JP6149944B2 - 検知方法及び検知装置 - Google Patents
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Description
以下、添付の図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。なお、図面の寸法比率は、説明の都合上誇張されており、実際の比率とは異なる場合がある。
まず、図1〜図4を参照して、シート積層装置100により形成されるリチウムイオン二次電池10について説明する。図1は、リチウムイオン二次電池10の外観を表した斜視図である。図2は、リチウムイオン二次電池10の分解斜視図である。図3は、袋詰正極20及び負極30の平面図である。図4は、袋詰正極20に負極30を重ねた様子を示す平面図である。
次に、発電要素15を組み立てるためのシート積層装置100について説明する。
以上のように構成されるシート積層装置100を用いて、正極供給テーブル120及び負極供給テーブル130上に位置調整して載置される袋詰正極20及び負極30が、積層ロボット110によりピックアップされ、積層ステージ140に交互に提供される。以下、図9〜図11を参照して、シート積層装置100の積層動作について説明する。
次に、上述したシート積層装置100に適用される検査システム200について説明する。
次に、図12を参照して、第1実施形態に係る、袋詰正極20の検査方法について説明する。袋詰正極20の検査方法では、袋詰正極20の位置補正、セパレータ40の折れ検知、及びセパレータ40の位置検査が行われる。
次に、本発明の第2実施形態を説明する。第1実施形態と共通する部分は説明を省略し、第2実施形態のみに特徴のある箇所について説明する。第2実施形態に係る袋詰正極20の検査方法は、カメラ80によって撮像を3回する点において、第1実施形態に係る検査方法と異なる。リチウムイオン二次電池10の構成及びシート積層装置100の構成は第1実施形態と同様であるため、説明は省略する。
上述した第1,第2実施形態では、1つの袋詰正極20に設けられる2つのセパレータ40の折れを検知する方法について説明した。しかしながら、これに限られず、複数の袋詰正極20及び負極30が積層された積層体におけるセパレータ40の折れを検知してもよい。積層体におけるセパレータ40の枚数がn枚であるときを例に挙げて説明する。このとき、撮像工程において、セパレータ40がn枚重なっている部分とセパレータがn−1枚以下の部分とにおいて、互いに異なるグレー値を有するように、袋詰正極20(積層体)に光を照射しつつ袋詰正極20(積層体)を撮像すればよい。これによって、積層体におけるセパレータ40の折れを検知することができる。
15 発電要素、
20 袋詰正極、
24 正極、
30 負極、
40 セパレータ、
70 透過用光源(照射手段)、
80 カメラ(撮像手段)、
100 シート積層装置、
160 制御部、
200 検査システム、
R1 グレー色部分、
R2A 白色部分、
R3 黒色部分、
S01 第1撮像工程(撮像工程)、
S02 識別工程、
S05,S15 グレー色部分検出工程(検出工程)、
S06,S16 折れ判別工程(判別工程)、
S14 第2撮像工程(撮像工程)。
Claims (6)
- 袋状に形成されたセパレータ内に電極が配置された袋詰電極に光を照射して、前記セパレータの折れを検知する検知方法であって、
前記光がn枚のセパレータを透過した第1部分とn−1枚以下のセパレータを透過した第2部分とにおいて、互いに異なる明度を有するように、前記袋詰電極に前記光を照射しつつ前記袋詰電極を撮像する撮像工程と、
前記撮像工程において前記袋詰電極を撮像して得られた画像の明度から、前記第1部分を検出する検出工程と、
前記検出工程において検出された前記第1部分と前記光が透過しない前記電極の部分とのエッジ間の距離に基づいて、前記セパレータの折れを判別する判別工程と、
を有する検知方法。 - 前記撮像工程の前に、前記第1部分と前記第2部分とにおいて、互いに異なる明度を有するように、前記光の強度を調整する調整工程をさらに有する請求項1に記載の検知方法。
- 前記調整工程において、
前記第2部分では、前記セパレータの外側の領域における明度と同じ値となり、
前記第1部分では、前記セパレータの外側の領域における前記明度より低い値となるように前記光の強度が調整される請求項2に記載の検知方法。 - 前記撮像工程において前記袋詰電極を撮像して得られた前記画像において、所定の明度以上の部分を除去して、前記電極の外周端を識別する識別工程を、前記撮像工程及び前記検出工程の間にさらに有する請求項1〜3のいずれか1項に記載の検知方法。
- 前記撮像工程において前記袋詰電極を撮像して得られた前記画像において、透過したセパレータの枚数が同じでも常に明度に差が生じる領域が存在する場合、当該領域間の明度の差を補正する補正工程をさらに有する請求項1〜4のいずれか1項に記載の検知方法。
- 袋状に形成されたセパレータ内に電極が配置された袋詰電極に光を照射して、前記セパレータの折れを検知する検知装置であって、
前記光がn枚のセパレータを透過した第1部分とn−1枚以下のセパレータを透過した第2部分とにおいて、互いに異なる明度を有するように、照射手段によって前記袋詰電極に前記光を照射しつつ前記袋詰電極を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段によって前記袋詰電極を撮像して得られた画像の明度から、前記第1部分を検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された前記第1部分と前記光が透過しない前記電極の部分とのエッジ間の距離に基づいて、前記セパレータの折れを判別する判別手段と、
を有する検知装置。
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