JP5841908B2 - 膜形成用組成物の製造方法、並びに、機能性膜およびその製造方法 - Google Patents
膜形成用組成物の製造方法、並びに、機能性膜およびその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5841908B2 JP5841908B2 JP2012152906A JP2012152906A JP5841908B2 JP 5841908 B2 JP5841908 B2 JP 5841908B2 JP 2012152906 A JP2012152906 A JP 2012152906A JP 2012152906 A JP2012152906 A JP 2012152906A JP 5841908 B2 JP5841908 B2 JP 5841908B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- formula
- film
- atom
- functional film
- oxide particles
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 95
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 28
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 139
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 80
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 63
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 60
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 59
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 54
- 150000002738 metalloids Chemical class 0.000 claims description 48
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 38
- 229910052752 metalloid Inorganic materials 0.000 claims description 30
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 claims description 28
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 claims description 23
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 claims description 22
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 claims description 17
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 claims description 16
- 125000000467 secondary amino group Chemical group [H]N([*:1])[*:2] 0.000 claims description 16
- 125000002029 aromatic hydrocarbon group Chemical group 0.000 claims description 13
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 claims description 13
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 10
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 10
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 10
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 6
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 5
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 claims description 4
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce][Ce] ZMIGMASIKSOYAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000000527 sonication Methods 0.000 claims description 3
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical group 0.000 claims 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 161
- 238000009210 therapy by ultrasound Methods 0.000 description 29
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 27
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 24
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 23
- 150000002430 hydrocarbons Chemical group 0.000 description 21
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 13
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 12
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 11
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 11
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 9
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 8
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 6
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 5
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 5
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 5
- 150000003141 primary amines Chemical group 0.000 description 5
- 150000003335 secondary amines Chemical group 0.000 description 5
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 5
- 229940126062 Compound A Drugs 0.000 description 4
- NLDMNSXOCDLTTB-UHFFFAOYSA-N Heterophylliin A Natural products O1C2COC(=O)C3=CC(O)=C(O)C(O)=C3C3=C(O)C(O)=C(O)C=C3C(=O)OC2C(OC(=O)C=2C=C(O)C(O)=C(O)C=2)C(O)C1OC(=O)C1=CC(O)=C(O)C(O)=C1 NLDMNSXOCDLTTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 4
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 4
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WWZKQHOCKIZLMA-UHFFFAOYSA-N Caprylic acid Natural products CCCCCCCC(O)=O WWZKQHOCKIZLMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M Lithium hydroxide Chemical compound [Li+].[OH-] WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- RWRDLPDLKQPQOW-UHFFFAOYSA-N Pyrrolidine Chemical compound C1CCNC1 RWRDLPDLKQPQOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000004423 acyloxy group Chemical group 0.000 description 3
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 3
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 3
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 3
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 3
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N Butyric acid Chemical compound CCCC(O)=O FERIUCNNQQJTOY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GLUUGHFHXGJENI-UHFFFAOYSA-N Piperazine Chemical compound C1CNCCN1 GLUUGHFHXGJENI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NQRYJNQNLNOLGT-UHFFFAOYSA-N Piperidine Chemical compound C1CCNCC1 NQRYJNQNLNOLGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N Pyrrole Chemical compound C=1C=CNC=1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 2
- 125000004448 alkyl carbonyl group Chemical group 0.000 description 2
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 125000004104 aryloxy group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000013522 chelant Substances 0.000 description 2
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 239000007859 condensation product Substances 0.000 description 2
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006297 dehydration reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N dimethylselenoniopropionate Natural products CCC(O)=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 2
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- -1 methoxy , Ethoxy, n-propoxy, isopropoxy, n-butoxy, isobutoxy Chemical group 0.000 description 2
- 239000002101 nanobubble Substances 0.000 description 2
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 2
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229920000307 polymer substrate Polymers 0.000 description 2
- 238000007873 sieving Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- NQPDZGIKBAWPEJ-UHFFFAOYSA-N valeric acid Chemical compound CCCCC(O)=O NQPDZGIKBAWPEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 2-Aminoethan-1-ol Chemical compound NCCO HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BSKHPKMHTQYZBB-UHFFFAOYSA-N 2-methylpyridine Chemical compound CC1=CC=CC=N1 BSKHPKMHTQYZBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AWQSAIIDOMEEOD-UHFFFAOYSA-N 5,5-Dimethyl-4-(3-oxobutyl)dihydro-2(3H)-furanone Chemical compound CC(=O)CCC1CC(=O)OC1(C)C AWQSAIIDOMEEOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 229930185605 Bisphenol Natural products 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- OIFBSDVPJOWBCH-UHFFFAOYSA-N Diethyl carbonate Chemical compound CCOC(=O)OCC OIFBSDVPJOWBCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M Propionate Chemical compound CCC([O-])=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 125000000218 acetic acid group Chemical group C(C)(=O)* 0.000 description 1
- KXKVLQRXCPHEJC-UHFFFAOYSA-N acetic acid trimethyl ester Natural products COC(C)=O KXKVLQRXCPHEJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003668 acetyloxy group Chemical group [H]C([H])([H])C(=O)O[*] 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 1
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 1
- OBETXYAYXDNJHR-UHFFFAOYSA-N alpha-ethylcaproic acid Natural products CCCCC(CC)C(O)=O OBETXYAYXDNJHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005577 anthracene group Chemical group 0.000 description 1
- 229910000410 antimony oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TXVHTIQJNYSSKO-UHFFFAOYSA-N benzo[e]pyrene Chemical group C1=CC=C2C3=CC=CC=C3C3=CC=CC4=CC=C1C2=C34 TXVHTIQJNYSSKO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GONOPSZTUGRENK-UHFFFAOYSA-N benzyl(trichloro)silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)CC1=CC=CC=C1 GONOPSZTUGRENK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N boric acid Chemical compound OB(O)O KGBXLFKZBHKPEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004327 boric acid Substances 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 239000007822 coupling agent Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N diethanolamine Chemical compound OCCNCCO ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IEJIGPNLZYLLBP-UHFFFAOYSA-N dimethyl carbonate Chemical compound COC(=O)OC IEJIGPNLZYLLBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002296 dynamic light scattering Methods 0.000 description 1
- 230000009881 electrostatic interaction Effects 0.000 description 1
- 239000003759 ester based solvent Substances 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N germanium oxide Inorganic materials O=[Ge]=O YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 230000003301 hydrolyzing effect Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000005453 ketone based solvent Substances 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000010534 mechanism of action Effects 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 125000002950 monocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N n-hexanoic acid Natural products CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011858 nanopowder Substances 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012454 non-polar solvent Substances 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 1
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 125000005375 organosiloxane group Chemical group 0.000 description 1
- AHHWIHXENZJRFG-UHFFFAOYSA-N oxetane Chemical compound C1COC1 AHHWIHXENZJRFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N oxoantimony Chemical compound [Sb]=O VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N oxogermanium Chemical compound [Ge]=O PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 1
- YNPNZTXNASCQKK-UHFFFAOYSA-N phenanthrene Chemical group C1=CC=C2C3=CC=CC=C3C=CC2=C1 YNPNZTXNASCQKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000951 phenoxy group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(O*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 230000001699 photocatalysis Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 125000003367 polycyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 235000019260 propionic acid Nutrition 0.000 description 1
- 125000005581 pyrene group Chemical group 0.000 description 1
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N quinbolone Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H]([C@]4(C=CC(=O)C=C4CC3)C)CC[C@@]21C)C1=CCCC1 IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005579 tetracene group Chemical group 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000002525 ultrasonication Methods 0.000 description 1
- 239000004034 viscosity adjusting agent Substances 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Paints Or Removers (AREA)
Description
また、本発明は、機能性膜およびその製造方法に係り、特に、空孔を有する機能性膜およびその製造方法に関する。
また、特許文献2では、高分子基板と、高分子基板上に設けられ、無機物を主成分とするマトリックスと無機物の中空粒子とを含み、空孔率5〜60%の断熱層とを有する半導体素子用基板が開示されている。
さらに、特許文献3では、中空または多孔質粒子、光重合開始剤、およびアルカリ可能性を有する重合性化合物を含有する組成物が開示されており、その組成物より形成される層の用途として、低屈折率層、反射防止膜などが開示されている。
しかしながら、中空粒子または多孔質粒子を用いた場合は、コストが嵩むという問題がある。また、硬さなどの膜質の向上および光学特性などの機能性の向上の点からは、空孔をなるべく均一に膜内に配置することが望ましいが、中空粒子または多孔質粒子を使用した場合、それらが層中で凝集しやすく、均一に膜中に分散させることが難しい。
また、通常、中空粒子を形成した後、中空粒子、溶媒、分散用リガンド、ポリマーなどを混合して膜形成用組成物を作製し、この膜形成用組成物を塗布して機能性薄膜を形成する。その際、中空粒子の比重が小さいため浮いてしまい、多層膜を作製する際に、中間層部分に中空粒子を位置させることが困難であり、安価に所望の機能性薄膜を形成することができなかった。
また、本発明は、簡便かつ低コストで製造し得る、均一に分布した空孔を有する機能性膜およびその製造方法を提供することも目的とする。
つまり、本発明者らは、以下の構成により上記課題が解決できることを見出した。
(2) 炭化水素基が、少なくとも一つの第1級アミノ基と、少なくとも一つの第2級アミノ基と、芳香族炭化水素基とを含む1価の炭化水素基である、(1)に記載の膜形成用組成物。
(3) 炭化水素基が、後述する式(2)で表される炭化水素基である、(1)または(2)に記載の膜形成用組成物。
(4) 金属または半金属の酸化物粒子に含まれる金属原子または半金属原子が、ケイ素、ゲルマニウム、ジルコニウム、チタニウム、アルミニウム、テルビウム、イッテルビウム、セリウム、ハフニウム、エルビウムおよびイットリウムからなる群から選ばれる原子である、(1)〜(3)のいずれかに記載の膜形成用組成物。
(5) 式(1)中のMで表される金属原子または半金属原子が、ケイ素、ジルコニウム、チタニウムおよびアルミニウムからなる群から選ばれる原子である、(1)〜(4)のいずれかに記載の膜形成用組成物。
(6) 式(1)中のMで表される金属原子または半金属原子の種類と、金属または半金属の酸化物粒子中の金属原子または半金属原子の種類が同じである、(1)〜(5)のいずれかに記載の膜形成用組成物。
(7) 金属または半金属の酸化物粒子の平均粒径が、3〜50nmである、(1)〜(6)のいずれかに記載の膜形成用組成物。
(8) 溶媒が、SP値10以下の溶媒を含む、(1)〜(7)のいずれかに記載の膜形成用組成物。
(9) 混合溶液に、さらに酸性触媒が含まれる、(1)〜(8)のいずれかに記載の膜形成用組成物。
(10) (1)〜(9)のいずれかに記載の膜形成用組成物を支持体上に塗布して、硬化させ、機能性膜を得る、機能性膜の製造方法。
(12) 金属または半金属の酸化物粒子が、空孔を形成するマトリックスの内壁面近傍に配置される、(11)に記載の機能性膜。
(13) 炭化水素基が、少なくとも一つの第1級アミノ基と、少なくとも一つの第2級アミノ基と、芳香族炭化水素基とを含む1価の炭化水素基である、(11)または(12)に記載の機能性膜。
(14) 炭化水素基が、後述する式(2)で表される炭化水素基である、(11)〜(13)のいずれかに記載の機能性膜。
(15) 式(1)中のMで表される金属原子または半金属原子が、ケイ素、ジルコニウム、チタニウムおよびアルミニウムからなる群から選ばれる原子である、(11)〜(14)のいずれかに記載の機能性膜。
(16) 金属または半金属の酸化物粒子の平均粒径が3〜50nmである、(11)〜(15)のいずれかに記載の機能性膜。
(17) マトリックスが、ポリオルガノシロキサンまたはポリオルガノチタニアサンである、(11)〜(16)のいずれかに記載の機能性膜。
また、本発明の機能性膜には、空孔が均一に形成されている。このため、本発明の機能性膜は、従来、中空粒子または多孔質粒子を用いて形成された種々の機能性膜の代替として用いることができる。
まず、本発明の従来技術と比較した特徴点について詳述する。
本発明の特徴点の一つとしては、所定の官能基を有する化合物(以後、加水分解性化合物とも称する)で表面処理された金属または半金属の酸化物粒子(以後、被覆酸化物粒子とも称する)と、この加水分解性化合物および/またはその加水分解縮合物(以後、両者の総称として化合物Aとも称する)と、を使用する点が挙げられる。
これらの化合物の作用メカニズムの詳細は不明だが、以下のように推測する。
まず、加水分解性化合物に含まれる官能基には、第1級アミン基および第2級アミン基が含まれ、この2つの官能基は溶媒中で酸化物粒子との間で水素結合などの相互作用を形成し配位する。加水分解を促進する酢酸等の溶媒の添加により、加水分解性基は脱水反応が進行し僅かな水が発生すると共に、第1級アミン基および第2級アミン基が酸化物粒子表面に配位していない部分に水素結合などの相互作用を形成する。化合物Aと被覆酸化物粒子とを含む溶液に超音波処理および/またはバブリング処理を施すと、混合溶液中に発生した気泡の気液界面に被覆酸化物粒子が気泡を覆うよう(囲うよう)に凝集する。なお、気泡形状は、球が好ましいが、それ以外の形状であってもよい。
また、芳香族炭化水素基を有する化合物Aではより電荷を一次的に保持して電荷の局在を形成しやすく、電荷による引力と斥力が相対的に強く寄与できるので、凝集化の進行や分散性の改善、および、気泡形状の均一性のより一層の改善が行える。
さらに、例えば、SP値10以下のトルエン溶媒を使用してナノバブル処理を行った場合には、ナノバブルの気液界面は帯電しているために、電荷を有することができる1級アミン基および第2級アミン基を有する被覆酸化物粒子は、ナノバルブがこれらを通過する際に、ナノバルブの表面電荷にトラップされ球状に凝集化し球状気泡を形成する。特に、トルエンなどの無極性溶媒を使用した場合、第1級アミン基および第2級アミン基に蓄えられた電荷は、一次的に気泡形状を保持しやすい。
この組成物を塗布して膜を形成すると、組成物中に残存していた気泡が膜中の空孔領域となり、空孔が均一に分散した機能性膜が形成される。
つまり、本発明の膜形成用組成物中では、被覆酸化物粒子の凝集体の内部に気泡が保持されており、この気泡が機能性膜の空孔になると推測される。この組成物を使用すれば、従来使用していた中空粒子などを使用することなく、空孔を有する機能性膜を形成することができる。
溶媒は、膜形成用組成物において、酸化物粒子および後述する式(1)で表される化合物が分散する媒体である。
使用される溶媒の種類は特に制限されず、公知の溶媒を使用できる。例えば、トルエン、キシレン、ベンゼンなどの芳香族炭化水素系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチルなどのエステル系溶媒、ジメチルカーボネート、ジエチルカーボネートなどのカーボネート系溶媒、などが挙げられる。
なお、使用される溶媒の中でも、主溶媒(溶媒中でその体積比が80%以上を占める溶媒)は、実施される超音波処理またはバブリング処理という処理の種類に応じて、適宜最適な溶媒が選択されることが好ましい。両者に共通していえるのは、超音波処理とバブリング処理を施して膜形成用組成物中に気泡を安定に形状保持するためには、気液界面で蓄えられた電荷の放電を抑制することが好ましく、電荷の放電が抑制される溶媒を使用することが好ましい。つまり、溶媒の極性を低くすることにより、被覆酸化物粒子により形成される電気二重層から溶媒への溶媒拡散による電荷拡散を抑制する電荷伝達遅延構造にすることが好ましい。そこで、使用される溶媒としては、SP値(溶解度パラメーター)が10.0以下である溶媒が好ましく、なかでも、膜形成用組成物の安定性がより優れる、または、この組成物より形成される機能性膜の空孔の大きさがより均一である点で、SP値が6.0〜9.0である溶媒が好ましい。なお、上記のようなSP値の溶媒を主溶媒として使用することにより、後述する触媒である酢酸(SP値10以上)を添加しても、より優れた効果を得ることができる。
なお、溶解度パラメータ(SP値)は、分子凝集エネルギーの平方根で表される値である。SP値については、Polymer HandBook(Second Edition)第IV章 Solubility Parameter Valuesに記載があり、その値を本発明におけるSP値とする。また、単位は(MPa)1/2であり、25℃における値を指す。なお、データの記載がないものについては、R.F.Fedors,Polymer Engineering Science,14,p147〜154(1974)に記載の方法で計算した値を本発明におけるSP値とする。
後述する式(1)で表される化合物(以後、加水分解性化合物とも称する)で表面処理された金属または半金属の酸化物粒子(以後、被覆酸化物粒子とも称する)とは、酸化物粒子に対して加水分解性化合物を用いた表面処理が施されて得られる粒子である。言い換えれば、被覆酸化物粒子は、金属または半金属の酸化物粒子(以後、単に酸化物粒子とも称する)の表面の少なくとも一部が加水分解性化合物で被覆される。なお、被覆の程度は特に制限されず、表面全面が被覆されていても、一部が露出していてもよい。
この被覆酸化物粒子は、膜形成用組成物より形成される機能性膜中の空孔の形成を補助する役割を果たす。上述したように、組成物中において被覆酸化物粒子が気泡の周辺を覆うように凝集することにより、その凝集体の内部に気泡が保持され、この気泡が機能性膜の空孔になっていると推測される。
なお、ここで金属または半金属の酸化物粒子とは、金属原子と酸素原子とからなる酸化物粒子(金属酸化物粒子)、および、半金属原子と酸素原子とからなる酸化物粒子(半金属酸化物粒子)を意図する。半金属原子としては、例えば、ホウ素,ケイ素,ゲルマニウム,ヒ素,アンチモン,セレン,テルルなどが挙げられる。
このうち、後述する式(1)で表される化合物および/またはその加水分解縮合物を構成している金属原子または半導体原子Mと、酸化物粒子を構成している金属原子または半導体原子が一致していると、比較的電荷の偏りが少なく均一となるため、組成物中における被覆酸化物粒子の分散均一性がより優れる。例えば、シランカップリング剤とシリカ粒子、または、チタンカップリング剤と酸化チタン粒子のような組み合わせである。
なお、酸化物粒子の平均粒径は、粒度分布計において100個以上の酸化物粒子の体積を動的光散乱測定により求め、酸化物粒子が正球の形状をしていると仮定し算術した粒径値を、酸化物粒子の個数分統計処理し、そのメジアン値を平均粒径とした。
乾式法としては、例えば、酸化物粒子に加水分解性化合物を直接付着させる方法が挙げられる。より具体的には、ミキサーに酸化物粒子を仕込んで、攪拌しながら加水分解性化合物または加水分解性化合物を水若しくは有機溶媒に溶解させた溶液を滴下または噴霧した後、必要に応じて加熱しながら攪拌し、ふるいにより分級を行う。
湿式法としては、酸化物粒子と溶媒とを含むスラリーを調製後、そこに加水分解性化合物を添加し、必要に応じて加熱しながら攪拌し、溶媒除去(例えば、濾過)、乾燥およびふるいによる分級を行う。
なお、湿式法においては、加水分解性化合物と共に、必要に応じて、後段で詳述する酸性触媒を添加してもよい。また、湿式法において使用される溶媒の種類は特に制限されず、例えば、上述した組成物中に含まれる溶媒が挙げられる。
また、上記反応以外にも、X基中の第1アミノ基および/または第2級アミノ基が酸化物粒子表面と静電相互作用を生じて、固定化される。
式(1)で表される化合物および/またはその加水分解縮合物は、これら化合物に含まれる所定の官能基の機能により、溶媒中で相互作用(水素結合)を生じ、ネットワークを形成する。
以下に、式(1)で表される化合物の態様について詳述する。
式(1) (X)nM(Y)m-n
炭化水素基には、第1級アミノ基と第2級アミノ基とが、それぞれ少なくとも1以上含まれていればよい。なお、これらアミノ基の数を増やしすぎると、機能性膜中の空孔分布形状が悪化し、空孔形状の均一性が低下する場合がある。そのため、第1級アミノ基と第2級アミノ基の合計が4個以下であることが好ましい。
炭化水素基に含まれる炭素原子の数は特に制限されないが、炭化水素基に含まれる炭素原子の長さにより、その化合物の双極子モーメントが変化すること、または、親疎水傾向の変化することが知られている。これを利用して被覆酸化物粒子の分散性を制御することができるが、炭化水素基中の炭素数が長すぎると、塗布膜を形成する際のせん断応力が高くなり、塗布方向に配向するモーメントが働くため、球状気泡が破壊する、または、変形するというおそれがある。このため、炭素原子の数は16以下が好ましく、5以下がより好ましい。下限は特に制限されないが、通常、1以上である。
例えば、Mがケイ素、チタンなどの4価の金属原子または半金属原子の場合、mは4を表し、nは1〜3の整数を表す。Mがアルミニウムなどの3価の金属原子または半金属原子の場合、mは3を表し、nは1〜2を表す。
なお、mおよびnが2以上の場合(XおよびYが複数ある場合)、各XおよびYは互いに同一であっても異なっていてもよい。
芳香族炭化水素基中に含まれる炭素原子の数は特に制限されないが、溶媒への溶解性などがより優れ、取扱い性がより優れる点より、炭素数6〜18が好ましく、炭素数6〜12がより好ましい。
芳香族炭化水素基は単環式であっても、多環式であってもよい。例えば、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環、フェナントレン環、ペリレン環、テトラセン環、ピレン環、ベンズピレン環などが挙げられる。なかでも、汎用性がより優れる点で、ベンゼン環が好ましい。
芳香族炭化水素基の価数は特に制限されないが、組成物より形成される機能性膜の空孔の大きさがより均一である点で、1〜3価が好ましく、2価がより好ましい。
式(2)中、*はM(金属原子)に結合する位置を示す。
アルキル基中に含まれる炭素原子の数は特に制限されないが、溶媒への溶解性などがより優れ、取扱い性がより優れる点より3〜20個がより好ましく、5〜15個がさらに好ましく、5〜10個が特に好ましい。
第1級アミノ基および第2級アミノ基の数の好適範囲は、上述の通りである。
また、Zの好適態様としては、式(4)で表されるアルキル基が挙げられる。
式(4) NH2−L−NH−L−*
式(4)中、Lは、後述するLと同義であり、好適態様も同じである。なお、式(4)中のLは、互いに同一であっても異なっていてもよい。*は結合位置を示す。
アルキレン基に含まれる炭素原子の数は特に制限されないが、溶媒への溶解性などがより優れ、取扱い性がより優れる点より、1〜10が好ましく、1〜5がより好ましく、1〜2がさらに好ましい。
加水分解縮合物の製造方法は特に制限されず、公知の方法を採用できる。例えば、所定の溶媒(例えば、芳香族炭化水素系溶媒、ケトン系溶媒など)中で加水分解性化合物を混合攪拌する方法や、所定の触媒(例えば、酸性触媒、塩基性触媒、金属キレート触媒など)の存在下、所定の溶媒中で加水分解性化合物の加水分解・縮合させる方法が挙げられる。
塩基性触媒としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、モノエタノールアミン、ジエタノールアミンなどが挙げられる。
超音波処理および/またはバブリング処理が施される混合溶液および膜形成用組成物には、上記成分以外に他の成分が含まれていてもよい。
例えば、加水分解性反応用の触媒(酸性触媒、塩基性触媒、金属キレート触媒)などが挙げられ、溶液中での被覆酸化物粒子の分散性の向上の観点から、被覆酸化物粒子表面の電荷零点pHからより外れるようになる触媒が好ましい。
また、式(1)で表される化合物以外にも、加水分解性基を有する化合物を併用してもよい。例えば、式(5)で表される化合物を使用してもよい。
式(5) (Y)mM
式(5)中、Y、M、mは、式(1)中のY、M、mと同義である。
超音波処理および/またはバブリング処理が施される混合溶液には、上述した溶媒、被覆酸化物粒子、および、式(1)で表される化合物および/または加水分解縮合物が含まれる。
被覆酸化物粒子の含有量は特に制限されないが、溶媒100質量部に対して、0.1〜10質量部が好ましく、0.1〜3.0質量部がより好ましい。
式(1)で表される化合物およびその加水分解縮合物の含有量は特に制限されないが、溶媒100質量部に対して、1〜30質量部が好ましく、1〜20質量部であることがより好ましい。上記範囲内であれば、式(1)で表される化合物およびその加水分解縮合物が膜形成用組成物で偏りを生じることなくコロイド運動することができ、組成物中に形成されるゲル状物質の均一性に優れる。
また、他の方法として、金属または半金属の酸化物粒子と溶媒とを有する溶液中に、加水分解性化合物を添加して、加水分解性化合物の加水分解反応・縮合反応を進行させ、酸化物粒子の表面処理を行うと同時に、加水分解性化合物の加水分解縮合物を生成して、所望の混合溶液を調製してもよい。
膜形成用組成物は、上述した混合溶液に超音波処理および/またはバブリング処理を施すことにより製造される。
上述したように、超音波処理および/またはパブリング処理を上記混合溶液に施すと、溶液中に気泡が発生し、この気泡の気液界面近傍に被覆酸化物粒子が凝集し、結果としてこの凝集体内部に気泡が内包され、気泡が組成物中に残存する。
以下に、超音波処理、バブリング処理について詳述する。
超音波処理とは、混合溶液に対して超音波を照射する処理である。
超音波処理の際の超音波の周波数は特に制限されない。なかでも、機能性膜中における空孔の分散性がより優れる点で、10kHz〜100MHz、または、700kHz〜2MHzが好ましい。また、周波数を適宜設定することにより機能性膜中の空孔の大きさを制御することができ、例えば、周波数を200〜600kHzとすると空孔の平均直径は1〜10μm程度に制御でき、周波数を700kHz〜2MHzとすると空孔の平均直径は0.1〜1μm程度の制御できる。
また、超音波処理の際の超音波の照射時間は混合溶液中の被覆酸化物粒子および加水分解縮合物の含有量により最適時間が異なり、機能性膜の空孔の大きさをより均一にする観点から、10分〜3時間が好ましく、20分〜1時間がより好ましい。
超音波処理では公知の超音波装置(例えば、株式会社カイジョー製 クオーバ(QUAVA Mult)3周波対応、ハイ・メガソニック)を使用できる。
バブリング処理とは、混合溶液に対して気体(気泡)を供給する処理である。
混合溶液に供給される気体の種類は特に制限されず、例えば、空気、不活性ガス(窒素ガス、ヘリウムガス、アルゴンガス、二酸化炭素)などが挙げられる。
混合溶液に供給される気体の単位時間あたりの量は特に制限されないが、組成物より形成される空孔が機能性膜中に均一に形成させるために、酸化物粒子の含有量から推測される気泡密度に適合した量になっていることが好ましい。
また、バブリング処理時に供給されるバブルの大きさは特に制限されないが、浴槽底より上部に向かって拡散していき浴槽の深さに対応してバブルにかかる圧力が低下し、バルブ径が大きくなる傾向を示すことから、所望する空孔状凝集物よりやや小さいバブルを発生させることが好ましい。より具体的には、供給されるバブルの大きさは0.09〜9.9μmが好ましい。
バブリング処理の時間は特に制限されないが、機能性膜の空孔の大きさをより均一にする観点から、10分〜3時間が好ましく、20分〜1時間がより好ましい。
バブリング処理では公知のバブリング装置(例えば、IDEC株式会社nano-GaAF)を使用できる。なお、AAOなどのナノオーダの規則配向空孔が開いたメンブレンを使用するなど、発生させたいバブル径に合わせたメンブレンを使用することが好ましい。また、バブルのナノ化に伴い圧損が増えるため、ポンプや配管等を高圧化対応させることが好ましい。
必要に応じて、加熱処理を実施してもよい。
これに加え、膜形成用組成物のpH、または、電離定数等を制御し静電反発による配列を制御することにより、球状気泡の自己集積配列を制御することができる。
このように膜形成用組成物中の気泡の大きさ・配列を制御することにより、後述する機能性膜内における空孔の数・分布・大きさなどを制御することができる。
上述した方法により製造された膜形成用組成物には、溶媒、被覆酸化物粒子、および、式(1)で表される化合物および/または加水分解縮合物が含まれる。
また、上述したように、組成物中には、気泡が残存していると考えられる。気泡の存在は、目視、光学顕微鏡による確認、または、超音波処理および/またはバブリング処理前後での組成物の入射光に対する散乱特性および吸収特性などから確認される。
本発明の機能性膜は、所定の単位を有するマトリックスと、金属または半金属の酸化物粒子とを有し、マトリックスに空孔が形成されている膜である。
以下では、まず、機能性膜の製造方法について詳述し、その後機能性膜の態様について詳述する。
膜形成用組成物を使用する方法においては、まず、上述した膜形成用組成物を用意し、その後、この組成物を所定の支持体上に塗布し、得られた塗膜を硬化させることにより機能性膜を製造することができる。
機能性膜のより具体的な製造メカニズムとしては、膜形成用組成物中に含まれる被覆酸化物粒子と、加水分解性化合物および/またはその加水分解縮合物との間で、加水分解反応・縮合反応がさらに進行し、加水分解性化合物由来の加水分解縮合物であるマトリックスと、このマトリックス中に分散した金属または半金属の酸化物粒子とを有する機能性膜が得られる。この機能性膜中においては、超音波処理および/またはバブリング処理によって形成された組成物中の気泡に起因したと推測される空孔が多数形成される。
以下では、支持体上に組成物を塗布する態様について詳述する。
膜形成用組成物の塗布の方法は特に制限されず、公知の方法(スピンコーター、ダブルロールコーター、スリットコーター、ディップコーター、ダイコーターなど)を採用できる。
硬化の方法は加水分解反応・縮合反応が進行すれば特に制限されず、室温で自然乾燥させる方法や、加熱処理を施す方法などが挙げられる。加熱処理を施す場合、溶媒の発火点以下、好ましくは50℃以下の自然乾燥が好ましい。
なお、生産効率の点から、硬化の際には加熱処理を施すことが好ましい。加熱処理の条件は特に制限されないが、成分の分解などをより抑制できる点で、80℃、5分程度で実施することが好ましく、支持体の耐熱性上可能であれば150℃、5分程度がより好ましい。
機能性膜は、式(3)で表される単位を有するマトリックスと、マトリックス中に分散した金属または半金属の酸化物粒子とを含む。なお、マトリックスは、上述したように、上記加水分解性化合物が加水分解・縮合反応を経て得られる加水分解縮合物に相当する。
以下、式(3)で表される単位について詳述する。
式(3) (X)n−MOm-n/2
式(3)中、X、M、m、nの定義は、式(1)中のX、M、m、nとそれぞれ同義であり、好適な範囲も同じである。
例えば、Mが4価のケイ素原子であり、nが1の場合、以下の式(6)で表されるオルガノシロキサン単位を意味する。
式(6) (X)−SiO3/2
また、Mがチタン原子であり、nが1の場合、以下の式(7)で表されるオルガノチタニア単位を意味する。
式(7) (X)−TiO3/2
なお、ポリオルガノチタニアサンとは、オルガノチタン化合物の加水分解縮合反応により形成されるものを意図する。オルガノチタン化合物とは、(R)n−Ti−(Y)mで表される化合物を意図し、Rは有機基を、Yは加水分解性基を表し、nおよびmはそれぞれ1以上の整数を表し、n+m=4の関係を満たす。
式(8) MO2
マトリックス中においては、式(3)で表される単位が主成分として含まれていることが好ましい。ここで主成分とは、式(3)で表される単位の含有量が、マトリックスの全構成単位に対して、80モル%以上であることを意図し、90〜100モル%であることが好ましい。
空孔の平均直径は上述した超音波処理および/またはバブリング処理の条件を制御することにより調整でき特に制限されないが、空孔の直径の分布がより均一となる点で、0.1〜10μmが好ましい。
機能性膜の空孔率は特に制限されないが、膜強度の点から、3〜25%が好ましい
空孔率の測定方法としては、まず、機能性膜断面のSEMまたは光学顕微鏡により、500×500μmの視野サイズの領域を測定し、その領域で重ならないように50×50μmの視野サイズの領域を任意に10か所抽出して、平面での空孔部と充填部の比率から空孔率(空孔部の面積/空孔部の面積+充填部の面積)を出し、10箇所の領域の空孔率の算術平均値を求め、それを機能性膜の空孔率とする。
また、平均直径は、機能性膜断面のSEMまたは光学顕微鏡により、500×500μmの視野サイズの領域を測定し、任意の100個以上の空孔の直径を測定し、それらを算術平均した値である。空孔が真円状でない場合、その長径を直径とする。
また、屈折率が空孔率によって変化することが知られており、この屈折率と空孔率との関係を用いることにより、機能性膜の屈折率を調整することができる。
特に、機能性膜中の空孔率などによって、機能性膜自体の屈折率を調整することができるため、機能性膜を低屈折率膜または高屈折率膜として好適に応用することができる。
また、例えば、結晶シリコン太陽電池に応用する場合、太陽電池用途に求められているARコート膜の機能は、低反射性であることと適度な光散乱性が挙げられ、これにより結晶シリコン太陽電池活性層での光路長の増大による光吸収率の向上が見込まれる。また、太陽光に対しては広い波長領域でのARコートが望まれるが、本発明の機能性膜を含む2〜3層コート等の積層膜であれば広い波長領域に対応したARコートとなりうる。
機能性膜の好適態様の一つとして、図1に示す態様が挙げられる。
機能性膜10は、マトリックス12と、図示しない金属または半金属の酸化物粒子とを有する。なお、マトリックス12中においては、複数の空孔14が形成されている。
機能性膜10では、空孔14の周辺領域16において、金属または半金属の酸化物粒子が高い割合で存在している。言い換えると、機能性膜の好適態様の一つとしては、空孔14を形成するマトリックス12の内壁面近傍に金属または半金属の酸化物粒子が配置されることが好ましい。特に、空孔14を囲むように(覆うように)酸化物粒子が配置されることが好ましい。ここで、近傍とは、内壁面から20nm以内の領域を意味する。
上述したように、膜形成用組成物中においては、気泡の周辺に金属または半金属の酸化物粒子が多く存在していると考えられる。そのため、機能性膜10の空孔14の周辺においても、同様に金属または半金属の酸化物粒子が多く存在することにより、より大きさの均一な空孔が形成される。
SiO2ナノパウダー(アルドリッチ社製、粒径:5〜15nm、5mg)をトルエン溶液(100mL)に加えて、撹拌しながら混合した。その後、以下の式(X)で表される加水分解性化合物をトルエン溶液に対して5質量%となるように添加した後、10分撹拌した。その後、遠心分離器(600rpm、1分程度)にてトルエン溶液に対して遠心分離処理を施し、沈殿物である2次凝集粒子を取り除き、上澄み液のみを回収した。次に、上澄み液に対して酢酸を1mL添加して10分間撹拌することにより、式(X)で表される加水分解性化合物の加水分解反応・縮合反応が進行し、SiO2ナノパウダー表面が式(X)で表される加水分解性化合物で表面処理されると共に、式(X)で表される加水分解性化合物の加水分解縮合物が混合溶液中で形成された。
次に、あらかじめUVオゾン処理を施した透明ポリイミドフイルム支持体を準備した。
調製直後の膜形成用組成物を厚みが塗布後100nm程度になるように透明ポリイミドフイルム支持体上にキャストした後、表面に凹凸が施されているバー状棒で引延して塗布し自然乾燥させた。室温下で10分放置して、溶媒を揮発させ、機能性膜を製造した。
得られた機能性膜のTEM観察を行ったところ、図3に示すように、機能性膜中において多数の空孔が膜全体に渡って均一に分散していることが確認された。また、図3に示す機能性膜においては、空孔近傍をTEMにて拡大観察したところコントラストの差異より、図1に示すように空孔を形成するマトリックスの内壁面近傍に空孔を囲むようにSiO2ナノパウダーが多数存在していることが確認された。なお、機能性膜中におけるSiO2ナノパウダーの含有量は、マトリックス100質量部に対して、約1質量部であった。
式(X)で表される加水分解性化合物の代わりに、式(Y)で表される加水分解性化合物を使用した以外は、実施例1と同様の手順に従って、機能性膜を製造した。
得られた機能性膜中では、実施例1と同様に、多数の空孔が形成されていた。また、実施例1と同様に、空孔を形成するマトリックスの内壁面近傍に空孔を囲むようにSiO2ナノパウダーが多数存在していた。
式(X)で表される加水分解性化合物の代わりに、式(Z)で表される加水分解性化合物を使用した以外は、実施例1と同様の手順に従って、機能性膜を製造した。
得られた機能性膜中では、実施例1と同様に、多数の空孔が形成されていた。また、実施例1と同様に、空孔を形成するマトリックスの内壁面近傍に空孔を囲むようにSiO2ナノパウダーが多数存在していた。
トルエンをキシレンに変更した以外は、実施例3と同様の手順に従って、機能性膜を製造した。得られた機能性膜中では、実施例1と同様に、多数の空孔が形成されていた。また、実施例1と同様に、空孔を形成するマトリックスの内壁面近傍に空孔を囲むようにSiO2ナノパウダーが多数存在していた。
SiO2ナノパウダーの代わりに、平均粒径50nmのTiO2粒子を用いた以外は、実施例1と同様の手順に従って、機能性膜を製造した。
得られた機能性膜中では、実施例1と同様に、多数の空孔が形成されていた。また、実施例1と同様に、空孔を形成するマトリックスの内壁面近傍に空孔を囲むようにTiO2粒子が多数存在していた。
式(X)で表される加水分解性化合物の代わりに、式(V)で表される加水分解性化合物を使用した以外は、実施例1と同様の手順に従って、膜の成膜を行った。しかしながら、得られた膜中においては、空孔の形成は確認できなかった。
なお、以下の化合物中には、第2級アミノ基が含まれていない。
SiO2ナノパウダーを使用しなかった以外は、実施例1と同様の手順に従って、膜を製造した。得られた膜中においては、空孔の形成は確認できなかった。
超音波処理を実施せずに、混合溶液を膜形成用組成物として使用した以外は、実施例1と同様の手順に従って、膜を製造した。得られた膜中においては、空孔の形成は確認できなかった。
実施例1〜5および比較例1〜3で使用された膜形成用組成物の液安定性に関して、以下の基準に従って評価した。結果をまとめて、以下の表1に示す。実用上、「D」でないことが望ましい。
「A」:組成物調整後から、組成物を室温下で1週間放置しても沈殿の発生や、白濁が見られない。
「B」:組成物調整後から、組成物を室温下で放置した場合、3日間は沈殿の発生や、白濁が見られないが、1週間以内に沈殿の発生や、白濁が見られる。
「C」:組成物調整後から、組成物を室温下で放置した場合、24時間は沈殿の発生や、白濁が見られないが、3日以内に沈殿の発生や、白濁が見られる。
「D」:組成物調整後から、組成物を室温下で放置した場合、24時間以内に沈殿の発生や、白濁が見られる。
なお、表1中、空孔の平均直径および空孔率は、上述した方法により測定した。
特に、実施例1と3との比較から分かるように、式(1)中の炭化水素基に芳香族炭化水素基が含まれる場合、膜形成用組成物の液安定性がより優れることが確認された。
また、実施例1と5との比較から分かるように、式(1)中のMの原子の種類と、酸化物粒子中の原子の種類が同じ場合、膜形成用組成物の液安定性がより優れることが確認された。
また、酸化物粒子を使用しなった比較例2、および、超音波処理を実施しなかった比較例3においても、同様に形成された膜中には空孔の存在が確認できなかった。
40MHzで30分間の超音波処理の条件を、40MHzで5分間に変更した以外は、実施例1と同様の手順に従って、機能性膜を製造した。
得られた機能性膜中では、実施例1と同様に、多数の空孔が形成されていた。また、実施例1と同様に、空孔の内壁面近傍にSiO2ナノパウダーが多数存在していた。
得られた機能性膜の空孔率は3%であった。
図4において、マトリックス材がSiO2(1.46)とSi3N4(2.1)で空孔を形成したときの充填率による屈折率の理論的な変化を示す。より具体的には、図4中、横軸はマトリックスの充填率(100(%)−空孔率(%)に該当)で、縦軸が屈折率を示す。
実施例1および6で得られた機能性膜の空孔率はそれぞれ25%および3%であることから、それぞれの機能性膜の充填率は75%および97%と計算される。つまり、図4中の星印で示した部分が、それぞれ実施例1および6で得られた機能性膜が該当する。該図から分かるように、空孔率を制御することにより、機能性膜の屈折率を制御することが可能となる。
40MHzで30分間の超音波処理の条件を、28KHzと45KHzで各15分間に変更した以外は、実施例1と同様の手順に従って、機能性膜を製造した。
得られた機能性膜中では、実施例1と同様に、多数の空孔が形成されていた。また、機能性膜の断面TEM観察を行ったところ、図5に示すように、図中の下側から上側に向かって、機能性膜中の空孔の平均直径が漸減していることが確認された。
ポリマー溶液(ポリマーの種類:脂環式エポキシもしくはビスフェノールエポキシとオキセタンを7:3に配合し、光開始剤(重量比5%)とシランカップリング剤(重量比1%)とを添加したトルエン溶媒)に、ジルコニア粒子(販売元 日産化学)を分散し塗布後UVにて光重合させて下層を形成した後、上記実施例1で使用した膜形成用組成物を下層上に塗布して乾燥処理を施して上層を形成した。この得られた2層コートに対して、日立U4000分光反射装置、12度正反射評価系にて、その分光反射特性を評価した。結果を、図6に示す。
図6に示すように、本発明の機能性膜は優れた反射防止膜としての機能を有することが確認された。なお、図6中、横軸が波長(nm)で、横軸は反射率(%)を示す。
12 マトリックス
14 空孔
16 周辺領域
22 第1の領域
24 第2の領域
Claims (15)
- 溶媒と、式(1)で表される化合物で表面処理された金属または半金属の酸化物粒子と、前記式(1)で表される化合物および/またはその加水分解縮合物とを含有する混合溶液に、超音波処理および/またはバブリング処理を施す、膜形成用組成物の製造方法。
式(1) (X)nM(Y)m-n
(式(1)中、Xは、少なくとも一つの第1級アミノ基と、少なくとも一つの第2級アミノ基と、芳香族炭化水素基とを含む1価の炭化水素基を表す。Yは、加水分解性基を表す。Mは、金属原子または半金属原子を表す。mは、金属原子または半金属原子Mの原子価を表す。nは、1から(m−1)の整数を表す。なお、XおよびYが複数ある場合、各XおよびYは互いに同一であっても異なっていてもよい。) - 前記炭化水素基が、式(2)で表される炭化水素基である、請求項1に記載の製造方法。
- 前記金属または半金属の酸化物粒子に含まれる金属原子または半金属原子が、ケイ素、ゲルマニウム、ジルコニウム、チタニウム、アルミニウム、テルビウム、イッテルビウム、セリウム、ハフニウム、エルビウムおよびイットリウムからなる群から選ばれる原子である、請求項1または2に記載の製造方法。
- 前記式(1)中のMで表される金属原子または半金属原子が、ケイ素、ジルコニウム、チタニウムおよびアルミニウムからなる群から選ばれる原子である、請求項1〜3のいずれかに記載の製造方法。
- 前記式(1)中のMで表される金属原子または半金属原子の種類と、前記酸化物粒子中の金属原子または半金属原子の種類が同じである、請求項1〜4のいずれかに記載の製造方法。
- 前記金属または半金属の酸化物粒子の平均粒径が、3〜50nmである、請求項1〜5のいずれかに記載の製造方法。
- 前記溶媒が、SP値10以下の溶媒を含む、請求項1〜6のいずれかに記載の製造方法。
- 前記混合溶液に、さらに酸性触媒が含まれる、請求項1〜7のいずれかに記載の製造方法。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の製造方法により膜形成用組成物を製造する工程と、
前記膜形成用組成物を支持体上に塗布して、硬化させて、機能性膜を得る工程とを有する、機能性膜の製造方法。 - 式(3)で表される単位を有するマトリックスと、前記マトリックス中に分散した金属または半金属の酸化物粒子とを有し、前記マトリックス中に空孔が形成されている、機能性膜。
式(3) (X)n−MOm-n/2
(式(3)中、Xは、少なくとも一つの第1級アミノ基と、少なくとも一つの第2級アミノ基と、芳香族炭化水素基とを含む1価の炭化水素基を表す。Mは、金属原子または半金属原子を表す。mは、金属原子または半金属原子Mの原子価を表す。nは1から(m−1)の整数を表す。なお、Xが複数ある場合、各Xは互いに同一であっても異なっていてもよい。) - 前記金属または半金属の酸化物粒子が、前記空孔を形成するマトリックスの内壁面近傍に配置される、請求項10に記載の機能性膜。
- 前記炭化水素基が、式(2)で表される炭化水素基である、請求項10または11に記載の機能性膜。
- 前記式(3)中のMで表される金属原子または半金属原子が、ケイ素、ジルコニウム、チタニウムおよびアルミニウムからなる群から選ばれる原子である、請求項10〜12のいずれかに記載の機能性膜。
- 前記金属または半金属の酸化物粒子の平均粒径が3〜50nmである、請求項10〜13のいずれかに記載の機能性膜。
- 前記マトリックスが、ポリオルガノシロキサンまたはポリオルガノチタニアサンである、請求項10〜14のいずれかに記載の機能性膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012152906A JP5841908B2 (ja) | 2012-07-06 | 2012-07-06 | 膜形成用組成物の製造方法、並びに、機能性膜およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012152906A JP5841908B2 (ja) | 2012-07-06 | 2012-07-06 | 膜形成用組成物の製造方法、並びに、機能性膜およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014015518A JP2014015518A (ja) | 2014-01-30 |
JP5841908B2 true JP5841908B2 (ja) | 2016-01-13 |
Family
ID=50110508
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012152906A Active JP5841908B2 (ja) | 2012-07-06 | 2012-07-06 | 膜形成用組成物の製造方法、並びに、機能性膜およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5841908B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170098173A (ko) * | 2016-02-19 | 2017-08-29 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 감방사선성 조성물 및 패턴 형성 방법 |
US10120277B2 (en) * | 2016-02-19 | 2018-11-06 | Jsr Corporation | Radiation-sensitive composition and pattern-forming method |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6059250B2 (ja) * | 1979-11-14 | 1985-12-24 | 東レ株式会社 | 反射防止性透明材料およびその製造方法 |
JP4074732B2 (ja) * | 1999-09-28 | 2008-04-09 | 富士フイルム株式会社 | 反射防止膜および画像表示装置 |
JP2006100193A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Seiko Epson Corp | 有機el素子及びこれを備えた有機el装置 |
-
2012
- 2012-07-06 JP JP2012152906A patent/JP5841908B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014015518A (ja) | 2014-01-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4938994B2 (ja) | シリカエアロゲル膜及びその製造方法 | |
Xu et al. | Fabrication of highly transparent superhydrophobic coatings from hollow silica nanoparticles | |
TWI361171B (ja) | ||
TWI284140B (en) | Method for forming porous silica film | |
Ma et al. | Layer-by-layer self-assembly under high gravity field | |
JP2017025275A (ja) | シリコーン多孔体およびその製造方法 | |
JP2014507686A (ja) | 基板上に反射防止層を堆積させるための方法 | |
JP6323861B2 (ja) | 表面修飾メソポーラスシリカナノ粒子の製造方法 | |
JP2013246433A (ja) | 反射防止組成物とその製造方法および使用 | |
JP2017025276A (ja) | 触媒作用を介して結合した空隙構造フィルムおよびその製造方法 | |
JP2017025277A (ja) | 塗料およびその製造方法 | |
JP2017177683A (ja) | 撥水性被膜付基材およびその製造方法 | |
CN104945569A (zh) | 超疏水涂层用两亲性颗粒及其制备方法、和超疏水涂层 | |
Lee et al. | Superhydrophobic surfaces with near-zero sliding angles realized from solvent relative permittivity mediated silica nanoparticle aggregation | |
JP6356696B2 (ja) | 少なくとも1つの少なくとも二機能性多孔質層で被覆された透明基材、特にガラス基材、その製造方法及び使用 | |
JP5841908B2 (ja) | 膜形成用組成物の製造方法、並びに、機能性膜およびその製造方法 | |
CN104628265B (zh) | 一种多层宽光谱疏水型太阳能电池增透膜及其制备方法 | |
Basiron et al. | Improved Adhesion of Nonfluorinated ZnO Nanotriangle Superhydrophobic Layer on Glass Surface by Spray‐Coating Method | |
CN108892392B (zh) | 一种基于调控zif-8薄膜暴露晶面比例的方法 | |
JP2008203377A (ja) | 高屈折率薄膜および高屈折率薄膜形成用組成物 | |
Lin et al. | Preparation of antireflective coatings with moisture resistance and a widely tunable refractive index by combining the sol-gel method with evaporation concentration | |
Li et al. | Au/titania composite nanoparticle arrays with controlled size and spacing by organic-inorganic nanohybridization in thin film block copolymer templates | |
TWI403464B (zh) | Preparation of Core - shell Structure Composite Particles | |
Chang et al. | Fabrication of superhydrophobic silica‐based surfaces with high transmittance by using polypropylene and tetraeyhoxysilane precursors | |
CN108249773A (zh) | 一种玻璃表面减反射涂层的制备方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20141014 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150624 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150630 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150811 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150901 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151020 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151110 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151116 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5841908 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |