JP5785933B2 - 分析装置、品質確認装置、及び品質確認方法 - Google Patents

Description

本発明は、分析装置、品質確認装置、及び品質確認方法に関する。

従来、分析用試験片を用いて尿や血液などの試料（検体）の分析を行うための分析装置（例えば、特許文献１を参照）が公知である。この種の分析装置では、複数の分析用試験片をホッパ状やボックス状の試験片収容部に保管しておき、分析処理を行う際には移送手段を利用して分析用試験片を試験片収容部から１つずつ取り出すようにしている。取り出された分析用試験片は、試料容器内に挿入されて試料中に浸漬されたり、あるいは点着（分注）装置を利用してこの分析用試験片上に試料が点着されるような態様で用いられる。このようにして分析用試験片に試料が点着、添加された後には、例えば分析用試験片の色調変化が光学的な手法を用いて測定され、その測定結果に基づいて特定成分の濃度などが判断される。

ここで、分析用試験片は、多湿環境下に長期間にわたって曝露されると、試薬部（試薬パッド）に塗布などされている試薬が変質し、品質の低下（劣化）を招く虞がある。試験片収容部における分析用試験片の収容空間は、分析用試験片の品質低下（劣化）を防止するのに適した雰囲気となるように、例えば収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋が設けたり、収容空間に乾燥剤を設置する場合がある。しかしながら、このような対策を講じたとしても上記収容空間の密閉性、気密性を十分に確保することは容易ではない。

そのため、通常は、分析用試験片を密封状態で保管可能な密封保管容器を分析装置に併設しておき、一日の分析処理が終了する度に余剰の分析用試験片を密封保管容器に保管する内容の指示を分析装置の取扱説明書に記載しておくことが多い。例えば、この取扱説明書の記載を遵守するユーザー（使用者）は、分析装置の主電源をオフにした際に試験片収容部に分析用試験片が残留している場合、分析用試験片の余剰分を密封保管容器へと保管する。これにより、分析装置の主電源がオンにされるまでの稼動停止期間がたとえ長期に及ぶ場合においても、稼動停止期間において分析用試験片が分析装置における試験片収容部ではなく上記密封保管容器に保管される限り、分析用試験片が劣化することがない。

特開２０００−３２１２７０号公報 特開２００９−２２９２３２号公報

しかしながら、分析装置の稼動が停止された際、試験片収容部に残留している分析用試験片を実際に密封保管容器に保管するか否かはユーザー任せであるのが通例である。そのため、分析装置の稼動停止期間中に分析用試験片が試験片収容部内に留置（放置）されている可能性も否定できない。また、この種の分析装置は通常、試験片収容部内に投入される分析用試験片の投入時期や、その投入数を監視していない。以上のことから、分析装置による分析処理の再開時においては、品質の低下など、いわゆる劣化した状態の分析用試験片が分析処理に使用されてしまう可能性がある。その結果、試料の分析誤差が生じ易くなったり分析結果の信頼性が低下するなどの不具合を招く虞があった。

本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、分析用試験片を用いて試料の分析を行う分析装置において、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることが可能な技術を提供することを目的とする。

本発明では、上述した課題を解決するため、以下の手段を採用する。
すなわち、本発明は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える分析装置である。この構成によれば、分析用試験片の収容期間に応じてその劣化状況を判別し、判別結果をユーザーに報知することができる。よって、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることができる。

例えば、本分析装置における前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。この許容曝露期間は、例えば、分析用試験片を分析精度上問題なく使用可能な状態で試験片収容部に維持可能な最長の期間である。この構成では、分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えた場合に分析用試験片が劣化（例えば、品質の低下）していると判別し、収容期間が該許容曝露期間以内である場合に分析用試験片に劣化は生じていないと判別することができる。

また、前記劣化判別手段は、前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、を有しても良い。また、残留状態判定部は、例えば分析装置が起動されるタイミングごとに上記判定を行うようにしても良い。装置起動時に分析用試験片が試験片収容部に残留している場合に、該分析用試験片が長期に亘り曝露環境下に晒され、劣化している可能性が高まるからである。

また、前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から装置起動時までの経過期間である第１収容期間と、直近における装置稼動停止時から装置起動時までの経過期間である第２収容期間と、をそれぞれ算出し、前記判別部は、前記第１収容期間と前記第２収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別するように構成しても良い。

例えば、前記判別部は、前記第１収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別しても良い。そして、前記判別部は、前記第１収容期間および前記第２収容期間のうち第１収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第１劣化状態であると判別し、前記第１収容期間及び前記第２収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第２劣化状態であると判別し、前記第２劣化状態は前記第１劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別されても良い。

また、前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、を更に備え、前記劣化判別手段は、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。例えば、前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の劣化状況を判別する際、前記収容期間における前記開閉蓋の開閉状態に基づいて該分析用試験片の劣化度合いについて重み付けを行うようにしても良い。

ここで、分析用試験片が試験片収容部内において晒される曝露環境は、該分析用試験片の劣化度合いに大いに影響を及ぼす。すなわち、分析用試験片の収容期間における試験片収容部内の湿度が高いほど分析用試験片が劣化し易く、該収容期間における試験片収容部内の温度が高いほど分析用試験片が劣化し易いと言える。そこで、本発明における分析装置は、前記試験片収容部における湿度及び温度の少なくとも一方を検出する曝露環境検出手段を更に備えていても良い。そして、前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別し、前記許容曝露期間は、前記曝露環境検出手段による検出結果に応じて可変設定されても良い。

例えば、上記構成において、曝露環境検出手段が試験片収容部内の湿度を検出する場合、収容期間において検出された湿度が高いほど、分析用試験片の劣化状況を判別するための基準となる許容曝露期間を、より短い期間として設定しても良い。また、例えば、曝露環境検出手段が試験片収容部内の温度を検出する場合、収容期間において検出された温度が高いほど、許容曝露期間を、より短い期間として設定しても良い。これによれば、分析用試験片が晒される曝露環境の差異に応じて該分析用試験片の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。

また、本発明は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備えるようにしても良い。また、前記劣化判別手段は、更に、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。

また、本発明は、上記分析装置の試験片収容部に収容されている分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であっても良い。また、本発明は、コンピュータその他の装置などが上記何れかの処理を実行する方法であっても良い。また、本発明は、コンピュータその他の装置などに、以上の何れかの機能を実現させるプログラムであっても良い。また、本発明は、そのようなプログラムをコンピュータなどが読み取り可能な記録媒体に記録したものでも良い。

すなわち、本発明に係る品質確認装置は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であって、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える品質確認装置である。

また、本発明に係る品質確認方法は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認方法であって、前記分析装置のコンピュータが、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行する品質確認方法である。

また、本発明に係る品質確認プログラムは、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムであって、前記分析装置のコンピュータに、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行させるプログラムである。

また、本発明に係る記録媒体は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、前記分析装置のコンピュータに、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行させる記録媒体である。

なお、本発明における課題を解決するための手段は、可能な限り組み合わせることができる。

本発明によれば、分析用試験片を用いて試料の分析を行う分析装置において、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることが可能な技術を提供することができる。

実施例１における分析装置を示す概略斜視図である。 実施例１における分析装置の構成ブロック図である。 実施例１における分析装置の装置本体部の内部構造を示す図である。 実施例１における試験片を示す概略斜視図である。 実施例１における分析装置の機能ブロック図である。 試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。 第２の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。 実施例３における試験片収容部の概略構成図である。 第３の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。 第４の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。 実施例４における試験片収容部の概略構成図である。

以下、図面を参照して発明を実施するための形態について例示的に詳しく説明する。本実施形態では、本発明に係る分析装置の一例として、分析用試験片（以下、単に「試験片」と称する）を用いて尿（試料）中の化学成分を分析して尿定性試験を行うための化学分析装置について説明する。尿定性試験は、試験片の化学反応による色調変化、すなわち呈色反応を光学装置によって測定することにより、尿中に排泄される糖やタンパクの量あるいは潜血の有無などを検査する試験である。

但し、本分析装置において分析対象となる試料は尿に限られず、例えば血液やその他の試料の成分を分析しても良い。以下の図面において、既述の図面に記載された部品と同様の部品には同じ番号を付す。また、以下に説明する本発明に係る分析装置の各実施形態の説明は、本発明に係る試験片の品質を確認するための品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラム、及び該品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体の各実施形態の説明を兼ねるものである。なお、本実施の形態に記載されている構成要素の寸法、材質、形状、その相対配置等は、特に特定的な記載がない限りは、発明の技術的範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。また、本実施の形態において「試料」および「検体」は同義の用語として用いるものとする。

＜実施例１＞
図１は、本実施例における析装置１を示す概略斜視図である。図２は、本実施例における分析装置１の構成ブロック図である。図３は、本実施例における分析装置１の装置本体部１１の内部構造を示す図である。なお、装置本体部１１は、分析装置１を構成する各要素を収容する筐体（ハウジング）である。これらの図に示すように、分析装置１は、装置本体部１１、試験片供給部１２、ラック設置部１３、試料点着装置１４、Central Processing Unit（以下「ＣＰＵ」と称す）１５、メモリ１６、測光装置１７などを主として備えている。また、装置本体部１１には、表示パネル１１１、操作スイッチ群１１２、およびプリンタ１１３が設けられている。

ＣＰＵ１５は、コンピュータプログラムを実行することで分析装置１を制御する中央処理装置である。メモリ１６は、ＣＰＵ１５で実行されるコンピュータプログラムやＣＰＵ１５が処理するデータを記憶する機能を有するものである。メモリ１６は、例えば、揮発性のRandom Access Memory（ＲＡＭ）、不揮発性のRead Only Memory（ＲＯＭ）である。ＲＯＭには、例えば本分析装置１が機能する上で必要なプログラムやパラメータ、各種検量線データなどが格納されている。ＲＡＭには、ＣＰＵ１５にワーク領域を提供するとともに、例えばＣＰＵ１５に実行させるOperating System（ＯＳ）のプログラムやアプリケーションプログラムの一部が一時的に格納される。ＣＰＵ１５は、メモリ１６に格納されているプログラムに従って、各種の処理を実行する。

図２に示すように、分析装置１は、ＣＰＵ１５と各種の装置とを接続するインターフェース１８、ハードディスクドライブ１９、記録媒体駆動装置２０を有している。インターフェース１８は、例えばUniversal Serial Bus（ＵＳＢ）等のシリアルインターフェースや、Peripheral Component Interconnect（ＰＣＩ）等のパラレルインターフェースなどであっても良い。なお、ＣＰＵ１５と各装置とをインターフェース１８で接続しているが、ＣＰＵ１５と各装置との間を異なるインターフェースで接続しても良い。また、複数のインターフェース１８をブリッジ接続しても良い。

ハードディスクドライブ１９は、メモリ１６にロードされるプログラムを格納する。また、ハードディスクドライブ１９は、ＣＰＵ１５で処理されるデータを記憶する。記録媒体駆動装置２０は、例えば、Compact Disc（ＣＤ）、Digital Versatile Disk（ＤＶＤ）、ＨＤ−ＤＶＤ、ブルーレイディスク等の駆動装置である。また、記録媒体駆動装置２０は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを有するカード媒体の入出力装置であっても良い。記録媒体駆動装置２０が駆動する媒体は、例えば、ハードディスクドライブ１９にインストールされるコンピュータプログラム、入力データ等を格納する。

ここで、図４を参照して試験片２について説明する。試験片２は、図４に示される短冊状の基材２１上に、試料と反応させるための試薬を含んだ複数の試薬パッド（試薬部）２２が基材２１の長手方向に並んで設けられたものである。この試薬パッド２２には、試料点着装置１４によって、試料である尿の点着（「添加」ということもできる）が行われるようになっている。本実施例においてはこの試験片２が本発明における分析用試験片に相当するものである。なお、本図においては便宜上、７つの試薬パッドが基材２１上に並んでいるが、その数は適宜増減されていても勿論構わない。

また、図２、３に示す測光装置１７は、装置本体部１の内部に設置された光学系であり、前述した試験片２の呈色反応を光学的に測定するものである。

操作スイッチ群１１２は、ユーザー（使用者）が分析装置１を操作するための各種スイッチであり、例えば分析装置１の主電源のオン、オフを切り替える電源スイッチ、試料の分析処理（測定処理）を開始するための測定開始スイッチ、分析装置１による試料の分析結果をプリンタ１１３に印字させるための印字スイッチ、などである。

表示パネル１１１は、例えばＬＣＤ（liquid crystal display）や発光ダイオードなどを備えており、ＣＰＵ１５により制御されて各種の情報を表示する。操作スイッチ群１１２のうち、例えば測定開始スイッチが例えばユーザーによって押下されると試料における上記各種測定項目の測定がなされ、その測定結果に基づいて得られた分析結果（検査結果）が表示パネル１１１に表示されるようになっている。その他、表示パネル１１１には、ＣＰＵ１５で処理されるデータやメモリに記憶されるデータなどを表示することができる。また、上述の印字スイッチが押下されると、試料の分析結果がプリンタ１１３によって、例えば記録用紙に印字出力される。

ラック設置部１３は、図３に示した試料ラック１３１が設置される。この試料ラック１３１は、試料（図中、符号Ｕにて表す）としての尿を収容した複数の試料容器１３２を起立保持するためのラックである。

試料点着装置１４は、ノズル１４１、装置本体部１１内においてノズル１４１を上下方向及び水平方向に駆動させるノズル駆動装置１４２を備える。ノズル駆動装置１４２は、例えばアクチュエータ、又は循環駆動ベルトなどによって構成することができる。ノズル１４１による尿の吸引に際しては、ＣＰＵ１５がノズル駆動装置１４２を制御して、ノズル１４１を尿が収容された試料容器１３２の上方位置まで移動させた後、該ノズル１４１を下降する。そして、ＣＰＵ１５は図示しないポンプを駆動させて、ノズル１４１に試料容器１３２内の尿を吸引させる。ここで、図中のポジションＰ１には、以下に説明する試験片供給部１２によって試験片２が一枚ずつ供給されるようになっている。

ポジションＰ１にセットされた試験片２の試薬パッド２２には、ノズル１４１によって所定量の尿が点着される。このような点着動作が試験紙２に設置された試薬パッド２２の数だけ繰り返され、点着処理が終了する。試験片２に対する試料の点着処理が終了した後は、洗浄液（例えば蒸留水）を用いてノズル１４１の洗浄が行われる。ノズル１４１を洗浄するための構成についての詳しい説明は省略するが、従来既知のもの（例えば、特許文献１、２等に記載のもの）と同様な構成とすることが可能である。

試験片供給部１２は試料の分析に用いるための試験片２を収容しておき、この収容しておいた試験片２を一つずつ、前述したポジションＰ１に移送（輸送、供給）する。試験片供給部１２は、複数の試験片２を収容する試験片収容部１２１と、この試験片収容部１２１から試験片２を一枚ずつ取り出すための回転ドラム１２２とを備える。また、試験片収容部１２１の上部開口には、開閉蓋１２１１が設けられている。この開閉蓋１２１１は、試験片収容部１２１における試験片２の収容空間Ｓ１を外部空間Ｓ２に対して画定（区画）するものである。また、必要に応じて、試験片収容部１２１内には乾燥剤を設置するための乾燥剤設置部（図示省略）が設けられている。

試験片供給部１２を構成する回転ドラム１２２は、その外周面に試験片２を１枚のみ嵌入可能とする凹部１２２１を有している。そして、回転ドラム１２２が回転することによって凹部１２２１に嵌入した試験片２は試験片収容部１２１の外部に排出された後、図示しない移送装置によりポジションＰ１へと移送される。ポジションＰ１の近傍には、該ポジションＰ１へと移送された試験片２を検出する試験片検出センサ１２４が設けられている。この試験片検出センサ１２４はインターフェース１８を介してＣＰＵ１５と電気的に接続されており、その出力信号がＣＰＵ１５へと随時入力される。

図５は、本実施例における分析装置１の機能ブロック図である。図５に示す各機能部（３１〜３８）は、ＣＰＵ１５、メモリ１６等を含むコンピュータ、及びコンピュータ上で実行されるプログラム等によって実現することができる。図５に示した試験片供給制御部３１は、回転ドラム１２２の回転動作に関する制御、及び試験片２をポジションＰ１へと移送するための移送装置に関する制御を行う。また、点着装置制御部３２は、ノズル１４１を移送するためのノズル駆動部１４２、試験片２の試薬パッド２２への試料の点着に関する制御等を実行する。

図３に示す測光装置１７は、試料点着装置１４によって試料が点着された試験片２の各試薬パッド２２に対して光を照射したときの反射光を受光して、各試薬パッド２２の発色の程度（呈色反応）に応じた情報を得るための装置である。この測光装置１７は、発光部１７１、及び受光部１７２を有している。発光部１７１は、例えば特定のピーク波長を有する光を出射可能なものであり、発光ダイオード（Light-emitting Diode、ＬＥＤ）や、半導体レーザなどであっても良い。一方、受光部１７２は、試料が点着された各試薬パッド２２から反射してきた光を受光するためのものであり、例えばフォトダイオードであっても良い。図５に示す測光装置制御部３３は、測光装置１７における発光部１７１からの光の照射及び受光部１７２による反射光の受光に関する制御を実行する。

測定部３４は、受光部１７２における受光結果を取得する。そして測定部３４は、測光装置１７から取得した受光結果と、メモリ１６に記憶されている検量線データとに基づいて、試料としての尿に含まれるヘモグロビン、グルコース、あるいはタンパク質などの特定成分（測定項目成分）の濃度を演算する。各測定項目成分の測定結果は表示パネル１１１に表示され、必要に応じてプリンタ１１３から印字出力される。

試験片２は、多湿環境下に長期間にわたって曝露されると、試薬パッド２２に塗布されている試薬に変質などが起こり、試験片２の品質低下（以下、「劣化」ともいう）を招く虞がある。このように劣化した試験片２を用いて試料の分析処理を行った場合には分析誤差を招きやすく、分析結果の信頼性の低下に繋がる虞がある。

分析装置１の試験片収容部１２１は、その上部開口が開口蓋１２１１により閉塞され且つその底部開口が回転ドラム１２２によって閉塞されるなどして、試験片収容部１２１の内部空間（収容空間）Ｓ１はある程度の密閉性（気密性）を有する。そのため、収容空間Ｓ１は、外部空間に比べれば試験片２が劣化しにくい雰囲気となってはいるものの、分析装置１の稼動が停止されている稼働停止期間が長期に及ぶ場合にはやはり試験片２の劣化が起こる可能性が高まる。そのため、本分析装置１には、図１に示すようにボトルユニット４が併設されている。

ボトルユニット４は、試験片２を密封状態で保管可能な密封保管容器である。分析装置１の稼動が停止されている稼働停止期間においては、試験片収容部１２１に試験片２を放置しておくと前述した試験片２の劣化につながる虞があるため、分析処理終了の時点で余った試験片２は試験片収容部１２１からボトルユニット４へとユーザーによって移しかえられることになっている。具体的には、一日の分析処理の終了時に試験片２が試験片収容部１２１に残留している場合、余った試験片２をボトルユニット４に保管する内容の指示が分析装置１の取扱説明書に記載されている。

従って、ユーザーが取扱説明書を遵守する限り、分析装置１による分析処理が終了した時点（ユーザーによる操作スイッチ群１１２の操作により電源スイッチが押下されて、分析装置１の主電源がオフに切り替えられた時点）で試験片収容部１２１に残留している試験片２は、ユーザーによってボトルユニット４に保管される。そのため、稼働停止期間がたとえ長期に及ぶ場合においても、試験片収容部１２１には試験片２が放置されないため劣化することはない。しかし、分析装置１の稼動停止時に余りの試験片２を実際にボトルユニット４へと移すかどうかはユーザー任せであるため、稼動停止期間中において長期に亘り試験片２が試験片収容部１２１に留置（放置）されてしまう可能性も否定できない。

そこで、本実施例における分析装置１では、試料の分析処理に供される試験片２に劣化が生じているか否か、その品質を確認するための試験片品質確認制御を行う。この試験片品質確認制御は、概略、試験片収容部１２１における試験片２の収容期間を判断基準に用いて試験片２の劣化状況を判別する。以下、この試験片品質確認制御について詳しく説明する。

図５に示すように、分析装置１は、そのＣＰＵ１５やメモリ１６などを含むコンピュータにより実現される機能部として、残留状態判定部３５、期間算出部３６、判別部３７、報知部３８を備えている。以下、分析装置１のコンピュータにより実行される試験片品質確認制御における処理内容を、図６に基づいて説明する。

図６は、分析装置１のコンピュータにより実行される試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンは、例えば分析装置１の起動時、つまりユーザーによる電源スイッチの押下によって分析装置１の電源がオフの状態からオンの状態に切り替えられたことをトリガとして、メモリ１６に格納されているプログラム（「品質確認プログラム」と称する）がＣＰＵ１５によって実行されることで、本フローチャートにおける各処理が実現される。すなわち、図５において説明した分析装置１の各機能部は、ＣＰＵ１５がメモリ１６に格納された品質確認プログラムと協働することにより実現される。

ステップＳ１０１において、試験片供給制御部３１は、試験片収容部１２１内に試験片２が残留していればその試験片２がポジションＰ１に移送されるように、回転ドラム１２２の回転制御及び移送装置（不図示）の駆動制御を行う。ここで、試験片収容部１２１内に試験片２が残留していなければ（試験片収容部１２１の収容空間Ｓ１が空であれば）、試験片２がポジションＰ１へと移送されることがない。そして、試験片収容部１２１内に試験片２が残留していれば、少なくとも回転ドラム１２２が数回転する間に試験片２が凹部１２２１に嵌入するため、その試験片２がポジションＰ１へと移送される。

次いで、ステップＳ１０２（残留状態判定ステップ）においては、残留状態判定部３５が、試験片検出センサ１２４の出力信号（検出信号）を取得する。そして、この取得した検出信号に基づいて、試験片収容部１２１内に試験片２が残留（残存）しているか否かを判定する。具体的には、例えば所定の判定期間（例えば、回転ドラム１２２が数回転するのに要する時間）に亘って連続的、断続的に試験片検出センサ１２４からの検出信号を取得する。そして、取得した検出信号が、終始、試験片２が検出されないとの内容を示す信号（以下、「試験片未検出信号」ともいう）である場合、残留状態判定部３５は、試験片収容部１２１内に試験片２が残留していない（試験片収容部１２１における試験片２が空である）と判定し、本ルーチンを一旦終了する。この場合、分析装置１のコンピュータは、品質確認プログラムと同様、メモリ１６に格納されている分析用プログラム（図示省略）をＣＰＵ１５によって実行する。

上記分析用プログラムは、試験片２の呈色反応を測光装置１７によって測定し、試料である尿中に含まれる特定成分を分析するためのプログラムである。この分析用プログラムを分析装置１のコンピュータが実行することにより、ＣＰＵ１５が、試験片収容部１２１に収容されている試験片２をポジションＰ１へと移送する試験片供給制御部３１、点着装置１４を制御して試験片２に試料を点着する点着装置制御部３２、測光装置１７に関する制御を実行する測光装置制御部３３、測光装置１７の受光部１７２から受光結果を取得して特定成分の濃度を演算、分析する測定部３４として機能し、試料の分析処理が行われる。

また、ステップＳ１０２において残留状態判定部３５が、試験片検出センサ１２４から試験片２を検出したとの内容を示す出力信号（以下、「試験片残留信号」ともいう）を取得した場合、試験片収容部１２１内に試験片２が残留していると判定し、ステップＳ１０３の処理が実行される。

ステップＳ１０３（期間算出ステップ）では、期間算出部３６が試験片の収容期間（以下、「試験片収容期間」という）ΔＰｏｃを算出する。本実施例では、直近における分析装置１の稼動停止時（以下、「直近稼動停止日時」という）から再び装置が起動される時（以下、「直近起動日時」という）までの経過期間を試験片収容期間ΔＰｏｃとして算出することとした。なお、本分析装置１において、ユーザーにより電源スチッチが操作された時期（日時）は例えば分析装置１のハードディスクドライブ１９に記録されるようになっている。従って、ＣＰＵ１５は、電源スチッチがオンからオフに切り替えられた直近の時期（日時）をハードディスクドライブ１９から読み出すことで直近稼動停止日時を把握することができる。同様に、電源スチッチがオフからオンに切り替えられた直近の時期（日時）をハードディスクドライブ１９から読み出すことで、直近起動日時を把握することができる。そして、直近稼動停止日時から直近起動日時に至るまでの期間を試験片収容期間ΔＰｏｃとして算出することができる。本ステップの処理が終了すると、ステップＳ１０４の処理が実行される。

ステップＳ１０４（判別ステップ）では、判別部３７が、ステップＳ１０３（期間算出ステップ）において算出された試験片収容期間ΔＰｏｃに基づいて、試験片２の劣化状況を判別する。ここでは、判別部３７は、試験片収容期間ΔＰｏｃが許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えているかどうかに基づいて試験片２の劣化状況を判別する。この許容曝露期間ΔＰｏｃａは、試験片収容部１２１の収容空間Ｓ１内において、試験片２を分析精度上問題なく使用可能な状態で維持可能な最長の期間であり、試験片２に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔＰｏｃに対して設定される判定基準値である。許容曝露期間ΔＰｏｃａとしての適正値（例えば、３日〜５日間程度であってもよい）は、予め実験などの経験則に基づいて求めておくと良い。

本ステップにおいて、判別部３７は試験片収容期間ΔＰｏｃが許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えているか否かを判定する。そして、判別部３７は、試験片収容期間ΔＰｏｃが許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えているかどうかに基づいて試験片２の劣化状況を判別する。具体的には、試験片収容期間ΔＰｏｃが許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えていると判定された場合、判別部３７は、試験片２が劣化している可能性がある（或いは、劣化している可能性が高いと）と判断し、ステップＳ１０５の処理が実行される。一方、試験片収容期間ΔＰｏｃが許容曝露期間ΔＰｏｃａ以内であると判定された場合、試験片２が正常である（つまり、品質が低下していない）と判断する。この場合、本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。

図２に示したように、分析装置１は報知器３９を備えている。ステップＳ１０５（報知ステップ）においては、報知部３８が報知器３９を制御して、試験片２の劣化状況をユーザーに報知する。例えば、報知部３８は、試験片収容期間ΔＰｏｃが許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えている場合、試験片２の試薬パッド２２が変質しており品質が低下していること、この試験片２を用いて試料の分析を行った場合に各特定成分における測定値に誤差が生じ、分析結果の信頼性が低くなる虞があること等の内容を含んだ情報をユーザーに報知する。なお、報知部３８は、試験片収容期間ΔＰｏｃが許容曝露期間ΔＰｏｃａ以内である場合、試験片２の品質が低下していないことを積極的に報知しても良いが、このように試験片２が正常な状態である場合にはユーザーへの報知、警告自体を行わず、試験片２が劣化している可能性が高いときにだけ報知を行うようにしても良い。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。

以上のように、本実施例における分析装置１によれば、その起動時に試験片２が試験片収容部１２１内に残留している場合、試験片収容期間ΔＰｏｃに応じて試験片２の劣化状況を判別し、その判別結果がユーザーに報知される。よって、分析処理に使用される試験片２の劣化状況をユーザーに適切に認識させることができる。また、本実施例において、試験片品質確認制御の実行結果は、ハードディスクドライブ１９に記憶しておくことができる。これにより、分析装置１による試料の分析処理の結果と、分析処理に供された試験片２の劣化状況とを、いつでも照合することが可能である。本実施例においては残留状態判定部３５、期間算出部３６、判別部３７が本発明における劣化判別手段を構成する。また、報知器３９とこの報知器３９を制御する報知部３８が本発明における報知手段に対応している。

また、これまでの、或いは後述する分析装置１の実施形態に関する説明は、該分析装置１の試験片収容部１２１における試験片２の品質を確認するための品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラムの各実施例としての説明を兼ねる。また、分析装置１のコンピュータに図６に示した各処理フローを実行させる品質確認プログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録する事ができる。そして、コンピュータに、この記録媒体の品質確認プログラムを読み込ませて実行させることにより、その機能を提供させることができる。ここで、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、データやプログラム等の情報を電気的、磁気的、光学的、機械的、または化学的作用によって蓄積し、コンピュータから読み取ることができる記録媒体をいう。このような記録媒体のうちコンピュータから取り外し可能なものとしては、例えばフレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ／Ｗ、ＤＶＤ、ＤＡＴ、８ｍｍテープ、メモリカード等がある。また、コンピュータに固定された記録媒体としてハードディスクやＲＯＭ等がある。

＜実施例２＞
次に、本実施の形態における第２の実施例について説明する。実施例２に係る分析装置１のハード構成は実施例１と同様である。本実施例では、試験片品質確認制御の内容が実施例１と相違するため、その相違点を中心に説明する。本実施例で説明する試験片品質確認制御において、期間算出部３６は、試験片収容部１２１に収容されている試験片２の収容期間を２種類の異なる期間として算出する。

具体的には、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１は、残留状態判定部３５による試験片収容部１２１が空になったとの判定（以下、この判定を「試験片切れ判定」という）が直近になされた時期（以下、「直近試験片切れ日時」という）から直近起動日時までの経過期間である。第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２は、実施例１で説明した試験片収容期間であり、直近稼動停止日時から直近起動日時に至るまでの経過期間である。ここで、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１は、上記の通り直近試験片切れ日時から直近起動日時に至るまでの期間であるところ、本実施例では、その期間の途中には第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２の始期に相当する直近稼動停止日時が存在する場合を例として説明する。また、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２の終期は共に直近起動日時であり共通する。すなわち、本実施例では、第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２が、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１に包含され、該第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１よりも短い期間となる場合について説明するが、この態様に限定されるものではない。

期間算出部３６は、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２をそれぞれ算出する。そして、判別部３７は、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２の少なくとも一方に基づいて、試験片２の劣化状況を判別する。以下、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２の双方に基づいて試験片２の劣化状況を判別する制御例について説明する。

図７は、分析装置１のコンピュータにより実行される第２の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンは、例えば分析装置１の起動をトリガとしてメモリ１６に格納されている品質確認プログラムがＣＰＵ１５によって実行される結果、図７に示す各処理が実現されるようになっている。なお、図６と同様の処理が行われるステップについては共通の符号を付すことで詳しい説明を省略する。

ステップＳ２０１（期間算出ステップ）では、期間算出部３６が第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２をそれぞれ算出する。それぞれの算出方法については既述の通りである。本ステップの処理が終了すると、ステップＳ２０２の処理が実行される。

ステップＳ２０２とステップＳ２０３は、判別部３７が実行する判別ステップである。この判別ステップでは、判別部３７が、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２のそれぞれと既述した許容曝露期間ΔＰｏｃａとを対比し、それぞれの収容期間が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えているかどうかを判定する。そして、判別部３７は双方の判定結果に基づいて、試験片２の劣化状況を判別する。本実施例において、第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２は、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１に包含される期間であり、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１よりも短い。従って、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１が許容曝露期間ΔＰｏｃａ以内であれば、第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２も許容曝露期間ΔＰｏｃａ以内に収まることになる。

そこで、ステップＳ２０２においては、判別部３７が、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えているか否かを判定する。そして、判別部３７は、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えていると判定した場合にはステップＳ２０３の処理を実行する。一方、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１が許容曝露期間ΔＰｏｃａ以内であると判定した場合、判別部３７は、試験片２が正常であると判別する。この場合、そのまま本ルーチンを終了し、実施例１において説明した分析用プログラムが実行されることで試料が分析処理に供される。なお、本ステップで試験片２が正常であると判別された場合、報知部３８は報知器３９を作動させて、試験片２が正常である旨をユーザーに報知しても良い。

次いで、ステップＳ２０３において、判別部３７は、第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えているか否かを判定する。まず、第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２が許容曝露期間ΔＰｏｃａ以内であると判定された場合について説明する。この場合、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２のうち、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１のみが許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えていることを意味する。この場合、判別部３７は試験片２が第１劣化状態であると判別し、ステップＳ２０４の処理を実行する。なお、この第１劣化状態については後述する。

一方、ステップＳ２０３において、第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えていると判定された場合、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えていることを意味する。この場合、判別部３７は、試験片２が第２劣化状態であると判別し、ステップＳ２０５の処理を実行する。

第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２は、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１に包含される期間であり、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１よりも短い。そこで、本実施例においては、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２の双方が（第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１のみならず第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２も）許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えた場合に判別される第２劣化状態は、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１のみが許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えた場合に判別される第１劣化状態に比べて、相対的に試験片２の劣化度合いが大きいものと判断する。例えば、第２劣化状態は、試験片２を試料の分析処理に用いた場合に許容できない分析誤差が生じる可能性があると判断される程度の試験片２の劣化状態と捉えることができる。また、第１劣化状態は、この第２劣化状態までは至らない劣化状態として捉えることができる。

ここで、ステップＳ２０３において判別部３７が試験片２を第１劣化状態であると判別した場合、続くステップＳ２０４においては報知部３８が報知器３９を作動させ、試験片２が第１劣化状態である旨をユーザーに報知する。例えば報知部３８は、報知器３９に『分析装置の起動時に試験片収容部に試験片が残留していました』等のメッセージを音声、文字等により出力させ、試験片２の残留エラーをユーザーに報知、警告する。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述した分析用プログラムが実行される。

また、ステップＳ２０３において判別部３７が試験片２を第２劣化状態であると判別した場合、続くステップＳ２０５において報知部３８は報知器３９を作動させ、試験片２が第２劣化状態である旨をユーザーに報知する。例えば報知部３８は、報知器３９に『試験片が劣化している可能性があります』、『ボトルユニットに保管されている試験片と交換して下さい』、『この試験片を使用すると測定誤差が生じるおそれがあります』等のメッセージを音声、文字等により出力させ、試験片２の劣化エラーをユーザーに報知、警告する。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述した分析用プログラムが実行される。

以上に説明した試験片品質確認制御によれば、分析装置１の起動時に試験片２が試験片収容部１２１内に残留している場合、試験片２の劣化状況をユーザーに報知することができる。その際、試験片２の劣化度合いに応じて、報知内容（例えば、メッセージ内容）を変更する事ができるので、ユーザーに試験片２の劣化状況をより詳細に認識させることができる。

もっとも、本実施例では、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２の双方に基づいて試験片２の劣化状況を判別しているが、何れか一方の収容期間に基づいて試験片２の劣化状況を判別しても構わない。ちなみに、第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２のみに基づいて劣化状況を判別する例は、実施例１において説明した。そして、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１のみに基づいて劣化状況を判別する場合には、例えば第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えたと判定されたときに、報知部３８が試験片２の残留警告を行うようにしても良い。また、この実施例では、第１の試験片収容期間ΔＰｏｃ１及び第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２を、共通する許容曝露期間ΔＰｏｃａと対比しているが、それぞれ異なる長さの期間として設定される許容曝露期間との対比結果に基づいて試験片２の劣化状況を判別することも可能である。

＜実施例３＞
次に、本実施の形態における第３の実施例について説明する。図８は、実施例３における試験片収容部１２１の概略構成図である。図８に示すように、試験片収容部１２１には、開閉蓋１２１１の開閉状態を検知する開閉検知センサ１２１２が設けられている。この開閉検知センサ１２１２は、例えば開閉蓋１２１１側と試験片収容部１２１側の何れか一方に取り付けられたマグネットと、他方に設置されたリードスイッチと、を含んで構成されている。リードスイッチはいわゆる磁気センサである。開閉蓋１２１１の開閉動作に伴い、リードスイッチに対してマグネットが離間、又は接近することにより、リードスイッチのオン、オフの切り替え動作が行われる。本実施例においては開閉検知センサ１２１２が本発明における開閉状態検知手段に対応する。本実施例の分析装置１では、ユーザーが電源スイッチをオフにした場合においても、図示しないバッテリに蓄えられている電力によって開閉検知センサ１２１２への電力供給を継続して行うことが可能である。その他の構成については、実施例１において説明した分析装置１と同等である。

本実施例における試験片品質確認制御では、試験片収容部１２１に収容されている試験片２の収容期間（すなわち、試験片収容期間ΔＰｏｃ）の他、収容期間における開閉蓋１２１１の開閉状態に基づく試験片２の収容状況を判断基準に用いて、該試験片２の劣化状況を判別する。開閉蓋１２１１が開放されていると、閉鎖されている場合に比して、試験片収容部１２１の収容空間Ｓ１における気密性が低下する。従って、試験片収容期間ΔＰｏｃにおいて開閉蓋１２１１が開放されていた場合、該開閉蓋１２１１が閉鎖、遮蔽されていた場合に比べて、試験片２はより劣化し易く、その劣化度合いも大きいものとなることが想定される。そこで、この実施例では、判別部３７が試験片２の劣化状況を判別する際、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける開閉蓋１２１１の開閉状態に基づいて試験片２の劣化度合いについて重み付けを行う。

図９は、分析装置１のコンピュータにより実行される第３の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンも、分析装置１の起動時に、メモリ１６に格納されている品質確認プログラムがＣＰＵ１５によって実行されることで実現される。本フローチャート図において、図６と同様の処理が行われるステップについては共通の符号を付すことで詳しい説明を省略する。

ステップＳ１０３の処理が終了すると、ステップＳ３０１の処理が実行される。ステップＳ３０１では、判別部３７が開閉検知センサ１２１２の出力信号に基づいて開閉蓋１２１１の開閉状態を取得し、開閉蓋１２１１が開放状態であるか否かを判定する。本ステップにおいて開閉蓋１２１１が開放状態であると判定された場合にはステップＳ３０２に進み、そうでない場合には、ステップＳ３０３に進む。

ステップＳ３０２において、判別部３７は、試験片収容期間ΔＰｏｃが開放時許容曝露期間ΔＰｏｃａ１を超えているか否かを判定する。試験片収容期間ΔＰｏｃが開放時許容曝露期間ΔＰｏｃａ１を超えていると判定された場合、ステップＳ３０４に進み、図６のステップＳ１０５と同様、報知部３８が報知器３９を制御することにより、試験片２が劣化していることをユーザーに報知する。一方、試験片収容期間ΔＰｏｃが開放時許容曝露期間ΔＰｏｃａ１以内である場合、本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、分析用プログラムの実行に移行する。

一方、ステップＳ３０３では、判別部３７は、試験片収容期間ΔＰｏｃが閉鎖時許容曝露期間ΔＰｏｃａ２を超えているか否かを判定する。試験片収容期間ΔＰｏｃが閉鎖時許容曝露期間ΔＰｏｃａ２を超えていると判定された場合、ステップＳ３０４に進み、そうでない場合には本ルーチンを一旦終了し、分析用プログラムが実行される。

ここで、開放時許容曝露期間ΔＰｏｃａ１及び閉鎖時許容曝露期間ΔＰｏｃａ２は共に、許容曝露期間ΔＰｏｃａと同様、試験片２に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔＰｏｃに対して設定される判定基準値である。開放時許容曝露期間ΔＰｏｃａ１は閉鎖時許容曝露期間ΔＰｏｃａ２に比べて、相対的に短い期間に設定されている。従って、ステップＳ３０２においては、ステップＳ３０３に比べて肯定判定され易くなる。これは、試験片２の劣化状況の判別に際して、試験片２の劣化度合いについて開閉蓋１２１１の開閉状態に基づいて重み付けを行っていることに他ならない。そして、本制御においては、分析装置１の起動時（つまり、直近起動日時）において開閉蓋１２１１が開放されていた場合には、閉鎖されていた場合に比べて劣化度合いがより大きくなるように試験片２の劣化状況を判別するようにした。これにより、試験片収容部１２１の密閉度に応じて、より精度良く試験片２の劣化度合いを把握することが可能となる。

なお、ステップＳ３０４の処理が行われ、或いはステップＳ３０２やＳ３０４において否定判定がなされたことで本ルーチンを抜ける際に、分析装置１の起動時に開閉蓋１２１１が開いていた事実をユーザーに報知するようにしても良い。例えば、報知部３８は、報知器３９に『起動時に開閉蓋が開いていました』等のメッセージを音声、文字等により出力させても良い。

（変形例１）
次に、本実施例における第１の変形例について説明する。図１０は、分析装置１のコンピュータにより実行される第４の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。ここでは、図９と相違するステップの処理内容を中心に説明する。この変形例では、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける開閉蓋１２１１の開閉状態を考慮して試験片２の劣化状況を判別する点で上記した実施例３に係る制御と同様であるが、更には開閉蓋１２１１が開放されている期間も考慮して試験片２の劣化状況を判別する。

本ルーチンにおいて、ステップＳ１０３の処理が終了すると、ステップＳ４０１の処理が実行される。ステップＳ４０１では、判別部３７は、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける開閉蓋１２１１の開閉状態の履歴（以下、「開閉履歴」と称する）を取得する。なお、本変形例では、開閉検知センサ１２１２が一定時間ごとに検知した開閉蓋１２１１の開閉状態は、ハードディスクドライブ１９又はメモリ１６に逐次、記録されるようにしている。判別部３７は、このように記録されているデータを読み出す事で、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける開閉蓋１２１１の開閉履歴を取得、入手する事ができる。

ここで、試験片収容期間ΔＰｏｃ全体のうち、開閉蓋１２１１が開放状態にあるトータル期間（以下、「トータル開放収容期間」と称する）の割合を開放収容比率Ｒｔｏと定義する。ステップＳ４０２では、判別部３７は、試験片収容期間ΔＰｏｃと、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける開閉蓋１２１１の開閉履歴に基づいて、開放収容比率Ｒｔｏを算出する。

ステップＳ４０３では、判別部３７は、開放収容比率Ｒｔｏに基づいて可変許容曝露期間ΔＰｏｃａ３を設定する。可変許容曝露期間ΔＰｏｃａ３は、許容曝露期間ΔＰｏｃａと同様、試験片２に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔＰｏｃに対して設定される判定基準値である。可変許容曝露期間ΔＰｏｃａ３は開放収容比率Ｒｔｏに応じて可変設定される。例えば、開放収容比率Ｒｔｏが高いほど可変許容曝露期間ΔＰｏｃａ３が短い期間として設定される。これは、開放収容比率Ｒｔｏが高いほど試験片２の劣化度合いが大きくなるからである。

ステップＳ４０４では、判別部３７によって、試験片収容期間ΔＰｏｃが可変許容曝露期間ΔＰｏｃａ３を超えているか否かが判定される。ここで、試験片収容期間ΔＰｏｃが可変許容曝露期間ΔＰｏｃａ３を超えていると判定された場合、ステップＳ４０５に進む。一方、ステップＳ４０４において、試験片収容期間ΔＰｏｃが可変許容曝露期間ΔＰｏｃａ３以内であると判定された場合には本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。ステップＳ４０５においては、報知部３８によって報知器３９が制御され、試験片２が劣化していることがユーザーに報知される。その後、本ルーチンを一旦終了し、同じく分析用プログラムが実行される。

以上のように本変形例に係る制御によれば、試験片収容期間ΔＰｏｃにおいて開閉蓋１２１１が開放状態にあたる期間の長さを判断基準として、試験片２の劣化状況を判別することができる。なお、開放収容比率Ｒｔｏに代えて、トータル開放収容期間の長さに応じて試験片２の劣化状況を判別しても良い。また、上記の例では、試験片収容期間ΔＰｏｃ及び開閉蓋１２１１の開閉状態の２つのファクターに基づいて試験片２の劣化状況を判別しているが、分析装置１の起動時に試験片収容部１２１における試験片２の残留が検出された場合、開閉蓋１２１１の開閉状態のみに基づいて試験片２が劣化しているか否かの判別を行っても構わない。例えば、分析装置１の起動時に試験片２が試験片収容部１２１に残留していることを検出した場合、判別部３７は試験片収容期間ΔＰｏｃの長短に関わらず、開放収容比率Ｒｔｏが規定比率を超えた場合に試験片２が劣化していると判別しても良く、更に、報知部３８がその旨をユーザーに報知しても良い。その際、開放収容比率Ｒｔｏが高い場合ほど、試験片２の劣化度合いが高いと判別されても良い。

（変形例２）
次に、第２の変形例について説明する。ここで実施例１に説明した試験片収容期間ΔＰｏｃ（実施例２においては第２の試験片収容期間ΔＰｏｃ２に対応する）は、直近稼動停止日時〜直近起動日時に至るまでの経過期間として定義されている。直近稼動停止日時において試験片２が試験片収容部１２１内に残留していた場合、ユーザーがその試験片２をボトルユニット４に移し換えるのであれば、試験片２を試験片収容部１２１から取り出すために試験片収容期間ΔＰｏｃに一度は開閉蓋１２１１が開放されることが想定される。

そして、直近起動日時に試験片２が試験片収容部１２１に残留している場合、次の二つのパターンが想定できる。すなわち、第一のパターンは、直近稼動停止日時において余っていた試験片２が、次回の起動時まで試験片収容部１２１にそのままの状態で放置されるパターンである。第二のパターンは、直近稼動停止日時において余った試験片２が試験片収容期間ΔＰｏｃの何れかのタイミングで回収され、それと同時又はその後にボトルユニット４に保管されていた新たな試験片が試験片収容部１２１に投入された場合である。第二のパターンでは、分析装置１試験片２の直近稼動停止日時〜直近起動日時までの経過期間が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えたとしても、試験片２の実際の収容期間が許容曝露期間ΔＰｏｃａを超えていない可能性もある。

そこで、本変形例では、直近起動日時に試験片収容部１２１における試験片２の残留が検出された場合、図１０のステップＳ１０３、Ｓ４０１と同様の処理を行う事で、判別部３７は、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける開閉蓋１２１１の開閉履歴を取得する。そして、判別部３７は、この開閉蓋１２１１の開閉履歴に基づいて、上述した第一パターンと第二パターンとの区別を行い、試験片２の劣化状況を判別するようにした。具体的には、試験片収容期間ΔＰｏｃのうち、開閉蓋１２１１が一旦開放されてから、再び閉鎖されるまでの期間（以下、「個別開放収容期間」と称す）ΔＩｖが算出される。ここで、試験片収容期間ΔＰｏｃにおいて個別開放収容期間ΔＩｖが存在しない場合に第一パターンであると判断し、個別開放収容期間ΔＩｖが存在する場合に第二パターンであると判断しても良い。そして、本変形例では、第二パターンである場合には、第一パターンである場合に比べて、試験片２の劣化度合いが小さくなるように重み付けを行い、該試験片２の劣化状況を判別しても良い。例えば、第一パターンの場合には図９のステップＳ３０２の処理を行い、第二パターンの場合には図９のステップＳ３０３の処理を行っても良い。

また、更なる変形例としては、試験片収容期間ΔＰｏｃに個別開放収容期間ΔＩｖが存在する場合、その個別開放収容期間ΔＩｖが所定の閾値ΔＩｖｓ以下であるかどうかを判定しても良い。ここで、分析装置１の稼動が停止された時点で余った試験片２をユーザーが試験片収容部１２１から回収し、新たな試験片を投入するのに要する時間（すなわち試験片の入れ替えに要する時間）として見なす事のできる最長の期間として閾値ΔＩｖｓを設定しておく。そして、個別開放収容期間ΔＩｖが閾値ΔＩｖｓ以内である場合にのみ第二パターンであると判断しても良い。因みに、個別開放収容期間ΔＩｖが閾値ΔＩｖｓを超える場合には、試験片２の入れ替えが行われたという確度が低いため、試験片２の劣化度合いに関する重み付けを禁止しても良く、或いは、上記した第一パターンと同様に取り扱うようにしても良い。

＜実施例４＞
次に、本実施の形態における第４の実施例について説明する。図１１は、実施例４における試験片収容部１２１の概略構成図である。試験片収容部１２１には、その収容空間Ｓ１の湿度および温度（以下、これらをあわせて「温湿度」と総称する）を測定する温湿度検出センサ１２１３が設置されている。温湿度検出センサ１２１３は温度センサ１２１３Ａ、湿度センサ１２１３Ｂを有する。温度センサ１２１３Ａは、例えば白金測温抵抗体によって構成することができる。この白金測温抵抗体は周知のため詳しい説明を省略するが、金属の電気抵抗が温度変化に対して変化する性質を利用した測温抵抗体の１種であり、温度特性が良好で経時変化が少ない白金（Ｐｔ）を測温素子に用いたセンサである。但し、温度センサ１２１３Ａはこれに限定されるものではなく、例えば熱電対式やその他の方式を採用した温度センサであっても良い。また、湿度センサ１２１３Ｂとしては、例えば静電容量式のものを利用しても良い。本実施例においては温湿度検出センサ１２１３が、本発明における曝露環境検出手段に対応する。なお、この実施例では、ユーザーが電源スイッチをオフにした後においても、図示しないバッテリに蓄えられている電力によって温湿度検出センサ１２１３への電力供給を継続して行うことができる。そして、この電力供給を受けて、温湿度検出センサ１２１３は試験片収容期間ΔＰｏｃにおいても一定時間ごとに収容空間Ｓ１の温湿度の測定を行う。その他のハード構成については、実施例１において説明した分析装置と同様である。

ここで、試験片収容期間ΔＰｏｃに試験片収容部１２１内の試験片２が晒される曝露環境は、試験片２の劣化度合いに影響を及ぼす。そこで、本実施例では、温湿度検出センサ１２１３による検出結果に応じて許容曝露期間を可変設定する。なお、温湿度検出センサ１２１３の測定結果は、温度履歴データ及び湿度履歴データとしてハードディスクドライブ１９に逐次、記憶されるようになっている。

図６に示した制御フローを参照して説明すると、同図のステップＳ１０３において、試験片収容期間ΔＰｏｃが算出されることに加え、上記の各履歴データに基づいて許容曝露期間ΔＰｏｃａが設定される。すなわち、判別部３７は、ハードディスクドライブ１９から直近稼動停止日時〜直近起動日時（試験片収容期間ΔＰｏｃ）に対応する温度履歴データ及び湿度履歴データを読み出し、当該期間における試験片収容部１２１の平均温度、平均湿度を算出する。

試験片２は高温、多湿な環境下に晒されるほどその劣化度合いが顕著となる。そこで、試験片収容部１２１の湿度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける平均温度が高いほど許容曝露期間ΔＰｏｃａがより短い期間として設定される。また、試験片収容部１２１の温度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける平均湿度が高いほど許容曝露期間ΔＰｏｃａの設定値がより短い期間として設定される。このようにすれば、試験片２の晒される曝露環境の差異に応じて試験片２の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。

なお、本実施例における分析装置１は、温度センサ１２１３Ａ及び湿度センサ１２１３Ｂを備えているが、温度センサ１２１３Ａ及び湿度センサ１２１３Ｂの何れか一方のみを備えるようにしても良い。例えば、温度センサ１２１３Ａのみを備える場合、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける試験片収容部１２１の平均温度が高いほど許容曝露期間ΔＰｏｃａをより短い期間として設定しても良い。また、分析装置１が湿度センサ１２１３Ｂのみを備える場合、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける試験片収容部１２１の平均湿度が高いほど、許容曝露期間ΔＰｏｃａをより短い期間として設定しても良い。

また、試験片収容期間ΔＰｏｃに試験片２が晒される曝露環境に応じて許容曝露期間ΔＰｏｃａを可変設定する代わりに、或いは併用して、判別部３７は、試験片２の劣化度合いの重み付けを、上記曝露環境に応じて実施しても良い。例えば、判別部３７は、試験片収容部１２１の湿度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける平均温度が高いほど、試験片２の劣化度合いをより高く判断しても良い。同様に、判別部３７は、試験片収容部１２１の温度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔＰｏｃにおける平均湿度が高いほど、試験片２の劣化度合いをより高く判断しても良い。これによっても、試験片２が晒される曝露環境に応じて試験片２の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。なお、本実施例では、試験片２が晒される曝露環境を反映する代表値として試験片収容部１２１の温度（湿度）の平均値を用いているが、これに限られるものではなく、例えば温度（湿度）の最大値や中央値などを採用しても良い。

以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明に係る分析装置、品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラム等はこれらに限らず、可能な限りこれらの組合せを含むことができる。また、以上述べた実施の形態は本発明を説明するための一例であって、本発明の本旨を逸脱しない範囲内において上記の実施形態には種々の変更を加え得る。

１・・・分析装置
２・・・試験片
１１・・・装置本体部
１２・・・試験片供給部
１４・・・試料点着装置
１５・・・ＣＰＵ
１６・・・メモリ
１７・・・測光装置
２１・・・基材
２２・・・試薬パッド
３１・・・試験片供給制御部
３２・・・点着装置制御部
３３・・・測光装置制御部
３４・・・測定部
３５・・・残留状態判定部
３６・・・期間算出部
３７・・・判別部
３８・・・報知部
１２１・・・試験片収容部
１２２・・・回転ドラム
１４１・・・ノズル
１２１１・・・開閉蓋
１２１２・・・開閉検知センサ
１２１３・・・温湿度検出センサ

Claims (14)

1. 分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、
   前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、
   前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、
   前記劣化判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、
   を備え、
   前記劣化判別手段は、
   前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、
   前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、
   前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、
   を有する
   分析装置。
2. 前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別する、
   請求項１に記載の分析装置。
3. 前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から装置起動時までの経過期間である第１収容期間と、直近における装置稼動停止時から装置起動時までの経過期間である第２収容期間と、をそれぞれ算出し、
   前記判別部は、前記第１収容期間と前記第２収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する、
   請求項１又は２に記載の分析装置。
4. 前記判別部は、
   前記第１収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別し、
   前記第１収容期間および前記第２収容期間のうち第１収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第１劣化状態であると判別し、
   前記第１収容期間及び前記第２収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第２劣化状態であると判別し、
   前記第２劣化状態は前記第１劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別される、
   請求項３に記載の分析装置。
5. 前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、
   前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、
   を更に備え、
   前記劣化判別手段は、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する、
   請求項１から４の何れか１項に記載の分析装置。
6. 前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の劣化状況を判別する際、前記収容期間における前記開閉蓋の開閉状態に基づいて該分析用試験片の劣化度合いについて重み付けを行う、
   請求項５に記載の分析装置。
7. 前記試験片収容部における湿度及び温度の少なくとも一方を測定する曝露環境測定手段を更に備え、
   前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別し、
   前記許容曝露期間は、前記曝露環境測定手段による測定結果に応じて可変設定される、
   請求項１から６の何れか１項に記載の分析装置。
8. 分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であって、
   前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、
   前記劣化判別手段が判別した分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、
   を備え、
   前記劣化判別手段は、
   前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、
   前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、
   前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、
   を有する
   品質確認装置。
9. 前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別する、
   請求項８に記載の品質確認装置。
10. 前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から分析装置起動時までの経過期間である第１収容期間と、直近における分析装置稼動停止時から分析装置起動時までの経過期間である第２収容期間と、をそれぞれ算出し、
    前記判別部は、前記第１収容期間と前記第２収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する、
    請求項８又は９に記載の品質確認装置。
11. 前記判別部は、
    前記第１収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別し、
    前記第１収容期間及び前記第２収容期間のうち第１収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第１劣化状態であると判別し、
    前記第１収容期間及び前記第２収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第２劣化状態であると判別し、
    前記第２劣化状態は前記第１劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別される、
    請求項１０に記載の品質確認装置。
12. 分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認方法であって、
    前記分析装置のコンピュータが、
    前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定ステップと、
    前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、
    前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、
    前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、
    を実行する品質確認方法。
13. 分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムであって、
    前記分析装置のコンピュータに、
    前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定ステップと、
    前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、
    前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、
    前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、
    を実行させる品質確認プログラム。
14. 分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、
    前記分析装置のコンピュータに、
    前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定
    ステップと、
    前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、
    前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、
    前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、
    を実行させる品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。

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