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JP6699694B2 - Inspection system, inspection method - Google Patents

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JP6699694B2 JP2018159558A JP2018159558A JP6699694B2 JP 6699694 B2 JP6699694 B2 JP 6699694B2 JP 2018159558 A JP2018159558 A JP 2018159558A JP 2018159558 A JP2018159558 A JP 2018159558A JP 6699694 B2 JP6699694 B2 JP 6699694B2
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

本発明は被検査物の欠陥検査を行う検査システム等に関する。   The present invention relates to an inspection system and the like for inspecting defects of an inspection object.

ラミネート装置は、基材及び樹脂フィルムを搬送しつつこれらを重ね合わせ、基材上に樹脂フィルムの貼着(ラミネート加工)を行う装置である。   The laminating apparatus is an apparatus that conveys a base material and a resin film while conveying them, and sticks (laminates) the resin film on the base material.

ラミネート加工を行った後のラミネート加工物は、品質管理等のため欠陥検査が行われる。ラミネート装置では、従来専任の検査要員による目視検査が行われている。   The laminated product after the laminating process is subjected to a defect inspection for quality control and the like. In a laminating apparatus, a visual inspection is conventionally performed by a dedicated inspection staff.

一方、このような欠陥検査を自動化するシステムとして、特許文献1にはカメラで撮影した画像を元にラミネート加工物の検査を行う検査装置が開示されている。   On the other hand, as a system for automating such a defect inspection, Patent Document 1 discloses an inspection device that inspects a laminated product based on an image captured by a camera.

特開2017-67730号公報JP 2017-67730 JP

このような検査装置を用いることによりラミネート加工物の欠陥を検出し、欠陥を有するラミネート加工物を自動排出(リジェクト)できるものの、ラミネート加工物を排出しなくて良いものまで欠陥として検出することで、ラミネート加工物を無駄に排出してしまうことがあった。このような過剰検出を防ぐため、多様な欠陥を区別できるシステムが求められていた。   By using such an inspection device, it is possible to detect a defect in the laminated product and automatically eject (reject) the laminated product having the defect. However, even if the laminated product does not have to be ejected, it can be detected as a defect. However, the laminated product may be wastefully discharged. In order to prevent such excessive detection, a system capable of distinguishing various defects has been required.

本発明は上記の問題に鑑みてなされたものであり、被検査物の欠陥検査を好適に行うことができる検査システム等を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an inspection system and the like that can suitably perform a defect inspection of an inspection object.

前述した課題を解決するための第1の発明は、樹脂製のシート材を含む被検査物の欠陥検査を行う検査システムであって、撮影装置と、撮影装置に対する位置が異なり、且つ色の異なる検査光を搬送中の前記被検査物に向けて照射する複数の照明と、制御装置と、を有し、前記撮影装置は、複数の前記照明から照射された前記検査光を受光することにより前記被検査物の撮影を行い、前記制御装置は、前記撮影装置で前記被検査物の撮影を行った画像から、前記検査光の色ごとの画像を取得して各色の画像から欠陥候補を検出し、各色の画像の、同じ位置における欠陥候補の検出結果に応じて前記被検査物の欠陥を分類することを特徴とする検査システムである。 A first invention for solving the above-mentioned problem is an inspection system for performing a defect inspection of an object to be inspected including a resin sheet material, wherein the imaging device and the position with respect to the imaging device are different and the colors are different. A plurality of illuminations that irradiate the inspection light toward the inspected object that is being conveyed, and a control device are provided, and the imaging device receives the inspection light that is emitted from the plurality of the illuminations. The object to be inspected is imaged, and the control device acquires an image for each color of the inspection light from an image obtained by imaging the object to be inspected by the imaging device, and detects a defect candidate from the image of each color. The inspection system is characterized in that the defects of the inspection object are classified according to the detection result of the defect candidates at the same position in the image of each color .

本発明では、撮影装置と、撮影装置に対する位置及び検査光の色が異なる複数の照明を用いることで、多様な欠陥の検出を可能にし、樹脂フィルムを含む被検査物の検査を好適に行うことができる。しかも、制御装置は撮影画像から得られた各色の画像から欠陥候補を検出し、それらの複合的な検出結果に応じて欠陥の分類を行うことで、多様な欠陥を区別でき、欠陥の過剰検出を防ぐことができる。また欠陥の分類にかかる時間も短く、リアルタイムでインライン検査を行って欠陥を分類し、重要な欠陥が生じた場合のみ被検査物を排出することで、生産性が落ちることもない。   In the present invention, by using a photographing device and a plurality of illuminations whose positions with respect to the photographing device and colors of inspection light are different from each other, it is possible to detect various defects, and to suitably inspect an object to be inspected including a resin film. You can Moreover, the control device can detect a variety of defects by detecting defect candidates from each color image obtained from the captured image and classifying the defects according to the composite detection result of them, thereby detecting excessive defects. Can be prevented. In addition, the time required for classifying defects is short, and the inline inspection is performed in real time to classify the defects, and the inspected object is discharged only when a significant defect occurs, so that the productivity is not reduced.

第2の発明は、樹脂製のシート材を含む被検査物の欠陥検査を行う検査システムであって、撮影装置と、撮影装置に対する位置が異なり、且つ色の異なる検査光を搬送中の前記被検査物に向けて照射する複数の照明と、制御装置と、を有し、前記撮影装置は、複数の前記照明から照射された前記検査光を受光することにより前記被検査物の撮影を行い、前記制御装置は、前記撮影装置で前記被検査物の撮影を行った画像から、前記検査光の色ごとの画像を取得して各色の画像から欠陥候補を検出し、その検出結果に応じて前記被検査物の欠陥を分類し、前記制御装置は、各色の前記画像から検出した欠陥候補について欠陥のレベルを判別し、前記欠陥候補がどの色の前記画像から検出されたか及び前記欠陥候補の欠陥のレベルに基づいて前記欠陥の分類を行うことを特徴とする検査システムである
本発明では、上記のように欠陥候補の検出元と欠陥のレベルに基づいて欠陥の分類を行うことで、多様な欠陥を精度良く区別できるようになる。
A second aspect of the present invention is an inspection system for performing a defect inspection of an inspection object including a resin sheet material, wherein the imaging device is different from the imaging device in position, and the inspection light having different colors is being conveyed. A plurality of illuminations irradiating toward the inspection object, and a control device, and the imaging device performs imaging of the inspection object by receiving the inspection light emitted from the plurality of illuminations, The control device acquires an image for each color of the inspection light from an image obtained by photographing the inspection object by the photographing device, detects a defect candidate from the image of each color, and detects the defect candidate according to the detection result. Classifying defects of the inspection object, the control device determines the level of the defect for the defect candidate detected from the image of each color, the color of the image in which the defect candidate is detected, and the defect of the defect candidate The inspection system is characterized in that the defect is classified based on the level of.
According to the present invention, various defects can be accurately distinguished by classifying the defects based on the defect candidate detection source and the defect level as described above.

前記制御装置は、前記欠陥の分類結果に応じて、前記被検査物をリジェクトするか否かを決定することが望ましい。
本発明では、欠陥の分類結果に応じて被検査物をリジェクトするか否かを決定することにより、リジェクトしなくても良い欠陥を有する被検査物をリジェクトしてしまうのを防ぐことができる。
It is preferable that the control device decides whether or not to reject the inspection object according to the result of classification of the defects.
According to the present invention, it is possible to prevent rejecting an inspected object having a defect that does not need to be rejected by determining whether or not to reject the inspected object according to the result of classification of the defects.

また、複数の前記照明は、前記被検査物の搬送方向の側方から前記シート材の面と略平行な方向に検査光を照射する第1の照明と、前記シート材に対し検査光を照射する第2の照明と、を含み、前記撮影装置は、前記シート材から搬送方向に沿って反射した前記第1の照明からの検査光、前記シート材から正反射した前記第2の照明からの検査光を受光して撮影を行うことが望ましい。
本発明では、上記の第1の照明からの検査光を撮影装置で受光して撮影を行うことで、シート材の凸部が当該検査光の色の画像上で明るく現れる。また、上記の第2の照明からの検査光を撮影装置によって受光して撮影を行うことで、シート材の光沢が変化する場合に当該検査光の色の画像における明暗が周囲から変化する。従って、これらの画像に基づいてシート材等の欠陥を好適に区別できる。
Further, the plurality of the illuminations irradiates the sheet material with the inspection light in a direction substantially parallel to the surface of the sheet material from the side of the conveyance direction of the object to be inspected, and irradiates the sheet material with the inspection light. And a second illumination for performing inspection light from the first illumination reflected from the sheet material along the transport direction, and from the second illumination specularly reflected from the sheet material. It is desirable to receive inspection light and perform imaging.
In the present invention, the inspection light from the above-mentioned first illumination is received by the imaging device to perform imaging, and thus the convex portion of the sheet material appears bright on the image of the color of the inspection light. Further, the inspection light from the above-mentioned second illumination is received by the image capturing device to perform imaging, so that when the gloss of the sheet material changes, the brightness of the image of the inspection light changes from the surroundings. Therefore, defects such as a sheet material can be preferably distinguished based on these images.

前記被検査物は、基材上に前記シート材である樹脂フィルムをラミネートしたラミネート加工物であり、複数の前記照明は、前記ラミネート加工物に対し検査光を照射する第3の照明をさらに含み、前記撮影装置は、前記ラミネート加工物から拡散反射した前記第3の照明からの検査光をさらに受光して撮影を行うことも望ましい。
本発明では、更に、上記の第3の照明からの検査光を撮影装置で受光して撮影を行うことで、当該検査光の色の画像から基材の絵柄の欠陥候補が検出でき、これを用いてラミネート加工物の欠陥の分類を好適に行える。
The object to be inspected is a laminated product in which a resin film that is the sheet material is laminated on a base material, and the plurality of illuminations further includes third illumination that irradiates the laminated product with inspection light. It is also preferable that the photographing device further receives the inspection light from the third illumination diffused and reflected from the laminated product to perform photographing.
In the present invention, the inspection light from the third illumination is received by the image capturing device to perform image capturing, whereby a defect candidate of the design of the base material can be detected from the image of the color of the inspection light. It can be used to favorably classify defects in the laminated product.

の発明は、樹脂製のシート材を含む被検査物の欠陥検査を行う検査方法であって、撮影装置に対する位置が異なる複数の照明により、色の異なる検査光を前記被検査物に向けて照射し、撮影装置が、複数の前記照明から照射された前記検査光を受光することにより前記被検査物の撮影を行い、制御装置が、前記撮影装置で前記被検査物の撮影を行った画像から、前記検査光の色ごとの画像を取得して各色の画像から欠陥候補を検出し、各色の画像の、同じ位置における欠陥候補の検出結果に応じて前記被検査物の欠陥を分類することを特徴とする検査方法である。
第4の発明は、樹脂製のシート材を含む被検査物の欠陥検査を行う検査方法であって、撮影装置に対する位置が異なる複数の照明により、色の異なる検査光を前記被検査物に向けて照射し、撮影装置が、複数の前記照明から照射された前記検査光を受光することにより前記被検査物の撮影を行い、制御装置が、前記撮影装置で前記被検査物の撮影を行った画像から、前記検査光の色ごとの画像を取得して各色の画像から欠陥候補を検出し、その検出結果に応じて前記被検査物の欠陥を分類し、前記制御装置は、各色の前記画像から検出した欠陥候補について欠陥のレベルを判別し、前記欠陥候補がどの色の前記画像から検出されたか及び前記欠陥候補の欠陥のレベルに基づいて前記欠陥の分類を行うことを特徴とする検査方法である。
A third aspect of the present invention is an inspection method for inspecting a defect of an object to be inspected including a resin sheet material, wherein inspection lights of different colors are directed to the object to be inspected by a plurality of illuminations having different positions with respect to an imaging device. And the imaging device captures the inspection object by receiving the inspection light emitted from the plurality of illuminations, and the control device captures the inspection object with the imaging device. From the image, an image for each color of the inspection light is acquired, defect candidates are detected from the image of each color, and defects of the inspected object are classified according to the detection result of the defect candidate at the same position of the image of each color. The inspection method is characterized by the following.
A fourth invention is an inspection method for performing a defect inspection of an inspection object including a resin sheet material, wherein inspection lights of different colors are directed to the inspection object by a plurality of illuminations having different positions with respect to an imaging device. And the imaging device captures the inspection object by receiving the inspection light emitted from the plurality of illuminations, and the control device captures the inspection object with the imaging device. From the image, an image for each color of the inspection light is acquired to detect defect candidates from the image of each color, the defects of the inspected object are classified according to the detection result, and the control device includes the image of each color. The defect level is determined for the defect candidate detected from the defect candidate, and the defect is classified based on the color of the image in which the defect candidate is detected and the defect level of the defect candidate. Is.

本発明により、被検査物の欠陥検査を好適に行うことができる検査システム等を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide an inspection system or the like that can suitably perform a defect inspection of an inspection object.

検査システム1を示す図。The figure which shows the inspection system 1. 撮影装置5、照明7a〜7cの配置を示す図。The figure which shows arrangement|positioning of the imaging device 5 and illumination 7a-7c. ラミネート加工物20を示す図。The figure which shows the laminated product 20. 画像40a〜40cの例。Examples of images 40a-40c. 検査光71aの様子を示す図。The figure which shows the mode of the inspection light 71a. 検査光71bの様子を示す図。The figure which shows the mode of the inspection light 71b. 欠陥検査の概略について示すフローチャート。The flowchart which shows the outline of a defect inspection. 欠陥候補の検出について示すフローチャート。The flowchart shown about detection of a defect candidate. 欠陥の分類の例。Example of defect classification. 分類結果に応じた処理を示すフローチャート。The flowchart which shows the process according to a classification result. 表示画面100の例。An example of the display screen 100. 検査システム1aを示す図。The figure which shows the inspection system 1a.

以下、図面に基づいて本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

(1.検査システム1)
図1は本発明の実施形態に係る検査システム1を示す図である。図1に示す検査システム1は、ラミネート装置(不図示)において、ラミネート加工を施した後のラミネート加工物20を搬送する搬送経路に設けられる。検査システム1は、搬送中のラミネート加工物20(被検査物)に対しインラインで自動検査を行う。
(1. Inspection system 1)
FIG. 1 is a diagram showing an inspection system 1 according to an embodiment of the present invention. The inspection system 1 shown in FIG. 1 is provided in a laminating apparatus (not shown) in a conveying path for conveying the laminated product 20 after being laminated. The inspection system 1 performs in-line automatic inspection on the laminated processed product 20 (object to be inspected) that is being conveyed.

検査システム1は、制御装置3、撮影装置5、照明7a〜7c、警報装置9、操作装置11等を有し、搬送ローラー30で矢印Aに示す方向に搬送されるラミネート加工物20の検査を行う。   The inspection system 1 includes a control device 3, a photographing device 5, illuminations 7a to 7c, an alarm device 9, an operation device 11 and the like, and inspects the laminated product 20 transported by the transport roller 30 in the direction indicated by the arrow A. To do.

図1には、ラミネート加工物20の搬送方向の側方から見た場合の撮影装置5や照明7a〜7cの配置が示されている。また図2(a)、(b)はそれぞれ、撮影装置5や照明7a〜7cの配置をラミネート加工物20の上方及び搬送方向の後方(図1の矢印B参照)から見た図である。   FIG. 1 shows the arrangement of the photographing device 5 and the illuminations 7a to 7c when viewed from the side in the transport direction of the laminated product 20. 2A and 2B are views of the arrangement of the photographing device 5 and the lights 7a to 7c as viewed from above the laminate 20 and from the rear in the transport direction (see arrow B in FIG. 1).

ラミネート加工物20は、図3に示すように、紙等の基材21の上に、ポリプロピレンなどウェブ状の樹脂フィルム(樹脂製のシート材)を貼着することにより透明のラミネート層23を形成したものである。以下、ラミネート加工物20においてラミネート層23が形成された面をラミネート面というものとし、以下の説明ではラミネート面がラミネート加工物20の上面であるものとする。またラミネート加工物20の搬送方向は樹脂フィルムの長手方向に対応する。ラミネート加工物20は例えば製本用表紙であり、基材21には印刷等により絵柄が形成されている。しかしながらラミネート加工物20がこれに限ることはない。   As shown in FIG. 3, the laminated product 20 has a transparent laminate layer 23 formed by adhering a web-like resin film (resin sheet material) such as polypropylene on a base material 21 such as paper. It was done. Hereinafter, the surface of the laminated product 20 on which the laminating layer 23 is formed is referred to as a laminating surface, and in the following description, the laminating surface is the upper surface of the laminating product 20. Further, the conveyance direction of the laminated product 20 corresponds to the longitudinal direction of the resin film. The laminated product 20 is, for example, a cover for bookbinding, and a pattern is formed on the base material 21 by printing or the like. However, the laminated product 20 is not limited to this.

制御装置3は、撮影装置5や照明7a〜7c等を制御して搬送中のラミネート加工物20の撮影を行い、その撮影画像からラミネート加工物20の欠陥検査を行うものである。制御装置3は、撮影装置5等の制御を行うPLC(programmable logic controller)や、撮影画像の画像処理等により欠陥検査を行いその結果を記憶部に保存するコンピュータにより構成される。   The control device 3 controls the image capturing device 5, the illuminations 7a to 7c, and the like to capture an image of the laminated product 20 being conveyed, and performs a defect inspection of the laminated product 20 from the captured image. The control device 3 is configured by a PLC (programmable logic controller) that controls the imaging device 5 and the like, and a computer that performs a defect inspection by image processing of a captured image and stores the result in a storage unit.

撮影装置5は、制御装置3による制御のもとラミネート加工物20の撮影を行うものであり、ラミネート面の上方に配置される。撮影装置5は例えば3CCDカラーラインカメラ及び3板式カメラ用レンズから構成され、RGB三色の光を1画素当たり3つの撮像素子でそれぞれ受光する。撮影装置5による撮影範囲はラミネート加工物20の幅方向に沿ったライン状であり、この撮影範囲を図2(a)、(b)のCで示す。ラミネート加工物20の幅方向は、ラミネート加工物20の搬送方向(図1、図2(a)の矢印A参照)と直交する方向である。   The photographing device 5 photographs the laminated product 20 under the control of the control device 3, and is arranged above the laminating surface. The image pickup device 5 is composed of, for example, a 3CCD color line camera and a lens for a three-plate type camera, and receives three colors of RGB light by three image pickup elements per pixel. The photographing range of the photographing device 5 is a line shape along the width direction of the laminated product 20, and this photographing range is indicated by C in FIGS. 2A and 2B. The width direction of the laminated product 20 is a direction orthogonal to the conveying direction of the laminated product 20 (see arrow A in FIGS. 1 and 2A ).

照明7a〜7cはラミネート面の撮影範囲Cに検査光を照射するものであり、撮影装置5に対し異なる位置に配置され、且つ異なる色の検査光を照射する。   The illuminations 7a to 7c are for irradiating the photographing range C on the laminated surface with the inspection light, and are arranged at different positions with respect to the photographing device 5 and irradiate the inspection light of different colors.

照明7a(第1の照明)は、ラミネート加工物20の搬送方向の側方に配置され、ラミネート面上の撮影範囲Cの長手方向に沿って、ラミネート面に対し略平行な方向に検査光として赤色(R)の単色光を照射する。撮影装置5は、ラミネート面から平面視において搬送方向に沿って反射した検査光を受光して撮影を行う。照明7aとしては指向性の高いLED(Light Emitting Diode)光源が用いられる。なお本実施形態では、後述の図5(a)に示すように、ラミネート面に対し若干傾斜(例えば1〜2°程度)した方向に検査光を照射している。   The illumination 7a (first illumination) is arranged on the side of the conveyance direction of the laminate 20 and serves as inspection light in a direction substantially parallel to the lamination surface along the longitudinal direction of the photographing range C on the lamination surface. Irradiate red (R) monochromatic light. The imaging device 5 receives the inspection light reflected along the transport direction in a plan view from the laminate surface and performs imaging. An LED (Light Emitting Diode) light source having high directivity is used as the illumination 7a. In the present embodiment, as shown in FIG. 5A described later, the inspection light is emitted in a direction slightly inclined (for example, about 1 to 2°) with respect to the laminate surface.

照明7b(第2の照明)は、ラミネート面の上方すなわちラミネート面に対し撮影装置5と同じ側に配置され、平面視において搬送方向に沿って青色(B)の単色光を検査光として照射する。照明7bは、ラミネート面の撮影範囲Cを正反射した検査光が撮影装置5によって受光される位置関係となるように配置する。照明7bとしては、LEDを光源としたライン照明を用い、図2(a)に示すように照明7bの長軸方向をラミネート加工物20の幅方向に合わせて配置する。   The illumination 7b (second illumination) is arranged above the laminating surface, that is, on the same side as the photographing device 5 with respect to the laminating surface, and emits blue (B) monochromatic light as inspection light along the transport direction in plan view. .. The illumination 7b is arranged so that the inspection light specularly reflected in the imaging range C on the laminate surface is in a positional relationship where the inspection light is received by the imaging device 5. As the illumination 7b, line illumination using an LED as a light source is used, and the long axis direction of the illumination 7b is aligned with the width direction of the laminate 20 as shown in FIG.

照明7c(第3の照明)もラミネート面に対し撮影装置5と同じ側に配置され、撮影範囲Cの直上からラミネート面に向けて緑色(G)の単色光を検査光として照射する。撮影装置5はラミネート加工物20から拡散反射した当該検査光を受光する。照明7cとしては、LEDを光源とした拡散性のあるライン照明を用い、照明7bと同様、照明7cの長軸方向をラミネート加工物20の幅方向に合わせて配置する。   The illumination 7c (third illumination) is also arranged on the same side as the photographing device 5 with respect to the laminating surface, and irradiates the monochromatic light of green (G) as an inspection light from directly above the photographing range C toward the laminating surface. The imaging device 5 receives the inspection light diffused and reflected from the laminated product 20. As the illumination 7c, diffused line illumination using an LED as a light source is used, and like the illumination 7b, the major axis direction of the illumination 7c is aligned with the width direction of the laminate 20.

なお、特に図示しないが撮影装置5や照明7a〜7c等は暗室内に配置されており、外光を遮断した状態でラミネート加工物20の撮影が行われる。   It should be noted that although not shown in particular, the photographing device 5, the illuminations 7a to 7c, etc. are arranged in a dark room, and the laminated product 20 is photographed in a state where external light is blocked.

警報装置9は、視覚的あるいは聴覚的な警報を発する装置であり、例えばブザー、パトライト(登録商標)などのランプ等である。   The alarm device 9 is a device that issues a visual or audible alarm, and is, for example, a buzzer, a lamp such as a Patlite (registered trademark), or the like.

操作装置11は検査システム1に係る各種操作を行うものであり、本実施形態では欠陥検査の結果などを表示するタッチパネル付きディスプレイを備える。   The operating device 11 is for performing various operations related to the inspection system 1, and in the present embodiment, is provided with a display with a touch panel for displaying a result of a defect inspection and the like.

(2.ラミネート加工物20の画像)
撮影装置5はラインカメラであり、搬送中のラミネート加工物20について、前記したライン状の撮影範囲Cを継続的に撮影することで撮影画像を得る。
(2. Image of laminated product 20)
The image capturing device 5 is a line camera, and captures a captured image by continuously capturing the line-shaped capturing range C of the laminated product 20 being conveyed.

撮影画像についてはラミネート装置のライン速度等に応じたサイズ補正が行われ、この撮影画像の各画素のR値(赤色成分)、B値(青色成分)、G値(緑色成分)をそれぞれ抽出することにより図4(a)、(b)、(c)に例示する3つの画像40a、40b、40cが得られる。以下、これらをR画像40a、B画像40b、G画像40cということがある。なお、図4(a)〜(c)の各画像40a〜40cの横方向はラミネート加工物20の搬送方向に対応している。   The captured image is subjected to size correction according to the line speed of the laminating device, and the R value (red component), B value (blue component), and G value (green component) of each pixel of this captured image are extracted. As a result, three images 40a, 40b, 40c illustrated in FIGS. 4A, 4B, and 4C are obtained. Hereinafter, these may be referred to as an R image 40a, a B image 40b, and a G image 40c. The horizontal direction of each of the images 40a to 40c in FIGS. 4A to 4C corresponds to the conveyance direction of the laminated product 20.

ここで、図4(a)に示すように、R画像40aでは、ラミネート面に生じる凸部231が、それ以外の部分に対して明るく現れる。   Here, as shown in FIG. 4A, in the R image 40a, the convex portion 231 generated on the laminate surface appears brighter than the other portions.

これは、図5(a)に示すように、正常なラミネート面では照明7aからの赤色の検査光71aが撮影装置5とは異なる方向に向かうが、樹脂フィルムのシワや亀裂、異物、基材21の折れなどにより図5(b)に示すようにラミネート面に凸部231が生じると、検査光71aが凸部231に突き当たって拡散反射し、その一部が搬送方向に沿って反射され撮影装置5で受光されるためである。なお図5(a)、(b)は検査光71aの様子を図2(b)と同様の方向から見た図であり、図5(c)は図5(b)の状態を図2(a)と同様の方向から見た図である。図5(a)〜図5(c)では照明7b、7c等の図示を省略している。   As shown in FIG. 5(a), the red inspection light 71a from the illumination 7a is directed in a direction different from that of the photographing device 5 on a normal laminated surface, but wrinkles and cracks in the resin film, foreign matter, and substrate When a convex portion 231 is formed on the laminate surface as shown in FIG. 5B due to a fold of 21 or the like, the inspection light 71a strikes the convex portion 231 and is diffusely reflected, and a part of the inspection light 71a is reflected along the transport direction to be photographed. This is because the light is received by the device 5. 5A and 5B are views of the inspection light 71a viewed from the same direction as FIG. 2B, and FIG. 5C shows the state of FIG. It is the figure seen from the same direction as a). Illumination 7b, 7c, etc. are omitted in FIGS. 5(a) to 5(c).

赤色の検査光71aは、青や緑に比べ波長が長く、光強度が強いため少ないワット数でも凸部231ははっきりと現れる。一般的に凸部231の高さが高い程、画像40a上で高輝度の領域が広面積で現れる。図4(a)の凸部231は島状であり異物等を原因とする例であるが、樹脂フィルムのシワの場合、凸部231は筋状に現れる。   The wavelength of the red inspection light 71a is longer than that of blue or green, and the light intensity is high, so that the convex portion 231 appears clearly even with a small wattage. Generally, the higher the height of the convex portion 231, the larger the area of high brightness appears on the image 40a. The convex portion 231 in FIG. 4A is an island shape and is an example caused by a foreign substance or the like, but in the case of wrinkles of a resin film, the convex portion 231 appears in a streak shape.

一方、図4(b)に示すように、B画像40bでは、ラミネート面の光沢変化部232を検出することができる。   On the other hand, as shown in FIG. 4B, in the B image 40b, the gloss change portion 232 on the laminate surface can be detected.

すなわち、図6(a)に示すように正常なラミネート面では照明7bから照射された青色の検査光71bが正反射して撮影装置5に向かうが、ラミネート面のキズがあると、図6(b)に示すようにラミネート面の窪みで検査光71bが拡散反射して撮影装置5での受光量が少なくなる。その他、樹脂フィルムの貼着面の異物や樹脂フィルムの接着不良による浮き、樹脂フィルムのシワ、基材21の折れなどがある場合もラミネート面の反射特性の変化により撮影装置5での受光量が少なくなり、B画像40bではこのような光沢変化部232の輝度が周囲より低くなる。   That is, as shown in FIG. 6A, on the normal laminating surface, the blue inspection light 71b emitted from the illumination 7b is specularly reflected and heads for the imaging device 5, but if there is a flaw on the laminating surface, FIG. As shown in b), the inspection light 71b is diffused and reflected by the depression of the laminate surface, and the amount of light received by the imaging device 5 is reduced. In addition, even if there is a foreign substance on the resin film sticking surface or floating due to poor adhesion of the resin film, wrinkles of the resin film, breakage of the base material 21, etc., the amount of light received by the photographing device 5 is changed by the change in the reflection characteristics of the laminate surface. In the B image 40b, the brightness of the gloss changing portion 232 is lower than that of the surroundings.

これに対し、フィルム片など高明度の異物や光沢のある異物があると、撮影装置5が受光する検査光71bの受光量が逆に多くなることもあり、B画像40bではこのような光沢変化部232の輝度が周囲より高くなる。なお図6(a)、(b)は検査光71bの様子を図1と同様の方向から見たものであり、照明7a、7c等の図示は省略している。   On the other hand, if there is a foreign matter of high brightness or a glossy foreign matter such as a piece of film, the amount of the inspection light 71b received by the imaging device 5 may be increased on the contrary. The brightness of the portion 232 is higher than the surroundings. Note that FIGS. 6A and 6B are views of the inspection light 71b viewed from the same direction as in FIG. 1, and illustrations of the illuminations 7a and 7c are omitted.

青色の検査光71bは、赤や緑に比べて波長が短く、表面反射しやすい特性を持つ。従って、ラミネート面の反射特性の変化に最も敏感なことから、ラミネート面からの正反射光を撮影装置5で受光するようにし、その光沢変化をB画像40bで抽出することで、小さな異物の噛み込み等も検出できる。なおB画像40bの輝度は基材21の絵柄の影響を受けるが、これについては、後述するG画像40cから得られる絵柄による補正を行って、絵柄の影響を除外できる。   The blue inspection light 71b has a shorter wavelength than red and green, and has a characteristic of being easily reflected on the surface. Therefore, since it is most sensitive to the change in the reflection characteristic of the laminate surface, the specular reflection light from the laminate surface is received by the image capturing device 5, and the change in gloss is extracted in the B image 40b, so that a small foreign matter is bitten. It is also possible to detect jamming. Note that the brightness of the B image 40b is influenced by the design of the base material 21, but this can be corrected by the design obtained from the G image 40c described later to eliminate the influence of the design.

図4(c)に示すように、G画像40cでは、ラミネート加工物20の基材21の絵柄211が現れる。緑色の検査光の波長はRGBの中間的な波長であり、モノクロカメラで撮影した場合に近いデータを得ることができるので、一般的な絵柄検査を行い、絵柄の抜けや汚れ等を検出できる。   As shown in FIG. 4C, in the G image 40c, the pattern 211 of the base material 21 of the laminated product 20 appears. The wavelength of the green inspection light is an intermediate wavelength of RGB, and it is possible to obtain data similar to that obtained by shooting with a monochrome camera. Therefore, general pattern inspection can be performed to detect missing patterns, stains, and the like.

(3.ラミネート加工物20の検査方法)
次に、ラミネート加工物20の検査方法の概略について図7を参照して説明する。図7は検査方法について示すフローチャートであり、各ステップは制御装置3によって実行される。
(3. Laminated product 20 inspection method)
Next, an outline of a method for inspecting the laminated product 20 will be described with reference to FIG. 7. FIG. 7 is a flowchart showing the inspection method, and each step is executed by the control device 3.

本実施形態では、搬送中のラミネート加工物20のラミネート面に照明7a〜7cによって検査光を照射した状態で、制御装置3の制御のもと撮影装置5によって前記したようにラミネート加工物20の撮影を行う(S1)。撮影画像は撮影装置5から制御装置3に送信され、制御装置3は撮影画像を受信し取得する。   In the present embodiment, the laminate surface of the laminate 20 being conveyed is irradiated with the inspection light by the illuminations 7a to 7c under the control of the controller 3 as described above by the photographing device 5. Photographing is performed (S1). The captured image is transmitted from the image capturing device 5 to the control device 3, and the control device 3 receives and acquires the captured image.

本実施形態では、制御装置3が、撮影画像から前記のR画像40a、B画像40b、G画像40cを取得し(S2)、R画像40a、B画像40b、G画像40cから欠陥候補を検出する(S3)。   In the present embodiment, the control device 3 acquires the R image 40a, the B image 40b, and the G image 40c from the captured image (S2), and detects a defect candidate from the R image 40a, the B image 40b, and the G image 40c. (S3).

制御装置3は、いずれの画像40a〜40cからも欠陥候補が検出されなかった場合(S4;NO)、処理を終了するが、いずれかの画像40a〜40cで欠陥候補が検出されている場合(S4;YES)、その欠陥候補について欠陥の分類を行い(S5)、分類結果に応じた処理を実行する(S6)。S3、5、6の処理の詳細については後述する。   When no defect candidate is detected in any of the images 40a to 40c (S4; NO), the control device 3 ends the process, but when a defect candidate is detected in any of the images 40a to 40c ( S4: YES), the defect candidate is classified into defects (S5), and a process according to the classification result is executed (S6). Details of the processing of S3, 5, and 6 will be described later.

(S3;欠陥候補の検出)
図8は、S3における欠陥候補の検出処理の流れを示すフローチャートであり、各ステップは制御装置3によって実行される。
(S3; detection of defect candidate)
FIG. 8 is a flowchart showing the flow of the defect candidate detection processing in S3, and each step is executed by the control device 3.

本実施形態では、欠陥候補を検出する際、まず制御装置3がG画像40cをG基準画像と比較して絵柄211の位置合わせを行う(S11)。G基準画像はラミネート加工物20の良品についてのG画像である。本実施形態では、ラミネート加工物20の良品の撮影画像とR画像、G画像、B画像が前記と同様の手順で予め取得され、制御装置3のコンピュータの記憶部等に保存されている。   In the present embodiment, when detecting a defect candidate, the control device 3 first compares the G image 40c with the G reference image to align the pattern 211 (S11). The G reference image is a G image of a good product of the laminated product 20. In the present embodiment, the photographed image and the R image, the G image, and the B image of the non-defective product of the laminated processed product 20 are acquired in advance by the same procedure as described above, and are stored in the storage unit of the computer of the control device 3 or the like.

S11では、例えば画像を細かく分割した単位で、画像の位置補正、伸縮等を行うことによりG基準画像に合わせるようG画像40cの補正を行い、蛇行、天地ズレなどラミネート加工物20の挙動による位置ズレの影響を除外できる。この画像補正についての情報を用いることで、R画像40a、B画像40bから検出した欠陥候補についても、ラミネート加工物20の蛇行等の影響を除外した正しい位置を得ることができる。   In S11, the G image 40c is corrected so as to be aligned with the G reference image by, for example, correcting the position of the image or expanding and contracting the image in a unit that is finely divided, and the position of the laminated product 20 such as meandering and top-bottom misalignment is determined according to the behavior of the laminated product 20. The influence of the gap can be excluded. By using the information about the image correction, it is possible to obtain the correct position for the defect candidates detected from the R image 40a and the B image 40b, excluding the influence of the meandering of the laminate 20 and the like.

次に、制御装置3は、R画像40a、B画像40b、G画像40cのそれぞれから欠陥候補の検出を行う(S12)。   Next, the control device 3 detects a defect candidate from each of the R image 40a, the B image 40b, and the G image 40c (S12).

欠陥候補の検出は既知の画像処理手法を用いて行うことができる。例えばR基準画像、B基準画像、G基準画像との位置合わせを行ったR画像40a、B画像40b、G画像40cのそれぞれについて、R基準画像、B基準画像、G基準画像との差分をとり、差分画像を所定の閾値で二値化して閾値以上の領域(明領域)あるいは閾値以下の領域(暗領域)を欠陥候補とする。なおR基準画像、B基準画像は前記したラミネート加工物20の良品についてのR画像、B画像である。   Detection of defect candidates can be performed using a known image processing method. For example, for each of the R image 40a, the B image 40b, and the G image 40c that are aligned with the R reference image, the B reference image, and the G reference image, the difference between the R reference image, the B reference image, and the G reference image is calculated. , The difference image is binarized with a predetermined threshold, and a region above the threshold (bright region) or a region below the threshold (dark region) is set as a defect candidate. The R reference image and the B reference image are the R image and the B image of the non-defective product of the laminated product 20 described above.

G画像40cから欠陥候補が検出された場合(S13;YES)、制御装置3は、欠陥候補の位置を取得して(S14)、欠陥のレベルを判別する(S15)。   When a defect candidate is detected from the G image 40c (S13; YES), the control device 3 acquires the position of the defect candidate (S14) and determines the defect level (S15).

制御装置3は、R画像40aから欠陥候補が検出された場合(S16;YES)、上記と同様、欠陥候補の位置を取得して(S17)、欠陥のレベルを判別する(S18)。   When a defect candidate is detected from the R image 40a (S16; YES), the control device 3 acquires the position of the defect candidate (S17) and determines the defect level (S18), as described above.

制御装置3は、B画像40bから欠陥候補が検出された場合(S19;YES)、同じく欠陥候補の位置を取得して(S20)、欠陥のレベルを判別する(S21)。   When the defect candidate is detected from the B image 40b (S19; YES), the control device 3 also acquires the position of the defect candidate (S20) and determines the defect level (S21).

なお、いずれの画像40a〜40cからも欠陥候補が検出されなかった場合(S13;NO、S16;NO、S19;NO)は、前記した通りそのまま処理を終了することとなる(S4;NO)。   If no defect candidate is detected from any of the images 40a to 40c (S13; NO, S16; NO, S19; NO), the process is terminated as described above (S4; NO).

欠陥のレベルは例えば重欠陥、中欠陥、軽欠陥、筋状欠陥、良品などとし、欠陥候補の領域の大小、領域の輝度、領域の形状などにより判別する。例えば、領域の面積及び輝度の大きな欠陥候補を重欠陥とし、それらの値が中程度の欠陥候補を中欠陥とする。また領域の面積及び輝度の小さな欠陥候補は軽欠陥とし、それらの値がさらに小さい欠陥候補は良品(欠陥で無い)とする。さらに、領域の形状が筋状の欠陥候補は筋状欠陥とする。ただしレベルの判別方法はこれに限らない。例えばR画像40a、B画像40bの場合、一定長さ以上の筋状の欠陥候補を重欠陥と判別することも可能である。   The defect level is, for example, a heavy defect, a medium defect, a light defect, a streak defect, or a non-defective item, and is determined by the size of the defect candidate area, the brightness of the area, the shape of the area, and the like. For example, a defect candidate having a large area and brightness is a heavy defect, and a defect candidate having a medium value thereof is a medium defect. Further, a defect candidate having a small area and brightness is a light defect, and a defect candidate having a smaller value is a good product (not a defect). Further, a defect candidate having a streaky area shape is a streak defect. However, the level determination method is not limited to this. For example, in the case of the R image 40a and the B image 40b, it is possible to discriminate a streak-like defect candidate having a certain length or more as a heavy defect.

(S5;欠陥の分類)
S5における欠陥の分類は、欠陥候補がどの画像40a〜40cから検出されたか(B画像40b、G画像40cから検出された欠陥候補については、明領域として検出されたか暗領域として検出されたかを含む。以下「検出元」という。)及び欠陥候補の欠陥のレベルに基づいて行う。
(S5; defect classification)
The classification of the defect in S5 includes from which image 40a to 40c the defect candidate is detected (for the defect candidate detected from the B image 40b and the G image 40c, whether it is detected as a bright region or a dark region). (Hereinafter referred to as "detection source") and the defect level of the defect candidate.

欠陥の分類は、欠陥候補の検出元及び欠陥のレベル、欠陥の特徴、欠陥のクラス分類等の関係を予め定めたテーブルに基づいて行うことができ、当該テーブルは制御装置3のコンピュータの記憶部などに予め保存されている。以下の例では、欠陥候補が、重度の欠陥から軽度の欠陥になるにつれ「クラスAの欠陥」「クラスBの欠陥」「クラスCの欠陥」「クラスDの欠陥」「非欠陥」となるように、その重要度に応じた分類がなされる。   The defect classification can be performed based on a table in which the relationship between the defect candidate detection source and the defect level, the defect feature, the defect class classification, and the like is predetermined, and the table is a storage unit of the computer of the control device 3. It has been saved in advance. In the following example, the defect candidates become “class A defects”, “class B defects”, “class C defects”, “class D defects”, and “non-defects” as the defects change from severe defects to mild defects. Then, the classification according to the importance is made.

図9は欠陥の分類の例について示す図である。例えば図9(a)のように、R画像40aで検出された欠陥候補が重欠陥とされ、B画像40bで同じ位置に検出された欠陥候補が暗領域の重欠陥とされ、G画像40cで同じ位置に検出された欠陥候補が良品とされる(又は当該位置で欠陥候補が検出されなかった)場合、その原因は例えば木片(異物)の混入等であり、欠陥候補は「クラスAの欠陥」に分類される。   FIG. 9 is a diagram showing an example of defect classification. For example, as shown in FIG. 9A, the defect candidate detected in the R image 40a is a heavy defect, the defect candidate detected at the same position in the B image 40b is a heavy defect in the dark area, and the G image 40c is a defect defect. When the defect candidates detected at the same position are regarded as non-defective (or the defect candidate is not detected at the position), the cause is, for example, the mixing of a piece of wood (foreign matter), and the defect candidate is “class A defect. "are categorized.

また図9(b)のように、R画像40aで検出された欠陥候補が筋状欠陥とされ、B画像40bで同じ位置に検出された欠陥候補が明領域の中欠陥とされ、G画像40cで同じ位置に検出された欠陥候補が良品とされる(又は当該位置で欠陥候補が検出されなかった)場合、その原因は例えば樹脂フィルムの大きなシワ等であり、欠陥候補は「クラスAの欠陥」に分類される。   Further, as shown in FIG. 9B, the defect candidate detected in the R image 40a is a streak defect, the defect candidate detected in the same position in the B image 40b is a medium defect in the bright region, and the G image 40c is a defect. If the defect candidate detected at the same position in step 1 is regarded as a non-defective product (or the defect candidate is not detected at that position), the cause is, for example, a large wrinkle of the resin film, and the defect candidate is “class A defect. "are categorized.

また図9(c)のように、B画像40bで検出された欠陥候補が暗領域の軽欠陥とされ、R画像40a、G画像40cの同じ位置で検出された欠陥候補が良品とされる(又は当該位置で欠陥候補が検出されなかった)場合、その原因は例えば絵柄には影響の無い程度の樹脂フィルムの貼着面の小さな異物等であり、欠陥候補は「クラスBの欠陥」に分類される。   Further, as shown in FIG. 9C, the defect candidate detected in the B image 40b is regarded as a light defect in the dark area, and the defect candidate detected at the same position in the R image 40a and the G image 40c is regarded as a good product ( Or, if no defect candidate is detected at that position), the cause is, for example, a small foreign substance on the resin film attachment surface that does not affect the design, and the defect candidate is classified as "class B defect". To be done.

また図9(d)のように、B画像40b、G画像40cで同じ位置に検出された欠陥候補が明領域の重欠陥とされるが、R画像40aの同じ位置で検出された欠陥候補が良品とされた(又は当該位置で欠陥候補が検出されなかった)場合、その欠陥候補の原因は例えば広面積に絵柄が抜けるような大きなフィルム片などの異物の混入等であり、欠陥候補は「クラスAの欠陥」に分類される。   Further, as shown in FIG. 9D, the defect candidate detected at the same position in the B image 40b and the G image 40c is regarded as a heavy defect in the bright area, but the defect candidate detected at the same position in the R image 40a is When it is determined to be a non-defective product (or no defect candidate is detected at the position), the cause of the defect candidate is, for example, inclusion of a foreign material such as a large film piece that causes the pattern to be removed in a large area. Class A defect”.

なお、図9(e)のように、R画像40aで検出された欠陥候補が良品とされ、B画像40b、G画像40cの同じ位置で検出された欠陥が良品とされる(又は当該位置で欠陥候補が検出されなかった)場合、その欠陥候補は「非欠陥」に分類される。   As shown in FIG. 9E, the defect candidate detected in the R image 40a is regarded as a non-defective product, and the defect detected in the same position in the B image 40b and the G image 40c is regarded as a non-defective product (or in that position). If no defect candidate was detected), the defect candidate is classified as "non-defect".

(S6;分類結果に応じた処理)
図10はS6の分類結果に応じた処理の流れを示すフローチャートであり、図の各ステップは制御装置3によって実行される。
(S6; processing according to the classification result)
FIG. 10 is a flowchart showing the flow of processing according to the classification result of S6, and each step of the drawing is executed by the control device 3.

本実施形態では、欠陥候補が「クラスAの欠陥」に分類された場合(S101;YES)、制御装置3はその欠陥候補の画像(以下、欠陥画像という)をラミネート加工物20の撮影画像から切り出してコンピュータの記憶部に保存し(S102)、欠陥画像を操作装置11のタッチパネル付きディスプレイに表示する(S103)。そして、警報装置9に信号を出力して警報装置9に警報を発生させ(S104)、ラミネート加工物20の排出部(不図示)にリジェクト信号を出力して当該欠陥を有するラミネート加工物20をリジェクトさせる(S105)。   In the present embodiment, when the defect candidate is classified into “class A defect” (S101; YES), the control device 3 obtains an image of the defect candidate (hereinafter, referred to as a defect image) from the captured image of the laminate 20. The image is cut out and stored in the storage unit of the computer (S102), and the defect image is displayed on the touch panel display of the operation device 11 (S103). Then, a signal is output to the alarm device 9 to cause the alarm device 9 to generate an alarm (S104), and a reject signal is output to the discharge portion (not shown) of the laminate 20 to detect the laminate 20 having the defect. Reject (S105).

一方、欠陥候補が「クラスBの欠陥」に分類された場合(S101;NO、S106;YES)、制御装置3は欠陥画像の保存(S102)と表示(S103)を行い、警報装置9に信号を出力して警報装置9に警報を発生させ(S104)、これをオペレータに報知する。   On the other hand, when the defect candidate is classified into “class B defect” (S101; NO, S106; YES), the control device 3 saves the defect image (S102) and displays (S103), and notifies the alarm device 9 of the signal. Is output to cause the alarm device 9 to generate an alarm (S104), and the operator is notified of this.

欠陥候補が「クラスCの欠陥」に分類される場合(S101;NO、S106;NO、S107;YES)、制御装置3は欠陥画像の保存(S102)と表示(S103)を行い、オペレータがこれをタッチパネル付きディスプレイで確認できるようにする。   When the defect candidate is classified into the “class C defect” (S101; NO, S106; NO, S107; YES), the control device 3 saves (S102) and displays (S103) the defect image, and the operator selects this. To be able to check on the display with a touch panel.

欠陥候補が「クラスDの欠陥」に分類される場合(S101;NO、S106;NO、S107;NO、S108;YES)、制御装置3は欠陥画像の保存(S102)のみ行い、記録として残しておく。   When the defect candidate is classified into “class D defect” (S101; NO, S106; NO, S107; NO, S108; YES), the control device 3 only saves the defect image (S102) and leaves it as a record. deep.

なお、欠陥候補が「非欠陥」に分類される場合(S101;NO、S106;NO、S107;NO、S108;NO、S109)、制御装置3は特に処理を行わない。   When the defect candidate is classified as “non-defect” (S101; NO, S106; NO, S107; NO, S108; NO, S109), the control device 3 does not perform any particular process.

このように、制御装置3はS6において欠陥の分類結果に応じた処理を行う。特に、欠陥の分類結果に応じてリジェクト(S105)を行うか否かを決定することで、リジェクトしなくても良い欠陥を有するラミネート加工物20のリジェクトを防ぐことができる。   In this way, the control device 3 performs the process according to the defect classification result in S6. In particular, by deciding whether or not to reject (S105) according to the result of classification of defects, it is possible to prevent the laminated product 20 having a defect that does not need to be rejected.

(4.操作装置11のタッチパネル付きディスプレイの表示画面)
図11は、S3〜S6において操作装置11のタッチパネル付きディスプレイに表示される表示画面100の一例である。表示画面100は、欠陥候補表示領域110、検出元表示領域120、欠陥画像表示領域130、良品画像表示領域140、履歴表示領域150、設定領域160、検査レベル選択領域170、検出結果表示領域180等を有する。
(4. Display screen of display with touch panel of operation device 11)
FIG. 11 is an example of the display screen 100 displayed on the touch panel display of the operating device 11 in S3 to S6. The display screen 100 includes a defect candidate display area 110, a detection source display area 120, a defect image display area 130, a non-defective image display area 140, a history display area 150, a setting area 160, an inspection level selection area 170, a detection result display area 180, and the like. Have.

欠陥候補表示領域110は、欠陥候補112の位置をラミネート加工物20の良品の撮影画像111上に表示するものである。欠陥候補112は検出元が識別可能なマークとして表示される。   The defect candidate display area 110 displays the position of the defect candidate 112 on the photographed image 111 of the good product of the laminate 20. The defect candidate 112 is displayed as a mark with which the detection source can be identified.

この例では、欠陥候補112がS3で検出されS5で分類されるたびにそのマークが撮影画像111上に表示され、最新の欠陥候補112については枠114を付すなどして最新のものであることが識別可能に表示される。   In this example, each time the defect candidate 112 is detected in S3 and classified in S5, the mark is displayed on the photographed image 111, and the latest defect candidate 112 is the latest one by adding a frame 114 or the like. It is displayed so that it can be identified.

検出元表示領域120は、欠陥候補112の検出元を表示するものである。この例では、最新の欠陥候補112の検出元が枠線121等で識別可能に表示され、その欠陥のレベル122も併せて表示される。   The detection source display area 120 displays the detection source of the defect candidate 112. In this example, the detection source of the latest defect candidate 112 is displayed in a distinguishable manner by the frame line 121 and the like, and the defect level 122 is also displayed.

なお、欠陥候補112が複数の検出元で同じ位置に検出される場合、欠陥候補112の検出元の表示に関しては、欠陥のレベルが高い方の検出元、又は優先順位の高い方の検出元についての表示を行う。   In addition, when the defect candidate 112 is detected at the same position by a plurality of detection sources, regarding the display of the detection source of the defect candidate 112, the detection source having a higher defect level or the detection source having a higher priority level is displayed. Is displayed.

すなわち、前者の場合、例えば欠陥候補112がB画像40bとG画像40cで同じ位置に検出され、B画像40bにおいては軽欠陥、G画像40cにおいては中欠陥と判別されると、前記の枠線121はG画像40cについて付され、前記のマークはG画像40cに対応するものとなる。   That is, in the former case, for example, when the defect candidate 112 is detected at the same position in the B image 40b and the G image 40c, and it is determined that the B image 40b is a light defect and the G image 40c is a medium defect, the frame line 121 is attached to the G image 40c, and the mark corresponds to the G image 40c.

また後者の場合、例えばR画像40a、B画像40b、G画像40cの順に優先順位が設定され、欠陥候補112がR画像40aとB画像40bで同じ位置に検出されると、前記の枠線121はR画像40aについて付され、前記のマークはR画像40aに対応するものとなる。   In the latter case, for example, when the priority order is set in the order of the R image 40a, the B image 40b, and the G image 40c, and the defect candidate 112 is detected at the same position in the R image 40a and the B image 40b, the frame 121 Is attached to the R image 40a, and the mark corresponds to the R image 40a.

表示画面100の説明に戻る。欠陥画像表示領域130は、欠陥候補112の欠陥画像を拡大して表示するものである。この例では、最新且つS6において表示するとされた(図10のS103参照)欠陥候補112の欠陥画像が拡大表示される。   Returning to the explanation of the display screen 100. The defect image display area 130 enlarges and displays the defect image of the defect candidate 112. In this example, the defect image of the defect candidate 112 which is the latest and is displayed in S6 (see S103 in FIG. 10) is enlarged and displayed.

良品画像表示領域140は、ラミネート加工物20の良品の撮影画像111より、欠陥画像表示領域130に表示された欠陥候補112と対応する位置の画像を抽出し、これを表示するものである。   The non-defective image display area 140 is for extracting an image at a position corresponding to the defect candidate 112 displayed in the defect image display area 130 from the photographed image 111 of the non-defective product of the laminated processed product 20, and displaying this.

履歴表示領域150は、欠陥検査時の欠陥候補112の検出結果を表示するものである。履歴表示領域150には、検査のスタート時刻、検出された欠陥候補112とその検出時刻、欠陥候補112の検出元が表示される。   The history display area 150 displays the detection result of the defect candidate 112 at the time of defect inspection. In the history display area 150, the inspection start time, the detected defect candidate 112 and its detection time, and the detection source of the defect candidate 112 are displayed.

また、履歴表示領域150では、一覧ボタン151を選択することで過去行った欠陥検査の一覧を表示でき、その中から欠陥検査を選択することでその時の欠陥候補112の検出結果を表示することができる。また「前」ボタン152を選択することでその前の欠陥検査における欠陥候補112の検出結果を表示することができ、「次」ボタン153を選択することで次の欠陥検査における欠陥候補112の検出結果を表示することができる。また、「最新」ボタン154を選択することで最新の欠陥検査における欠陥候補112の検出結果を表示することができる。   In the history display area 150, a list of defect inspections performed in the past can be displayed by selecting the list button 151, and by selecting a defect inspection from the list, the detection result of the defect candidate 112 at that time can be displayed. it can. Further, by selecting the "previous" button 152, the detection result of the defect candidate 112 in the previous defect inspection can be displayed, and by selecting the "next" button 153, the defect candidate 112 in the next defect inspection can be detected. The results can be displayed. Further, by selecting the “latest” button 154, the detection result of the defect candidate 112 in the latest defect inspection can be displayed.

設定領域160は、欠陥候補表示領域110における表示設定を行うものである。表示設定としては、撮影画像111の表示倍率、欠陥候補112の表示モード、経時欠陥選択、表示レベル選択などがある。   The setting area 160 is for making display settings in the defect candidate display area 110. The display settings include the display magnification of the captured image 111, the display mode of the defect candidate 112, the selection of time-dependent defects, the display level selection, and the like.

表示モードは欠陥候補112を表示する方法を選択するものであり、例えば欠陥候補112が検出されて分類されれば順次撮影画像111上にそのマークを表示する「通常」モードや、一定期間欠陥候補112のマークの表示を中止し、現在マークが表示されている欠陥候補112のチェックを詳しく行えるようにする「検査優先」モードなどがある。   The display mode selects a method of displaying the defect candidates 112. For example, if the defect candidates 112 are detected and classified, the “normal” mode in which the marks are sequentially displayed on the captured image 111, or the defect candidates for a certain period of time are displayed. There is an “inspection priority” mode in which the display of the mark 112 is stopped and the defect candidate 112 whose mark is currently displayed can be checked in detail.

「検査優先」モードの場合、例えば欠陥画像表示領域130に表示する欠陥候補112を撮影画像111上の欠陥候補112から選択することができる。検出元表示領域120では、選択された欠陥候補112の検出元が枠線121等で識別可能に表示され、併せてその欠陥のレベル122も表示される。   In the “inspection priority” mode, for example, the defect candidate 112 displayed in the defect image display area 130 can be selected from the defect candidates 112 on the captured image 111. In the detection source display area 120, the detection source of the selected defect candidate 112 is displayed in a distinguishable manner by a frame line 121 and the like, and the defect level 122 is also displayed.

経時欠陥選択は、ラミネート加工物20の幅方向の同じ位置に経時的に欠陥候補112が現れる場合に、これを識別可能に表示するものである。例えばラミネート加工物20の搬送方向に一定の間隔で所定数の欠陥候補が現れた場合に、その欠陥候補112のマークを枠で囲むなどして識別可能に表示する「周期欠陥」や、ラミネート加工物20の幅方向の同じ位置に所定数の欠陥候補が現れる場合に、当該位置を矢印等により識別可能に表示する「連続欠陥」などが選択可能である。   The defect selection with time is to display the defect candidate 112 in a distinguishable manner when the defect candidate 112 appears with time at the same position in the width direction of the laminate 20. For example, when a predetermined number of defect candidates appear at a constant interval in the transport direction of the laminated product 20, a "periodic defect" in which the mark of the defect candidate 112 is displayed in a distinguishable manner by enclosing it with a frame, or a laminating process is performed. When a predetermined number of defect candidates appear at the same position in the width direction of the object 20, a “continuous defect” or the like that indicates the position in a distinguishable manner by an arrow or the like can be selected.

表示レベル選択は、欠陥候補112の欠陥のレベルに応じた表示、非表示を定めるもので、例えば重欠陥とされた欠陥候補112のマークのみ表示する「重」や、中欠陥以上(中欠陥または重欠陥)の欠陥候補112のマークのみ表示する「中」、軽欠陥以上(軽欠陥または中欠陥または重欠陥)の欠陥候補112のマークのみ表示する「軽」、筋状欠陥とされた欠陥候補112のマークのみ表示する「筋」などが選択可能である。   The display level selection defines display or non-display according to the level of the defect of the defect candidate 112. For example, "heavy" that displays only the mark of the defect candidate 112 that is a heavy defect, medium defect or higher (medium defect or "Middle" which displays only the mark of the defect candidate 112 of "heavy defect", "Light" which displays only the mark of the defect candidate 112 of light defect or more (light defect, medium defect or heavy defect), the defect candidate which is regarded as a streak defect A "streak" or the like that displays only the mark 112 can be selected.

検査レベル選択領域170は、製品の品目等に応じた検査レベルの設定を行うもので、例えば欠陥候補112の検出時に二値化を行う際の閾値や欠陥のレベルを判別する際の基準が異なる複数の検査レベル(図の例では「A」〜「D」)のうちいずれかを選択可能である。   The inspection level selection area 170 is used to set an inspection level according to a product item or the like, and, for example, thresholds used for binarization at the time of detecting the defect candidate 112 and different criteria for determining the defect level are different. Any of a plurality of inspection levels (“A” to “D” in the example in the figure) can be selected.

検出結果表示領域180は、欠陥検査におけるラミネート加工物20の全検査数181、軽欠陥の欠陥候補112の累積検出数182、中欠陥の欠陥候補112の累積検出数183、重欠陥の欠陥候補112の累積検出数184、欠陥候補112の検出履歴185などを示したものである。検出履歴185は、時間経過を示す直線上に欠陥候補112のマークを表示することで、どの時刻にどの検出元から欠陥候補112が検出されたかがわかる。   The detection result display area 180 includes the total number of inspections 181 of the laminated product 20 in the defect inspection, the cumulative detection number 182 of the defect candidates 112 of the light defect, the cumulative detection number 183 of the defect candidates 112 of the medium defect, and the defect candidate 112 of the heavy defect. The cumulative detection number 184, the detection history 185 of the defect candidate 112, and the like are shown. In the detection history 185, by displaying the mark of the defect candidate 112 on a straight line indicating the passage of time, it is possible to know at what time and from which detection source the defect candidate 112 was detected.

以上説明したように、本実施形態によれば、撮影装置5と、撮影装置5に対する位置及び検査光の色が異なる複数の照明を用いることで、多様な欠陥の検出を可能にし、ラミネート加工物20の検査を好適に行うことができる。しかも、制御装置3は撮影画像から得られた各色の画像40a〜40cから欠陥候補を検出し、それらの複合的な検出結果に応じて欠陥の分類を行うことで、基材21(紙)の印刷工程で発生するパウダー塊、フィルム片、木片などの様々な異物、樹脂フィルムのシワや接着不良、キズ、亀裂、基材21の折れ、絵柄の抜けや汚れなど多様な欠陥を区別でき、欠陥の過剰検出を防ぐことができる。   As described above, according to the present embodiment, it is possible to detect various defects by using the imaging device 5 and a plurality of lights having different positions and colors of inspection light with respect to the imaging device 5, and it is possible to detect various defects. 20 inspections can be suitably performed. Moreover, the control device 3 detects the defect candidates from the images 40a to 40c of the respective colors obtained from the photographed image, and classifies the defects according to the composite detection results of the defect candidates. Various defects such as powder lumps generated in the printing process, various foreign substances such as film pieces and wood pieces, wrinkles and poor adhesion of resin film, scratches, cracks, folds of the base material 21, missing patterns and stains can be distinguished. It is possible to prevent excessive detection of.

また本実施形態ではどの画像40a〜40cから欠陥候補が検出されたか(欠陥候補の検出元)等による簡単な場合分けで欠陥の分類を行えるので、人工知能技術などを利用して欠陥を分類する場合に比べて欠陥の分類にかかる時間も短く、リアルタイムでインライン検査を行って欠陥を分類し、重要な欠陥が生じた場合のみラミネート加工物20を排出することで、生産性が落ちることもない。   Further, in the present embodiment, it is possible to classify defects by simple case classification according to which image 40a to 40c a defect candidate is detected (defect candidate detection source), and so on. Therefore, defects are classified using an artificial intelligence technique or the like. The time required for classifying defects is shorter than that in the case, and the inline inspection is performed in real time to classify the defects, and the laminated product 20 is discharged only when an important defect occurs, so that productivity is not reduced. ..

また本実施形態では欠陥候補の検出元に加え、欠陥のレベルに基づいて欠陥の分類を行うことで、多様な欠陥を精度良く区別できるようになる。   In addition, in the present embodiment, various defects can be accurately distinguished by classifying the defects based on the defect level in addition to the defect candidate detection source.

また、欠陥の分類結果に応じてラミネート加工物20をリジェクトするか否かを決定することにより、リジェクトしなくても良い欠陥を有するラミネート加工物20のリジェクトを防ぐことができる。   Further, by deciding whether or not to reject the laminated product 20 according to the defect classification result, it is possible to prevent the laminated product 20 having a defect that does not need to be rejected.

また本実施形態では、照明7aからの検査光71aを撮影装置5で受光し撮影を行うことで、ラミネート加工物20のラミネート面の凸部231が画像40a上で明るく現れる。また、照明7bからの検査光71bを撮影装置5で受光し撮影を行うことで、ラミネート面の光沢が変化する場合に画像40bにおける明暗が周囲から変化する。従って、これらの画像40a、40bに基づいて樹脂フィルム等の欠陥を好適に区別できる。   Further, in the present embodiment, the inspection light 71a from the illumination 7a is received by the imaging device 5 and an image is taken, so that the convex portion 231 on the laminating surface of the laminated product 20 appears bright on the image 40a. In addition, the inspection light 71b from the illumination 7b is received by the image capturing device 5 and the image is captured, so that the brightness of the image 40b changes from the surroundings when the gloss of the laminate surface changes. Therefore, the defects of the resin film or the like can be preferably distinguished based on these images 40a and 40b.

本実施形態では、更に、照明7cからの検査光を撮影装置5で受光して撮影を行うことで、画像40cからラミネート加工物20の基材21の絵柄の欠陥候補が検出でき、これを用いてラミネート加工物20の欠陥の分類を好適に行える。   In the present embodiment, further, the inspection light from the illumination 7c is received by the image capturing device 5 and the image is captured, whereby the defect candidate of the pattern of the base material 21 of the laminate 20 can be detected from the image 40c, and this is used. Therefore, the defects of the laminated product 20 can be properly classified.

しかしながら、本発明はこれに限らない。例えば本実施形態では紙等の基材21上に樹脂フィルムをラミネートしたラミネート加工物20の検査を行ったが、検査対象はこれに限らず、樹脂製のシート材を含むものであればよい。   However, the present invention is not limited to this. For example, in the present embodiment, the laminated product 20 in which the resin film is laminated on the base material 21 such as paper is inspected, but the inspection target is not limited to this, and may include a resin sheet material.

また、検査システム1の構成も図1で説明したものに限らず、例えば絵柄付きの透明樹脂シートなどの検査時には、図12に示すように樹脂シート20a(被検査物)に対して撮影装置5の反対側に照明7cを配置し、照明7cから照射され樹脂シート20aを透過した照明光を撮影装置5で受光してG画像40cを得るようにしてもよい。この場合も、欠陥候補の検出元及び欠陥のレベルに応じて欠陥を分類することが可能である。   The configuration of the inspection system 1 is not limited to that described with reference to FIG. 1. For example, at the time of inspection of a transparent resin sheet with a pattern, as shown in FIG. 12, the imaging device 5 is used for the resin sheet 20a (inspection object). The illumination 7c may be arranged on the opposite side to the illumination light emitted from the illumination 7c and transmitted through the resin sheet 20a by the imaging device 5 to obtain the G image 40c. Also in this case, it is possible to classify the defects according to the defect candidate detection source and the defect level.

また照明を更に追加することもでき、例えば赤外線を被検査物に照射する照明と被検査物から反射した赤外線を受光する撮影装置を追加で設けることも可能である。   It is also possible to add an additional illumination, for example, an illumination for irradiating the object to be inspected with infrared rays and an imaging device for receiving the infrared rays reflected from the object to be inspected.

以上、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   Although the preferred embodiment of the present invention has been described above with reference to the accompanying drawings, the present invention is not limited to the example. It is obvious to those skilled in the art that various modifications or modifications can be conceived within the scope of the technical idea disclosed in the present application, and naturally, those modifications and modifications are also included in the technical scope of the present invention. Understood.

1、1a:検査システム
3:制御装置
5:撮影装置
7a、7b、7c:照明
9:警報装置
11:操作装置
20:ラミネート加工物
20a:樹脂シート
21:基材
23:ラミネート層
30:搬送ローラー
40a:R画像
40b:B画像
40c:G画像
71a、71b:検査光
100:表示画面
1, 1a: Inspection system 3: Control device 5: Imaging devices 7a, 7b, 7c: Illumination 9: Alarm device 11: Operating device 20: Laminated product 20a: Resin sheet 21: Base material 23: Laminating layer 30: Conveying roller 40a: R image 40b: B image 40c: G image 71a, 71b: Inspection light 100: Display screen

Claims (6)

樹脂製のシート材を含む被検査物の欠陥検査を行う検査システムであって、
撮影装置と、
撮影装置に対する位置が異なり、且つ色の異なる検査光を搬送中の前記被検査物に向けて照射する複数の照明と、
制御装置と、
を有し、
前記撮影装置は、複数の前記照明から照射された前記検査光を受光することにより前記被検査物の撮影を行い、
前記制御装置は、前記撮影装置で前記被検査物の撮影を行った画像から、前記検査光の色ごとの画像を取得して各色の画像から欠陥候補を検出し、各色の画像の、同じ位置における欠陥候補の検出結果に応じて前記被検査物の欠陥を分類することを特徴とする検査システム。
An inspection system for inspecting defects of an inspection object including a resin sheet material,
An imaging device,
Positions with respect to the imaging device are different, and a plurality of illuminations for irradiating the inspected object being conveyed with different inspection light of different colors,
A control device,
Have
The imaging device captures the inspection object by receiving the inspection light emitted from the plurality of illuminations,
The control device acquires an image for each color of the inspection light from an image obtained by photographing the inspection object by the photographing device, detects a defect candidate from the image of each color, and the same position of the image of each color. An inspection system which classifies defects of the inspected object according to the detection result of the defect candidates in .
樹脂製のシート材を含む被検査物の欠陥検査を行う検査システムであって、
撮影装置と、
撮影装置に対する位置が異なり、且つ色の異なる検査光を搬送中の前記被検査物に向けて照射する複数の照明と、
制御装置と、
を有し、
前記撮影装置は、複数の前記照明から照射された前記検査光を受光することにより前記被検査物の撮影を行い、
前記制御装置は、前記撮影装置で前記被検査物の撮影を行った画像から、前記検査光の色ごとの画像を取得して各色の画像から欠陥候補を検出し、その検出結果に応じて前記被検査物の欠陥を分類し、
前記制御装置は、
各色の前記画像から検出した欠陥候補について欠陥のレベルを判別し、
前記欠陥候補がどの色の前記画像から検出されたか及び前記欠陥候補の欠陥のレベルに基づいて前記欠陥の分類を行うことを特徴とする検査システム。
An inspection system for inspecting defects of an inspection object including a resin sheet material,
An imaging device,
Positions with respect to the imaging device are different, and a plurality of illuminations for irradiating the inspected object being conveyed with different color inspection light,
A control device,
Have
The imaging device captures the inspection object by receiving the inspection light emitted from a plurality of the illumination,
The control device acquires an image for each color of the inspection light from an image obtained by capturing the object to be inspected by the imaging device, detects a defect candidate from the image of each color, and determines the defect according to the detection result. Classify the defects of the inspection object ,
The control device is
For the defect candidates detected from the image of each color, determine the level of the defect,
An inspection system, wherein the defect is classified based on a color of the image in which the defect candidate is detected and a defect level of the defect candidate .
前記制御装置は、前記欠陥の分類結果に応じて、前記被検査物をリジェクトするか否かを決定することを特徴とする請求項1または請求項2記載の検査システム。   3. The inspection system according to claim 1, wherein the control device determines whether to reject the inspection object according to the result of classification of the defects. 複数の前記照明は、
前記被検査物の搬送方向の側方から前記シート材の面と略平行な方向に検査光を照射する第1の照明と、
前記シート材に対し検査光を照射する第2の照明と、
を含み、
前記撮影装置は、
前記シート材から搬送方向に沿って反射した前記第1の照明からの検査光、前記シート材から正反射した前記第2の照明からの検査光を受光して撮影を行うことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の検査システム。
A plurality of said lights,
First illumination for irradiating the inspection light in a direction substantially parallel to the surface of the sheet material from the side of the conveyance direction of the inspection object;
Second illumination for irradiating the sheet material with inspection light;
Including,
The photographing device is
The inspection light from the first illumination reflected from the sheet material along the transport direction and the inspection light from the second illumination specularly reflected from the sheet material are received to perform imaging. The inspection system according to any one of claims 1 to 3.
樹脂製のシート材を含む被検査物の欠陥検査を行う検査方法であって、
撮影装置に対する位置が異なる複数の照明により、色の異なる検査光を前記被検査物に向けて照射し、
撮影装置が、複数の前記照明から照射された前記検査光を受光することにより前記被検査物の撮影を行い、
制御装置が、前記撮影装置で前記被検査物の撮影を行った画像から、前記検査光の色ごとの画像を取得して各色の画像から欠陥候補を検出し、各色の画像の、同じ位置における欠陥候補の検出結果に応じて前記被検査物の欠陥を分類することを特徴とする検査方法。
An inspection method for inspecting defects of an inspection object including a resin sheet material,
By a plurality of illumination at different positions with respect to the imaging device, the inspection light of different colors is irradiated toward the inspection object,
The image capturing device captures the inspection object by receiving the inspection light emitted from the plurality of illuminations,
The control device acquires an image for each color of the inspection light from the image obtained by photographing the object to be inspected by the photographing device to detect a defect candidate from the image of each color, and the image of each color at the same position. An inspection method characterized by classifying defects of the inspection object according to a detection result of a defect candidate .
樹脂製のシート材を含む被検査物の欠陥検査を行う検査方法であって、
撮影装置に対する位置が異なる複数の照明により、色の異なる検査光を前記被検査物に向けて照射し、
撮影装置が、複数の前記照明から照射された前記検査光を受光することにより前記被検査物の撮影を行い、
制御装置が、前記撮影装置で前記被検査物の撮影を行った画像から、前記検査光の色ごとの画像を取得して各色の画像から欠陥候補を検出し、その検出結果に応じて前記被検査物の欠陥を分類し、
前記制御装置は、
各色の前記画像から検出した欠陥候補について欠陥のレベルを判別し、
前記欠陥候補がどの色の前記画像から検出されたか及び前記欠陥候補の欠陥のレベルに基づいて前記欠陥の分類を行うことを特徴とする検査方法。
An inspection method for inspecting defects of an inspection object including a resin sheet material,
By a plurality of illumination at different positions with respect to the imaging device, the inspection light of different colors is irradiated toward the inspection object,
The image capturing device captures the inspection object by receiving the inspection light emitted from the plurality of illuminations,
The control device acquires an image for each color of the inspection light from an image obtained by photographing the inspection object by the imaging device, detects a defect candidate from the image of each color, and detects the defect according to the detection result. Classify defects in the inspection ,
The control device is
For the defect candidates detected from the image of each color, determine the level of the defect,
An inspection method, wherein the defect is classified based on the color of the image in which the defect candidate is detected and the defect level of the defect candidate .
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