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JP6062810B2 - Resin mold and resin mold apparatus - Google Patents

Resin mold and resin mold apparatus Download PDF

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JP6062810B2 JP2013125978A JP2013125978A JP6062810B2 JP 6062810 B2 JP6062810 B2 JP 6062810B2 JP 2013125978 A JP2013125978 A JP 2013125978A JP 2013125978 A JP2013125978 A JP 2013125978A JP 6062810 B2 JP6062810 B2 JP 6062810B2
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Description

本発明は、ワークをクランプして樹脂モールドする樹脂モールド装置に関する。   The present invention relates to a resin molding apparatus that clamps a workpiece and performs resin molding.

本件出願人は、薄型の半導体装置を樹脂封止する場合、パッケージ部の厚さ寸法を狙い通りの厚さで成形し樹脂の未充填領域がない薄型パッケージを量産できるトランスファ成形装置をすでに提案した。   The present applicant has already proposed a transfer molding apparatus capable of mass-producing a thin package without molding a resin-filled region by molding the package with a thickness as intended when sealing a thin semiconductor device with resin. .

具体的には、モールド金型に搬入されたワークをキャビティ駒が成形品の厚さ寸法より所定厚だけ後退した退避位置を保ったままクランパによりクランプし、該クランパがワークをクランプしたままプランジャを作動させてキャビティ凹部内へ溶融樹脂を充填して第1保圧を維持する。樹脂充填後、キャビティ駒を成形品の厚さ寸法に対応する成形位置までキャビティ凹部内へさらに押し出して当該キャビティ凹部内の余剰樹脂をゲートからポット側へ押し戻すことにより、狙い通りの成形品の厚さ寸法に合わせた樹脂量に調節する。また、プランジャを再度作動させて第1保圧より高い第2保圧を維持したまま封止樹脂を加熱硬化させる(特許文献1)。   Specifically, the work carried into the mold is clamped by a clamper while keeping the retracted position in which the cavity piece is retracted by a predetermined thickness from the thickness dimension of the molded product, and the plunger is clamped while the clamper clamps the work. Operate to fill the cavity recess with molten resin to maintain the first holding pressure. After filling the resin, the cavity piece is further pushed into the cavity recess to the molding position corresponding to the thickness dimension of the molded product, and the excess resin in the cavity recess is pushed back from the gate to the pot side. Adjust the resin amount to match the size. Further, the sealing resin is heat-cured while operating the plunger again and maintaining the second holding pressure higher than the first holding pressure (Patent Document 1).

特開2009−190400号公報JP 2009-190400 A

しかしながら、上述した特許文献1で用いられるモールド金型は、上型インサートが可動に設けられた上型とワーク(基板など)を載置するリジッド構造の下型とでワークをクランプするようになっているため、例えばワークが単層基板のように厚みのばらつきが小さい場合には問題はないが、多層基板のように厚みのバラツキが大きい場合には、クランパと基板とのクランプ力にばらつきが生じて、モールド樹脂のフラッシュばりが発生してしまい、成形品質が低下するおそれがあった。   However, the mold used in Patent Document 1 described above is configured to clamp a workpiece with an upper die in which an upper die insert is movably provided and a lower die having a rigid structure on which a workpiece (substrate or the like) is placed. Therefore, there is no problem when the workpiece has a small variation in thickness, such as a single-layer substrate, but when the thickness variation is large, such as in a multilayer substrate, the clamping force between the clamper and the substrate varies. As a result, a flash flash of the mold resin is generated, and there is a possibility that the molding quality is deteriorated.

例えば、ワークをモールド樹脂から露出させて成形する製品、具体的には放熱部を有する製品においては、樹脂フラッシュによって成形品質が低下するおそれがある。
また、樹脂フラッシュを抑えようとして金型クランプ力を強めると、ワークに過大なクランプストレスが作用してワークが破損したり損傷したりするおそれがあった。また、メモリ等の薄型化した製品の場合、成形厚がワークの厚みの影響を受けてしまい、成形厚を均一に成形することが困難となる場合があった。
For example, in a product formed by exposing a workpiece from a mold resin, specifically, a product having a heat radiating portion, the molding quality may be deteriorated by the resin flash.
In addition, if the mold clamping force is increased in order to suppress the resin flash, excessive clamping stress may act on the workpiece and the workpiece may be damaged or damaged. Further, in the case of a thin product such as a memory, the molding thickness is affected by the thickness of the workpiece, and it may be difficult to uniformly mold the molding thickness.

本発明は上記従来技術の課題を解決し、ワークの厚みのばらつきの有無や大小にかかわらず、ワークに過大なストレスが作用せずにクランプすることが可能な樹脂モールド金型及びこれを用いて型締めバランスが安定し、フラッシュばりの生じない成形品質を高めた樹脂モールド装置を提供することにある。   The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art, and uses a resin mold that can be clamped without excessive stress acting on the workpiece, regardless of whether the workpiece thickness varies or not. It is an object of the present invention to provide a resin molding apparatus having a stable mold clamping balance and improved molding quality free from flash flash.

本発明は上記目的を達成するため、次の構成を備える。
即ち、第一部材に第二部材が搭載されたワークを樹脂モールドする樹脂モールド金型であって、キャビティ底部を形成するキャビティ駒と、該キャビティ駒を囲んで配置された第一インサートにより、前記第二部材が収容されるキャビティを構成するキャビティ凹部が形成され、前記キャビティ駒の前記第一部材の押圧面が凸面部に形成されその周囲は凹溝部が形成された凹凸面が形成されている一方の金型と、前記ワークを支持するワーク支持部と、前記ワーク支持部に隣接する第二インサートを備えた他方の金型と、前記一方の金型又は他方の金型のいずれかに組み付けられモールド樹脂を供給するポット及びプランジャと、前記キャビティ駒を型開閉方向に相対的に移動させることにより前記第二部材の高さに合わせて前記キャビティ凹部の高さを可変とするキャビティ高さ可変機構と、前記ワーク支持部を前記第二インサートに対して型開閉方向に移動させることにより前記第一部材の厚さに合わせて前記ワーク支持部の高さを可変とする板厚可変機構と、を具備し、前記第一部材の厚さに合わせて前記板厚可変機構により前記ワーク支持部の高さを調整すると共に前記第一インサートにより前記第一部材をクランプすることで、前記キャビティ高さ可変機構により前記キャビティ駒が相対移動して前記押圧面に形成された前記凸面部が前記二部材の露出面を押さえたまま周囲の前記凹溝部にモールド樹脂が充填されて樹脂モールドされることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention comprises the following arrangement.
That is, a resin mold for resin molding a work having a second member mounted on a first member, the cavity piece forming the bottom of the cavity, and the first insert disposed around the cavity piece, cavities are formed to constitute a cavity in which the second member is accommodated, while the surrounding pressing surface of the first member is formed on the convex surface portion of the cavity piece is that is formed uneven surface recessed groove part is formed The mold, the workpiece support part for supporting the workpiece, the other mold having a second insert adjacent to the workpiece support part, and either the one mold or the other mold. a pot and the plunger for supplying the molding resin, the cavity in accordance with the height of the second member by relatively moving the cavity piece in the mold opening and closing direction A cavity height variable mechanism that makes the height of the part variable, and by moving the work support part in the mold opening / closing direction with respect to the second insert, the work support part has a thickness that matches the thickness of the first member. A plate thickness variable mechanism that varies the height, and adjusts the height of the workpiece support portion by the plate thickness variable mechanism in accordance with the thickness of the first member and the first insert by the first insert. By clamping one member, the cavity piece is relatively moved by the cavity height changing mechanism, and the convex surface portion formed on the pressing surface presses the exposed surface of the two members into the surrounding concave groove portion. It is characterized by being filled with a mold resin and resin-molded .

上記樹脂モールド金型を用いれば、すべてのワーク(第一部材、第二部材)に対して型開閉方向の厚さのばらつきの有無やばらつき量の大小にかかわらず、ワーク支持部及びキャビティ凹部の高さを調整するので、ワークに過大なストレスが作用せず型締めバランスを安定させて樹脂フラッシュばりの発生を防ぐことが可能になる。
この場合、例えば半導体チップの発光面をキャビティ駒の凸面部により押さえて露出させると共にその周囲を囲む凹溝部に粘度の低いシリコーン樹脂(白色樹脂)を充填して発光面を囲むリフレクタをトランスファモールドにより効率よく成形することができる。更にはフリップチップ実装された半導体チップであれば、基板との間に溶融樹脂を導いてアンダーフィルモールドを行うことができる。
If the above resin mold is used, the workpiece support portion and the cavity concave portion of all workpieces (first member, second member) regardless of whether the thickness in the mold opening / closing direction varies or not. Since the height is adjusted, excessive stress does not act on the workpiece, and it is possible to stabilize the mold clamping balance and prevent the occurrence of a resin flash beam.
In this case, for example, the light emitting surface of the semiconductor chip is exposed by being pressed by the convex portion of the cavity piece, and a concave groove surrounding the periphery is filled with a low viscosity silicone resin (white resin), and a reflector surrounding the light emitting surface is efficiently transferred by transfer molding. Can be molded well. Further, if the semiconductor chip is flip-chip mounted, underfill molding can be performed by introducing a molten resin between the substrate and the substrate.

また、前記キャビティ高さ可変機構は、駆動源により可動テーパーブロックを移動させて前記キャビティ駒の型開閉方向の位置を調節するウェッジ機構が設けられていてもよい。
この場合には、キャビティ駒の型開閉方向の位置制御を高精度化することができるので、金型クランプ時にワーク(第二部材)に作用するストレスを可及的に低減でき、高精度な成形品質を維持することができる。
The cavity height variable mechanism may be provided with a wedge mechanism that adjusts the position of the cavity piece in the mold opening / closing direction by moving a movable taper block by a driving source.
In this case, the position control of the cavity piece in the mold opening and closing direction can be made highly accurate, so the stress acting on the workpiece (second member) can be reduced as much as possible during mold clamping, and high-precision molding quality Can be maintained.

また、前記キャビティ高さ可変機構は、前記キャビティ駒及び前記第一インサートの一方又は双方が前記一方の金型チェイスにフローティング支持されていてもよい。
この場合には、型開閉動作にともなってキャビティ駒及び/又は第一インサートのフロート量を調整することでキャビティの深さ(基板からキャビティ駒までの高さ)を瞬時に変更することができる。特に、第二部材の第一部材からの高さ位置のばらつきがあっても、キャビティ駒及び/又は第一インサートのフロート構造により樹脂容量の差を吸収して樹脂モールドすることができる。
In the cavity height varying mechanism, one or both of the cavity piece and the first insert may be floatingly supported on the one mold chase.
In this case, the cavity depth (height from the substrate to the cavity piece) can be changed instantaneously by adjusting the float amount of the cavity piece and / or the first insert in accordance with the mold opening / closing operation. In particular, even if there is a variation in the height position of the second member from the first member, resin mold differences can be absorbed by the cavity structure and / or the float structure of the first insert.

また、前記板厚可変機構は、駆動源により可動テーパーブロックを移動させて前記ワーク支持部の型開閉方向の位置を調節するウェッジ機構が設けられていてもよい。
この場合には、ワーク支持部の型開閉方向の位置制御を高精度化することができるので、金型クランプ時にワーク(第一部材)に作用するストレスを可及的に低減でき、高精度な成形品質を維持することができる。
Further, the plate thickness variable mechanism may be provided with a wedge mechanism that adjusts the position of the workpiece support portion in the mold opening / closing direction by moving the movable taper block by a drive source.
In this case, since the position control in the mold opening / closing direction of the work support portion can be made highly accurate, the stress acting on the work (first member) at the time of mold clamping can be reduced as much as possible. Molding quality can be maintained.

また、前記第一インサートのクランプ面にはダミーキャビティが設けられており、前記キャビティ凹部より前記ダミーキャビティへ前記余剰樹脂を収容するのが好ましい。
これにより、キャビティ凹部へ充填されるモールド樹脂に発生したボイドをダミーキャビティへ押し流して成形品質を向上させることができる。特に、アンダーフィルモールドを行う際の樹脂充填性を向上させることができる。
Further, it is preferable that a dummy cavity is provided on the clamping surface of the first insert, and the surplus resin is accommodated in the dummy cavity from the cavity recess.
Thereby, the void generated in the mold resin filled in the cavity concave portion can be pushed to the dummy cavity to improve the molding quality. In particular, it is possible to improve resin filling properties when performing underfill molding.

また、前記第一インサートの前記ダミーキャビティより外周側に対向するクランプ面を押圧することでエアの排出を停止させる閉止手段を備えていてもよい。
この場合、希望するタイミングで閉止手段により減圧空間からのエアの排出を停止させてダミーキャビティからの樹脂漏れやキャビティ内の樹脂の未充填を防ぐことができる。
Moreover, you may provide the closing means which stops discharge | emission of air by pressing the clamp surface which opposes an outer peripheral side from the said dummy cavity of said 1st insert.
In this case, it is possible to prevent the leakage of the resin from the dummy cavity and the unfilling of the resin in the cavity by stopping the discharge of the air from the decompression space at the desired timing.

前記一方の金型と他方の金型とが型閉じする前に外部空間とは遮断された閉鎖空間が形成され、当該閉鎖空間内を減圧することで前記キャビティを含む減圧空間が形成される減圧機構を備えていることが望ましい。
これにより、キャビティ内に残存するエアを排気してモールド樹脂にボイドが発生し難くなる。
Before the one mold and the other mold are closed, a closed space that is cut off from the external space is formed, and a reduced pressure space including the cavity is formed by reducing the pressure in the closed space. It is desirable to have a mechanism.
As a result, the air remaining in the cavity is exhausted, and voids are less likely to occur in the mold resin.

また、前記第二部材を収容する貫通孔とこれに連通する樹脂路が形成され、前記ワーク支持部に支持された第一部材外周端部と前記第二インサートとの隙間を跨いで前記他方の金型クランプ面に重ね合わせて用いられる中間プレートを備えていてもよい。
この場合、第一部材(例えば基板)にランナ用の金めっきは不要になり、フィラーが微細で低粘度の流動性が高いモールド樹脂を用いても第一部材と金型との隙間にモールド樹脂が漏れて金型の摺動不良を起こすおそれもなくなる。
In addition, a through hole that accommodates the second member and a resin path that communicates with the through hole are formed, and the other member straddling the gap between the first member outer peripheral end supported by the work support portion and the second insert. You may provide the intermediate | middle plate used overlapping with a metal mold | die clamp surface.
In this case, gold plating for the runner is not required on the first member (for example, the substrate), and even if a mold resin with a fine filler and a low viscosity is used, the mold resin is placed in the gap between the first member and the mold. There is no risk of spilling and causing poor sliding of the mold.

また、前記中間プレートの前記第一部材より外周側にはダミーキャビティが設けられており、前記貫通孔より前記ダミーキャビティへ前記余剰樹脂を収容するようにしてもよい。この場合、ダミーキャビティが第一部材より外周側に形成されていると、第一部材(例えば基板)上の成形品の取り個数を増やして基板の利用率を向上させることができる。
また、ダミーキャビティが中間プレートを貫通する貫通孔に形成されていると、不要樹脂の離型が容易になる。
In addition, a dummy cavity may be provided on the outer peripheral side of the first member of the intermediate plate, and the excess resin may be accommodated in the dummy cavity from the through hole. In this case, if the dummy cavities are formed on the outer peripheral side of the first member, the number of molded products on the first member (for example, the substrate) can be increased to improve the utilization rate of the substrate.
Moreover, if the dummy cavity is formed in the through hole that penetrates the intermediate plate, the unnecessary resin can be easily released.

また、前記第二部材に当接する前記キャビティ駒のワーク当接面と反対面に対向配置されたガイド駒のガイド面部にガイドされて前記キャビティ駒が傾動可能なスイベル機構を備えていてもよい。
これにより、第一部材(例えば基板)に搭載された第二部材(例えば半導体チップ)に傾きが生じていても、キャビティ駒とリリースフィルムを介して片当たりすることなく第二部材の傾きに倣ってキャビティ駒が傾動するので、第二部材に過度のストレスが作用することはなく第二部材が損傷したり破損したりするおそれがなくなる。
In addition, a swivel mechanism may be provided in which the cavity piece can be tilted by being guided by a guide surface portion of a guide piece that is disposed opposite to the work contact surface of the cavity piece that contacts the second member.
As a result, even if the second member (for example, a semiconductor chip) mounted on the first member (for example, the substrate) is tilted, the second member (for example, the semiconductor chip) follows the tilt of the second member without coming into contact with the cavity piece and the release film. Since the cavity piece is tilted, excessive stress does not act on the second member, and there is no possibility that the second member is damaged or broken.

また前記キャビティ凹部を含む前記一方の金型クランプ面を覆って吸着保持されるリリースフィルムを備えていると、キャビティ凹部にモールド樹脂が直接接触することがないので、金型メンテナンスを軽減することができかつ樹脂漏れを防ぐことができる。また、キャビティ底部を形成するキャビティ駒がリリースフィルムを介してワークに当接することで、ワーク面が傷つくことを防止することができる。   Also, if a release film that covers and holds the one mold clamping surface including the cavity recess is provided, the mold resin does not come into direct contact with the cavity recess, so that mold maintenance can be reduced. And resin leakage can be prevented. Moreover, it can prevent that a workpiece | work surface is damaged because the cavity piece which forms a cavity bottom part contact | abuts to a workpiece | work via a release film.

また、樹脂モールド装置においては前述したいずれかの樹脂モールド金型を備えると共に、ワーク供給部と、前記樹脂モールド金型によりワークをクランプして樹脂モールドするプレス部と、成形品の収納部と、を備え、前記第一インサートにより前記第一部材をクランプすることで、前記キャビティ駒の押圧面に形成された凸面部が前記二部材の露出面を押さえたまま周囲の前記凹溝部にモールド樹脂が充填されることを特徴とする。
上記樹脂モールド装置を用いれば、樹脂モールド金型をクランプする際にワークである第一部材や第二部材に作用するストレスを可及的に減らすことができる。
The resin mold apparatus includes any of the resin molds described above, a workpiece supply unit, a press unit that clamps the workpiece with the resin mold die and resin molds, a molded product storage unit, And clamping the first member with the first insert, the convex portion formed on the pressing surface of the cavity piece presses the exposed surface of the two members , and the surrounding concave groove portion is filled with mold resin. It is characterized by Rukoto.
If the said resin mold apparatus is used, when clamping a resin mold metal mold | die, the stress which acts on the 1st member which is a workpiece | work, or a 2nd member can be reduced as much as possible.

前記プレス部に隣接して液状樹脂供給部が設けられており、前記プレス部の型開きしたモールド金型のポット内に供給ノズルを進退動させて液状樹脂を供給するようにしてもよい。この場合には、低粘度のエポキシ系の液状樹脂を用いたフリップチップ実装された半導体チップのアンダーフィルモールドがトランスファモールドにより実現でき、或いは粘度の低いシリコーン樹脂によるLEDやリフレクタなどの成形品質を高めて長寿命化を図ることができる。
尚、液状樹脂に限らずタブレット樹脂であってもよい。
A liquid resin supply unit may be provided adjacent to the press unit, and the supply resin may be moved back and forth in the pot of the mold mold opened by the press unit to supply the liquid resin. In this case, flip chip mounted semiconductor chip underfill molding using a low viscosity epoxy-based liquid resin can be realized by transfer molding, or the molding quality of LEDs, reflectors, etc. with a low viscosity silicone resin can be improved. To extend the service life.
In addition, not only liquid resin but tablet resin may be sufficient.

上述した本発明を用いれば、ワークの厚みのばらつきの有無や大小にかかわらず、ワークに過大なストレスが作用せずにクランプすることが可能な樹脂モールド金型を提供し、これを用いて型締めバランスが安定し、樹脂フラッシュばりの生じない成形品質を高めた樹脂モールド装置を提供することができる。   By using the above-described present invention, a resin mold die that can be clamped without excessive stress acting on the workpiece regardless of whether the workpiece thickness varies or not is provided. It is possible to provide a resin molding apparatus that has a stable fastening balance and has improved molding quality that does not cause resin flash flash.

実施例1に係る樹脂モールド装置のレイアウト構成図である。It is a layout block diagram of the resin mold apparatus which concerns on Example 1. FIG. 実施例1に係るモールド金型の成形動作を説明する金型断面図である。FIG. 5 is a mold cross-sectional view illustrating a molding operation of the mold according to the first embodiment. 図2に続くモールド金型の成形動作を説明する金型断面図である。FIG. 3 is a mold cross-sectional view illustrating a molding operation of a mold after FIG. 2. 図3に続くモールド金型の成形動作を説明する金型断面図である。FIG. 4 is a mold cross-sectional view illustrating a molding operation of a mold after FIG. 3. 実施例2に係るモールド金型の成形動作を説明する金型断面図である。FIG. 6 is a mold cross-sectional view illustrating a molding operation of a mold according to Example 2. 実施例3に係るモールド金型の成形動作を説明する金型断面図である。FIG. 9 is a mold cross-sectional view illustrating a molding operation of a mold according to Example 3. 実施例4に係るモールド金型の成形動作を説明する金型断面図である。10 is a mold cross-sectional view illustrating a molding operation of a mold according to Example 4. FIG. 実施例5に係るモールド金型の成形動作を説明する金型断面図である。10 is a mold cross-sectional view illustrating a molding operation of a mold according to Example 5. FIG. 実施例6に係るモールド金型の成形動作を説明する金型断面図である。10 is a mold cross-sectional view illustrating a molding operation of a mold according to Example 6. FIG. 実施例7に係る樹脂モールド装置のレイアウト構成図である。It is a layout block diagram of the resin mold apparatus which concerns on Example 7. FIG. 実施例7に係るモールド金型の液状樹脂供給動作を説明する金型断面図である。It is a metal mold sectional view explaining liquid resin supply operation of a mold metallic mold concerning Example 7.

以下、本発明に係る樹脂モールド装置の好適な実施の形態について添付図面と共に詳述する。以下の実施形態では、上型側にキャビティ凹部が形成され下型側にポットが形成されるモールド金型を用いたトランスファ成形装置を例示して説明する。また、トランスファ成形装置では、下型を可動型とし上型を固定型として説明する。   Hereinafter, a preferred embodiment of a resin mold device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following embodiments, a transfer molding apparatus using a molding die in which a cavity recess is formed on the upper mold side and a pot is formed on the lower mold side will be described as an example. In the transfer molding apparatus, the lower mold is described as a movable mold and the upper mold is described as a fixed mold.

[実施例1]
本実施形態の樹脂モールド装置は、図1に示すように、ワーク供給部A、ワークを予熱する予熱部B、ワークを樹脂モールドするプレス部C、樹脂モールド後の成形品収納部D及び搬送機構Eを備える。プレス部Cは、ワークをクランプして樹脂モールドするモールド金型が装着されたプレス装置を備える。搬送機構Eはプレス部Cへワークを搬入し、プレス部Cから成形品を搬出する搬送作用をなす。
[Example 1]
As shown in FIG. 1, the resin molding apparatus of this embodiment includes a workpiece supply unit A, a preheating unit B for preheating the workpiece, a press unit C for resin molding the workpiece, a molded product storage unit D after the resin molding, and a transport mechanism. E is provided. The press part C includes a press device equipped with a mold for clamping a workpiece and resin molding. The conveyance mechanism E carries in the conveyance action which carries in a workpiece | work to the press part C, and carries out a molded article from the press part C. FIG.

(ワーク供給部A)
図1において、ワーク供給部Aは、例えば短冊状に形成された基板(リードフレーム、樹脂基板等)1を収納したマガジンを収納するストッカを備えている。各マガジンからプッシャにより切り出された基板1が、例えば2枚一組でセット台2に向い合わせで並べる。尚、基板1の向きを一方向に揃え収納したマガジンからプッシャによってターンテーブルに向かい合わせに並べ替え、当該ターンテーブルからセット台2に基板1を移送するようにしてもよい。
(Work supply part A)
In FIG. 1, a workpiece supply unit A includes a stocker that stores a magazine that stores, for example, a substrate (lead frame, resin substrate, etc.) 1 formed in a strip shape. The substrates 1 cut out by pushers from each magazine are arranged facing the set table 2 in pairs, for example. Note that the substrate 1 may be rearranged so as to face the turntable by a pusher from a magazine in which the substrates 1 are aligned and stored in one direction, and the substrate 1 may be transferred from the turntable to the set table 2.

セット台2の側方にはモールド金型のポットの平面配置に合わせて樹脂タブレット3を供給するためのタブレット供給部4が設けられている。セット台2の基板1は、後述する搬送機構E(ローダ16)によって保持されて予熱部Bへ移送される。また、タブレット供給部4の樹脂タブレット3は、ローダ16によって保持されてプレス部Cへ移送される。   A tablet supply unit 4 for supplying the resin tablet 3 in accordance with the planar arrangement of the mold mold pot is provided on the side of the set table 2. The substrate 1 of the set table 2 is held by a transfer mechanism E (loader 16) described later and transferred to the preheating unit B. The resin tablet 3 of the tablet supply unit 4 is held by the loader 16 and transferred to the press unit C.

樹脂モールドの対象となるワーク(被成形品)は、本発明の「第一部材」に相当し例えば短冊状に形成された基板1上に本発明の「第二部材」に相当する半導体チップ5が実装(フリップチップ実装、ワイヤボンディング実装等)された製品である(図2(B)参照)。尚、基板1に1段あるいは複数段に半導体チップ5が搭載された製品、基板1に半導体装置が搭載された製品、基板1に撮像素子が搭載され撮像素子の受光面に光透過ガラスを接合した製品等も対象となる。また、本発明における「第一部材」としては、樹脂基板、セラミックス基板、金属基板、リードフレーム、キャリア及びウェハといった各種の板状の部材を用いることができる。本発明における「第二部材」としては、半導体チップの他にも、放熱板、配線及び放熱のために用いられるリードフレーム、電気的接続のためのバンプのような電子部品といった各種の部材を用いることができる。したがって、本発明における「ワーク」は、これらの「第一部材」上に「第二部材」を搭載して重ね合わされた状態のものをいう。樹脂モールドする形態も、個々の搭載部品ごとに個別にキャビティに収容して樹脂モールドする場合もあれば、基板実装された複数の搭載部品を一つのキャビティに収容して一括して樹脂モールドする場合もある。これらの構成により、後述する樹脂モールドを行うことで第一部材の端面と第二の部材の端面とを露出するように封止することもできる。   The workpiece (molded product) that is the object of the resin mold corresponds to the “first member” of the present invention. For example, the semiconductor chip 5 corresponds to the “second member” of the present invention on the substrate 1 formed in a strip shape. Is a product mounted (flip chip mounting, wire bonding mounting, etc.) (see FIG. 2B). In addition, the product in which the semiconductor chip 5 is mounted on the substrate 1 in one or more stages, the product in which the semiconductor device is mounted on the substrate 1, the image sensor is mounted on the substrate 1, and the light transmitting glass is bonded to the light receiving surface of the image sensor. Products that have been purchased are also covered. In addition, as the “first member” in the present invention, various plate-like members such as a resin substrate, a ceramic substrate, a metal substrate, a lead frame, a carrier, and a wafer can be used. As the “second member” in the present invention, in addition to the semiconductor chip, various members such as a heat sink, wiring, a lead frame used for heat dissipation, and an electronic component such as a bump for electrical connection are used. be able to. Therefore, the “workpiece” in the present invention refers to a state in which the “second member” is mounted on and superposed on these “first members”. Resin molds may be individually molded in a cavity for each individual mounted component, or multiple mounted components mounted on a substrate may be accommodated in a single cavity and molded in a batch There is also. By these structures, it can also seal so that the end surface of a 1st member and the end surface of a 2nd member may be exposed by performing the resin mold mentioned later.

(予熱部B)
ワーク供給部Aから供給された基板1は、後述する搬送機構Eのうちローダ16によって測定台から予熱部Bに設けられた図示しないヒータブロックに移載される。ヒータブロックは、基板1を載置したまま所定温度までプリヒートする。ヒータブロックは、その周囲を開閉式のカバーに覆われるようにして他のユニットへの影響を抑える構成とするのが好ましい。プリヒート後の基板1はローダ16に保持されてプレス部Cへ搬送される。
(Preheating part B)
The substrate 1 supplied from the workpiece supply unit A is transferred from a measurement table to a heater block (not shown) provided in the preheating unit B by a loader 16 in a transport mechanism E described later. The heater block preheats to a predetermined temperature while the substrate 1 is placed. It is preferable that the heater block is configured to suppress the influence on other units by covering the periphery thereof with an openable cover. The preheated substrate 1 is held by the loader 16 and conveyed to the press section C.

(プレス部C)
プレス部Cは、モールド金型19(図2(A)参照)を開閉駆動してプリヒートされたワークをクランプして樹脂モールドするプレス装置6を備える。プレス装置6は、後述するモールド金型19を型開閉方向に押動するプレス機構、モールド金型19のポット35内で溶融した樹脂をポット35からキャビティ凹部32(図2(A)参照)に充填するトランスファ機構を備える。
(Press part C)
The pressing part C includes a pressing device 6 that clamps a preheated work by driving the mold 19 (see FIG. 2A) to open and close and molds the resin. The press device 6 has a press mechanism that pushes a mold 19 to be described later in the mold opening / closing direction, and resin melted in the pot 35 of the mold 19 from the pot 35 to the cavity recess 32 (see FIG. 2A). A transfer mechanism for filling is provided.

プレス装置6は、キャビティ駒23(図2(A)参照)を型開閉方向に押動するキャビティ高さ可変機構及びワーク支持部37(図2(A)参照)を型開閉方向に押動する板厚可変機構を備えている。キャビティ高さ可変機構は、例えば上型のインサート部材(キャビティ駒23)を型開閉方向に押動することでキャビティ凹部の高さを相対的に可変とする上型駆動部7を備える。この上型駆動部7は、1個の基板に対して設けられるキャビティの数(換言すれば、キャビティ駒23の数)だけ後述するサーボモータ31を有し、キャビティの高さを個別に調整可能に構成されている。従って、長方形の基板1において、複数(例えば3個)の樹脂封止領域を形成するときには同数(この場合3個)のサーボモータ31と後述する駆動機構を備えていてもよい。   The pressing device 6 pushes the cavity height variable mechanism that pushes the cavity piece 23 (see FIG. 2A) in the mold opening / closing direction and the workpiece support portion 37 (see FIG. 2A) in the mold opening / closing direction. A plate thickness variable mechanism is provided. The cavity height variable mechanism includes an upper mold drive unit 7 that relatively changes the height of the cavity recess by pushing the upper mold insert member (cavity piece 23) in the mold opening and closing direction, for example. This upper mold drive unit 7 has servo motors 31 described later as many as the number of cavities provided for one substrate (in other words, the number of cavity pieces 23), and the height of the cavities can be individually adjusted. It is configured. Therefore, when a plurality (for example, three) of resin-sealed regions are formed on the rectangular substrate 1, the same number (three in this case) of servo motors 31 and a drive mechanism described later may be provided.

また、板厚可変機構は、下型のインサート部材(ワーク支持部37)を型開閉方向に押動する下型駆動部8を備える(図2(A)参照)。ワーク1によってはモールド樹脂をキャビティに注入する前に、キャビティ高さ可変機構と板厚可変機構の動作量を調整してキャビティ凹部32の型開閉方向の高さ位置を相対的に所定位置となるように設定する。すなわち、モールド樹脂をキャビティに注入する前に、半導体チップ5の高さに合わせてキャビティ高さ可変機構を設定すると共に、基板1の厚さに合わせて板厚可変機構を設定する。   Further, the plate thickness variable mechanism includes a lower mold drive unit 8 that pushes the lower mold insert member (work support unit 37) in the mold opening / closing direction (see FIG. 2A). Depending on the workpiece 1, before the mold resin is injected into the cavity, the operation amounts of the cavity height variable mechanism and the plate thickness variable mechanism are adjusted so that the height position of the cavity recess 32 in the mold opening / closing direction becomes a relatively predetermined position. Set as follows. That is, before the mold resin is injected into the cavity, the cavity height variable mechanism is set according to the height of the semiconductor chip 5 and the plate thickness variable mechanism is set according to the thickness of the substrate 1.

なお、本実施形態においては、モールド金型の金型面(樹脂モールド面)をリリースフィルム10により被覆して樹脂モールドする方法を利用している。このため、プレス装置6は、モールド金型の金型面にリリースフィルム10を供給するフィルム供給機構9を備える。フィルム供給機構9は、モールド金型の両側にリリースフィルム10を金型面(上型面)に供給する供給ロール9aと、リリースフィルム10を巻き取る巻き取りロール9bを備える。ただし、モールド金型の金型面をリリースフィルム10で被覆しない構成を採用してもよい。なお、リリースフィルム10を備えない構成を採用してもよい。例えば、キャビティ駒23の外周に樹脂や金属製のリング状のシール部材を配置し、該シール部材の熱膨張により後述する上型インサートブロック26との隙間を無くすことによりこの隙間からの樹脂の漏出を防止してもよい。   In the present embodiment, a method is used in which the mold surface (resin mold surface) of the mold is covered with the release film 10 and resin molded. For this reason, the press apparatus 6 includes a film supply mechanism 9 that supplies the release film 10 to the mold surface of the mold. The film supply mechanism 9 includes a supply roll 9 a that supplies the release film 10 to the mold surface (upper mold surface) and a take-up roll 9 b that winds the release film 10 on both sides of the mold. However, a configuration in which the mold surface of the mold is not covered with the release film 10 may be adopted. A configuration without the release film 10 may be employed. For example, a resin or metal ring-shaped seal member is disposed on the outer periphery of the cavity piece 23, and the resin leaks from this gap by eliminating the gap with the upper mold insert block 26, which will be described later, due to thermal expansion of the seal member. May be prevented.

(成形品収納部D)
成形品収納部Dは、樹脂モールド後の成形品11をセットするセット部12、成形品11からゲート等の不要樹脂を除去するゲートブレイク部13、不要樹脂が除去された成形品11を収納する収納部14を備える。成形品11は収納用のマガジン15に収納され、成形品が収納されたマガジン15はストッカに順次収容される。
(Molded product storage D)
The molded product storage unit D stores a set unit 12 for setting a molded product 11 after resin molding, a gate break unit 13 for removing unnecessary resin such as a gate from the molded product 11, and a molded product 11 from which unnecessary resin is removed. A storage unit 14 is provided. The molded product 11 is stored in a magazine 15 for storage, and the magazine 15 in which the molded product is stored is sequentially stored in a stocker.

(搬送機構E)
搬送機構Eは、ワークをプレス部Cに搬入するローダ16及び成形品11をプレス部から搬出するアンローダ17を備えている。ワーク供給部A、予熱部B、プレス部C及び成形品収納部Dは、ユニット化された架台どうしが連結されて樹脂モールド装置が組み立てられている。各ユニットの装置奥側にはガイド部18が各々設けられ、ガイド部18どうしを直線的に連結するように組み付けることでガイドレールが形成されている。ローダ16及びアンローダ17は、ガイドレールに沿って各々往復動可能に設けられている。ローダ16とアンローダ17は、ガイド部18上の所定位置からワーク供給部A、予熱部B、プレス部C、成形品収納部Dに向って直線的に進退動可能に設けられている。
(Transport mechanism E)
The transport mechanism E includes a loader 16 that loads a workpiece into the press section C and an unloader 17 that unloads the molded product 11 from the press section. The workpiece supply unit A, the preheating unit B, the press unit C, and the molded product storage unit D are assembled as a resin molding apparatus by connecting unitized bases. Guide units 18 are provided on the back side of each unit, and guide rails are formed by assembling the guide units 18 so as to be linearly connected. The loader 16 and the unloader 17 are provided so as to reciprocate along the guide rail. The loader 16 and the unloader 17 are provided so as to be linearly movable from a predetermined position on the guide portion 18 toward the workpiece supply portion A, the preheating portion B, the press portion C, and the molded product storage portion D.

したがって、ユニットの構成を変えることにより、ガイド部18どうしを連結させた状態を維持しながら、樹脂モールド装置の構成態様を変更することができる。たとえば、図1に示す例は、プレス装置6を2台設置した例であるが、プレス装置6が単数または3台以上の複数台連結された樹脂モールド装置を構成することも可能である。同様に後述する液状樹脂供給部Fを複数台備える構成としてもよい。   Therefore, by changing the configuration of the unit, the configuration mode of the resin mold apparatus can be changed while maintaining the state where the guide portions 18 are connected to each other. For example, the example shown in FIG. 1 is an example in which two press devices 6 are installed, but it is also possible to configure a resin mold device in which a single press device or a plurality of three or more press devices 6 are connected. Similarly, it is good also as a structure provided with multiple liquid resin supply part F mentioned later.

樹脂モールド動作の概要について説明する。ワーク供給部Aにおいてセット台2にセットされているワーク(基板1)は、ローダ16によって取り上げられ保持したままガイド部18に沿って予熱部Bに移動し、樹脂モールドされる前に予備加熱される。   An outline of the resin mold operation will be described. The workpiece (substrate 1) set on the setting table 2 in the workpiece supply section A moves to the preheating section B along the guide section 18 while being picked up and held by the loader 16, and is preheated before being molded with resin. The

一方、プレス装置6から、アンローダ17が樹脂モールド後の成形品11を取り出す動作と並行して、ローダ16はガイドレール上を移動してタブレット供給部4から樹脂タブレット3を取り上げると共に、予熱部Bから基板1を取り上げる。続いて、ローダ16は、プレス装置6の側方まで移動し、当該プレス装置6内に進入して基板1と樹脂タブレット3を型開きしたモールド金型に供給する。基板1及び樹脂タブレット3はモールド金型に設けられたヒータ(図示せず)によって加熱される。プレス装置6からローダ16が退出した後、モールド金型19(図3(C)参照)によりワークがクランプされ、半導体チップ5を収容しキャビティを形成するキャビティ凹部32(図3(D)参照)に溶融したモールド樹脂が充填されて半導体チップ5が樹脂モールドされる。   On the other hand, in parallel with the operation in which the unloader 17 takes out the molded product 11 after the resin molding from the pressing device 6, the loader 16 moves on the guide rail and picks up the resin tablet 3 from the tablet supply unit 4, and also the preheating unit B. Then, the substrate 1 is taken up. Subsequently, the loader 16 moves to the side of the press device 6, enters the press device 6, and supplies the substrate 1 and the resin tablet 3 to a mold die that is opened. The substrate 1 and the resin tablet 3 are heated by a heater (not shown) provided in the mold. After the loader 16 is withdrawn from the press device 6, the work is clamped by the mold 19 (see FIG. 3C), and the cavity recess 32 that accommodates the semiconductor chip 5 and forms the cavity (see FIG. 3D). The melted mold resin is filled in and the semiconductor chip 5 is resin-molded.

樹脂モールド後、型開きしたモールド金型にプレス装置6の側方からアンローダ17が進入し、成形品を取り上げてプレス装置6から成形品11を搬出する。搬出された成形品11は、アンローダ17がガイドレールに沿って移動して成形品収納部Dのセット部12に移載され、次いでセット部12からゲートブレイク部13に移送されてゲートブレイクされて不要樹脂が除去され、収納部14へ成形品11が収納される。尚、モールド樹脂として液状樹脂を用いるときには、成形品11の厚さ測定部を設けて樹脂モールド部分の厚みを測定して当該樹脂モールド部分の厚みの測定結果に基づいて、供給量を調整することもできる。   After the resin molding, the unloader 17 enters the mold mold opened from the side of the press device 6, picks up the molded product, and carries the molded product 11 out of the press device 6. The unloader 17 is moved along the guide rail and transferred to the set unit 12 of the molded product storage unit D, and then transferred from the set unit 12 to the gate break unit 13 for gate break. Unnecessary resin is removed, and the molded product 11 is stored in the storage unit 14. In addition, when using liquid resin as mold resin, the thickness measurement part of the molded article 11 is provided, the thickness of the resin mold part is measured, and the supply amount is adjusted based on the measurement result of the thickness of the resin mold part. You can also.

以上のように、ワーク供給部Aから順次、基板1を供給するとともに、基板10はプレス部Cにおいて樹脂モールドされ、成形品収納部Dに成形品11が収納される。
本実施形態の樹脂モールド装置においては、ワーク(基板1及び半導体チップ5)の厚さに対応させてクランプするようにモールド金型を駆動してから樹脂モールドすることにより、金型クランプによりワークに作用するストレスを可及的に減らして樹脂ばりを生じさせることなく、高精度に樹脂モールドすることができる。
As described above, the substrate 1 is sequentially supplied from the workpiece supply unit A, the substrate 10 is resin-molded in the press unit C, and the molded product 11 is stored in the molded product storage unit D.
In the resin molding apparatus according to the present embodiment, the mold is driven so as to be clamped in accordance with the thickness of the workpiece (the substrate 1 and the semiconductor chip 5), and then the resin mold is performed. Resin molding can be performed with high accuracy without reducing the acting stress as much as possible and generating a resin beam.

次に、樹脂モールド装置に具備するモールド金型の構成について図2を参照して説明する。モールド金型19は上型20(一方の金型)と下型21(他方の金型)を備えている。
図2(A)を参照して上型20の構成について説明する。上型20は上型チェイスブロック22にキャビティ底部を形成するキャビティ駒23がばね24を介して吊り下げ支持されている。キャビティ駒23のワーク当接面と反対面にはテーパー面23aが形成されている。キャビティ駒23は、上型チェイスブロック22との間に設けられた第1可動テーパーブロック25のテーパー面25aにテーパー面23aを重ね合わせるように支持されている(ウェッジ機構)。
Next, the structure of the mold die provided in the resin mold apparatus will be described with reference to FIG. The mold 19 includes an upper mold 20 (one mold) and a lower mold 21 (the other mold).
The configuration of the upper mold 20 will be described with reference to FIG. In the upper mold 20, a cavity piece 23 that forms a cavity bottom portion on an upper mold chase block 22 is suspended and supported via a spring 24. A taper surface 23 a is formed on the surface of the cavity piece 23 opposite to the work contact surface. The cavity piece 23 is supported so that the taper surface 23a overlaps the taper surface 25a of the first movable taper block 25 provided between the cavity piece 23 and the upper chase block 22 (wedge mechanism).

また、上型チェイスブロック22には、上型インサートブロック26(第1インサート)が剛体状に支持されている。キャビティ駒23は、上型インサートブロック26に形成されるキャビティ凹部の底部を形成するように貫通孔26aに挿入されて吊り下げ支持されている。また、キャビティ駒23を、ばね24が自然長より伸びた状態(復元力が作用した状態)で第1可動テーパーブロック25に支持させてもよい。この場合、キャビティ駒23は、第1可動テーパーブロック25とテーパー面どうしの当接することによりリジッド(剛体的)に支持される。上型インサートブロック26には、キャビティ凹部32を形成する凹部26bや上型カル26c、上型ランナ26dなどの樹脂路や上型クランプ面にダミーキャビティ26eが刻設されている。なお、ダミーキャビティ26eとキャビティ凹部32とを接続する溝部(スルーゲート)の深さは、フリップチップ実装された半導体チップ5であれば基板1との隙間(換言すれば、アンダーフィルされる部分)よりも狭く形成することができる。この場合、ダミーキャビティ26eへの樹脂の充填よりも半導体チップ5下へのアンダーフィルを優先させることができるため好ましい。また、上型インサートブロック26の外周面と対向する上型チェイスブロック22の内壁面との隙間を閉止する上型シールリング27が設けられている。上型シールリング27は、後述する2系統の減圧装置29、58による別々の機能を実現するために設けられる。即ち、上型シールリング27によるリリースフィルム10の吸引と、減圧装置58によるキャビティを減圧する空間を区分けするために設けられている。   Further, an upper mold insert block 26 (first insert) is supported on the upper chase block 22 in a rigid shape. The cavity piece 23 is suspended and supported by being inserted into the through hole 26a so as to form the bottom of a cavity recess formed in the upper mold insert block 26. Further, the cavity piece 23 may be supported by the first movable taper block 25 in a state where the spring 24 is extended from the natural length (a state in which a restoring force is applied). In this case, the cavity piece 23 is rigidly supported by contacting the first movable taper block 25 and the tapered surfaces. In the upper mold insert block 26, dummy cavities 26e are engraved on resin paths and upper mold clamping surfaces such as the recess 26b forming the cavity recess 32, the upper mold cull 26c, and the upper mold runner 26d. Note that the depth of the groove (through gate) connecting the dummy cavity 26e and the cavity recess 32 is the gap between the flip-chip mounted semiconductor chip 5 and the substrate 1 (in other words, the underfilled portion). It can be formed narrower than. In this case, the underfill under the semiconductor chip 5 can be prioritized over the resin filling of the dummy cavity 26e, which is preferable. Further, an upper mold seal ring 27 is provided for closing a gap between the outer surface of the upper mold insert block 26 and the inner wall surface of the upper mold chase block 22 facing the outer circumferential surface. The upper mold seal ring 27 is provided in order to realize different functions by two pressure reducing devices 29 and 58 described later. That is, it is provided to separate the suction of the release film 10 by the upper mold seal ring 27 and the space for decompressing the cavity by the decompression device 58.

上型チェイスブロック22には、上型吸引路28が設けられている。上型吸引路28は減圧装置29に接続されている。上型チェイスブロック22と上型インサートブロック26との隙間、上型インサートブロック26とキャビティ駒23との隙間及び上型インサートブロック26のクランプ面に形成された吸引孔(図示せず)は上型吸引路28と接続されて減圧装置29に接続される。リリースフィルム10は上型クランプ面に形成された吸引孔(図示せず)、キャビティ駒23と上型インサートブロック26との隙間を利用した吸引機構によりキャビティ駒23を含む上型クランプ面に吸着保持される。リリースフィルム10としては、モールド金型19の加熱温度に耐えられる耐熱性を有するもので、金型面より容易に剥離するものであって、柔軟性、伸展性を有するフィルム材、例えば、PTFE、ETFE、PET、FEP、フッ素含浸ガラスクロス、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニリジン等が好適に用いられる。   An upper mold suction path 28 is provided in the upper mold chase block 22. The upper mold suction path 28 is connected to a decompression device 29. The upper mold chase block 22 and the upper mold insert block 26, the upper mold insert block 26 and the cavity piece 23, and the suction hole (not shown) formed in the clamp surface of the upper mold insert block 26 are the upper mold. Connected to the suction path 28 and connected to the decompression device 29. The release film 10 is sucked and held on the upper mold clamping surface including the cavity piece 23 by a suction hole (not shown) formed in the upper mold clamping surface and a suction mechanism using a gap between the cavity piece 23 and the upper mold insert block 26. Is done. The release film 10 has heat resistance that can withstand the heating temperature of the mold 19 and is easily peeled off from the mold surface, and is a film material having flexibility and extensibility, such as PTFE, ETFE, PET, FEP, fluorine-impregnated glass cloth, polypropylene, polyvinylidyne chloride and the like are preferably used.

第1可動テーパーブロック25は、キャビティ駒23に向って板厚が減少(又は増加)するように所定の傾斜角度を持ったテーパー面25aが形成されている。第1可動テーパーブロック25は、ねじ軸30を介してサーボモータ31に連結されている(上型駆動部7)。サーボモータ31を所定方向に起動すると、ねじ軸30を通じてねじ嵌合する第1可動テーパーブロック25が上型チェイスブロック22の底部に沿って進退動する。これにより、キャビティ駒23がリリースフィルム10を介してキャビティ凹部32の型開閉方向の高さ位置(上面部)を調整することができる。なお、サーボモータ31は、上型20において加熱される型の壁面に対して離間して配置することができる。また、サーボモータ31は、型による加熱の防止やメンテナンス性を向上するために必要に応じてねじ軸30との連結を解除可能に構成されていてもよい。   The first movable taper block 25 is formed with a taper surface 25 a having a predetermined inclination angle so that the plate thickness decreases (or increases) toward the cavity piece 23. The first movable taper block 25 is connected to the servo motor 31 via the screw shaft 30 (upper die drive unit 7). When the servo motor 31 is activated in a predetermined direction, the first movable taper block 25 that is screwed through the screw shaft 30 moves forward and backward along the bottom of the upper chase block 22. Thereby, the cavity piece 23 can adjust the height position (upper surface part) of the mold opening / closing direction of the cavity recess 32 via the release film 10. The servo motor 31 can be arranged separately from the mold wall surface heated in the upper mold 20. Further, the servo motor 31 may be configured to be able to be disconnected from the screw shaft 30 as necessary in order to prevent heating by the mold and improve maintainability.

次に図2(A)を参照して下型21の構成について説明する。下型21は、駆動源(電動モータ)により駆動する駆動伝達機構(トグルリンク等のリンク機構若しくはねじ軸等)を介して下型チェイスブロック33を載置する下型可動プラテンを昇降させる公知の型締め機構によって型開閉が行われるようになっている。また、3個以上のボールねじ機構により下型可動プラテンの角部を支持して駆動量を微調整することで上型を支持する固定プラテンに対する下型可動プラテンの傾斜を補正する構成としてもよい。これらの場合、下型21の昇降動作は移動速度や加圧力等を任意に設定することができ、モールド樹脂をキャビティ凹部32に充填する動作及び後述する余剰樹脂をキャビティ凹部32から押し戻す動作においてモールド樹脂の流動速度や樹脂圧力を任意に設定することができる。このため、型締め機構によってこれらを制御も可能となるため、装置構成を簡素化することができる。   Next, the configuration of the lower mold 21 will be described with reference to FIG. The lower mold 21 is a known type that moves up and down a lower mold movable platen on which the lower mold chase block 33 is placed via a drive transmission mechanism (link mechanism such as a toggle link or a screw shaft) driven by a drive source (electric motor). The mold is opened and closed by a mold clamping mechanism. Further, it is possible to correct the inclination of the lower movable platen relative to the fixed platen that supports the upper die by supporting the corners of the lower movable platen by three or more ball screw mechanisms and finely adjusting the driving amount. . In these cases, the raising / lowering operation of the lower die 21 can arbitrarily set the moving speed, the applied pressure, and the like, and the mold resin is filled with the mold resin into the cavity recess 32 and the operation of pushing back the surplus resin described later from the cavity recess 32 The flow rate and resin pressure of the resin can be set arbitrarily. For this reason, since these can also be controlled by the mold clamping mechanism, the apparatus configuration can be simplified.

下型チェイスブロック33には、下型インサートブロック34(第2インサート)が組み付けられている。下型インサートブロック34の中央部にはモールド樹脂(樹脂タブレット3)が装填される筒状のポット35が組み付けられている。下型インサートブロック34の上端面は、ポット35の上端面と面一に形成されている。ポット35内には公知のトランスファ駆動機構により上下動するプランジャ36が設けられている。プランジャ36は、複数のポット35に対応して複数本が支持ブロック(図示しない)に設けられるマルチプランジャが用いられる。各プランジャ36の支持部には図示しない弾性部材が設けられており、各プランジャ36は弾性部材の弾性により僅かに変位して過剰な押圧力を逃がすとともに保圧時にはタブレットの樹脂量のばらつきに順応することができるようになっている。   A lower insert block 34 (second insert) is assembled to the lower chase block 33. A cylindrical pot 35 in which a mold resin (resin tablet 3) is loaded is assembled at the center of the lower mold insert block 34. The upper end surface of the lower mold insert block 34 is formed flush with the upper end surface of the pot 35. A plunger 36 that moves up and down by a known transfer drive mechanism is provided in the pot 35. The plunger 36 is a multi-plunger in which a plurality of plungers 36 are provided on a support block (not shown) corresponding to the plurality of pots 35. An elastic member (not shown) is provided on the support portion of each plunger 36, and each plunger 36 is slightly displaced by the elasticity of the elastic member to release an excessive pressing force, and adapts to variations in the resin amount of the tablet during holding. Can be done.

下型チェイスブロック33の上面には下型インサートブロック34の両側に隣接してワークが載置されるワーク支持部37が各々設けられている。ワークは、基板1の片面に半導体チップ5が実装された片面モールド用の製品が用いられる。ワーク支持部37は、下型チェイスブロック33の上面との間に設けられたばね38によってフローティング支持されている。   On the upper surface of the lower die chase block 33, workpiece support portions 37 on which workpieces are placed are provided adjacent to both sides of the lower die insert block 34, respectively. As the workpiece, a single-sided mold product in which the semiconductor chip 5 is mounted on one side of the substrate 1 is used. The work support portion 37 is floatingly supported by a spring 38 provided between the upper surface of the lower chase block 33.

ワーク支持部37と下型チェイスブロック33の間には、固定テーパーブロック57と第2可動テーパーブロック39が重ね合わせて設けられている。固定テーパーブロック57の下面に形成されたテーパー面57aと第2可動テーパーブロック39の上面に形成されたテーパー面39aとを重ね合わせた状態で下型チェイスブロック33上に支持されている(ウェッジ機構)。ワーク支持部37は、ばね38が自然長より縮んだ状態(弾発力が作用した状態)で支持された構成とすることができる。第2可動テーパーブロック39は、ねじ軸40を介してサーボモータ41に連結されている(下型駆動部8)。サーボモータ41を所定方向に起動すると、ねじ軸40を通じてねじ嵌合する第2可動テーパーブロック39が下型チェイスブロック33の底部に沿って進退動する。これにより、ワーク(基板1)の板厚に応じてワーク支持部37の型開閉方向の位置を調整して、例えば基板上面が下型クランプ面とほぼ面一になるように調整することができる。即ち、基板1の厚さに関わらず基板1の上面が下型クランプ面から同一量だけ高くなるようにすることで基板1を破損することなく樹脂漏れを防止できる適切なクランプ状態となる。ワーク支持部37は、固定テーパーブロック57によりリジッドに支持されるが、固定テーパーブロック57との間に隙間が形成されていてもよい。この場合には、ばね38のたわみにより基板1の過度のクランプ力を加えることなくクランプすることができる。尚、ワーク(基板1)の厚さに応じて、厚さの異なるワーク支持部37を交換して板厚を調整することもできる。さらに、ワーク支持部37に図示しない吸引構造を備えることもできる。この場合、予熱されることで歪みが発生しやすい基板1であってもワーク支持部37に吸着することで平坦に保持した状態でクランプするようにしてもよい。これにより、薄く反りの発生しやすい基板1であっても確実に保持して位置ずれすることなく確実にクランプすることができる。   A fixed taper block 57 and a second movable taper block 39 are overlapped between the work support portion 37 and the lower chase block 33. The taper surface 57a formed on the lower surface of the fixed taper block 57 and the taper surface 39a formed on the upper surface of the second movable taper block 39 are overlapped and supported on the lower chase block 33 (wedge mechanism). ). The work support portion 37 can be configured to be supported in a state where the spring 38 is contracted from its natural length (a state in which an elastic force is applied). The second movable taper block 39 is connected to the servo motor 41 via the screw shaft 40 (lower mold drive unit 8). When the servo motor 41 is activated in a predetermined direction, the second movable taper block 39 that is screwed through the screw shaft 40 moves forward and backward along the bottom of the lower chase block 33. Accordingly, the position of the workpiece support portion 37 in the mold opening / closing direction can be adjusted according to the thickness of the workpiece (substrate 1), for example, so that the upper surface of the substrate is substantially flush with the lower mold clamping surface. . That is, regardless of the thickness of the substrate 1, the upper surface of the substrate 1 is raised from the lower mold clamping surface by the same amount, so that an appropriate clamping state can be achieved in which resin leakage can be prevented without damaging the substrate 1. Although the work support portion 37 is rigidly supported by the fixed taper block 57, a gap may be formed between the work support portion 37 and the fixed taper block 57. In this case, the substrate 38 can be clamped without applying an excessive clamping force by the deflection of the spring 38. In addition, according to the thickness of a workpiece | work (board | substrate 1), the board | substrate thickness can also be adjusted by exchanging the workpiece | work support part 37 from which thickness differs. Furthermore, the workpiece support portion 37 can be provided with a suction structure (not shown). In this case, even if the substrate 1 is likely to be distorted by being preheated, it may be clamped in a state of being held flat by being attracted to the work support portion 37. Thereby, even the substrate 1 that is thin and easily warps can be reliably held and clamped without being displaced.

また、下型チェイスブロック33(下型21)の外周位置には、下型シールリング42が設けられている。また、下型チェイスブロック33には下型吸引路43が設けられている。下型吸引路43は減圧装置58に接続されている。下型吸引路43は下型シールリング42より内周側に開口している。モールド金型19を型閉じすると、上型チェイスブロック22と下型チェイスブロック33が下型シールリング42を挟み込む状態となって、上型20と下型21との間に外周が閉鎖された閉鎖空間が形成される。減圧装置58を起動すると下型吸引路43を通じて減圧空間が形成される。   Further, a lower mold seal ring 42 is provided at the outer peripheral position of the lower mold chase block 33 (lower mold 21). The lower chase block 33 is provided with a lower suction path 43. The lower mold suction path 43 is connected to a decompression device 58. The lower mold suction path 43 opens to the inner peripheral side from the lower mold seal ring 42. When the mold 19 is closed, the upper mold chase block 22 and the lower mold chase block 33 sandwich the lower mold seal ring 42, and the outer periphery is closed between the upper mold 20 and the lower mold 21. A space is formed. When the decompression device 58 is activated, a decompression space is formed through the lower mold suction path 43.

ここで、上記モールド金型19の樹脂モールド動作に伴う開閉動作について図2乃至図4を参照しながら説明する。図2(A)は、モールド金型19が型開きした状態を示す。上型クランプ面には、減圧装置29が作動してリリースフィルム10が吸着保持されている。本実施例では、例えばワーク(基板1及び半導体チップ5)の厚みに応じてモールド金型19を型閉じする前にキャビティ高さ可変機構及び板厚可変機構の動作量を微調整する。   Here, the opening / closing operation associated with the resin molding operation of the mold 19 will be described with reference to FIGS. FIG. 2A shows a state where the mold 19 is opened. The decompression device 29 is operated on the upper clamp surface to hold the release film 10 by suction. In the present embodiment, for example, the amount of operation of the cavity height variable mechanism and the plate thickness variable mechanism is finely adjusted before closing the mold 19 according to the thickness of the workpiece (substrate 1 and semiconductor chip 5).

即ち、半導体チップ5の高さに合わせてサーボモータ31を起動してねじ軸30を通じて第1可動テーパーブロック25をいずれか一方にスライド(進動又は退動)させて、キャビティ駒23が半導体チップ5に過度のストレスを与えることなく押圧できる高さ位置に調整しておく。
また、基板1の板厚に合わせてサーボモータ41を起動してねじ軸40を通じて第2可動テーパーブロック39をいずれか一方にスライド(進動又は退動)させて、ワーク支持部37が基板1に過度のストレスを与えることなくクランプできる高さ位置に調整しておく。
That is, the servo motor 31 is activated in accordance with the height of the semiconductor chip 5 and the first movable taper block 25 is slid (moved or retracted) to either one through the screw shaft 30 so that the cavity piece 23 becomes the semiconductor chip. 5 is adjusted to a height position where pressing can be performed without applying excessive stress.
Further, the servo motor 41 is activated in accordance with the thickness of the substrate 1 and the second movable taper block 39 is slid (moved or retracted) to either one through the screw shaft 40 so that the work support portion 37 is moved to the substrate 1. Adjust the height so that it can be clamped without excessive stress.

次に図2(B)において、型開きしたモールド金型19の下型21にローダ16(図1参照)によりワークが供給される。即ち、ワーク支持部37には半導体チップ5が実装された基板1が搬入され、ポット35には樹脂タブレット3が装填される。このとき、ワーク支持部37は、下型駆動部8により予め板厚調整されているため、基板1が下型クランプ面とほぼ面一になるように支持される。尚、半導体チップ5はワイヤボンディング実装されていてもよい。この場合、キャビティ駒23では半導体チップ5におけるワイヤがボンドされた内側の平坦部分に対してクランプできるような突起形状とすることで、半導体チップ5がワイヤボンディング実装されたワークであってもクランプして成形することができる。   Next, in FIG. 2 (B), the work is supplied to the lower mold 21 of the mold mold 19 opened by the loader 16 (see FIG. 1). That is, the substrate 1 on which the semiconductor chip 5 is mounted is loaded into the work support portion 37, and the resin tablet 3 is loaded into the pot 35. At this time, since the workpiece support portion 37 has been adjusted in thickness by the lower die driving portion 8 in advance, the substrate 1 is supported so as to be substantially flush with the lower die clamping surface. The semiconductor chip 5 may be mounted by wire bonding. In this case, the cavity piece 23 is formed in a protruding shape so that it can be clamped against the inner flat portion of the semiconductor chip 5 where the wire is bonded, so that even if the workpiece is mounted by wire bonding, the semiconductor chip 5 is clamped. Can be molded.

次に、図3(C)において、下型21を上昇させてモールド金型19を型閉じする。このとき、金型クランプ動作に先立って或いはクランプ動作開始と共に減圧装置58が作動して下型吸引路43より吸引動作を開始してもよい。上型チェイスブロック22が下型シールリング42に当接すると、上型20と下型21との間に閉鎖空間が形成され、下型吸引路43からの吸引動作により減圧空間が形成される。   Next, in FIG. 3C, the lower mold 21 is raised and the mold 19 is closed. At this time, prior to the mold clamping operation or when the clamping operation is started, the decompression device 58 may be activated to start the suction operation from the lower mold suction path 43. When the upper mold chase block 22 contacts the lower mold seal ring 42, a closed space is formed between the upper mold 20 and the lower mold 21, and a decompression space is formed by a suction operation from the lower mold suction path 43.

クランプ動作が更に進行して下型インサートブロック34及び基板1に上型インサートブロック26がリリースフィルム10を介して当接し、キャビティ駒23がリリースフィルム10を介して半導体チップ5に当接すると、クランプ動作が完了する。なお、モールド金型19を型閉じした後にキャビティ高さ可変機構及び板厚可変機構の動作量を微調整してもよい。   When the clamping operation further proceeds, the upper mold insert block 26 contacts the lower mold insert block 34 and the substrate 1 via the release film 10, and the cavity piece 23 contacts the semiconductor chip 5 via the release film 10, the clamp The operation is complete. Note that the operation amounts of the cavity height variable mechanism and the plate thickness variable mechanism may be finely adjusted after the mold 19 is closed.

次に図3(D)において、トランスファ機構を作動させて、プランジャ36を押し上げて溶融したモールド樹脂を上型カル26c、上型ランナ26dを通じてキャビティ凹部32に圧送りする。このとき、半導体チップ5の上面はキャビティ駒23に押圧されているので、フリップチップ実装された半導体チップ5であれば基板1との間に溶融樹脂を導いてアンダーフィルすることができる。即ち、モールド金型19内でアンダーフィルを行うモールドアンダーフィル(MUF)を行うことができる。なお、アンダーフィルする半導体チップ5直下の領域に充填される溶融樹脂にボイドがあってもキャビティ凹部32からダミーキャビティ26eへモールド樹脂をオーバーフローさせることでボイドを押し流してキャビティ内の樹脂充填性を向上させることができる。モールド樹脂に混入した気泡は、樹脂よりも優先して流されることでオーバーフローさせた後に図示しないエアベントを介して減圧空間に排出されて下型吸引路43より吸引されて排気させてもよい。また、板厚可変機構の動作により基板1の厚みに拘わらず均一な深さの溝部を介してダミーキャビティ26eにモールド樹脂を押し流すことができる。即ち、基板1の材質によってはクランプ力で変形し溝部内に盛り上がり、断面積を狭くしてしまうような事態を防止することができる。したがって、ワーク毎に厚みにばらつきがあってもダミーキャビティ26eへモールド樹脂を確実にオーバーフローさせながら樹脂漏れも防止することができるため、ワークの厚みによらず確実にボイドを排出でき、成形品質を安定させることが可能である。   Next, in FIG. 3D, the transfer mechanism is actuated to push up the plunger 36 and press the molten mold resin into the cavity recess 32 through the upper die 26c and the upper die runner 26d. At this time, since the upper surface of the semiconductor chip 5 is pressed by the cavity piece 23, underfilling can be performed by introducing a molten resin between the semiconductor chip 5 and the substrate 1 if the semiconductor chip 5 is flip-chip mounted. That is, mold underfill (MUF) for underfilling in the mold 19 can be performed. In addition, even if there is a void in the molten resin filled in the region immediately below the semiconductor chip 5 to be underfilled, the mold resin overflows from the cavity recess 32 to the dummy cavity 26e, so that the void is pushed away and the resin filling property in the cavity is improved. Can be made. The air bubbles mixed in the mold resin may be made to flow preferentially over the resin, overflow, and then discharged to a decompressed space through an air vent (not shown) and sucked from the lower mold suction path 43 and exhausted. In addition, the operation of the plate thickness varying mechanism can push the mold resin into the dummy cavity 26e through the groove portion having a uniform depth regardless of the thickness of the substrate 1. That is, depending on the material of the substrate 1, it is possible to prevent a situation in which the substrate 1 is deformed by the clamping force and rises in the groove portion and narrows the cross-sectional area. Therefore, even if the thickness varies from workpiece to workpiece, it is possible to prevent resin leakage while reliably overflowing the mold resin into the dummy cavity 26e. Therefore, voids can be reliably discharged regardless of the workpiece thickness, and the molding quality can be improved. It is possible to stabilize.

図4(E)は、基板1に実装された半導体チップ5のモールドアンダーフィルを行うのみならず、当該半導体チップ5を露出させずにオーバーモールドする工程を示す。この工程はワークの製品要件に応じて任意に実施することができる。図3(D)において、フリップチップ実装された半導体チップ5であればアンダーフィルモールドが行なわれた後、即ちダミーキャビティ26eへモールド樹脂をオーバーフローさせた後、上型駆動部7を起動してキャビティ駒23を上昇させてキャビティ凹部32の容積を拡大する。具体的には、サーボモータ31を起動してねじ軸30を通じて第1可動テーパーブロック25をキャビティ駒23の平面位置より退避する方向にスライドさせる。これにより、キャビティ駒23がテーパー面25aの傾きに沿って上昇し、半導体チップ5との間に隙間(キャビティ容積)が形成されてモールド樹脂が充填される。このように予めアンダーフィル工程を行った後にオーバーモールド工程を行うことにより、同時にこれらの工程を行う場合と比較し、アンダーフィルにおける未充填をより確実に防止することができる。   FIG. 4E shows a process of not only performing mold underfill of the semiconductor chip 5 mounted on the substrate 1 but also overmolding without exposing the semiconductor chip 5. This step can be arbitrarily performed according to the product requirements of the workpiece. In FIG. 3D, if the semiconductor chip 5 is flip-chip mounted, after underfill molding is performed, that is, after the mold resin overflows into the dummy cavity 26e, the upper die driving unit 7 is activated to start the cavity. The piece 23 is raised to increase the volume of the cavity recess 32. Specifically, the servo motor 31 is activated and the first movable taper block 25 is slid in the direction of retracting from the planar position of the cavity piece 23 through the screw shaft 30. As a result, the cavity piece 23 rises along the inclination of the tapered surface 25a, and a gap (cavity volume) is formed between the semiconductor chip 5 and the mold resin is filled. By performing the overmolding process after performing the underfill process in advance as described above, unfilling in the underfill can be more reliably prevented as compared with the case where these processes are performed simultaneously.

尚、アンダーフィルにおける充填性をさらに高めるために、キャビティ駒23の上下動を繰り返してもよい。この場合、サーボモータ31を正逆回転駆動してねじ軸30を通じて第1可動テーパーブロック25を進退動させることで、即ち図3(D)と図4(E)の状態が繰り返される。また、同時にプランジャ36の上下動を繰り返すことにより樹脂をキャビティ凹部32からポット35側に押し戻すようにしてもよい。これにより、モールド樹脂の流動量を多くすることで隙間である空間部に充填されやすくなる。なお、後述の実施例のように、型閉じ動作によりキャビティ駒23の高さを可変とする構成を用いるときには、素早く繰り返しを行うことができ、充填性の高い成形を短時間に行うことができる。   In addition, in order to further improve the filling property in the underfill, the vertical movement of the cavity piece 23 may be repeated. In this case, the servo motor 31 is driven to rotate forward and backward, and the first movable taper block 25 is moved forward and backward through the screw shaft 30, that is, the states shown in FIGS. 3D and 4E are repeated. At the same time, the resin may be pushed back from the cavity recess 32 toward the pot 35 by repeatedly moving the plunger 36 up and down. Thereby, it becomes easy to fill the space part which is a clearance gap by increasing the flow amount of mold resin. In addition, when using the structure which makes the height of the cavity piece 23 variable by mold | die closing operation | movement like the below-mentioned Example, it can repeat rapidly and can perform high filling property in a short time. .

上記モールド金型19を用いれば、基板の厚さにばらつきがあっても、板厚調整機構によりワーク支持部37の高さ位置を変更することで、基板1上面を金型クランプ面と一致するように調整することができ、基板1からの半導体チップ5の高さ(積層された高さを含む)にワーク毎のばらつきがあっても、キャビティ駒調整機構によりキャビティ駒23の高さ位置を変更することで、成形厚を一定になるように調整することができる。   When the mold 19 is used, even if the thickness of the substrate varies, the height position of the work support portion 37 is changed by the plate thickness adjusting mechanism so that the upper surface of the substrate 1 coincides with the mold clamp surface. The height of the cavity piece 23 can be adjusted by the cavity piece adjusting mechanism even if the height of the semiconductor chip 5 (including the stacked height) from the substrate 1 varies from workpiece to workpiece. By changing, the molding thickness can be adjusted to be constant.

よって、ワーク(基板1、半導体チップ)の厚み方向のばらつきの有無やばらつき量の大小にかかわらず、ワークに過大なストレスが作用せず型締めバランスを安定させてクランプすることができる。キャビティ駒23とワーク支持部37の双方に型開閉方向の位置を調節するウェッジ機構が設けられていると、キャビティ駒23及びワーク支持部37の型開閉方向の位置制御を高精度化することができるので、金型クランプ時にワークに作用するストレスを可及的に低減でき、高精度な成形品質を維持することができる。
また、キャビティ凹部32へ充填されるモールド樹脂に発生したボイドをダミーキャビティへ押し流して成形品質を向上させることができる。特に、アンダーフィルモールドを行う際の樹脂充填性を向上させることができる。
したがって、成形厚が均一でフラッシュばりの生じない、成形品質を高めた樹脂モールド装置を提供することができる。
Therefore, regardless of the presence or absence of variation in the thickness direction of the workpiece (substrate 1 or semiconductor chip) and the amount of variation, excessive stress is not applied to the workpiece, and the clamping balance can be stabilized and clamped. If a wedge mechanism for adjusting the position in the mold opening / closing direction is provided in both the cavity piece 23 and the work support part 37, the position control in the mold opening / closing direction of the cavity piece 23 and the work support part 37 can be made highly accurate. As a result, the stress acting on the workpiece during mold clamping can be reduced as much as possible, and high-precision molding quality can be maintained.
In addition, the void generated in the mold resin filled in the cavity recess 32 can be pushed to the dummy cavity to improve the molding quality. In particular, it is possible to improve resin filling properties when performing underfill molding.
Therefore, it is possible to provide a resin mold apparatus having a uniform molding thickness and no flash flash and having improved molding quality.

[実施例2]
次に樹脂モールド装置の他例について説明する。装置構成は共通しているので、主にモールド金型の変更点を中心に説明する。実施例1と同一部材には同一番号を付して説明を援用するものとする。
[Example 2]
Next, another example of the resin molding apparatus will be described. Since the apparatus configuration is common, the description will mainly focus on the changes in the mold. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description is incorporated.

図5(A)(B)において、上型20と下型21との間に中間プレート44を介在させて樹脂モールドを行う点が相違する。中間プレート44には、ポット35に連通する第1の貫通孔44aと上型ランナ26dに連通するゲート44b(樹脂路)と、ゲート44bが連通する半導体チップ5を収容する第2の貫通孔44c(キャビティに相当)と、第2の貫通孔44cとダミーキャビティ26eを連通するスルーゲート44d(樹脂路)が形成されている。中間プレート44は、例えば板厚がワークの半導体チップ5の高さに合致し、樹脂モールド領域が第2の貫通孔44cに合致したものが用いられる。   5A and 5B, a difference is that resin molding is performed by interposing an intermediate plate 44 between the upper mold 20 and the lower mold 21. The intermediate plate 44 has a first through hole 44a that communicates with the pot 35, a gate 44b (resin passage) that communicates with the upper runner 26d, and a second through hole 44c that houses the semiconductor chip 5 that communicates with the gate 44b. (Corresponding to a cavity) and a through gate 44d (resin passage) that connects the second through hole 44c and the dummy cavity 26e are formed. As the intermediate plate 44, for example, a plate whose thickness matches the height of the semiconductor chip 5 of the workpiece and whose resin mold region matches the second through hole 44c is used.

図5(A)において、前提として、ワーク測定部Bにおける測定結果に応じて半導体チップ5の高さに合わせてサーボモータ31を起動してねじ軸30を通じて第1可動テーパーブロック25をいずれか一方にスライド(進動又は退動)させて、キャビティ駒23が半導体チップ5に過度のストレスを与えることなく押圧できる高さ位置に予め調整しておく。
また、基板1の板厚に合わせてサーボモータ41を起動してねじ軸40を通じて第2可動テーパーブロック39をいずれか一方にスライド(進動又は退動)させて、ワーク支持部37が基板1に過度のストレスを与えることなくクランプできる高さ位置に予め調整しておく。
In FIG. 5A, as a premise, the servo motor 31 is activated in accordance with the height of the semiconductor chip 5 according to the measurement result in the workpiece measurement unit B, and either the first movable taper block 25 is set through the screw shaft 30. The cavity piece 23 is adjusted in advance to a height position at which the cavity piece 23 can be pressed without applying excessive stress to the semiconductor chip 5.
Further, the servo motor 41 is activated in accordance with the thickness of the substrate 1 and the second movable taper block 39 is slid (moved or retracted) to either one through the screw shaft 40 so that the work support portion 37 is moved to the substrate 1. The height is adjusted in advance so that it can be clamped without excessive stress.

次いで、ローダ16によって、基板1をワーク支持部37に載置し樹脂タブレット3をポット35に装填した後、中間プレート44を基板1の外周端部と下型インサートブロック34との隙間を跨いで下型クランプ面に重ね合わせる。このとき、中間プレート44は、第1の貫通孔44aはポット35と位置合わせされ、第2の貫通孔44c内に半導体チップ5が収容されるように位置合わせされて下型クランプ面に載置される。中間プレート44は、供給ユニットを設けて独自の搬送機構によってモールド金型19へ供給してもよいが、ローダ16によって樹脂タブレット3と共に供給するようにしてもよい。   Next, after the substrate 1 is placed on the work support portion 37 and the resin tablet 3 is loaded in the pot 35 by the loader 16, the intermediate plate 44 is placed across the gap between the outer peripheral end of the substrate 1 and the lower mold insert block 34. Overlay the lower clamp surface. At this time, the intermediate plate 44 is positioned so that the first through hole 44a is aligned with the pot 35, and the semiconductor chip 5 is accommodated in the second through hole 44c, and is placed on the lower mold clamping surface. Is done. The intermediate plate 44 may be supplied to the mold 19 by a unique transport mechanism provided with a supply unit, but may be supplied together with the resin tablet 3 by the loader 16.

次いで下型21を上昇させてモールド金型19を型閉じする。上型チェイスブロック22が下型シールリング42に当接すると、上型20と下型21との間に閉鎖空間が形成され、下型吸引路43からの吸引動作により減圧空間が形成される。クランプ動作が更に進行して中間プレート44に上型インサートブロック26がリリースフィルム10を介して当接し、キャビティ駒23がリリースフィルム10を介して半導体チップ5に当接すると、クランプ動作が完了する。   Next, the lower mold 21 is raised and the mold 19 is closed. When the upper mold chase block 22 contacts the lower mold seal ring 42, a closed space is formed between the upper mold 20 and the lower mold 21, and a decompression space is formed by a suction operation from the lower mold suction path 43. When the clamping operation further proceeds and the upper insert block 26 contacts the intermediate plate 44 via the release film 10 and the cavity piece 23 contacts the semiconductor chip 5 via the release film 10, the clamping operation is completed.

次に図5(B)において、トランスファ機構を作動させて、プランジャ36を押し上げて溶融したモールド樹脂を第1の貫通孔44a、上型カル26c、上型ランナ26d、ゲート44bを通じて第2の貫通孔44cに圧送りする。このとき、溶融したモールド樹脂は、中間プレート44の上面を通過することで基板1と型の隙間を跨いで、キャビティを構成する第2の貫通孔44cに直接注入される。また、フリップチップ実装された半導体チップ5であればその上面はキャビティ駒23に押圧されているので、半導体チップ5と基板1との間に溶融樹脂を導いてアンダーフィルモールドを行うことができる。また、第2の貫通孔44cからスルーゲート44dを通じてダミーキャビティ26eへモールド樹脂をオーバーフローさせることでボイド(未充填)を押し流してキャビティ内の樹脂充填性を向上させることができる。   Next, in FIG. 5B, the transfer mechanism is actuated to push the plunger 36 up and melt the molded resin through the first through hole 44a, the upper die 26c, the upper runner 26d, and the gate 44b. It pressure-feeds to the hole 44c. At this time, the melted mold resin passes through the upper surface of the intermediate plate 44 and is directly injected into the second through-hole 44c constituting the cavity across the gap between the substrate 1 and the mold. Further, since the upper surface of the flip-chip mounted semiconductor chip 5 is pressed by the cavity piece 23, an underfill molding can be performed by introducing a molten resin between the semiconductor chip 5 and the substrate 1. Further, by overflowing the mold resin from the second through hole 44c to the dummy cavity 26e through the through gate 44d, the void (unfilled) can be washed away, and the resin filling property in the cavity can be improved.

この場合、基板1にランナやダミーキャビティ等のようにモールド後に剥離する必要のある部位の剥離を容易にするための金めっきは不要になり、基板1と下型インサートブロック34との隙間にモールド樹脂が漏れて金型の摺動不良を起こすおそれもなくなる。   In this case, gold plating for facilitating peeling of a portion that needs to be peeled off after molding, such as a runner or a dummy cavity, on the substrate 1 becomes unnecessary, and the mold is formed in the gap between the substrate 1 and the lower mold insert block 34. There is no risk of resin leakage and defective sliding of the mold.

[実施例3]
次に樹脂モールド装置の他例について説明する。装置構成は共通しているので、主にモールド金型の変更点を中心に説明する。実施例1と同一部材には同一番号を付して説明を援用するものとする。
本実施例は、中間プレート44を用いている点は実施例2と同様であるが、上型20にスイベル機構45が付加されている点が異なっている。具体的には、第1可動テーパーブロック25と半導体チップ5にリリースフィルム10を介して当接するキャビティ駒23との間にガイド駒46が設けられている。ガイド駒46は、ばね24によって上型チェイスブロック22に吊り下げ支持されている。キャビティ駒23とガイド駒46との間、即ちワーク当接面と反対面側には、ばね24よりも十分に出力が小さい押圧ばね47が弾装されており、キャビティ駒23とガイド駒46との間に隙間が形成されている。尚、この隙間は必ずしも設ける必要はないが、キャビティ駒23とガイド駒46との摺動抵抗を低くして、キャビティ駒23の傾動をスムーズに行うためにわずかな隙間を設ける方が望ましい。
[Example 3]
Next, another example of the resin molding apparatus will be described. Since the apparatus configuration is common, the description will mainly focus on the changes in the mold. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description is incorporated.
The present embodiment is similar to the second embodiment in that the intermediate plate 44 is used, except that a swivel mechanism 45 is added to the upper mold 20. Specifically, a guide piece 46 is provided between the first movable taper block 25 and the cavity piece 23 that comes into contact with the semiconductor chip 5 via the release film 10. The guide piece 46 is suspended and supported by the upper chase block 22 by the spring 24. Between the cavity piece 23 and the guide piece 46, that is, on the side opposite to the workpiece contact surface, a pressing spring 47 whose output is sufficiently smaller than that of the spring 24 is elastically mounted. A gap is formed between the two. Although it is not always necessary to provide this gap, it is desirable to provide a slight gap in order to reduce the sliding resistance between the cavity piece 23 and the guide piece 46 and to smoothly tilt the cavity piece 23.

キャビティ駒23のガイド駒46と対向する対向面中央部には凸面部23d(ガイド面部)が形成されており、キャビティ駒23と対向するガイド駒46の対向面中央部には凸面部23dと嵌合する凹面部(ガイド面部;図示せず)が形成されている。キャビティ駒23は、リリースフィルム10を介して複数(或いは単数)の半導体チップ5に当接すると、当該半導体チップ5の高さのばらつき(傾き)に倣って適宜な傾斜状態となり、凸面部23dを中心として傾動した状態で押圧する。上型20と下型21とのクランプが完了すると、キャビティ駒23とガイド駒46との間の押圧ばね47は押し縮められて凸面部23dと凹面部(図示せず)が嵌合して隙間が解消されたリジッド(剛体的)な状態でクランプされる。この場合、凸面部23dを球面で構成して、この球面の中心をキャビティ駒23において半導体チップ5に向けられた端面に一致させることもできる。これによれば、キャビティ駒23が傾斜させながら半導体チップ5をクランプしても当該半導体チップ5にせん断方向の応力を発生させることなくクランプすることができるためより好ましい。ただし、凸面部23dをガイド駒46側に設けてもよい。   A convex surface portion 23d (guide surface portion) is formed in the central portion of the cavity piece 23 facing the guide piece 46, and the convex portion 23d is fitted in the central part of the opposed surface of the guide piece 46 facing the cavity piece 23. Concave concave portions (guide surface portions; not shown) are formed. When the cavity piece 23 comes into contact with a plurality (or a single number) of semiconductor chips 5 via the release film 10, the cavity piece 23 becomes an appropriate inclined state following the height variation (inclination) of the semiconductor chip 5, and the convex surface portion 23 d is formed. Press in a tilted state as the center. When the clamping of the upper mold 20 and the lower mold 21 is completed, the pressing spring 47 between the cavity piece 23 and the guide piece 46 is compressed and the convex surface portion 23d and the concave surface portion (not shown) are fitted to each other to form a gap. It is clamped in a rigid (rigid) state in which is eliminated. In this case, the convex surface portion 23 d can be formed of a spherical surface, and the center of this spherical surface can be made to coincide with the end surface directed to the semiconductor chip 5 in the cavity piece 23. According to this, even if the semiconductor chip 5 is clamped while the cavity piece 23 is tilted, it is more preferable because the semiconductor chip 5 can be clamped without generating a stress in the shear direction. However, the convex surface portion 23d may be provided on the guide piece 46 side.

図6(A)において、前提として、ワーク測定部Bにおける測定結果に応じて半導体チップ5の高さに合わせてサーボモータ31を起動してキャビティ駒23が半導体チップ5に過度のストレスを与えることなく押圧できる高さ位置に予め調整しておく。同様に基板1の板厚に合わせてサーボモータ41を起動してワーク支持部37が基板1に過度のストレスを与えることなくクランプできる高さ位置に予め調整しておく。   6A, it is assumed that the cavity piece 23 applies excessive stress to the semiconductor chip 5 by starting the servo motor 31 according to the height of the semiconductor chip 5 according to the measurement result in the workpiece measurement unit B. The height is adjusted in advance so that it can be pressed without any problem. Similarly, the servo motor 41 is activated in accordance with the thickness of the substrate 1 and is adjusted in advance to a height position at which the workpiece support portion 37 can be clamped without applying excessive stress to the substrate 1.

次いで、ローダ16によって、基板1をワーク支持部37に載置し樹脂タブレット3をポット35に装填した後、中間プレート44を基板1の外周端部と下型インサートブロック34との隙間を跨いで下型クランプ面に重ね合わせる。   Next, after the substrate 1 is placed on the work support portion 37 and the resin tablet 3 is loaded in the pot 35 by the loader 16, the intermediate plate 44 is placed across the gap between the outer peripheral end of the substrate 1 and the lower mold insert block 34. Overlay the lower clamp surface.

次いで下型21を上昇させてモールド金型19を型閉じする。上型チェイスブロック22が下型シールリング42に当接すると、上型20と下型21との間に閉鎖空間が形成され、下型吸引路43からの吸引動作により減圧空間が形成される。クランプ動作が更に進行して中間プレート44に上型インサートブロック26がリリースフィルム10を介して当接し、キャビティ駒23がリリースフィルム10を介して半導体チップ5に当接すると、スイベル機構45によってキャビティ駒23が凸面部23dを中心に傾動したまま、クランプ動作が完了する。   Next, the lower mold 21 is raised and the mold 19 is closed. When the upper mold chase block 22 contacts the lower mold seal ring 42, a closed space is formed between the upper mold 20 and the lower mold 21, and a decompression space is formed by a suction operation from the lower mold suction path 43. When the clamping operation further proceeds and the upper insert block 26 comes into contact with the intermediate plate 44 via the release film 10 and the cavity piece 23 comes into contact with the semiconductor chip 5 via the release film 10, the swivel mechanism 45 causes the cavity piece to come into contact. The clamping operation is completed while 23 is tilted about the convex surface portion 23d.

次に、図6(B)において、トランスファ機構を作動させて、プランジャ36を押し上げて溶融したモールド樹脂を第1の貫通孔44a、上型カル26c、上型ランナ26d、ゲート44bを通じて第2の貫通孔44cに圧送りする。このとき、半導体チップ5の上面はキャビティ駒23に押圧されているので、フリップチップ実装された半導体チップ5であれば基板1との間に溶融樹脂を導いてアンダーフィルモールドを行うことができる。また、第2の貫通孔44cからスルーゲート44dを通じてダミーキャビティ26eへモールド樹脂をオーバーフローさせることでボイドを押し流してキャビティ内の樹脂充填性を向上させることができる。   Next, in FIG. 6B, the transfer mechanism is actuated to push the plunger 36 up and melt the molded resin through the first through hole 44a, the upper die 26c, the upper runner 26d, and the gate 44b. The pressure is fed to the through hole 44c. At this time, since the upper surface of the semiconductor chip 5 is pressed by the cavity piece 23, the underfill molding can be performed by introducing a molten resin between the semiconductor chip 5 and the substrate 1 if the semiconductor chip 5 is flip-chip mounted. Further, by overflowing the mold resin from the second through hole 44c to the dummy cavity 26e through the through gate 44d, the void can be washed away, and the resin filling property in the cavity can be improved.

以上より、基板1に実装された半導体チップ5に傾きが生じていても、キャビティ駒23とリリースフィルム10を介して片当たりすることなく半導体チップ5の傾きに倣ってキャビティ駒23が傾動するので、半導体チップ5にストレスが生じることはなくチップが損傷したり破損したり、フラッシュばりが発生したりするおそれがなくなる。よって、成形品質が向上する。また、このようにキャビティ駒23を傾動可能とすることで、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)とFWD(Free Wheeling Diode)を一対のリードフレームで挟み込んでインバータを構成するパッケージのように、異なる素子を挟み込んで構成されるために一対のリードフレームが傾き易いワークであってもフラッシュばりの発生を確実に防止することができる。なお、このような成形例においては、下側に配置されたリードフレームが本発明の「第一部材」に相当し、IGBT、FWD及び上側に配置されたリードフレームが本発明の「第二部材」に相当する。   As described above, even if the semiconductor chip 5 mounted on the substrate 1 is inclined, the cavity piece 23 is tilted following the inclination of the semiconductor chip 5 without being partly contacted via the cavity piece 23 and the release film 10. The semiconductor chip 5 is not stressed, and there is no possibility that the chip is damaged or broken, or flash flash is generated. Therefore, the molding quality is improved. Further, by enabling the cavity piece 23 to be tilted in this way, different elements such as a package constituting an inverter by sandwiching an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) and an FWD (Free Wheeling Diode) between a pair of lead frames are provided. Since the structure is sandwiched between the workpieces, it is possible to reliably prevent the flash flash even when the pair of lead frames is a workpiece that is easily tilted. In such a molding example, the lead frame disposed on the lower side corresponds to the “first member” of the present invention, and the lead frame disposed on the IGBT, FWD and the upper side is the “second member” of the present invention. Is equivalent to.

[実施例4]
次に樹脂モールド装置の他例について説明する。装置構成は共通しているので、主にモールド金型の変更点を中心に説明する。実施例1と同一部材には同一番号を付して説明を援用するものとする。
図7(A)において、上型インサートブロック26のクランプ面において、基板対向面より外側にダミーキャビティ26eが設けられている。また、ダミーキャビティ26eより外周側のクランプ面には、リリースフィルム10を介して対向する下型インサートブロック34のクランプ面を押圧することで減圧動作を停止させる閉止ピン48(閉止手段)が進退動可能に設けられていてもよい。閉止ピン48は、ソレノイドやシリンダなどの駆動機構により進退動させてもよい。
[Example 4]
Next, another example of the resin molding apparatus will be described. Since the apparatus configuration is common, the description will mainly focus on the changes in the mold. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description is incorporated.
In FIG. 7A, a dummy cavity 26e is provided on the clamp surface of the upper insert block 26 on the outer side from the substrate facing surface. In addition, a closing pin 48 (closing means) that stops the pressure reducing operation by pressing the clamping surface of the lower insert block 34 facing the release film 10 on the outer peripheral side of the dummy cavity 26e moves forward and backward. It may be provided. The closing pin 48 may be moved forward and backward by a driving mechanism such as a solenoid or a cylinder.

上記構成によれば、ダミーキャビティ26eを基板1上に形成する必要がなくなるため、基板1上の成形品11の取り個数を増やして基板1の利用率を向上させることができる。また、希望するタイミング、例えばダミーキャビティ26eがオーバーフローしたモールド樹脂で満たされた状態で、モールド金型19内からエアが排出されないようにして樹脂の漏出も防止することができる。また、ダミーキャビティ26eから外周に延びてキャビティからのエアを排出するエアベント(図示せず)を深く形成することでエアを排出しやすくすることができるため、素早く確実に減圧して未充填を防ぐことができる。   According to the above configuration, it is not necessary to form the dummy cavity 26e on the substrate 1, so that the utilization rate of the substrate 1 can be improved by increasing the number of molded products 11 on the substrate 1. Further, it is possible to prevent leakage of the resin by preventing air from being discharged from the mold 19 in a desired timing, for example, when the dummy cavity 26e is filled with the overflowing mold resin. In addition, the air vent (not shown) that extends from the dummy cavity 26e to the outer periphery and discharges air from the cavity can be deeply formed to facilitate air discharge. be able to.

また図7(B)は、中間プレート44を用いた実施例であるが、ダミーキャビティ44eが基板対向面より外周側に設けられている。ダミーキャビティ44eは貫通孔により形成されておりスルーゲート44dを通じて第2の貫通孔44cからオーバーフローさせて余剰樹脂を収容する。また、上型インサートブロック26には、ダミーキャビティ44eより外周側のクランプ面には、リリースフィルム10を介して対向する中間プレート44のクランプ面を押圧する閉止ピン48が設けられている。上記構成によれば、ダミーキャビティ44eが基板1外に形成されていると、ダミーキャビティ44e及びキャビティ凹部32と接続する溝部とを基板1上に形成する必要がなくなるため、基板1上の成形品11の取り個数を増やして基板1の利用率を向上させることができる。また、ダミーキャビティ44eが中間プレート44を貫通する貫通孔に形成されていると、ダミーキャビティ44eに充填された不要樹脂をピン等(図示せず)により押し出すだけで離型することができ、不要樹脂の離型を容易にすることもできる。なお、ダミーキャビティ26eとダミーキャビティ44eとの両方を備える構成としてもよい。   FIG. 7B shows an embodiment in which the intermediate plate 44 is used. A dummy cavity 44e is provided on the outer peripheral side from the substrate facing surface. The dummy cavity 44e is formed by a through hole, and overflows from the second through hole 44c through the through gate 44d to accommodate excess resin. Further, the upper insert block 26 is provided with a closing pin 48 on the clamp surface on the outer peripheral side of the dummy cavity 44e for pressing the clamp surface of the intermediate plate 44 facing the release film 10. According to the above configuration, when the dummy cavity 44e is formed outside the substrate 1, it is not necessary to form the dummy cavity 44e and the groove portion connected to the cavity recess 32 on the substrate 1, so that the molded product on the substrate 1 is formed. The utilization rate of the board | substrate 1 can be improved by increasing the number of 11 pieces. Further, when the dummy cavity 44e is formed in a through-hole penetrating the intermediate plate 44, unnecessary resin filled in the dummy cavity 44e can be released simply by pushing it out with a pin or the like (not shown). Resin release can also be facilitated. In addition, it is good also as a structure provided with both the dummy cavity 26e and the dummy cavity 44e.

[第5実施例]
次に樹脂モールド装置の他例について説明する。主にモールド金型の変更点を中心に説明する。実施例1と同一部材には同一番号を付して説明を援用するものとする。実施例1乃至実施例4は、キャビティ高さ可変機構としてキャビティ駒23がウェッジ機構を介して支持されていたが、図8(A)に示すようにキャビティ駒23が上型チェイスブロック22に剛体状に支持されている。なお、上型インサートブロック26がばね49により吊り下げ支持されていてもよい。上型20には、ウェッジ機構は設けられておらず、下型21のワーク支持部37と第2可動テーパーブロック39によるウェッジ機構のみが設けられている。
[Fifth embodiment]
Next, another example of the resin molding apparatus will be described. The description will mainly focus on the changes in the mold. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description is incorporated. In the first to fourth embodiments, the cavity piece 23 is supported via the wedge mechanism as the cavity height variable mechanism, but the cavity piece 23 is rigidly attached to the upper chase block 22 as shown in FIG. It is supported in the shape. The upper mold insert block 26 may be supported by being suspended by a spring 49. The upper mold 20 is not provided with a wedge mechanism, and is provided with only a wedge mechanism including the workpiece support portion 37 of the lower mold 21 and the second movable taper block 39.

モールド金型19のクランプ動作について説明すると、図8(A)において、基板1の板厚に合わせてサーボモータ41を起動してねじ軸40を通じて第2可動テーパーブロック39をいずれか一方にスライド(進動又は退動)させて、ワーク支持部37が基板1に過度のストレスを与えることなくクランプできる高さ位置に調整しておく。この状態で型開きしたモールド金型19の下型21にローダ16(図1参照)によりワークが供給される。このとき、ワーク支持部37は、下型駆動部8により予め板厚調整されているため、基板1が下型クランプ面と面一若しくは下型クランプ面より若干高くなるように支持される。   The clamping operation of the mold 19 will be described. In FIG. 8A, the servo motor 41 is activated in accordance with the thickness of the substrate 1 and the second movable taper block 39 is slid to either one through the screw shaft 40 ( (Advance or retreat), and the work support unit 37 is adjusted to a height position at which it can be clamped without applying excessive stress to the substrate 1. In this state, the work is supplied to the lower mold 21 of the mold 19 opened by the loader 16 (see FIG. 1). At this time, since the thickness of the work support portion 37 is adjusted in advance by the lower die drive portion 8, the substrate 1 is supported so as to be flush with the lower die clamp surface or slightly higher than the lower die clamp surface.

次に図8(B)において、下型21を上昇させてモールド金型19を型閉じする。このとき、金型クランプ動作に先立って或いはクランプ動作開始と共に減圧装置58が作動して下型吸引路43より吸引動作を開始してもよい。上型チェイスブロック22が下型シールリング42に当接すると、上型20と下型21との間に閉鎖空間が形成され、下型吸引路43からの吸引動作により減圧空間が形成される。
クランプ動作が進行して下型インサートブロック34及び基板1に上型インサートブロック26がリリースフィルム10を介して当接する。
更にクランプ動作が進行すると、図8(C)に示すように上型インサートブロック26が下型インサートブロック34及び基板1に当接したままばね49が押し縮められ、キャビティ駒23がリリースフィルム10を介して半導体チップ5に当接する。この場合、ばね49が押し縮められることにより下型可動プラテンに対して反力として発生するクランプ力を検出し、所定のクランプ力となったときにクランプ動作が完了となる。
Next, in FIG. 8B, the lower mold 21 is raised and the mold 19 is closed. At this time, prior to the mold clamping operation or when the clamping operation is started, the decompression device 58 may be activated to start the suction operation from the lower mold suction path 43. When the upper mold chase block 22 contacts the lower mold seal ring 42, a closed space is formed between the upper mold 20 and the lower mold 21, and a decompression space is formed by a suction operation from the lower mold suction path 43.
As the clamping operation proceeds, the upper mold insert block 26 comes into contact with the lower mold insert block 34 and the substrate 1 through the release film 10.
When the clamping operation further proceeds, as shown in FIG. 8C, the spring 49 is compressed while the upper die insert block 26 is in contact with the lower die insert block 34 and the substrate 1, and the cavity piece 23 causes the release film 10 to move. Via the semiconductor chip 5. In this case, the clamping force generated as a reaction force against the lower mold platen is detected by the spring 49 being compressed, and the clamping operation is completed when the predetermined clamping force is reached.

これにより、キャビティ駒23が上型インサートブロック26に対して相対的に昇降して型開閉方向に移動するために、下型可動プラテンを昇降させる型締め機構がキャビティ高さ可変機構として機能する。続いて、トランスファ機構を作動させてプランジャ36を押し上げ、溶融したモールド樹脂を圧送りしキャビティ凹部32に注入する。この場合、モールド樹脂をキャビティ凹部32に注入する前に型閉じ動作を完了するだけで半導体チップ5の高さに合わせてキャビティ高さが設定される。   Accordingly, the cavity piece 23 moves up and down relatively with respect to the upper mold insert block 26 and moves in the mold opening / closing direction, so that the mold clamping mechanism that raises and lowers the lower mold movable platen functions as a cavity height variable mechanism. Subsequently, the transfer mechanism is operated to push up the plunger 36, and the molten mold resin is pressure-fed and injected into the cavity recess 32. In this case, the cavity height is set in accordance with the height of the semiconductor chip 5 only by completing the mold closing operation before injecting the mold resin into the cavity recess 32.

尚、基板1と下型インサートブロック34との隙間を解消するため、必要に応じて基板1を外側からポット35側の下型インサート34の壁面に押し当てる押し当て機構や、基板1を物理的に変形させて隙間をなくすつぶし機構などを設けてもよい。これにより、流動性の高いモールド樹脂の漏れを可能な限り防ぐことができる。
また、キャビティ駒23は、上型チェイスブロック22に剛体状に支持されていたが、ばねを介して吊り下げ支持されていてもよい。この場合、上型インサートブロック26を上型チェイスブロック22に剛体状に支持することで、クランプ完了前にキャビティ駒23で半導体チップ5をクランプした後で型閉じを完了するようにしてもよい。
In order to eliminate the gap between the substrate 1 and the lower mold insert block 34, a pressing mechanism for pressing the substrate 1 from the outside to the wall surface of the lower mold insert 34 on the pot 35 side as necessary, or the substrate 1 physically A crushing mechanism or the like that eliminates the gap may be provided by deforming it. Thereby, leakage of mold resin with high fluidity can be prevented as much as possible.
Further, the cavity piece 23 is supported by the upper chase block 22 in a rigid shape, but may be supported by being suspended through a spring. In this case, the upper mold insert block 26 may be rigidly supported by the upper mold chase block 22 so that the mold closing may be completed after the semiconductor chip 5 is clamped by the cavity piece 23 before the clamping is completed.

上記構成によれば、モールド金型19の型閉じ動作において下型21を半導体チップ5の高さに応じた所定量上昇させるだけでキャビティ駒23及び/又は上型インサートブロック26(クランパ)のフロート量が調整される。これにより、キャビティの深さ位置(基板1からキャビティ駒23までの高さ)を調整する別途の動作を行うことなく設定することができる。即ち、半導体チップ5の高さに合わせて設定された位置まで下型21を上昇させるだけで、ワークに過大な押圧力をかけることなくクランプすることができ、簡易な構成により上述した実施例と同様の効果を奏することができる。   According to the above configuration, the float of the cavity piece 23 and / or the upper mold insert block 26 (clamper) is simply raised by raising the lower mold 21 by a predetermined amount corresponding to the height of the semiconductor chip 5 in the mold closing operation of the mold 19. The amount is adjusted. Thereby, it can set, without performing the separate operation | movement which adjusts the depth position (height from the board | substrate 1 to the cavity piece 23) of a cavity. That is, it is possible to clamp the workpiece without excessive pressure by simply raising the lower die 21 to a position set in accordance with the height of the semiconductor chip 5, and with the above-described embodiment with a simple configuration. Similar effects can be achieved.

[実施例6]
次に樹脂モールド装置の他例について説明する。装置構成は共通しているので、主にモールド金型の変更点を中心に説明する。実施例1と同一部材には同一番号を付して説明を援用するものとする。
図9(A)において、キャビティ駒23及び上型インサートブロック26は、上型チェイスブロック22にばね24,49により各々吊り下げ支持されている。また、キャビティ駒23の半導体チップ当接面は、その周囲より下方に突設された突形状に形成されている。即ち、凸面部23bとその周囲に凹溝部23cが形成されている。また、実施例5と同様に、上型20には、ウェッジ機構は設けられておらず、下型21のワーク支持部37と第2可動テーパーブロック39によるウェッジ機構のみが設けられている。
[Example 6]
Next, another example of the resin molding apparatus will be described. Since the apparatus configuration is common, the description will mainly focus on the changes in the mold. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description is incorporated.
In FIG. 9A, the cavity piece 23 and the upper mold insert block 26 are suspended and supported by the upper mold chase block 22 by springs 24 and 49, respectively. The semiconductor chip contact surface of the cavity piece 23 is formed in a protruding shape that protrudes downward from the periphery thereof. That is, a concave groove 23c is formed around the convex surface 23b. Similarly to the fifth embodiment, the upper mold 20 is not provided with a wedge mechanism, and is provided with only a wedge mechanism including the work support portion 37 of the lower mold 21 and the second movable taper block 39.

モールド金型19のクランプ動作について説明すると、図9(A)において、基板1の板厚に合わせてサーボモータ41を起動してねじ軸40を通じて第2可動テーパーブロック39をいずれか一方にスライド(進動又は退動)させて、ワーク支持部37が基板1に過度のストレスを与えることなくクランプできる高さ位置に調整しておく。この状態で型開きしたモールド金型19の下型21にローダ16(図1参照)によりワークが供給される。このとき、ワーク支持部37は、下型駆動部8により予め板厚調整されているため、基板1が下型クランプ面と面一若しくは下型クランプ面より若干高くなるように支持される。   The clamping operation of the mold 19 will be described. In FIG. 9A, the servo motor 41 is activated in accordance with the thickness of the substrate 1 and the second movable taper block 39 is slid to either one through the screw shaft 40 ( (Advance or retreat), and the work support unit 37 is adjusted to a height position at which it can be clamped without applying excessive stress to the substrate 1. In this state, the work is supplied to the lower mold 21 of the mold 19 opened by the loader 16 (see FIG. 1). At this time, since the thickness of the work support portion 37 is adjusted in advance by the lower die drive portion 8, the substrate 1 is supported so as to be flush with the lower die clamp surface or slightly higher than the lower die clamp surface.

次に図9(B)において、下型21を上昇させてモールド金型19を型閉じする。このとき、金型クランプ動作に先立って或いはクランプ動作開始と共に減圧装置58が作動して下型吸引路43より吸引動作を開始してもよい。上型チェイスブロック22が下型シールリング42に当接すると、上型20と下型21との間に閉鎖空間が形成され、下型吸引路43からの吸引動作により減圧空間が形成される。
クランプ動作が進行して下型インサートブロック34及び基板1に上型インサートブロック26がリリースフィルム10を介して当接する。また、キャビティ駒23に形成された凸面部23bがリリースフィルム10を介して各半導体チップ5に当接すると、クランプ動作が完了する。このとき、キャビティ駒23が半導体チップ5を、上型インサートブロック26が基板1を各々押圧する過大な押圧力はばね24,49の撓みにより逃がすことができる。したがって、半導体チップ5として上面発光のLED素子を用いる場合のように半導体チップ5の上面をより確実に保護しつつチップ上面へのフラッシュも防止しながらクランプする必要があるときにも成形品質を向上させることができる。
Next, in FIG. 9B, the lower mold 21 is raised and the mold 19 is closed. At this time, prior to the mold clamping operation or when the clamping operation is started, the decompression device 58 may be activated to start the suction operation from the lower mold suction path 43. When the upper mold chase block 22 contacts the lower mold seal ring 42, a closed space is formed between the upper mold 20 and the lower mold 21, and a decompression space is formed by a suction operation from the lower mold suction path 43.
As the clamping operation proceeds, the upper mold insert block 26 comes into contact with the lower mold insert block 34 and the substrate 1 through the release film 10. Moreover, when the convex surface part 23b formed in the cavity piece 23 contacts each semiconductor chip 5 through the release film 10, the clamping operation is completed. At this time, the excessive pressing force that the cavity piece 23 presses the semiconductor chip 5 and the upper mold insert block 26 presses the substrate 1 can be released by the bending of the springs 24 and 49. Therefore, the molding quality is improved even when it is necessary to clamp the semiconductor chip 5 while protecting the upper surface of the semiconductor chip 5 more reliably and preventing flashing on the upper surface of the chip, as in the case of using a top-emitting LED element as the semiconductor chip 5. Can be made.

図9(C)において、トランスファ機構を作動させて、プランジャ36を押し上げて溶融したモールド樹脂を上型カル26c、上型ランナ26dを通じてキャビティ凹部32に圧送りする。このとき、各半導体チップ5の上面はキャビティ駒23の凸面部23bにより押圧されているので、フリップチップ実装された半導体チップ5であれば基板1との間に溶融樹脂を導いてアンダーフィルモールドを行うことができるうえに、凹溝部23cにもモールド樹脂が充填されて各半導体チップ5の上面部を囲むように樹脂モールドされる。キャビティ凹部32に充填されたモールド樹脂はスルーゲート26fを通じてダミーキャビティ26eへオーバーフローさせることでボイドを押し流してキャビティ内の樹脂充填性を向上させることができる。   In FIG. 9C, the transfer mechanism is actuated to push up the plunger 36 and press the molten mold resin into the cavity recess 32 through the upper die 26c and the upper die runner 26d. At this time, since the upper surface of each semiconductor chip 5 is pressed by the convex portion 23b of the cavity piece 23, if the semiconductor chip 5 is flip-chip mounted, a molten resin is introduced between the substrate 1 and an underfill mold is formed. In addition, the groove 23c is filled with mold resin and resin-molded so as to surround the upper surface of each semiconductor chip 5. The mold resin filled in the cavity recess 32 overflows into the dummy cavity 26e through the through gate 26f, so that the void can be washed away and the resin filling property in the cavity can be improved.

上記構成によれば、半導体素子5としてLED素子の発光面をキャビティ駒23の凸面部23bにより押さえて露出させると共にその周囲を囲む凹溝部23cに粘度の低いシリコーン樹脂(白色樹脂)を充填して発光面を囲むリフレクタをトランスファモールドにより効率よく成形することができる。なお、リフレクタとして発光面の周囲の高さを高くした構成でなくてもよく、発光面と面一となる高さのリフレクタを形成してもよい。この場合、キャビティ駒23の半導体チップ当接面は、平坦状に形成される。   According to the above configuration, the light emitting surface of the LED element as the semiconductor element 5 is exposed by being pressed by the convex surface portion 23b of the cavity piece 23, and the concave groove portion 23c surrounding the periphery is filled with a low viscosity silicone resin (white resin). The reflector surrounding the light emitting surface can be efficiently formed by transfer molding. Note that the reflector may not have a configuration in which the height around the light emitting surface is increased, and a reflector having a height that is flush with the light emitting surface may be formed. In this case, the semiconductor chip contact surface of the cavity piece 23 is formed flat.

[実施例7]
次に樹脂モールド装置の他例について説明する。実施例1と同一部材には同一番号を付して説明を援用するものとする。以下では異なる構成を中心に説明する。
図10に示すように、樹脂モールド装置には、基板供給部(ワーク供給部A)とは別に、液状樹脂供給部Fがプレス部Cに隣接して設けられている。具体的には、液状樹脂供給部Fはプレス部Cどうしの間に設けられている。図1と同様に、ユニット化された架台どうしをガイド部18が連続するように連結されて樹脂モールド装置が組み立てられている。
モールド金型19の構成は実施例1と同様であるとして説明するが、他の実施例のモールド金型19であってもよい。
[Example 7]
Next, another example of the resin molding apparatus will be described. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description is incorporated. Below, it demonstrates focusing on a different structure.
As shown in FIG. 10, in the resin molding apparatus, a liquid resin supply unit F is provided adjacent to the press unit C separately from the substrate supply unit (work supply unit A). Specifically, the liquid resin supply unit F is provided between the press units C. As in FIG. 1, the resin molding apparatus is assembled by connecting the unitized bases so that the guide portions 18 are continuous.
Although the configuration of the mold 19 is described as being the same as that of the first embodiment, the mold 19 of another embodiment may be used.

液状樹脂供給部Fの構成について図11(A)を参照して説明する。ディスペンサ(液状樹脂供給装置)50は、図示しない基台と、該基台に設けられた移動機構(レールなどを含んで構成される)と、移動機構に設けられた移動台上で回転可能な回転機構とを有している。ディスペンサ50は、鉛直方向に沿って保持されたシリンジ51を2台あるプレス装置6のそれぞれに対応する位置へ回転させたうえでモールド金型19内へ進退動させて液状樹脂を供給する。   The configuration of the liquid resin supply unit F will be described with reference to FIG. The dispenser (liquid resin supply device) 50 is rotatable on a base (not shown), a moving mechanism (including rails) provided on the base, and a moving base provided on the moving mechanism. And a rotation mechanism. The dispenser 50 rotates the syringe 51 held along the vertical direction to a position corresponding to each of the two press devices 6 and then moves the syringe 51 forward and backward into the mold 19 to supply the liquid resin.

ディスペンサ50は、液状樹脂が充填されたシリンジ51と、シリンジ51から押し出される液状樹脂が流れるチューブ52と、チューブ52の先端側に配置され、液状樹脂をポット35に滴下する滴下機構53を備えている。図示しないディスペンサ本体に鉛直方向に保持されたシリンジ51に接続されたチューブ52は、鉛直方向からほぼ90度水平方向に曲げられて延設されている。   The dispenser 50 includes a syringe 51 filled with a liquid resin, a tube 52 through which the liquid resin extruded from the syringe 51 flows, and a dropping mechanism 53 that is disposed on the distal end side of the tube 52 and drops the liquid resin onto the pot 35. Yes. A tube 52 connected to a syringe 51 held in a vertical direction by a dispenser main body (not shown) is bent and extended in the horizontal direction by approximately 90 degrees from the vertical direction.

また、滴下機構53は、水平方向から鉛直下向きに曲げられたチューブ52の端部(供給口となる)に設けられ、チューブ52を押し挟んで閉止するピンチバルブ54と、チューブ開口下方に進退動可能な樹脂受け部55と、チューブ52の周囲を冷却する冷却機構56を有している。ピンチバルブ54は、液状樹脂を滴下する時以外はチューブ52を密閉して液状樹脂が垂れるのを防ぎ、液状樹脂が外気に触れて劣化するのを防止したり、チューブ52内への空気が進入したりするのを防止する。また、樹脂受け部55は液状樹脂を滴下するときにはチューブ52の開口下方より退避し、それ以外はチューブ52の開口下方に位置して滴下する液状樹脂を受ける。樹脂受け部55は液状樹脂の滴下を防ぐほかに、モールド金型19へ進入する際に、チューブ52の先端開口の加熱を防ぐことができる。   In addition, the dropping mechanism 53 is provided at an end portion (to serve as a supply port) of the tube 52 bent downward from the horizontal direction, and a pinch valve 54 that presses and closes the tube 52, and moves forward and backward in the tube opening. A possible resin receiving portion 55 and a cooling mechanism 56 for cooling the periphery of the tube 52 are provided. The pinch valve 54 seals the tube 52 except when dripping the liquid resin to prevent the liquid resin from dripping, prevents the liquid resin from being deteriorated by contact with the outside air, and air enters the tube 52. To prevent it. Further, the resin receiving portion 55 is retracted from below the opening of the tube 52 when the liquid resin is dropped, and other than that, the resin receiving portion 55 is positioned below the opening of the tube 52 and receives the dropping liquid resin. In addition to preventing the liquid resin from dripping, the resin receiving portion 55 can prevent the distal end opening of the tube 52 from being heated when entering the mold 19.

冷却機構56は、液状樹脂供給の際、高温のプレス装置6の内部に滴下機構53が位置したときに、チューブ52の周囲を冷却して液状樹脂の反応を抑制するために用いられるものである。冷却機構56は、例えば、チューブ52を収納するように設けられた筐体内を空冷や水冷の冷却手段によって冷却する構成としてもよいし、チューブ52の肉厚内に冷媒を通過させることによって液状樹脂を直接冷却する構成としてもよく、また、これらを併用してもよい。また、筐体内にペルチェ素子のような冷却素子(冷却手段)を設けてチューブ52を冷却してもよい。   The cooling mechanism 56 is used to cool the periphery of the tube 52 and suppress the reaction of the liquid resin when the dropping mechanism 53 is positioned inside the high-temperature press device 6 when supplying the liquid resin. . The cooling mechanism 56 may be configured, for example, to cool the inside of the housing provided to store the tube 52 by a cooling means such as air cooling or water cooling, or by passing a refrigerant through the wall thickness of the tube 52. It is good also as a structure which cools directly, and you may use these together. Further, the tube 52 may be cooled by providing a cooling element (cooling means) such as a Peltier element in the housing.

次にディスペンサ50の液状樹脂供給動作の一例について説明する。
前提として、半導体チップ5の高さに合わせて、サーボモータ31を起動してキャビティ駒23が半導体チップ5に過度のストレスを与えることなく押圧できる高さ位置に予め調整しておく。同様に基板1の板厚に合わせて、サーボモータ41を起動してワーク支持部37が基板1に過度のストレスを与えることなくクランプできる高さ位置に予め調整しておく。
Next, an example of the liquid resin supply operation of the dispenser 50 will be described.
As a premise, in accordance with the height of the semiconductor chip 5, the servo motor 31 is activated and adjusted in advance to a height position at which the cavity piece 23 can be pressed without applying excessive stress to the semiconductor chip 5. Similarly, in accordance with the thickness of the substrate 1, the servo motor 41 is activated and adjusted in advance to a height position at which the workpiece support portion 37 can be clamped without applying excessive stress to the substrate 1.

次いで、ローダ16によって、基板1をワーク支持部37に供給する。また、図11(A)に示すように、図示しない回転機構を作動させてディスペンサ50を供給するプレス装置6に向って回転させ、滴下機構53がピンチバルブ54側を先頭にして型開きしたモールド金型19間に進入できるように姿勢を変更する。このとき、ピンチバルブ54は閉じたままであり樹脂受け部55はチューブ52の開口直下を閉じた状態にある。また冷却装置56を起動してチューブ52内の液状樹脂の反応を抑えた状態にしておく。   Next, the substrate 1 is supplied to the work support unit 37 by the loader 16. Further, as shown in FIG. 11 (A), a mold in which a drip mechanism 53 is opened with a pinch valve 54 at the head by rotating a rotating mechanism (not shown) to rotate toward a pressing device 6 that supplies a dispenser 50. The posture is changed so that it can enter between the molds 19. At this time, the pinch valve 54 remains closed, and the resin receiving portion 55 is in a state where the portion immediately below the opening of the tube 52 is closed. Further, the cooling device 56 is activated to keep the reaction of the liquid resin in the tube 52 suppressed.

次に、図11(B)に示すように、図示しない移動機構を作動させてディスペンサ50を供給するプレス装置6に向って近づけるように移動させる。このとき、滴下機構53が、プレス装置6の型開きしたモールド金型19に進入して、チューブ52の先端部に設けられたピンチバルブ54がポット35の直上になるように配置する。そして、樹脂受け部55をチューブ52の開口下方の位置から退避させた後で、ピンチバルブ54を開放し、シリンジ51より一回の樹脂モールドに必要な液状樹脂をポット35内に滴下させる。   Next, as shown in FIG. 11 (B), a moving mechanism (not shown) is operated to move closer to the press device 6 that supplies the dispenser 50. At this time, the dropping mechanism 53 enters the mold 19 opened in the press device 6, and the pinch valve 54 provided at the tip of the tube 52 is arranged directly above the pot 35. Then, after the resin receiving portion 55 is retracted from the position below the opening of the tube 52, the pinch valve 54 is opened, and a liquid resin necessary for one resin mold is dropped into the pot 35 from the syringe 51.

必要量の液状樹脂の滴下が終了すると、ピンチバルブ54を閉じて樹脂受け部55をチューブ52の開口下方の位置へ移動させる。そして、図示しない移動機構を作動させてディスペンサ50を供給が終わったプレス装置6から離れるように移動させる。これにより、滴下機構53がモールド金型19より退避させる。   When the required amount of liquid resin has been dropped, the pinch valve 54 is closed and the resin receiving portion 55 is moved to a position below the opening of the tube 52. Then, a movement mechanism (not shown) is operated to move the dispenser 50 away from the press device 6 that has finished supplying. Thereby, the dropping mechanism 53 is retracted from the mold 19.

次に、実施例1と同様に図3(C)において、下型21を上昇させてモールド金型19を型閉じする。クランプ動作が更に進行して下型インサートブロック34及び基板1に上型インサートブロック26がリリースフィルム10を介して当接し、キャビティ駒23がリリースフィルム10を介して半導体チップ5に当接すると、クランプ動作が完了する。   Next, as in the first embodiment, in FIG. 3C, the lower mold 21 is raised and the mold 19 is closed. When the clamping operation further proceeds, the upper mold insert block 26 contacts the lower mold insert block 34 and the substrate 1 via the release film 10, and the cavity piece 23 contacts the semiconductor chip 5 via the release film 10, the clamp The operation is complete.

次に図3(D)と同様に、トランスファ機構を作動させて、プランジャ36を押し上げて液状樹脂を上型カル26c、上型ランナ26dを通じてキャビティ凹部32に圧送りアンダーフィルモールドを行うことができる。キャビティ凹部32に充填された液状樹脂はダミーキャビティ26eへオーバーフローさせることでボイドを押し流してキャビティ内の樹脂充填性を向上させることができる。   Next, as in FIG. 3D, the transfer mechanism is operated, and the plunger 36 is pushed up so that the liquid resin can be pressure-fed to the cavity recess 32 through the upper die 26c and the upper die runner 26d to perform underfill molding. . The liquid resin filled in the cavity recess 32 overflows into the dummy cavity 26e, so that the voids can be swept away and the resin filling property in the cavity can be improved.

上記構成によれば、微細なバンプの隙間に充填するためにフィラーが微細になって低粘度のエポキシ系の液状樹脂を用いたモールドアンダーフィルがトランスファモールドにより実現できる。或いはフィラーの充填率が低く粘度の低いシリコーン樹脂によるLEDのレンズやリフレクタなどが形成可能となり、成形品質を高めて長寿命化を図ることができる。   According to the above configuration, a mold underfill using a low-viscosity epoxy-based liquid resin can be realized by transfer molding because the filler becomes fine in order to fill the gaps between the fine bumps. Alternatively, it is possible to form an LED lens, a reflector, or the like made of a silicone resin having a low filler filling rate and a low viscosity, thereby improving the molding quality and extending the life.

上述した樹脂モールド装置は、上型キャビティ、下型ポット配置タイプのモールド金型を用いて説明したが、下型キャビティであってもよいし、上型ポット、下型キャビティ配置のモールド金型であってもよい。
また、固定型を上型20、可動型を下型21として説明したが、これに限定されるものではなく、固定型を下型21、可動型を上型20としても良い。
また、ワークとしては基板1にフリップチップ実装のみならずワイヤボンディング実装された半導体チップ5のほかに、白色LEDなどの発光素子で、封止樹脂に蛍光体が混入されるものなどについても適用できる。さらに、ワークとして、電源回路に用いられるスイッチング素子(IGBT,MOS−FET等)、高発熱量を伴う素子(CPU,MPU等)、入出力部を有する半導体素子(LED等)、信号の入出力を行うセンサ(CCDセンサ,CMOSセンサ,指紋センサ、MEMS等)などが搭載された基板などを用いることもできる。さらに、ワークとして、バンプやはんだボールのような電子部品が搭載されたウェハを用いて、ウェハレベルパッケージ成形を行うこともできる。この場合、キャビティ駒32によりバンプやはんだボールをクランプして、バンプやはんだボールを適切にクランプして封止するウェハレベルパッケージ成形をすることができる。
The resin mold apparatus described above has been described using an upper mold cavity and a lower mold pot arrangement type mold mold, but may be a lower mold cavity, or an upper mold pot and a lower mold cavity arrangement mold mold. There may be.
Further, although the fixed mold is described as the upper mold 20 and the movable mold is the lower mold 21, the present invention is not limited to this, and the fixed mold may be the lower mold 21 and the movable mold may be the upper mold 20.
In addition to the semiconductor chip 5 that is not only flip-chip mounted on the substrate 1 but also wire bonded, the work can be applied to a light emitting element such as a white LED in which a phosphor is mixed into a sealing resin. . Furthermore, as work, switching elements (IGBT, MOS-FET, etc.) used in power supply circuits, elements with high heat generation (CPU, MPU, etc.), semiconductor elements having input / output units (LEDs, etc.), signal input / output It is also possible to use a substrate on which a sensor (CCD sensor, CMOS sensor, fingerprint sensor, MEMS, etc.) that performs the above is mounted. Furthermore, wafer level package molding can be performed using a wafer on which electronic parts such as bumps and solder balls are mounted as a workpiece. In this case, it is possible to perform wafer level package molding in which bumps and solder balls are clamped by the cavity piece 32 and the bumps and solder balls are appropriately clamped and sealed.

またモールド樹脂として、例えば固形の樹脂タブレット3や液状樹脂を用いる例について説明したが、顆粒状樹脂、粉末状樹脂といった各種の樹脂を用いることもできる。また、モールド金型19は複数の半導体素子を個別に或いは一括して樹脂封止するもの、マップタイプの成形やマトリックスタイプの成形に用いてもよい。
また、ポット35は下型インサートブロック34に設けられていたが、上型20側に設けられていてもよい。また、このような構成において、モールド金型が上下逆に配置されていてもよい。
Moreover, although the example using solid resin tablet 3 or liquid resin was demonstrated as mold resin, for example, various resin, such as granular resin and powdered resin, can also be used. Further, the mold 19 may be used for resin-sealing a plurality of semiconductor elements individually or collectively, for map-type molding or matrix-type molding.
Moreover, although the pot 35 was provided in the lower mold | type insert block 34, you may be provided in the upper mold | type 20 side. In such a configuration, the mold dies may be arranged upside down.

また、キャビティ高さ可変機構として、キャビティ駒23をウェッジ機構により駆動する構成について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、上型インサートブロック26を1個のウェッジ機構により駆動することもできる。この場合、キャビティ駒23を上型チェイスブロック22にリジッド(剛体的)に支持し、上型インサートブロック26を昇降することで、キャビティ高さが変更可能となる。また、キャビティ高さを可変とするためにウェッジ機構や型締め機構を用いる例について説明したが、油圧やボールねじなどの他の駆動原によりキャビティ駒23や上型インサートブロック26を直接駆動してもよい。   Moreover, although the structure which drives the cavity piece 23 by a wedge mechanism was demonstrated as a cavity height variable mechanism, this invention is not limited to this. For example, the upper mold insert block 26 can be driven by a single wedge mechanism. In this case, the cavity height can be changed by supporting the cavity piece 23 rigidly on the upper die chase block 22 and moving the upper die insert block 26 up and down. In addition, an example in which a wedge mechanism or a mold clamping mechanism is used to make the cavity height variable has been described. However, the cavity piece 23 and the upper mold insert block 26 are directly driven by other driving sources such as hydraulic pressure and a ball screw. Also good.

また、板厚可変機構として、プランジャ36を挟んだ2枚の基板1のそれぞれにワーク支持部37を設け、ウェッジ機構により個別に駆動する構成について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、プランジャ36を挟む両側に複数の基板1を配置するときに、これらと同数のワーク支持部37を別個に昇降するウェッジ機構を備える構成としてもよい。具体的には、下型駆動部8におけるサーボモータ41やウェッジ機構を上型駆動部7と同様に配置する。換言すれば、下型駆動部8を上型駆動部7と上下方向に反転させたように配置することでより基板1の厚さに対しても厚みをより細かく調整することができる。例えば、図1に示すように一列に並べられた3個のプランジャ36の左右に1枚ずつの基板1を配置して、合計6枚の基板1のそれぞれの板厚に合わせてワーク支持部37の高さを別個に調整した後に、モールド金型19で一括してモールド成形できる構成としてもよい。   Moreover, although the structure which provided the workpiece | work support part 37 in each of the two board | substrate 1 which pinched | interposed the plunger 36 as a plate | board thickness variable mechanism and demonstrated the drive individually with a wedge mechanism was demonstrated, this invention is not limited to this. For example, it is good also as a structure provided with the wedge mechanism which raises / lowers the same number of workpiece | work support parts 37 separately when arrange | positioning the some board | substrate 1 on both sides which pinch | interpose the plunger 36. FIG. Specifically, the servo motor 41 and the wedge mechanism in the lower mold drive unit 8 are arranged in the same manner as the upper mold drive unit 7. In other words, the lower mold drive unit 8 can be finely adjusted with respect to the thickness of the substrate 1 by disposing the lower mold drive unit 8 so as to be inverted in the vertical direction with respect to the upper mold drive unit 7. For example, as shown in FIG. 1, one substrate 1 is arranged on the left and right of three plungers 36 arranged in a line, and the workpiece support portion 37 is matched to the thickness of each of the six substrates 1 in total. It is good also as a structure which can mold-mold collectively with the mold die 19, after adjusting the height of each.

A ワーク供給部、B 予熱部、C プレス部、D 成形品収納部、E 搬送機構、F 液状樹脂供給部 1 基板 2 セット台 3 樹脂タブレット 4 タブレット供給部 5 半導体チップ 6 プレス装置 7 上型駆動部 8 下型駆動部 9 フィルム供給機構 9a 供給ロール 9b 巻取りロール 10 リリースフィルム 11 成形品 12 セット部 13 ゲートブレイク部 14 収納部 15 マガジン 16 ローダ 17 アンローダ 18 ガイド部 19 モールド金型 20 上型 21 下型 22 上型チェイスブロック 23 キャビティ駒 23a,25a,39a,57a テーパー面 23b,23d 凸面部 23c 凹溝部 24,38,49 ばね 25 第1可動テーパーブロック 26 上型インサートブロック 26a 貫通孔 26b 凹部 26c上型カル 26d上型ランナ 26e,44e ダミーキャビティ 26f,44d スルーゲート27 上型シールリング 28 上型吸引路 29,58 減圧装置 30,40 ねじ軸 31,41 サーボモータ 32 キャビティ凹部 33 下型チェイスブロック 34 下型インサートブロック 35 ポット 36 プランジャ 37 ワーク支持部 39 第2可動テーパーブロック 42 下型シールリング 43 下型吸引路 44 中間プレート 44a 第1の貫通孔 44b ゲート 44c 第2の貫通孔 45 スイベル機構 46 ガイド駒 47 押圧ばね 48 閉止ピン 50 ディスペンサ 51 シリンジ 52 チューブ 53 滴下機構 54 ピンチバルブ 55 樹脂受け部 56 冷却機構 57 固定テーパーブロック   A workpiece supply unit, B preheating unit, C press unit, D molded product storage unit, E transport mechanism, F liquid resin supply unit 1 substrate 2 set base 3 resin tablet 4 tablet supply unit 5 semiconductor chip 6 press device 7 upper mold drive Section 8 Lower mold drive section 9 Film supply mechanism 9a Supply roll 9b Winding roll 10 Release film 11 Molded product 12 Set section 13 Gate break section 14 Storage section 15 Magazine 16 Loader 17 Unloader 18 Guide section 19 Mold mold 20 Upper mold 21 Lower die 22 Upper die chase block 23 Cavity piece 23a, 25a, 39a, 57a Tapered surface 23b, 23d Convex portion 23c Concave groove portion 24, 38, 49 Spring 25 First movable taper block 26 Upper die insert block 26a Through hole 26b Recess 26c Upper die Cull 26d Upper die runner 26e, 44e Dummy cavity 26f, 44d Through gate 27 Upper die seal ring 28 Upper die suction path 29, 58 Pressure reducing device 30, 40 Screw shaft 31, 41 Servo motor 32 Cavity recess 33 Lower mold chase block 34 Lower mold insert block 35 Pot 36 Plunger 37 Work support portion 39 Second movable taper block 42 Lower mold seal ring 43 Lower mold suction path 44 Intermediate plate 44a First through hole 44b Gate 44c Second penetration Hole 45 Swivel mechanism 46 Guide piece 47 Pressing spring 48 Closing pin 50 Dispenser 51 Syringe 52 Tube 53 Drip mechanism 54 Pinch valve 55 Resin receiving part 56 Cooling mechanism 57 Constant taper block

Claims (12)

第一部材に第二部材が搭載されたワークを樹脂モールドする樹脂モールド金型であって、
キャビティ底部を形成するキャビティ駒と、該キャビティ駒を囲んで配置された第一インサートにより、前記第二部材が収容されるキャビティを構成するキャビティ凹部が形成され、前記キャビティ駒の前記第二部材の押圧面が凸面部に形成されその周囲は凹溝部が形成された凹凸面が形成されている一方の金型と、
前記ワークを支持するワーク支持部と、前記ワーク支持部に隣接する第二インサートを備えた他方の金型と、
前記一方の金型又は他方の金型のいずれかに組み付けられモールド樹脂を供給するポット及びプランジャと、
前記キャビティ駒を型開閉方向に相対的に移動させることにより前記第二部材の高さに合わせて前記キャビティ凹部の高さを可変とするキャビティ高さ可変機構と、
前記ワーク支持部を前記第二インサートに対して型開閉方向に移動させることにより前記第一部材の厚さに合わせて前記ワーク支持部の高さを可変とする板厚可変機構と、を具備し、
前記第一部材の厚さに合わせて前記板厚可変機構により前記ワーク支持部の高さを調整すると共に前記第一インサートにより前記第一部材をクランプすることで、前記キャビティ高さ可変機構により前記キャビティ駒が相対移動して前記押圧面に形成された前記凸面部が前記二部材の露出面を押さえたまま周囲の前記凹溝部にモールド樹脂が充填されて樹脂モールドされることを特徴とする樹脂モールド金型。
A resin mold that resin molds a work in which a second member is mounted on a first member,
A cavity recess that forms the cavity in which the second member is accommodated is formed by the cavity piece that forms the bottom of the cavity and the first insert that is disposed so as to surround the cavity piece, and the second member is pressed by the cavity piece. periphery thereof with one of the mold uneven surface recessed groove part is formed that is formed surface is formed on the convex portion,
A workpiece support portion for supporting the workpiece, and the other mold having a second insert adjacent to the workpiece support portion;
A pot and a plunger which are assembled to either the one mold or the other mold and supply mold resin;
A cavity height variable mechanism that makes the height of the cavity recess variable according to the height of the second member by relatively moving the cavity piece in the mold opening and closing direction;
A plate thickness variable mechanism that makes the height of the workpiece support portion variable according to the thickness of the first member by moving the workpiece support portion in the mold opening / closing direction with respect to the second insert. ,
By adjusting the height of the work support portion by the plate thickness variable mechanism according to the thickness of the first member and clamping the first member by the first insert, the cavity height variable mechanism A resin, wherein a cavity piece is relatively moved and the convex surface portion formed on the pressing surface presses the exposed surface of the two members while the surrounding concave groove portion is filled with a mold resin and is resin-molded. Mold mold.
前記キャビティ高さ可変機構は、前記キャビティ駒及び前記第一インサートの一方又は双方が前記一方の金型チェイスにフローティング支持されている請求項1記載の樹脂モールド金型。 2. The resin mold according to claim 1, wherein one or both of the cavity piece and the first insert is floatingly supported by the one mold chase . 前記板厚可変機構は、駆動源により可動テーパーブロックを移動させて前記ワーク支持部の型開閉方向の位置を調節するウェッジ機構が設けられている請求項1又は請求項2記載の樹脂モールド金型。 3. The resin mold mold according to claim 1, wherein the plate thickness variable mechanism is provided with a wedge mechanism that moves a movable taper block by a drive source to adjust a position of the work support portion in a mold opening / closing direction. . 前記第一インサートのクランプ面にはダミーキャビティが設けられており、前記キャビティ凹部より前記ダミーキャビティへ前記余剰樹脂を収容する請求項1乃至請求項3のいずれか1項記載の樹脂モールド金型。 4. The resin mold according to claim 1 , wherein a dummy cavity is provided on a clamp surface of the first insert, and the surplus resin is accommodated in the dummy cavity from the cavity recess . 5. 前記第一インサートの前記ダミーキャビティより外周側に対向するクランプ面を押圧することでエアの排出を停止させる閉止手段を備えている請求項4記載の樹脂モールド金型。 The resin mold die according to claim 4, further comprising a closing means for stopping the discharge of air by pressing a clamp surface facing the outer peripheral side of the dummy cavity of the first insert . 前記一方の金型と他方の金型とが型閉じする前に外部空間とは遮断された閉鎖空間が形成され、当該閉鎖空間内を減圧することで前記キャビティを含む減圧空間が形成される減圧機構を備えている請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の樹脂モールド金型。 Before the one mold and the other mold are closed, a closed space that is cut off from the external space is formed, and a reduced pressure space including the cavity is formed by reducing the pressure in the closed space. The resin mold die according to any one of claims 1 to 5, further comprising a mechanism . 前記第二部材を収容する貫通孔とこれに連通する樹脂路が形成され、前記ワーク支持部に支持された第一部材外周端部と前記第二インサートとの隙間を跨いで前記他方の金型クランプ面に重ね合わせて用いられる中間プレートを備える請求項1乃至請求項6のいずれか1項記載の樹脂モールド金型。 A through hole for accommodating the second member and a resin passage communicating therewith are formed, and the other mold is formed across the gap between the first member outer peripheral end supported by the work support portion and the second insert. The resin mold die according to any one of claims 1 to 6, further comprising an intermediate plate that is used while being superimposed on a clamp surface . 前記中間プレートの前記第一部材より外周側にはダミーキャビティが設けられており、前記貫通孔より前記ダミーキャビティへ前記余剰樹脂を収容する請求項7記載の樹脂モールド金型。 8. The resin mold according to claim 7, wherein a dummy cavity is provided on an outer peripheral side of the first member of the intermediate plate, and the surplus resin is accommodated in the dummy cavity through the through hole . 前記第二部材に当接する前記キャビティ駒のワーク当接面と反対面に対向配置されたガイド駒のガイド面部にガイドされて前記キャビティ駒が傾動可能なスイベル機構を備えている請求項1乃至請求項8のいずれか1項記載の樹脂モールド金型。 9. A swivel mechanism capable of tilting the cavity piece by being guided by a guide surface portion of a guide piece disposed opposite to a surface of the cavity piece that is in contact with the second member and opposite to the work contact surface of the cavity piece. The resin mold die according to any one of the above. 前記キャビティ凹部を含む前記一方の金型クランプ面を覆って吸着保持されるリリースフィルムを備えている請求項1乃至請求項9のいずれか1項記載の樹脂モールド金型。 10. The resin mold according to claim 1, further comprising a release film that covers and holds the one mold clamping surface including the cavity recess . 10. 請求項1乃至請求項10のいずれか1項記載の樹脂モールド金型を備えると共に、ワーク供給部と、前記樹脂モールド金型によりワークをクランプして樹脂モールドするプレス部と、成形品の収納部と、を備えた樹脂モールド装置であって、
前記第一インサートにより前記第一部材をクランプすることで、前記キャビティ駒の押圧面に形成された凸面部が前記二部材の露出面を押さえたまま周囲の前記凹溝部にモールド樹脂が充填されることを特徴とする樹脂モールド装置
11. A resin mold according to claim 1, a workpiece supply unit, a press unit that clamps the workpiece with the resin mold and performs resin molding, and a molded product storage unit. And a resin mold device comprising:
By clamping the first member with the first insert, the convex surface portion formed on the pressing surface of the cavity piece holds the exposed surface of the two members and the surrounding concave groove portion is filled with mold resin. A resin molding apparatus characterized by the above .
前記プレス部に隣接して液状樹脂供給部が設けられており、前記プレス部の型開きしたモールド金型のポット内に供給ノズルを進退動させて液状樹脂を供給する請求項11項記載の樹脂モールド装置 The resin according to claim 11, wherein a liquid resin supply unit is provided adjacent to the press unit, and the liquid nozzle is supplied by moving a supply nozzle forward and backward in a pot of a mold die opened in the press unit. Mold device .
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