JP6681750B2 - 洗浄液及び洗浄方法 - Google Patents
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Description
このため、極微細な回路を形成する場合、エレクトロマイグレーションを防ぐ目的で、コバルトを含む合金やコバルトで回路表面を被覆することが提案されている。
洗浄液は、フッ化水素酸(A)と、テトラゾール化合物(B)と、水(C)とを含有する。また、洗浄液は、テトラゾール化合物(B)以外の塩基性化合物(D)、水溶性有機溶剤(E)等を含んでいてもよい。以下、本発明に係る洗浄液に含有される各成分について詳細に説明する。
洗浄液は、フッ化水素酸を必須に含有する。
フッ化水素酸の含有量は、洗浄液中、0.001〜0.5質量%が好ましく、0.08〜0.32質量%がより好ましい。このような範囲とすることにより、フォトレジストパターンの残渣物やエッチング残渣物の洗浄除去性と、コバルトを含む金属に対する防食性とのバランスをより効果的にとることができる。
洗浄液は、テトラゾール化合物(B)を必須に含有する。洗浄液が、テトラゾール化合物(B)を含むことによって、洗浄液のコバルトを含む金属に対する防食性が顕著に高められる。
テトラゾール化合物(B)の種類は、テトラゾール骨格を含む化合物であれば特に限定されない。
テトラゾール化合物(B)は、テトラゾール環と、他の環とが縮合した縮合環を含んでいてもよい。この場合、テトラゾール環と、他の環とは、テトラゾール環の1位の窒素原子と5位の炭素原子との間の単結合を共有する。
また、テトラゾール化合物(B)は、1分子中に2以上のテトラゾール環を含んでいてもよい。
有機基はヘテロ原子を含んでいてもよい。当該ヘテロ原子としては、酸素原子、窒素原子、硫黄原子、リン原子、ケイ素原子、及びハロゲン原子等が挙げられるが、これらに限定されない。
これらの有機基は、当該有機基中にヘテロ原子等の炭化水素基以外の結合や置換基を含んでいてもよい。また、有機基は、直鎖状、分岐鎖状、環状、及びこれらの構造の組み合わせのいずれでもよい。
好ましいアルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、イソペンチル基、tert−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、及び2−エチル−n−ヘキシル基等が挙げられる。好ましいアルケニル基の具体例としては、ビニル基、及びアリル基等が挙げられる。
シクロアルキル基の好適な例としては、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、及びシクロオクチル基が挙げられる。
R1がシクロアルケニル基である場合の好適な例としては、シクロアルキル基について例示した好ましい基に対応するシクロアルケニル基が挙げられる。
アラルキル基の好適な例としては、ベンジル基、フェネチル基、α−ナフチルメチル基、及びβ−ナフチルメチル基等が挙げられる。
アシル基、又はアシルオキシ基の炭素原子数は特に限定されないが、2〜15が好ましく、2〜10がより好ましい。
置換基としてのアシル基の好適な例としては、アセチル基、プロパノイル基、ブタノイル基、ベンゾイル基、α−ナフトイル基、及びβ−ナフトイル基が挙げられる。
置換基としてのアシルオキシ基の好適な例としては、アセチルオキシ基、プロパノイルオキシ基、ブタノイルオキシ基、ベンゾイルオキシ基、α−ナフトイルオキシ基、及びβ−ナフトイルオキシ基が挙げられる。
R2における有機基が、モノアルキルアミノ基、ジアルキルアミノ基、モノアリールアミノ基、ジアリールアミノ基、アシル基、アシルオキシ基、アルキルエーテル基、アルケニルエーテル基、アルキルチオエーテル基、アルケニルチオエーテル基、アリールエーテル基、又はアリールチオエーテル基である場合、これらの有機基の好適な例は、R1について、アルキル基、アルケニル基、シクロアルキル基、シクロアルケニル基、及びアラルキル基の置換基について説明した基と同様である。
かかる範囲内の量のテトラゾール化合物(B)を用いると、種々の残渣物に対する優れた洗浄効果と、コバルトを含む金属対する優れた防食効果とを兼ね備える洗浄液を得やすい。
本発明に係る洗浄液は、水(C)を必須に含有する。
水の含有量は、洗浄液中、1.0〜80質量%が好ましく、15〜40質量%がより好ましい。
洗浄液は、テトラゾール化合物(B)以外の塩基性化合物(D)を含有していてもよい。
塩基性化合物(D)の種類は特に限定されず、従来より、フォトレジスト等の残渣物の洗浄に用いられる洗浄液に配合される塩基性化合物から適宜選択される。
塩基性化合物(D)としては、含窒素塩基性化合物が好ましい。
また、以下の有機アミン類も塩基性化合物(D)として好適である。有機アミン類の具体例としては、メトキシメチルアミン、メトキシエチルアミン、メトキシプロピルアミン、メトキシブチルアミン、エトキシメチルアミン、エトキシエチルアミン、エトキシプロピルアミン、エトキシブチルアミン、プロポキシメチルアミン、プロポキシエチルアミン、プロポキシプロピルアミン、プロポキシブチルアミン、ブトキシメチルアミン、ブトキシエチルアミン、ブトキシプロピルアミン、ブトキシブチルアミン、メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、N,N−ジメチルアミン、N,N−ジエチルアミン、N,N−ジプロピルアミン、N,N−ジブチルアミン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、ジメチルアミノプロピルアミン、2−エチルヘキシルアミン、テトラヒドロフルフリルアミン、テトラメチルエチレンジアミン、テトラエチルエチレンジアミン、テトラプロピルエチレンジアミン、及びテトラブチルエチレンジアミン、メチルアミノブチルアミン、エチルアミノブチルアミン、プロピルアミノブチルアミン、ブチルアミノブチルアミン、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、モルホリン、メチルモルホリン、ジアザビシクロオクタン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセン、及びヒドラジン等である。
このアルキル基は、水酸基、カルボキシル基、アミノ基、又はホスホン酸基を有していてもよい。そのような具体例としては、2−ヒドロキシエチル基、2−カルボキシエチル基、2−アミノエチル基、2−ホスホン酸エチル基等が挙げられる。
なお、洗浄液のpHは、25℃で測定された値である。
洗浄液は、水溶性有機溶剤(E)を含んでいてもよい。
かかる水溶性有機溶剤(E)の例としては、ジメチルスルホキシド等のスルホキシド類;ジメチルスルホン、ジエチルスルホン、ビス(2−ヒドロキシエチル)スルホン、テトラメチレンスルホン等のスルホン類;N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミド等のアミド類;N−メチル−2−ピロリドン、N−エチル−2−ピロリドン、N−プロピル−2−ピロリドン、N−ヒドロキシメチル−2−ピロリドン、N−ヒドロキシエチル−2−ピロリドン等のラクタム類;1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン、1,3−ジエチル−2−イミダゾリジノン、1,3−ジイソプロピル−2−イミダゾリジノン等のイミダゾリジノン類;γ−ブチロラクトン、δ−バレロラクトン等のラクトン類;エチレングリコール、プロピレングリコール、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、ジエチレングリコール、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル等の多価アルコール類及びその誘導体;等が挙げられる。
洗浄液は、水溶性有機溶剤(E)として、2種以上のN,N−ジアルキル脂肪酸アミドを組み合わせて含んでいてもよい。
式(e−2)で表される3−アルコキシ−3−メチル−1−ブタノールとしては、3−メトキシ−3−メチル−1−ブタノール(MMB)が特に好ましい。
洗浄液は、さらに、テトラゾール化合物(B)以外の防食剤を含有していてもよい。
この防食剤としては、特に限定されず、従来公知の防食剤を用いることができるが、ベンゾトリアゾール系化合物やメルカプト基含有化合物が好ましい。
これらの中でも、1−(2,3−ジヒドロキシプロピル)−ベンゾトリアゾール、2,2’−{[(4−メチル−1H−ベンゾトリアゾール−1−イル)メチル]イミノ}ビスエタノール、2,2’−{[(5−メチル−1H−ベンゾトリアゾール−1−イル)メチル]イミノ}ビスエタノール等が好ましい。
これらのベンゾトリアゾール化合物は、単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
これらのメルカプト基含有化合物は、単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
この界面活性剤としては、特に限定されず、従来公知の界面活性剤を用いることができるが、アセチレンアルコール系界面活性剤が好ましい。
このため、以上説明した洗浄液は、基板の表面の少なくとも一部がコバルトを含む金属からなる場合の基板の洗浄に好適に使用される。
以上説明した洗浄液は、特に、コバルトを含む金属を用いて微細な金属配線パターンを形成する際に使用される洗浄液として、好適に使用される。
洗浄液による洗浄の後、純水や低級アルコール等を用いたリンス処理、及び乾燥処理を施してもよい。
(洗浄液の調製)
フッ化水素酸0.1質量%と、表1に記載の種類のテトラゾール化合物0.5質量%と、水溶性有機溶剤として3−メトキシ−3−メチル−1−ブタノール30質量%と、塩基性化合物として表1に記載の量のテトラヒドロフルフリルアミンと、残部の水とを均一に混合して、各実施例の洗浄液を調製した。
比較例1の洗浄液については、テトラゾール化合物を用いないことの他は、実施例と同様に調製した。
また、比較例2〜8の洗浄液については、テトラゾール化合物0.5質量%に変えて、表1に記載の種類の複素環化合物0.5質量%を用いることの他は、実施例と同様に調製した。
各実施例、及び比較例の洗浄液の25℃で測定したpHの値を表1に記す。
最外層として厚さ100nmのコバルト層を備える基板を防食性の評価に用いた。コバルト層は厚さ20nmのチタン層上に形成されている。
各実施例及び比較例の洗浄液に、50℃で15分間、基板を浸漬させた。浸漬後、基板表面を水にてリンスし、次いで、基板を窒素ブローにより乾燥させた。
乾燥後の基板の、コバルト層のシート抵抗値を4探針法にて測定して、浸漬後のコバルト層の膜厚(Å)を測定した。
浸漬前後のコバルト層の膜厚の変化から、コバルト層のエッチングレートを求めた。
エッチングレート(Å/min.)の測定結果を表1に示す。
なお、比較例4及び5では、コバルト層の剥離が生じたため、エッチングレートを求めなかった。
コバルト防食性評価における洗浄液浸漬後の、コバルト層について、白色の曇りの有無、コバルト層の剥離の有無を目視にて観察し、基板の表面状態を評価した。
監察結果を、表1に記す。
Claims (6)
- 表面の少なくとも一部がコバルトを含む金属からなる基板の洗浄に使用される洗浄液であって、
フッ化水素酸(A)、テトラゾール化合物(B)、及び水(C)を含有する洗浄液。 - 前記R1が水素原子である、請求項2に記載の洗浄液。
- 前記テトラゾール化合物(B)以外の塩基性化合物(D)を含有する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の洗浄液。
- 水溶性有機溶剤(E)を含有する請求項1〜4のいずれか1項に記載の洗浄液。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の洗浄液を用いて基板を洗浄する方法であって、
前記基板の表面の少なくとも一部がコバルトを含む金属からなる、方法。
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