（１）で計算している。これにより、近接する第３のタッチ１１３による影響を緩和して、第２のタッチ１１２の重心を正確に計算することができる。

第３のタッチ１１３の重心計算方法も同様に、図６（ｍ）に示すように、第２のタッチ１１２の重心計算領域内の信号レベルを下げる補正を行った後で、上式（１）の重心計算を行う。これにより、近接する第２のタッチ１１２による影響を緩和して、第３のタッチ１１３の重心を正確に計算することができる。

以上のように、本実施形態のタッチ検出部は、検出したタッチポイントの重心計算領域内に他のタッチポイントが存在する場合は、他のタッチポイントの重心計算領域内の信号を所定の値で除算した後で、タッチポイントの重心を計算する。このような構成によれば、複数のタッチを同時に検出する分解能を更に向上させることができる。

なお、以上の説明では、重心を計算する重心計算領域としてラベリング領域１２１〜１２３を用いたが、ラベリング領域１２１〜１２３とは別の領域を重心計算領域として設定してもよい。例えば、検出したマルチタッチ１１１〜１１３のタッチ座標から一定距離範囲内の領域を重心計算領域として設定してもよい。

（その他の実施形態）
上述の実施形態は、いずれも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。

１ ：タッチパネル
２ ：制御装置
２０ ：タッチ検出部
２０１ ：第１の検出部
２０２ ：第２の検出部
２１ ：駆動部
２２ ：制御部
１００ ：タッチセンサ
１１１〜１１３ ：マルチタッチ
１２０〜１２４ ：ラベリング領域（重心計算領域）

Claims (13)

1. 複数のタッチセンサが２次元状に配置されたタッチパネルと、前記タッチセンサで検知した信号の２次元分布に基づいてマルチタッチを検出するタッチ検出部と、を備えたタッチ検出装置であって、前記タッチ検出部において、
   前記信号の２次元分布の極大からタッチポイント及びタッチ数を検出する第１の検出部と、
   タッチポイントの周辺領域における前記信号の総和からタッチ数を推定する第２の検出部と、
   を有し、前記第１の検出部で検出したタッチ数と前記第２の検出部で推定したタッチ数とが一致しない場合は、前記周辺領域から他のタッチ候補を検索する
   タッチ検出装置。
2. 前記タッチパネルは、絶縁層を挟んで対向する複数の行電極と列電極を有し、
   前記タッチ検出部は、前記行電極と前記列電極の交点に設けられた前記タッチセンサの静電容量の変化に基づく前記信号の２次元分布を取得する
   請求項１に記載のタッチ検出装置。
3. 前記第１の検出部は、前記信号の２次元分布において所定の第１の閾値を超えている極大を前記タッチポイントとして検出するとともに、前記タッチポイントの総数をタッチ数として検出する
   請求項１又は２に記載のタッチ検出装置。
4. 前記第２の検出部は、所定の第２の閾値で前記総和を除算した値をタッチ数として推定する
   請求項３に記載のタッチ検出装置。
5. 前記第１の閾値又は前記第２の閾値が、前記タッチセンサの位置座標ごとに設定される
   請求項４に記載のタッチ検出装置。
6. 前記第１の検出部は、前記信号の２次元分布において前記総和が所定の第３の閾値を超えている極大を、ビッグタッチと判定する
   請求項５に記載のタッチ検出装置。
7. 前記タッチ検出部は、前記周辺領域において最も大きい前記信号を前記タッチ候補として検索する
   請求項１から６のいずれか１項に記載のタッチ検出装置。
8. 前記タッチ検出部は、前記タッチポイントの重心計算領域内に他の前記タッチポイントが存在する場合は、前記他の前記タッチポイントの重心計算領域内の前記信号を所定の値で除算した後で、前記タッチポイントの重心を計算する
   請求項１から７のいずれか１項に記載のタッチ検出装置。
9. 前記タッチセンサの形状がクロス形状である
   請求項１から８のいずれか１項に記載のタッチ検出装置。
10. ディスプレイに用いられるインセル型或いはオンセル型の前記タッチパネルを備える
    請求項１から９のいずれか１項に記載のタッチ検出装置。
11. 複数のタッチセンサが２次元状に配置されたタッチパネルと、前記タッチセンサで検知した信号の２次元分布に基づいてマルチタッチを検出するタッチ検出部と、を備えたタッチ検出装置において用いられるタッチ検出方法であって、
    前記信号の２次元分布の極大からタッチポイント及びタッチ数を検出する第１の検出ステップと、
    タッチポイントの周辺領域における前記信号の総和からタッチ数を推定する第２の検出ステップと、
    前記第１の検出ステップで検出したタッチ数と前記第２の検出ステップで推定したタッチ数とが一致しない場合は、前記周辺領域から他のタッチ候補を検索する検索ステップと、
    を有するタッチ検出方法。
12. 前記第１の検出ステップよりも先に前記第２の検出ステップを行う
    請求項１１に記載のタッチ検出方法。
13. 前記検索ステップで前記タッチ候補を検索した後に、前記タッチ候補を含めて再度前記第１の検出ステップを行う
    請求項１１に記載のタッチ検出方法。

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