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JP5757285B2 - 位置検出装置 - Google Patents

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JP5757285B2 JP2012286098A JP2012286098A JP5757285B2 JP 5757285 B2 JP5757285 B2 JP 5757285B2 JP 2012286098 A JP2012286098 A JP 2012286098A JP 2012286098 A JP2012286098 A JP 2012286098A JP 5757285 B2 JP5757285 B2 JP 5757285B2
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Description

本発明は、検出対象の位置を検出する位置検出装置に関する。
従来、磁石等の磁束発生手段を用い、基準部材に対し相対移動する検出対象の位置を検出する位置検出装置が知られている。例えば特許文献1に記載された位置検出装置では、2つの磁石および2つの磁束伝達部が基準部材に設けられている。ここで、2つの磁石は、磁極が2つの磁束伝達部の両端部に挟まれている。2つの磁束伝達部間に形成された隙間には、一方の磁束伝達部から他方の磁束伝達部に向かって漏洩磁束が流れている。磁束密度検出手段は、2つの磁束伝達部間の隙間を検出対象とともに移動し、通過する磁束の密度に応じた信号を出力する。これにより、位置検出装置は、磁束密度検出手段から出力される信号に基づき、基準部材に対する検出対象の位置を検出する。
特開平8−292004号公報
特許文献1の位置検出装置では、体格および種類等が同じ2つの磁石を、磁極の向きが逆になるようにして2つの磁束伝達部の両端部に設けている。そのため、2つの磁束伝達部間の隙間の中心において、磁束の向きが反転する。つまり、2つの磁束伝達部間の隙間の中心、すなわち、検出対象および磁束密度検出手段の可動範囲の中心に、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」が設定されている。
一般に、磁束密度検出手段の移動範囲内で「磁束密度の絶対値が最小となる位置」では、磁束発生手段の温度係数による磁力変化が生じにくいため、温度に対する耐性が良好である。そのため、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」では、それ以外の位置と比べ、検出対象の位置の検出精度が高くなる。これにより、特許文献1の位置検出装置では、2つの磁束伝達部間の隙間の中心の位置で位置検出精度が高くなり、隙間の端部近傍等、隙間の中心以外の位置では位置検出精度が低くなる。したがって、「温度にかかわらず位置検出精度の高い位置」が、検出対象の可動範囲の中心に固定されるといった問題が生じる。よって、例えば検出対象の可動範囲の端部近傍において最も高い位置検出精度を必要とする検出対象に対しては、特許文献1の位置検出装置は不適となるおそれがある。
本発明は、上述の問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、温度にかかわらず検出対象の移動範囲内の任意の位置における位置検出精度が高い位置検出装置を提供することにある。
本発明は、基準部材に対し相対移動する検出対象の位置を検出する位置検出装置であって、第1発明および発明を含む。第1発明および発明は、第1磁束伝達部と第2磁束伝達部と第1磁束発生手段と第2磁束発生手段と磁束密度検出手段とを備えている
第1磁束伝達部は、検出対象または基準部材の一方に設けられる。第2磁束伝達部は、第1磁束伝達部との間に隙間を形成するよう検出対象または基準部材の一方に設けられる。
第1磁束発生手段は、第1磁束伝達部の一端と第2磁束伝達部の一端との間に設けられる。これにより、第1磁束発生手段から発生した磁束は、第1磁束伝達部または第2磁束伝達部の一端から第1磁束伝達部または第2磁束伝達部の他端へ伝達される。
第2磁束発生手段は、第1磁束伝達部の他端と第2磁束伝達部の他端との間に設けられる。これにより、第2磁束発生手段から発生した磁束は、第1磁束伝達部または第2磁束伝達部の他端から第1磁束伝達部または第2磁束伝達部の一端へ伝達される
磁束密度検出手段は、第1磁束伝達部と第2磁束伝達部との間の隙間において検出対象または基準部材の一方に対し相対移動可能なよう検出対象または基準部材の他方に設けられる。磁束密度検出手段は、通過する磁束の密度に応じた信号を出力する。ここで、磁束密度検出手段を主に通過する磁束は、第1磁束伝達部と第2磁束伝達部との間の隙間を、第1磁束伝達部から第2磁束伝達部へ、または、第2磁束伝達部から第1磁束伝達部へ流れる漏洩磁束である。
上記構成により、位置検出装置は、磁束密度検出手段が出力した信号に基づき、基準部材に対する検出対象の位置を検出することができる
発明では、第1磁束発生手段は、1つ以上の永久磁石を有する。また、第発明では、第2磁束発生手段は、第1磁束発生手段の永久磁石と体格、種類、材料組成および着磁調整の仕方が同じ永久磁石を、第1磁束発生手段の永久磁石とは異なる個数有する
発明では、第1磁束伝達部および第2磁束伝達部のうち少なくとも一方は、第1磁束発生手段から第2磁束発生手段に向かうに従い、第1磁束伝達部と第2磁束伝達部とが対向する方向の幅が変化するよう形成されている。
第1発明および第発明では、第1磁束伝達部と第2磁束伝達部との間の隙間の磁束密度検出手段の相対移動方向において磁束密度の絶対値が最小となる位置は、前記隙間の前記相対移動方向の中心から前記相対移動方向第1磁束発生手段側または第2磁束発生手段側へ所定量ずれた位置に設定されている。つまり、本発明では、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、検出対象の可動範囲の中心以外の任意の位置に設定可能である。そのため、可動範囲の中心以外の任意の位置で最も高い位置検出精度を必要とする検出対象に本発明の位置検出装置を適用した場合、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、「最も高い位置検出精度を必要とする位置」に合わせることができる。
一般に、磁束密度検出手段の移動範囲内で「磁束密度の絶対値が最小となる位置」では、磁束発生手段の温度係数による磁力変化が生じにくいため、温度に対する耐性が良好である。したがって、本発明では、温度にかかわらず検出対象の移動範囲内の任意の位置における位置検出精度を高くすることができる。
本発明の第1実施形態による位置検出装置およびアクチュエータを示す模式的断面図。 図1のII−II線断面図。 本発明の第1実施形態および比較例の磁束密度検出手段により検出される磁束密度と基準部材に対する検出対象の位置との関係を示す図。 比較例による位置検出装置を示す模式的断面図。 本発明の第2実施形態による位置検出装置を示す模式的断面図。 本発明の第3実施形態による位置検出装置を示す模式的断面図。 本発明の第3実施形態の磁束密度検出手段により検出される磁束密度と基準部材に対する検出対象の位置との関係を示す図。 本発明の第4実施形態による位置検出装置を示す模式的断面図。 本発明の第5実施形態による位置検出装置を示す模式的断面図。
以下、本発明の複数の実施形態による位置検出装置、および、これを用いたアクチュエータを図面に基づき説明する。なお、複数の実施形態において実質的に同一の構成部位には同一の符号を付し、説明を省略する。また、第1、第3実施形態は、参考形態に相当する。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態による位置検出装置、および、これを用いたアクチュエータを図1、2に示す。
アクチュエータ1は、例えば図示しない車両のスロットルバルブを駆動する駆動源として用いられる。アクチュエータ1は、モータ2、ハウジング5、カバー6、電子制御ユニット(以下、「ECU」という)11、回転体12および位置検出装置10等を備えている。
図1に示すように、モータ2は、出力軸3およびモータ端子4等を有している。モータ2には、モータ端子4を経由して電力が供給される。これによりモータ2が回転駆動する。モータ2の回転は、出力軸3から出力される。出力軸3は、例えば図示しないギア等を経由してスロットルバルブに接続される。そのため、モータ2が回転駆動することにより、スロットルバルブが回転する。
ハウジング5は、例えば樹脂により有底筒状に形成され、内側にモータ2を収容している。
カバー6は、例えば樹脂により有底筒状に形成され、底部に形成された穴部7に出力軸3が挿通した状態で、開口部がハウジング5の開口部に当接するよう設けられている。これにより、カバー6とモータ2との間に空間100が形成されている。
カバー6は、筒部から径方向外側へ筒状に延びるコネクタ8を有している。コネクタ8の内側には、モータ端子4の端部が露出している。コネクタ8には、ECU11に接続するワイヤーハーネスの端部が接続される。これにより、図示しないバッテリからの電力がECU11、ワイヤーハーネスおよびモータ端子4を経由してモータ2に供給される。
ECU11は、例えば演算手段としてのCPU、記憶手段としてのROMおよびRAM、ならびに、入出力手段等を備えた小型のコンピュータである。ECU11は、車両の各部に取り付けられたセンサからの信号等に基づき、車両に搭載された各種装置類の作動を制御する。
ECU11は、例えばアクセルペダルの開度信号等に基づき、モータ2に供給する電力を制御する。モータ2に電力が供給されると、モータ2が回転し、スロットルバルブが回転する。これにより、スロットルバルブが吸気通路を開閉し、吸気通路を流れる吸気の量が調整される。なお、本実施形態では、ECU11は、例えばISC(アイドルスピードコントロール)機能により、アクセルペダルの開度信号にかかわらず、モータ2への電力の供給を制御する場合がある。
回転体12は、例えば樹脂により円板状に形成され、空間100に設けられている。回転体12は、中心を出力軸3が貫いた状態で出力軸3に固定されている。これにより、出力軸3が回転すると、回転体12は出力軸3とともに回転する。出力軸3とスロットルバルブとは例えばギア等により接続されているため、回転体12の回転位置は、スロットルバルブの回転位置に対応している。
本実施形態では、位置検出装置10は、カバー6に対し相対回転移動する回転体12の回転位置を検出する。そのため、位置検出装置10により、カバー6に対し相対回転移動する回転体12の回転位置を検出すれば、スロットルバルブの回転位置を検出でき、スロットルバルブの開度を検出することができる。よって、位置検出装置10をスロットルポジションセンサとして用いることができる。
図1、2に示すように、位置検出装置10は、第1磁束伝達部20、第2磁束伝達部30、第1磁束発生手段としての磁石45、第2磁束発生手段としての磁石50、磁束密度検出手段としてのホールIC60、漏洩磁束をより集中してホールIC60へ流す第1集磁部70、および、第2集磁部80等を備えている。
第1磁束伝達部20は、例えばケイ素鋼等、透磁率が比較的高い材料により形成されている。第1磁束伝達部20は、回転体12に形成された円弧状の穴部13に設けられている。第1磁束伝達部20は、本体21、一端部22および他端部23を有している。本体21は、長手方向が、回転体12の回転中心Oを中心とする第1仮想円弧C1に沿う形状に形成されている(図2参照)。一端部22は、本体21の一端から第1仮想円弧C1の径方向外側へ延びるよう形成されている。他端部23は、本体21の他端から第1仮想円弧C1の径方向外側へ延びるよう形成されている。
第2磁束伝達部30は、第1磁束伝達部20と同様、例えばケイ素鋼等、透磁率が比較的高い材料により形成されている。第2磁束伝達部30は、回転体12に形成された穴部13に設けられている。第2磁束伝達部30は、本体31、一端部32および他端部33を有している。本体31は、長手方向が、回転体12の回転中心Oを中心とし第1仮想円弧C1より半径が大きい第2仮想円弧C2に沿う形状に形成されている(図2参照)。一端部32は、本体31の一端から第2仮想円弧C2の径方向内側へ延びるよう形成されている。他端部33は、本体31の他端から第2仮想円弧C2の径方向内側へ延びるよう形成されている。
図1、2に示すように、第1磁束伝達部20および第2磁束伝達部30は、本体21と本体31とが第1仮想円弧C1の径方向で対向するよう回転体12の穴部13に設けられている。これにより、第1磁束伝達部20の本体21と第2磁束伝達部30の本体31との間に円弧状の隙間101が形成されている(図2参照)。
磁石45は、例えばネオジム磁石またはフェライト磁石等の永久磁石である。磁石45は、一端に磁極46を有し、他端に磁極47を有している。磁石45は、磁極46側がN極となるよう、磁極47側がS極となるよう着磁されている。磁石45は、磁極46が第1磁束伝達部20の一端部22に当接するよう、磁極47が第2磁束伝達部30の一端部32に当接するよう、一端部22と一端部32との間に設けられている。これにより、磁石45の磁極46から発生した磁束は、第1磁束伝達部20の一端部22から本体21を経由して他端部23へ伝達される。
磁石50は、磁石45と同様、例えばネオジム磁石またはフェライト磁石等の永久磁石である。磁石50は、一端に磁極51を有し、他端に磁極52を有している。磁石50は、磁極51側がN極となるよう、磁極52側がS極となるよう着磁されている。磁石50は、磁極51が第2磁束伝達部30の他端部33に当接するよう、磁極52が第1磁束伝達部20の他端部23に当接するよう、他端部33と他端部23との間に設けられている。これにより、磁石50の磁極51から発生した磁束は、第2磁束伝達部30の他端部33から本体31を経由して一端部32へ伝達される。
ここで、隙間101を第1磁束伝達部20から第2磁束伝達部30へ、または、第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ漏洩磁束が流れている。
なお、本実施形態では、磁石45と磁石50とは、種類(例えばネオジム磁石、フェライト磁石等)、材料組成(例えば、ネオジム磁石の場合、ネオジム、鉄、ホウ素の割合およびジスプロシウム等の含有率。フェライト磁石の場合、バリウム、ストロンチウム等の含有率。)および着磁調整の仕方が同じ永久磁石であるものの、体格(体積)が異なる。本実施形態では、磁石45は、磁石50よりも体格が大きい。そのため、隙間101の長手方向の中心から磁石50側へ所定量ずれた位置P1(図2参照)と磁石45との間では第1磁束伝達部20から第2磁束伝達部30へ漏洩磁束が流れ、位置P1と磁石50との間では第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ漏洩磁束が流れる。ここで、隙間101の長手方向において、磁石45または磁石50に近い位置ほど、磁束密度の絶対値が大きくなる。また、位置P1では磁束密度が0になる。
また、磁石45の周囲には、磁極46から磁極47に磁束が飛ぶようにして流れている。また、磁石50の周囲には、磁極51から磁極52に磁束が飛ぶようにして流れている。
ホールIC60は、信号出力素子としてのホール素子61、封止体62、および、センサ端子63等を有している。ホール素子61は、通過する磁束の密度に応じた信号を出力する。封止体62は、例えば樹脂により矩形の板状に形成されている。センサ端子63は、一端がホール素子61に接続している。封止体62は、ホール素子61の全部、および、センサ端子63の一端側を覆っている。ここで、ホール素子61は、封止体62の中央に位置している。
ホールIC60の封止体62およびセンサ端子63の一端側は、モールド部9によりモールドされている。モールド部9は、例えば樹脂により四角柱状に形成されている。ホールIC60の封止体62は、モールド部9の一端側に位置するようモールドされている。
モールド部9は、一端が隙間101に位置するよう、かつ、他端がカバー6の底部に接続するよう、カバー6に設けられている。これにより、ホールIC60は、第1磁束伝達部20と第2磁束伝達部30との間の隙間101において、回転体12に対し相対回転移動可能である。ここで、カバー6およびモールド部9は特許請求の範囲における「基準部材」に対応し、回転体12は特許請求の範囲における「検出対象」に対応している。
ホールIC60のセンサ端子63は、他端がカバー6のコネクタ8の内側に露出するよう、カバー6にインサート成形されている。そのため、ECU11に接続するワイヤーハーネスの端部がコネクタ8に接続されると、ホールIC60のホール素子61とECU11とが接続される。これにより、ホール素子61からの信号がECU11に伝達される。
ここで、ホールIC60のホール素子61を主に通過する磁束は、第1磁束伝達部20と第2磁束伝達部30との間の隙間101を、第1磁束伝達部20から第2磁束伝達部30へ、または、第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ流れる漏洩磁束である。
上述のように、本実施形態では、隙間101の長手方向の中心から磁石50側へ所定量ずれた位置P1と磁石45との間では第1磁束伝達部20から第2磁束伝達部30へ漏洩磁束が流れ、位置P1と磁石50との間では第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ漏洩磁束が流れる。また、隙間101の長手方向において、磁石45または磁石50に近い位置ほど、磁束密度の絶対値が大きくなる。
そのため、例えば第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ漏洩磁束が流れる方向を負の向きとすると、ホールIC60の位置が隙間101の磁石50付近から磁石45付近へ相対回転移動すると、負の値から正の値へと磁束密度が単調増加するため、任意の回転位置に対して磁束密度の値が一意に決まり、それに応じてホールIC60からの出力も、回転位置に対して一意に決まる。
上記構成により、ECU11は、ホールIC60が出力した信号に基づき、カバー6に対する回転体12の回転位置を検出することができる。これにより、スロットルバルブの回転位置および開度を検出することができる。
第1集磁部70は、例えばパーマロイ合金等、透磁率が比較的高い材料により、6面体状に形成されている。第1集磁部70は、所定の面71がホールIC60の封止体62の第1磁束伝達部20側の面の中央に当接または対向した状態でモールド部9にモールドされるよう、モールド部9の一端に設けられている。第1集磁部70の面71とは反対側の面72は、第1磁束伝達部20の本体21に対向している。
第2集磁部80は、第1集磁部70と同様、例えばパーマロイ合金等、透磁率が比較的高い材料により、6面体状に形成されている。第2集磁部80は、所定の面81がホールIC60の封止体62の第2磁束伝達部30側の面の中央に当接または対向した状態でモールド部9にモールドされるよう、モールド部9の一端に設けられている。第2集磁部80の面81とは反対側の面82は、第2磁束伝達部30の本体31に対向している。
このように、第1集磁部70と第2集磁部80とは、ホールIC60を間に挟み、第1磁束伝達部20と第2磁束伝達部30とが対向する方向と同じ方向で対向するよう設けられている。これにより、第1磁束伝達部20と第2磁束伝達部30との間の隙間101を流れる漏洩磁束を集中してホールIC60に流す(通過させる)ことができる。
本実施形態では、例えば磁石45と磁石50との体格の差を調整することにより、隙間101のホールIC60の相対移動方向において「磁束密度の絶対値が最小(本実施形態では0)となる位置」を、隙間101の長手方向の中心以外の任意の位置(本実施形態では位置P1)に設定可能である。つまり、本実施形態では、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、回転体12の可動範囲の中心以外の任意の位置に設定可能である。
一般に、ホールIC60の移動範囲内で「磁束密度の絶対値が最小となる位置」では、磁石45および磁石50の温度係数による磁力変化が生じにくいため、温度に対する耐性が良好である。したがって、ホールIC60の移動範囲内で「磁束密度の絶対値が最小となる位置」近傍では、位置検出装置10による位置検出精度が高い。
本実施形態では、スロットルバルブが全閉状態のとき、ホールIC60は、隙間101における可動範囲内で最も磁石50に近い位置(位置P1)に位置する。一方、スロットルバルブが全開状態のとき、ホールIC60は、隙間101における可動範囲内で最も磁石45に近い位置に位置する。
スロットルバルブは、全閉位置付近で最も高い位置検出精度を必要とする。上述のように、本実施形態では、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、回転体12の可動範囲の中心以外の任意の位置に設定可能である。したがって、本実施形態では、スロットルバルブの全閉位置に対応する回転体12の位置に、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を設定することができる。よって、温度にかかわらず、スロットルバルブの全閉位置付近における位置検出精度を高くすることができる。
本実施形態では、ホールIC60により検出される磁束密度は、図3に示すL1のとおりとなる。隙間101の磁石45近傍および磁石50近傍には、第1磁束伝達部20と第2磁束伝達部30との間を流れる漏洩磁束に加え、磁石45の磁極46から磁極47へ飛ぶ磁束、および、磁石50の磁極51から磁極52へ飛ぶ磁束が流れている。そのため、L1は、端部に向かうほど絶対値の変化率が大きくなる。
なお、本実施形態では、磁束密度と回転体12の可動範囲(スロットルバルブの全閉位置から全開位置までの範囲)との関係は、図3に示すとおりである。このように、本実施形態では、L1の直線性が比較的良好な範囲において回転体12の位置検出を行う。
ここで、比較例による位置検出装置を示すことで、比較例に対する本実施形態の有利な点を明らかにする。
図4に示すように、比較例では、第1実施形態の磁石45に代えて磁石40が設けられている。
磁石40は、例えばネオジム磁石またはフェライト磁石等の永久磁石であり、一端に磁極41を有し、他端に磁極42を有している。磁石40は、磁極41側がN極となるよう、磁極42側がS極となるよう着磁されている。磁石40は、磁極41が第1磁束伝達部20の一端部22に当接するよう、磁極42が第2磁束伝達部30の一端部32に当接するよう設けられている。これにより、磁石40の磁極41から発生した磁束は、第1磁束伝達部20の一端から他端へ伝達される。
ここで、隙間101を第1磁束伝達部20から第2磁束伝達部30へ、または、第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ漏洩磁束が流れている。
比較例では、磁石40と磁石50とは、体格(体積)、種類(例えばネオジム磁石、フェライト磁石等)、材料組成(例えば、ネオジム磁石の場合、ネオジム、鉄、ホウ素の割合およびジスプロシウム等の含有率。フェライト磁石の場合、バリウム、ストロンチウム等の含有率。)および着磁調整の仕方が同じ永久磁石である。そのため、隙間101の長手方向の中心と磁石40との間では第1磁束伝達部20から第2磁束伝達部30へ漏洩磁束が流れ、隙間101の長手方向の中心と磁石50との間では第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ漏洩磁束が流れる。ここで、隙間101の長手方向において、磁石40または磁石50に近い位置ほど、磁束密度の絶対値が大きくなる。また、隙間101の長手方向の中心では磁束密度が0になる。
また、磁石40の周囲には、磁極41から磁極42に磁束が飛ぶようにして流れている。また、磁石50の周囲には、磁極51から磁極52に磁束が飛ぶようにして流れている。
比較例では、ホールIC60により検出される磁束密度は、図3に一点鎖線で示すL2のとおりとなる。このように、比較例では、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」が、回転体12の可動範囲の中央(図3では位置0)に設定(固定)されている。そのため、比較例をスロットルバルブの位置(開度)検出に用いる場合、全閉位置付近の位置検出精度が低下するおそれがある。
一方、本実施形態では、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」が、スロットルバルブの全閉位置に対応する回転体12の位置に設定されている。そのため、全閉位置付近の位置検出精度を高めることができる。よって、本実施形態は、比較例と比べ、スロットルバルブの位置(開度)検出をするのにより適している。
以上説明したように、本実施形態では、第1磁束伝達部20と第2磁束伝達部30との間の隙間101のホールIC60の相対移動方向において磁束密度の絶対値が最小(本実施形態では0)となる位置は、隙間101の前記相対移動方向の中心から前記相対移動方向磁石50側へ所定量ずれた位置P1に設定されている。つまり、本実施形態では、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、回転体12の可動範囲の中心以外の任意の位置に設定可能である。そのため、可動範囲の中心以外の任意の位置で最も高い位置検出精度を必要とする回転体12(スロットルバルブ)に本実施形態の位置検出装置10を適用した場合、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、「最も高い位置検出精度を必要とする位置」に合わせることができる。
一般に、ホールIC60の移動範囲内で「磁束密度の絶対値が最小となる位置」では、磁石45および磁石50の温度係数による磁力変化が生じにくいため、温度に対する耐性が良好である。したがって、本実施形態では、温度にかかわらず回転体12(スロットルバルブ)の移動範囲内の任意の位置における位置検出精度を高くすることができる。
また、本実施形態では、磁石45は永久磁石であり、磁石50は磁石45とは体格、種類、材料組成および着磁調整の仕方のうち少なくとも1つ(本実施形態では体格)が異なる永久磁石により形成されている。これにより、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、回転体12の可動範囲の中心以外の任意の位置に設定可能である。
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態による位置検出装置を図5に示す。第2実施形態は、第1磁束発生手段が第1実施形態と異なる。
第2実施形態では、第1磁束発生手段は、磁石40を2つ有している。磁石40は、上述の比較例で示した磁石40である。つまり、磁石40は、磁石50と、体格(体積)、種類(例えばネオジム磁石、フェライト磁石等)、材料組成(例えば、ネオジム磁石の場合、ネオジム、鉄、ホウ素の割合およびジスプロシウム等の含有率。フェライト磁石の場合、バリウム、ストロンチウム等の含有率。)および着磁調整の仕方が同じ永久磁石である。
図5に示すように、本実施形態では、第1磁束伝達部20の一端部22と第2磁束伝達部30の一端部32との間に並列に並ぶようにして2つの磁石40が設けられている。ここで、2つの磁石40の磁極41は一端部22に当接し、磁極42は一端部32に当接している。
上記構成により、隙間101の長手方向の中心から磁石50側へ所定量ずれた位置P2(図5参照)と2つの磁石40との間では第1磁束伝達部20から第2磁束伝達部30へ漏洩磁束が流れ、位置P2と磁石50との間では第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ漏洩磁束が流れる。ここで、隙間101の長手方向において、磁石40または磁石50に近い位置ほど、磁束密度の絶対値が大きくなる。また、位置P2では磁束密度が0になる。
以上説明したように、本実施形態では、第1磁束発生手段は2つの永久磁石(磁石40)を有し、第2磁束発生手段は第1磁束発生手段の永久磁石と体格、種類、材料組成および着磁調整の仕方が同じ永久磁石を、第1磁束発生手段の永久磁石とは異なる個数(本実施形態では1つ)有している。よって、本実施形態では、第1実施形態と同様、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、回転体12の可動範囲の中心以外の任意の位置に設定可能である。したがって、本実施形態では、スロットルバルブの全閉位置に対応する回転体12の位置に、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を設定することができる。よって、温度にかかわらず、スロットルバルブの全閉位置付近における位置検出精度を高くすることができる。
また、本実施形態では、第1磁束発生手段および第2磁束発生手段は、体格、種類、材料組成および着磁調整の仕方が同じ永久磁石を1つまたは2つ用いることにより構成されている。そのため、同一の永久磁石(標準磁石)を複数用いることにより、新規磁石製造のためのコストを抑制することができる。また、標準磁石の量産効果により製造コストを低減することができる。
(第3実施形態)
本発明の第3実施形態による位置検出装置を図6に示す。
第3実施形態では、第3磁束伝達部53をさらに備えている。第3磁束伝達部53は、第1磁束伝達部20の他端部23と第2磁束伝達部30の他端部33との間に設けられ、第1磁束伝達部20および第2磁束伝達部30と同一の材料により第1磁束伝達部20および第2磁束伝達部30と一体に形成されている。すなわち、第3実施形態は、上述の比較例の磁石50に代えて第3磁束伝達部53を設けたような構成である。
本実施形態では、隙間101の長手方向の全範囲において、第1磁束伝達部20の本体21から第2磁束伝達部30の本体31へ漏洩磁束が流れる。ここで、隙間101の長手方向において、磁石40に近い位置ほど、磁束密度の絶対値が大きくなる。また、隙間101の長手方向の中心から磁石50側へ所定量ずれた位置P4(図6参照)は、スロットルバルブの全閉位置に対応している。
上記構成により、ホールIC60により検出される磁束密度は、図7に示すL3のとおりとなる。また、磁束密度と回転体12の可動範囲(スロットルバルブの全閉位置から全開位置までの範囲)との関係は、図7に示すとおりである。
本実施形態では、位置P4は、ホールIC60の相対移動範囲(スロットルバルブの全閉位置から全開位置までの範囲)内で「磁束密度の絶対値が最小(≠0)となる位置」に対応している。よって、温度にかかわらず、スロットルバルブの全閉位置付近における位置検出精度を高くすることができる。
また、本実施形態では、上述の実施形態と比べ、磁石の個数が少ない(1つ)ため、位置検出装置の製造コストを低減することができる。
(第4実施形態)
本発明の第4実施形態による位置検出装置を図8に示す。
第4実施形態では、第1磁束伝達部20の本体21は、磁石40から磁石50に向かうに従い、本体21と本体31とが対向する方向の幅(図8に示すt)が小さくなるよう形成されている。また、第2磁束伝達部30の本体31も、磁石40から磁石50に向かうに従い、本体21と本体31とが対向する方向の幅が小さくなるよう形成されている。
上記構成により、隙間101の長手方向の中心から磁石50側へ所定量ずれた位置P5(図8参照)と磁石40との間では第1磁束伝達部20から第2磁束伝達部30へ漏洩磁束が流れ、位置P5と磁石50との間では第2磁束伝達部30から第1磁束伝達部20へ漏洩磁束が流れる。また、位置P5では磁束密度が0になる。
本実施形態では、第1実施形態と同様、スロットルバルブの全閉位置に対応する回転体12の位置に、「磁束密度の絶対値が最小(0)となる位置」を設定することができる。よって、温度にかかわらず、スロットルバルブの全閉位置付近における位置検出精度を高くすることができる。
また、本実施形態では、第1磁束発生手段および第2磁束発生手段は、それぞれ、体格、種類、材料組成および着磁調整の仕方が同じ永久磁石を1つ用いることにより構成されている。これにより、新規磁石製造のためのコストを抑制することができる。また、標準磁石の量産効果により製造コストを低減することができる。
(第5実施形態)
本発明の第5実施形態による位置検出装置を図9に示す。第5実施形態は、第1磁束伝達部および第2磁束伝達部の形状等が第1実施形態と異なる。
第5実施形態では、検出対象としての移動体110は、例えば車両の変速機のシフトを切り替えるマニュアルバルブに取り付けられる。マニュアルバルブは、軸方向に直線状に移動し、変速機のシフトを切り替える。モールド部9は、マニュアルバルブ近傍のマニュアルバルブとは別部材に固定される。すなわち、移動体110は、基準部材としてのモールド部9に対し直線状に相対移動する。
本実施形態では、位置検出装置は、モールド部9に対し直線状に相対移動する移動体110の位置を検出する。これにより、マニュアルバルブの位置を検出でき、変速機の実際のシフト位置を検出することができる。このように、位置検出装置をストロークセンサ(直線変位センサ)として用いることができる。
図9に示すように、本実施形態では、第1磁束伝達部24は、移動体110に形成された長方形状の穴部111に設けられている。第1磁束伝達部24は、本体25、一端部26および他端部27を有している。本体24は、移動体110の相対移動方向に延びる仮想直線Sに対し平行となる形状に形成されている。一端部26は、本体25の一端から仮想直線Sに対し略垂直に延びるよう形成されている。他端部27は、本体25の他端から一端部26と同じ方向に延びるよう形成されている。
第2磁束伝達部34は、移動体110の穴部111に設けられている。第2磁束伝達部34は、本体35、一端部36および他端部37を有している。本体35は、本体25と同様、仮想直線Sに対し平行となる形状に形成されている。一端部36は、本体35の一端から仮想直線Sに対し略垂直に延びて一端部26に対向するよう形成されている。他端部37は、本体35の他端から一端部36と同じ方向に延びるよう形成されている。
図9に示すように、第1磁束伝達部24および第2磁束伝達部34は、本体25と本体35とが仮想直線Sに垂直な方向で対向するよう移動体110の穴部111に設けられている。これにより、第1磁束伝達部24の本体25と第2磁束伝達部34の本体35との間に長方形状の隙間102が形成されている。
第5実施形態は、上述した点以外の構成は第1実施形態と同様である。
本実施形態では、ホールIC60により検出される磁束密度は、図3の「回転位置(θ)」を移動体110の相対移動方向の「位置」と読み替えれば、概ね図3に示すL1のとおりとなる。
本実施形態においても、第1実施形態と同様、磁石45と磁石50とは体格が異なる。これにより、「磁束密度の絶対値が最小(0)となる位置」を、移動体110の可動範囲の中心以外の任意の位置に設定可能である。そのため、可動範囲の中心以外の任意の位置で最も高い位置検出精度を必要とする移動体110(マニュアルバルブ)に本実施形態の位置検出装置を適用した場合、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、「最も高い位置検出精度を必要とする位置」に合わせることができる。
(他の実施形態)
上述の第1実施形態では、第1磁束発生手段としての磁石と第2磁束発生手段としての磁石とは、体格が異なる例を示した。これに対し、本発明の他の実施形態では、第2磁束発生手段は、第1磁束発生手段とは体格、種類、材料組成および着磁調整の仕方のうち少なくとも1つが異なる永久磁石により形成されていてもよい。これにより、「磁束密度の絶対値が最小となる位置」を、検出対象の可動範囲の中心以外の任意の位置に設定可能である。
また、上述の第2実施形態では、体格、種類、材料組成および着磁調整の仕方が同じ永久磁石(標準磁石)を、第1磁束発生手段は2つ、第2磁束発生手段は1つ有する例を示した。これに対し、本発明の他の実施形態では、第1磁束発生手段および第2磁束発生手段は、互いに個数が異なるのであれば、それぞれいくつ永久磁石(標準磁石)を有していてもよい。
また、上述の第3実施形態では、第2磁束発生手段に代えて、第1磁束伝達部および第2磁束伝達部と同一の材料により形成される第3磁束伝達部を備える例を示した。これに対し、本発明の他の実施形態では、第1磁束発生手段に代えて、第3磁束伝達部を備えることとしてもよい。
また、上述の第4実施形態では、第1磁束伝達部および第2磁束伝達部が、第2磁束発生手段に向かうに従い幅が小さくなるよう形成される例を示した。これに対し、本発明の他の実施形態では、第1磁束伝達部および第2磁束伝達部は、第2磁束発生手段に向かうに従い幅が大きくなるよう形成されることとしてもよい。また、第1磁束伝達部および第2磁束伝達部の一方のみが、第2磁束発生手段に向かうに従い幅が変化するよう形成されていてもよい。
また、上述の実施形態では、第1磁束伝達部、第2磁束伝達部、第1磁束発生手段および第2磁束発生手段を検出対象に設け、磁束密度検出手段を基準部材に設ける例を示した。これに対し、本発明の他の実施形態では、第1磁束伝達部、第2磁束伝達部、第1磁束発生手段および第2磁束発生手段を基準部材に設け、磁束密度検出手段を検出対象に設けることとしてもよい。
また、本発明の他の実施形態では、第1磁束伝達部および第2磁束伝達部の両端部間に設けられる磁石を、それぞれの磁極が上述の実施形態とは反対になるように設けてもよい。
また、本発明の他の実施形態では、モータは、回転を減速して出力軸に伝達する減速機を有していてもよい。
また、本発明の他の実施形態では、構成上の阻害要因がない限り、上述の各実施形態を組み合わせてもよい。
また、本発明の他の実施形態では、アクチュエータを、例えばウェストゲートバルブの作動装置、可変容量ターボの可変ベーン制御装置、排気スロットルや排気切替弁のバルブ作動装置、および、可変吸気機構のバルブ作動装置等の駆動源として用いてもよい。
このように、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の形態で実施可能である。
10 ・・・・・・位置検出装置
20、24 ・・・第1磁束伝達部
30、34 ・・・第2磁束伝達部
40、45 ・・・磁石(第1磁束発生手段)
50 ・・・・・・磁石(第2磁束発生手段)
60 ・・・・・・ホールIC(磁束密度検出手段)
101、102 ・・・隙間

Claims (4)

  1. 基準部材(6、9)に対し相対移動する検出対象(12、110)の位置を検出する位置検出装置(10)であって、
    前記検出対象または前記基準部材の一方に設けられる第1磁束伝達部(20、24)と、
    前記第1磁束伝達部との間に隙間(101、102)を形成するよう前記検出対象または前記基準部材の一方に設けられる第2磁束伝達部(30、34)と、
    前記第1磁束伝達部の一端と前記第2磁束伝達部の一端との間に設けられる第1磁束発生手段(40、45)と、
    前記第1磁束伝達部の他端と前記第2磁束伝達部の他端との間に設けられる第2磁束発生手段(50)と、
    前記隙間において前記検出対象または前記基準部材の一方に対し相対移動可能なよう前記検出対象または前記基準部材の他方に設けられ、通過する磁束の密度に応じた信号を出力する磁束密度検出手段(60)と、を備え、
    前記第1磁束発生手段は、1つ以上の永久磁石を有し、
    前記第2磁束発生手段は、前記第1磁束発生手段の永久磁石と体格、種類、材料組成および着磁調整の仕方が同じ永久磁石を、前記第1磁束発生手段の永久磁石とは異なる個数有し、
    前記隙間の前記磁束密度検出手段の相対移動方向において磁束密度の絶対値が最小となる位置は、前記隙間の前記相対移動方向の中心から前記相対移動方向前記第1磁束発生手段側または前記第2磁束発生手段側へ所定量ずれた位置に設定されていることを特徴とする位置検出装置。
  2. 基準部材(6、9)に対し相対移動する検出対象(12、110)の位置を検出する位置検出装置(10)であって、
    前記検出対象または前記基準部材の一方に設けられる第1磁束伝達部(20、24)と、
    前記第1磁束伝達部との間に隙間(101、102)を形成するよう前記検出対象または前記基準部材の一方に設けられる第2磁束伝達部(30、34)と、
    前記第1磁束伝達部の一端と前記第2磁束伝達部の一端との間に設けられる第1磁束発生手段(40、45)と、
    前記第1磁束伝達部の他端と前記第2磁束伝達部の他端との間に設けられる第2磁束発生手段(50)と、
    前記隙間において前記検出対象または前記基準部材の一方に対し相対移動可能なよう前記検出対象または前記基準部材の他方に設けられ、通過する磁束の密度に応じた信号を出力する磁束密度検出手段(60)と、を備え、
    前記第1磁束伝達部および前記第2磁束伝達部のうち少なくとも一方は、前記第1磁束発生手段から前記第2磁束発生手段に向かうに従い、前記第1磁束伝達部と前記第2磁束伝達部とが対向する方向の幅が変化するよう形成され、
    前記隙間の前記磁束密度検出手段の相対移動方向において磁束密度の絶対値が最小となる位置は、前記隙間の前記相対移動方向の中心から前記相対移動方向前記第1磁束発生手段側または前記第2磁束発生手段側へ所定量ずれた位置に設定されていることを特徴とする位置検出装置。
  3. 前記検出対象(12)は、前記基準部材(6、9)に対し相対回転移動し、
    前記第1磁束伝達部(20)および前記第2磁束伝達部(30)は、前記検出対象の回転中心を中心とする仮想円弧(C1、C2)に沿う形状に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の位置検出装置。
  4. 前記検出対象(110)は、前記基準部材(9)に対し直線状に相対移動し、
    前記第1磁束伝達部(24)および前記第2磁束伝達部(34)は、前記検出対象の相対移動方向に延びる仮想直線(S)に対し平行となる形状に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の位置検出装置。
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