JP6327735B2 - Bright spot defect removal method and apparatus for liquid crystal display panel - Google Patents
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Description
本発明は、液晶パネルの輝点欠陥を除去する方法及びその方法に使用される装置に関するものである。 The present invention relates to a method for removing bright spot defects in a liquid crystal panel and an apparatus used for the method.
透過型の液晶表示パネルは、一対の基板間に液晶材料層を挟んで構成される液晶セルとその背面側に配置されるバックライトを備え、液晶セルの光透過性を表示単位(画素又はサブ画素)毎に制御することで所望の画像を表示させている。このような液晶表示パネルは、製造過程での異物混入などにより、液晶セルの表示単位を正しく制御できない欠陥(欠陥画素)が生じる場合がある。このような欠陥の典型的な種類としては、常に光を透過させる状態になる輝点欠陥と、常に光を遮断する状態になる暗点(黒点)欠陥とがある。 A transmissive liquid crystal display panel includes a liquid crystal cell configured by sandwiching a liquid crystal material layer between a pair of substrates and a backlight disposed on the back side of the liquid crystal cell. A desired image is displayed by controlling each pixel. In such a liquid crystal display panel, a defect (defective pixel) in which the display unit of the liquid crystal cell cannot be controlled correctly may occur due to contamination of foreign matters during the manufacturing process. Typical types of such defects include bright spot defects that always transmit light and dark spot (black spot) defects that always block light.
液晶表示パネルの使用時、輝点欠陥は暗点欠陥よりも視認されやすく、画像品質低下の原因になりやすい。このため、液晶表示パネルの不良を判定する基準としては暗点欠陥の数よりも輝点欠陥の数の方が厳しく判定される。これに対して、輝点欠陥はその原因が様々であると共に、液晶セルをモジュール化した後でないとその存在を見つけることができないので、輝点欠陥を完全に除去すること或いは輝点欠陥を修復することは極めて困難である。しかしながら、輝点欠陥が存在する液晶パネルを全て不良にしてしまうと、TFT,配線,カラーフィルターなどが組み込まれた段階のモジュールを不良にすることになるので、一つの不良が生産コストに大きく影響することになる。 When the liquid crystal display panel is used, the bright spot defect is more visible than the dark spot defect, and tends to cause a reduction in image quality. For this reason, the number of bright spot defects is determined more strictly than the number of dark spot defects as a criterion for determining a defect of the liquid crystal display panel. On the other hand, bright spot defects have various causes and can only be found after the liquid crystal cell is modularized. Therefore, the bright spot defects can be completely removed or repaired. It is extremely difficult to do. However, if all the liquid crystal panels with bright spot defects are made defective, the module at the stage where TFT, wiring, color filter, etc. are incorporated will be made defective, so one defect will greatly affect the production cost. Will do.
このような事情により、液晶表示パネルの輝点欠陥はこれを暗点化(黒点化)して、歩留まりの向上を図ることが一般になされている。輝点欠陥を暗点化する手法は、各種の方法が提案されている。 Under such circumstances, it has been generally made to improve the yield by making the bright spot defect of the liquid crystal display panel dark spot (black spot). Various methods have been proposed to darken the bright spot defects.
その従来技術の一つとしては、例えば、液晶表示パネルにおけるカラーフィルターの周囲に形成されているブラックマトリクスを細粉化してカラーフィルターと基板の間に形成したギャップに分散させ、輝点欠陥に対応したカラーフィルターの画素を黒化すること(下記特許文献1参照)などが提案されている。
As one of the prior arts, for example, the black matrix formed around the color filter in the liquid crystal display panel is finely divided and dispersed in the gap formed between the color filter and the substrate to cope with bright spot defects. It has been proposed to blacken the pixels of the color filter (see
輝点欠陥の暗点化としては、従来技術、輝点欠陥が存在する表示単位(画素又はサブ画素を指し、以下これをピクセルという)全体を黒化することが一般に行われている。この際、前述した従来技術のように、ピクセルの周囲に存在するブラックマトリクスにレーザ光を照射してその細粉化を図る手法では、レーザ照射による熱吸収の悪影響が周辺の正常なピクセルに及ぶことの懸念があり、また、細分化したブラックマトリクスを徐々にカラーフィルターと基板の間に分散させるので、一つのピクセルを処理するのに長時間を要する問題があった。 As the dark spot darkening of the bright spot defect, generally, the entire display unit (referred to as a pixel or sub-pixel, hereinafter referred to as a pixel) in which the bright spot defect exists is blackened. At this time, as in the prior art described above, in the method of irradiating the black matrix existing around the pixel with laser light to reduce the fine powder, the adverse effect of the heat absorption due to the laser irradiation affects the surrounding normal pixels. In addition, there is a problem that it takes a long time to process one pixel because the subdivided black matrix is gradually dispersed between the color filter and the substrate.
これに対して、輝点欠陥は、ピクセルの領域内の局部に欠陥が生じることが多く、特に、配向膜の局部的な不良など、偏光特性の不具合による輝点欠陥の大きさは、ピクセル全体の面積の1/100にも満たない大きさであることが多い。このような輝点欠陥に対して局部的な処理で輝点欠陥の暗点化が可能になれば、周辺の正常ピクセルに悪影響を及ぼすことが無く、処理時間の短縮が可能になり、前述した従来技術の問題を解消することが可能になる。 On the other hand, bright spot defects often cause local defects in the pixel area. In particular, the size of bright spot defects due to defects in polarization characteristics, such as localized defects in the alignment film, is the entire pixel. Often, the size is less than 1/100 of the area. If it becomes possible to darken luminescent spot defects by local processing for such luminescent spot defects, the surrounding normal pixels will not be adversely affected and the processing time can be shortened. It becomes possible to solve the problems of the prior art.
本発明は、このような事情に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、ピクセル内の局部に存在する輝点欠陥に対して、これを局部的に暗点化することで、周辺の正常ピクセルに悪影響を及ぼすこと無く、短い処理時間で輝点欠陥の除去処理を行うこと、等が本発明の目的である。 This invention makes it an example of a subject to cope with such a situation. In other words, by locally darkening a spot defect that exists locally in a pixel, the spot defect removal process can be performed in a short processing time without adversely affecting the surrounding normal pixels. It is the object of the present invention to do etc.
このような目的を達成するために、本発明は、以下の構成を少なくとも具備するものである。 In order to achieve such an object, the present invention comprises at least the following configuration.
液晶表示パネルのピクセル内に局部的に存在する輝点欠陥をカラーフィルター基板側からの観察によって検出する工程と、検出された前記輝点欠陥に対応するカラーフィルター基板上の位置にレーザビーム照射装置の光軸を合わせると共に照射するレーザビームのビームスポットサイズを前記輝点欠陥の大きさに対応させる工程と、前記レーザビーム照射装置から出射されるレーザビームの出力を徐々に上昇させて、前記カラーフィルター基板側から観察される前記輝点欠陥が局部的に黒点化した時点で前記レーザビームの出力を停止させる工程とを有することを特徴とする液晶表示パネルの輝点欠陥除去方法。 A step of detecting a luminance point defect that is present locally in the liquid crystal display panel pixel by the observation from the color filter substrate side, a laser beam irradiation device in position on the color filter substrate corresponding to said detected luminance point defect And adjusting the beam spot size of the laser beam to be irradiated to the size of the bright spot defect and gradually increasing the output of the laser beam emitted from the laser beam irradiation device, And a step of stopping the output of the laser beam when the bright spot defect observed from the filter substrate side is locally blackened.
液晶表示パネルをカラーフィルター側から観察して液晶表示パネルのピクセル内に局部的に存在する輝点欠陥を検出する輝点欠陥検出手段と、検出された前記輝点欠陥に対応するカラーフィルター基板上の位置にレーザビーム照射装置の光軸を合わせると共に照射するレーザビームのビームスポットサイズを前記輝点欠陥の大きさに対応させるレーザビーム照射手段と、前記レーザビーム照射手段から出射されるレーザビームの出力を徐々に上昇させて、前記カラーフィルター基板側から観察される前記輝点欠陥が局部的に黒点化した時点で、前記レーザビームの出力を停止させるレーザビーム出力制御手段とを有することを特徴とする液晶表示パネルの輝点欠陥除去装置。 A luminance point defect detecting means for detecting a bright spot defect by observing the liquid crystal display panel from the color filter side is present locally in the liquid crystal display panel pixels, a color filter substrate corresponding to the luminance point defect detected A laser beam irradiating means for aligning the optical axis of the laser beam irradiating device to the position of the laser beam and making the beam spot size of the irradiating laser beam correspond to the size of the bright spot defect; and a laser beam emitted from the laser beam irradiating means. Laser beam output control means for gradually increasing the output and stopping the output of the laser beam when the bright spot defect observed from the color filter substrate side becomes a black spot locally. A bright spot defect removing device for a liquid crystal display panel.
このような特徴を有する本発明によると、液晶表示パネルのピクセル内の局部に存在する輝点欠陥を局部的に黒点化することができるので、周辺の正常ピクセルに悪影響を及ぼすこと無く、短い処理時間で輝点欠陥の除去処理を行うことができる。また、輝点欠陥が存在したピクセルのカラー表示を潰すこと無く輝点欠陥の除去処理を行うことができるので、表示品質の低下を最小限に抑えることが可能になる。 According to the present invention having such a feature, a bright spot defect existing locally in a pixel of the liquid crystal display panel can be locally blackened, so that a short process can be performed without adversely affecting the surrounding normal pixels. The bright spot defect can be removed in time. In addition, since the bright spot defect removal process can be performed without destroying the color display of the pixel in which the bright spot defect exists, it is possible to minimize display quality degradation.
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。図1は本発明の一実施形態に係る液晶表示パネルのピクセルの例を示した説明図である。液晶表示パネルは、一対の基板間に液晶層を配備した構成を備えており、一対の基板における一方側の基板がカラーフィルター基板になっている。カラーフィルター基板は、ピクセル毎に区画されたカラーフィルター層1と各カラーフィルター層1を区分けするようにその周囲に形成されるブラックマトリクス2を備えている。以下の説明では、ブラックマトリクス2で区画されたカラーフィルター層1の各単位をピクセルPとして説明する。カラーフィルター基板には、ブラックマトリクス2で囲まれたカラーフィルター層1が複数配列されている。図示の例では、R(赤),G(緑),B(青)の三色のカラーフィルター層1が所定の規則でドットマトリスクス状に配置されている。表示単位の一例としては、R,G,Bのカラーフィルター層1(ピクセルP)の一つの集合を画素3にすることができる。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an explanatory diagram showing an example of a pixel of a liquid crystal display panel according to an embodiment of the present invention. The liquid crystal display panel has a configuration in which a liquid crystal layer is provided between a pair of substrates, and one of the pair of substrates is a color filter substrate. The color filter substrate includes a
図2及び図3は、本発明の実施形態に係る液晶表示パネルの輝点欠陥除去方法の工程を示した説明図である。本発明の実施形態に係る液晶表示パネルの輝点欠陥除去方法は、第1の工程として、図2(a)に示すように、液晶表示パネルのピクセル内に存在する輝点欠陥をカラーフィルター基板側からの観察によって検出する。図示の例では、観察視野Vf内に輝点欠陥Dbが存在するピクセルPを視認した状態を示している。このような観察視野Vfは、顕微鏡などによる目視であっても、撮像素子などによって得られる電子画像であってもよい。ここでは、観察視野Vf内に平面位置座標Coが形成されており、この平面座標を読み取ることでピクセルP内における輝点欠陥Dbの位置を検出することができる。 2 and 3 are explanatory views showing the steps of the bright spot defect removing method for the liquid crystal display panel according to the embodiment of the present invention. In the liquid crystal display panel bright spot defect removing method according to the embodiment of the present invention, as a first step, as shown in FIG. 2 (a), a bright spot defect present in a pixel of the liquid crystal display panel is treated as a color filter substrate. Detect by observation from the side. In the example shown in the figure, a state in which the pixel P in which the bright spot defect Db exists in the observation visual field Vf is viewed is shown. Such an observation visual field Vf may be visual observation with a microscope or the like, or may be an electronic image obtained by an imaging element or the like. Here, a plane position coordinate Co is formed in the observation visual field Vf, and the position of the bright spot defect Db in the pixel P can be detected by reading this plane coordinate.
次の工程としては、図2(b)に示すように、検出された輝点欠陥Dbに対応するカラーフィルター基板上の位置にレーザビーム照射装置の光軸を合わせる。図示例では、観察視野Vfの中心位置がレーザビーム照射装置の光軸と一致しており、前工程で検出した輝点欠陥Dbの平面座標位置に従って、レーザビーム照射装置或いは液晶表示パネルを支持している支持ステージを平面走査して、レーザビーム照射装置の光軸を輝点欠陥Db上に合わせる。 As the next step, as shown in FIG. 2B, the optical axis of the laser beam irradiation apparatus is aligned with the position on the color filter substrate corresponding to the detected bright spot defect Db. In the illustrated example, the center position of the observation visual field Vf coincides with the optical axis of the laser beam irradiation apparatus, and the laser beam irradiation apparatus or the liquid crystal display panel is supported according to the planar coordinate position of the bright spot defect Db detected in the previous process. The supporting stage is planarly scanned, and the optical axis of the laser beam irradiation apparatus is aligned with the bright spot defect Db.
次に、図3(a)に示すように、検出された輝点欠陥Dbに対応するカラーフィルター基板上の位置にレーザビーム照射装置の光軸を合わせた状態で照射するレーザビームのビームスポットサイズLsを輝点欠陥Dbの大きさに対応させる。この際のレーザビームのスポットサイズLsは輝度欠陥Dbの大きさと必ずしも同じである必要は無く、輝度欠陥Dbの大きさより大きい或いは小さいサイズであっても良い。レーザビームのビームスポットサイズLsは、レーザビーム照射装置のアパーチャ機構を調整することで任意に変更可能にしている。例えば、ピクセルの大きさが短辺20μm×長辺70μmの矩形状の場合に、10〜30μm程度の大きさを有する輝度欠陥に対応するようにレーザビームのビームスポットサイズLsを調整する。 Next, as shown in FIG. 3A, the beam spot size of the laser beam irradiated with the optical axis of the laser beam irradiation apparatus aligned with the position on the color filter substrate corresponding to the detected bright spot defect Db. Ls is made to correspond to the size of the bright spot defect Db. The spot size Ls of the laser beam at this time is not necessarily the same as the size of the luminance defect Db, and may be larger or smaller than the size of the luminance defect Db. The beam spot size Ls of the laser beam can be arbitrarily changed by adjusting the aperture mechanism of the laser beam irradiation apparatus. For example, when the pixel size is a rectangular shape having a short side of 20 μm × long side of 70 μm, the beam spot size Ls of the laser beam is adjusted so as to correspond to a luminance defect having a size of about 10 to 30 μm.
レーザビームは、例えば、355nm,532nmなどのピーク波長を有する単波長パルスレーザが用いられ、1〜60Hz(例えば、60Hz)のパルス数を有するものを用いることができる。例えば、カラーフィルター層1が形成された基板に偏光フィルムが存在する場合は532nm波長のレーザビームを用いることができ、基板に偏光フィルムが存在しない場合は355nm波長のレーザビームを用いることができる。
As the laser beam, for example, a single wavelength pulse laser having a peak wavelength such as 355 nm or 532 nm is used, and a laser beam having a pulse number of 1 to 60 Hz (for example, 60 Hz) can be used. For example, a laser beam with a wavelength of 532 nm can be used when a polarizing film is present on the substrate on which the
そして、次の工程では、図3(b)に示すように、レーザビーム照射装置から出射されるレーザビームの出力を徐々に上昇させて、カラーフィルター基板側から観察される輝点欠陥Dbが局部的に黒点化した時点でレーザビームの出力を停止させる。カラーフィルター基板側から照射するレーザビームの出力を徐々に上昇させると、基板を介してカラーフィルター層1のレジストに熱的な変質を加えることができる。これによってレジストが炭化された状態になり、光を遮断する黒点化処理部Bpが局部的にカラーフィルター層1内に形成される。
Then, in the next step, as shown in FIG. 3B, the output of the laser beam emitted from the laser beam irradiation apparatus is gradually increased, and the bright spot defect Db observed from the color filter substrate side is localized. The laser beam output is stopped when the black spot is turned on. When the output of the laser beam irradiated from the color filter substrate side is gradually increased, thermal alteration can be applied to the resist of the
このような工程による液晶表示パネルの輝点欠陥除去方法によると、輝点欠陥Dbが存在するピクセルPは、局部的に形成される黒点化処理部Bpによって輝点欠陥Dbが塞がれた状態になるが、ピクセルP内のカラーフィルター層1の大部分は所定の色のフィルター機能が維持されている。これによって、ピクセルPにおける表示機能の低下を最小限に抑えた状態で、ピクセルP内の局部に存在する輝点欠陥Dbを除去することが可能になる。
According to the bright spot defect removing method of the liquid crystal display panel by such a process, the pixel P where the bright spot defect Db exists is in a state in which the bright spot defect Db is blocked by the black spot processing unit Bp formed locally. However, most of the
図4は、レーザビーム照射装置の出力制御を説明する説明図である。前述したレーザビームの照射工程において、輝点欠陥Db箇所を黒点化するために必要なレーザビームの照射エネルギーは、個々の液晶表示パネルにおける基板の吸収エネルギーやレジストの材質などによって様々である。また、必要以上にレーザビームを照射するとカラーフィルター層1のレジストや他の層の材料がアブレーションを起こして欠陥を拡大させることにもなりかねない。そこで、前述したレーザビーム照射工程では、レーザビームの出力を徐々に上昇させて輝点欠陥Dbが局部的に黒点化した時点でレーザビームの出力を停止させることがなされている。
FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining output control of the laser beam irradiation apparatus. In the laser beam irradiation process described above, the irradiation energy of the laser beam necessary for blackening the bright spot defect Db varies depending on the absorption energy of the substrate and the material of the resist in each liquid crystal display panel. Further, if the laser beam is irradiated more than necessary, the resist of the
この際には、レーザビーム照射時の積算照射エネルギーが求められる。処理対象となる液晶表示パネル毎に輝点欠陥を黒点化するのに必要となる積算照射エネルギーは異なるので、一つの液晶表示パネルにおける複数の輝点欠陥を処理する場合には、先ず、最初の輝点欠陥の除去処理において必要となる積算照射エネルギーを求める工程を実行する。その際には、検出された一つの輝点欠陥に対して、その輝点欠陥を観察しながらレーザビームの出力を徐々に上昇させ、輝点欠陥の黒点化が観察された時点でレーザビームの出力を停止させ、レーザビームの出力上昇開始から停止までの積算照射エネルギーを記憶する。その際の工程では、図4(a)に示すように、比較的上昇率を低くして徐々に出力を上昇させ、輝点欠陥の黒点化が確認された時点の照射時間Tsと照射エネルギーEsから積算照射エネルギーSを求める。 At this time, the integrated irradiation energy at the time of laser beam irradiation is obtained. Since the integrated irradiation energy required to darken the luminescent spot defects is different for each liquid crystal display panel to be processed, when processing multiple luminescent spot defects in one liquid crystal display panel, first, A step of obtaining an integrated irradiation energy required in the bright spot defect removal processing is executed. At that time, for one detected bright spot defect, the laser beam output is gradually increased while observing the bright spot defect, and when the black spot of the bright spot defect is observed, The output is stopped, and the accumulated irradiation energy from the start to the stop of the laser beam output is stored. In the process at that time, as shown in FIG. 4A, the output rate is gradually increased with a relatively low increase rate, and the irradiation time Ts and irradiation energy Es at the time when the black spot of the bright spot defect is confirmed. From this, the integrated irradiation energy S is obtained.
一つの液晶表示パネルで検出された他の輝点欠陥に対しては、最初の処理で求めた積算照射エネルギーSを用いて、レーザビームの出力上昇を自動制御することができる。この際には、例えば図4(b)に示すように、設定照射時間Trを定め、最初の処理で記憶されたレーザビームの積算照射エネルギーSに到達するように設定照射エネルギーErを定めて、レーザビームの出力をゼロからErまで直線的に上昇させる自動制御を行う。この際は、設定照射時間Trを比較的短く設定することで処理時間の短縮化を図ることが可能になる。 For other bright spot defects detected by one liquid crystal display panel, the increase in the output of the laser beam can be automatically controlled using the integrated irradiation energy S obtained in the first process. In this case, for example, as shown in FIG. 4B, a set irradiation time Tr is set, and the set irradiation energy Er is set so as to reach the accumulated irradiation energy S of the laser beam stored in the first process, Automatic control is performed to linearly increase the output of the laser beam from zero to Er. In this case, the processing time can be shortened by setting the set irradiation time Tr relatively short.
レーザビームの出力を徐々に上昇させる調整は、例えば、光軸を中心に回転調整される2分の1波長板と偏光子との組み合わせによって行うことができる。一例を示すと、光源として直線偏光の紫外線を出射するNd:YAGレーザを用い、この光源から出射したレーザビームを、2分の1波長板を通過させ、更に直線偏光の透過光量が最大になるように偏光軸が固定された偏光子を通過させる。そして、2分の1波長板の回転角度を照射時間に応じて変更調整することで、レーザビームの出力をゼロから徐々に高くなるように調整する。 The adjustment for gradually increasing the output of the laser beam can be performed by, for example, a combination of a half-wave plate and a polarizer that are rotationally adjusted around the optical axis. As an example, an Nd: YAG laser that emits linearly polarized ultraviolet light is used as a light source, the laser beam emitted from this light source is passed through a half-wave plate, and the amount of transmitted light of linearly polarized light is maximized. In this way, a polarizer having a fixed polarization axis is passed. Then, the laser beam output is adjusted to gradually increase from zero by changing and adjusting the rotation angle of the half-wave plate according to the irradiation time.
図5は、前述した輝点欠陥除去方法に使用される輝点欠陥除去装置を示した説明図である。この輝点欠陥除去装置100は、レーザビーム照射装置10,支持ステージ20,走査手段30(30A,30B)を基本構成として備えている。レーザビーム照射装置10は、レーザ光源11、照明光源12、観察装置13、集光光学系14、ダイクロイックミラー15,16などを備えている。ここでのレーザ光源11は、前述した2分の1波長板及び偏光子を含むものである。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a bright spot defect removing apparatus used in the bright spot defect removing method described above. The bright spot
レーザ光源11から出射されたレーザビームLbは、集光光学系14を通って支持ステージ20上に支持されている液晶表示パネルWに照射される。レーザビームLbの光軸上には、照明光源12から出射される照明光12aをレーザビームLbの照射位置に照射するためのダイクロイックミラー16が配置されている。ダイクロイックミラー16はレーザビームLbの単波長光を透過し且つ照明光12aの可視光を反射する機能を有する。また、レーザビームLbの光軸上には、液晶表示パネルWで反射した観察光(可視光)13aを反射して観察装置13に導き且つレーザビームLbを透過するダイクロイックミラー15が配置されている。ダイクロイックミラー15,16は、観察光13aの光軸と照明光12aの光軸がレーザビームLbの光軸と重なるように設置されている。
The laser beam Lb emitted from the
走査手段30は、レーザビームLbと液晶表示パネルWを相対的に移動させてレーザビームLbの照射位置を特定するものであり、レーザビーム照射装置10を支持ステージ20に対して移動させるレーザビーム走査手段30Aと支持ステージ20をレーザビーム照射装置10に対して移動させる支持ステージ走査手段30Bを備えている。レーザビーム走査手段30Aと支持ステージ走査手段30Bはそれら両方を備える必要は無く、そのいずれかを備えていればよい。
The scanning means 30 moves the laser beam Lb and the liquid crystal display panel W relatively to specify the irradiation position of the laser beam Lb, and laser beam scanning moves the laser
また、輝点欠陥除去装置100は、制御手段40とモニタ手段50を合わせて備えている。制御手段40は、観察装置13によって得られる観察画像を画像処理すると共に、観察画像に基づいて、レーザ光源11の出力制御或いは走査手段30の走査位置制御を行う。モニタ手段50は、観察装置13によって得られる観察画像をモニタするための表示装置などによって構成される。
Further, the bright spot
このような構成を備える輝点欠陥除去装置100は、前述した工程を実行するための機能を備えている。第1の機能としては、液晶表示パネルWをカラーフィルター側から観察して液晶表示パネルWのピクセル内に存在する輝点欠陥を検出する輝点欠陥検出手段を備える。輝点欠陥検出手段は、観察手段13によって得られる観察画像を画像処理する制御手段40、或いは観察画像をモニタするモニタ手段50によって構成することができる。
The bright spot
そして、第2の機能としては、検出された輝点欠陥に対応するカラーフィルター基板上の位置にレーザビーム照射装置10の光軸を合わせると共に照射するレーザビームLbのビームスポットサイズを輝点欠陥の大きさに対応させるレーザビーム照射手段を備える。このような機能は、観察手段13によって得られる観察画像に基づいて走査手段30を制御する制御手段40、或いはレーザビームLbの集光状態を調整する集光光学系14によって構成することができる。
As a second function, the optical spot of the laser
更に、第3の機能としては、レーザビーム照射装置10から出射されるレーザビームLbの出力を徐々に上昇させて、カラーフィルター基板側から観察される輝点欠陥が局部的に黒点化した時点で、レーザビームLbの出力を停止させるレーザビーム出力制御手段を有する。このような機能は、観察手段13によって得られる観察画像に基づいてレーザ光源11の出力を制御する制御手段40によって構成することができる。
Further, as a third function, when the output of the laser beam Lb emitted from the laser
以上説明した本発明の実施形態に係る液晶表示パネルの輝点欠陥除去方法及び除去装置100によると、液晶表示パネルのピクセル内に存在する輝点欠陥を局部的に黒点化して除去するので、ピクセル全体を黒点化する従来技術と比較すると処理時間を大きく短縮させることができる。また、レーザビームが照射される箇所が局部的であることで、周辺の正常なピクセルに悪影響を及ぼすこと無く処理を完了させることができる。更には、輝点欠陥が存在したピクセルのカラー表示を潰すこと無く輝点欠陥の除去処理を行うことができるので、表示品質の低下を最小限に抑えることが可能になる。
According to the method and
以上、本発明の実施の形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても本発明に含まれる。また、上述の各実施の形態は、その目的及び構成等に特に矛盾や問題がない限り、互いの技術を流用して組み合わせることが可能である。 As described above, the embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to these embodiments, and the design can be changed without departing from the scope of the present invention. Is included in the present invention. In addition, the above-described embodiments can be combined by utilizing each other's technology as long as there is no particular contradiction or problem in the purpose and configuration.
1:カラーフィルター層,2:ブラックマトリクス,3:画素,
P:ピクセル,Db:輝点欠陥,Bp:黒点化処理部,Ls:ビームスポットサイズ,
Lb:レーザビーム,
10:レーザビーム照射装置,20:支持ステージ,30:走査手段,
40:制御手段,50:モニタ手段
1: Color filter layer, 2: Black matrix, 3: Pixel,
P: Pixel, Db: Bright spot defect, Bp: Black spot processing unit, Ls: Beam spot size,
Lb: laser beam,
10: Laser beam irradiation device, 20: Support stage, 30: Scanning means,
40: control means, 50: monitoring means
Claims (3)
検出された前記輝点欠陥に対応するカラーフィルター基板上の位置にレーザビーム照射装置の光軸を合わせると共に照射するレーザビームのビームスポットサイズを前記輝点欠陥の大きさに対応させる工程と、
前記レーザビーム照射装置から出射されるレーザビームの出力を徐々に上昇させて、前記カラーフィルター基板側から観察される前記輝点欠陥が局部的に黒点化した時点で前記レーザビームの出力を停止させる工程とを有することを特徴とする液晶表示パネルの輝点欠陥除去方法。 A step of detecting a bright spot defect locally present in a pixel of the liquid crystal display panel by observation from the color filter substrate side;
A step of corresponding the detected beam spot size of the laser beam irradiated with aligning the optical axis of the laser beam irradiation device in position on the color filter substrate corresponding to the luminance point defect on the magnitude of the luminance point defect,
The output of the laser beam emitted from the laser beam irradiation device is gradually increased, and the output of the laser beam is stopped when the bright spot defect observed from the color filter substrate side becomes a black spot locally. A bright spot defect removing method for a liquid crystal display panel.
記憶された前記レーザビームの積算照射エネルギーに到達するように、検出された他の輝点欠陥に対して、前記レーザビームの出力上昇を自動制御する工程とを有することを特徴とする請求項1に記載された液晶表示パネルの輝点欠陥除去方法。 For the detected one of said luminance point defect, while observing the luminance point defect is increased gradually output of said laser beam, said laser beam output when the black point of the luminance point defect is observed And storing the accumulated irradiation energy from the start of output rise of the laser beam to the stop, and
2. A step of automatically controlling an increase in output of the laser beam with respect to another detected bright spot defect so as to reach the stored cumulative irradiation energy of the laser beam. A method for removing bright spot defects of a liquid crystal display panel described in 1.
検出された前記輝点欠陥に対応するカラーフィルター基板上の位置にレーザビーム照射装置の光軸を合わせると共に照射するレーザビームのビームスポットサイズを前記輝点欠陥の大きさに対応させるレーザビーム照射手段と、
前記レーザビーム照射手段から出射されるレーザビームの出力を徐々に上昇させて、前記カラーフィルター基板側から観察される前記輝点欠陥が局部的に黒点化した時点で、前記レーザビームの出力を停止させるレーザビーム出力制御手段とを有することを特徴とする液晶表示パネルの輝点欠陥除去装置。 Bright spot defect detection means for observing the liquid crystal display panel from the color filter side and detecting a bright spot defect present locally in the pixel of the liquid crystal display panel;
Laser beam irradiation means for corresponding a beam spot size of the laser beam to be irradiated with the detected position on the color filter substrate corresponding to the luminance point defect align the optical axis of the laser beam irradiation apparatus to the size of the luminance point defect When,
The output of the laser beam emitted from the laser beam irradiation means is gradually increased, and the output of the laser beam is stopped when the bright spot defect observed from the color filter substrate side becomes a black spot locally. A bright spot defect removing device for a liquid crystal display panel.
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