JP6198627B2 - Wafer unit processing method - Google Patents
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Description
本発明は、ダイボンド用フィルムが貼着されたウェーハを含むウェーハユニットの加工方法に関する。 The present invention relates to a method for processing a wafer unit including a wafer having a die-bonding film attached thereto.
表面に複数のデバイスが形成されたウェーハは、通常、ストリート(分割予定ライン)に沿って切削、又はレーザー加工されて各デバイスに対応する複数のチップへと分割される。このチップの裏面側には、チップを基板等に固定するための接着層を設けることがある。接着層を基板等に密着させた上で熱や光等の刺激を加えれば、接着層を硬化させてチップを基板等に固定できる。 A wafer having a plurality of devices formed on the surface is usually cut or laser processed along a street (division planned line) and divided into a plurality of chips corresponding to each device. An adhesive layer for fixing the chip to a substrate or the like may be provided on the back side of the chip. If a stimulus such as heat or light is applied after the adhesive layer is brought into close contact with the substrate or the like, the adhesive layer can be cured to fix the chip to the substrate or the like.
上述した接着層は、例えば、ウェーハの裏面側に貼着されたダイボンド用フィルムを各チップのサイズに破断することで形成される(例えば、特許文献1参照)。この方法では、伸縮性のあるエキスパンドテープをダイボンド用フィルムに貼着して拡張することで、各チップのサイズに破断するための外力をダイボンド用フィルムに付与している。 The adhesive layer described above is formed, for example, by breaking a die-bonding film attached to the back side of the wafer into the size of each chip (see, for example, Patent Document 1). In this method, an expandable expandable tape is attached to a die bonding film and expanded to give an external force to the die bonding film for breaking to the size of each chip.
しかしながら、上述した方法では、ダイボンド用フィルム(又は、ダイボンド用フィルムとウェーハ)を必ずしも適切に分割できないという問題がある。この問題は、特に、ウェーハを小型のチップ(例えば、1mm角以下)へと分割する場合に深刻である。 However, the above-described method has a problem that the die-bonding film (or the die-bonding film and the wafer) cannot always be appropriately divided. This problem is particularly serious when a wafer is divided into small chips (for example, 1 mm square or less).
すなわち、ウェーハを小型のチップへと分割する場合には、ダイボンド用フィルム及びエキスパンドテープの1チップ当たりの接着面積が小さくなって、エキスパンドテープを拡張する際にダイボンド用フィルム及びエキスパンドテープが剥離し易い。そのため、エキスパンドテープを拡張しても十分な外力を付与できず、ダイボンド用フィルムを適切に分割できなくなる。 That is, when the wafer is divided into small chips, the bonding area per chip of the die bonding film and the expanding tape is reduced, and the die bonding film and the expanding tape are easily peeled off when the expanding tape is expanded. . Therefore, even if the expanded tape is expanded, a sufficient external force cannot be applied, and the die bonding film cannot be properly divided.
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ウェーハに貼着されたダイボンド用フィルムを適切に分割できるウェーハユニットの加工方法を提供することである。 This invention is made | formed in view of this problem, The place made into the objective is providing the processing method of the wafer unit which can divide | segment appropriately the film for die-bonding stuck to the wafer.
本発明によれば、表面の交差する複数の分割予定ラインで区画された領域にそれぞれデバイスが形成されるとともに裏面にダイボンド用フィルムを介して紫外線硬化型エキスパンドテープが貼着されたウェーハを備え、該紫外線硬化型エキスパンドテープの外周がリングフレームに貼着されたウェーハユニットの加工方法であって、該ウェーハユニットの該ウェーハには該分割予定ラインに沿った分割起点が形成されており、該ウェーハユニットを加熱して該ダイボンド用フィルムを半硬化させて該ダイボンド用フィルムの該ウェーハに対する固定力を向上させるとともに該紫外線硬化型エキスパンドテープに紫外線を照射して該紫外線硬化型エキスパンドテープの該ダイボンド用フィルムに対する固定力を向上させる前処理ステップと、該前処理ステップを実施した後、該紫外線硬化型エキスパンドテープを拡張して該ダイボンド用フィルムと該ウェーハとに外力を付与して該ウェーハと該ダイボンド用フィルムとを該分割予定ラインに沿って分割する拡張ステップと、を備えたことを特徴とするウェーハユニットの加工方法が提供される。 According to the present invention, a device is formed in each of the regions defined by a plurality of division lines intersecting the front surface, and a wafer having an ultraviolet curable expandable tape attached to the back surface through a die-bonding film, A method of processing a wafer unit in which an outer periphery of the ultraviolet curable expandable tape is attached to a ring frame, wherein the wafer of the wafer unit is formed with a division starting point along the division line. The unit is heated to semi-cure the die-bonding film to improve the fixing force of the die-bonding film to the wafer, and the ultraviolet-curable expanding tape is irradiated with ultraviolet rays, and the ultraviolet-curable expanding tape is used for the die bonding. A pretreatment step for improving the fixing force to the film; After performing the processing step, the ultraviolet curable expandable tape is expanded to apply an external force to the die bonding film and the wafer to divide the wafer and the die bonding film along the division line. And a step of processing a wafer unit.
また、本発明によれば、表面の交差する複数の分割予定ラインで区画された領域にそれぞれデバイスが形成されるとともに裏面にダイボンド用フィルムを介して紫外線硬化型エキスパンドテープが貼着されたウェーハを備え、該紫外線硬化型エキスパンドテープの外周がリングフレームに貼着されたウェーハユニットの加工方法であって、該ウェーハユニットの該ウェーハは該分割予定ラインに沿って複数のチップへと分割されており、該ウェーハユニットを加熱して該ダイボンド用フィルムを半硬化させて該ダイボンド用フィルムの該ウェーハに対する固定力を向上させるとともに該紫外線硬化型エキスパンドテープに紫外線を照射して該紫外線硬化型エキスパンドテープの該ダイボンド用フィルムに対する固定力を向上させる前処理ステップと、該前処理ステップを実施した後、該紫外線硬化型エキスパンドテープを拡張して該ダイボンド用フィルムに外力を付与して該ダイボンド用フィルムを該チップの外周に沿って分割する拡張ステップと、を備えたことを特徴とするウェーハユニットの加工方法が提供される。 In addition, according to the present invention, a wafer in which a device is formed in each of regions divided by a plurality of scheduled division lines intersecting the front surface and an ultraviolet curable expandable tape is attached to the back surface via a die bonding film. A wafer unit processing method in which an outer periphery of the ultraviolet curable expandable tape is attached to a ring frame, wherein the wafer of the wafer unit is divided into a plurality of chips along the division line. The wafer unit is heated to semi-cure the die bonding film to improve the fixing force of the die bonding film to the wafer, and the ultraviolet curable expanding tape is irradiated with ultraviolet rays to A pre-treatment step for improving the fixing force to the die-bonding film And, after the pretreatment step, an expansion step of expanding the ultraviolet curable expanding tape to apply an external force to the die bonding film and dividing the die bonding film along the outer periphery of the chip; A method for processing a wafer unit is provided.
本発明のウェーハユニットの加工方法では、紫外線硬化型エキスパンドテープを拡張してダイボンド用フィルムを分割する拡張ステップの前に、ダイボンド用フィルムを半硬化させてウェーハに対するダイボンド用フィルムの固定力を向上させるとともに紫外線硬化型エキスパンドテープに紫外線を照射してダイボンド用フィルムに対する紫外線硬化型エキスパンドテープの固定力を向上させる前処理ステップを実施する。 In the processing method of the wafer unit of the present invention, before the expansion step of expanding the ultraviolet curable expanding tape to divide the die bonding film, the die bonding film is semi-cured to improve the fixing force of the die bonding film to the wafer. At the same time, a pretreatment step is performed to improve the fixing force of the ultraviolet curable expanding tape to the die bonding film by irradiating the ultraviolet curable expanding tape with ultraviolet rays.
これにより、ダイボンド用フィルムはウェーハから剥離し難くなるとともに、紫外線硬化型エキスパンドテープはダイボンド用フィルムから剥離し難くなるので、拡張ステップで十分な外力を付与して、ウェーハに貼着されたダイボンド用フィルムを適切に分割できる。 This makes it difficult for the die-bonding film to peel off from the wafer, and the UV curable expandable tape makes it difficult to peel off from the die-bonding film. The film can be divided properly.
添付図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。本発明に係るウェーハユニットの加工方法は、前処理ステップ(図2、図5参照)、及び拡張ステップ(図3、図6参照)を含む。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The wafer unit processing method according to the present invention includes a preprocessing step (see FIGS. 2 and 5) and an expansion step (see FIGS. 3 and 6).
前処理ステップでは、ダイボンド用フィルムを半硬化させてウェーハに対するダイボンド用フィルムの固定力を向上させるとともに紫外線硬化型エキスパンドテープに紫外線を照射してダイボンド用フィルムに対する紫外線硬化型エキスパンドテープの固定力を向上させる。 In the pretreatment step, the die-bonding film is semi-cured to improve the fixing force of the die-bonding film to the wafer, and the UV-curable expanding tape is irradiated with ultraviolet rays to improve the fixing force of the UV-curable expanding tape to the die-bonding film. Let
拡張ステップでは、紫外線硬化型エキスパンドテープを拡張してダイボンド用フィルムを分割する。以下、本発明に係るウェーハユニットの加工方法について詳述する。なお、以下に示す実施の形態1では、分割の起点となる改質層(分割起点)が形成されたウェーハを含むウェーハユニットの加工方法について説明し、実施の形態2では、分割済みのウェーハを含むウェーハユニットの加工方法について説明する。 In the expansion step, the ultraviolet curable expanding tape is expanded to divide the die bonding film. The wafer unit processing method according to the present invention will be described in detail below. In the first embodiment described below, a method for processing a wafer unit including a wafer on which a modified layer (division starting point) serving as a division starting point is formed will be described. In the second embodiment, a divided wafer is processed. A processing method of the wafer unit including it will be described.
(実施の形態1)
本実施の形態では、分割の起点となる改質層(分割起点)が形成されたウェーハを含むウェーハユニットの加工方法について説明する。図1は、本実施の形態に係る加工方法で加工されるウェーハユニットの構成を模式的に示す斜視図である。
(Embodiment 1)
In the present embodiment, a method for processing a wafer unit including a wafer on which a modified layer (division start point) serving as a division start point is formed will be described. FIG. 1 is a perspective view schematically showing a configuration of a wafer unit processed by the processing method according to the present embodiment.
図1に示すように、本実施の形態で加工されるウェーハユニット1は、シリコンやサファイア等の材料で構成された円盤状のウェーハ11を含んでいる。ウェーハ11の表面11a側は、格子状に配列されたストリート(分割予定ライン)13で複数の領域に区画されており、各領域にはICや発光素子等のデバイス15が形成されている。
As shown in FIG. 1, a wafer unit 1 processed in the present embodiment includes a disk-
ウェーハ11の裏面11b側には、ダイボンド用フィルム17の表面17a側が貼着されている。ダイボンド用フィルム17は、熱硬化性樹脂を含む材料で構成されており、裏面17b側には、紫外線硬化型エキスパンドテープ19が貼着されている。なお、このダイボンド用フィルム17は、DAF(Die Attach Film)等と呼ばれることもある。
On the
紫外線硬化型エキスパンドテープ19は、例えば、伸縮性のあるフィルム状の基材層と、紫外線硬化樹脂を含む糊層とで構成されており、この糊層の接着力によってダイボンド用フィルム17の裏面17b側に貼着されている。紫外線硬化型エキスパンドテープ19の外周部分には、環状のリングフレーム21が固定されている。
The ultraviolet curable
このように構成されたウェーハユニット1のウェーハ11には、ストリート13に沿って分割の起点となる改質層(分割起点)23が形成されている。この改質層23は、例えば、ウェーハ11に対して吸収され難い波長のレーザービームをウェーハ11の内部に集光するとともにストリート13と平行な方向に移動(相対移動)させることで形成できる。
On the
このウェーハユニット1に対して、本実施の形態では、まず、紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張する前の前処理を行う前処理ステップを実施する。この前処理ステップは、ダイボンド用フィルム17の固定力を向上させるキュアステップと、紫外線硬化型エキスパンドテープ19の固定力を向上させる紫外線照射ステップとを含む。
In the present embodiment, first, a preprocessing step is performed on the wafer unit 1 to perform preprocessing before expanding the ultraviolet curable
はじめに、ウェーハユニット1を加熱してダイボンド用フィルム17を半硬化させるキュアステップを実施する。キュアステップでは、ホットプレート等の熱処理装置(不図示)で、ウェーハユニット1を熱処理する。温度、時間等の条件は、ダイボンド用フィルム17の種類等に応じて異なるが、例えば、60℃で30分〜60分程度とすることができる。
First, a curing step for heating the wafer unit 1 and semi-curing the
このキュアステップでダイボンド用フィルム17を半硬化させることで、ウェーハ11に対するダイボンド用フィルム17の固定力を高めることができる。その結果、後に紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張しても、ダイボンド用フィルム17はウェーハ11から剥離し難くなる。
The fixing force of the die
キュアステップの後には、ウェーハユニット1に紫外線を照射して紫外線硬化型エキスパンドテープ19の固定力を向上させる紫外線照射ステップを実施する。図2は、紫外線照射ステップを模式的に示す一部断面側面図である。
After the curing step, an ultraviolet irradiation step for improving the fixing force of the ultraviolet curable
図2に示すように、紫外線照射ステップは、紫外線照射装置2で実施される。紫外線照射装置2は、紫外線(紫外光)UVを放射する複数の光源4を備えており、ウェーハユニット1は、例えば、紫外線硬化型エキスパンドテープ19を下方に位置付けた状態で光源4の上方に配置される。
As shown in FIG. 2, the ultraviolet irradiation step is performed by the
紫外線照射ステップでは、例えば、上述のように配置されたウェーハユニット1に光源4からの紫外線UVを照射し、紫外線硬化型エキスパンドテープ19の糊層を硬化(又は半硬化)させる。照射光量、照射時間等の条件は、紫外線硬化型エキスパンドテープ19の種類等に応じて異なるが、例えば、照射時間は、3秒程度の短い時間で良い。
In the ultraviolet irradiation step, for example, the ultraviolet light UV from the light source 4 is irradiated to the wafer unit 1 arranged as described above, and the glue layer of the ultraviolet curable expanding
この紫外線照射ステップで紫外線硬化型エキスパンドテープ19の糊層を硬化(又は半硬化)させることで、ダイボンド用フィルム17に対する紫外線硬化型エキスパンドテープ19の固定力を高めることができる。その結果、後に紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張しても、紫外線硬化型エキスパンドテープ19はダイボンド用フィルム17から剥離し難くなる。
By fixing (or semi-curing) the paste layer of the ultraviolet curable
なお、本実施の形態では、キュアステップの後に紫外線照射ステップを実施しているが、紫外線照射ステップの後にキュアステップを実施しても良い。もちろん、キュアステップと紫外線照射ステップとを同じタイミングで実施することもできる。さらに、前処理ステップは、キュアステップ及び紫外線照射ステップ以外の任意のステップを含んでも良い。 In this embodiment, the ultraviolet irradiation step is performed after the curing step, but the curing step may be performed after the ultraviolet irradiation step. Of course, the curing step and the ultraviolet irradiation step can be performed at the same timing. Further, the preprocessing step may include any step other than the curing step and the ultraviolet irradiation step.
上述した前処理ステップの後には、紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張してウェーハ11及びダイボンド用フィルム17を分割する拡張ステップを実施する。図3は、拡張ステップを模式的に示す一部断面側面図である。
After the pretreatment step described above, an expansion step is performed in which the ultraviolet curable
図3に示すように、拡張ステップは、エキスパンド装置10で実施される。エキスパンド装置10は、ウェーハユニット1を支持するウェーハユニット支持機構12と、ウェーハユニット支持機構12に支持されたウェーハユニット1の紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張する拡張ドラム14とを備えている。
As shown in FIG. 3, the expansion step is performed by the expanding
ウェーハユニット支持機構12は、ウェーハユニット1のリングフレーム21を支持する環状のフレーム支持テーブル16を含む。このフレーム支持テーブル16の上面は、リングフレーム21を載置する載置面となっている。フレーム支持テーブル16の外周部分には、リングフレーム21を挟持固定する複数のクランプ18が設けられている。
The wafer
ウェーハユニット支持機構12の下方には、昇降機構20が設けられている。昇降機構20は、基台(不図示)に固定されたシリンダケース22と、シリンダケース22に挿通されたピストンロッド24とを備えている。ピストンロッド24の上端部には、フレーム支持テーブル16が固定されている。
Below the wafer
この昇降機構20は、フレーム支持テーブル16の上面(載置面)を、拡張ドラム14の上端と略等しい高さの基準位置と、拡張ドラム14の上端より下方の拡張位置との間で移動させるように、ウェーハユニット支持機構12を昇降させる。
The elevating
拡張ステップでは、まず、図3(A)に示すように、基準位置に位置付けられたフレーム支持テーブル16の上面にウェーハユニット1を載置し、クランプ18でリングフレーム21を挟持固定する。これにより、拡張ドラム14の上端は、ウェーハ11及びダイボンド用フィルム17の外周とリングフレーム21の内周との間に位置付けられ紫外線硬化型エキスパンドテープ19と当接する。
In the expansion step, first, as shown in FIG. 3A, the wafer unit 1 is placed on the upper surface of the frame support table 16 positioned at the reference position, and the
次に、昇降機構20でウェーハユニット支持機構12を下降させ、図3(B)に示すように、フレーム支持テーブル16の上面を拡張ドラム14の上端より下方の拡張位置に位置付ける。その結果、拡張ドラム14はフレーム支持テーブル16に対して相対的に上昇し、紫外線硬化型エキスパンドテープ19は拡張ドラム14で押し上げられて拡張する。
Next, the wafer
上述のように、紫外線硬化型エキスパンドテープ19とダイボンド用フィルム17との接着力は高められており、ダイボンド用フィルム17とウェーハ11との接着力は高められている。また、ウェーハ11には、破断の起点となる改質層23が形成されている。
As described above, the adhesive force between the ultraviolet curable
そのため、紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張すると、ウェーハ11は、改質層23を起点に複数のチップ31に分割される。また、ダイボンド用フィルム17は各チップのサイズに破断される。
Therefore, when the ultraviolet curable
このように、本実施の形態に係るウェーハユニットの加工方法では、紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張してウェーハ11及びダイボンド用フィルム17を分割する拡張ステップの前に、ダイボンド用フィルム17を半硬化させてウェーハ11に対するダイボンド用フィルム17の固定力を向上させるとともに紫外線硬化型エキスパンドテープ19に紫外線UVを照射してダイボンド用フィルム17に対する紫外線硬化型エキスパンドテープ19の固定力を向上させる前処理ステップを実施する。
As described above, in the wafer unit processing method according to the present embodiment, the
これにより、ダイボンド用フィルム17はウェーハ11から剥離し難くなるとともに、紫外線硬化型エキスパンドテープ19はダイボンド用フィルム17から剥離し難くなるので、拡張ステップで十分な外力を付与して、ウェーハ11及びウェーハ11に貼着されたダイボンド用フィルム17を適切に分割できる。
As a result, the
(実施の形態2)
本実施の形態では、分割済みのウェーハを含むウェーハユニットの加工方法について説明する。なお、本実施の形態に係るウェーハユニットの加工方法は、多くの点で実施の形態1に係るウェーハユニットの加工方法と共通している。よって、本実施の形態では、共通する部分についての詳細な説明を省略する。
(Embodiment 2)
In the present embodiment, a method for processing a wafer unit including divided wafers will be described. The wafer unit processing method according to the present embodiment is common in many respects to the wafer unit processing method according to the first embodiment. Therefore, in this embodiment, detailed description of common parts is omitted.
図4は、本実施の形態に係る加工方法で加工されるウェーハユニットの構成を模式的に示す斜視図である。図4に示すように、本実施の形態に係るウェーハユニット1のウェーハ11には、各ストリート13に沿うカーフ(切り口)25が形成されている。ウェーハ11は、この複数のカーフ25によって、各デバイス15に対応する複数のチップ31に分割されている。
FIG. 4 is a perspective view schematically showing a configuration of a wafer unit processed by the processing method according to the present embodiment. As shown in FIG. 4, a kerf (cut) 25 along each
カーフ25は、例えば、回転する環状の切削ブレードをウェーハ11に切り込ませ、ストリート13と平行な方向に移動(相対移動)させることで形成できる。また、レーザービームによるアブレーションを利用してカーフ25を形成しても良い。
The
ウェーハ11は、研削等の方法で加工されていても良い。例えば、ウェーハ11を完全に分断しない深さのカーフ25を表面11a側に形成し、その後、裏面11b側を研削するいわゆるDBG(Dicing Before Grinding)プロセスを経たウェーハ11を利用することもできる。
The
本実施の形態では、まず、前処理ステップを実施する。この前処理ステップは、ダイボンド用フィルム17の固定力を向上させるキュアステップと、紫外線硬化型エキスパンドテープ19の固定力を向上させる紫外線照射ステップとを含む。図5は、紫外線照射ステップを模式的に示す一部断面側面図である。
In the present embodiment, first, a preprocessing step is performed. This pretreatment step includes a curing step for improving the fixing force of the
前処理ステップの後には、紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張してダイボンド用フィルム17を分割する拡張ステップを実施する。図6は、拡張ステップを模式的に示す一部断面側面図である。
After the pretreatment step, an expansion step is performed in which the ultraviolet curable
拡張ステップでは、まず、図6(A)に示すように、基準位置に位置付けられたフレーム支持テーブル16の上面にウェーハユニット1を載置し、クランプ18でリングフレーム21を挟持固定する。次に、昇降機構20でウェーハユニット支持機構12を下降させ、図3(B)に示すように、フレーム支持テーブル16の上面を拡張ドラム14の上端より下方の拡張位置に位置付ける。
In the expansion step, first, as shown in FIG. 6A, the wafer unit 1 is placed on the upper surface of the frame support table 16 positioned at the reference position, and the
これにより、拡張ドラム14はフレーム支持テーブル16に対して相対的に上昇し、紫外線硬化型エキスパンドテープ19は拡張ドラム14によって押し上げられて拡張する。上述した前処理ステップにより、紫外線硬化型エキスパンドテープ19とダイボンド用フィルム17との接着力は高められており、ダイボンド用フィルム17とウェーハ11との接着力は高められている。
As a result, the
また、ウェーハ11は、カーフ25によって、各デバイス15に対応する複数のチップ31に分割されている。そのため、上述のように紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張することで、ダイボンド用フィルム17を各チップ31のサイズに適切に分割することができる。
The
このように、本実施の形態に係るウェーハユニットの加工方法でも、紫外線硬化型エキスパンドテープ19を拡張してダイボンド用フィルム17を分割する拡張ステップの前に、ダイボンド用フィルム17を半硬化させてウェーハ11に対するダイボンド用フィルム17の固定力を向上させるとともに紫外線硬化型エキスパンドテープ19に紫外線UVを照射してダイボンド用フィルム17に対する紫外線硬化型エキスパンドテープ19の固定力を向上させる前処理ステップを実施する。
As described above, even in the wafer unit processing method according to the present embodiment, the die-
これにより、ダイボンド用フィルム17はウェーハ11から剥離し難くなるとともに、紫外線硬化型エキスパンドテープ19はダイボンド用フィルム17から剥離し難くなるので、拡張ステップで十分な外力を付与して、ウェーハ11に貼着されたダイボンド用フィルム17を適切に分割できる。
This makes it difficult for the
本実施の形態で示す構成、方法等は、他の実施の形態に係る構成、方法等と適宜組み合わせることが可能である。 The structures, methods, and the like described in this embodiment can be combined as appropriate with any of the structures, methods, and the like according to the other embodiments.
なお、本発明は上記実施の形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記実施の形態では、熱硬化性樹脂を含む材料で構成されたダイボンド用フィルム17、及び紫外線硬化樹脂を含む材料で構成された紫外線硬化型エキスパンドテープ19を使用しているが、本発明は必ずしもこの態様に限定されない。
In addition, this invention is not limited to description of the said embodiment, A various change can be implemented. For example, in the above embodiment, the die-
例えば、光硬化性樹脂を含む材料で構成されたダイボンド用フィルムを用いても良い。この場合、上述したキュアステップに代えて、適切な光を照射してダイボンド用フィルムを半硬化させる光照射ステップを実施する。 For example, a die bond film made of a material containing a photocurable resin may be used. In this case, instead of the above-described curing step, a light irradiation step of irradiating appropriate light and semi-curing the die bonding film is performed.
また、紫外線硬化型エキスパンドテープ19に代えて、例えば、熱硬化性樹脂を含む材料で構成されたエキスパンドテープを用いることもできる。この場合、上述した紫外線照射ステップに代えて、熱によってエキスパンドテープの接着力を高める熱処理ステップを実施する。
Further, instead of the ultraviolet curable expanding
その他、上記実施の形態に係る構成、方法などは、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。 In addition, the configurations, methods, and the like according to the above-described embodiments can be changed as appropriate without departing from the scope of the object of the present invention.
1 ウェーハユニット
11 ウェーハ
11a 表面
11b 裏面
13 ストリート(分割予定ライン)
15 デバイス
17 ダイボンド用フィルム
17a 表面
17b 裏面
19 紫外線硬化型エキスパンドテープ
21 リングフレーム
23 改質層(分割起点)
25 カーフ(切り口)
2 紫外線照射装置
4 光源
10 エキスパンド装置
12 ウェーハユニット支持機構
14 拡張ドラム
16 フレーム支持テーブル
18 クランプ
20 昇降機構
22 シリンダケース
24 ピストンロッド
UV 紫外線(紫外光)
1
DESCRIPTION OF
25 Calf
2 UV irradiation device 4
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該ウェーハユニットの該ウェーハには該分割予定ラインに沿った分割起点が形成されており、
該ウェーハユニットを加熱して該ダイボンド用フィルムを半硬化させて該ダイボンド用フィルムの該ウェーハに対する固定力を向上させるとともに該紫外線硬化型エキスパンドテープに紫外線を照射して該紫外線硬化型エキスパンドテープの該ダイボンド用フィルムに対する固定力を向上させる前処理ステップと、
該前処理ステップを実施した後、該紫外線硬化型エキスパンドテープを拡張して該ダイボンド用フィルムと該ウェーハとに外力を付与して該ウェーハと該ダイボンド用フィルムとを該分割予定ラインに沿って分割する拡張ステップと、を備えたことを特徴とするウェーハユニットの加工方法。 A UV curable expanding tape comprising a wafer in which devices are formed in regions divided by a plurality of division lines intersecting each other on the front surface and an ultraviolet curable expanding tape is attached to the back surface via a die bonding film. Is a processing method of a wafer unit, the outer periphery of which is attached to a ring frame,
A division starting point along the division line is formed on the wafer of the wafer unit,
The wafer unit is heated to semi-cure the die bonding film to improve the fixing force of the die bonding film to the wafer and to irradiate the ultraviolet curable expanding tape with ultraviolet rays to A pretreatment step for improving the fixing force to the die-bonding film;
After carrying out the pretreatment step, the ultraviolet curable expandable tape is expanded to apply an external force to the die bonding film and the wafer to divide the wafer and the die bonding film along the scheduled dividing line. A wafer unit processing method comprising: an expansion step.
該ウェーハユニットの該ウェーハは該分割予定ラインに沿って複数のチップへと分割されており、
該ウェーハユニットを加熱して該ダイボンド用フィルムを半硬化させて該ダイボンド用フィルムの該ウェーハに対する固定力を向上させるとともに該紫外線硬化型エキスパンドテープに紫外線を照射して該紫外線硬化型エキスパンドテープの該ダイボンド用フィルムに対する固定力を向上させる前処理ステップと、
該前処理ステップを実施した後、該紫外線硬化型エキスパンドテープを拡張して該ダイボンド用フィルムに外力を付与して該ダイボンド用フィルムを該チップの外周に沿って分割する拡張ステップと、を備えたことを特徴とするウェーハユニットの加工方法。 A UV curable expanding tape comprising a wafer in which devices are formed in regions divided by a plurality of division lines intersecting each other on the front surface and an ultraviolet curable expanding tape is attached to the back surface via a die bonding film. Is a processing method of a wafer unit, the outer periphery of which is attached to a ring frame,
The wafer of the wafer unit is divided into a plurality of chips along the division line.
The wafer unit is heated to semi-cure the die bonding film to improve the fixing force of the die bonding film to the wafer and to irradiate the ultraviolet curable expanding tape with ultraviolet rays to A pretreatment step for improving the fixing force to the die-bonding film;
After the pretreatment step, the ultraviolet curable expandable tape is expanded to apply an external force to the die bonding film to divide the die bonding film along the outer periphery of the chip. A method for processing a wafer unit, characterized in that:
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