JP6011865B2 - Secondary battery short circuit inspection method - Google Patents
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Description
本発明は、車両に搭載される二次電池の短絡を検査する二次電池の短絡検査方法に関する。 The present invention relates to a secondary battery short circuit inspection method for inspecting a short circuit of a secondary battery mounted on a vehicle.
従来から、二次電池の製造工程等においては、二次電池の電圧降下量の増大や、熱的安定性および充放電特性の低下等の原因となる短絡(微小短絡)の有無を検査している(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, in secondary battery manufacturing processes, etc., the presence or absence of short-circuits (micro short-circuits) that cause an increase in the voltage drop of the secondary battery and a decrease in thermal stability and charge / discharge characteristics has been inspected. (For example, refer to Patent Document 1).
特許文献1に開示される二次電池検査方法では、二次電池を第一のSOC(State Of Charge、例えば、100%に近い状態)まで充電した後で、二次電池を恒温室内で一定期間(例えば、約12日間)放置する。そして、特許文献1に開示される二次電池検査方法では、二次電池を放電させて第二のSOC(例えば、約0%の状態)まで下げる。
その後、特許文献1に開示される二次電池検査方法では、自己放電に伴う電圧降下が小さくなる程度に低い温度まで二次電池の温度を低くして、二次電池を一定期間(例えば、約8日間)放置する。特許文献1に開示される二次電池検査方法では、当該放置時における二次電池の電圧値を測定して電圧降下度を検出し、当該電圧降下度に基づいて微小短絡を判定する。
In the secondary battery inspection method disclosed in
Thereafter, in the secondary battery inspection method disclosed in
二次電池は、例えば、外部からの衝撃、あるいは、使用時における内部の化学反応等によって、出荷後に短絡してしまう可能性がある。 A secondary battery may be short-circuited after shipment due to, for example, an external impact or an internal chemical reaction during use.
特許文献1に開示される二次電池検査方法は、二次電池を恒温室内で一定期間放置したときの電圧値を測定する等、出荷前に二次電池の短絡を検査することを想定したものである。
The secondary battery inspection method disclosed in
また、出荷後に自動車等の車両に搭載される二次電池は、複数の二次電池と直列接続(あるいは並列接続)されて電池パックを構成する。このような電池パックには、一般的に、複数の二次電池の電圧を揃える、より詳細には、電圧が低い一の二次電池の電圧に、他の二次電池の電圧を合わせるための均等化回路が設けられる。 A secondary battery mounted on a vehicle such as an automobile after shipment is connected in series (or connected in parallel) with a plurality of secondary batteries to form a battery pack. In such a battery pack, generally, the voltages of a plurality of secondary batteries are aligned, and more specifically, the voltage of one secondary battery having a low voltage is matched with the voltage of another secondary battery. An equalization circuit is provided.
従って、図14に示すように、電圧降下度に基づいて微小短絡を判定する場合、均等化回路によって電圧が揃えられてしまい、その結果、二次電池の電圧降下度を正確に算出できない可能性がある(図14(b)に示す矢印参照)。 Therefore, as shown in FIG. 14, when a micro short circuit is determined based on the voltage drop degree, the voltage is aligned by the equalization circuit, and as a result, the voltage drop degree of the secondary battery may not be accurately calculated. (See the arrow shown in FIG. 14B).
つまり、特許文献1に開示される二次電池検査方法では、検査に必要な情報を取得するための設備が必要であったり、均等化回路が存在していたりすること等により、出荷後に車両に搭載される二次電池の短絡を正確に検出することが困難であった。
That is, in the secondary battery inspection method disclosed in
本発明は、以上の如き状況を鑑みてなされたものであり、車両に搭載される二次電池の短絡を正確に検出できる二次電池の短絡検査方法を提供するものである。 The present invention has been made in view of the above situation, and provides a secondary battery short-circuit inspection method capable of accurately detecting a short-circuit of a secondary battery mounted on a vehicle.
本発明に係る二次電池の短絡検査方法は、車両に搭載される二次電池の短絡を検査する二次電池の短絡検査方法であって、前記車両の一回の走行における、前記二次電池の平均放電電流値、累積放電電流値、放電時間、および前記車両の走行距離を取得するステップと、前記累積放電電流値を前記放電時間で除算することで、判断指標を算出するステップと、過去の検査で算出した前記判断指標を過去蓄積データとして、前記平均放電電流値および前記走行距離に応じて記憶する基準マトリクスを作成し、前記基準マトリクスの過去蓄積データ毎に判定値を予め算出するステップと、今回の検査で算出した前記判断指標を、今回の検査で取得した前記平均放電電流値および前記走行距離に対応する前記判定値と比較した結果に基づいて、前記二次電池の短絡を判定するステップと、を行う、ものである。 A secondary battery short-circuit inspection method according to the present invention is a secondary battery short-circuit inspection method for inspecting a short-circuit of a secondary battery mounted on a vehicle, wherein the secondary battery in a single run of the vehicle. An average discharge current value, a cumulative discharge current value, a discharge time, and a travel distance of the vehicle, a step of calculating a determination index by dividing the cumulative discharge current value by the discharge time, and a past Creating a reference matrix that stores the determination index calculated in the inspection as past accumulated data according to the average discharge current value and the travel distance, and calculating a determination value in advance for each past accumulated data of the reference matrix And, based on a result of comparing the determination index calculated in the current inspection with the average discharge current value acquired in the current inspection and the determination value corresponding to the travel distance, Performing a step of determining short-circuiting of the next cell, and is intended.
本発明に係る二次電池の短絡検査方法は、今回の検査で取得した前記平均放電電流値および前記走行距離に該当する前記基準マトリクスの過去蓄積データに、今回の検査で算出した前記判断指標を追加するステップと、前記今回の検査で算出した判断指標を含む前記過去蓄積データの平均値を算出するステップと、前記過去蓄積データの平均値の算出結果と、前記平均放電電流値および前記走行距離に応じて予め設定される係数とを積算することで、今回の検査で取得した前記平均放電電流値および前記走行距離に対応する前記判定値を更新するステップと、をさらに行う、ものである。 In the secondary battery short-circuit inspection method according to the present invention, the determination index calculated in the current inspection is added to the past accumulated data of the reference matrix corresponding to the average discharge current value and the travel distance acquired in the current inspection. An adding step; a step of calculating an average value of the past accumulated data including a judgment index calculated in the current examination; a calculation result of the average value of the past accumulated data; the average discharge current value; and the travel distance And a step of updating the determination value corresponding to the average discharge current value and the mileage acquired in the current inspection by adding a coefficient set in advance according to the above.
本発明は、車両に搭載される二次電池の短絡を正確に検出できる、という効果を奏する。 The present invention has an effect that a short circuit of a secondary battery mounted on a vehicle can be accurately detected.
以下では、二次電池の短絡検査方法(以下、単に「短絡検査方法」と表記する)について説明する。 Hereinafter, a short circuit inspection method for secondary batteries (hereinafter simply referred to as “short circuit inspection method”) will be described.
本実施形態において短絡を検査する二次電池21は、リチウムイオン二次電池であるものとするが、これに限るものではない。すなわち、短絡検査方法の検査対象となる二次電池21は、例えば、ニッケル水素二次電池等の他の二次電池であっても構わない。
In the present embodiment, the
図1に示すように、本実施形態の短絡検査方法は、電池パック20として構成された二次電池21の短絡を検査するものである。
As shown in FIG. 1, the short circuit inspection method of this embodiment is for inspecting a short circuit of a
電池パック20は、セパレータを挟んで複数の二次電池21を積層し、各二次電池21の外部端子にバスバー等を締結固定して、各二次電池21を直列接続することで構成される。電池パック20は、車両に搭載されて、車両の発電機に電力を供給する。
各二次電池21は、正極、負極、およびセパレータを積層して捲回することで構成される電極体を電池容器内に収容し、電解液を注液した後に電池容器を密閉した角型の密閉型電池である。
The
Each
なお、本実施形態の二次電池21は、電池容器が有底の角筒状に形成された角型電池に構成しているが、これに限るものではなく、例えば、電池容器が有底の円筒状に形成された円筒型電池であっても構わない。
In addition, although the
図13に示す頻度分布は、決まった使い方で車両を走行させたときの、一回の走行における電池パック20の累積放電電流値Bを放電時間Cで除算した結果を分布化したものである。各等級T1〜T5は、前記除算結果の大きさを一定の範囲毎に区分けして構成したものであり、等級T1から等級T5へ向かうにつれて大きな値の等級となる。
The frequency distribution shown in FIG. 13 is a distribution of the result of dividing the cumulative discharge current value B of the
ここで、本実施形態において、使い方とは、例えば、電池パック20の電力だけで短距離の走行を行った場合や、電池パック20とガソリン等の燃料とを併用して長距離の走行を行った場合等、電池パック20をどのように使用して、どの程度の距離だけ車両を走行させたものであるかを指す。
Here, in the present embodiment, the usage refers to, for example, a short-distance travel using only the electric power of the
決まった(一定の)使い方で車両を走行させたとき、電池パック20は、同じような状態で使用される。このため、各二次電池21が短絡していない場合、決まった使い方で走行させたときの累積放電電流値Bは、それぞれ近い値となる。これは、放電時間Cにおいても同様である。
従って、図13(a)に示すように、各二次電池21が短絡していない場合、頻度分布には、中間程度の等級T2〜T4に一つのピークが形成される。
When the vehicle is driven in a fixed (fixed) usage, the
Therefore, as shown in FIG. 13A, when each
電池パック20の各二次電池21は、外部からの衝撃によって内部に混入する金属屑が、電池容器内に収容されるセパレータを貫通することで短絡(微小短絡)する可能性がある。
また、各二次電池21は、使用時における内部の化学反応によって電極層に結晶が析出して短絡し、時間経過とともに短絡が徐々に進行する可能性がある。
つまり、各二次電池21は、出荷後に短絡する可能性がある。
Each
In addition, each
That is, each
短絡した各二次電池21は、放電によって電池エネルギーを消費してしまう。
従って、二次電池21が短絡した場合、累積放電電流値Bは、短絡前と比較して大きくなる。特に、外部からの衝撃によって二次電池21が短絡した場合等において、累積放電電流値Bはより大きくなる。
Each
Therefore, when the
使用時における内部の化学反応等によって二次電池21の短絡が進行する場合、累積放電電流値Bを放電時間Cで除した値(つまり、単位時間当たりの電流量)は、短絡前と比較して大きくなる場合がある。
When the short circuit of the
従って、二次電池21が短絡した後に取得した累積放電電流値Bを放電時間Cで除算した結果は、短絡前に想定される前記除算結果の最大値を超える程度に大きい値となる。
つまり、図13(b)に示すように、決まった使い方で走行した(同じような状態で二次電池21を使用した)ときの累積放電電流値Bを放電時間Cで除算した結果を頻度分布化した場合には、二次電池21が短絡した後で、頻度分布に二つ目のピークが形成される(図13(b)に示す右側のピーク参照)。
Therefore, the result obtained by dividing the accumulated discharge current value B acquired after the
That is, as shown in FIG. 13B, the frequency distribution is obtained by dividing the cumulative discharge current value B by the discharge time C when the vehicle travels in a fixed manner (the
なお、図13に示す頻度分布は、それぞれ五級数で等級分けを行っているため、短絡後に各等級T1〜T5の範囲が広くなっている。
このため、図13(a)に示す頻度分布の各等級T1〜T5のカウント数は、図13(b)に示す等級T1〜T3に集約されている。
In addition, since the frequency distribution shown in FIG. 13 is each graded by a quintic, the range of each grade T1-T5 becomes wide after a short circuit.
For this reason, the count numbers of the respective grades T1 to T5 of the frequency distribution shown in FIG. 13A are collected in the grades T1 to T3 shown in FIG.
本実施形態の短絡検査方法は、一回の走行における累積放電電流値Bを放電時間Cで除算した結果を判断指標Fとして算出し、短絡後に形成される二つ目のピークを確認することで、車両に搭載される二次電池21の短絡の有無を検査する。
The short circuit inspection method of this embodiment calculates the result obtained by dividing the cumulative discharge current value B in one run by the discharge time C as a determination index F, and confirms the second peak formed after the short circuit. The presence or absence of a short circuit of the
次に、本実施形態において、短絡検査方法を行うために用いる短絡検査装置10について説明する。
図1に示すように、短絡検査装置10は、車両に搭載され、電池情報取得部11、車両情報取得部12、記憶部13、出力部14、および演算部15等を具備する。
Next, in this embodiment, the short
As shown in FIG. 1, the short
電池情報取得部11は、一回の走行における各二次電池21の平均放電電流値A、累積放電電流値B、および放電時間Cを取得するためのものである。電池情報取得部11は、例えば、電池パック20の電流値を測定する電流計等によって構成され、前記電流計で測定した電流値等に基づいて平均放電電流値A、累積放電電流値B、および放電時間Cを算出する。
The battery
車両情報取得部12は、一回の走行における走行距離Dおよび走行時間Eを取得するためのものである。車両情報取得部12は、例えば、車両のエンジンを制御するECU(Engine Control Unit)と電気的に接続され、ECUからの信号を受信することにより、走行距離Dおよび走行時間Eを取得する。
The vehicle
本実施形態において、一回の走行には、走行距離が0である場合(例えば、車両に搭載されるエアコンだけを使用した場合等)も含むものとする。
すなわち、本実施形態において、走行時間Eは、車両が実際に走行した時間ではなく、車両を起動させてから車両を終了させるまでの時間である。
In the present embodiment, one run includes a case where the travel distance is 0 (for example, when only an air conditioner mounted on a vehicle is used).
That is, in the present embodiment, the travel time E is not the time when the vehicle actually travels, but the time from when the vehicle is started until the vehicle is terminated.
図2に示すように、記憶部13は、行および列が平均放電電流値Aおよび走行距離Dによって定義される基準マトリクスM1、判定値マトリクスM2、および係数マトリクスM3等を記憶するものである。すなわち、各マトリクスM1〜M3の行および列には、平均放電電流値Aおよび走行距離Dの範囲が設定される(図2に示す符号A1〜A2・A2〜A3・A3〜A4および符号D1〜D2・D2〜D3・D3〜D4参照)。記憶部13は、例えば、市販のHDD(Hard Disk Drive)等によって構成される。
As shown in FIG. 2, the
図2(a)に示すように、基準マトリクスM1は、要素(つまり、平均放電電流値Aおよび走行距離Dに該当するマトリクスの値)として、過去蓄積データL11・L12・・・を記憶する。
すなわち、基準マトリクスM1は、平均放電電流値Aおよび走行距離Dに応じて過去蓄積データL11・L12・・・を記憶している。
As shown in FIG. 2A, the reference matrix M1 stores past accumulated data L11, L12,... As elements (that is, matrix values corresponding to the average discharge current value A and the travel distance D).
That is, the reference matrix M1 stores past accumulated data L11, L12,... According to the average discharge current value A and the travel distance D.
過去蓄積データL11・L12・・・は、過去の検査で算出した判断指標Fである。つまり、過去蓄積データL11・L12・・・には、複数の判断指標Fが含まれている。 The past accumulated data L11, L12... Is a determination index F calculated in the past examination. That is, the past accumulated data L11, L12,...
なお、過去の検査には、本実施形態の車両で過去に行われた検査だけでなく、他の車両で行われた検査も含まれる。
つまり、過去蓄積データL11・L12・・・は、例えば、車両と同一の車種で試験的に行われた検査で算出された判断指標、および実際に走行したときに行われた検査で算出された判断指標等であっても構わない。
The past inspection includes not only an inspection performed in the past with the vehicle of the present embodiment but also an inspection performed with another vehicle.
In other words, the past accumulated data L11, L12,... Are calculated, for example, by the judgment index calculated by the test conducted on the same vehicle type as the vehicle and by the test performed when actually traveling. It may be a judgment index or the like.
図2(b)に示すように、判定値マトリクスM2は、要素として判定値J11・J12・・・を記憶する。 As shown in FIG. 2B, the determination value matrix M2 stores determination values J11, J12... As elements.
判定値J11・J12・・・は、二次電池21が短絡しているかを判定する際に用いられる値であり、例えば、短絡前に想定される判断指標Fの最大値等が設定される。判定値J11・J12・・・は、短絡の検査を行う前に予め設定されている。
The determination values J11, J12,... Are values used when determining whether the
図2(c)に示すように、係数マトリクスM3は、要素として係数K11・K12・・・を記憶する。 As shown in FIG. 2C, the coefficient matrix M3 stores coefficients K11, K12,... As elements.
係数K11・K12・・・は、判定値マトリクスM2の判定値J11・J12・・・を更新する際に用いられる値である。係数K11・K12・・・は、短絡の検査を行う前に予め設定されている。 The coefficients K11, K12,... Are values used when updating the determination values J11, J12,. The coefficients K11, K12,... Are set in advance before performing a short circuit inspection.
図2に示すように、各マトリクスM1〜M3の行および列には、同一の平均放電電流値Aおよび同一の走行距離Dの範囲が設定されている。
従って、所定の平均放電電流値Aおよび走行距離Dをキーとして各マトリクスM1〜M3を検索した場合には、同じ位置の各要素(例えば、過去蓄積データL32、判定値J32、係数K32)が該当することとなる。
As shown in FIG. 2, the same average discharge current value A and the same travel distance D range are set in the rows and columns of the matrices M1 to M3.
Accordingly, when each of the matrices M1 to M3 is searched using the predetermined average discharge current value A and the travel distance D as keys, each element at the same position (for example, past accumulated data L32, determination value J32, coefficient K32) is applicable. Will be.
このように、短絡検査方法は、短絡の検査を行う前に基準マトリクスM1を作成し、基準マトリクスM1の過去蓄積データL11・L12・・・毎に判定値J11・J12・・・を予め算出するステップを行っている。 In this way, the short-circuit inspection method creates the reference matrix M1 before performing the short-circuit inspection, and calculates the determination values J11, J12,... In advance for each past accumulated data L11, L12,. Doing the steps.
図1に示すように、出力部14は、二次電池21の短絡を検出したことを運転者に通知するためのものである。出力部14は、例えば、二次電池21の短絡を通知するための照明、あるいは、ブザーを車両内に設置すること等によって構成される。
As shown in FIG. 1, the
演算部15は、判断指標Fを用いた演算処理等を行って、二次電池21の短絡を検査するためのものである。演算部15は、例えば、CPU(Central Processing Unit)等によって構成される。
The
演算部15は、電池情報取得部11および車両情報取得部12と電気的に接続され、電池情報取得部11および車両情報取得部12より入力される信号に基づいて、平均放電電流値A、累積放電電流値B、放電時間C、走行距離D、および走行時間Eを取得する。
The
演算部15は、記憶部13と電気的に接続され、記憶部13に信号を出力することで平均放電電流値Aおよび走行距離Dをキーとして各マトリクスM1〜M3を検索し、前記キーに該当する要素を取得する。
The
演算部15は、出力部14と電気的に接続され、出力部14に信号を出力することで、出力部14を動作させる。
The
次に、短絡検査方法の手順について説明する。
まず、二次電池21が短絡していない場合における短絡検査方法の手順について説明する。
Next, the procedure of the short circuit inspection method will be described.
First, the procedure of the short circuit inspection method when the
短絡検査方法は、車両の走行が終了した後で、短絡検査装置10を動作させて二次電池21の短絡を検査する。
In the short circuit inspection method, the short
なお、短絡を検査するタイミングは、本実施形態に限るものでない。すなわち、短絡検査方法は、車両の走行を開始する前に二次電池21の短絡を検査しても構わない。
In addition, the timing which test | inspects a short circuit is not restricted to this embodiment. That is, the short circuit inspection method may inspect the short circuit of the
図3に示すように、短絡検査方法は、車両の一回の(今回の)走行における、電池パック20の平均放電電流値A、累積放電電流値B、および放電時間Cと、車両の走行距離Dおよび走行時間Eを取得するステップを行う(ステップS10)。
As shown in FIG. 3, the short circuit inspection method includes the average discharge current value A, cumulative discharge current value B, and discharge time C of the
このとき、図1に示すように、短絡検査装置10は、電池情報取得部11より平均放電電流値A、累積放電電流値B、および放電時間Cを演算部15に入力するとともに、車両情報取得部12より走行距離Dおよび走行時間Eを演算部15に入力する。
At this time, as shown in FIG. 1, the short
図3に示すように、平均放電電流値A等を取得した後で、短絡検査方法は、判定値を取得する(ステップS20)。 As shown in FIG. 3, after acquiring the average discharge current value A and the like, the short circuit inspection method acquires a determination value (step S20).
このとき、図1および図2(b)に示すように、演算部15は、今回の(ステップS10で取得した)平均放電電流値Aおよび走行距離Dをキーとして、判定値マトリクスM2を検索する。そして、演算部15は、前記キーに該当する判定値を取得する(図1に示す符号J参照)。
At this time, as shown in FIG. 1 and FIG. 2B, the
ここで、電池パック20の電力だけで短距離の走行を行った場合には、平均放電電流値Aが大きくなるとともに、走行距離Dが短くなる。
一方、電池パック20とガソリン等の燃料とを併用して長距離の走行を行った場合、平均放電電流値Aが小さくなるとともに、走行距離Dが長くなる。
Here, when traveling for a short distance using only the electric power of the
On the other hand, when the
各マトリクスM1〜M3の行および列には、このような車両の使い方に応じて、平均放電電流値Aおよび走行距離Dの範囲が設定されている。 In the rows and columns of the respective matrices M1 to M3, ranges of the average discharge current value A and the travel distance D are set in accordance with how the vehicle is used.
つまり、短絡検査方法は、ステップS20において、今回の平均放電電流値Aおよび走行距離Dに基づいて車両の使い方を判断し、当該判断した車両の使い方に対応する判定値を取得する。 That is, in step S20, the short circuit inspection method determines how to use the vehicle based on the current average discharge current value A and the travel distance D, and acquires a determination value corresponding to the determined usage of the vehicle.
以下では、電池パック20の電力だけで短距離の走行を行って、判定値J32を取得したものとする。
In the following, it is assumed that traveling is performed for a short distance using only the electric power of the
図3に示すように、判定値J32を取得した後で、短絡検査方法は、今回の走行時間Eが一定時間以上であるかを確認する(ステップS30)。 As shown in FIG. 3, after acquiring the determination value J32, the short circuit inspection method confirms whether or not the current traveling time E is equal to or longer than a certain time (step S30).
このとき、演算部15は、予め記憶部13に記憶される走行時間Eの閾値と今回の走行時間Eとを比較して、今回の走行時間Eが走行時間Eの閾値以上であるかを確認する。
At this time, the
仮に、今回の走行時間Eが一定時間未満である場合、短絡検査方法は、短絡の検査を終了する(ステップS30:No)。 If the current travel time E is less than a certain time, the short circuit inspection method ends the short circuit inspection (No in step S30).
図13(b)に示すような頻度分布の二つのピークは、走行時間Eがある程度長い時間である場合の判断指標Fを頻度分布化することで顕著に現れる。
そこで、本実施形態の短絡検査方法は、走行時間Eが短い時間である場合の取得データA〜Eを検査対象外とすることで、検査精度を向上させている。
Two peaks of the frequency distribution as shown in FIG. 13B appear prominently by frequency distribution of the determination index F when the traveling time E is a certain time.
Therefore, the short-circuit inspection method of the present embodiment improves the inspection accuracy by excluding the acquired data A to E when the travel time E is a short time.
一方、今回の走行時間Eが一定時間以上である場合、短絡検査方法は、判断指標Fを算出し、基準マトリクスM1に算出した判断指標Fを記憶させる(ステップS30:Yes、ステップS40)。 On the other hand, when the current travel time E is equal to or longer than a certain time, the short circuit inspection method calculates the determination index F and stores the calculated determination index F in the reference matrix M1 (step S30: Yes, step S40).
このとき、演算部15は、今回の累積放電電流値Bを放電時間Cで除算し、今回の判断指標Fを算出する。
そして、図1および図2(a)に示すように、演算部15は、今回の平均放電電流値Aおよび走行距離Dをキーとして基準マトリクスM1を検索し、前記キーに該当する過去蓄積データL32に、今回の判断指標Fを追加する。
At this time, the
Then, as shown in FIGS. 1 and 2A, the
これにより、短絡検査方法は、過去に同じ使い方をした過去蓄積データL32に、今回の判断指標Fを追加する。
つまり、短絡検査方法は、車両の使い方に応じて基準マトリクスM1に判断指標Fを積み上げていく。
As a result, the short-circuit inspection method adds the current determination index F to the past accumulated data L32 that has been used in the past.
That is, in the short circuit inspection method, the determination index F is accumulated in the reference matrix M1 according to how the vehicle is used.
このような本実施形態におけるステップS40は、累積放電電流値Bを放電時間Cで除算することで、判断指標Fを算出するステップに相当する。
また、本実施形態におけるステップS40は、今回の検査で取得した平均放電電流値Aおよび走行距離Dに該当する基準マトリクスM1の過去蓄積データL32に、今回の検査で算出した判断指標Fを追加するステップに相当する。
Step S40 in this embodiment corresponds to a step of calculating the determination index F by dividing the cumulative discharge current value B by the discharge time C.
In step S40 in the present embodiment, the determination index F calculated in the current inspection is added to the past accumulated data L32 of the reference matrix M1 corresponding to the average discharge current value A and the travel distance D acquired in the current inspection. It corresponds to a step.
図3および図4に示すように、判断指標Fを算出した後で、短絡検査方法は、過去蓄積データL32を取得し、取得した判断指標Fを一定数の等級で頻度分布化する(ステップS50)。
つまり、短絡検査方法は、今回の判断指標Fを含む過去蓄積データL32を頻度分布化する。
As shown in FIGS. 3 and 4, after the determination index F is calculated, the short circuit inspection method acquires the past accumulated data L32 and frequency-distributes the acquired determination index F with a certain number of grades (step S50). ).
That is, in the short circuit inspection method, the past accumulated data L32 including the current determination index F is frequency-distributed.
このとき、図1および図4に示すように、演算部15は、今回の平均放電電流値Aおよび走行距離Dをキーとして基準マトリクスM1を検索し、前記キーに該当する過去蓄積データL32を取得する(図1に示す符号L参照)。
そして、演算部15は、過去蓄積データL32の最大値が最も高い等級T5に含まれるとともに、過去蓄積データL32の最小値が最も低い等級T1に含まれるように、一定数(本実施形態では五等級)の等級分けを行う。その後、演算部15は、各等級T1〜T5に該当する過去蓄積データL32の個数をカウントして頻度分布を作成する。
At this time, as shown in FIG. 1 and FIG. 4, the
Then, the
今回の判断指標Fを含む過去蓄積データL32は、短絡前の累積放電電流値Bと放電時間Cとにより算出された判断指標である。また、過去蓄積データL11・L12・・・は、車両の使い方に応じて記憶されている。
従って、二次電池21が短絡していない場合、短絡検査方法は、一つのピークが形成される頻度分布を作成することとなる。
The past accumulated data L32 including the current determination index F is a determination index calculated from the accumulated discharge current value B and the discharge time C before the short circuit. Further, the past accumulated data L11, L12,... Are stored according to how the vehicle is used.
Therefore, when the
図3および図5に示すように、判断指標Fを頻度分布化した後で、短絡検査方法は、今回の判断指標Fが高い等級にカウントされたかを確認する(ステップS60)。 As shown in FIGS. 3 and 5, after the determination index F is frequency-distributed, the short circuit inspection method confirms whether or not the current determination index F has been counted to a higher grade (step S <b> 60).
本実施形態において、高い等級は、作成した頻度分布のピークとなる等級(図5では等級T2・T3)よりも高い等級T4・T5であるものとする。
ただし、高い等級は、これに限るものでなく、例えば、最も高い等級T5だけであってもよい。すなわち、高い等級は、最も高い等級の一等級、あるいは最も高い等級より連続する複数等級であっても構わない。このような高い等級は、頻度分布の等級数等に応じて適宜設定される。
In the present embodiment, the higher grade is assumed to be a grade T4 · T5 that is higher than the grade (grade T2 · T3 in FIG. 5) that is the peak of the created frequency distribution.
However, a high grade is not restricted to this, For example, only the highest grade T5 may be sufficient. That is, the higher grade may be one grade of the highest grade or a plurality of grades that are consecutive from the highest grade. Such a high grade is appropriately set according to the number of grades of the frequency distribution.
なお、図5の上側に示す頻度分布は、前回の検査までの過去蓄積データL32を頻度分布化したものである。図5の下側に示す頻度分布は、今回の判断指標Fを含む過去蓄積データL32を頻度分布化したものである。
以下において、今回の判断指標Fは、等級T3にカウントされたものとする(図5に白塗りで示す点参照)。
The frequency distribution shown on the upper side of FIG. 5 is a frequency distribution of the past accumulated data L32 up to the previous examination. The frequency distribution shown on the lower side of FIG. 5 is obtained by frequency-distributing past accumulated data L32 including the current determination index F.
In the following description, it is assumed that the current determination index F is counted as the grade T3 (see the white dots in FIG. 5).
前述のように、二次電池21が短絡した場合、累積放電電流値Bを放電時間Cで除算した結果、つまり、判断指標Fは短絡前と比較して大きくなる。従って、二次電池21が短絡した場合、判断指標Fは、高い等級T4・T5にカウントされることが想定される。
As described above, when the
そこで、図3および図6に示すように、今回の判断指標Fが高い等級T4・T5にカウントされていない場合、短絡検査方法は、二次電池21が短絡していないと判断し、今回の判断指標Fを含む過去蓄積データL32の頻度分布の平均値Hを算出する(ステップS60:No、ステップS70)。
Therefore, as shown in FIG. 3 and FIG. 6, when the current determination index F is not counted in the high grade T4 / T5, the short circuit inspection method determines that the
このとき、演算部15は、頻度分布の各等級T1〜T5の中点(つまり、各等級T1〜T5の範囲の中間となる値)と、各等級T1〜T5にカウントされる過去蓄積データL32の個数を積算する。
そして、演算部15は、各等級T1〜T5の積算結果を合算し、前記合算した結果から過去蓄積データL32全体の個数を除算して、頻度分布の平均値Hを算出する。
At this time, the
And the calculating
なお、短絡検査方法は、必ずしも頻度分布の平均値Hを算出する必要はなく、例えば、過去蓄積データL32の単純平均値(過去蓄積データL32の値の和を過去蓄積データL32全体の個数で除した結果)を算出しても構わない。 Note that the short-circuit inspection method does not necessarily calculate the average value H of the frequency distribution. For example, the simple average value of the past accumulated data L32 (the sum of the values of the past accumulated data L32 is divided by the total number of the past accumulated data L32). The result may be calculated.
このように、短絡検査方法は、今回の検査で算出した判断指標Fを含む過去蓄積データL32の平均値H(例えば、頻度分布の平均値や単純平均値)を算出するステップS70を行う。 As described above, the short-circuit inspection method performs step S70 of calculating the average value H (for example, the average value or simple average value of the frequency distribution) of the past accumulated data L32 including the determination index F calculated in the current inspection.
図3に示すように、頻度分布の平均値Hを算出した後で、短絡検査方法は、今回の平均放電電流値Aおよび走行距離Dに対応する判定値J32を、係数K32を用いて更新する(ステップS80)。
つまり、短絡検査方法は、短絡前に想定される判断指標Fの最大値を、頻度分布の平均値Hおよび係数K32から推定し、前記推定結果を判定値J32としている。
As shown in FIG. 3, after calculating the average value H of the frequency distribution, the short circuit inspection method updates the determination value J32 corresponding to the current average discharge current value A and the travel distance D using the coefficient K32. (Step S80).
That is, in the short circuit inspection method, the maximum value of the determination index F assumed before the short circuit is estimated from the average value H and the coefficient K32 of the frequency distribution, and the estimation result is set as the determination value J32.
このとき、図7に示すように、演算部15は、今回の平均放電電流値Aおよび走行距離Dをキーとして係数マトリクスM3を検索し、前記キーに該当する係数K32を取得する(図1に示す符号K参照)。そして、演算部15は、頻度分布の平均値Hと係数K32とを積算する。
その後、図8に示すように、演算部15は、今回の平均放電電流値Aおよび走行距離Dをキーとして判定値マトリクスM2を検索し、前記キーに該当する判定値J32が、頻度分布の平均値Hと係数K32との積算結果となるように更新する。
At this time, as shown in FIG. 7, the
Thereafter, as shown in FIG. 8, the
このように、短絡検査方法は、過去蓄積データL32の平均値Hの算出結果と、平均放電電流値Aおよび走行距離Dに応じて予め設定される係数K32とを積算することで、今回の検査で取得した平均放電電流値Aおよび走行距離Dに対応する判定値J32を更新するステップS80を行う。 As described above, the short-circuit inspection method integrates the calculation result of the average value H of the past accumulated data L32 and the coefficient K32 set in advance according to the average discharge current value A and the travel distance D, thereby performing the current inspection. Step S80 for updating the average discharge current value A and the determination value J32 corresponding to the travel distance D acquired in step S80 is performed.
なお、短絡検査方法は、今回の判断指標Fを基準マトリクスM1に追加する前に、判定値J32を更新しても構わない。 In the short-circuit inspection method, the determination value J32 may be updated before the current determination index F is added to the reference matrix M1.
図3に示すように、短絡検査方法は、判定値J32を更新した後で短絡の検査を終了する。 As shown in FIG. 3, the short circuit inspection method ends the short circuit inspection after updating the determination value J32.
本実施形態の短絡検査方法は、二次電池21が短絡するまでに、このような検査を繰り返し行っている。
これにより、短絡検査方法は、車両の使い方に応じて短絡前の判断指標Fを過去蓄積データL11・L12・・・として積み上げておき、過去蓄積データL11・L12・・・の頻度分布に一つのピークが形成されるようにしている(図4参照)。
The short-circuit inspection method of this embodiment repeatedly performs such inspection until the
Thereby, the short circuit inspection method accumulates the judgment index F before the short circuit as the past accumulated data L11, L12,... According to the usage of the vehicle, and the frequency distribution of the past accumulated data L11, L12,. A peak is formed (see FIG. 4).
次に、二次電池21が短絡した場合における短絡検査方法の手順について説明する。
Next, the procedure of the short circuit inspection method when the
なお、平均放電電流値A等を取得してから判断指標Fを算出するまで(ステップS10〜S40)の手順は、二次電池21が短絡していない場合の手順と同様である。このため、以下では、ステップS10〜S40の説明を省略する。
The procedure from obtaining the average discharge current value A and the like to calculating the determination index F (steps S10 to S40) is the same as the procedure when the
以下では、前述した二次電池21が短絡していない場合の検査と同じ使い方で車両を走行させた後で、つまり、電池パック20の電力だけで短距離の走行を行った後で、二次電池21の短絡を検査するものとする。
In the following description, after the vehicle is driven in the same manner as the above-described inspection in the case where the
前述のように、二次電池21が短絡した場合、判断指標Fは大きくなる。前回までの検査において二次電池21が短絡していない場合、前回の検査までの過去蓄積データL32には、このような短絡したときの判断指標Fが含まれていない(図9の上側に示す頻度分布参照)。
As described above, when the
従って、図3および図9に示すように、短絡検査方法は、今回の判断指標Fが過去蓄積データL32の中で最大となる過去蓄積データL32を頻度分布化することとなる(ステップS50)。 Therefore, as shown in FIGS. 3 and 9, in the short circuit inspection method, the past accumulated data L32 in which the current determination index F is the largest among the past accumulated data L32 is frequency-distributed (step S50).
このとき、演算部15は、今回の判断指標Fが最も高い等級T5に含まれるように、一定数の等級分けを行うこととなる。
従って、今回の判断指標Fは、最も高い等級T5にカウントされる(図9の下側の頻度分布に白塗りで示す点参照)。
At this time, the
Therefore, the current determination index F is counted as the highest grade T5 (see the white dots in the lower frequency distribution in FIG. 9).
このように、今回の判断指標Fが最も高い等級T5にカウントされた場合、短絡検査方法は、指定回数連続して高い等級T4・T5にカウントされたかを確認する(ステップS60:Yes、ステップS90)。 As described above, when the current determination index F is counted to the highest grade T5, the short-circuit inspection method confirms whether it has been counted to the higher grade T4 · T5 continuously for the designated number of times (step S60: Yes, step S90). ).
このとき、演算部15は、判断指標Fが連続して高い等級T4・T5にカウントされた回数を計算し、当該算出結果が予め記憶部13に記憶されるカウントの閾値以上であるかを確認する。
At this time, the
図5および図9に示すように、判断指標Fが連続して高い等級T4・T5にカウントされた回数は1である。
この場合、図3に示すように、短絡検査方法は、短絡前の検査と同様に、頻度分布の平均値Hを算出し、判定値J32を更新する(ステップS90:No、ステップS70、ステップS80)。
As shown in FIGS. 5 and 9, the number of times that the determination index F is continuously counted to the higher grades T4 and T5 is one.
In this case, as shown in FIG. 3, in the short circuit inspection method, the average value H of the frequency distribution is calculated and the determination value J32 is updated (step S90: No, step S70, step S80), similarly to the inspection before the short circuit. ).
判定値J32を更新した後で、短絡検査方法は、短絡後の一回目の検査を終了する。 After the determination value J32 is updated, the short circuit inspection method ends the first inspection after the short circuit.
図3、図10、および図11に示すように、短絡後の二回目以降の検査でも、判断指標Fは、短絡前と比較して大きくなり、高い等級T4・T5にカウントされる(図10および図11の下側の頻度分布に白塗りで示す点参照)。
このため、短絡検査方法は、短絡後の二回目以降の検査でも、ステップS10〜S60を行った後で、指定回数連続して高い等級T4・T5にカウントされたかを確認することとなる(ステップS90)。
As shown in FIGS. 3, 10, and 11, even in the second and subsequent inspections after the short circuit, the determination index F is larger than that before the short circuit and is counted as a higher grade T4 / T5 (FIG. 10). Also, see the points shown in white in the frequency distribution on the lower side of FIG. 11).
For this reason, the short-circuit inspection method confirms whether or not the second and subsequent inspections after the short circuit have been counted in the higher grades T4 and T5 continuously after performing Steps S10 to S60 (Step S4). S90).
本実施形態の短絡検査方法では、ステップS90における指定回数を三回に設定している。このため、短絡検査方法では、短絡後の三回目の検査で判断指標Fが指定回数連続して高い等級T4・T5にカウントされたと判断する(ステップS90:Yes)。 In the short circuit inspection method of this embodiment, the designated number of times in step S90 is set to three. For this reason, in the short circuit inspection method, it is determined that the determination index F has been counted in the higher grades T4 and T5 for the designated number of times in the third inspection after the short circuit (step S90: Yes).
仮に、短絡後に異なる使い方で車両を走行し、短絡の検査を行った場合でも、短絡後の一回目から三回目までの検査における判断指標Fは、それぞれの使い方に対応する過去蓄積データL11・L12・・・の頻度分布において、高い等級にカウントされることとなる。
このため、ステップS90では、車両の使い方に関わらず、つまり、直前の検査における判断指標Fが連続して高い等級にカウントされているかを確認する。
Even if the vehicle is run in a different usage after a short circuit and a short circuit is inspected, the judgment index F in the first to third inspections after the short circuit is the past accumulated data L11 and L12 corresponding to each usage. In the frequency distribution of..., It is counted as a high grade.
For this reason, in step S90, it is confirmed whether the determination index F in the immediately preceding inspection is continuously counted to a higher grade regardless of how the vehicle is used.
図3および図12に示すように、判断指標Fが指定回数連続して高い等級T4・T5にカウントされた場合、短絡検査方法は、判断指標Fと判定値J32とを比較する(ステップS90:Yes、ステップS100)。
前述のように、判定値J32は、短絡前に想定される判断指標Fの最大値、つまり、短絡前後の判断指標Fにより形成される二つのピークの間の値となっている。
As shown in FIG. 3 and FIG. 12, when the determination index F is counted to the higher grades T4 and T5 for the designated number of times, the short circuit inspection method compares the determination index F with the determination value J32 (step S90: Yes, step S100).
As described above, the determination value J32 is a maximum value of the determination index F assumed before the short circuit, that is, a value between two peaks formed by the determination index F before and after the short circuit.
従って、短絡後の三回目の検査における判断指標Fが判定値J32よりも大きい場合、短絡検査方法は、二次電池21が短絡していると判断し、運転者にその旨を通知する(ステップS100:Yes、ステップS110、ステップS120)。
Therefore, when the determination index F in the third inspection after the short circuit is larger than the determination value J32, the short circuit inspection method determines that the
このとき、演算部15は、出力部14に所定の信号を入力して出力部14を動作させる。
At this time, the
一方、短絡後の三回目の検査における判断指標Fが判定値J32以下である場合、短絡検査方法は、二次電池21が短絡していないと判断し、短絡前の検査と同様に、頻度分布の平均値Hを算出し、判定値J32を更新する(ステップS100:No、ステップS70、ステップS80)。
つまり、この場合、短絡検査方法は、二次電池21が短絡していない状態で、判断指標Fが指定回数連続して高い等級T4・T5にカウントされたものであると判断する。
On the other hand, when the determination index F in the third inspection after the short circuit is the determination value J32 or less, the short circuit inspection method determines that the
That is, in this case, the short-circuit inspection method determines that the determination index F is counted to the higher grades T4 and T5 for the designated number of times in a state where the
このように、短絡検査方法は、今回の検査で算出した判断指標F(単位時間当たりの電流量)を、今回の検査で取得した平均放電電流値Aおよび走行距離Dに対応する判定値J32と比較した結果に基づいて、二次電池21の短絡を判定するステップS100を行う。
In this way, the short-circuit inspection method uses the determination index F (current amount per unit time) calculated in the current inspection as the determination value J32 corresponding to the average discharge current value A and the travel distance D acquired in the current inspection. Based on the comparison result, step S100 is performed to determine whether the
これによれば、短絡検査方法は、車両を使用したときの情報に基づいて、二次電池21の短絡を検出できる。
すなわち、短絡検査方法は、短絡の検査に必要な情報を取得するための設備(例えば、恒温室や充放電手段)を用いることなく、二次電池21の短絡を検査できる。つまり、短絡検査方法は、二次電池21を放置して常時監視する必要がなくなるため、短絡の検査のために別途エネルギー(外部の電源や予備の電池)を使う必要がなくなる。
According to this, the short circuit test | inspection method can detect the short circuit of the
That is, the short circuit inspection method can inspect the short circuit of the
これにより、短絡検査方法は、短絡の検査に要するコストを低減できるとともに、車両の商品性を向上できる。
また、短絡検査方法は、出荷後の二次電池21の短絡を容易に検査できる。
Thereby, the short circuit inspection method can reduce the cost required for the inspection of the short circuit and improve the merchantability of the vehicle.
Moreover, the short circuit inspection method can test | inspect the short circuit of the
使用時における内部の化学反応等により二次電池21の短絡が進行する場合には、二次電池21を放置したときの電圧降下度合いも、二次電池21の短絡の進行に伴って徐々に大きくなる。
従って、電圧降下度合いに基づいてこのような二次電池21を検査する場合には、短絡がある程度進行しなければ、短絡を検出できない可能性がある。
When the
Therefore, when such a
一方、累積放電電流値Bおよび放電時間C、つまり、判断指標Fは、二次電池21の短絡があまり進行していない場合でも、短絡前に想定される判断指標Fを超える程度に大きい値となる。
On the other hand, the cumulative discharge current value B and the discharge time C, that is, the determination index F is a value that is large enough to exceed the determination index F assumed before the short circuit even when the short circuit of the
従って、短絡検査方法は、使用時における内部の化学反応等により二次電池21の短絡が進行するような場合でも、正確に、かつ、速やかに二次電池21の短絡を検出できる。
Therefore, the short circuit inspection method can detect the short circuit of the
車両に搭載される電池パック20には、一般的に各二次電池21の電圧を揃えるための均等化回路が設けられる。
従って、電圧降下度合いに基づいて短絡の検査を行う場合には、電圧降下度合いを正確に算出できず、その結果、短絡を正確に検出できない可能性がある。
The
Therefore, when a short circuit is inspected based on the voltage drop degree, the voltage drop degree cannot be calculated accurately, and as a result, there is a possibility that the short circuit cannot be detected accurately.
一方、短絡検査方法は、二次電池21の電圧値を取得することなく二次電池21の短絡を検査できるため、電池パック20に均等化回路が設けられた場合でも、二次電池21の短絡を正確に検出できる。
On the other hand, since the short circuit inspection method can inspect the short circuit of the
以上のように、短絡検査方法は、車両に搭載される二次電池21の短絡を正確に検出できる。
As described above, the short circuit inspection method can accurately detect a short circuit of the
仮に、各二次電池21が並列接続されている場合、短絡検査方法は、各二次電池21の平均放電電流値A、累積放電電流値B、および放電時間Cを取得して、各二次電池21毎に上述したような短絡の検査を行う。
つまり、本実施形態のように各二次電池21が直列接続されている場合、電池パック20の平均放電電流値A、累積放電電流値B、および放電時間Cが、本発明に係る二次電池の平均放電電流値、累積放電電流値、および放電時間に対応する。
If each
That is, when the
ここで、車両の使い方が同じ場合でも、運転者の癖および運転する地域等によって、走行時の二次電池21の使われ方が変わる可能性がある。
つまり、決まった使い方で車両を走行させた場合でも、判断指標Fは、運転者および運転する地域等によって変動してしまう可能性がある。
Here, even when the usage of the vehicle is the same, there is a possibility that the usage of the
That is, even when the vehicle is driven with a fixed usage, the determination index F may vary depending on the driver and the driving area.
従って、ある一つの地域において一人の運転者が決まった使い方で走行したときの過去蓄積データL32を用いて、判定値J32を固定の値として設定した場合には、運転する地域等が変わったときに、判定値J32が短絡前後に形成される二つのピーク(図12参照)の間の値とならない可能性がある。 Therefore, when the judgment value J32 is set as a fixed value using the past accumulated data L32 when a single driver travels in a certain area, the driving area changes. In addition, there is a possibility that the determination value J32 does not become a value between two peaks (see FIG. 12) formed before and after the short circuit.
そこで、短絡検査方法は、ステップS80で今回の判断指標Fを判定値J32に反映させる。
これにより、短絡検査方法は、運転者の癖および運転する地域等に起因する判断指標Fの変動を学習することができる。従って、短絡検査方法は、運転者の癖および運転する地域等に応じて最適な判定値J11・J12・・・を設定することができる。
Therefore, the short-circuit inspection method reflects the current determination index F in the determination value J32 in step S80.
Thereby, the short circuit inspection method can learn the fluctuation | variation of the judgment parameter | index F resulting from a driver | operator's bag and the area to drive. Therefore, the short-circuit inspection method can set the optimum determination values J11, J12,... According to the driver's habit and the driving area.
これによれば、短絡検査方法は、運転者あるいは運転する地域等が異なる場合でも、判定値J32を常に最適な値に設定できるため、二次電池21の短絡を正確に検出できる。
つまり、短絡検査方法は、判定値J11・J12・・・を更新することで、検査精度を向上できる。
According to this, since the determination value J32 can always be set to an optimum value even when the driver or the driving region is different, the short circuit inspection method can accurately detect the short circuit of the
That is, the short-circuit inspection method can improve inspection accuracy by updating the determination values J11, J12.
なお、短絡検査方法は、必ずしも高い等級T4・T5にカウントされたかを確認する必要はない。すなわち、短絡検査方法は、判断指標Fを算出した直後に判断指標Fと判定値J32とを比較して、二次電池21が短絡しているかを判定しても構わない。
ただし、係数K11・K12・・・を設定するために必要な工数を低減できるとともに、短絡以外の要因で一時的に判断指標Fが判定値J32よりも高くなった場合の誤検出を防止できるという観点から、短絡検査方法は、高い等級T4・T5にカウントされたかを確認することが好ましい。
これにより、短絡検査方法は、準備に必要な工数を低減できるとともに、検査精度を向上できる。
In addition, the short circuit inspection method does not necessarily need to confirm whether it was counted to high grade T4 * T5. That is, in the short circuit inspection method, immediately after the determination index F is calculated, the determination index F may be compared with the determination value J32 to determine whether the
However, it is possible to reduce the man-hours necessary for setting the coefficients K11, K12... And to prevent erroneous detection when the determination index F temporarily becomes higher than the determination value J32 due to a factor other than a short circuit. From the viewpoint, it is preferable to confirm whether the short-circuit inspection method has been counted as high grades T4 and T5.
Thereby, the short circuit inspection method can reduce the man-hours required for preparation and improve the inspection accuracy.
21 二次電池
A 平均放電電流値
B 累積放電電流値
C 放電時間
D 走行距離
F 判断指標
J32 判定値
L32 過去蓄積データ
M1 基準マトリクス
21 Secondary battery A Average discharge current value B Cumulative discharge current value C Discharge time D Traveling distance F Judgment index J32 Judgment value L32 Past accumulated data M1 Reference matrix
Claims (2)
前記車両の一回の走行における、前記二次電池の平均放電電流値、累積放電電流値、放電時間、および前記車両の走行距離を取得するステップと、
前記累積放電電流値を前記放電時間で除算することで、判断指標を算出するステップと、
過去の検査で算出した前記判断指標を過去蓄積データとして、前記平均放電電流値および前記走行距離に応じて記憶する基準マトリクスを作成し、前記基準マトリクスの過去蓄積データ毎に判定値を予め算出するステップと、
今回の検査で算出した前記判断指標を、今回の検査で取得した前記平均放電電流値および前記走行距離に対応する前記判定値と比較した結果に基づいて、前記二次電池の短絡を判定するステップと、
を行う、
二次電池の短絡検査方法。 A method for inspecting a short circuit of a secondary battery mounted on a vehicle, comprising:
Obtaining a mean discharge current value, a cumulative discharge current value, a discharge time, and a travel distance of the vehicle in a single run of the vehicle;
Dividing the cumulative discharge current value by the discharge time to calculate a determination index;
A reference matrix that is stored according to the average discharge current value and the travel distance is created using the determination index calculated in the past inspection as past accumulated data, and a determination value is calculated in advance for each past accumulated data of the reference matrix. Steps,
A step of determining a short circuit of the secondary battery based on a result of comparing the determination index calculated in the current inspection with the average discharge current value acquired in the current inspection and the determination value corresponding to the travel distance. When,
I do,
Secondary battery short-circuit inspection method.
前記今回の検査で算出した判断指標を含む前記過去蓄積データの平均値を算出するステップと、
前記過去蓄積データの平均値の算出結果と、前記平均放電電流値および前記走行距離に応じて予め設定される係数とを積算することで、今回の検査で取得した前記平均放電電流値および前記走行距離に対応する前記判定値を更新するステップと、
をさらに行う、
請求項1に記載の二次電池の短絡検査方法。 Adding the determination index calculated in the current inspection to the past accumulated data of the reference matrix corresponding to the average discharge current value and the travel distance acquired in the current inspection;
Calculating an average value of the past accumulated data including the judgment index calculated in the current examination;
The average discharge current value obtained in the current inspection and the travel are obtained by integrating the calculation result of the average value of the past accumulated data and the coefficient set in advance according to the average discharge current value and the travel distance. Updating the determination value corresponding to the distance;
Do further,
The short circuit inspection method of the secondary battery according to claim 1.
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