JP6435936B2 - プログラム、画像処理装置および画像処理システム - Google Patents

Description

本発明は、撮影画像の画質を改善する画像処理技術に関し、より詳細には、陽炎による撮影画像の画質劣化を低減するプログラム、画像処理装置および画像処理システムに関する。

従来、撮影装置と対象物との間に温度差を有する気体の混合による光の屈折現象である陽炎が発生している場合に対象物を撮影すると、陽炎によって撮影画像に揺らぎが生じるという問題が存在する。このような陽炎によって劣化した撮影画像の画質を改善し、撮影画像内の対象物が良好に知覚できるようにする画像処理技術が提案されている。

陽炎を補正する画像処理技術の一例として、特許文献１は、撮影装置から逐次入力される画像から参照画像を作成し、最新の入力画像と参照画像とのオプティカルフローを算出し、当該オプティカルフローを用いて、最新の入力画像の揺らぎを補正する画像処理方法を開示する。

しかしながら、強い陽炎が発生した場合には撮影画像の画質が大きく劣化するため、特許文献１が開示するような従来の画像処理方法では、陽炎によって画質が劣化した撮影画像を十分に補正することができないという問題があった。

本発明は、上述した従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、陽炎による撮影画像の画質劣化を低減することができるプログラム、画像処理装置および画像処理システムを提供することを目的とする。

本発明のプログラムは、撮影画像を処理する画像処理装置に対し、高さの異なる撮影位置で撮影された複数の撮影画像を使用して、撮影画像が生成されたときの撮影装置の振動の強さを撮影位置毎に算出させ、複数の撮影画像を使用して、撮影画像を生成した撮影装置と対象物との間に発生している陽炎の強さを撮影位置毎に算出させる。そして、本発明のプログラムは、撮影位置毎の振動の強さおよび陽炎の強さと、撮影装置と対象物との間の距離とに基づいて、陽炎による撮影画像の画質劣化の度合を示す画質劣化スコアを撮影位置毎に算出させ、画質劣化スコアに基づいて、陽炎による撮影画像の画質劣化を最小限にする最適位置を特定させる。

本発明は、上記構成要件を採用することにより、陽炎発生時の最適な撮影位置を特定することができるため、陽炎による撮影画像の画質劣化を低減することができる。

本発明の画像処理システムの一実施形態を示す図。 本発明の画像処理装置が備える制御ユニットのハードウェア構成の一実施形態を示す図。 本発明の制御ユニットが有する機能構成の一実施形態を示す図。 本発明の画像処理装置が実行する処理の一実施形態を示すフローチャート。 撮影位置毎の振動の強さの算出処理の一実施形態を示すフローチャート。 撮影位置毎の陽炎の強さの算出処理の一実施形態を示すフローチャート。 撮影位置毎の画質劣化スコアの算出処理の一実施形態を示すフローチャート。 画質劣化テーブルの一実施形態を示す図。 離散的な撮影位置の画質劣化スコアをフィッティングする連続関数の一実施形態を示す図。

図１は、本発明の画像処理システムの一実施形態を示す図である。図１に示す画像処理システム１００は、画像処理装置１１０と、支柱１２０とで構成される。画像処理装置１１０は、支柱１２０に沿って所定の複数の位置で対象物を撮影し、複数の撮影位置における撮影画像を用いて、撮影画像に対する陽炎の影響が最小となる最適位置を特定する装置である。画像処理装置１１０は、特定された最適位置に移動して対象物を撮影することができる。

画像処理装置１１０は、制御ユニット１１１と、撮影装置１１２と、距離計測装置１１３とを備える。制御ユニット１１１は、図２に示すように、プロセッサ２００と、ＲＯＭ２０１と、ＲＡＭ２０２と、装置インタフェース２０３とを備える。

プロセッサ２００は、本発明のプログラムを実行する演算処理装置である。ＲＯＭ２０１は、本発明のプログラム等の種々のデータが保存される記憶装置である。ＲＡＭ２０２は、プログラムの実行空間を提供する記憶装置である。本実施形態では、プロセッサ２００は、種々のＯＳの管理下で、本発明のプログラムをＲＯＭ２０１から読み出し、ＲＡＭ２０２に展開して実行することにより、後述する機能を画像処理装置１１０で実現する。他の実施形態では、本発明のプログラムを実行する半導体集積回路によって後述する機能を画像処理装置１１０で実現してもよい。

装置インタフェース２０３は、制御ユニット１１１と、撮影装置１１２および距離計測装置１１３とを接続するインタフェースである。撮影装置１１２および距離計測装置１１３は、制御ユニット１１１の制御下で動作する。

撮影装置１１２は、対象物を撮影して撮影画像を生成する装置である。距離計測装置１１３は、対象物と撮影装置１１２との距離を計測する装置である。距離計測装置１１３として、例えば、レーザ計測器やステレオカメラ等の様々な距離計測手段を採用することができる。

また、画像処理装置１１０は、昇降装置として、一対のモータ（図示せず）と、支柱１２０とを備えている。この一対のモータは、支柱１２０を挟み込むように取り付けられ、当該モータが回転することにより、画像処理装置１１０を支柱１２０に沿って昇降させることができる。他の実施形態では、昇降装置として、支柱１２０に設置されたエレベータ駆動機構を採用し、当該エレベータ駆動機構によって画像処理装置１１０を支柱１２０に沿って昇降させてもよい。

図１に示す実施形態では、制御ユニット１１１と、撮影装置１１２および距離計測装置１１３とが、画像処理装置１１０として一体的に構成されているが、他の実施形態では、制御ユニット１１１と、撮影装置１１２および距離計測装置１１３とを個別に構成し、画像処理装置である制御ユニット１１１が、無線通信を介して撮影装置１１２および距離計測装置１１３を制御するようにしてもよい。

図３は、画像処理装置１１０の制御ユニット１１１が有する機能構成の一実施形態を示す図である。以下、図３を参照して、制御ユニット１１１が有する機能について説明する。

制御ユニット１１１は、制御部３００と、昇降制御部３０１と、距離計測部３０２と、撮影部３０３と、振動強度算出部３０４と、陽炎強度算出部３０５と、スコア算出部３０６と、最適位置特定部３０７と、昇降装置制御部３０８と、計測装置制御部３０９と、撮影装置制御部３１０とを備える。

制御部３００は、画像処理装置１１０の全体制御を行う手段であり、制御ユニット１１が有する他の機能部を制御する。昇降制御部３０１は、昇降装置制御部３０８を介して昇降装置を制御し、画像処理装置１１０の昇降動作を制御する手段である。距離計測部３０２は、計測装置制御部３０９を介して距離計測装置１１３を制御し、画像処理装置１１０と対象物との距離を計測する手段である。撮影部３０３は、撮影装置制御部３１０を介して撮影装置１１２を制御し、対象物を撮影して撮影画像を生成する手段である。

振動強度算出部３０４は、高さの異なる撮影位置で撮影された複数の撮影画像を使用して、当該撮影画像が生成されたときの撮影装置１１２の振動の強さを撮影位置毎に算出する手段である。陽炎強度算出部３０５は、高さの異なる撮影位置で撮影された複数の撮影画像を使用して、当該撮影画像を生成した撮影装置１１２と対象物との間に発生している陽炎の強さを撮影位置毎に算出する手段である。

スコア算出部３０６は、撮影装置１１２と対象物との間に発生している陽炎による撮影画像の画質劣化の度合を示すスコア（以下、「画質劣化スコア」とする。）を算出する手段である。スコア算出部３０６は、振動強度算出部３０４が算出する撮影位置毎の振動の強さと、陽炎強度算出部３０５が算出する撮影位置毎の陽炎の強さと、距離計測部３０２が算出する撮影装置１１２と対象物との間の距離とに基づいて、画質劣化スコアを撮影位置毎に算出する。

最適位置特定部３０７は、撮影装置１１２と対象物との間に発生している陽炎による撮影画像の画質劣化を最小限にする撮影位置を最適位置として特定する手段である。

昇降装置制御部３０８は、画像処理装置１１０を昇降させる昇降装置を制御する手段である。計測装置制御部３０９は、画像処理装置１１０と対象物との距離を測定する距離計測装置１１３を制御する手段である。撮影装置制御部３１０は、画像処理装置１１０が備える撮影装置１１２を制御する手段である。

図４は、画像処理装置１１０が実行する処理の一実施形態を示すフローチャートである。以下、図４を参照して、離散的な複数の撮影位置で対象物を撮影し、その撮影画像を用いて最適位置を特定する処理について説明する。

図４の処理は、ステップＳ４００から開始し、ステップＳ４０１で昇降制御部３０１が、昇降装置制御部３０８を介して昇降装置を制御し、画像処理装置１１０を所定の撮影位置に移動させる。ステップＳ４０２では、距離計測部３０２が、計測装置制御部３０９を介して距離計測装置１１３に対し、画像処理装置１１０と対象物との距離を計測させ、当該距離を、図８に示すような画質劣化に関する情報が記録されるデータテーブル（以下、「画質劣化テーブル」とする。）に保存する。ステップＳ４０２では、撮影部３０３が、撮影装置制御部３１０を介して、対象物を複数回撮影し、当該撮影位置における複数の撮影画像を生成する。

ステップＳ４０４では、制御部３００が、所定の全ての撮影位置（例えば、高さ０ｍ、１５ｍ、３０ｍ）について、ステップＳ４０１〜ステップＳ４０３の処理を実行したか否か判断する。所定の全ての撮影位置について当該処理を実行していない場合（ｎｏ）、ステップＳ４０１に処理が戻り、次の撮影位置についてステップＳ４０１〜ステップＳ４０３の処理を実行する。一方、所定の全ての撮影位置について当該処理を実行した場合（ｙｅｓ）、ステップＳ４０５に処理が分岐する。

ステップＳ４０５では、振動強度算出部３０４が、撮影画像を生成したときの撮影装置１１２の振動の強さを撮影位置毎に算出する。撮影装置１１２の振動の強さの算出処理については、図５を参照して詳述する。

ステップＳ４０６では、陽炎強度算出部３０５が、撮影装置１１２と対象物との間に発生している陽炎の強さを撮影位置毎に算出する。陽炎の強さの算出処理については、図６を参照して詳述する。

ステップＳ４０７では、スコア算出部３０６が、撮影位置毎に画質劣化スコアを算出する。画質劣化スコアの算出処理については、図７を参照して詳述する。

ステップＳ４０８では、最適位置特定部３０７が、陽炎による撮影画像の画質劣化が最小となる撮影位置を最適位置として特定する。本実施形態では、最適位置特定部３０７は、図８に示すような画質劣化テーブルを参照し、画質劣化スコアが最小となる撮影位置（例えば、高さ１５ｍ）を最適位置として特定する。

ステップＳ４０９では、昇降制御部３０１は、昇降装置制御部３０８を介して昇降装置を制御し、画像処理装置１１０を最適位置に移動させる。ステップＳ４１０では、撮影部３０３が、撮影装置制御部３１０を介して、対象物を撮影して撮影画像を生成し、ステップＳ４１１で処理が終了する。

図５は、撮影画像を生成したときの撮影装置１１２の振動の強さを撮影位置毎に算出する処理の一実施形態を示すフローチャートである。

図５に示す処理はステップＳ５００から開始し、ステップＳ５０１では、振動強度算出部３０４が、図４に示すステップＳ４０３の処理で生成された所定の１の撮影位置（例えば、高さ０ｍ）における複数の撮影画像（Ｌ_１〜Ｌ_Ｎ）を取得する。ここで、Ｎは、撮影画像の数を示す。

ステップＳ５０２では、振動強度算出部３０４は、これらの撮影画像の中で最新の撮影画像（Ｌ_Ｎ）と、その他の撮影画像（Ｌ_１〜Ｌ_Ｎ−１）とを用いてテンプレートマッチングを行い、最新の撮影画像（Ｌ_Ｎ）と、撮影画像（Ｌ_１〜Ｌ_Ｎ−１）との変動ベクトル（Ｊ_１〜Ｊ_Ｎ−１）を算出する。

ステップＳ５０３では、振動強度算出部３０４は、当該撮影位置（例えば、高さ０ｍ）における振動の強さＫとして、これらの変動ベクトル（Ｊ_１〜Ｊ_Ｎ−１）の標準偏差を算出する。より詳細には、振動強度算出部３０４は、数式１を用いて、振動の強さＫを算出することができる。

ここで、Ｋ_ｘは、変動ベクトル（Ｊ_１〜Ｊ_Ｎ−１）のｘの値の標準偏差を示す。また、Ｋ_ｙは、変動ベクトル（Ｊ_１〜Ｊ_Ｎ−１）のｙの値の標準偏差を示す。

ステップＳ５０４では、振動強度算出部３０４は、ステップＳ５０３で算出した振動の強さＫを画質劣化テーブルに保存する。ステップＳ５０５では、振動強度算出部３０４は、全ての撮影位置（例えば、高さ０ｍ、１５ｍ、３０ｍ）について振動の強さＫを算出したか否か判断する。

全ての撮影位置について振動の強さＫを算出していない場合（ｎｏ）、ステップＳ５０１に処理が戻り、次の撮影位置（例えば、高さ１５ｍや高さ３０ｍ）について振動の強さＫを算出する。一方、所定の全ての撮影位置について振動の強さＫを算出した場合（ｙｅｓ）、ステップＳ５０６で処理が終了する。

図６は、画像処理装置１１０と対象物との間に発生している陽炎の強さを撮影位置毎に算出する処理の一実施形態を示すフローチャートである。

図６に示す処理は、ステップＳ６００から開始し、ステップＳ６０１では、陽炎強度算出部３０５が、図４に示すステップＳ４０３の処理で生成された所定の１の撮影位置（例えば、高さ０ｍ）における複数の撮影画像（Ｌ_１〜Ｌ_Ｎ）を取得する。ステップＳ６０２では、陽炎強度算出部３０５は、これらの撮影画像の中で最も古い撮影画像（Ｌ_１）の特徴点（Ｐ_{１_１}，Ｐ_{１_２}，…Ｐ_{１_Ｍ}）を抽出する。ここで、Ｍは、当該撮影画像に含まれる特徴点の数を示す。

ステップＳ６０３では、陽炎強度算出部３０５は、撮影画像（Ｌ_２〜Ｌ_Ｎ）について撮影画像（Ｌ_１）の各特徴点をトラッキングし、撮影画像（Ｌ_２〜Ｌ_Ｎ）における当該特徴点の変動ベクトル（Ａ_{２_１}，Ａ_{２_２}，…Ａ_{２_Ｍ}，Ａ_{３_１}…Ａ_{Ｎ_Ｍ}）を算出する。ここで、例えば、変動ベクトル（Ａ_{２_１}…Ａ_{２_Ｍ}）は、撮影画像（Ｌ_２）における当該特徴点の変動ベクトルを示す。陽炎強度算出部３０５は、数式２を用いて、撮影画像（Ｌ_２〜Ｌ_Ｎ）における撮影画像（Ｌ_１）の各特徴点の変動ベクトル（Ａ_{２_１}…Ａ_{Ｎ_Ｍ}）を算出することができる。

ここで、ｇ（２≦ｇ≦Ｎ）は、撮影画像の識別番号を示す。また、ｉ（１≦ｉ≦Ｍ）は、撮影画像（Ｌ_１）における特徴点の識別番号を示す。

ステップＳ６０４では、陽炎強度算出部３０５は、撮影画像（Ｌ_２〜Ｌ_Ｎ）について撮影画像（Ｌ_１）の各特徴点の正味の変動ベクトル（Ｃ_{２_１}，Ｃ_{２_２}，…Ｃ_{２_Ｍ}，Ｃ_{３_１}…Ｃ_{Ｎ_Ｍ}）を算出する。より詳細には、陽炎強度算出部３０５は、撮影画像（Ｌ_２〜Ｌ_Ｎ）における当該特徴点の変動ベクトル（Ａ_{２_１}…Ａ_{Ｎ_Ｍ}）と、振動強度算出部３０４が算出した当該特徴点の振動による変動ベクトル（Ｊ_１〜Ｊ_Ｎ）とを数式３に代入し、撮影画像（Ｌ_１）の各特徴点の正味の変動ベクトル（Ｃ_{２_１}…Ｃ_{Ｎ_Ｍ}）を算出することができる。なお、Ｊ_Ｎは０とする。

ここで、ｇ（２≦ｇ≦Ｎ）は、撮影画像の識別番号を示す。また、ｉ（１≦ｉ≦Ｍ）は、撮影画像（Ｌ_１）における特徴点の識別番号を示す。

ステップＳ６０５では、陽炎強度算出部３０５は、撮影画像（Ｌ_１）の各特徴点の正味の変動ベクトル（Ｃ_{２_１}…Ｃ_{Ｎ_Ｍ}）に基づき、当該特徴点の標準偏差（Ｓ_１〜Ｓ_Ｍ）を算出する。より詳細には、陽炎強度算出部３０５は、数式４を用いて、当該特徴点の標準偏差（Ｓ_１〜Ｓ_Ｍ）を算出することができる。

ここで、Ｓ_ｉは、撮影画像（Ｌ_１）の各特徴点の正味の変動ベクトル（Ｃ_{２_１}…Ｃ_{Ｎ_Ｍ}）の標準偏差を示す。Ｓ_ｉＸは、当該変動ベクトルのｘ軸方向の標準偏差を示し、Ｓ_ｉＹは当該変動ベクトルのｙ軸方向の標準偏差を示す。ｉ（１≦ｉ≦Ｍ）は、撮影画像（Ｌ_１）における特徴点の識別番号を示す。

ステップＳ６０６では、陽炎強度算出部３０５は、ステップＳ６０５で算出した特徴点の標準偏差（Ｓ_１〜Ｓ_Ｍ）の平均値を、当該撮影位置（例えば、高さ０ｍ）における陽炎の強さＤとして算出する。ステップＳ６０７では、陽炎強度算出部３０５は、ステップＳ６０６で算出した陽炎の強さＤを画質劣化テーブルに保存する。

ステップＳ６０８では、陽炎強度算出部３０５は、全ての撮影位置（例えば、高さ０ｍ、１５ｍ、３０ｍ）について陽炎の強さＤを算出したか否か判断する。全ての撮影位置について陽炎の強さＤを算出していない場合（ｎｏ）、ステップＳ６０１に処理を戻し、次の撮影位置（例えば、高さ１５ｍや高さ３０ｍ）について陽炎の強さＤを算出する。一方、所定の全ての撮影位置について陽炎の強さＤを算出した場合（ｙｅｓ）、ステップＳ６０９で処理が終了する。

上述したように、図６に示す実施形態では、撮影画像が生成されたときの撮影装置１１２の振動の強さを考慮して、陽炎の強さを算出することができる。

図７は、撮影位置毎の画質劣化スコアを算出する処理の一実施形態を示すフローチャートである。図７に示す処理はステップＳ７００から開始し、ステップＳ７０１では、スコア算出部３０６が、所定の各撮影位置（例えば、０ｍ、１５ｍ、３０ｍ）における見かけの点の広がり（分散度）を算出する。より詳細には、スコア算出部３０６は、画質劣化テーブルに登録されている陽炎の強さおよび振動の強さを数式５に代入して、見かけの点の広がり（Ｄ_ＳＰ＿Ｈ）を算出する。

ここで、Ｄ_Ｈは、地上からＨメートル地点における陽炎の強さを示し、Ｋ_Ｈは、Ｈメートル地点における振動の強さを示す。Ｄ_ＳＰ＿Ｈは、Ｈメートル地点における見かけの点の広がりを示す。本実施形態では、Ｈは０以上の実数とする。

ステップＳ７０２では、スコア算出部３０６は、所定の撮影位置における見かけの点の広がり（Ｄ_ＳＰ＿Ｈ）を正規化して、０メートル地点における見かけの点の広がり（Ｄ_{ＳＰＧＬ＿Ｈ}）を算出する。より詳細には、スコア算出部３０６は、数式６を用いて地上０メートル地点における見かけの点の広がり（Ｄ_{ＳＰＧＬ＿Ｈ}）を算出することができる。

ここで、Ｌ_Ｈは、地上からＨメートル地点における撮影装置１１２と対象物との間の距離を示し、Ｌ_０は、地上０メートル地点における撮影装置１１２と対象物との間の距離を示す。Ｄ_{ＳＰＧＬ＿Ｈ}は、地上０メートル地点における見かけの点の広がりを示す。本実施形態では、Ｈは０以上の実数とする。

ステップＳ７０３では、スコア算出部３０６は、各撮影位置における画質劣化スコアを算出する。より詳細には、スコア算出部３０６は、数式７を用いて画質劣化スコア（Ｑ_Ｈ）を算出することができる。

ここで、Ｑ_Ｈは、地上Ｈメートル地点における画質劣化スコアを示す。本実施形態では、Ｈは０以上の実数とする。

他の実施形態では、数式７における振動の強さＤ_Ｈに補正係数（０以上１未満の値）をかけてもよい。また、他の実施形態では、画質を劣化させる他の要因（例えば、煙や障害物の量等）を数式７に導入してもよい。

ステップＳ７０４では、スコア算出部３０６は、ステップＳ７０３で算出した画質劣化スコアを画質劣化テーブルに保存し、ステップＳ７０５で処理が終了する。

上述した実施形態では、最適位置特定部３０７が、図８に示すような画質劣化テーブルを参照し、画質劣化スコアが最小となる撮影位置を特定するが、他の実施形態では、最適位置特定部３０７は、２次多項式や３次多項式、３次スプライン曲線等の連続関数を用いて、離散的な撮影位置の画質劣化スコアをフィッティングし、画質劣化スコアが最小となる撮影位置を特定することができる。

例えば、図９に示すような２次多項式関数を用いて、任意の撮影位置における画質劣化スコアを近似することができる。多項式の次数に１を足した数より実際の撮影位置の数が多い場合は、撮影位置の高さと画質劣化スコアに対応する全ての点を通る曲線を算出できないため、その場合は、最小二乗法等により、図９に示すような誤差の量が最小となる３次多項式によって規定される曲線を算出することができる。

さらに、図９に示すようなスプライン曲線を用いて、任意の撮影位置における画質劣化スコアを近似することができる。このような連続関数を用いて、任意の撮影位置における画質劣化スコアを近似することにより、より最適な撮影位置を算出することができる。

これまで本実施形態につき説明してきたが、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、上述した実施形態の構成要素を変更若しくは削除し、または上述した実施形態の構成要素に他の構成要素を追加するなど、当業者が想到することができる範囲内で変更することができる。いずれの態様においても本発明の作用効果を奏する限り、本発明の範囲に含まれるものである。

１００…画像処理システム、１１０…画像処理装置、１１１…制御ユニット、１１２…撮影装置、１１３…距離計測装置、１２０…支柱

特開２０１２−１０４０１８

Claims (9)

1. 撮影画像を処理する画像処理装置が実行可能なプログラムであって、前記画像処理装置に対し、
   高さの異なる撮影位置で撮影された複数の撮影画像を使用して、前記撮影画像が生成されたときの撮影装置の振動の強さを撮影位置毎に算出するステップと、
   前記複数の撮影画像を使用して、前記撮影画像を生成した撮影装置と対象物との間に発生している陽炎の強さを撮影位置毎に算出するステップと、
   前記撮影位置毎の振動の強さおよび陽炎の強さと、前記撮影装置と対象物との間の距離とに基づいて、陽炎による撮影画像の画質劣化の度合を示す画質劣化スコアを撮影位置毎に算出するステップと、
   前記画質劣化スコアに基づいて、前記陽炎による撮影画像の画質劣化を最小限にする最適位置を特定するステップと
   を実行させる、プログラム。
2. 前記最適位置を特定するステップは、連続関数を用いて離散的な撮影位置の画質劣化スコアをフィッティングし、撮影画像の画質劣化を最小限にする最適位置を特定するステップを含む、請求項１に記載のプログラム。
3. 前記プログラムはさらに、前記画像処理装置に対し、
   特定された最適位置に前記撮影装置を移動させるステップを実行させる、請求項１または２に記載のプログラム。
4. 撮影画像を処理する画像処理装置であって、
   高さの異なる撮影位置で撮影された複数の撮影画像を使用して、前記撮影画像が生成されたときの撮影装置の振動の強さを撮影位置毎に算出する振動強度算出手段と、
   前記複数の撮影画像を使用して、前記撮影画像を生成した撮影装置と対象物との間に発生している陽炎の強さを撮影位置毎に算出する陽炎強度算出手段と、
   前記撮影位置毎の振動の強さおよび陽炎の強さと、前記撮影装置と対象物との間の距離とに基づいて、陽炎による撮影画像の画質劣化の度合を示す画質劣化スコアを撮影位置毎に算出するスコア算出手段と、
   前記画質劣化スコアに基づいて、前記陽炎による撮影画像の画質劣化を最小限にする最適位置を特定する最適位置特定手段と
   を備える、画像処理装置。
5. 前記最適位置特定手段は、連続関数を用いて離散的な撮影位置の画質劣化スコアをフィッティングし、撮影画像の画質劣化を最小限にする最適位置を特定することを特徴とする、請求項４に記載の画像処理装置。
6. 特定された最適位置に前記撮影装置を移動させる昇降制御手段をさらに備える、請求項４または５に記載の画像処理装置。
7. 撮影装置を備える画像処理装置と、昇降装置とを備える画像処理システムであって、
   前記画像処理装置は、
   高さの異なる撮影位置で撮影された複数の撮影画像を使用して、前記撮影画像が生成されたときの撮影装置の振動の強さを撮影位置毎に算出する振動強度算出手段と、
   前記複数の撮影画像を使用して、前記撮影画像を生成した撮影装置と対象物との間に発生している陽炎の強さを撮影位置毎に算出する陽炎強度算出手段と、
   前記撮影位置毎の振動の強さおよび陽炎の強さと、前記撮影装置と対象物との間の距離とに基づいて、陽炎による撮影画像の画質劣化の度合を示す画質劣化スコアを撮影位置毎に算出するスコア算出手段と、
   前記画質劣化スコアに基づいて、前記陽炎による撮影画像の画質劣化を最小限にする最適位置を特定する最適位置特定手段と
   を備える、画像処理システム。
8. 前記最適位置特定手段は、連続関数を用いて離散的な撮影位置の画質劣化スコアをフィッティングし、撮影画像の画質劣化を最小限にする最適位置を特定することを特徴とする、請求項７に記載の画像処理システム。
9. 前記昇降装置を制御して、特定された最適位置に前記撮影装置を移動させる昇降制御手段をさらに備える、請求項７または８に記載の画像処理システム。