JP6618269B2 - 粒径測定システムおよび粒径測定方法 - Google Patents
粒径測定システムおよび粒径測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6618269B2 JP6618269B2 JP2015085131A JP2015085131A JP6618269B2 JP 6618269 B2 JP6618269 B2 JP 6618269B2 JP 2015085131 A JP2015085131 A JP 2015085131A JP 2015085131 A JP2015085131 A JP 2015085131A JP 6618269 B2 JP6618269 B2 JP 6618269B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- diffraction
- circle
- fine particles
- radius
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 154
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 100
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 claims description 144
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 83
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 66
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 44
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 43
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 24
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 238000010219 correlation analysis Methods 0.000 claims description 5
- 239000003086 colorant Substances 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 6
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 5
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000003915 air pollution Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000013618 particulate matter Substances 0.000 description 1
- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 210000002345 respiratory system Anatomy 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
また、他の発明に係る粒径測定システムは、被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定システムであって、コヒーレント光を出射する光源と、微粒子を自然導入する前の前記コヒーレント光および自然導入された微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影手段と、前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段とを備え、前記画像処理手段は、前記微粒子が無い場合と、有る場合の2以上の前記画像データの相関状態を解析する画像相関解析手段と、前記2以上の画像データの明るさの閾値を算出する閾値算出手段と、前記閾値に基いて前記画像データのエッジ部を抽出する画像エッジ抽出手段と、該画像エッジ抽出手段で抽出された画像エッジに基いて、回折円を抽出する回折円抽出手段と、該回折円抽出手段で抽出された回折円の半径を検出する円半径検出手段と、該円半径検出手段で抽出された半径と、前記撮影手段が備える光学系の焦点距離とに基いて回折角を算出する回折角算出手段と、を有し、回折円の観察過程において、前記光源から出射される前記コヒーレント光として赤色レーザ光を、ブルーフィルタおよびグリーンフィルタを少なくとも備えた前記撮影手段としての画像素子に照射し、前記円半径検出手段は、前記ブルーフィルタおよび前記グリーンフィルタを透過した照射光量に対応して、前記画像素子が有する青センサおよび緑センサから出力される電圧により、青色成分と緑色成分が混じった回折像を取得し、前記回折像から赤、緑、青が強い部分を減算するイベント相関イメージ処理を行って、青色成分および緑色成分が強調された、微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を取得し、前記円半径検出手段は、前記微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を、H(色相),S(彩度),I(明度)の3つの数字の組で表すHSI表色系で表現し、前記Hの最大値・最小値、前記Sの最大値・最小値、前記Iの最大値・最小値を指定し、回折円に重なるように調整して得られた画像に基づいて前記回折円の半径を測定し、前記粒径算出手段は、前記回折角算出手段で算出された回折角に基いて前記微粒子の半径および粒径を算出することを特徴とする。
画像処理結果に基いて前記微粒子の粒径を算出する粒径算出過程とを有し、前記画像処理過程は、前記微粒子が無い場合と、有る場合の2以上の前記画像データの相関状態を解析する画像相関解析過程と、前記2以上の画像データの明るさの閾値を算出する閾値算出過程と、前記閾値に基いて前記画像データのエッジ部を抽出する画像エッジ抽出過程と、抽出された画像エッジに基いて、回折円を抽出する回折円抽出過程と、抽出された回折円の半径を検出する円半径検出過程と、抽出された半径と、撮影手段が備える光学系の焦点距離とに基いて回折角を算出する回折角算出過程と、を有し、前記円半径検出過程は、前記コヒーレント光として赤色レーザ光を、ブルーフィルタおよびグリーンフィルタを少なくとも備えた画像素子に照射する過程と、前記ブルーフィルタおよび前記グリーンフィルタを透過した照射光量に対応して、前記画像素子が有する青センサおよび緑センサから出力される電圧により、青色成分と緑色成分が混じった回折像を取得する過程と、前記回折像から赤、緑、青が強い部分を減算するイベント相関イメージ処理を行う過程と、青色成分および緑色成分が強調された、微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を取得する過程と、前記微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を、R(レッド),G(グリーン),B(ブルー)の三原色の数字の組で表すRGB表色系で表現する過程と、選択すべきRの最大値・最小値、Gの最大値・最小値、Bの最大値・最小値を指定し、回折円に重なるように調整して得られた画像に基づいて前記回折円の半径を測定する過程と、をさらに有し、前記粒径算出過程は、前記回折角算出過程で算出された回折角に基いて前記微粒子の半径および粒径を算出する処理を行うことを特徴とする。
また、他の発明に係る粒径測定方法は、被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定方法であって、微粒子を自然導入する前のコヒーレント光および自然導入された微粒子によりコヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影過程と、撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理過程と、画像処理結果に基いて前記微粒子の粒径を算出する粒径算出過程とを有し、前記画像処理過程は、前記微粒子が無い場合と、有る場合の2以上の前記画像データの相関状態を解析する画像相関解析過程と、前記2以上の画像データの明るさの閾値を算出する閾値算出過程と、前記閾値に基いて前記画像データのエッジ部を抽出する画像エッジ抽出過程と、抽出された画像エッジに基いて、回折円を抽出する回折円抽出過程と、抽出された回折円の半径を検出する円半径検出過程と、抽出された半径と、撮影手段が備える光学系の焦点距離とに基いて回折角を算出する回折角算出過程と、を有し、前記円半径検出過程は、前記コヒーレント光として赤色レーザ光を、ブルーフィルタおよびグリーンフィルタを少なくとも備えた画像素子に照射する過程と、前記ブルーフィルタおよび前記グリーンフィルタを透過した照射光量に対応して、前記画像素子が有する青センサおよび緑センサから出力される電圧により、青色成分と緑色成分が混じった回折像を取得する過程と、前記回折像から赤、緑、青が強い部分を減算するイベント相関イメージ処理を行う過程と、青色成分および緑色成分が強調された、微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を取得する過程と、前記微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を、H(色相),S(彩度),I(明度)の3つの数字の組で表すHSI表色系で表現する過程と、前記Hの最大値・最小値、前記Sの最大値・最小値、前記Iの最大値・最小値を指定し、回折円に重なるように調整して得られた画像に基づいて前記回折円の半径を測定する過程と、をさらに有し、前記粒径算出過程は、前記回折角算出過程で算出された回折角に基いて前記微粒子の半径および粒径を算出する処理を行うことを特徴とする。
本発明の実施の形態について述べる前に、本発明に至る過程について簡単に説明する。
本発明に係る粒径測定システムS1の主な特徴点は、散乱光パターンを計測するために光センサではなく、一般的なデジタルカメラを用いることができる点と、回折円検出のために微粒子の有無に対応する回折光パターンの画像から微粒子に特徴的な回折光抽出する処理をグレースケール処理を省略したイベント相関技術を採用したデジタル処理を行う点である。
一番内側の回折円の場合、粒子半径rは、r=(5.136/2π)λ×(1/Sinθ)の関係にあることが分かっている。
(イベント相関イメージング法について)
ここで、実施形態に係る粒径測定システムS1に適用されるイベント相関イメージング法について、図6〜図11を参照して説明する。
なお、図11における1Radius:6.49μmは、円L50が半径6.5μmに相当することを示し、2Radius:6.55μmは内側から2番目は回折円から計算される半径を示す。
また、Average Intensity:24.70は円L50上の光の強度が24.70(任意単位)であることを示す。
上述のようなイベント相関イメージング法を適用した粒径測定システムS1による測定例について説明する。
ここで、半径R1と半径R2のごくわずかな誤差は、回折円をHough変換で認識するときに生じるもので、光強度が大きな1番内側の回折円から求めた半径R1の方が、光強度が弱い内側から2番目の回折円から求めた半径R2に比べて信頼性が高い。
図6の分光感度曲線に基いて、図9(a)に示す画像D3が得られる仕組みについて説明する。
図5に示すように、撮影手段(デジタルカメラ)4の光学系における焦点距離f、回折角(θ)および円の半径hとの関係は、tanθ=h/fで表すことができる。
r=(5.136/2π)λ×(1/Sinθ1) で求めることができる。
r=(8.417/2π)λ×(1/Sinθ2) で求めることができる。
図13のフローチャートを参照して、本実施の形態に係る粒径測定システムS1で実施される粒子測定処理の処理手順について説明する。
図14を参照して、他の構成例に係る粒径測定システムS2について簡単に説明する。
2…光源(レーザ光源)
3…噴霧手段
4…撮影手段
5…画像処理手段
6…粒径算出手段
10…パーソナルコンピュータ
11…モニタ
51…画像相関解析手段
52…閾値算出手段
53…画像エッジ抽出手段
54…回折円抽出手段
55…円半径検出手段
56…回折角算出手段
A1、A2…微粒子
L、L1、L2…コヒーレント光(レーザ光)
Claims (6)
- 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定システムであって、
コヒーレント光を出射する光源と、
微粒子を自然導入する前の前記コヒーレント光および自然導入された微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、
前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段と
を備え、
前記画像処理手段は、
前記微粒子が無い場合と、有る場合の2以上の前記画像データの相関状態を解析する画像相関解析手段と、
前記2以上の画像データの明るさの閾値を算出する閾値算出手段と、
前記閾値に基いて前記画像データのエッジ部を抽出する画像エッジ抽出手段と、
該画像エッジ抽出手段で抽出された画像エッジに基いて、回折円を抽出する回折円抽出手段と、
該回折円抽出手段で抽出された回折円の半径を検出する円半径検出手段と、
該円半径検出手段で抽出された半径と、前記撮影手段が備える光学系の焦点距離とに基いて回折角を算出する回折角算出手段と、
を有し、
回折円の観察過程において、前記光源から出射される前記コヒーレント光として赤色レーザ光を、ブルーフィルタおよびグリーンフィルタを少なくとも備えた前記撮影手段としての画像素子に照射し、
前記円半径検出手段は、
前記ブルーフィルタおよび前記グリーンフィルタを透過した照射光量に対応して、前記画像素子が有する青センサおよび緑センサから出力される電圧により、青色成分と緑色成分が混じった回折像を取得し、
前記回折像から赤、緑、青が強い部分を減算するイベント相関イメージ処理を行って、青色成分および緑色成分が強調された、微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を取得し、
前記円半径検出手段は、
前記微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を、R(レッド),G(グリーン),B(ブルー)の三原色の数字の組で表すRGB表色系で表現し、選択すべきRの最大値・最小値、Gの最大値・最小値、Bの最大値・最小値を指定し、回折円に重なるように調整して得られた画像に基づいて前記回折円の半径を測定し、
前記粒径算出手段は、前記回折角算出手段で算出された回折角に基いて前記微粒子の半径および粒径を算出することを特徴とする粒径測定システム。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定システムであって、
コヒーレント光を出射する光源と、
微粒子を自然導入する前の前記コヒーレント光および自然導入された微粒子により前記コヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理手段と、
前記画像処理手段による画像処理結果に基いて前記微粒子の粒径を算出する粒径算出手段と
を備え、
前記画像処理手段は、
前記微粒子が無い場合と、有る場合の2以上の前記画像データの相関状態を解析する画像相関解析手段と、
前記2以上の画像データの明るさの閾値を算出する閾値算出手段と、
前記閾値に基いて前記画像データのエッジ部を抽出する画像エッジ抽出手段と、
該画像エッジ抽出手段で抽出された画像エッジに基いて、回折円を抽出する回折円抽出手段と、
該回折円抽出手段で抽出された回折円の半径を検出する円半径検出手段と、
該円半径検出手段で抽出された半径と、前記撮影手段が備える光学系の焦点距離とに基いて回折角を算出する回折角算出手段と、
を有し、
回折円の観察過程において、前記光源から出射される前記コヒーレント光として赤色レーザ光を、ブルーフィルタおよびグリーンフィルタを少なくとも備えた前記撮影手段としての画像素子に照射し、
前記円半径検出手段は、
前記ブルーフィルタおよび前記グリーンフィルタを透過した照射光量に対応して、前記画像素子が有する青センサおよび緑センサから出力される電圧により、青色成分と緑色成分が混じった回折像を取得し、
前記回折像から赤、緑、青が強い部分を減算するイベント相関イメージ処理を行って、青色成分および緑色成分が強調された、微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を取得し、
前記円半径検出手段は、
前記微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を、H(色相),S(彩度),I(明度)の3つの数字の組で表すHSI表色系で表現し、
前記Hの最大値・最小値、前記Sの最大値・最小値、前記Iの最大値・最小値を指定し、回折円に重なるように調整して得られた画像に基づいて前記回折円の半径を測定し、
前記粒径算出手段は、前記回折角算出手段で算出された回折角に基いて前記微粒子の半径および粒径を算出することを特徴とする粒径測定システム。 - 前記光源は半導体レーザで構成され、前記撮影手段はデジタルカメラで構成されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の粒径測定システム。
- 前記回折円抽出手段は、2以上の回折円を抽出し、
前記円半径検出手段は、前記2以上の角回折円の円半径を検出し、
前記回折角算出手段は、前記2以上の角回折円について回折角を算出し、
前記粒径算出手段は、前記回折角算出手段で算出された角回折角に基いて前記微粒子の半径および粒径を算出することを特徴とする請求項1から請求項3の何れか1項に記載の粒径測定システム。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定方法であって、
微粒子を自然導入する前のコヒーレント光および自然導入された微粒子によりコヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影過程と、
撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理過程と、
画像処理結果に基いて前記微粒子の粒径を算出する粒径算出過程と
を有し、
前記画像処理過程は、
前記微粒子が無い場合と、有る場合の2以上の前記画像データの相関状態を解析する画像相関解析過程と、
前記2以上の画像データの明るさの閾値を算出する閾値算出過程と、
前記閾値に基いて前記画像データのエッジ部を抽出する画像エッジ抽出過程と、
抽出された画像エッジに基いて、回折円を抽出する回折円抽出過程と、
抽出された回折円の半径を検出する円半径検出過程と、
抽出された半径と、撮影手段が備える光学系の焦点距離とに基いて回折角を算出する回折角算出過程と、
を有し、
前記円半径検出過程は、
前記コヒーレント光として赤色レーザ光を、ブルーフィルタおよびグリーンフィルタを少なくとも備えた画像素子に照射する過程と、
前記ブルーフィルタおよび前記グリーンフィルタを透過した照射光量に対応して、前記画像素子が有する青センサおよび緑センサから出力される電圧により、青色成分と緑色成分が混じった回折像を取得する過程と、
前記回折像から赤、緑、青が強い部分を減算するイベント相関イメージ処理を行う過程と、
青色成分および緑色成分が強調された、微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を取得する過程と、
前記微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を、R(レッド),G(グリーン),B(ブルー)の三原色の数字の組で表すRGB表色系で表現する過程と、
選択すべきRの最大値・最小値、Gの最大値・最小値、Bの最大値・最小値を指定し、回折円に重なるように調整して得られた画像に基づいて前記回折円の半径を測定する過程と、
をさらに有し、
前記粒径算出過程は、前記回折角算出過程で算出された回折角に基いて前記微粒子の半径および粒径を算出する処理を行うことを特徴とする粒径測定方法。 - 被検体の微粒子の粒径を測定する粒径測定方法であって、
微粒子を自然導入する前のコヒーレント光および自然導入された微粒子によりコヒーレント光に生じた回折・散乱光を直接的に撮影する撮影過程と、
撮影された前記コヒーレント光および回折・散乱光パターンの画像データを画像処理する画像処理過程と、
画像処理結果に基いて前記微粒子の粒径を算出する粒径算出過程と
を有し、
前記画像処理過程は、
前記微粒子が無い場合と、有る場合の2以上の前記画像データの相関状態を解析する画像相関解析過程と、
前記2以上の画像データの明るさの閾値を算出する閾値算出過程と、
前記閾値に基いて前記画像データのエッジ部を抽出する画像エッジ抽出過程と、
抽出された画像エッジに基いて、回折円を抽出する回折円抽出過程と、
抽出された回折円の半径を検出する円半径検出過程と、
抽出された半径と、撮影手段が備える光学系の焦点距離とに基いて回折角を算出する回折角算出過程と、
を有し、
前記円半径検出過程は、
前記コヒーレント光として赤色レーザ光を、ブルーフィルタおよびグリーンフィルタを少なくとも備えた画像素子に照射する過程と、
前記ブルーフィルタおよび前記グリーンフィルタを透過した照射光量に対応して、前記画像素子が有する青センサおよび緑センサから出力される電圧により、青色成分と緑色成分が混じった回折像を取得する過程と、
前記回折像から赤、緑、青が強い部分を減算するイベント相関イメージ処理を行う過程と、
青色成分および緑色成分が強調された、微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を取得する過程と、
前記微粒子が無い状態の画像と微粒子が有る状態の画像の差分を示す画像を、H(色相),S(彩度),I(明度)の3つの数字の組で表すHSI表色系で表現する過程と、
前記Hの最大値・最小値、前記Sの最大値・最小値、前記Iの最大値・最小値を指定し、回折円に重なるように調整して得られた画像に基づいて前記回折円の半径を測定する過程と、
をさらに有し、
前記粒径算出過程は、前記回折角算出過程で算出された回折角に基いて前記微粒子の半径および粒径を算出する処理を行うことを特徴とする粒径測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015085131A JP6618269B2 (ja) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | 粒径測定システムおよび粒径測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015085131A JP6618269B2 (ja) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | 粒径測定システムおよび粒径測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016205891A JP2016205891A (ja) | 2016-12-08 |
JP6618269B2 true JP6618269B2 (ja) | 2019-12-11 |
Family
ID=57489581
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015085131A Expired - Fee Related JP6618269B2 (ja) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | 粒径測定システムおよび粒径測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6618269B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6749011B2 (ja) * | 2016-06-13 | 2020-09-02 | 学校法人 東洋大学 | 粒径測定システムおよび粒径測定方法 |
CN111678846B (zh) * | 2020-06-12 | 2023-03-07 | 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学 | 基于米氏散射理论和夫琅禾费衍射理论二维喷雾场测量方法 |
CN114646577A (zh) * | 2022-03-09 | 2022-06-21 | 荣托昆普(无锡)科技有限公司 | 一种基于深度信息的粒径分析方法及检测系统 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3266107B2 (ja) * | 1998-07-29 | 2002-03-18 | 株式会社島津製作所 | 粒子個数計測方法および粒子計測装置 |
FR2801671B1 (fr) * | 1999-11-29 | 2001-12-21 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de mesure, par diffraction, de tailles de particules sensiblement spheriques, notamment de gouttes opaques |
JP2003106980A (ja) * | 2001-10-01 | 2003-04-09 | Nec Corp | 微小粒子群の計測装置および計測方法 |
JP5775069B2 (ja) * | 2010-04-23 | 2015-09-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | 細胞観察装置および細胞観察方法 |
JP2012099646A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Fujifilm Corp | 光電変換素子 |
JP6473580B2 (ja) * | 2013-07-29 | 2019-02-20 | 学校法人 東洋大学 | 粒径測定装置および粒径測定方法 |
WO2015037141A1 (ja) * | 2013-09-13 | 2015-03-19 | オリンパス株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
JP6405651B2 (ja) * | 2014-03-10 | 2018-10-17 | サクサ株式会社 | 画像処理装置 |
-
2015
- 2015-04-17 JP JP2015085131A patent/JP6618269B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016205891A (ja) | 2016-12-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6628743B2 (ja) | ナノ粒子分析システム及び方法 | |
JP5733032B2 (ja) | 画像処理装置および方法、画像処理システム、プログラム、および、記録媒体 | |
US20190347514A1 (en) | Detection method, device, apparatus and computer storage medium | |
CN107991284B (zh) | 拉曼光谱检测设备及其检测安全性的监控方法 | |
KR101924855B1 (ko) | 물체의 진위를 검출하기 위한 시스템 및 방법 | |
JP6428883B2 (ja) | 微小粒子測定装置におけるデータ補正方法及び微小粒子測定装置 | |
KR102003781B1 (ko) | 초분광영상화 기법을 이용한 글라스(Glass) 결함 검출 장치 | |
JP2017053790A (ja) | 欠陥検出装置及び欠陥検出方法 | |
JP6618269B2 (ja) | 粒径測定システムおよび粒径測定方法 | |
US20150276378A1 (en) | Method and device for measuring critical dimension of nanostructure | |
WO2015136620A1 (ja) | 錠剤検査装置、錠剤検査方法、錠剤検査プログラム | |
US9491378B2 (en) | Methods and systems for detection and identification of concealed materials | |
JP6473580B2 (ja) | 粒径測定装置および粒径測定方法 | |
JP2013024653A (ja) | 距離測定装置及びプログラム | |
US9250186B2 (en) | Profilometry systems and methods based on absorption and optical frequency conversion | |
JP2021021568A (ja) | 光吸収量差分計測装置及び光吸収量差分計測方法、並びに光吸収量差分画像の撮影装置及び光吸収量差分画像の撮影方法 | |
JPWO2019172206A5 (ja) | ||
JP6931401B2 (ja) | 撮像装置及び画像処理装置 | |
JP2014224686A (ja) | 微粒子検出装置および微粒子検出方法 | |
JP6749011B2 (ja) | 粒径測定システムおよび粒径測定方法 | |
WO2018128146A1 (ja) | 分光測定方法および分光測定装置 | |
Low et al. | Contactless visualization of latent fingerprints on nonporous curved surfaces of circular cross section | |
US9261447B2 (en) | Apparatus and method for monitoring particles in a stack | |
Hildebrandt et al. | Optical techniques: using coarse and detailed scans for the preventive acquisition of fingerprints with chromatic white-light sensors | |
JP6330520B2 (ja) | 画像取得装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A80 | Written request to apply exceptions to lack of novelty of invention |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A80 Effective date: 20150507 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190305 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20190507 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191023 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191112 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6618269 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |