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JP6232751B2 - 光変調器 - Google Patents

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JP6232751B2 JP2013115011A JP2013115011A JP6232751B2 JP 6232751 B2 JP6232751 B2 JP 6232751B2 JP 2013115011 A JP2013115011 A JP 2013115011A JP 2013115011 A JP2013115011 A JP 2013115011A JP 6232751 B2 JP6232751 B2 JP 6232751B2
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Description

本件は、光変調器に関する。
LiNbO(LN)基板、LiTaO 基板等の電気光学結晶を用いた光導波路デバイスが開発されている。これらの光導波路デバイスは、結晶基板上の一部にチタンなどの金属膜を形成し熱拡散させる、あるいはパターニング後に安息香酸中でプロトン交換するなどして光導波路を形成した後、光導波路近傍に電極を設けることで形成される。このような光導波路デバイスとして、例えばマッハツェンダ型光変調器があげられる(例えば、特許文献1〜3参照)。
特開2009−157114号公報 特開2006−301612号公報 特開2006−195256号公報
マッハツェンダ型光変調器においては、光の分岐・合波のために2×2カプラを用いることがある。しかしながら、この場合、2×2カプラからの不要光、2×2カプラへのノイズ光等に起因して消光比が劣化するおそれがある。
1つの側面では、本件は、消光比の劣化を抑制することができる光変調器を提供することを目的とする。
1つの態様では、光変調器は、電気光学効果を有する基板を備え、前記基板は、2×2カプラの分岐部と、前記分岐部の出力導波路に接続される2つの中間導波路と、前記2つの中間導波路が接続される2×2カプラの合波部と、を備えるマッハツェンダ変調器を備え、前記2×2カプラの少なくとも一方の非結合導波路に沿って前記基板に溝が設けられ、前記非結合導波路と前記溝との距離は、前記非結合導波路の開放端に向かって連続的に小さくなる
消光比の劣化を抑制することができる。
(a)は比較例1に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は比較例2に係る光変調器を説明するための模式的な平面図である。 (a)は実施例1に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は(a)のA−A線断面図であり、(c)は溝部の断面図である。 光変調器の消光比の実験結果を表す図である。 (a)は実施例2に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は実施例3に係る光変調器を説明するための模式的な平面図である。 (a)は実施例4に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は非結合導波路付近の断面図である。 (a)は実施例5に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は非結合導波路付近の断面図である。 (a)は実施例6に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は非結合導波路付近の断面図である。 (a)は実施例7に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は非結合導波路付近の断面図である。 (a)は実施例8に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は非結合導波路付近の断面図である。 (a)は実施例9に係る光変調器を説明するための模式的な平面図であり、(b)は非結合導波路付近の断面図である。 光送信機の全体構成を説明するためのブロック図である。
実施例の説明に先立って、マッハツェンダ変調器を備える光変調器について説明する。図1(a)は、比較例1に係る光変調器200を説明するための模式的な平面図である。図1(a)を参照して、光変調器200は、分岐部50、第1マッハツェンダ変調器60a、第2マッハツェンダ変調器60b、および合波部70を備える。第1マッハツェンダ変調器60aは、分岐部61a、中間導波路62a,63a、および合波部64aを備える。第2マッハツェンダ変調器60bは、分岐部61b、中間導波路62b,63b,および合波部64bを備える。
分岐部50は、光変調器200の入力端に設けられ、Y字分岐する。分岐部61aは、分岐部50の出力側の一方の分岐導波路に接続され、Y字分岐する。分岐部61aの出力側の一方の分岐導波路は、中間導波路62aの一端に接続される。分岐部61aの出力側の他方の分岐導波路は、中間導波路63aの一端に接続される。中間導波路62a,63aは、互いに平行に配置されている。中間導波路62a,63aの他端は、合波部64aによってY字合流する。
分岐部61bは、分岐部50の出力側の他方の分岐導波路に接続され、Y字分岐する。分岐部61bの出力側の一方の分岐導波路は、中間導波路62bの一端に接続される。分岐部61bの出力側の他方の分岐導波路は、中間導波路63bの一端に接続される。中間導波路62b,63bは、互いに平行に配置されている。中間導波路62b,63bの他端は、合波部64bによってY字合流する。合波部64aによる合流後の導波路および合波部64bによる合流後の導波路は、合波部70によって合流する。
Y字導波路が対称構造を有していない場合、多段にY字導波路が設けられている場合、入射端面または出射端面が斜めに配置されている場合等において、分岐比が1:1からはずれることがある。マッハツェンダ変調において、入力側のY字導波路と出力側のY字導波路とで分岐比が異なると、消光比が劣化するという問題が生じ得る。この問題を解消するために、分岐部および合波部として2×2カプラを用いることができる。
図1(b)は、比較例2に係る光変調器200aを説明するための模式的な平面図である。図1(b)を参照して、光変調器200aが光変調器200と異なる点は、分岐部50,61a,61bおよび合波部64a,64b,70として、Y字導波路ではなく2×2カプラが用いられている点である。このような構成においては、導波路の角度、結合部の長さなどを調整することによって、分岐比を調整することができる。それにより、入力側と出力側とで分岐比を同じにすることが可能となる。その結果、上述した消光比の劣化の問題を解消することができる。
しかしながら、2×2カプラを用いると、結合されない導波路(以下、非結合導波路と称する)が開放状態となる。非結合導波路からの不要光、非結合導波路へのノイズ光などが消光比の劣化を招く。図1(a)の光変調器200では、入力されるCW光が入力端面で導波路に結合できない成分(損失)が散乱光となっても、Y字の分岐部50,61a,61bには混入しない。また、変調に伴って発生するOFF光(放射光)は基板方向へと離れていくので出力光には混入しない。一方で、図1(b)の光変調器200aでは、入力端での散乱光の一部が2×2カプラの非結合導波路から混入し、2×2カプラの非結合導波路から出射されるOFF光が基板表面付近を伝播して出力光に混入することがある。そのため、消光比が劣化するという問題が生じる。この問題は、光変調器200aのようにマッハツェンダ変調器が2段に構成された場合に顕著となり、3段、4段とさらに多段化された場合にはより大きな問題となり得る。そこで、以下の実施例では、消光比の劣化を抑制することができる光変調器について説明する。
図2(a)は、実施例1に係る光変調器100を説明するための模式的な平面図である。図2(b)は、図2(a)のA−A線断面図である。図2(c)は、後述する溝部25の断面図である。図2(a)および図2(b)を参照して、光変調器100は、分岐部10、第1マッハツェンダ変調器20a、第2マッハツェンダ変調器20b、および合波部30が形成された基板40を備える。基板40は、LiNbO (LN)基板、LiTaO 基板等の電気光学結晶を用いた電気光学基板である。分岐部10、第1マッハツェンダ変調器20a、第2マッハツェンダ変調器20b、および合波部30は、基板40にTi(チタン)等の金属を熱拡散させることによって形成される。
第1マッハツェンダ変調器20aは、分岐部21a、中間導波路22a,23a、および合波部24aを備える。第2マッハツェンダ変調器20bは、分岐部21b、中間導波路22b,23b,および合波部24bを備える。分岐部10は、2×2カプラである。分岐部10の一方の入力導波路は、光変調器100の入力端に設けられている。
分岐部21a,21bは、2×2カプラである。分岐部10の出力側の一方の分岐導波路は、分岐部21aの入力側の一方の入力導波路に接続されている。分岐部10の出力側の他方の分岐導波路は、分岐部21bの入力側の一方の入力導波路に接続されている。分岐部21aの出力側の一方の分岐導波路は、中間導波路22aの一端に接続されている。分岐部21aの出力側の他方の分岐導波路は、中間導波路23aの一端に接続されている。分岐部21bの出力側の一方の分岐導波路は、中間導波路22bの一端に接続されている。分岐部21bの出力側の他方の分岐導波路は、中間導波路23bの一端に接続されている。
合波部24aは、2×2カプラである。中間導波路22aの他端は、合波部24aの入力側の一方の入力導波路に接続されている。中間導波路23aの他端は、合波部24aの入力側の他方の入力導波路に接続されている。合波部24bは、2×2カプラである。中間導波路22bの他端は、合波部24bの入力側の一方の入力導波路に接続されている。中間導波路23bの他端は、合波部24bの入力側の他方の入力導波路に接続されている。
合波部30は、2×2カプラである。合波部24aの出力側の一方の分岐導波路は、合波部30の入力側の一方の入力導波路に接続されている。合波部24bの出力側の一方の分岐導波路は、合波部30の入力側の他方の入力導波路に接続されている。合波部30の出力側の一方の分岐導波路は、光変調器100の変調光出力用の出力端に接続されている。合波部30の出力側の他方の分岐導波路は、開放されていてもよいが、本実施例においては光変調器100のモニタ用の出力端に接続されている。
図2(b)を参照して、基板40の導波路側の面には、バッファ層41が設けられている。それにより、光変調器100の各導波路は、バッファ層41によって覆われている。バッファ層41は、導波路を伝播する光が後述する電極によって吸収されることを防ぐために設けられている。バッファ層41は、例えば、厚さ0.2μm〜2μm程度のSiO等である。
中間導波路22a上には、バッファ層41を介して、信号電極42が設けられている。中間導波路23a上には、バッファ層41を介して、接地電極43が設けられている。それにより、信号電極42および接地電極43は、コプレーナ電極を構成する。また、中間導波路22b上には、バッファ層41を介して、信号電極44が設けられている。中間導波路23b上には、バッファ層41を介して、接地電極45が設けられている。それにより、信号電極44および接地電極45は、コプレーナ電極を構成する。基板40としてZカット基板を用いる場合には、Z方向の電解に起因する屈折率変化を利用するために、信号電極42,44および接地電極43,45は、中間導波路の真上に配置される。
第1マッハツェンダ変調器20aにおいては、信号電極42および接地電極43の終端を抵抗で接続することによって進行波電極を構成し、進行波電極の入力側からマイクロ波信号を印加する。この場合、電界によって中間導波路22a,23aの屈折率が一例として+Δn、−Δnのように変化する。それにより、中間導波路22a,23a間の位相差が変化するため、マッハツェンダ干渉が生じる。その結果、合波部24aから、強度変調された信号光が出力される。電極の断面形状を変化させることでマイクロ波の実効屈折率を制御し、光の速度とマイクロ波の速度とを整合させることによって高速の光応答特性を得ることができる。第2マッハツェンダ変調器20bにおいても、信号電極44および接地電極45の終端を抵抗で接続することによって進行波電極を構成し、進行波電極の入力側からマイクロ波信号を印加する。それにより、合波部24bから、強度変調された光信号が出力される。
第1マッハツェンダ変調器20aおよび第2マッハツェンダ変調器20bの出力信号は、合波部30で合波されて出力される。第1マッハツェンダ変調器20aおよび第2マッハツェンダ変調器20bをそれぞれ異なる信号で駆動し、両変調器の出力光の位相が互いに90度異なるように調整することで、QPSK信号を生成することができる。
本実施例においては、分岐部10,21a,21bおよび合波部24a,24b,30として、Y字導波路ではなく2×2カプラが用いられている。この場合、導波路の角度、結合部の長さなどを調整することによって、分岐比を調整することができる。それにより、入力側と出力側とで分岐比を同じにすることが可能となる。その結果、分岐比に起因する消光比の劣化を抑制することができる。
また、本実施例においては、図2(c)を参照して、分岐部10、21a,21bおよび合波部24a,24bの非結合導波路46に、溝部25を設ける。具体的には、溝部25に非結合導波路46の開放端を横切らせる。この場合、非結合導波路46とバッファ層41との屈折率差、非結合導波路46と空気との屈折率差などに起因して、非結合導波路46と溝部25との間で光の散乱が生じる。例えば、非結合導波路46から出力される光または非結合導波路46に入力される光が溝部25と非結合導波路46との界面で反射される。すなわち、溝部25は、非結合導波路46からの出力光および非結合導波路46への入力光の向きを、マッハツェンダ変調器の延伸方向と異なる向きに変化させる。その結果、溝部25は、非結合導波路46からの出力光および非結合導波路46への入力光の、マッハツェンダ変調器の延伸方向のパワーを抑制する抑制部として機能する。具体的には、非結合導波路46にノイズ光が入射することが抑制され、非結合導波路46からの放射光が信号光に再混入することが抑制される。その結果、消光比の劣化を抑制することができる。本実施例においては、マッハツェンダ変調器の延伸方向とは、中間導波路22a,23a,22b,23bの延伸方向と一致する。なお、マッハツェンダ変調器の延伸方向のパワーとは、マッハツェンダ変調器の各中間導波路が形成する面に投影させた光のパワーのうちマッハツェンダ変調器の延伸方向のパワーである。
なお、溝部25は、非結合導波路46の延伸方向と垂直をなすように形成されていてもよいが、溝部25での反射戻り光を抑制する場合には、図2(c)のように、溝部25を非結合導波路46の延伸方向に対して斜めに形成してもよい。
図3は、光変調器100の消光比の実験結果を表す図である。比較のために、比較例2に係る光変調器200aの消光比の実験結果も併せて表す。図3を参照して、光変調器100では、光変調器200aと比較して、広い波長範囲において良好な消光比を有している。
図4(a)は、実施例2に係る光変調器100aを説明するための模式的な平面図である。図4(a)を参照して、光変調器100aが図2(a)の光変調器100と異なる点は、溝部25が非結合導波路の延伸方向に対して斜めに横切る点である。この構成により、溝部25で反射する光の非結合導波路への戻りを抑制することができる。
図4(b)は、実施例3に係る光変調器100bを説明するための模式的な平面図である。図4(b)を参照して、光変調器100bが図2(a)の光変調器100と異なる点は、溝部25が形成されておらず、2×2カプラの開放状態の非結合導波路に曲り導波路26が設けられている点である。この曲り導波路26は、マッハツェンダ変調器の延伸方向と異なる方向に曲がっている。
本実施例によれば、曲り導波路26は、非結合導波路46からの出力光および非結合導波路46への入力光の向きを、マッハツェンダ変調器の延伸方向と異なる向きに変化させる。それにより、曲り導波路26は、非結合導波路46からの出力光および非結合導波路46への入力光の、マッハツェンダ変調器の延伸方向のパワーを抑制する抑制部として機能する。この構成によれば、非結合導波路46と入出力ファイバとの光結合を抑制することができる。なお、曲り導波路26の延伸方向は、基板40の側面を向いていることが好ましい。非結合導波路46と入出力ファイバとの光結合をより抑制することができるからである。ここで、基板40の端面とは、入力端または出力端が位置する面のことであり、基板40の上下面とは、バッファ層41が設けられている面及び当該面に対向する面であり、側面とは、それら以外の面である。一例として、基板40において、側面は端面と90°をなす。なお、開放端からの放射光がチップ内を伝搬することを抑制するために、曲り導波路26の延伸方向とチップ端面とのなす角度θが全反射角よりも小さいことが好ましい。
短い距離で光の向きを変えるには、曲り導波路のR(半径)を小さくすることが好ましい。しかしながら、Rが小さいと曲り導波路で光が放射し、十分な効果が得られなくなる。そこで、実施例4では、曲り導波路の外周に沿って溝部を設ける。
図5(a)は、実施例4に係る光変調器100cを説明するための模式的な平面図である。図5(b)は、非結合導波路付近の断面図である。図5(a)および図5(b)を参照して、光変調器100cが図4(b)の光変調器100bと異なる点は、曲り導波路26の外周に沿って溝部25が設けられている点である。
この構成によれば、曲り導波路26での光放射を抑制しつつ、曲り導波路26のRを小さくすることができる。
図6(a)は、実施例5に係る光変調器100dを説明するための模式的な平面図である。図6(b)は、非結合導波路付近の断面図である。図6(a)および図6(b)を参照して、光変調器100dが図2(a)の光変調器100と異なる点は、溝部25が非結合導波路46を横切らずに、非結合導波路46に沿って設けられている点である。この構成によれば、溝部25によって解放端近傍での光損失が増大する。すなわち、溝部25は、非結合導波路46からの出力光および非結合導波路46への入力光の少なくとも一部を吸収する。それにより、溝部25は、非結合導波路からの出力光および非結合導波路への入力光の、マッハツェンダ変調器の延伸方向のパワーを抑制する抑制部として機能する。この場合、モードフィールドが変形し、放射光との結合が低減される。それにより、放射光が信号光に混入することが抑制される。
図6(a)の光変調器100dにおいて、溝部25の開始点での散乱が悪影響を及ぼすおそれがある。そこで、溝部25の開始点付近で非結合導波路46から溝部25までの距離が連続的に変化するようにしてもよい。図7(a)は、実施例6に係る光変調器100eを説明するための模式的な平面図である。図7(b)は、非結合導波路46付近の断面図である。図7(a)および図7(b)を参照して、光変調器100eが図5(a)の光変調器100cと異なる点は、溝部25が開放端付近の非結合導波路46に沿って設けられるとともに、溝部25の開始点付近で非結合導波路46から溝部25までの距離が連続的に小さくなっている点である。この構成によれば、溝部25の開始点での散乱の影響を抑制することができる。
図8(a)は、実施例7に係る光変調器100fを説明するための模式的な平面図である。図8(b)は、非結合導波路付近の断面図である。図8(a)および図8(b)を参照して、光変調器100fが図2(a)の光変調器100と異なる点は、光損失を増大させるための構成として、開放端付近の導波路上にバッファ層41を介して光吸収材27が設けられている点である。
光吸収材27は、非結合導波路46を伝搬する光を吸収する。それにより、光吸収材27は、非結合導波路からの出力光および非結合導波路への入力光の、マッハツェンダ変調器の延伸方向のパワーを抑制する抑制部として機能する。光吸収材27として、半導体、金属材料などを用いることができる。また、光吸収材27として、信号電極42,44および接地電極43,45と同じ材料を用いてもよい。この場合、一度の工程で、信号電極42,44と、接地電極43,45と、光吸収材27とを形成することができる。すなわち、コストを抑制することができる。
図9(a)は、実施例8に係る光変調器100gを説明するための模式的な平面図である。図9(b)は、非結合導波路付近の断面図である。図9(a)および図9(b)を参照して、光変調器100gが図8(a)の光変調器100fと異なる点は、光吸収材27と非結合導波路46との間においてバッファ層41が設けられていない点である。この構成によれば、光吸収材27による損失を大きくすることができる。
図10(a)は、実施例9に係る光変調器100hを説明するための模式的な平面図である。図10(b)は、非結合導波路付近の断面図である。図10(a)および図10(b)を参照して、光変調器100hが図6(a)の光変調器100dと異なる点は、光吸収材27が非結合導波路46上に設けられるとともに、溝部25を覆うように設けられている点である。この構成によれば、溝部25および光吸収材27における損失を増大させることができる。なお、光吸収材27と非結合導波路46との間において、バッファ層41が設けられていないことが好ましい。
(光送信機の例)
図11は、光送信機300の全体構成を説明するためのブロック図である。図11を参照して、光送信機300は、発光素子310、光変調器320、データ生成回路330、ドライバ340などを備える。発光素子310は、半導体レーザなどである。光変調器320は、上記各実施例のいずれかの光変調器である。データ生成回路330は、光送信機300によって出力される信号データを生成する。ドライバ340は、データ生成回路330が生成する信号データが実現されるように、光変調器320を駆動する。光送信機300によって出力された光変調信号は、光ファイバ等を介して外部に出力される。光変調器320は高消光比を有することから、光送信機300は、高特性光信号を出力することができる。
なお、上記各実施例においては、2つのマッハツェンダ変調器が並列配置された構成について説明したが、マッハツェンダ変調器は1つでもよい。この場合、分岐部および合波部として機能する2×2カプラの少なくとも一方の非結合導波路からの出力光および非結合導波路への入力光の、マッハツェンダ変調器の延伸方向のパワーを抑制する抑制部を設ければよい。また、3つ以上のマッハツェンダ変調器が設けられていてもよい。この場合、分岐部および合波部として機能する2×2カプラのいずれかの非結合導波路からの出力光および非結合導波路への入力光の、マッハツェンダ変調器の延伸方向のパワーを抑制する抑制部を設ければよい。また、分岐部または合波部として機能する2×2カプラが複数設けられている場合には、少なくとも1つの2×2カプラの非結合導波路に上記抑制部が設けられていればよい。
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
10 分岐部
20 マッハツェンダ変調器
21 分岐部
22,23 中間導波路
24 合波部
30 合波部
40 基板
41 バッファ層
42,44 信号電極
43,45 接地電極
46 非結合導波路
100 光変調器

Claims (1)

  1. 電気光学効果を有する基板を備え、
    前記基板は、2×2カプラの分岐部と、前記分岐部の出力導波路に接続される2つの中間導波路と、前記2つの中間導波路が接続される2×2カプラの合波部と、を備えるマッハツェンダ変調器を備え、
    前記2×2カプラの少なくとも一方の非結合導波路に沿って前記基板に溝が設けられ、
    前記非結合導波路と前記溝との距離は、前記非結合導波路の開放端に向かって連続的に小さくなることを特徴とする光変調器。
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