JP6463195B2 - ニッケル粒子組成物、接合材及びそれを用いた接合方法 - Google Patents
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Description
A)レーザー回折/散乱法による平均粒子径が0.5〜20μmの範囲内であり、ニッケル元素を99重量%以上含有するニッケル粒子、
B)走査型電子顕微鏡観察による平均一次粒子径が30〜150nmの範囲内であり、粒子表面が有機化合物で被覆され、さらに次式;
比表面積当りの炭素含有量=[ニッケル微粒子の元素分析による炭素量(重量%)]
/[平均一次粒径を元に計算して得られる比表面積(m2/g)]
で求められる比表面積当りの炭素含有量が0.100〜0.160の範囲内にあるニッケル微粒子、
を含有し、
さらに、前記成分A及び成分Bに含まれる炭素量の合計が0.30〜1.40重量%の範囲内である。
本発明のニッケル粒子組成物は、次の成分A及びB;
A)レーザー回折/散乱法による平均粒子径が0.5〜20μmの範囲内であり、ニッケル元素を99重量%以上含有するニッケル粒子、
B)走査型電子顕微鏡観察による平均一次粒子径が30〜150nmの範囲内であり、粒子表面が有機化合物で被覆され、さらに次式;
比表面積当りの炭素含有量=[ニッケル微粒子の元素分析による炭素量(重量%)]
/[平均一次粒径を元に計算して得られる比表面積(m2/g)]
で求められる比表面積当りの炭素含有量が0.100〜0.160の範囲内にあるニッケル微粒子、
を含有し、
さらに前記成分A及び成分Bに含まれる炭素量の合計が0.30〜1.40重量%の範囲内であるニッケル組成物である。
成分Aのニッケル粒子は、加熱よる接合層形成時の体積収縮を抑制する観点から、レーザー回折/散乱法による平均粒子径が0.5〜20μmの範囲内とする。平均粒子径が0.5μm未満であると、加熱による接合層形成時において体積収縮が大きくなり、被接合体同士が十分に接合しない。一方、平均粒子径が20μmを超えると、被接合体上に塗布性の悪化や、接合層厚みの調整が困難となる。
成分Bのニッケル微粒子は、走査型電子顕微鏡観察による平均一次粒子径が30〜150nmの範囲内である。ニッケル微粒子の平均一次粒子径が30nm未満であると、ニッケル微粒子が凝集しやすくなり、成分Aのニッケル粒子との均一な混合が困難となる。一方、ニッケル微粒子の平均一次粒子径が150nmを超えると、350℃以下の低温焼成において、ニッケル微粒子間もしくはニッケル微粒子とニッケル粒子との焼結能力が不十分であり、接合強度の低下を招く。なお、本明細書において、ニッケル微粒子の一次粒子の平均粒子径は、実施例で用いた値を含めて、電界放出形走査電子顕微鏡(Field Emission−Scanning Electron Microscope:FE−SEM)により試料の写真を撮影して、その中から無作為に200個を抽出してそれぞれの面積を求め、真球に換算したときの粒子径を個数基準として算出した値である。
成分Bのニッケル微粒子は溶媒中での分散性を確保するため、有機分子で粒子表面が被覆されていなければならない。同時に、粒子表面有機物は焼成によって揮発し、粒子表面から除去されなければならない。この有機物の揮発が不十分である場合、ニッケル微粒子同士、もしくはニッケル微粒子とニッケル粒子の焼結が阻害されるため好ましくない。通常、粒子径が小さくなるほど(比表面積が大きくなるほど)、ニッケル微粒子における表面有機成分の重量含有率は大きくなる。したがって、本発明では、比表面積当りの炭素含有量によって、分散性と粒子焼結性を両立する好適な炭素含有量を規定する。すなわち、次式;
比表面積当りの炭素含有量=[ニッケル微粒子の元素分析による炭素量(重量%)]
/[平均一次粒径を元に計算して得られる比表面積(m2/g)]
で与えられる、比表面積当りの炭素含有量が0.100〜0.160の範囲内にすることが好ましい。比表面積当りの炭素含有量が0.100未満の場合、溶媒中でのニッケル微粒子分散性が確保されず、微粒子凝集体が発生し、後述する工程において、ペーストの被接合部材への塗布性悪化や、接合不良が発生し使用できない。また、比表面積当りの炭素含有量が0.160よりも大きい場合、先述したように粒子焼結が阻害され適さない。
ニッケル微粒子表面の被覆有機物やニッケル酸化物が焼成によって除去されることで、ニッケル金属表面が露出され、目的とするニッケル微粒子同士の焼結、もしくはニッケル粒子との焼結が進行する。上記成分が除去される熱挙動は、熱示差・熱重量同時測定(Thermogravimetry−Differential Thermal Analysis:TG−DTA)によって調べることが可能であり、測定結果よりニッケル微粒子の焼結に必要最低限の温度も把握することができる。
成分Bのニッケル微粒子は、その製造方法を問わず利用できるが、ニッケル塩及び有機アミンを含む混合物から、湿式還元法によりニッケルイオンを加熱還元して析出させる公知の方法によって得られたものが好ましい(例えば、特許文献1を参照)。ここでは、湿式還元法によるニッケル微粒子の製造方法の一例について説明する。
工程1)カルボン酸ニッケル及び1級アミンを含む混合物を、100℃〜165℃の範囲内の温度に加熱して錯化反応液を得る錯化反応液生成工程、
及び、
工程2)該錯化反応液を、マイクロ波照射によって170℃以上の温度に加熱して該錯化反応液中のニッケルイオンを還元し、1級アミンで被覆されたニッケル微粒子のスラリーを得るニッケル微粒子スラリー生成工程、を含むことができる。
(カルボン酸ニッケル)
カルボン酸ニッケル(カルボン酸のニッケル塩)は、カルボン酸の種類を限定するものではなく、例えば、カルボキシル基が1つのモノカルボン酸であってもよく、また、カルボキシル基が2つ以上のカルボン酸であってもよい。また、非環式カルボン酸であってもよく、環式カルボン酸であってもよい。このようなカルボン酸ニッケルとして、非環式モノカルボン酸ニッケルを好適に用いることができ、非環式モノカルボン酸ニッケルのなかでも、ギ酸ニッケル、酢酸ニッケル、プロピオン酸ニッケル、シュウ酸ニッケル、安息香酸ニッケル等を用いることがより好ましい。これらの非環式モノカルボン酸ニッケルを用いることによって、例えば、得られるニッケル微粒子は、その形状のばらつきが抑制され、均一な形状として形成されやすくなる。カルボン酸ニッケルは、無水物であってもよく、また水和物であってもよい。
1級アミンは、ニッケルイオンとの錯体を形成することができ、ニッケル錯体(又はニッケルイオン)に対する還元能を効果的に発揮する。一方、2級アミンは立体障害が大きいため、ニッケル錯体の良好な形成を阻害するおそれがあり、3級アミンはニッケルイオンの還元能を有しないため、いずれも単独では使用できないが、1級アミンを使用する上で、生成するニッケル微粒子の形状に支障を与えない範囲でこれらを併用することは差し支えない。1級アミンは、ニッケルイオンとの錯体を形成できるものであれば、特に限定するものではなく、常温で固体又は液体のものが使用できる。ここで、常温とは、20℃±15℃をいう。常温で液体の1級アミンは、ニッケル錯体を形成する際の有機溶媒としても機能する。なお、常温で固体の1級アミンであっても、100℃以上の加熱によって液体であるか、又は有機溶媒を用いて溶解するものであれば、特に問題はない。
工程1では、均一溶液での反応をより効率的に進行させるために、1級アミンとは別の有機溶媒を新たに添加してもよい。有機溶媒を用いる場合、有機溶媒をカルボン酸ニッケル及び1級アミンと同時に混合してもよいが、カルボン酸ニッケル及び1級アミンを先ず混合し錯形成した後に有機溶媒を加えると、1級アミンが効率的にニッケル原子に配位するので、より好ましい。使用できる有機溶媒としては、1級アミンとニッケルイオンとの錯形成を阻害しないものであれば、特に限定するものではなく、例えば炭素数4〜30のエーテル系有機溶媒、炭素数7〜30の飽和又は不飽和の炭化水素系有機溶媒、炭素数8〜18のアルコール系有機溶媒等を使用することができる。また、マイクロ波照射による加熱条件下でも使用を可能とする観点から、使用する有機溶媒は、沸点が170℃以上のものを選択することが好ましく、より好ましくは200〜300℃の範囲内にあるものを選択することがよい。このような有機溶媒の具体例としては、例えばテトラエチレングリコール、n−オクチルエーテル等が挙げられる。
本工程では、カルボン酸ニッケルと1級アミンとの錯形成反応によって得られた錯化反応液を、マイクロ波照射によって170℃以上の温度に加熱し、錯化反応液中のニッケルイオンを還元して1級アミンで被覆されたニッケル微粒子スラリーを得る。マイクロ波照射によって加熱する温度は、得られるニッケル微粒子の形状のばらつきを抑制するという観点から、好ましくは180℃以上、より好ましくは200℃以上とすることがよい。加熱温度の上限は特にないが、処理を能率的に行う観点からは例えば270℃以下とすることが好適である。なお、マイクロ波の使用波長は、特に限定するものではなく、例えば2.45GHzである。なお、加熱温度は、例えばカルボン酸ニッケルの種類やニッケル微粒子の核発生を促進させる添加剤の使用などによって、適宜調整することができる。
ニッケル粒子組成物中の成分A及び成分Bに含まれる炭素量の合計は、0.30〜1.40重量%の範囲内でなければならない。ニッケル粒子組成物における炭素量は成分Bのニッケル微粒子における表面有機物がほとんどを占めるため、成分Aと成分Bの配合比を炭素量によって表現することができる。炭素量が0.30重量%未満の場合、粒子焼結を担う成分Bのニッケル微粒子の配合比が不十分であるため、焼結されていない成分Aのニッケル粒子の割合が増え、接合層の強度不足が生じる。また、炭素量が1.40重量%よりも高い場合、ニッケル微粒子による焼結部位が増え、接合層全体の体積収縮が過剰となるため、十分な接合強度が得られない。
ニッケル微粒子を被覆している有機化合物は、ニッケル微粒子と相互作用が生じるような官能基を含有することが好ましい。そのような官能基としては、例えば、アルコール基、アミノ基、スルファニル基、カルボキシル基、カルボニル基などが挙げられる。
ニッケル微粒子の有機化合物による被覆処理は、例えばニッケル微粒子を有機溶媒でスラリーの状態にして表面処理することができる。スラリーは、例えばニッケル微粒子と有機溶媒とを混合し、撹拌することにより製造することができる。撹拌方法は、特に限定されず、超音波による方法や、メカニカルスターラーやペイントシェーカーなどによる方法が挙げられるが、有機化合物の添加後にも、これらの撹拌手段を適用することができる。また、必要に応じてジェットミルやボールミルなどの解砕処理をしてもよい。
本実施の形態の接合材は、上記ニッケル粒子組成物を含有する。本実施の形態の接合材は、さらに、沸点が100〜300℃の範囲内にある有機溶媒を含有することができる。接合材は、高沸点の有機溶媒を添加後、濃縮し、ペーストの形態とすることが好ましい。接合材に含有される溶媒の沸点は、実使用上の観点から、150〜260℃の範囲内が好ましい。使用する有機溶媒の沸点が100℃未満であると、長期安定性に欠ける傾向があり、300℃を超えると、加熱時に揮発せずに、接合層中に残炭が生じ、粒子同士の焼結や金属間化合物の形成を阻害する傾向がある。
本実施の形態の接合方法は、上記接合材を、被接合部材の間に介在させて還元性ガスを含有する還元性ガス雰囲気下で250〜350℃の範囲内の温度で加熱することにより、被接合部材の間に接合層を形成する。ニッケル微粒子どうし、ニッケル微粒子とニッケル粒子との間に焼結を進行させるためには、ニッケル微粒子およびニッケル粒子の金属表面を露出させることが必要であると考えられる。ニッケル微粒子表面に存在する有機物を揮発又は分解させる加熱温度は250℃以上が好ましく、さらには、還元性ガス雰囲気下で加熱を行うことにより、ニッケル微粒子、ニッケル粒子の両粒子表面の不動態層を除去することができる。一方、加熱温度が350℃を超えると、被接合部材としての半導体デバイス周辺にダメージを与える場合がある。還元性ガスとしては、水素ガスを用いることが好ましく、例えば1〜4%の体積割合で水素ガスを含有することが好ましく、3%の体積割合で水素ガスを含有する水素ガス及び窒素ガスの混合ガスが特に好ましく用いられる。
成分Aとして使用されるニッケル粒子の平均粒子径の測定は、レーザー回折/散乱法によって行った。装置は株式会社セイシン企業製LMS−30を用い、水を分散媒としてフローセル中で測定した。
成分B(ニッケル微粒子)の平均粒子径の測定は、電界放出形走査電子顕微鏡(Field Emission−Scanning Electron Microscope:FE−SEM)により試料の写真を撮影して、その中から無作為に200個を抽出してそれぞれの面積を求め、真球に換算したときの粒子径を個数基準として一次粒子の平均粒子径を算出した。
比表面積は下記の式にて算出した。
ニッケル微粒子の比表面積(m2/g)=3/d・r
[ここで、dはニッケルの比重8.91(g/cm3)を意味し、rはFE−SEMにより求めたニッケル微粒子の半径(nm)を意味する。]
示差熱・熱重量同時測定装置(Thermogravimetry−Differential Thermal Analysis:TG−DTA、株式会社日立ハイテクサイエンス製、商品名;TG/DTA7220)を用いて確認した。測定条件は、昇温条件:5℃/分、ガスフロー:窒素/水素=97/3体積比 混合ガス 200ml/分にて実施した。
ニッケル微粒子またはニッケル組成物200mgを用い、炭素量を燃焼−赤外線吸収装置(LECO社製、商品名;CS−444)により測定した。
焼結性試験用サンプルの焼成は、小型イナートガスオーブン(光洋サーモシステム社製、商品名;KLO−30NH)を使用し、3%水素及び97%窒素の混合ガスを流量5L/分でフローしながら、昇温速度5℃/分で、常温から300℃まで昇温した後、1時間保持した。次いで、400分間かけて50℃まで降温した後、常温まで放置した。
ステンレス製マスク(マスク幅;2.0mm×長さ;2.0mm×厚さ;0.1mm)を用いて、試料を金めっき銅基板(幅;10mm×長さ;10mm×厚さ;1.0mm)上に塗布して塗布膜を形成した後、その塗布膜の上に、シリコンダイ(幅;2.0mm×長さ;2.0mm×厚さ;0.40mm)を搭載し、焼成を行った。得られた接合サンプル(接合層の厚さ;50μm程度)を接合強度試験機(デイジ・ジャパン社製、商品名;ボンドテスター4000)により、せん断強度を測定した。ダイ側面からボンドテスターツールを、基板からの高さ50μm、ツール速度100μm/秒で押圧し、接合部がせん断破壊したときの荷重をせん断強度(シェア強度)とした。なお、金めっき銅基板は、Cu基板(厚さ;1.0mm)の表面に、Ni/Auをそれぞれ4μm/40〜50nmの厚みでめっきしたものであり、シリコンダイは、Si基板(厚さ;0.40mm)の接合面に、Auをスパッタしたものである。
642重量部のオレイルアミンに100重量部の酢酸ニッケル四水和物を加え、窒素フロー下、150℃で20分加熱することによって酢酸ニッケルを溶解させて錯化反応液を得た。次いで、その錯化反応液に、492重量部のオレイルアミンを加え、マイクロ波を用いて250℃で5分加熱することによって、ニッケル微粒子スラリー1を得た。
182重量部のオレイルアミンに18.5重量部のギ酸ニッケル二水和物を加え、窒素フロー下、120℃で10分間加熱することによって、ギ酸ニッケルを溶解させて錯化反応液を得た。次いで、その錯化反応液に、121重量部のオレイルアミンを加え、マイクロ波を用いて180℃で10分間加熱することによって、ニッケル微粒子スラリー2を得た。
642重量部のオレイルアミンに264重量部の酢酸ニッケル四水和物を加え、窒素フロー下、140℃で20分間加熱することによって酢酸ニッケルを溶解させて錯化反応液を得た。次いで、その錯化反応液に、492重量部のオレイルアミンを加え、マイクロ波を用いて250℃で12分間加熱することによって、ニッケル微粒子スラリー3を得た。
<ニッケル微粒子1、ニッケル組成物1、ペースト1の調製と熱分析、炭素量分析、接合評価>
合成例1で得られたニッケル微粒子スラリー1を100重量部分取し、これに20重量部のオクタン酸(和光純薬工業株式会社製)、100重量部のトルエンを加え、15分間超音波処理をした後、トルエンで洗浄し、ニッケル分散液1(固形分濃度68.1重量%)を調製した。さらに、この一部を60℃に維持される真空乾燥機で1時間乾燥し、ニッケル微粒子1を得た。得られたニッケル微粒子1について、[ニッケル微粒子、ニッケル組成物に含まれる炭素量の測定]に従い炭素量を測定した。炭素量は1.12重量%で、比表面積当りの炭素量は0.150であった。
<ニッケル組成物2、ペースト2の調製と熱分析、炭素量分析および接合評価>
ニッケル分散液1の127重量部を分取し、これに、65.0重量部のニッケル粒子1、65.0重量部のニッケル粒子2(シグマアルドリッチジャパン合同会社製、商品名;Nickel、レーザー回折/散乱法による平均粒子径;1.9μm、ニッケル元素の含有量;ニッケル粒子全体に対して99.8重量%以上)、5.71重量部のα−テルピネオール、5.71重量部の1−ウンデカノール、1.15重量部のバインダー樹脂1を混合し、エバポレータにて60℃、100hPaで濃縮を行い、229重量部のペースト2(固形分濃度94.5重量%)を調製した。
<ニッケル微粒子2、ニッケル組成物3、ペースト3の調製と熱分析、炭素量分析、接合評価>
合成例2で得られたニッケル微粒子スラリー2を100重量部分取し、これに20重量部のオクタン酸、100重量部のトルエンを加え、15分間超音波処理をした後、トルエンで洗浄し、ニッケル分散液2(固形分濃度70.0重量%)を調製した。さらに、この一部を60℃に維持される真空乾燥機で1時間乾燥し、ニッケル微粒子2を得た。得られたニッケル微粒子2について、[ニッケル微粒子、ニッケル組成物に含まれる炭素量の測定]に従い炭素量を測定した。炭素量は1.88重量%で、比表面積当りの炭素量は0.112であった。
<ニッケル微粒子3、ニッケル組成物4、ペースト4の調製と熱分析、炭素量分析、接合評価>
合成例1で得られたニッケル微粒子スラリー1を100重量部分取し、これに20重量部の2−エチルヘキサン酸(和光純薬工業株式会社製)、100重量部のトルエンを加え、15分間超音波処理をした後、トルエンで洗浄し、ニッケル分散液3(固形分濃度58.5重量%)を調製した。さらに、この一部を60℃に維持される真空乾燥機で1時間乾燥し、ニッケル微粒子3を得た。得られたニッケル微粒子3について、[ニッケル微粒子、ニッケル組成物に含まれる炭素量の測定]に従い炭素量を測定した。炭素量は0.95重量%で、比表面積当りの炭素量は0.127であった。
<ニッケル微粒子4、ニッケル組成物5、ペースト5の調製と熱分析、炭素量分析、接合評価>
合成例1で得られたニッケル微粒子スラリー1を100重量部分取し、これに20重量部のオクチルアミン(和光純薬工業株式会社製)、100重量部のトルエンを加え、15分間超音波処理をした後、トルエンで洗浄し、ニッケル分散液4(固形分濃度73.5重量%)を調製した。さらに、この一部を60℃に維持される真空乾燥機で1時間乾燥し、ニッケル微粒子4を得た。得られたニッケル微粒子4について、[ニッケル微粒子、ニッケル組成物に含まれる炭素量の測定]に従い炭素量を測定した。炭素量は0.93重量%で、比表面積当りの炭素量は0.124であった。
<ニッケル微粒子5、ニッケル組成物6、ペースト6の調製と熱分析、炭素量分析、接合評価>
合成例1で得られたニッケル微粒子スラリー1を100重量部分取し、これに20重量部のカルボキシル基を有する液状ポリマー(綜研化学株式会社製、商品名;アクトフロー、品番;3060、分子量;3000)、100重量部のトルエンを加え、15分間超音波処理をした後、トルエンで洗浄し、ニッケル分散液5(固形分濃度68.2重量%)を調製した。さらに、この一部を60℃に維持される真空乾燥機で1時間乾燥し、ニッケル微粒子5を得た。得られたニッケル微粒子5について、[ニッケル微粒子、ニッケル組成物に含まれる炭素量の測定]に従い炭素量を測定した。炭素量は1.79重量%で、比表面積当りの炭素量は0.239であった。
<ニッケル微粒子6、ニッケル組成物7、ペースト7の調製と熱分析、炭素量分析、接合評価>
合成例3で得られたニッケル微粒子スラリー3を100重量部分取し、これに20重量部のオクタン酸、100重量部のトルエンを加え、15分間超音波処理をした後、トルエンで洗浄し、ニッケル分散液6(固形分濃度72.6重量%)を調製した。さらに、この一部を60℃に維持される真空乾燥機で1時間乾燥し、ニッケル微粒子6を得た。得られたニッケル微粒子6について、[ニッケル微粒子、ニッケル組成物に含まれる炭素量の測定]に従い炭素量を測定した。炭素量は0.45重量%で、比表面積当りの炭素量は0.114であった。
<ニッケル組成物8、ペースト8の調製と熱分析および接合評価>
ニッケル分散液1の45.9重量部を分取し、これに、125重量部のニッケル粒子1、4.13重量部のα−テルピネオール、4.13重量部の1−ウンデカノール、0.83重量部のバインダー樹脂1を混合し、エバポレータにて60℃、100hPaで濃縮を行い、165重量部のペースト8(固形分濃度94.5重量%)を調製した。
<ニッケル組成物9、ペースト9の調製と熱分析および接合評価>
ニッケル分散液2の176重量部を分取し、これに、41重量部のニッケル粒子1、4.34重量部のα−テルピネオール、4.34重量部の1−ウンデカノール、0.87重量部のバインダー樹脂1を混合し、エバポレータにて60℃、100hPaで濃縮を行い、174重量部のペースト9(固形分濃度94.5重量%)を調製した。
<ニッケル微粒子7、ニッケル組成物10、ペースト10の調製と熱分析、炭素量分析、接合評価>
合成例1で得られたニッケル微粒子スラリー1を100重量部分取し、これに20重量部のアジピン酸モノエチルエーテル(東京化成工業株式会社製)、100重量部のトルエンを加え、15分間超音波処理をした後、トルエンで洗浄し、ニッケル分散液7(固形分濃度77.1重量%)を調製した。さらに、この一部を60℃に維持される真空乾燥機で1時間乾燥し、ニッケル微粒子7を得た。得られたニッケル微粒子7について、[ニッケル微粒子、ニッケル組成物に含まれる炭素量の測定]に従い炭素量を測定した。炭素量は1.02重量%で、比表面積当りの炭素量は0.136であった。
Claims (6)
- 次の成分A及びB;
A)レーザー回折/散乱法による平均粒子径が0.5〜20μmの範囲内であり、ニッケル元素を99重量%以上含有するニッケル粒子、
B)走査型電子顕微鏡観察による平均一次粒子径が30〜150nmの範囲内であり、粒子表面が有機化合物で被覆され、次式;
比表面積当りの炭素含有量=[ニッケル微粒子の元素分析による炭素量(重量%)]
/[平均一次粒径を元に計算して得られる比表面積(m2/g)]
で求められる比表面積当りの炭素含有量が0.100〜0.160の範囲内にあり、3%の体積割合で水素ガスを含有する水素ガス及び窒素ガスの混合ガスからなる雰囲気中で、5℃/分の昇温速度の示差熱・熱重量同時測定によって、265℃までの温度で重量減少速度が0.05%/分未満となるものであるニッケル微粒子、
を含有し、
さらに、前記成分A及び成分Bに含まれる炭素量の合計が0.30〜1.40重量%の範囲内であるニッケル粒子組成物。 - 前記成分A及び成分Bの重量比(成分A:成分B)が30:70〜70:30の範囲内である請求項1のニッケル粒子組成物。
- 請求項1又は2に記載のニッケル粒子組成物を含有する接合材であって、前記ニッケル粒子組成物の含有量が70〜96重量%の範囲内である接合材。
- 沸点が100〜300℃の範囲内にある有機溶媒を含有し、前記有機溶媒の含有量が4〜30重量%の範囲内である請求項3に記載の接合材。
- 更に、有機バインダーを含有する請求項3又は4に記載の接合材。
- 請求項3から5のいずれか1項に記載の接合材を、被接合部材の間に介在させて還元性ガスを含有する還元性ガス雰囲気下で、250〜350℃の範囲内の温度で加熱することにより、被接合部材の間に接合層を形成する接合方法。
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