JP6433024B2 - 固体電解コンデンサおよびその製造方法 - Google Patents
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Description
導電性高分子層とは、電子導電性を有する固体の電解質を含む層であって、ポリチオフェンの誘導体であるポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)、ポリチオフェン、ポリアニリン、ポリピロールなどの導電性高分子が固体電解質として用いられる。
しかし、導電性高分子は化成性が乏しく、陽極電極箔の酸化皮膜の修復性が弱いために、耐電圧特性の向上が望めず、漏れ電流の十分な低減効果が得られないという問題点があった。
また、予めリン酸(正リン酸)による化成を行って箔表面に特定量の正リン酸を付着させ漏れ電流を低減させる方法(例えば、特許文献1参照)もあるが、リン酸を箔表面に十分に付着させることが困難なため、その効果は十分ではなく、改善の余地が残されていた。
誘電体酸化皮膜が形成されたコンデンサ素子を作製する工程と、
ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)とポリスチレンスルホン酸(PSS)と、亜リン酸またはその塩を含むポリマー分散体溶液に前記コンデンサ素子を少なくとも1回含浸及び乾燥させて、誘電体酸化皮膜の表面に導電性高分子層を形成させる工程
を含むことを特徴とする。
すなわち、ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)/ポリスチレンスルホン酸(PSS)を基本組成とするポリマー分散体溶液に正リン酸を含ませた場合には、正リン酸が3価の酸であるためにポリスチレンスルホン酸(PSS)との反応性が高く脱ドープが起こりやすくなり、等価直列抵抗が増加するという問題が生じてしまう。
これに対し、本発明によれば、ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)/ポリスチレンスルホン酸(PSS)を基本組成とするポリマー分散体溶液に亜リン酸またはその塩を含ませているので、上記問題を回避して低い等価直列抵抗を維持したまま、漏れ電流の十分な低減を図ることができる。
上記導電性高分子層中に含有される亜リン酸の塩としては、アンモニウム塩、ナトリウム塩等が挙げられる。
また、陰極電極箔3も陽極電極箔1と同様にアルミニウム等の弁作用金属で形成されており、エッチング処理により表面が粗面化されたもの(粗面化箔)が使用される。この陰極電極箔3としては、他にエッチング処理を施さないプレーン箔も使用でき、また、前記粗面化箔もしくはプレーン箔の表面に、チタンやニッケルやその炭化物、窒化物、炭窒化物又はこれらの混合物からなる金属薄膜や、カーボン薄膜を形成したコーティング箔も使用することができる。
なお、図1に示されるように、陽極電極箔1および陰極電極箔3からは、それぞれ陽極リード線5および陰極リード線6が引き出されている。
まず、本発明の固体電解コンデンサの製造方法の最初の工程においては、陽極電極箔1と陰極電極箔3とをセパレータ2を介して巻回してコンデンサ素子4とし、このコンデンサ素子4に化成液中で電圧を印加して切り口化成(素子化成)を行い、陽極電極箔の切断端面に誘電体酸化皮膜を形成させる。この際、使用される化成液としては、アジピン酸および/またはアジピン酸塩(例えば1〜5重量%のアジピン酸アンモニウム)を含む化成液が挙げられる。
上述のような巻回型コンデンサ素子には、最初に、ポリアニリンまたはその誘導体を主体とする溶液を用いて、ポリアニリンまたはその誘導体を主体とする導電性高分子層を形成することが好ましい。
この際使用される、亜リン酸またはその塩を含有するPEDOT/PSS/ポリマー分散体溶液としては、溶媒として水を使用したものが好ましく、分散液中の亜リン酸の濃度を0.05〜10.0wt%として作製したものがより好ましい。また、PEDOT/PSSの濃度は0.5〜3.0wt%が適切である。このような導電性高分子層を形成する工程において、含浸を常圧で行ってもよいが、減圧下で行うことも好ましい。また、含浸及び乾燥は、2回以上繰り返して行うことができる。乾燥条件は、溶媒である水を除去可能かつコンデンサ素子に悪影響を及ぼさない限り制限されないが、例えば85〜200℃で30〜120分、乾燥させることができる。特に好ましくは、1.0〜10.0wt%の亜リン酸を含むポリマー分散体溶液にコンデンサ素子を5〜30kPaの減圧下で10〜20分間含浸させ、130〜170℃で50〜80分乾燥を行う工程を3回繰り返すことによって、導電性高分子層を形成することができる。
陽極電極箔、陰極電極箔として、いずれも、エッチング処理により表面を粗面化したアルミニウム箔を用い、さらに陰極電極箔の表面に酸化チタンを形成した。所定の幅に切断された陽極電極箔及び陰極電極箔に外部引き出し電極用のタブ端子を接続した。この際、陽極電極箔には、弁金属の表面にエッチング処理及び化成処理を施すことによって、誘電体酸化皮膜が形成されたものを用いた。また、セパレータとしては、ポリアクリロニトリル100%からなるセパレータ(密度0.40g/cm3、厚み50μm)を用いた。
上記の陽極電極箔及び陰極電極箔を、上記セパレータを介して巻回し、巻回素子を完成した。作製する素子の定格は35WV−120μF、サイズはφ8×10Lの製品とした。
続いて、陽極電極箔の切り口や外部引き出し電極取り付け時に欠損した誘電体酸化皮膜の修復、いわゆる化成処理を行った。この際、アジピン酸アンモニウムを水溶媒に溶解させた2.0wt%の化成液を用いて、誘電体酸化皮膜の化成電圧値に近似した電圧を印加し、切り口化成を行い、陽極電極箔の切断端面に誘電体酸化皮膜を形成した。
そして、上記方法で導電性高分子層が形成されたコンデンサ素子を、リード線挿通部を有する封口部材と共に外装ケースに収納し、外装ケースの開口部をカーリングした。続いて、150℃程度の温度条件にてコンデンサに定格電圧35Vを1時間印加してエージング処理を施し、固体電解コンデンサを完成した。
コンデンサ素子に含浸させるポリマー分散体溶液中の亜リン酸含有量を0.05wt%とする以外は、実施例1と同様に固体電解コンデンサを作製した。
コンデンサ素子に含浸させるポリマー分散体溶液中の亜リン酸含有量を1.0wt%とする以外は、実施例1と同様に固体電解コンデンサを作製した。
コンデンサ素子に含浸させるポリマー分散体溶液中の亜リン酸含有量を10.0wt%とする以外は、実施例1と同様に固体電解コンデンサを作製した。
コンデンサ素子に含浸させるポリマー分散体溶液中の亜リン酸含有量を12.0wt%とする以外は、実施例1と同様に固体電解コンデンサを作製した。
コンデンサ素子に含浸させるポリマー分散体溶液として、亜リン酸を配合しないものを使用し、陰極電極箔として、エッチング処理により表面を粗面化したアルミニウム箔を使用する以外は、実施例1と同様に固体電解コンデンサを作製した。
コンデンサ素子に含浸させるポリマー分散体溶液として、正リン酸(H3PO4)を1.0wt%含有するものを使用し、陰極電極箔として、エッチング処理により表面を粗面化したアルミニウム箔を使用する以外は、実施例1と同様に固体電解コンデンサを作製した。
上記で得られた実施例1〜5、従来例および比較例の固体電解コンデンサについてそれぞれ、測定温度20℃の条件にて、静電容量(Cap)、tanδ(損失角の正接)、等価直列抵抗(ESR)及び漏れ電流(LC)を測定した。
従来例:亜リン酸を含まないポリマー分散体溶液
実施例1:0.01wt%の亜リン酸を含むポリマー分散体溶液
実施例2:0.05wt%の亜リン酸を含むポリマー分散体溶液
実施例3:1.0wt%の亜リン酸を含むポリマー分散体溶液
実施例4:10.0wt%の亜リン酸を含むポリマー分散体溶液
実施例5:12.0wt%の亜リン酸を含むポリマー分散体溶液
比較例:1.0wt%の正リン酸(オルトリン酸)を含むポリマー分散体溶液
また、正リン酸(オルトリン酸)を1.0wt%含有したポリマー分散体溶液を用いて作製された比較例の固体電解コンデンサは、漏れ電流が低く、皮膜修復能向上は可能であるが、ESRの増加が観察され、これに対して、亜リン酸は添加してもESRの上昇が少ないメリットがあることがわかった。なお、このようなESRの値の違いは、亜リン酸が2価の酸であるのに対して、正リン酸が3価の酸であり、PSSとの反応性が高く、脱ドープが起こりやすいためであると考えられる。
なお、本発明の上記実施例では亜リン酸を使用したが、亜リン酸塩を上記含有量で用いた場合にも上記と同様の効果が得られる。
2 セパレータ
3 陰極電極箔
4 コンデンサ素子
5 陽極リード線
6 陰極リード線
Claims (3)
- 誘電体酸化皮膜が形成されたコンデンサ素子に、電解質として少なくとも1回、ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルホン酸を基本組成とするポリマー分散体溶液を含浸および乾燥させることによって導電性高分子層が形成された固体電解コンデンサにおいて、
前記導電性高分子層中に、亜リン酸またはその塩が含有されていることを特徴とする固体電解コンデンサ。 - 誘電体酸化皮膜が形成されたコンデンサ素子を作製する工程と、
ポリエチレンジオキシチオフェンとポリスチレンスルホン酸と、亜リン酸またはその塩を含むポリマー分散体溶液に前記コンデンサ素子を少なくとも1回含浸及び乾燥させて、誘電体酸化皮膜の表面に導電性高分子層を形成させる工程、
を含むことを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。 - 前記ポリマー分散体溶液中に亜リン酸またはその塩が0.05〜10重量%含有されていることを特徴とする請求項2に記載の固体電解コンデンサの製造方法。
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