JP6761204B2 - 光偏向装置、光走査装置、画像投影装置、故障検知方法、光書込装置、画像形成装置、物体認識装置、移動体、非移動体及び光干渉断層計 - Google Patents
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Description
まず、本実施形態の制御装置を適用した光走査システムについて、図1〜図4に基づいて詳細に説明する。
図1には、光走査システムの一例の概略図が示されている。
図1に示すように、光走査システム10は、制御装置11の制御に従って光源装置12から照射された光を可動装置13の有する反射面14により偏向して被走査面15を光走査するシステムである。
光源装置12は、入力された駆動信号に基づいて光源の照射を行う。可動装置13は、入力された駆動信号に基づいて反射面14を1軸方向または2軸方向の少なくともいずれかに可動させる。
なお、可動装置の詳細および本実施形態の制御装置による制御の詳細については後述する。
図2は、光走査システム10の一例のハードウェア構成図である。
図2に示すように、光走査システム10は、制御装置11、光源装置12および可動装置13を備え、それぞれが電気的に接続されている。
このうち、制御装置11は、CPU20、RAM21(Random Access Memory)、ROM22(Read Only Memory)、FPGA23、外部I/F24、光源装置ドライバ25、可動装置ドライバ26を備えている。
駆動信号出力部31は、光源装置12ドライバ25、可動装置13ドライバ26等により実現され、入力された制御信号に基づいて光源装置12または可動装置13に駆動信号を出力する。
ステップS12において、制御部30は、取得した光走査情報から制御信号を生成し、制御信号を駆動信号出力部31に出力する。
ステップS13において、駆動信号出力部31は、入力された制御信号に基づいて駆動信号を光源装置12および可動装置13に出力する。
ステップ14において、光源装置12は、入力された駆動信号に基づいて光照射を行う。また、可動装置13は、入力された駆動信号に基づいて反射面14の可動を行う。光源装置12および可動装置13の駆動により、任意の方向に光が偏向され、光走査される。
次に、本実施形態の制御装置を適用した画像投影装置について、図5および図6を用いて詳細に説明する。
次に、本実施形態の制御装置11を適用した光走査装置としての光書込装置について図7および図8を用いて詳細に説明する。
次に、上記本実施形態の制御装置を適用した物体認識装置について、図9および図10を用いて詳細に説明する。
次に、本実施形態の制御装置により制御される可動装置のパッケージングについて図11を用いて説明する。
まず、可動装置について図12〜図15を用いて詳細に説明する。
次に、可動装置の第1駆動部および第2駆動部を駆動させる制御装置の制御の詳細について説明する。
第1駆動部110a、110bでは、第1圧電駆動部112a、112bが有する圧電部220に、上部電極230および下部電極210を介して駆動電圧が並列に印加されると、それぞれの圧電部220が変形する。この圧電部220の変形による作用により、第1圧電駆動部112a、112bが屈曲変形する。その結果、2つのトーションバー111a、111bのねじれを介してミラー部101に第1軸周りの駆動力が作用し、ミラー部101が第1軸周りに可動する。第1駆動部110a、110bに印加される駆動電圧は、制御装置11によって制御される。
この場合、電流検出回路1200の出力に基づいて構造体900の故障の有無を判定できる。
すなわち、装置の機械的構造部(構造体900)の故障を検知することができる。
この場合、光偏向装置2000の使用環境の変化によって変動するカンチレバーの共振周波数の変動領域をカバーすることができる。
この場合、周波数掃引に対する連続的な電流値変動により、機械特性の変化を確実に検知できる。
この場合、検出する工程での検出結果に基づいて構造体900の故障の有無を判定できる。
すなわち、装置の機械的構造部(構造体900)の故障を検知することができる。
この場合、熱可逆記録媒体に対して安定して精度良く画像の記録や消去を行うことができる。
Claims (16)
- 反射面を有するミラー部と、該ミラー部に接続されたトーションバーと、該トーションバーに接続された弾性部とを含む構造体と、
前記弾性部に設けられ、上部電極、下部電極及び圧電部を有する圧電体と、
前記構造体の故障を検知する故障検知装置と、
少なくとも前記圧電体に所定の電圧を印加し、前記ミラー部を可動させる駆動信号出力部と、を備え、
前記故障検知装置は、
前記圧電体に周期的に変化する電圧を印加する、該電圧の周波数を可変な印加手段と、
前記電圧の周波数変化に対する前記圧電体に流れる電流の変化を検出する検出手段と、を含む光偏向装置。 - 前記故障検知装置は、前記電流の変化に基づいて前記構造体の故障の有無を判定する判定手段を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の光偏向装置。
- 前記印加手段は、前記電圧の周波数を前記弾性部の共振周波数を含む所定の周波数範囲で変化させることを特徴とする請求項2に記載の光偏向装置。
- 前記印加手段は、前記電圧の周波数を変化させるとき前記周波数範囲を周波数掃引することを特徴とする請求項3に記載の光偏向装置。
- 前記判定手段は、前記電流の変化が前記周波数範囲で極小値をとらないときに前記構造体に故障有りと判定することを特徴とする請求項3又は4に記載の光偏向装置。
- 前記ミラー部と前記トーションバーと前記弾性部は、一体成形されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の光偏向装置。
- 前記構造体は、前記弾性部を支持する支持部を更に含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の光偏向装置。
- 光により被走査面を走査する光走査装置であって、
光源装置と、
前記光源装置からの光を偏向する請求項1〜7のいずれか一項に記載の光偏向装置と、を備える光走査装置。 - 請求項8に記載の光走査装置と、
前記光走査装置からの光が照射され画像が形成されるスクリーンと、
前記スクリーンを介した画像を形成する光を投射する光学系と、を備える画像投影装置。 - 反射面を有するミラー部と、該ミラー部に接続されたトーションバーと、該トーションバーに接続され圧電体が設けられた弾性部とを含む構造体の故障を検知する故障検知方法であって、
前記圧電体に周期的に変化する電圧を、周波数を変化させながら印加する工程と、
前記電圧の周波数変化に対する前記圧電体に流れる電流の変化を検出する工程と、を含む故障検知方法。 - 光源装置と、
前記光源装置からの光を偏向する請求項1〜7のいずれか一項に記載の光偏向装置と、を備える光書込装置。 - 請求項11に記載の光書込装置を備える画像形成装置。
- 請求項8に記載の光走査装置と、
前記光走査装置から照射され、物体で反射された光を検出する光検出器と、
前記光検出器の検出結果に基づいて前記物体に関する情報を取得する情報取得手段と、を備える物体認識装置。 - 請求項9に記載の画像投影装置及び請求項13に記載の物体認識装置の少なくとも一方を備える移動体。
- 請求項9に記載の画像投影装置及び請求項13に記載の物体認識装置の少なくとも一方を備える非移動体。
- 請求項8に記載の光走査装置と、
前記光走査装置から照射され、物体で反射もしくは散乱された光を解析し、前記物体の断層を描き出す解析手段と、を備える光干渉断層計。
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