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JP6076936B2 - 排気浄化フィルタ - Google Patents

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Description

本発明は、排気浄化フィルタに関する。詳しくは、内燃機関から排出される排気中の粒子状物質を捕捉して浄化する排気浄化フィルタに関する。
自動車等に搭載される内燃機関、特に圧縮着火式内燃機関においては、排出される排気中に多量の粒子状物質が含まれることが知られている。この粒子状物質(Particulate Matter、以下「PM」という。)は、人体に有害であり、エミッション規制対象物質である。そのため、通常、PMを捕捉する排気浄化フィルタとしてのDPF(Diesel Particulate Filter)が内燃機関の排気通路に設けられている。
上記DPFでは、捕捉されたPMが次第に堆積する。すると、DPFの上流側と下流側との間で差圧が生じ、出力の低下や燃費の悪化を招く。そのため、上記DPFには、PMがある程度堆積した段階で、堆積したPMを燃焼除去するための触媒が担持されるのが一般的である。
上記触媒としては、PMに対して特に優れた浄化活性を示すAg系触媒が知られている。Ag系触媒としては、例えばCeを含有するCe含有酸化物にAgを担持してなる触媒が提案されている(例えば、特許文献1〜3参照)。これらの触媒によれば、低温でPMを燃焼除去できるとされている。
特許第5092281号公報 特許第4678596号公報 特開2011−143352号公報
ところで、Ag系触媒は、活性酸素を放出することでPMを燃焼するため、AgとPMの接触性がPM浄化性能に大きく影響を及ぼす特性を有する。そこで、従来の触媒では、触媒中のAgの含有量を増加させることで、PM浄化性能の向上を図っている。しかしながらAgの含有量を増加させると、実際には、Agが凝集してCe含有酸化物に対するAgの被覆率が低下し、AgとPMの接触性が低下するため、PM浄化性能の向上が期待できない。また、Agの含有量を増加させると、過剰のAgによるシンタリングが発生してPM浄化性能が低下するうえ、コストの増加を招く。
本発明は上記に鑑みてなされたものであり、その目的は、コストを抑制しつつ、PM浄化性能を向上できる排気浄化フィルタを提供することにある。
上記目的を達成するため本発明は、内燃機関の排気通路に設けられ、前記内燃機関の排気中の粒子状物質を捕捉して浄化する排気浄化フィルタであって、多孔質のフィルタ基材と、前記フィルタ基材上に担持され、前記粒子状物質を酸化浄化する触媒と、を備え、前記触媒は、Ceを含有するCe含有酸化物と、当該Ce含有酸化物上に担持されたAgと、を有し、前記触媒中の前記Agの含有量は、50質量%以下であり、前記Ce含有酸化物の比表面積は、0.5m/g〜105.6m/gであり、前記Ce含有酸化物上の前記Agの表面濃度は、元素換算で25.1%〜67.7%であることを特徴とする排気浄化フィルタを提供する。
本発明では、粒子状物質を酸化浄化する触媒を、Ce含有酸化物にAgを担持してなるAg系触媒により形成する。また、触媒中のAgの含有量を50質量%以下とし、Ce含有酸化物の比表面積を0.5m/g〜105.6m/gと低く設定することで、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を元素換算で25.1%〜67.7%とする。
本発明によれば、Ce含有酸化物の比表面積を低下させることにより、触媒中のAg含有量を変化させずに一定のままで、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を高くできる。即ち、Ce含有酸化物の比表面積を低下させることで、Ce含有酸化物の細孔へのAgの埋没を抑制できるため、Ce含有酸化物の表面にAgを多く露出させることができる。従って、本発明によれば、AgとPMとの接触性が向上するため、PM浄化性能を向上できる。
また、従来の触媒では、Ag含有量を増加することで凝集したAg粒子が、Ce含有酸化物の表面から細孔内に滑り落ち、より大きな凝集体となって細孔内に偏在するため、AgとPMの接触性が低下し、PM浄化性能が低下する。これに対して本発明によれば、Ce含有酸化物の比表面積を低下させることで、Agの凝集を抑制できるため、PM浄化性能を向上できる。
さらには、本発明によれば、従来のようにAg含有量を増加する必要が無いため、過剰のAgによるシンタリングの発生を抑制でき、PM浄化性能を向上できるとともに、コストを抑制できる。
前記Ce含有酸化物の比表面積は、13.0m/g以上であり、前記Ce含有酸化物上の前記Agの表面濃度は、元素換算で45.7%以下であることが好ましい。
この発明では、Ce含有酸化物の比表面積を13.0m/g以上とし、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を元素換算で45.7%以下とする。
排気浄化フィルタでは、高いPM浄化性能に加えて、高いCO/HC浄化性能も求められるところ、Ce含有酸化物の比表面積が低すぎると、Ce含有酸化物が有する酸素放出機能(OSC)が失われてCO/HC浄化性能が低下する。これに対して、この発明によれば、Ce含有酸化物の比表面積の下限値を13.0m/gとすることで、CO/HC浄化性能の低下を回避しつつ、PM浄化性能を向上できる。
前記Ce含有酸化物の比表面積は、13.0m/g〜65.0m/gであり、前記Ce含有酸化物上の前記Agの表面濃度は、元素換算で29.6%〜45.7%であることが好ましい。
この発明では、Ce含有酸化物の比表面積を13.0m/g〜65.0m/gとし、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を元素換算で29.6%〜45.7%とする。この発明によれば、上述の効果がより顕著に発揮される。
前記触媒中の前記Agの含有量は、30質量%〜45質量%であることが好ましい。
この発明では、触媒中のAgの含有量を30質量%〜45質量%とする。この発明によれば、上述の効果がさらに顕著に発揮される。
本発明によれば、コストを抑制しつつ、PM浄化性能を向上できる排気浄化フィルタを提供できる。
Ce含有酸化物の比表面積とAg表面濃度との関係を説明するための図であり、(a)がCe含有酸化物の比表面積を変化させたときのAgの存在位置を示す模式図であり、(b)が(a)のときのAg表面濃度を示す図である。 Ag含有量及びCe含有酸化物の比表面積とPM浄化性能との関係を示す図である。 Ce含有酸化物の焼成温度と比表面積との関係を示す図である。 Ce含有酸化物の焼成温度とAg表面濃度との関係を示す図である。 反応時間とPM浄化率との関係を示す図である。 各実施例及び比較例のT90を示す図である。 Ag表面濃度とT90との関係を示す図である。 実施例2、4、5のCO浄化率を示す図である。 実施例6〜10及び比較例2の触媒におけるAg含有量とAg表面濃度との関係を示す図である。 実施例6〜10の触媒におけるAg含有量とT90との関係を示す図である。 実施例11〜13の触媒におけるCe含有酸化物の比表面積とT90との関係を示す図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら詳しく説明する。
本発明の第一実施形態に係る排気浄化フィルタは、例えばディーゼルエンジン等の内燃機関の排気通路に設けられ、内燃機関の排気中のPMを捕捉して浄化する。本実施形態に係る排気浄化フィルタは、フィルタ基材としてのDPFと、DPF上に担持されたAg系触媒と、を備える。
本実施形態のDPFは、三次元網目構造を有し、炭化珪素やコージェライト等の多孔質材料から形成される。また、PM捕集能を有する発泡金属や発泡セラミックス又は金属やセラミックス繊維を重ね合わせた不織布、ウォールフロータイプのフィルタ等、如何なる形態でも使用可能である。これらのうち、ウォールフロータイプのハニカム構造のフィルタが、PM捕集効率及び触媒とPMの接触性の観点から好ましく用いられる。
本実施形態のDPFは、触媒とPMの接触面積を大きくできる観点から、セル形状が4〜8角形のうちのいずれかであることが好ましい。また、同様の観点から、セル数が1平方インチあたり200〜400セルであることが好ましい。セル数が200セル未満であると、触媒とPMの接触面積を十分確保できず、400セルを超えると、セルにPMが目詰まりして圧損の上昇に繋がる。
本実施形態の触媒層は、活性種である触媒金属としてAgを含有するAg系触媒からなる。Ag系触媒は、現状、PMの燃焼に最も有効な触媒であり、Pt等の他の貴金属系触媒よりも低温でPMを燃焼できる。例えば、PMとの接触性が良好であれば、200℃以下からPMを着火させることができ、400℃でPMの燃焼を完了させることができる。
ここで、Ag系触媒のPM燃焼メカニズムについて説明する。
Ag系触媒では、表面近傍のAgは、酸化雰囲気下ではAgOとして存在し、還元雰囲気下ではAgメタルとして存在する。そして、AgOは、酸素脱離エネルギーが最も小さく、PMの燃焼に対して最も有効な化合物である。
後述する酸素放出能を有するCe含有酸化物から、表面付近のAgメタルに酸素が供給されると、Agメタルは活性種であるAgOに変換される。そして、このAgOは、PMと反応することによりAgメタルに戻るものの、直ちにCe含有酸化物からの酸素がAgメタルに供給される結果、常に表面付近のAgは、AgOの状態で存在する。このようにして、Ag系触媒は、表面付近に存在する活性種AgOの作用によって、低温下で効率良くPMを燃焼除去する。従って、Ag系触媒は、AgとPMとの接触性がPM浄化性能に大きく影響を及ぼす特性を有する。
本実施形態のAg系触媒は、Agを担持する触媒担体として、Ceを含有するCe含有酸化物が用いられる。Ce含有酸化物は、酸素放出能を有するものとして知られている。Ce含有酸化物としては、CeO、CeZrO、CePrLaSiOが好ましく使用される。これにより、酸素放出能を有するCe含有酸化物から放出される酸素によって、上記AgOの安定性が確保される。
Ce含有酸化物としては、ペロブスカイト型、スピネル型、ルチル型、デラフォサイト型、マグネトプランバイト型、イルメナイト型、及びフルオライト型からなる群より選択される少なくとも1種を用いることができる。これらの中でも、酸素放出能の観点から、フルオライト型の複合酸化物が好ましく用いられる。
また、複合酸化物は、アルカリ土類金属元素、遷移金属元素、第12族元素、及び第13族元素からなる群より選択される少なくとも2種以上を構成元素として含むことにより、構成元素の価数を変化させて酸素の吸収及び放出を行うものが好ましい。
また、複合酸化物が酸素放出能を有するために、多原子価を持つ元素が少なくとも1種含まれていることが好ましい。具体的には、Zr、V、Cr、Mn、Fe、Co、Cu、Nb、Ta、Mo、W、Ce、Pr、Sm、Eu、Tb、Yb、Pt、Pd、Rh、Ir、Ru等の遷移金属元素が少なくとも1種含まれていることが好ましい。酸素放出は、複合酸化物を構成する元素の価数の変化に応じて、電荷のバランスを保つために複合酸化物の格子中の酸素が脱離する現象である。このため、Agとの組合せによる酸素放出能の観点から、上記遷移金属元素のうち、Ce、Zr、Pr、La、及びYが特に好ましい。
また、本実施形態のAg系触媒は、Ru、Pd、及びPtからなる群より選択される少なくとも1種の貴金属を、Agとともに上記触媒担体に共担持するものであってもよい。
本実施形態に係るAg系触媒は、Ce含有酸化物の比表面積が0.5m/g〜105.6m/gであることを特徴とする。Ce含有酸化物の比表面積がこの範囲内であることにより、Ag含有量を増加することなく、後述するAg表面濃度を高めることができる。好ましくは、その下限値が13.0m/gであり、さらに好ましいCe含有酸化物の比表面積は、13.0m/g〜65.0m/gである。
本実施形態における「比表面積」とは、Ce含有酸化物の単位質量あたりの表面積(m/g)を意味し、BET法により算出される。具体的には、窒素等の気体粒子を固体粒子に吸着させ、そのときの圧力と吸着量との関係からBET式を用いることで、比表面積が算出される。
また、本実施形態に係るAg系触媒は、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度が元素換算で25.1%〜67.7%であることを特徴とする。Ce含有酸化物上のAgの表面濃度がこの範囲内であることにより、AgとPMの接触性を向上でき、PM浄化性能を向上できる。好ましくは、その上限値が45.7%であり、さらに好ましいCe含有酸化物上のAgの表面濃度は、元素換算で29.6%〜45.7%である。
本実施形態における「Agの表面濃度」とは、Ce含有酸化物に担持されたAgの元素換算の表面濃度(atm%)を意味し、XPS(X線光電子分光法)測定により測定される。例えば、PHI社製XPS装置「Quantera SXM」を用いた元素分析により測定される。
Ce含有酸化物の比表面積を上記範囲内に調整する方法としては、Ce含有酸化物の焼成条件を変更することが挙げられる。例えば、Ce含有酸化物の焼成時間を2時間とし、焼成温度を800℃〜1300℃の範囲内とすることで、Ce含有酸化物の比表面積を0.5m/g〜105.6m/gとすることができる。またこれにより、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を25.1%〜67.7%とすることができる。
ここで、図1は、Ce含有酸化物の比表面積とAg表面濃度との関係を説明するための図である。具体的には、(a)は、Ce含有酸化物の比表面積を変化させたときのAgの存在位置を示す模式図であり、(b)は、(a)のときのAg表面濃度を示す図である。より詳しくは、図1では、後述する比較例1と実施例3のAg系触媒を示している。
図1(a)に示すように、例えばAg含有量を30質量%で一定としたまま、Ce含有酸化物の比表面積を低くすると、Ce含有酸化物の細孔へのAgの埋没が抑制され、Ce含有酸化物の表面にAgが多く露出することが分かる。即ち、図1(b)から明らかであるように、Ce含有酸化物の比表面積を低くすると、Ag表面濃度が高くなる。これにより、Agと接触する接点PMの数が増加する結果、PM浄化性能が向上する。
本実施形態に係るAg系触媒では、Ag系触媒中のAgの含有量が50質量%以下である。Ag系触媒中のAgの含有量がこの範囲内であれば、Ce含有酸化物の比表面積を上述の範囲内とすることで、上述の効果が得られる。より好ましいAg系触媒中のAgの含有量は、30質量%〜45質量%である。
ここで、図2は、Ag含有量及びCe含有酸化物の比表面積とPM浄化性能との関係を示す図である。図2に示すように、Ce含有酸化物の比表面積が低い場合にPM浄化性能が極大となるのは、Ag含有量が少ないときであることが分かる。また、Ce含有酸化物の比表面積が低い場合には、比表面積が高い場合と比べて、Ag含有量が増加するとCe含有酸化物に担持されていないAgが存在する領域が多くなることが分かる。これは、Ce含有酸化物の比表面積が低い場合にAg含有量を増加させると、担持しきれないAgが多量に生じるためである。従って、上述したように本実施形態では、Ag系触媒中のAgの含有量が、50質量%以下の少ない範囲に設定されている。
本実施形態に係る排気浄化フィルタでは、ディッピング法の他、クエン酸等を用いた微細発泡法が好ましく採用される。
ディッピング法では、例えば、Ag系触媒の構成材料を所定量含むスラリーを湿式粉砕等により作製し、作製したスラリー中にDPFを浸漬させた後、DPFを引き上げて所定の温度条件で焼成を行うことにより、DPFにAg系触媒を担持させることができる。
また、微細発泡法では、上記のようにして作製したスラリー中に、クエン酸等の有機酸を添加することにより、焼成時に触媒粒子を発泡させ、分散させる。これにより、触媒粒子がDPF全体に分散担持され、DPF表面にAg系触媒を均一に担持させることができる。
本実施形態によれば、以下の効果が奏される。
本実施形態では、PMを酸化浄化する触媒を、Ce含有酸化物にAgを担持してなるAg系触媒により形成した。また、Ag系触媒中のAgの含有量を50質量%以下とし、Ce含有酸化物の比表面積を0.5m/g〜105.6m/gと低く設定することで、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を元素換算で25.1%〜67.7%とした。
本実施形態によれば、Ce含有酸化物の比表面積を低下させることにより、触媒中のAg含有量を変化させずに一定のままで、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を高くできる。即ち、Ce含有酸化物の比表面積を低下させることで、Ce含有酸化物の細孔へのAgの埋没を抑制できるため、Ce含有酸化物の表面にAgを多く露出させることができる。従って、本実施形態によれば、AgとPMとの接触性が向上するため、PM浄化性能を向上できる。
また、従来の触媒では、Ag含有量を増加することで凝集したAg粒子が、Ce含有酸化物の表面から細孔内に滑り落ち、より大きな凝集体となって細孔内に偏在するため、AgとPMの接触性が低下し、PM浄化性能が低下する。これに対して本実施形態によれば、Ce含有酸化物の比表面積を低下させることで、Agの凝集を抑制できるため、PM浄化性能を向上できる。
さらには、本実施形態によれば、従来のようにAg含有量を増加する必要が無いため、過剰のAgによるシンタリングの発生を抑制でき、PM浄化性能を向上できるとともに、コストを抑制できる。
また本実施形態では、好ましくは、Ce含有酸化物の比表面積を13.0m/g以上とし、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を元素換算で45.7%以下とした。
排気浄化フィルタでは、高いPM浄化性能に加えて、高いCO/HC浄化性能も求められるところ、Ce含有酸化物の比表面積が低すぎると、Ce含有酸化物が有する酸素放出機能(OSC)が失われてCO/HC浄化性能が低下する。これに対して本実施形態によれば、Ce含有酸化物の比表面積の下限値を13.0m/gとすることで、CO/HC浄化性能の低下を回避しつつ、PM浄化性能を向上できる。
また本実施形態では、より好ましくは、Ce含有酸化物の比表面積を13.0m/g〜65.0m/gとし、Ce含有酸化物上のAgの表面濃度を元素換算で29.6%〜45.7%とした。これにより、上述の効果がより顕著に発揮される。
また本実施形態では、さらに好ましくは、触媒中のAgの含有量を30質量%〜45質量%とした。これにより、上述の効果がさらに顕著に発揮される。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれる。
次に本発明の実施例について説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
[実施例1〜5、比較例1]
目標生成量15gに対して、触媒中のAg含有量が30質量%となるように、Ce含有酸化物としてのCe84.9La5.1Pr5.0Si5.0を10.20g、硝酸Agを7.09g、5%硝酸Pd水溶液を2.99gそれぞれ秤量し、蒸留水を適量混合して溶液Aを得た。次いで、溶液Aをエバポレータで蒸発乾固し、Agを担持した触媒Bを得た後、触媒Bを200℃で乾燥後、700℃で2時間焼成することにより、Ag系触媒を調製した。
なお、Ce含有酸化物は、800℃で焼成したものを実施例1で用い、1100℃で焼成したものを実施例2で用いた。また、1150℃で焼成したものを実施例3で用い、1200℃で焼成したものを実施例4で用い、1300℃で焼成したものを実施例5で用いた。Ce含有酸化物の焼成時間は、いずれも2時間とした。また、比較例では焼成温度0℃、即ち未焼成のものを用いた。
[比表面積]
各実施例及び比較例で用いたCe含有酸化物の比表面積を測定した。具体的には、各実施例及び比較例で用いたCe含有酸化物に対して、窒素を吸着させたときの圧力と吸着量との関係から、BET式を用いて算出した。結果を表1に示した。
[Ag表面濃度]
各実施例及び比較例で調製した触媒について、Ag表面濃度を測定した。具体的には、PHI社製XPS装置「Quantera SXM」を用いてCe含有酸化物上に担持された元素換算のAg表面濃度(atm%)を測定した。結果を表1に示した。
Figure 0006076936
ここで、図3は、Ce含有酸化物の焼成温度と比表面積との関係を示す図である。図3に示すように、焼成温度800℃(実施例1)以上となると、Ce含有酸化物の比表面積が急激に低下することが分かった。これは、焼成温度が高くなることで生じるシンタリングによるものと考えられた。
図4は、Ce含有酸化物の焼成温度とAg表面濃度との関係を示す図である。図4に示すように、焼成温度800℃(実施例1)以上となると、Ag表面濃度が急激に高くなることが分かった。これは、図3に示したように、Ce含有酸化物の比表面積が低下したことで、細孔内に埋没するAgが減少したためで考えられた。
[PM浄化性能]
(排気浄化フィルタの調製)
各実施例及び比較例で調製した触媒粉末と、蒸留水と、SiOゾルを、φ10mmのAlボールを容器に入れ、約1時間湿式粉砕を行った。その後、粉末量に対して4倍量のクエン酸を添加した後、再度、湿式粉砕を約1時間行うことで粉末スラリーを得た。次いで、得られたスラリーに、DPFとしてSi−SiCフィルタ(15cc)を含浸し、エアーブロー後、200℃で2時間乾燥させた。
上記の操作を繰り返し、所定担持量になったことを確認した後、700℃で2時間焼成し、目封じすることで各排気浄化フィルタを調製した。
(PM堆積)
上記のようにして調製した各排気浄化フィルタを、200℃で5時間、乾燥させて重量Aを測定し、実機エンジンから排出されるPMを堆積させた。その後、200℃で5時間乾燥させた後、重量Bを測定した。PM堆積量は、下記式(1)により算出した。
[数1]

PM堆積量(g/L) = (B−A)/15×1000 ・・・(1)
(T90測定)
PM堆積後の各排気浄化フィルタの前段に、NOx吸蔵触媒を設置し、窒素雰囲気下で600℃まで昇温した後、排気モデルガス(O=4%、NO=250ppm、Nバランスガス)をSV=10万/時となるように導入してPMを燃焼除去させた。このときのPM燃焼に伴うCOとCOの排出量を測定し、その積算値から反応時間に対するPM浄化率を得た。
ここで、図5は、反応時間とPM浄化率との関係を示す図である。図5に示すように、PM浄化率が90%に達するまでの反応時間をT90と定義し、PM浄化性能の指標とした。即ち、T90が小さいほどPM浄化性能は高く、T90が大きいほどPM浄化性能は低いことを意味する。
図6は、各実施例及び比較例のT90を示す図である。
図6に示すように、実施例1〜5はいずれも、比較例と比べてT90が小さくPM浄化性能が高いことが分かった。この結果から、Ce含有酸化物の比表面積を0.5m/g〜105.6m/gとして、Ce含有酸化物上のAg表面濃度を25.1%〜67.7%と高くすることにより、PM浄化性能を向上できることが確認された。
また、焼成温度が1200℃(実施例4)を超えると、T90に大きな変化は無く、PM浄化性能のさらなる向上は認められないことが分かった。これは、焼成温度が1200℃を超えると、Agの表面濃度が多くなりすぎてCe含有酸化物からの酸素供給能が低下することと、比表面積が小さくなりすぎてCe含有酸化物にAgを担持しきれないことが原因であると考えられる。この結果から、Ce含有酸化物の比表面積の下限値は13.0m/gであることが好ましく、Ce含有酸化物上のAg表面濃度の上限値は45.7であることが好ましいことが確認された。
また、焼成温度が1100℃(実施例2)〜1200℃(実施例4)の範囲内が、T90が小さく高いPM浄化性能を有することが分かった。中でも、焼成温度が1100℃(実施例2)のときが最もT90が小さく、最も高いPM浄化性能を有することが分かった。この結果から、Ce含有酸化物の比表面積の下限値は、13.0m/gであることが好ましく、Ce含有酸化物上のAg表面濃度が29.6%〜45.7%であることがさらに好ましいことが確認された。
図7は、各実施例及び比較例の結果に基づいて作成したAg表面濃度とT90との関係を示す図である。この図7からも、本実施例によれば比較例と比べて高いPM浄化性能が得られることと、本発明で規定するAg表面濃度の数値限定の有用性が確認された。
[CO浄化性能]
実施例2、4、5の各排気浄化フィルタについて、排気モデルガス(CO=0.11%、O=10%、Nバランスガス)を流量15L/分(SV=6万/時)となるように導入した。このとき、温度を室温から450℃まで、10℃/分で昇温させた。排出されたガス中のCO含有量をガスクロマトグラフで測定することにより、CO浄化率%を算出した。
図8は、実施例2、4、5のCO浄化率を示す図である。
図8に示すように、焼成温度が1100℃(実施例2)と1200℃(実施例4)の場合を比べると、CO浄化率はほぼ同等であるが、焼成温度が1300℃(実施例5)になると、CO浄化率が著しく低下していることが分かった。これは、焼成温度が1300℃になると比表面積が1m/g以下と極端に小さく、Ce含有酸化物が有する酸化性能(OSC性能)が失われているためと考えられた。
従って、この結果から、PM浄化性能とCO浄化性能を両立させるためには、Ce含有酸化物の上限値を1200℃とすることで、Ce含有酸化物の比表面積の下限値を13.0m/gとし、Ce含有酸化物上のAg表面濃度の上限値を45.7とすることが好ましいことが確認された。なお、これについては、HC浄化率においてもCO浄化率と同様のことが言える。
[実施例6〜10、比較例2]
目標生成量に対して、触媒中のAg含有量が所定質量%となるように、Ce含有酸化物としてのCe84.9La5.1Pr5.0Si5.0、硝酸Ag、5%硝酸Pd水溶液をそれぞれ所定量秤量し、蒸留水を適量混合して溶液Aを得た。次いで、溶液Aをエバポレータで蒸発乾固し、Agを担持した触媒Bを得た後、触媒Bを200℃で乾燥後、700℃で2時間焼成することにより、Ag系触媒を調製した。
なお、Ce含有酸化物は、上記実施例と同様の測定法により測定した比表面積が50m/gのものを用いた。また、実施例6の触媒中のAg含有量を30質量%とし、実施例7の触媒中のAg含有量を35質量%とし、実施例8の触媒中のAg含有量を40質量%とし、実施例9の触媒中のAg含有量を45質量%とし、実施例10の触媒中のAg含有量を50質量%とし、比較例2の触媒中のAg含有量を60質量%とした。
実施例6〜10及び比較例2の触媒について、上記実施例と同様の測定手法によりAg表面濃度を測定した。また、実施例6〜10の触媒について、上記実施例と同様の測定手法によりPM浄化性能を評価した。ただし、エージング条件として、750℃で21時間の水熱エージング(O=10%、HO=6%、Nバランスガス)を実施した。
図9は、実施例6〜10及び比較例2の触媒におけるAg含有量とAg表面濃度との関係を示す図である。図9に示すように、Ce含有量酸化物の比表面積が一定(50m/g)のもとでは、Ag含有量が多くなるほどAg表面濃度が高くなった後、Ag含有量が50質量%を超えるとAg表面濃度が低下することが分かった。
また、図10は、実施例6〜10の触媒におけるAg含有量とT90との関係を示す図である。図10に示すように、Ce含有量酸化物の比表面積が一定(50m/g)のもとでは、Ag含有量が45質量%を超えるとT90が悪化し始め、50質量%を超えるとT90が大幅に悪化することが分かった。
これは、Ce含有量酸化物の比表面積が50m/gの一定のもとでは、Ag含有量が50質量%を超えるとCe含有酸化物内へのAgの埋没が優先される結果、T90もAg含有量が50質量%を超えると低下するものと考えられた。この結果から、Ag含有量は、30質量%〜45質量%が好ましいことが確認された。
[実施例11〜13]
目標生成量に対して、触媒中のAg含有量が40質量%となるように、Ce含有酸化物としてのCe84.9La5.1Pr5.0Si5.0、硝酸Ag、5%硝酸Pd水溶液をそれぞれ所定量秤量し、蒸留水を適量混合して溶液Aを得た。次いで、溶液Aをエバポレータで蒸発乾固し、Agを担持した触媒Bを得た後、触媒Bを200℃で乾燥後、700℃で2時間焼成することにより、Ag系触媒を調製した。
なお、実施例11では、Ce含有酸化物として、上記実施例と同様の測定法により測定した比表面積が35m/gのものを用いた。実施例12では、Ce含有酸化物として、上記実施例と同様の測定法により測定した比表面積が50m/gのものを用いた。実施例13では、Ce含有酸化物として、上記実施例と同様の測定法により測定した比表面積が65m/gのものを用いた。
実施例11〜13の触媒について、上記実施例と同様の測定手法によりPM浄化性能を評価した。ただし、エージング条件として、750℃で21時間の水熱エージング(O=10%、HO=6%、Nバランスガス)を実施した。
図11は、実施例11〜13の触媒におけるCe含有酸化物の比表面積とT90との関係を示す図である。図11に示すように、Ag含有量が40質量%の一定のもとでは、Ce含有量酸化物の比表面積が35〜65m/gの範囲で変化してもT90はほぼ一定であることが分かった。この結果から、Ag含有量が50質量%以下においては、Ce含有量酸化物の比表面積の上限値は65m/gが好ましく、上記実施例の結果と併せると、Ce含有量酸化物の比表面積は、13.0m/g〜65m/gの範囲内が好ましいことが確認された。

Claims (4)

  1. 内燃機関の排気通路に設けられ、前記内燃機関の排気中の粒子状物質を捕捉して浄化する排気浄化フィルタであって、
    多孔質のフィルタ基材と、
    前記フィルタ基材上に担持され、前記粒子状物質を酸化浄化する触媒と、を備え、
    前記触媒は、Ceを含有するCe含有酸化物と、当該Ce含有酸化物上に担持されたAgと、を有し、
    前記触媒中の前記Agの含有量は、50質量%以下であり、
    前記Ce含有酸化物の比表面積は、0.5m/g〜105.6m/gであり、
    前記Ce含有酸化物上の前記Agの表面濃度は、元素換算で25.1%〜67.7%であることを特徴とする排気浄化フィルタ。
  2. 前記Ce含有酸化物の比表面積は、13.0m/g以上であり、
    前記Ce含有酸化物上の前記Agの表面濃度は、元素換算で45.7%以下であることを特徴とする請求項1に記載の排気浄化フィルタ。
  3. 前記Ce含有酸化物の比表面積は、13.0m/g〜65.0m/gであり、
    前記Ce含有酸化物上の前記Agの表面濃度は、元素換算で29.6%〜45.7%であることを特徴とする請求項1又は2に記載の排気浄化フィルタ。
  4. 前記触媒中の前記Agの含有量は、30質量%〜45質量%であることを特徴とする請求項1から3いずれかに記載の排気浄化フィルタ。
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