JP6795562B2 - 検査装置及び機械学習方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 161
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 title claims description 40
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 43
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 38
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 11
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 claims description 5
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 11
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 10
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 9
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 6
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000013135 deep learning Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N3/00—Computing arrangements based on biological models
- G06N3/02—Neural networks
- G06N3/08—Learning methods
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F17/10—Complex mathematical operations
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- G06Q10/00—Administration; Management
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- G06Q10/063—Operations research, analysis or management
- G06Q10/0639—Performance analysis of employees; Performance analysis of enterprise or organisation operations
- G06Q10/06393—Score-carding, benchmarking or key performance indicator [KPI] analysis
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06Q50/00—Information and communication technology [ICT] specially adapted for implementation of business processes of specific business sectors, e.g. utilities or tourism
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Mathematical Physics (AREA)
- Human Resources & Organizations (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Computational Linguistics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Tourism & Hospitality (AREA)
- General Business, Economics & Management (AREA)
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- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
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- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
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Description
図1は本発明の一実施形態による検査装置の要部を示す概略的なハードウェア構成図である。本実施形態の検査装置1は、工場における製品検査の現場に設置されたコンピュータとして実装することができる。また、検査装置1は、工場における製品検査の現場に設置されたコンピュータとネットワークを介して接続されたセルコンピュータ、ホストコンピュータ、エッジコンピュータ、クラウドサーバ等のコンピュータとして実装することが出来る。図1は、工場における製品検査の現場に設置されたコンピュータとして検査装置1を実装した場合の例を示している。
前処理部110が作成する状態データSは、少なくとも検査対象を撮像して得られた検査対象画像データS1を含む。検査対象画像データS1は、例えば検査結果を撮像して得られた画像を構成する画素値の配列データを用いて良い。
また、前処理部110が作成するラベルデータLは、少なくとも検査対象の検査結果のラベルを含む検査結果データL1を含む。検査結果データL1は、例えば作業者が検査対象を目視で検査した結果を示すラベルであって良い。
例えば、上記した実施形態では、外観検査による出荷可否判断の例を用いて検査装置1の説明をしているが、検査装置1は他の検査に対しても適宜適用することができ、例えば、工作機械での加工可能性を判断するための検査等にも適用することができる。この様な場合、検査装置は、対象とする機械の工作時における温度や振動、音等に基づいて工作機械の故障の度合いを示すスコア(スコアが低ければ工作機械の動作が良好、スコアが高ければ故障乃至故障に近い状態)を出力するものとして構成できる。この時、検査装置1が作成するROC曲線図の縦軸として不良機械正解率、横軸として良好可動機械不正解率を設定し、また、検査装置1が扱う検査指標としては、例えば異常なしと判断され加工に使用される工作機械群に含まれることが実用上許容され得る不良機械の率を表す限界不良加工率と、異常ありと判断されメンテナンスに回される工作機械の率を表す限界メンテナンス率を用いるようにすれば良い。このように各パラメータを設定することで、上記した実施形態で示したのと同様に、工作機械が故障しているかを診断する場面において用いる適切な学習モデルを容易に選択できるようになる。
3 撮像センサ
5 コンピュータ
7 ネットワーク
11 CPU
12 ROM
13 RAM
14 不揮発性メモリ
17,18,19,20 インタフェース
22 バス
23 インタフェース
70 表示装置
71 入力装置
100 データ取得部
110 前処理部
120 学習モデル評価指標算出部
130 検査指標取得部
140 学習モデル選択部
200 学習データ記憶部
300 機械学習装置
301 プロセッサ
302 ROM
303 RAM
304 不揮発性メモリ
305 バス
310 学習部
320 推定部
330 学習モデル記憶部
Claims (5)
- 検査対象の検査を行う検査装置において、
検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する機械学習装置と、
前記機械学習装置が生成した学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する学習モデル評価指標算出部と、
前記検査において用いられる検査指標を取得する検査指標取得部と、
前記機械学習装置が生成した学習モデルについて、前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とを比較可能に表示し、作業者による学習モデルの選択を受け付け、該選択の結果を出力する学習モデル選択部と、
を備えた検査装置。 - 前記学習モデル評価指標は、前記機械学習装置が生成した学習モデルのROC曲線であり、前記検査指標は、出荷される検査対象に含まれることが許容される不良品の率を表す限界不良品出荷率、検査対象の総数における検査ではじいた検査対象の率を表す限界再検査率である、
請求項1に記載の検査装置。 - 前記学習モデル評価指標は、前記機械学習装置が生成した学習モデルのROC曲線であり、前記検査指標は、異常なしと判断され加工に使用される工作機械群に含まれることが許容されうる不良機械の率を表す限界不良加工率、異常ありと判断されメンテナンスに回される工作機械の率を表す限界メンテナンス率である、
請求項1に記載の検査装置。 - 前記学習モデル選択部は、前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を算出し、算出した前記学習モデルが前記検査指標を満足する条件を出力する、
請求項1〜3のいずれか1つに記載の検査装置。 - 検査対象から取得された状態データと、該検査対象に係る検査結果を示すラベルデータとに基づいて機械学習を行うことで学習モデルを生成する第1ステップと、
前記第1ステップで生成された学習モデルに関する、学習モデルの評価に用いられる評価指標である学習モデル評価指標を算出する第2ステップと、
検査において用いられる検査指標を取得する第3ステップと、
前記第1ステップで生成された学習モデルについて、前記学習モデル評価指標と、前記検査指標とを比較可能に表示し、作業者による学習モデルの選択を受け付け、該選択の結果を出力する第4ステップと、
を備えた機械学習方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018170913A JP6795562B2 (ja) | 2018-09-12 | 2018-09-12 | 検査装置及び機械学習方法 |
DE102019123800.5A DE102019123800A1 (de) | 2018-09-12 | 2019-09-05 | Prüfgerät und Maschinenlernverfahren |
US16/566,881 US11521120B2 (en) | 2018-09-12 | 2019-09-11 | Inspection apparatus and machine learning method |
CN201910863635.7A CN110895716B (zh) | 2018-09-12 | 2019-09-12 | 检查装置以及机器学习方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018170913A JP6795562B2 (ja) | 2018-09-12 | 2018-09-12 | 検査装置及び機械学習方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020042669A JP2020042669A (ja) | 2020-03-19 |
JP6795562B2 true JP6795562B2 (ja) | 2020-12-02 |
Family
ID=69621658
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018170913A Active JP6795562B2 (ja) | 2018-09-12 | 2018-09-12 | 検査装置及び機械学習方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11521120B2 (ja) |
JP (1) | JP6795562B2 (ja) |
CN (1) | CN110895716B (ja) |
DE (1) | DE102019123800A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI748344B (zh) * | 2020-02-14 | 2021-12-01 | 聚積科技股份有限公司 | 發光二極體調屏標準判定模型建立方法 |
US11604456B2 (en) * | 2020-03-11 | 2023-03-14 | Ford Global Technologies, Llc | System for monitoring machining processes of a computer numerical control machine |
CN111929311B (zh) * | 2020-10-15 | 2021-01-05 | 北京中鼎高科自动化技术有限公司 | 一种一站式智能缺陷检测系统 |
WO2023074184A1 (ja) | 2021-10-28 | 2023-05-04 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | アノテーション支援システム及びそれを利用した外観検査用モデルの学習支援システム |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4580226A (en) * | 1984-04-06 | 1986-04-01 | Sanford H. Robbins | Random sampling system |
JP3334807B2 (ja) * | 1991-07-25 | 2002-10-15 | 株式会社日立製作所 | ニュ−ラルネットを利用したパタ−ン分類方法および装置 |
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US6539106B1 (en) * | 1999-01-08 | 2003-03-25 | Applied Materials, Inc. | Feature-based defect detection |
JP3759881B2 (ja) * | 2001-03-08 | 2006-03-29 | 株式会社山武 | 加工診断監視システム |
JP4227863B2 (ja) | 2003-08-04 | 2009-02-18 | 株式会社デンソー | 視覚検査装置の教示装置及び教示方法 |
TWI239470B (en) * | 2004-07-12 | 2005-09-11 | Quanta Comp Inc | Production information managing system and method |
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JP5050607B2 (ja) | 2006-05-09 | 2012-10-17 | オムロン株式会社 | 検査装置、検査方法、検査プログラムおよびそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP5063632B2 (ja) * | 2009-03-10 | 2012-10-31 | 株式会社豊田中央研究所 | 学習モデル生成装置、対象物検出システム、及びプログラム |
JP5168215B2 (ja) * | 2009-04-10 | 2013-03-21 | 株式会社デンソー | 外観検査装置 |
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JP5874398B2 (ja) | 2012-01-05 | 2016-03-02 | オムロン株式会社 | 画像検査装置の検査領域設定方法 |
US9053390B2 (en) * | 2012-08-14 | 2015-06-09 | Kla-Tencor Corporation | Automated inspection scenario generation |
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JP6169655B2 (ja) * | 2015-07-30 | 2017-07-26 | ファナック株式会社 | 工作機械、シミュレーション装置、及び機械学習器 |
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JP6219897B2 (ja) * | 2015-09-28 | 2017-10-25 | ファナック株式会社 | 最適な加減速を生成する工作機械 |
US10452949B2 (en) * | 2015-11-12 | 2019-10-22 | Cognex Corporation | System and method for scoring clutter for use in 3D point cloud matching in a vision system |
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KR102512173B1 (ko) * | 2018-01-03 | 2023-03-21 | 주식회사 디엔솔루션즈 | 공작기계의 공구이상 검출장치 및 검출방법 |
CN112262017B (zh) * | 2018-06-15 | 2022-12-13 | 三菱电机株式会社 | 工作机械的加工尺寸预测装置、系统及方法、工作机械的设备异常判定装置及记录介质 |
JP6680430B1 (ja) * | 2018-10-04 | 2020-04-15 | 山本 隆義 | 生産ラインにおける品質と設備の統合的監視方法 |
-
2018
- 2018-09-12 JP JP2018170913A patent/JP6795562B2/ja active Active
-
2019
- 2019-09-05 DE DE102019123800.5A patent/DE102019123800A1/de active Pending
- 2019-09-11 US US16/566,881 patent/US11521120B2/en active Active
- 2019-09-12 CN CN201910863635.7A patent/CN110895716B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20200082297A1 (en) | 2020-03-12 |
CN110895716B (zh) | 2024-10-29 |
CN110895716A (zh) | 2020-03-20 |
JP2020042669A (ja) | 2020-03-19 |
US11521120B2 (en) | 2022-12-06 |
DE102019123800A1 (de) | 2020-03-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
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A975 | Report on accelerated examination |
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