JP6150014B2 - ひずみ測定方法、及びひずみ測定システム - Google Patents
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Description
こととする。
=((第1レーザ光の行路の変位量(=Δd1)
−第2レーザ光の行路の変位量(=Δd2))
・・・式1
=(第3レーザ光の行路の変位量(=Δd3)
−第4レーザ光の行路の変位量(=Δd4))
・・・式2
=(第1レーザ光の行路の変位量(=Δd1)
−第2レーザ光の行路の変位量(=Δd2))
+(第3レーザ光の行路の変位量(=Δd3)
−第4レーザ光の行路の変位量(=Δd4))
・・・式3
Claims (11)
- 被測定物の表面に生じるひずみの測定方法であって、
被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に第1レーザ変位計と第2レーザ変位計とを固定し、
被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、第1反射体と第2反射体とを、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置し、
前記第1反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第1反射体の変位量に応じて前記第1レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、
前記第2反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第1反射体が変位しても前記第2レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、
前記第1レーザ変位計の発光部から前記第1反射体に向けて出射した第1レーザ光を前記第1反射体の反射面で反射させて前記第1レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第1レーザ光の行路である第1行路の変化量を前記第1レーザ変位計により測定し、
前記第2レーザ変位計の発光部から前記第2反射体に向けて出射した第2レーザ光を前記第2反射体の反射面で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を前記第2レーザ変位計により測定し、
前記第1行路の変化量及び前記第2行路の変化量との差に基づき、前記測定対象部位に生じるひずみを求める
ひずみ測定方法。 - 請求項1に記載のひずみ測定方法であって、
前記被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に第3レーザ変位計と第4レーザ変位計とを固定し、
前記被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、第3反射体と第4反射体とを、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置し、
前記第1反射体及び第2反射体の組と前記第3反射体及び第4反射体の組とを、前記測定対象部位を夫々の間に挟むように配置し、
前記第3反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第3反射体の変位量に応じて前記第3レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、
前記第4反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第4反射体が変位しても前記第4レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、
前記第3レーザ変位計の発光部から前記第3反射体に向けて出射した第3レーザ光を前記第3反射体の反射面で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を前記第3レーザ変位計により測定し、
前記第4レーザ変位計の発光部から前記第4反射体に向けて出射した第4レーザ光を前記第4反射体の反射面で反射させて前記第4レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第4レーザ光の行路である第4行路の変化量を前記第4レーザ変位計により測定し、
前記第1行路の変化量から前記第2行路の変化量を差し引いた値と、前記第3行路の変化量から前記第4行路の変化量を差し引いた値との和を求めることにより、前記測定対象部位に生じるひずみを求める
ひずみ測定方法。 - 請求項2に記載のひずみ測定方法であって、
前記第1反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第2レーザ変位計との間の距離が直線的に変化するように傾斜する斜面形状であり、
前記第2反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状であり、
前記第3反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第3レーザ変位計との間の距離が直線的に変化する斜面形状であり、
前記第4反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状である
ひずみ測定方法。 - 被測定物の表面に生じるひずみの測定システムであって、
被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に固定される、第1レーザ変位計及び第2レーザ変位計と、
被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置される、第1反射体と第2反射体と、
を備え、
前記第1反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第1反射体の変位量に応じて前記第1レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、
前記第2反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第1反射体が変位しても前記第2レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、
前記第1レーザ変位計は、前記第1レーザ変位計の発光部から前記第1反射体に向けて出射した第1レーザ光を前記第1反射体の反射面で反射させて前記第1レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第1レーザ光の行路である第1行路の変化量を測定し、
前記第2レーザ変位計は、前記第2レーザ変位計の発光部から前記第2反射体に向けて出射した第2レーザ光を前記第2反射体の反射面で反射させて前記第2レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第2レーザ光の行路である第2行路の変化量を測定する
ひずみ測定システム。 - 請求項4に記載のひずみ測定システムであって、
前記被測定物の表面から所定距離離れた前記被測定物とは異なる構造物に固定される、第3レーザ変位計と第4レーザ変位計と、
前記被測定物の表面の測定対象部位の近傍に、いずれもその反射面を前記構造物の方向に向けて隣接して配置される、第3反射体と第4反射体と、
を更に備え、
前記第1反射体及び第2反射体の組と前記第3反射体及び第4反射体の組とは、前記測定対象部位を夫々の間に挟むように配置され、
前記第3反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因る前記第3反射体の変位量に応じて前記第3レーザ変位計との間の距離が変化する形状を呈し、
前記第4反射体の反射面は、前記被測定物の表面に生じたひずみに因り前記第4反射体が変位しても前記第4レーザ変位計との間の距離が変化しない形状を呈し、
前記第3レーザ変位計は、前記第3レーザ変位計の発光部から前記第3反射体に向けて出射した第3レーザ光を前記第3反射体の反射面で反射させて前記第3レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第3レーザ光の行路である第3行路の変化量を測定し、
前記第4レーザ変位計は、前記第4レーザ変位計の発光部から前記第4反射体に向けて出射した第4レーザ光を前記第4反射体の反射面で反射させて前記第4レーザ変位計の受光部に入射させた場合における前記第4レーザ光の行路である第4行路の変化量を測定し、
ひずみ測定システム。 - 請求項5に記載のひずみ測定システムであって、
前記第1反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第2レーザ変位計との間の距離が直線的に変化するように傾斜する斜面形状であり、
前記第2反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状であり、
前記第3反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に沿って前記第3レーザ変位計との間の距離が直線的に変化する斜面形状であり、
前記第4反射体の反射面は、前記ひずみが生じる方向に平行な平面形状である
ひずみ測定システム。 - 請求項4に記載のひずみ測定システムであって、
前記第1反射体の反射面及び前記第2反射体の反射面は、金属板又はセラミックス板で構成されている、
ひずみ測定システム。 - 請求項4に記載のひずみ測定システムであって、
前記第1反射体の反射面及び前記第2反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する、
ひずみ測定システム。 - 請求項5に記載のひずみ測定システムであって、
前記第1反射体乃至前記第4反射体の反射面は、金属板又はセラミックス板で構成されている、
ひずみ測定システム。 - 請求項5に記載のひずみ測定システムであって、
前記第1反射体乃至前記第4反射体の反射面は、鏡面加工が施された金属膜の表面にサファイアガラスをコーティングした構造を有する、
ひずみ測定システム。 - 請求項4乃至10のいずれか一項に記載のひずみ測定システムであって、
前記被測定物は、火力発電プラントの高温配管であり、前記構造物は、前記火力発電プラントが収容されている建屋の一部である
ひずみ測定システム。
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