JP6015518B2 - 磁気特性測定方法及び装置 - Google Patents
磁気特性測定方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6015518B2 JP6015518B2 JP2013064424A JP2013064424A JP6015518B2 JP 6015518 B2 JP6015518 B2 JP 6015518B2 JP 2013064424 A JP2013064424 A JP 2013064424A JP 2013064424 A JP2013064424 A JP 2013064424A JP 6015518 B2 JP6015518 B2 JP 6015518B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- magnetic field
- plate sample
- magnetic plate
- measuring apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
第1実施形態による磁気特性測定装置及び磁気特性測定方法について図1乃至図5を用いて説明する。
Hx(Z)=Hx(−Z)
の関係が成立する。したがって、Hx(Z)をZの冪級数で展開すると、Zの偶数次数の項のみが残る。2つの磁性板試料12A,12Bの内側表面の磁界Hx(Zs)(=Hz(−Zs))は、3次の冪までの近似では、Hx(0)とHx(Z1)を用いて、
Hx(Zs)≒Hx(0)+[Hx(Z1)−Hx(0)]×(Zs/Z1)2
と表される。通常、磁性板試料の内部磁界の厚み方向での磁界分布はほぼ一様とみなせるので、磁性板試料の内部磁界は表面磁界Hx(Zs)で近似することができる。
Hx(Zs)≒[(Z12×Hx(Z2)−Z22×Hx(Z1))
+(Hx(Z1)−Hx(Z2))×Zs2]/(Z12−Z22)
と表されるので、|Z1|≠|Z2|として、Z1の位置に置いた磁界センサ18Aにより磁界Hx(Z1)を検出し、Z2の位置に置いた磁界センサ18Bにより磁界Hx(Z2)を検出し、CPU40により上の式を用いてHx(Zs)を算出することで、磁性板試料12A,12Bの内部磁界を高精度の近似で求めることができる。ここで、第1の位置と第2の位置は一つのZ軸上の位置であり、さらには、このZ軸は図1の測定系の中央を原点とする軸であることが理想であるが、磁界分布の一様性が十分保たれる範囲であれば、1つのZ軸上に位置していなくてもよい。
第2実施形態による磁気特性測定装置及び磁気特性測定方法について図6乃至図10を用いて説明する。図1乃至図4に示す第1実施形態による磁気特性測定装置及び磁気特性測定方法と同様の構成要素には同一の符号を付し説明を省略し或いは簡潔にする。
第3実施形態による磁気特性測定装置及び磁気特性測定方法について図11乃至図16を用いて説明する。図1乃至図10に示す第1及び第2実施形態による磁気特性測定装置及び磁気特性測定方法と同様の構成要素には同一の符号を付し説明を省略し或いは簡潔にする。
δr(2D−DST,Z)≡[Hx(Z)−Hx(2.25mm)]/Hx(2.25mm)
を励磁コイルの電流を変えながら計算した。これが2D−DSTにおける磁界センサの測定誤差を比率で表した値となる。
δr(2D−SST,Z)≡[Hx(Z)−Hx(0)]/Hx(0)
を励磁コイルの電流を変えながら計算した。これが2D−SSTにおける磁界センサの測定誤差を比率で表した値となる。
上記実施形態に限らず種々の変形が可能である。
前記第1の磁性板試料から離間して平行に配置された第2の磁性板試料と、
前記第1の磁性板試料及び前記第2の磁性板試料の表面に平行な方向の成分を有する磁界を印加する磁界印加手段と、
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との間の第1の位置に配置された第1の磁界センサと、
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との間の第2の位置に配置された第2の磁界センサとを有し、
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との中間の平面からの前記第1の位置と前記第2の位置の距離の絶対値が異なる
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記第1の磁性板試料に設けられた磁束密度センサを更に有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記第1の磁界センサにより検出した第1の磁界の強さと、前記第2の磁界センサにより検出した第2の磁界の強さに基づき前記第1の磁性板試料内の磁界を算出する演算装置を更に有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記演算手段は、前記第1の磁界の強さ及び前記第2の磁界の強さを、前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との中間の位置に対称な2次曲線で外挿することにより、前記第1の磁性板試料内の磁界を算出する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記磁界印加手段は、第1の方向に磁界を印加する第1の磁界印加手段と、前記第1の方向と交差する第2の方向に磁界を印加する第2の磁界印加手段とを有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記第2の磁性板試料の磁区状態を観察する磁区観察手段を更に有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記磁界印加手段は、前記第1の磁性板試料及び前記第2の磁性板試料の一端部に配置された第1の磁界印加手段と、前記第1の磁性板試料及び前記第2の磁性板試料の他端部に配置された第2の磁界印加手段とを有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料とは、同じ材料からなり形状が等しい
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記第1の磁性板試料及び前記第2の磁性板試料は、同じ枚数の複数の磁性板試料を重ねたものである
ことを特徴とする磁気特性測定装置。
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との中間の位置に配置された第1の磁界センサにより第1の磁界を検出し、
前記第2の磁性板試料と前記第1の磁界センサとの間に配置された第2の磁界センサにより第2の磁界を検出し、
前記第1の磁界センサにより検出した前記第1の磁界の強さと、前記第2の磁界センサにより検出した前記第2の磁界の強さに基づいて、前記第1の磁性板試料内の磁界を算出する
ことを特徴とする磁気特性測定方法。
前記第1の磁性板試料に設けられた磁束密度センサにより、前記第1の磁性板試料内の磁束密度を更に検出する
ことを特徴とする磁気特性測定方法。
12A,12B…磁性板試料
14…スペーサ
16,16A,16B,16C,16D…励磁コイル
18A,18B…磁界センサ
20…磁束密度センサ
22…リターンヨーク
24…固定ブロック
26…サイドヨーク
30…DST制御装置
40…CPU
50…モニタ
60…顕微鏡
70…ボビン
72,74,80,82…コイル
76,78…開口部
Claims (7)
- 第1の磁性板試料と、
前記第1の磁性板試料から離間して平行に配置された第2の磁性板試料と、
前記第1の磁性板試料及び前記第2の磁性板試料の表面に平行な方向の成分を有する磁界を印加する磁界印加手段と、
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との間の第1の位置に配置された第1の磁界センサと、
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との間の第2の位置に配置された第2の磁界センサとを有し、
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との中間の平面からの前記第1の位置と前記第2の位置の距離の絶対値が異なる
ことを特徴とする磁気特性測定装置。 - 請求項1記載の磁気特性測定装置において、
前記第1の磁性板試料に設けられた磁束密度センサを更に有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。 - 請求項1又は2記載の磁気特性測定装置において、
前記第1の磁界センサにより検出した第1の磁界の強さと、前記第2の磁界センサにより検出した第2の磁界の強さに基づき前記第1の磁性板試料内の磁界を算出する演算装置を更に有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。 - 請求項3記載の磁気特性測定装置において、
前記演算手段は、前記第1の磁界の強さ及び前記第2の磁界の強さを、前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との中間の位置に対称な2次曲線で外挿することにより、前記第1の磁性板試料内の磁界を算出する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。 - 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の磁気特性測定装置において、
前記磁界印加手段は、第1の方向に磁界を印加する第1の磁界印加手段と、前記第1の方向と交差する第2の方向に磁界を印加する第2の磁界印加手段とを有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。 - 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の磁気特性測定装置において、
前記第2の磁性板試料の磁区状態を観察する磁区観察手段を更に有する
ことを特徴とする磁気特性測定装置。 - 互いに平行に配置された第1及び第2の磁性板試料に、前記第1の磁性板試料及び前記第2の磁性板試料の表面に平行な方向の成分を有する磁界を印加し、
前記第1の磁性板試料と前記第2の磁性板試料との中間の位置に配置された第1の磁界センサにより第1の磁界を検出し、
前記第2の磁性板試料と前記第1の磁界センサとの間に配置された第2の磁界センサにより第2の磁界を検出し、
前記第1の磁界センサにより検出した前記第1の磁界の強さと、前記第2の磁界センサにより検出した前記第2の磁界の強さに基づいて、前記第1の磁性板試料内の磁界を算出する
ことを特徴とする磁気特性測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013064424A JP6015518B2 (ja) | 2013-03-26 | 2013-03-26 | 磁気特性測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013064424A JP6015518B2 (ja) | 2013-03-26 | 2013-03-26 | 磁気特性測定方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014190745A JP2014190745A (ja) | 2014-10-06 |
JP6015518B2 true JP6015518B2 (ja) | 2016-10-26 |
Family
ID=51837148
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013064424A Expired - Fee Related JP6015518B2 (ja) | 2013-03-26 | 2013-03-26 | 磁気特性測定方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6015518B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110687486A (zh) * | 2019-10-11 | 2020-01-14 | 安徽万磁电子有限公司 | 一种用于检查磁瓦磁性的磁性强度检测装置及其检测方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6019433B2 (ja) * | 2015-02-17 | 2016-11-02 | 大分県 | 2方向hコイル間角度計測方法及び2方向hコイル間角度計測装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03160381A (ja) * | 1989-11-18 | 1991-07-10 | Asuka Denshi:Kk | 磁気カードの特性測定装置 |
JP2011220692A (ja) * | 2010-04-02 | 2011-11-04 | Nippon Steel Corp | 2次元磁気特性測定装置 |
-
2013
- 2013-03-26 JP JP2013064424A patent/JP6015518B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110687486A (zh) * | 2019-10-11 | 2020-01-14 | 安徽万磁电子有限公司 | 一种用于检查磁瓦磁性的磁性强度检测装置及其检测方法 |
CN110687486B (zh) * | 2019-10-11 | 2021-06-08 | 安徽万磁电子有限公司 | 一种用于检查磁瓦磁性的磁性强度检测装置及其检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014190745A (ja) | 2014-10-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10677755B2 (en) | Apparatus and method for detecting inner defects of steel plate | |
JP2013124989A (ja) | 簡易ベクトル磁気特性測定装置 | |
Cardelli et al. | Surface field measurements in vector characterization of Si-Fe magnetic steel samples | |
KR20170120167A (ko) | 로프 손상 진단 검사 장치 및 로프 손상 진단 검사 방법 | |
Gmyrek | Single sheet tester with variable dimensions | |
Kim et al. | Integration of Hall and giant magnetoresistive sensor arrays for real-time 2-D visualization of magnetic field vectors | |
Stupakov | Local non-contact evaluation of the ac magnetic hysteresis parameters of electrical steels by the Barkhausen noise technique | |
JP5885646B2 (ja) | 単板磁気特性測定方法および測定装置 | |
JP6015518B2 (ja) | 磁気特性測定方法及び装置 | |
Stupakov | Investigation of applicability of extrapolation method for sample field determination in single-yoke measuring setup | |
JP4736811B2 (ja) | 磁性体の複素透磁率測定装置の脚部間隔決定方法 | |
JP5293755B2 (ja) | 磁性体の複素透磁率測定装置およびこれを用いた磁性体の結晶粒径測定方法 | |
Bavendiek et al. | Magnetic anisotropy under arbitrary excitation in finite element models | |
Dou et al. | An improved cross-yoke SST for accurate 1-D and 2-D magnetic testing of Fe-Si sheets | |
Stupakov et al. | Applicability of local magnetic measurements | |
Perevertov | Increase of precision of surface magnetic field measurements by magnetic shielding | |
JP4192708B2 (ja) | 磁気センサ | |
JP6031505B2 (ja) | 電磁力平衡式計量装置 | |
Abdallh et al. | Local magnetic measurements in magnetic circuits with highly non-uniform electromagnetic fields | |
Zurek | Sensitivity to off-axis vector components of typical wire wound flat H-coil configurations | |
JP2001281311A (ja) | 外乱磁界キャンセル装置 | |
Abdallh et al. | A Rogowski–Chattock coil for local magnetic field measurements: sources of error | |
Dobler et al. | Studies of measurement uncertainties in the characterization of soft magnetic materials and their impact on the electric machine performance prediction | |
JP6822222B2 (ja) | 磁気特性測定器、磁気特性測定システム、および磁気特性測定方法 | |
Ripka et al. | A 3-phase current transducer based on microfluxgate sensors |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20151106 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160822 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160830 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160912 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6015518 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |