JP6528535B2 - Actuator and measuring device - Google Patents
Actuator and measuring device Download PDFInfo
- Publication number
- JP6528535B2 JP6528535B2 JP2015099140A JP2015099140A JP6528535B2 JP 6528535 B2 JP6528535 B2 JP 6528535B2 JP 2015099140 A JP2015099140 A JP 2015099140A JP 2015099140 A JP2015099140 A JP 2015099140A JP 6528535 B2 JP6528535 B2 JP 6528535B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- movable electrode
- inductor
- magnetic material
- material layer
- soft magnetic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
本発明は、アクチュエータ及び測定装置に関する。 The present invention relates to an actuator and a measuring device.
近年、回転型アクチュエータが開発されている。特許文献1には、回転型アクチュエータの一例が記載されている。この回転型アクチュエータは、可動電極、枠体、軸部材、及び固定電極を備える。軸部材は、可動電極を枠体に取り付けている。軸部材は、可動電極の回転軸となる。固定電極は、平面視で可動電極に対向している。特許文献1には、この回転型アクチュエータを光スキャナに用いることが記載されている。
In recent years, rotary actuators have been developed.
特許文献2にも、回転型アクチュエータの一例が記載されている。特許文献2では、この回転型アクチュエータを光スキャナに用いている。そして特許文献2では、可動反射部にインダクタが設けられている。このインダクタの近傍には、永久磁石が設けられている。これにより、インダクタに電流を流すと、永久磁石からの磁場によってインダクタにローレンツ力が生じる。特許文献2では、このローレンツ力によって可動反射部を駆動している。 Patent Document 2 also describes an example of a rotary actuator. In Patent Document 2, this rotary actuator is used for an optical scanner. And in patent document 2, the inductor is provided in the movable reflection part. A permanent magnet is provided in the vicinity of the inductor. As a result, when current flows through the inductor, Lorentz force is generated in the inductor by the magnetic field from the permanent magnet. In Patent Document 2, the movable reflector is driven by this Lorentz force.
近年、測定装置を用いて磁場を測定することがある。本発明者らは、磁場を測定するための測定装置の新規な構造を検討した。 In recent years, a magnetic field may be measured using a measuring device. The inventors examined a novel structure of the measuring device for measuring the magnetic field.
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、新規な構造を有する測定装置で磁場を測定することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to measure a magnetic field with a measuring device having a novel structure.
本発明に係る測定装置は、可動電極、枠体、軸部材、固定電極、インダクタ、及び端子を備える。軸部材は、可動電極を枠体に取り付けている。軸部材は、可動電極の回転軸となる。固定電極は、平面視で可動電極に対向している。インダクタは、可動電極に設けられている。端子は、インダクタに電気的に接続している。 The measuring device according to the present invention comprises a movable electrode, a frame, a shaft member, a fixed electrode, an inductor, and a terminal. The shaft member has the movable electrode attached to the frame. The shaft member serves as the rotation axis of the movable electrode. The fixed electrode faces the movable electrode in plan view. The inductor is provided on the movable electrode. The terminal is electrically connected to the inductor.
本発明によれば、新規な構造を有する測定装置で磁場を測定することができる。 According to the present invention, the magnetic field can be measured with a measuring device having a novel structure.
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In all the drawings, the same components are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be appropriately omitted.
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る測定装置の構成を示す図である。測定装置は、枠体110、可動電極120、軸部材130、固定電極140、インダクタ160、及び測定用端子500を備える。軸部材130は、可動電極120を枠体110に取り付けている。軸部材130は、可動電極120の回転軸となる。固定電極140は、平面視で可動電極120に対向している。インダクタ160は、可動電極120に設けられている。測定用端子500は、インダクタ160に電気的に接続している。以下、詳細に説明する。
First Embodiment
FIG. 1 is a view showing the arrangement of a measurement apparatus according to the first embodiment. The measuring apparatus includes a
測定装置は、回転型アクチュエータを用いて形成されている。測定装置は、アクチュエータ本体100を有している。アクチュエータ本体100は、枠体110、可動電極120、軸部材130、固定電極140、及び検出用電極150を有している。アクチュエータ本体100は、導電性の部材、例えばシリコン基板を選択的にエッチングすることにより、形成されている。この場合、枠体110、可動電極120、及び軸部材130は一体的になっている。
The measuring device is formed using a rotary actuator. The measuring device has an
可動電極120の平面形状は矩形である。そして固定電極140は、平面視で可動電極120を挟むように2つ設けられている。可動電極120のうち固定電極140と対向する辺(図1においてX方向に伸びている辺)は、櫛歯形状となっている。枠体110は、可動電極120の4辺のうち固定電極140と対向していない2つの辺(図1においてY方向に伸びている辺)それぞれに対向している。軸部材130は、可動電極120のうち枠体110と対向している2辺それぞれに対して設けられている。詳細には、軸部材130は、可動電極120のうち枠体110と対向している辺の中心に接続している。そして2つの軸部材130を結ぶ線が、可動電極120の回転軸となっている。
The planar shape of the
固定電極140のうち可動電極120と対向する辺は、櫛歯形状となっており、可動電極120の櫛歯部分とかみ合っている。このため、固定電極140と可動電極120は、互いに対向する部分の面積が大きくなり、その結果、可動電極120の駆動力は大きくなる。
The side of the fixed
アクチュエータ本体100の駆動電力は、第1直流電源400及び交流電源410によって供給される。
The driving power of the
第1直流電源400は枠体110に接続している。上記したように、枠体110、可動電極120、及び軸部材130は一体的になっている。このため、第1直流電源400は、枠体110及び軸部材130を介して可動電極120に電圧を印加することができる。第1直流電源400の出力電圧は可変であり、制御部300によって制御されている。
The first
交流電源410は固定電極140に接続している。本実施形態において、交流電源410の出力は一定である。
また、アクチュエータ本体100は検出用電極150を有している。検出用電極150は、固定電極140と並んでおり、可動電極120のうち固定電極140と対向している辺に対向している。本図に示す例では、固定電極140は、可動電極120の辺の中心部分に対向している。そして検出用電極150は、固定電極140を挟むように設けられており、可動電極120の辺の両端それぞれに対向している。固定電極140は、検出用電極150よりも大きい。本図に示す例では、検出用電極150は、可動電極120のうち対向する2辺に設けられている。すなわち検出用電極150は、軸部材130を基準として線対称となるように設けられている。ただし、検出用電極150は、可動電極120の一辺にのみ設けられていても良い。また、検出用電極150と固定電極140の位置が逆であってもよい。
The
本図に示す例では、可動電極120にインダクタ160が設けられている。インダクタ160は、可動電極120の縁に沿ってスパイラル状に設けられている。インダクタ160は、金属(例えば、Al)を用いて形成されている。インダクタ160によって囲まれた領域を磁場が貫いている場合において可動電極120の角度を変えると、インダクタ160の両端に誘導起電力が生じる。インダクタ160の両端は、測定用端子500を介して電圧計510(電圧測定部)に電気的に接続している。これにより、電圧計510により測定された電圧(誘導起電力)に基づいて、上記した磁場を測定することができる。
In the example shown in the figure, the
本図に示す例では、上記した磁場を高い精度で測定することができる。詳細には、本図に示す例では、可動電極120を回転させるために、インダクタ160の近傍で電流を流す必要がない。具体的には、本図に示す例では、可動電極120に印加された電圧(第1直流電源400の電圧)と固定電極140に印加された電圧(交流電源410の電圧)によって、可動電極120を回転させている。この場合、インダクタ160の近傍で電流を流す必要がない。仮にこのような電流が流れると、このような電流は新たな磁場を生成する。そしてこのような磁場は測定装置にとってノイズとなり得る。本図に示す例では、このようなノイズを生成し得る電流を流す必要がない。このため、インダクタ160によって囲まれた領域を貫く磁場を高い精度で測定することができる。
In the example shown in the figure, the magnetic field described above can be measured with high accuracy. In detail, in the example shown in the drawing, it is not necessary to flow a current in the vicinity of the
本図に示す例では、可動電極120を回転させる場合、可動電極120は、一定の角度(例えば+10°)と他の一定の角度(例えば−10°)との間で一定の周波数(例えば1kHz)で振動させる。この場合において上記した磁場が静磁場であるとき、インダクタ160の両端に生じる誘導起電力は、一定の正の電圧と一定の負の電圧の間で振動するようになる。ただし、可動電極120の回転方法は、この例に限定されるものではない。
In the example shown in the figure, when the
なお、本図に示す例において、測定用端子500は、アクチュエータ本体100の外側に配置されている。ただし、測定用端子500は、アクチュエータ本体100(例えば、枠体110)に配置されていてもよい。
In the example shown in the figure, the
可動電極120の回転量は、容量検出部200を用いて検出される。具体的には、可動電極120と検出用電極150の間の容量は、可動電極120の回転量によって変化する。容量検出部200は、この容量を検出することにより、可動電極120の回転量を検出する。
The amount of rotation of the
本図に示す例において、容量検出部200はオペアンプ210、容量素子220、抵抗素子230、及び第2直流電源240を有している。
In the example shown in the figure, the
容量素子220及び抵抗素子230は互いに並列であり、かつ、オペアンプ210の反転入力端子及びオペアンプ210の出力端子に接続されている。言い換えると、オペアンプ210の反転入力端子及び出力端子は、容量素子220を介して互いに接続しており、かつ抵抗素子230を介して互いに接続している。このようにして、オペアンプ210は仮想接地されている。
The
第2直流電源240はオペアンプ210の非反転入力端子に接続されている。第2直流電源240の出力電圧は可変であり、制御部300によって制御されている。
The second
このような構成において、容量素子220に蓄積された電荷量が変化すると、オペアンプ210の出力も変化する。ここで、可動電極120と検出用電極150の間の容量が変化して検出用電極150に蓄積された電荷量が変化すると、これに伴って容量素子220に蓄積された電荷量も変化する。一方、可動電極120の電圧が変化しても検出用電極150に蓄積された電荷量が変化するため、容量素子220に蓄積された電荷量が変化する。このように、オペアンプ210の出力に影響を与える因子には、可動電極120と検出用電極150の間の容量の他に、可動電極120の電圧がある。
In such a configuration, when the amount of charge stored in the
制御部300には、オペアンプ210の出力、すなわち可動電極120の回転量が入力される。そして制御部300は、可動電極120の回転量に基づいて、第1直流電源400の出力電圧(すなわち可動電極120の電圧)及び第2直流電源240の出力電圧を制御する。なお、上記したようにオペアンプ210は仮想接地されている。このため、オペアンプ210の反転入力端子の電圧は、オペアンプ210の非反転入力端子の電圧にほぼ等しくなる。このため、制御部300は、第2直流電源240の出力電圧を制御することにより、検出用電極150の電圧を制御することができる。
The
次に制御部300の動作について説明する。まず、制御部300は、可動電極120の回転量を所望の値となるように、第1直流電源400の出力電圧を制御する。ここで、制御部300は第2直流電源240の出力電圧を制御する。具体的には、第1直流電源400の出力電圧と第2直流電源240の出力電圧の差が基準範囲に入るように、第2直流電源240の出力電圧を変化させる。上記したように、オペアンプ210は仮想接地されているため、第2直流電源240の出力電圧は検出用電極150の電圧になる。従って、可動電極120と検出用電極150の間の電圧は基準範囲に入っている。
Next, the operation of the
ここで、可動電極120の温度が変わって可動電極120の形状が歪むなどの理由により、第1直流電源400の出力電圧を所望の回転量が得られるはずの値にしても、可動電極120の回転量は所望の値にならない場合が出てくる。このような場合、制御部300は、容量検出部200からの出力を用いて、可動電極120の回転量が指定された量になるように、第1直流電源400の出力電圧をフィードバック制御する。具体的には、容量検出部200から出力された回転量(電圧)が基準範囲内にない場合、制御部300は第1直流電源400の出力電圧を変化させる。これにより、可動電極120の回転量が変化する。また、これに伴い、検出用電極150と可動電極120の間の容量も変化し、その結果、容量検出部200の検出値(出力電圧)も変化する。
Here, even if the output voltage of the first
一般的なオペアンプ210の使用方法においては、オペアンプ210の非反転入力端子は接地されている。この場合、可動電極120の回転量を制御するために可動電極120の電圧を変化させると、検出用電極150と可動電極120の間の電圧も変化する。この場合、容量検出部200の検出値(出力電圧)の変化の原因となる因子は、検出用電極150と可動電極120の間の容量と、検出用電極150の電圧の2つになる。従って、容量検出部200の検出値(出力電圧)の変化量から、可動電極120の電圧の変化に起因した変化量を除去する必要が出てくる。
In a general method of using the
これに対して本実施形態では、制御部300は、第1直流電源400の出力電圧の変化に合わせて第2直流電源240の出力電圧も変化させる。具体的には、第1直流電源400の出力電圧と第2直流電源240の出力電圧の差が基準範囲から出ないように、第2直流電源240の出力電圧を変化させる。これにより、制御部300が可動電極120の電圧を変化させても、検出用電極150と可動電極120の間の電圧は変化しない。従って、容量検出部200の検出値(出力電圧)の変化の原因となる因子は、検出用電極150と可動電極120の間の容量のみになる。このため、容量検出部200の検出値(出力電圧)の変化量から、可動電極120の電圧の変化に起因した変化量を補正する必要はなくなる。言い換えると、可動電極120と検出用電極150の間の電圧は一定になるため、可動電極120に蓄積された電荷量に影響を与える因子は、可動電極120の回転量の身になる。従って、本実施形態によれば、制御部300における演算量を少なくすることができる。
On the other hand, in the present embodiment, the
図2は、図1に示したアクチュエータ本体100の詳細構造の一例を示す図である。本図に示す例では、2つの軸部材130それぞれに配線162が設けられている。配線162は、一端がインダクタ160に接続し、他端が枠体110に達している。さらに、配線162の上記した他端は、測定用端子500に電気的に接続している。これにより、インダクタ160は、配線162を介して測定用端子500(言い換えると、電圧計510)に電気的に接続することができる。
FIG. 2 is a view showing an example of the detailed structure of the actuator
以上、本実施形態によれば、可動電極120は、インダクタ160を有している。インダクタ160の両端は、測定用端子500を介して電圧計510に電気的に接続している。これにより、インダクタ160の両端に生じる誘導起電力を電圧計510によって測定することができる。そして電圧計510が測定した電圧(誘導起電力)に基づいて、インダクタ160を貫く磁場を測定することができる。
As described above, according to the present embodiment, the
(第2の実施形態)
図3は、第2の実施形態に係る測定装置に用いられるアクチュエータ本体100の詳細構造を示す図であり、第1の実施形態の図2に対応する。本実施形態に係る測定装置は、以下の点を除いて、第1の実施形態に係る測定装置と同様の構成である。
Second Embodiment
FIG. 3 is a view showing the detailed structure of the actuator
本図に示す例では、可動電極120に軟磁性材料層170が設けられている。軟磁性材料層170は、インダクタ160によって囲まれている領域に位置している。軟磁性材料層170は、高い透磁率を有する。これにより、インダクタ160を貫く磁場が小さいものであったとしても、インダクタ160の両端に生じる誘導起電力を大きいものにすることができる。言い換えると、測定装置が測定可能な磁場の分解能を小さいものにすることができる。
In the example shown in the figure, the soft
軟磁性材料層170は、比透磁率が例えば5,000以上100,000以下である。具体的には、軟磁性材料層170は、パーマロイ、タフパーム、Mn−Znフェライト、Co基アモルファス合金、及びナノ結晶合金ファインメットの少なくとも一つを用いて形成されている。軟磁性材料層170の比透磁率が10,000である場合、測定装置は、おおよそ10−5T〜10−10Tの範囲の磁束密度を測定することができる。
The soft
図4は、図3のA−A´断面図である。本図に示す例において、可動電極120には、絶縁層182(例えば、シリコン酸化膜)が積層されている。そして絶縁層182上には、インダクタ160及び軟磁性材料層170が位置している。さらに、インダクタ160及び軟磁性材料層170は、絶縁層184(例えば、シリコン酸化膜)に覆われている。
FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line AA 'of FIG. In the example shown in the drawing, the insulating layer 182 (for example, a silicon oxide film) is stacked on the
絶縁層182の膜厚Tは、ある程度厚く、例えば、0.2μm以上0.5μm以下である。これにより、インダクタ160及び軟磁性材料層170を可動電極120からある程度遠い距離だけ離れて位置させることができる。これにより、インダクタ160が生成する磁場によって可動電極120に生じ得る渦電流を小さいものにすることができる。このような渦電流は、新たな磁場を生成する。そしてこのような磁場は、測定装置にとってノイズとなり得る。本図に示す例では、絶縁層182によってインダクタ160及び軟磁性材料層170を可動電極120からある程度離れて位置させることができる。これにより、上記した渦電流を小さいものにすることができる。
The film thickness T of the insulating
図5は、図4の変形例を示す図である。本図に示す例において、インダクタ160は、軟磁性材料層170に埋め込まれている。詳細には、軟磁性材料層170は、第1軟磁性材料層172及び第2軟磁性材料層174を有している。第1軟磁性材料層172及び第2軟磁性材料層174は、同じ種類の軟磁性材料層であってもよいし、又は異なる種類の軟磁性材料層であってもよい。第1軟磁性材料層172は、可動電極120の上に位置している。第2軟磁性材料層174は、第1軟磁性材料層172の上に位置している。インダクタ160は、第1軟磁性材料層172の上に位置し、かつ第2軟磁性材料層174に覆われている。この場合、インダクタ160から発生する磁場のほぼすべてが軟磁性材料層170の内側を伝搬するようになる。言い換えると、インダクタ160からの磁場が可動電極120に達することを抑制することができる。
FIG. 5 is a view showing a modification of FIG. In the example shown in the figure, the
本図に示す例において、インダクタ160は、周囲が絶縁層180に覆われている。これにより、インダクタ160が軟磁性材料層170に電気的に接続することを防止することができる。詳細には、絶縁層180は、絶縁層182及び絶縁層184を有している。絶縁層182は、同じ種類の絶縁層(例えば、シリコン酸化膜又はシリコン窒化膜)でもよいし、又は異なる種類の絶縁層であってもよい。絶縁層182は、第1軟磁性材料層172の上に位置している。絶縁層184は、絶縁層182の上に位置している。インダクタ160は、絶縁層182の上に位置し、かつ絶縁層184に覆われている。
In the example shown in the figure, the
図6及び図7の各図は、図5に示した軟磁性材料層170を有する測定装置の製造方法を説明するための図であり、図5に対応する。まず、図6(a)に示すように、可動電極120の上に第1軟磁性材料層172及び絶縁層182をこの順で積層する。第1軟磁性材料層172は、例えばスパッタを用いて形成する。
Each of FIGS. 6 and 7 is a view for explaining the method of manufacturing the measuring apparatus having the soft
次いで、図6(b)に示すように、絶縁層182の上にインダクタ160を形成する。インダクタ160は、例えば、金属膜(例えば、Al膜)の上にレジストパターンを形成し、このレジストパターンをマスクとして金属膜をエッチングすることにより形成される。
Next, as shown in FIG. 6B, the
次いで、図7(a)に示すように、絶縁層182の上及びインダクタ160の上に絶縁層184を形成する。
Next, as shown in FIG. 7A, the insulating
次いで、図7(b)に示すように、絶縁層182及び絶縁層184を選択的に除去する。これにより、平面視でインダクタ160と重なる領域及びその周囲に絶縁層182及び絶縁層184が残る。さらに、平面視でインダクタ160によって囲まれている領域では、第1軟磁性材料層172を露出させる。
Next, as shown in FIG. 7B, the insulating
次いで、第1軟磁性材料層172の上及び絶縁層184の上に第2軟磁性材料層174を形成する。これにより、図5に示した軟磁性材料層170が形成される。
Then, the second soft
本実施形態においても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、本実施形態によれば、軟磁性材料層170を用いることによって、インダクタ160の両端の間の誘導起電力を大きいものにすることができる。これにより、測定装置が測定可能な磁場の分解能を小さいものにすることができる。
Also in this embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained. Furthermore, according to the present embodiment, by using the soft
以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。 Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the drawings, these are merely examples of the present invention, and various configurations other than the above can also be adopted.
100 アクチュエータ本体
110 枠体
120 可動電極
130 軸部材
140 固定電極
150 検出用電極
160 インダクタ
162 配線
170 軟磁性材料層
172 第1軟磁性材料層
174 第2軟磁性材料層
180 絶縁層
182 絶縁層
184 絶縁層
200 容量検出部
210 オペアンプ
220 容量素子
230 抵抗素子
240 第2直流電源
300 制御部
400 第1直流電源
410 交流電源
500 測定用端子
510 電圧計
100 actuator
Claims (7)
平面視で前記可動電極と一方向に並ぶ一部分を有する枠体と、
前記可動電極を前記枠体の前記一部分に取り付けており、前記一方向に延伸する軸を備え、当該軸を前記可動電極の回転軸とする軸部材と、
平面視で前記可動電極に対向している固定電極と、
前記可動電極に設けられたインダクタと、
を備え、
前記可動電極は、前記可動電極及び前記固定電極の間の電圧によって、前記回転軸に関して回転可能になっている、アクチュエータ。 A movable electrode,
A frame having a portion aligned in one direction with the movable electrode in a plan view ;
A shaft member having the movable electrode attached to the part of the frame and having an axis extending in the one direction, the axis serving as a rotation axis of the movable electrode ;
A fixed electrode facing the movable electrode in plan view;
An inductor provided on the movable electrode;
Equipped with a,
The actuator, wherein the movable electrode is rotatable about the rotation axis by a voltage between the movable electrode and the fixed electrode .
前記軸部材に設けられ、前記インダクタに電気的に接続された配線を備えるアクチュエータ。 In the actuator according to claim 1,
Provided on the shaft member, the actuator comprising a wiring electrically connected to the inductor.
前記可動電極に設けられ、少なくとも一部が平面視で前記インダクタの内側に位置する軟磁性材料層を備えるアクチュエータ。 The actuator according to claim 1 or 2
Wherein provided on the movable electrode, the actuator comprising at least a portion is located inside of the inductor when viewed soft magnetic material layer.
前記可動電極上に位置し、膜厚が0.2μm以上0.5μm以下である絶縁層を備え、
前記インダクタ及び前記軟磁性材料層は、前記絶縁層上に位置するアクチュエータ。 In the actuator according to claim 3 ,
It comprises an insulating layer located on the movable electrode and having a thickness of 0.2 μm to 0.5 μm,
The inductor and the soft magnetic material layer, an actuator positioned on the insulating layer.
前記インダクタは、前記軟磁性材料層に埋め込まれているアクチュエータ。 In the actuator according to claim 3 ,
The actuator is embedded in the soft magnetic material layer.
前記軟磁性材料層は、
前記可動電極上に位置する第1軟磁性材料層と、
前記第1軟磁性材料層上に位置する第2軟磁性材料層と、
を有し、
前記インダクタは、前記第1軟磁性材料層上に位置し、かつ前記第2軟磁性材料層に覆われているアクチュエータ。 In the actuator according to claim 5 ,
The soft magnetic material layer is
A first soft magnetic material layer located on the movable electrode;
A second soft magnetic material layer located on the first soft magnetic material layer;
Have
It said inductor, said located first soft magnetic material layer, and an actuator which is covered with the second soft magnetic material layer.
前記アクチュエータの前記可動電極を回転させる前記電圧を供給する可動電極駆動部と、 A movable electrode drive unit for supplying the voltage for rotating the movable electrode of the actuator;
前記インダクタに電気的に接続する電圧測定部と、 A voltage measurement unit electrically connected to the inductor;
を備える測定装置。Measuring device comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015099140A JP6528535B2 (en) | 2015-05-14 | 2015-05-14 | Actuator and measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015099140A JP6528535B2 (en) | 2015-05-14 | 2015-05-14 | Actuator and measuring device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016217729A JP2016217729A (en) | 2016-12-22 |
JP6528535B2 true JP6528535B2 (en) | 2019-06-12 |
Family
ID=57580779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015099140A Expired - Fee Related JP6528535B2 (en) | 2015-05-14 | 2015-05-14 | Actuator and measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6528535B2 (en) |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2542453B1 (en) * | 1983-03-07 | 1985-07-12 | Centre Electron Horloger | MINIATURE MAGNETIC FIELD DEVICE AND MAGNETIC FIELD MEASURING APPARATUS INCLUDING SUCH A DEVICE |
JPS61275672A (en) * | 1985-05-31 | 1986-12-05 | Inoue Japax Res Inc | Magnetic detector equipped with coil |
JP2803091B2 (en) * | 1988-06-24 | 1998-09-24 | 日本電気株式会社 | Magnetic sensor |
JP3216038B2 (en) * | 1995-11-24 | 2001-10-09 | ニスカ株式会社 | Magnetic detection method and magnetic detection device using vibrator |
JP3377162B2 (en) * | 1997-01-17 | 2003-02-17 | 株式会社リコー | Thermal analyzer and measurement method thereof |
JPH11142492A (en) * | 1997-11-05 | 1999-05-28 | Mitsubishi Materials Corp | Magnetometric sensor |
EP2169700B1 (en) * | 2008-09-26 | 2011-11-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Method and device for monitoring a switching procedure and relay component group |
JP5434494B2 (en) * | 2009-11-10 | 2014-03-05 | 株式会社リコー | Magnetic sensor |
JP6037691B2 (en) * | 2012-07-13 | 2016-12-07 | 国立大学法人九州大学 | Rotary actuator |
-
2015
- 2015-05-14 JP JP2015099140A patent/JP6528535B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016217729A (en) | 2016-12-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5500785B2 (en) | Magnetic sensor | |
US8269492B2 (en) | Magnetic balance type current sensor | |
JP2015219061A (en) | Magnetic field detection sensor and magnetic field detection device using the same | |
JP2010032484A (en) | Magnetic sensor and rotation-angle-detecting apparatus | |
JP5641276B2 (en) | Current sensor | |
JP2004301554A (en) | Electric potential measuring device and image forming device | |
CN107202966B (en) | The measurement method and system of a kind of alternate magnetic flux leakage of transformer winding | |
JP6460372B2 (en) | Magnetic sensor, method for manufacturing the same, and measuring instrument using the same | |
CN210142176U (en) | Magnetic field sensing device | |
JP6528535B2 (en) | Actuator and measuring device | |
JP2006317358A (en) | Electric potential measuring device and image forming apparatus using it | |
JP2012063203A (en) | Magnetic sensor | |
JP4873689B2 (en) | Surface potential meter and surface potential measurement method | |
JP2012247298A (en) | Position detection device | |
JP2018044817A (en) | Position detection device | |
JP4524195B2 (en) | Magnetic detection element | |
CN115856725A (en) | Magnetic sensor | |
WO2003056276A1 (en) | Direction sensor and its production method | |
JP2018173347A (en) | Surface potential sensor, surface potential measuring method, and image forming apparatus | |
WO2019142780A1 (en) | Position detection device | |
JP2005249741A (en) | Deflection angle detector and deflection angle detecting method for actuator | |
JP2020091131A (en) | Magnetism detection device and moving body detection device | |
JP4888765B2 (en) | Film thickness meter and film thickness measurement method | |
JP7046721B2 (en) | Speed detector | |
JP2004354057A (en) | Electrostatic sensor and static eliminator using the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180214 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20181219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181225 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190201 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20190220 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190403 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190416 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190429 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6528535 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |