JP6144976B2 - 情報処理装置、組み付け装置、情報処理方法、及びプログラム - Google Patents
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Description
距離測定のための測定パターンを測定対象に照射する照射手段と、
前記測定パターンが照射されている前記測定対象を含む撮像画像を取得する撮像手段と、
前記撮像手段が取得する撮像画像のうち、相対的に多くの光を前記撮像手段へと反射する前記測定対象の第1部分を含む第1領域と、相対的に少ない光を前記撮像手段へと反射する前記測定対象の第2部分を含む第2領域と、を検出する第1の検出手段と、
前記測定パターンのうち、前記第1部分に照射される第3領域と、前記第2部分に照射される第4領域と、を検出する第2の検出手段と、
前記第3領域における照射光量が、前記第4領域における照射光量より少なくなるように、領域により照射光量が異なる測定パターンを生成する生成手段と、
前記生成された測定パターンを前記照射手段に照射させる指示手段と、
前記生成された測定パターンが照射された前記測定対象を含む撮像画像を前記撮像手段から取得し、該取得した撮像画像を用いて前記測定対象までの距離を導出する導出手段と、
を備え、
前記第1の検出手段は、予備測定パターンが照射された前記測定対象を含む撮像画像から、前記第1領域と前記第2領域とを検出し、
前記生成手段は、前記第3領域における照射光量を少なくすることと、前記第4領域における照射光量を多くすることと、のうちの少なくとも一方を行うように、前記予備測定パターンを修正することにより、前記測定パターンを生成することを特徴とする。
以下で、本発明の実施形態1について説明する。本実施形態に係る組み付け装置13は、図1に示すように、計測装置12と、ロボットハンド機構131(把持装置)とを備える。ロボットハンド機構131は、ロボットハンドと、ロボットハンドを制御する制御装置とを備える。ロボットハンド機構131の制御装置は、計測装置12から取得した距離情報を参照しながら、ロボットハンドが把持する物体(把持部品)を組み付け対象の物体に組み付けるようにロボットハンドを制御する。計測装置12は、ロボットハンド機構131に、把持部品又は組み付け対象(以下、測定対象と呼ぶ)についての距離情報を提供する。すなわち、把持部品及び組み付け対象は、測定対象の一部である。
以下で、本発明の実施形態2について説明する。実施形態2は、組み付け対象に照射する照明パターンの強度を、組み付け対象204と3次元計測装置201との距離に応じて変化させる点で、第1の実施形態と異なる。本実施形態によれば、組み付け対象204と、3次元計測装置201との距離が変化しても、適切な照射光を照射することができる。把持部品203と3次元計測装置201との距離は変化しないため、把持部品203への照射光の強度の決定は、実施形態1と同様に行われる。
以下に、本発明の実施形態3について説明する。実施形態3において、強度分布決定部114は、測定対象の設計情報、及び3次元計測装置201と測定対象との間の相対位置姿勢情報を用いて、照明強度を決定する。以下で、実施形態3における処理の流れを説明する。本実施形態に係る装置及び処理方法は実施形態1と同様であり、同様の構成については説明を省略する。本実施形態の処理と、実施形態1の処理とは、ステップS1030の処理が異なる点と、ステップS1030とステップS1040との間にステップS1035が追加されている点で異なる。
以下で、本発明の実施形態4について説明する。本実施形態では、図6に示すように、測定対象の表面に模様がある場合、又は測定対象が複雑な三次元形状を有している場合にも、距離計測のためにより適した照明パターンを生成することができる。本実施形態に係る装置の構成は、実施形態1と同様である。以下では、実施形態1と同様の構成については、説明を省略する。
実施形態4では把持部品に対する照明強度及び把持部品以外に対する照明強度を修正しながら照明パターンを生成した。この変形例においては、照明パターンの各位置における照明強度を独立に修正しながら照明パターンを生成する。本変形例に係る装置は、強度分布決定部114及び画像分割部116を有さなくてもよい。また、ステップS4010は省略することができる。以下に、実施形態4との相違点について説明する。
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給する。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)がプログラムコードを読み出して実行する。この場合、そのプログラム、及び該プログラムを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
Claims (19)
- 距離測定のための測定パターンを測定対象に照射する照射手段と、
前記測定パターンが照射されている前記測定対象を含む撮像画像を取得する撮像手段と、
前記撮像手段が取得する撮像画像のうち、相対的に多くの光を前記撮像手段へと反射する前記測定対象の第1部分を含む第1領域と、相対的に少ない光を前記撮像手段へと反射する前記測定対象の第2部分を含む第2領域と、を検出する第1の検出手段と、
前記測定パターンのうち、前記第1部分に照射される第3領域と、前記第2部分に照射される第4領域と、を検出する第2の検出手段と、
前記第3領域における照射光量が、前記第4領域における照射光量より少なくなるように、領域により照射光量が異なる測定パターンを生成する生成手段と、
前記生成された測定パターンを前記照射手段に照射させる指示手段と、
前記生成された測定パターンが照射された前記測定対象を含む撮像画像を前記撮像手段から取得し、該取得した撮像画像を用いて前記測定対象までの距離を導出する導出手段と、
を備え、
前記第1の検出手段は、予備測定パターンが照射された前記測定対象を含む撮像画像から、前記第1領域と前記第2領域とを検出し、
前記生成手段は、前記第3領域における照射光量を少なくすることと、前記第4領域における照射光量を多くすることと、のうちの少なくとも一方を行うように、前記予備測定パターンを修正することにより、前記測定パターンを生成することを特徴とする情報処理装置。 - 前記測定パターンは、符号情報を有するパターンであり、
前記第2の検出手段は、前記測定パターンが照射されている前記測定対象を含む前記撮像画像と、前記測定パターンが備える符号情報と、前記第1の検出手段が検出した前記撮像画像の前記第1領域及び前記第2領域とに基づいて、前記測定パターンの前記第3領域及び前記第4領域を検出することを特徴とする、請求項1に記載の情報処理装置。 - 前記第1の検出手段は、前記撮像画像の輝度分布に基づいて、前記第1領域又は前記第2領域を検出することを特徴とする、請求項1又は2に記載の情報処理装置。
- 前記第1の検出手段は、前記撮像手段から取得した前記第1部分又は前記第2部分を含む撮像画像と、前記撮像手段から取得した前記第1部分又は前記第2部分を含まない撮像画像と、を比較することにより前記撮像画像の前記第1領域又は前記第2領域を検出することを特徴とする、請求項1乃至3の何れか1項に記載の情報処理装置。
- 前記生成手段は、前記第1部分と前記第2部分との少なくとも一方の部分について、前記撮像手段から取得した撮像画像のうち該部分に対応する領域に含まれる画素の画素値に従って、該部分に照射される領域における照射光量を決定することを特徴とする、請求項1乃至4の何れか1項に記載の情報処理装置。
- 前記生成手段は、前記第1部分と前記第2部分との少なくとも一方の部分について、該部分に対応する領域に含まれる画素の画素値の統計値を算出し、該部分に照射される領域における照射光量として、該算出された統計値に対応する照射光量をルックアップテーブルを参照して取得することを特徴とする、請求項5に記載の情報処理装置。
- 前記生成手段は、第1の撮像画像を用いて算出された画素値の統計値と、前記第1の撮像画像とは前記測定対象の照明状態が異なる第2の撮像画像を用いて算出された画素値の統計値と、に対応する照射光量を前記ルックアップテーブルを参照して取得することを特徴とする、請求項6に記載の情報処理装置。
- 前記生成手段は、前記第1部分と前記第2部分との少なくとも一方の部分について、前記撮像手段から取得した撮像画像のうち該部分に対応する領域に含まれる画素の画素値に従って該部分の属性を検出し、該検出した属性に対応する照射光量をルックアップテーブルを参照して取得することを特徴とする、請求項5に記載の情報処理装置。
- 前記属性は、前記部分に対応する物体を識別する情報、又は前記部分の材質を識別する情報であることを特徴とする、請求項8に記載の情報処理装置。
- 前記生成手段は、前記第1部分と前記第2部分との少なくとも一方の部分について、各色成分についての前記統計値を算出し、当該各色成分についての統計値に対応する照射光量を前記ルックアップテーブルを参照して取得することを特徴とする、請求項6又は7に記載の情報処理装置。
- 前記第1部分と前記第2部分との少なくとも一方の部分について、該部分までの距離を取得する距離取得手段をさらに有し、
前記生成手段は、該部分までの距離に従って、該部分に照射される領域における照射光量を決定することを特徴とする、請求項1乃至10の何れか1項に記載の情報処理装置。 - 前記生成手段は、前記照射手段、前記撮像手段及び前記測定対象の位置姿勢情報、並びに前記測定対象の光反射率を示す情報に従って、前記照射光量を決定することを特徴とする、請求項1に記載の情報処理装置。
- 前記生成手段は、前記照射手段から照射され、前記測定対象により前記撮像手段へと反射される光量を推定し、該推定に従って前記照射光量を決定することを特徴とする、請求項12に記載の情報処理装置。
- 前記照射光量は色成分毎に異なり、
前記第2部分は、着目色成分について、前記第1部分よりも少ない光を前記撮像手段へと反射し、
前記測定パターンにおいて、前記第3領域における前記着目色成分の照射光量は、前記第4領域における当該着目色成分の照射光量より少ない
ことを特徴とする、請求項1乃至13の何れか1項に記載の情報処理装置。 - 前記測定パターンは空間符号化法に用いられる縞パターンであることを特徴とする請求項1乃至14の何れか1項に記載の情報処理装置。
- 測定対象の一部である第1物体までの距離、及び前記測定対象の一部である第2物体までの距離を計測する、請求項1乃至15の何れか1項に記載の情報処理装置と、
前記測定対象の一部である第1物体を把持する把持手段と、
前記計測された距離に従って、前記把持手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする組み付け装置。 - 前記把持手段が前記照射手段及び前記撮像手段を備えることを特徴とする、請求項16に記載の組み付け装置。
- 情報処理装置が行う情報処理方法であって、
照射手段に、距離測定のための測定パターンを測定対象に照射させる照射工程と、
撮像手段に、前記測定パターンが照射されている前記測定対象を含む撮像画像を取得させる撮像工程と、
前記撮像手段が取得する撮像画像のうち、相対的に多くの光を前記撮像手段へと反射する前記測定対象の第1部分を含む第1領域と、相対的に少ない光を前記撮像手段へと反射する前記測定対象の第2部分を含む第2領域と、を検出する第1の検出工程と、
前記測定パターンのうち、前記第1部分に照射される第3領域と、前記第2部分に照射される第4領域と、を検出する第2の検出工程と、
前記第3領域における照射光量が、前記第4領域における照射光量より少なくなるように、領域により照射光量が異なる測定パターンを生成する生成工程と、
前記生成された測定パターンを前記照射手段に照射させる指示工程と、
前記生成された測定パターンが照射された前記測定対象を含む撮像画像を前記撮像手段から取得し、該取得した撮像画像を用いて前記測定対象までの距離を導出する導出工程と、
を有し、
前記第1の検出工程では、予備測定パターンが照射された前記測定対象を含む撮像画像から、前記第1領域と前記第2領域とを検出し、
前記生成工程では、前記第3領域における照射光量を少なくすることと、前記第4領域における照射光量を多くすることと、のうちの少なくとも一方を行うように、前記予備測定パターンを修正することにより、前記測定パターンを生成することを特徴とする情報処理方法。 - コンピュータに、
照射手段に、距離測定のための測定パターンを測定対象に照射させる照射工程と、
撮像手段に、前記測定パターンが照射されている前記測定対象を含む撮像画像を取得させる撮像工程と、
前記撮像手段が取得する撮像画像のうち、相対的に多くの光を前記撮像手段へと反射する前記測定対象の第1部分を含む第1領域と、相対的に少ない光を前記撮像手段へと反射する前記測定対象の第2部分を含む第2領域と、を検出する第1の検出工程と、
前記測定パターンのうち、前記第1部分に照射される第3領域と、前記第2部分に照射される第4領域と、を検出する第2の検出工程と、
前記第3領域における照射光量が、前記第4領域における照射光量より少なくなるように、領域により照射光量が異なる測定パターンを生成する生成工程と、
前記生成された測定パターンを前記照射手段に照射させる指示工程と、
前記生成された測定パターンが照射された前記測定対象を含む撮像画像を前記撮像手段から取得し、該取得した撮像画像を用いて前記測定対象までの距離を導出する導出工程と、
を実行させるプログラムであって、
前記第1の検出工程では、予備測定パターンが照射された前記測定対象を含む撮像画像から、前記第1領域と前記第2領域とを検出し、
前記生成工程では、前記第3領域における照射光量を少なくすることと、前記第4領域における照射光量を多くすることと、のうちの少なくとも一方を行うように、前記予備測定パターンを修正することにより、前記測定パターンを生成することを特徴とするプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013134202A JP6144976B2 (ja) | 2013-06-26 | 2013-06-26 | 情報処理装置、組み付け装置、情報処理方法、及びプログラム |
US14/310,349 US9714829B2 (en) | 2013-06-26 | 2014-06-20 | Information processing apparatus, assembly apparatus, information processing method, and storage medium that generate a measurement pattern having different amounts of irradiation light depending on imaging regions |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013134202A JP6144976B2 (ja) | 2013-06-26 | 2013-06-26 | 情報処理装置、組み付け装置、情報処理方法、及びプログラム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015010844A JP2015010844A (ja) | 2015-01-19 |
JP2015010844A5 JP2015010844A5 (ja) | 2016-05-12 |
JP6144976B2 true JP6144976B2 (ja) | 2017-06-07 |
Family
ID=52115644
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013134202A Active JP6144976B2 (ja) | 2013-06-26 | 2013-06-26 | 情報処理装置、組み付け装置、情報処理方法、及びプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9714829B2 (ja) |
JP (1) | JP6144976B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9648698B2 (en) * | 2015-05-20 | 2017-05-09 | Facebook, Inc. | Method and system for generating light pattern using polygons |
US20170243582A1 (en) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Hearing assistance with automated speech transcription |
KR101932216B1 (ko) * | 2017-09-13 | 2018-12-24 | 주식회사 에프앤디파트너스 | 광특성가변식 패턴광을 이용한 3차원 형상 측정 방법 및 그 장치 |
JP7317732B2 (ja) * | 2020-01-20 | 2023-07-31 | 株式会社東芝 | 推定装置、物体搬送システム、推定方法、およびプログラム |
JP7540170B2 (ja) * | 2020-03-12 | 2024-08-27 | オムロン株式会社 | 三次元形状計測装置 |
JP2022049874A (ja) * | 2020-09-17 | 2022-03-30 | オムロン株式会社 | 検査装置、検査方法及び検査プログラム |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4905034A (en) | 1986-03-25 | 1990-02-27 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Automatic focusing projector |
JPS63288695A (ja) * | 1987-05-22 | 1988-11-25 | 株式会社東芝 | 位置ずれ検出装置 |
TW399186B (en) | 1997-12-10 | 2000-07-21 | Canon Kk | Image processing apparatus and image processing method |
JP2000241131A (ja) | 1998-12-22 | 2000-09-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レンジファインダ装置および撮像装置 |
US6876392B1 (en) | 1998-12-22 | 2005-04-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Rangefinder for obtaining information from a three-dimensional object |
JP2001282426A (ja) | 2000-03-30 | 2001-10-12 | Canon Inc | データ通信システム、装置、方法及び記憶媒体 |
JP3884321B2 (ja) | 2001-06-26 | 2007-02-21 | オリンパス株式会社 | 3次元情報取得装置、3次元情報取得における投影パターン、及び、3次元情報取得方法 |
JP2003069998A (ja) | 2001-08-28 | 2003-03-07 | Canon Inc | 画像処理装置及び画像処理方法 |
JP4077754B2 (ja) | 2003-04-04 | 2008-04-23 | オリンパス株式会社 | 3次元形状測定装置 |
JP4261986B2 (ja) | 2003-05-30 | 2009-05-13 | キヤノン株式会社 | 制御装置、制御方法、および記録媒体 |
JP4208726B2 (ja) | 2004-01-14 | 2009-01-14 | キヤノン株式会社 | 画像表示装置、画像表示方法および画像表示プログラム |
JP2006003212A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Konica Minolta Sensing Inc | 位相計測システム |
JP4701948B2 (ja) * | 2005-09-21 | 2011-06-15 | オムロン株式会社 | パタン光照射装置、3次元形状計測装置、及びパタン光照射方法 |
JP5522893B2 (ja) * | 2007-10-02 | 2014-06-18 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
WO2009124118A1 (en) * | 2008-04-01 | 2009-10-08 | Perceptron, Inc. | Contour sensor incorporating mems mirrors |
JP5161024B2 (ja) * | 2008-10-10 | 2013-03-13 | 富士フイルム株式会社 | 3次元形状計測用撮影装置および方法並びにプログラム |
US20100268069A1 (en) * | 2009-04-16 | 2010-10-21 | Rongguang Liang | Dental surface imaging using polarized fringe projection |
JP5578844B2 (ja) * | 2009-12-21 | 2014-08-27 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
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JP5576726B2 (ja) * | 2010-06-29 | 2014-08-20 | キヤノン株式会社 | 三次元計測装置、三次元計測方法、及びプログラム |
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EP2821748B1 (en) * | 2012-03-01 | 2019-07-31 | Nissan Motor Co., Ltd | Range finding device and range finding method |
JP6192297B2 (ja) * | 2013-01-16 | 2017-09-06 | キヤノン株式会社 | 被検体情報取得装置、表示制御方法、およびプログラム |
JP2014186206A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Hitachi Media Electoronics Co Ltd | 光照射装置 |
-
2013
- 2013-06-26 JP JP2013134202A patent/JP6144976B2/ja active Active
-
2014
- 2014-06-20 US US14/310,349 patent/US9714829B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015010844A (ja) | 2015-01-19 |
US20150003685A1 (en) | 2015-01-01 |
US9714829B2 (en) | 2017-07-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160316 |
|
A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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