JP5621887B2 - ポジ型感光性樹脂組成物、パターンの製造方法及び電子部品 - Google Patents
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Description
条件(i):末端基として熱硬化時に前記(c)成分と反応し得る官能基を有すること。
条件(ii):前記(a)成分が前記一般式(I)で表される構造を含む場合、一般式(I)におけるc+f=0ならばd+e≧3であること。
さらに、本発明の電子部品は、良好な形状と特性のパターンを有することにより、信頼性が高いという効果を奏する。
本発明によるポジ型感光性樹脂組成物は、一般式(1)及び(2)のいずれかで表される構造単位を有し、かつ下記条件(i)及び/又は(ii)を満たすポリベンゾオキサゾール又はその前駆体となるポリマー(以下、「(a)成分」とする)と、(b)活性光線照射により酸を発生する化合物(以下、「(b)成分」とする)と、及び(c)熱により前記(a)成分と架橋又は重合し得る、一般式(3)で表される構造を有する化合物(以下、「(c)成分」とする)とを含有してなる。以下、各成分について説明する。
本発明で用いる(a)成分は、一般式(1)及び(2)のいずれかで表される構造単位を有し、かつ下記条件(i)及び/又は(ii)を満たすポリベンゾオキサゾール又はその前駆体となるポリマーであれば特に制限はない。
条件(i):末端基として熱硬化時に前記(c)成分と反応し得る官能基を有すること。
条件(ii):前記(a)成分が前記一般式(I)で表される構造を含む場合、一般式(I)におけるc+f=0ならばd+e≧3であること。
現在電子部品用としては、加熱によりポリベンゾオキサゾ−ルに閉環しうるポリベンゾオキサゾール前駆体(一般にポリヒドロキシアミド)は、耐熱性、機械特性、電気特性に優れるものとして多用されつつある。本発明においては、ポリベンゾオキサゾール前駆体として、前記一般式(1)の構造単位を有する特定構造のポリベンゾオキサゾール前駆体を選択し、前記一般式(3)で示される化合物等他の成分と組み合わせて用いることで、耐熱性、機械特性、電気特性、強アルカリに対する耐性等の優れた特性を示すものである。
このポリヒドロキシアミドは、下記一般式(4)で表される繰り返し単位を有する。ヒドロキシ基を含有するアミドユニットは、最終的には硬化時の脱水閉環により、耐熱性、機械特性、電気特性に優れるオキサゾ−ル体に変換される。
即ち、次の一般式(5)
これらの化合物は、単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
ポリベンゾオキサゾールの構造に関するその他の特定の条件は、前述のポリベンゾオキサゾール前駆体において説明したものと同様である。
A群 1級又は2級アルコ−ル、フェノール、カルボキシル基、アミノ基、アルキルアミノ基、チオ−ル、芳香環。
B群 メチロ−ル、アルコキシアルキル基、3級アルコ−ル、シクロアルキル基、オレフィン、三重結合、ハロゲン化アルキル、エポキシ基などの環状エ−テル、エステル結合、カ−ボネ−ト、イソシアナ−ト。
エステル化には炭素数1から20のアルコール類、炭素数6から30のフェノール類が好ましく用いることができる。
また、イソシアナート前駆体は、炭素数1から20のアルコキシカルボニルハライドや炭素数6から30のフェノキシカルボニルハライドなどをアミン残基のアミノ基に作用させることで誘導することが、合成が容易である点で好ましい。
さらに、オレフィンあるいは三重結合の導入は、以下の一般式(11)に示す部分構造を持つ酸ハライドや酸無水物を用いるのが好ましい。
本発明のポジ型感光性樹脂組成物において、前記(a)成分として用いるポリマーと共に、(b)成分として活性光線照射により酸を発生する化合物(以下、酸発生剤という)を用いる。この酸発生剤の含有量は、感光時の感度、解像度を良好とするために、(a)成分100重量部に対して、0.01〜50重量部とすることが好ましく、0.01〜20重量部とすることがより好ましく、0.5〜20重量部とすることがさらに好ましい。
本発明に使用する(c)成分、すなわち熱により(a)成分と架橋し得るあるいは重合し得る化合物は、一般式(3)の構造を有していれば、特に制限はない。上述したような(a)成分と効率よく架橋反応をする置換基を有するものが好ましい。(c)成分の架橋しうる温度としては、感光性樹脂組成物が塗布、乾燥、露光、現像の各工程で架橋が進行しないように、150℃以上であることが好ましい。(c)成分は(a)成分の末端基と架橋するが、これと併せて分子間で重合するような化合物であっても良い。
よって、フラックス耐性と感光特性のバランスの両点を満たす20〜50重量部が特に好ましく、20〜40重量部が最も好ましい。
本発明によるポジ型感光性樹脂組成物は、上記(a)成分〜(c)成分の他に、(1)酸発生化合物、(2)溶解性阻害剤、(3)密着性付与剤、(4)界面活性剤あるいはレベリング剤、及び(5)溶剤等を含有しても良い。
(c)成分の架橋反応を促進するために、酸触媒あるいは熱により酸を発生する化合物を併用しても良い。触媒として用いる酸としては、強酸が好ましく、具体的には、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸のようなアリ−ルスルホン酸、カンファ−スルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸、ノナフルオロブタンスルホン酸のようなパ−フルオロアルキルスルホン酸、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸、ブタンスルホン酸のようなアルキルスルホン酸が望ましい。熱により上記酸を発生する化合物は、オニウム塩として塩の形やイミドスルホナ−トのような共有結合の形で本発明のポジ型感光性樹脂組成物に添加される。中でも熱分解開始温度が50℃〜270℃であるものが望ましい。
本発明によるポジ型感光性樹脂組成物は、アルカリ水溶液に対する溶解性を調整するために、溶解性を阻害する化合物を添加することができる。中でもオニウム塩、ジアリ−ル化合物及びテトラアルキルアンモニウム塩が好ましい。オニウム塩としては、ジアリ−ルヨ−ドニウム塩等のヨ−ドニウム塩、トリアリ−ルスルホニウム塩等のスルホニウム塩、ホスホニウム塩、アリ−ルジアゾニウム塩等のジアゾニウム塩などが挙げられる。ジアリ−ル化合物としては、ジアリ−ル尿素、ジアリ−ルスルホン、ジアリ−ルケトン、ジアリ−ルエ−テル、ジアリ−ルプロパン、ジアリ−ルヘキサフルオロプロパン等の二つのアリ−ル基が結合基を介して結合したものが挙げられ、前記アリ−ル基としては、フェニル基が好ましい。テトラアルキルアンモニウム塩としては、前記アルキル基がメチル基、エチル基等のテトラアルキルアンミニウムハライドが挙げられる。
で表されるジアリ−ルヨ−ドニウム塩化合物が好ましい。陰イオンとしては、硝酸イオン、4弗化硼素イオン、過塩素酸イオン、トリフルオロメタンスルホン酸イオン、p−トルエンスルホン酸イオン、チオシアン酸イオン、塩素イオン、臭素イオン、沃素イオン等が挙げられる。
本発明のポジ型感光性樹脂組成物は、硬化膜の基板との接着性を高めるために、有機シラン化合物、アルミキレ−ト化合物等の密着性付与剤を含むことができる。有機シラン化合物としては、例えば、ビニルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、尿素プロピルトリエトキシシラン、メチルフェニルシランジオ−ル、エチルフェニルシランジオ−ル、n−プロピルフェニルシランジオ−ル、イソプロピルフェニルシランジオ−ル、n−ブチルフェニルシランジオ−ル、イソブチルフェニルシランジオ−ル、tert−ブチルフェニルシランジオ−ル、ジフェニルシランジオ−ル、エチルメチルフェニルシラノ−ル、n−プロピルメチルフェニルシラノ−ル、イソプロピルメチルフェニルシラノ−ル、n−ブチルメチルフェニルシラノ−ル、イソブチルメチルフェニルシラノ−ル、tert−ブチルメチルフェニルシラノ−ル、エチルn−プロピルフェニルシラノ−ル、エチルイソプロピルフェニルシラノ−ル、n−ブチルエチルフェニルシラノ−ル、イソブチルエチルフェニルシラノ−ル、tert−ブチルエチルフェニルシラノ−ル、メチルジフェニルシラノ−ル、エチルジフェニルシラノ−ル、n−プロピルジフェニルシラノ−ル、イソプロピルジフェニルシラノ−ル、n−ブチルジフェニルシラノ−ル、イソブチルジフェニルシラノ−ル、tert−ブチルジフェニルシラノ−ル、フェニルシラントリオ−ル、1,4−ビス(トリヒドロキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(メチルジヒドロキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(エチルジヒドロキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(プロピルジヒドロキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(ブチルジヒドロキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(ジメチルヒドロキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(ジエチルヒドロキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(ジプロピルヒドロキシシリル)ベンゼン、1,4−ビス(ジブチルヒドロキシシリル)ベンゼン等が挙げられる。アルミキレ−ト化合物としては、例えば、トリス(アセチルアセトネ−ト)アルミニウム、アセチルアセテ−トアルミニウムジイソプロピレ−ト等が挙げられる。
また、本発明のポジ型感光性樹脂組成物は、塗布性、例えばストリエ−ション(膜厚のムラ)を防いだり、現像性を向上させるために、適当な界面活性剤あるいはレベリング剤を添加することができる。このような界面活性剤あるいはレベリング剤としては、例えば、ポリオキシエチレンウラリルエ−テル、ポリオキシエチレンステアリルエ−テル、ポリオキシエチレンオレイルエ−テル、ポリオキシエチレンオクチルフェノールエ−テル等があり、市販品としては、メガファックスF171、F173、R−08(大日本インキ化学工業株式会社製商品名)、フロラ−ドFC430、FC431(住友スリ−エム株式会社製商品名)、オルガノシロキサンポリマーKP341、KBM303、KBM403、KBM803(信越化学工業株式会社製商品名)等が挙げられる。
本発明においては、以上の各成分を溶剤に溶解し、ワニス状にして使用する。溶剤としては、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、2−メトキシエタノ−ル、ジエチレングリコ−ルジエチルエ−テル、ジエチレングリコ−ルジブチルエ−テル、プロピレングリコ−ルモノメチルエ−テル、ジプロピレングリコ−ルモノメチルエ−テル、プロピレングリコ−ルモノメチルエ−テルアセテ−ト、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、メチル−1,3−ブチレングリコ−ルアセテ−ト、1,3−ブチレングリコ−ルアセテ−ト、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、テトラヒドロフランなどがあり、単独でも混合して用いても良い。
次に、本発明によるパターンの製造方法について説明する。本発明によるパターンの製造方法は、上述したポジ型感光性樹脂組成物を支持基板上に塗布、乾燥して感光性樹脂膜を形成する工程と、前記塗布、乾燥工程により得られた感光性樹脂膜を露光する工程と、前記露光後の感光性樹脂膜の露光部を除去するためにアルカリ水溶液を用いて現像する工程と、及び前記現像後の感光性樹脂膜を加熱処理する工程とを経て、所望の耐熱性高分子のパターンを製造することができる。以下、各工程について説明する。
ポジ型感光性樹脂組成物を支持基板上に塗布し乾燥する工程では、ガラス基板、半導体、金属酸化物絶縁体(例えばTiO2、SiO2等)、窒化ケイ素などの支持基板上に、上述したポジ型感光性樹脂組成物を、スピンナ−などを用いて回転塗布する。その後、ホットプレ−ト、オ−ブンなどを用いて乾燥することにより、支持基板上にポジ型感光性樹脂組成物の被膜である感光性樹脂膜を形成する。
次に、露光工程では、支持基板上で被膜となった感光性樹脂組成物(感光性樹脂膜)に、マスクを介して紫外線、可視光線、放射線などの活性光線を照射する。
続いて、現像工程では、露光部を現像液で除去することによりパターンが得られる。現像液としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、ケイ酸ナトリウム、アンモニア、エチルアミン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、トリエタノ−ルアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシドなどのアルカリ水溶液が好ましいものとして挙げられる。これらの水溶液の塩基濃度は、0.1〜10重量%とされることが好ましい。さらに上記現像液にアルコ−ル類や界面活性剤を添加して使用することもできる。これらはそれぞれ、現像液100重量部に対して、好ましくは0.01〜10重量部、より好ましくは0.1〜5重量部の範囲で配合することができる。
次いで、加熱処理工程では、例えば種々の熱拡散炉、加熱炉や硬化炉を使用して、得られたパターンに好ましくは150〜450℃の加熱処理をすることにより、耐熱性高分子のパターンが得られる。本発明においては、加熱処理を250℃以下、好ましくは150〜220℃で行っても十分な膜特性を得ることができる。
また、加熱処理には、熱拡散炉等に限らず、マイクロ波を用いることもできる。マイクロ波を、周波数を変化させながらパルス状に照射した場合は定在波を防ぐことができ、基板面を均一に加熱することができる点で好ましい。さらに、基板として電子部品のように金属配線を含む場合は、周波数を変化させながらマイクロ波をパルス状に照射すると金属からの放電等の発生を防ぐことができ、電子部品を破壊から守ることができる点で好ましい。
次に、本発明によるポジ型感光性樹脂組成物を用いたパターンの製造方法の一例として、半導体装置(電子部品)の製造工程の一例を図面に基づいて説明する。図1〜図5は、多層配線構造を有する半導体装置の製造工程を説明する概略断面図である。
次に、本発明による電子部品について説明する。本発明のポジ型感光性樹脂組成物は、半導体装置や多層配線板等の電子部品に使用することができ、具体的には、半導体装置の表面保護膜、再配線層や層間絶縁膜、多層配線板の層間絶縁膜等の形成に使用することができる。本発明の半導体装置は、前記ポジ型感光性樹脂組成物を用いて形成される表面保護膜、再配線層や層間絶縁膜を有すること以外は特に制限されず、様々な構造をとることができる。本発明による電子部品は、本発明のポジ型感光性樹脂組成物を用いて上記パターンの製造方法によって形成されるパターンを含む。また、電子部品としては、半導体装置や多層配線板、各種電子デバイス等を含む。
(合成例1) ポリベンゾオキサゾ−ル前駆体の合成
攪拌機、温度計を備えた0.5リットルのフラスコ中に、4,4’−ジフェニルエ−テルジカルボン酸15.48g(60mmol)、N−メチルピロリドン90gを仕込み、フラスコを5℃に冷却した後、塩化チオニル23.9g(120mmol)を滴下し、30分間反応させて、4,4’−ジフェニルエ−テルテトラカルボン酸クロリドの溶液を得た。次いで、攪拌機、温度計を備えた0.5リットルのフラスコ中に、N−メチルピロリドン87.5gを仕込み、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン18.30g(50mmol)を攪拌溶解した後、ピリジン9.48g(120mmol)を添加し、温度を0〜5℃に保ちながら、4,4’−ジフェニルエ−テルジカルボン酸クロリドの溶液を30分間で滴下した後、30分間攪拌を続けた。溶液を3リットルの水に投入し、析出物を回収、純水で3回洗浄した後、減圧乾燥してカルボキシル基末端のポリヒドロキシアミドを得た(以下、ポリマーIとする)。ポリマーIのGPC法標準ポリスチレン換算により求めた重量平均分子量は17,600、分散度は1.6であった。
攪拌機、温度計を備えた0.5リットルのフラスコ中に、4,4’−ジフェニルエ−テルジカルボン酸15.48g(60mmol)、N−メチルピロリドン90gを仕込み、フラスコを5℃に冷却した後、塩化チオニル23.9g(120mmol)を滴下し、30分間反応させて、4,4’−ジフェニルエ−テルテトラカルボン酸クロリドの溶液を得た。次いで、攪拌機、温度計を備えた0.5リットルのフラスコ中に、N−メチルピロリドン87.5gを仕込み、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン18.30g(50mmol)とm−アミノアニソ−ル2.46g(20mmol)を添加し、攪拌溶解した後、ピリジン9.48g(120mmol)を添加し、温度を0〜5℃に保ちながら、4,4’−ジフェニルエ−テルジカルボン酸クロリドの溶液を30分間で滴下した後、30分間攪拌を続けた。溶液を3リットルの水に投入し、析出物を回収、純水で3回洗浄した後、減圧乾燥してメトキシ置換ベンゼン末端のポリヒドロキシアミドを得た(以下、ポリマーIIとする)。ポリマーIIのGPC法標準ポリスチレン換算により求めた重量平均分子量は19,100、分散度は1.6であった。
合成例2で用いたジカルボン酸あるいは末端基のm−アミノアニソ−ルを表1のように変えて、それ以外は合成例2と同じ条件で合成を行なった。得られたポリマーのGPC法標準ポリスチレン換算により求めた重量平均分子量、分散度をポリマー番号と共に表2に示す。
(a)成分としての前記ポリマーIないしXIの各々100重量部に対し、(b)成分、(c)成分を表3に示す所定量にて配合した。また、溶剤である有機溶媒としては、γ−ブチロラクトン(BLO)あるいはN−メチル−2−ピロリドン(NMP)を表3に示す重量部用いた。
その後、前記塗膜をイナ−トガスオ−ブン中、窒素雰囲気下、150℃で30分加熱した後、さらに320℃で1時間あるいは200℃で1時間加熱して硬化膜を得た。この硬化膜を室温下でNMPに15分間浸漬した際の外観及び膜厚変化を調べた。また、30重量%NaOH水溶液に50℃で10分間浸漬した際の外観及び膜厚変化を調べた。これとは別に、得られた膜をシリコン基板ごとフッ酸水溶液に浸漬し、基板から硬化膜を剥離し、水洗、乾燥した後、破断伸び(引っ張り試験機で測定)を測定した。これらの結果を表4に示した。なお、表4中、膜厚変化は、溶剤への浸漬前後の変化が1μm以下の増減である場合、「変化なし」とした。
さらに、表3に示した実施例2、5、8、13で用いた材料に関して、硬化方法を変えた検討を行った。これらのポジ型感光性樹脂組成物溶液をシリコンウエハ上にスピンコ−トして、120℃で3分間加熱し、膜厚15μmの塗膜を形成した。その後、前記塗膜をラムダテクノロジ−社製Microcure2100により、マイクロ波出力450W、マイクロ波周波数5.9〜7.0GHz、基板温度を160℃に保って、2時間硬化し、膜厚約10μmの硬化膜を得た。
次に、次にフッ酸水溶液を用いて、この硬化膜を剥離し、水洗、乾燥して、破断伸びを測定した。これらの結果を表5に示した。
(合成例12) ポリイミド前駆体の合成
攪拌機及び温度計を備えた0.2リットルのフラスコ中に、3,3',4,4'−ジフェニルエ−テルテトラカルボン酸二無水物(ODPA)10g(32mmol)とイソプロピルアルコ−ル3.87g(65mmol)とをN−メチルピロリドン45gに溶解し、1,8−ジアザビシクロウンデセンを触媒量添加の後に、60℃にて2時間加熱を行い、続いて室温下(25℃)で15時間攪拌し、エステル化を行った。その後、氷冷下で塩化チオニルを7.61g(64mmol)加え、室温に戻し2時間反応を行い酸クロリドの溶液を得た。この溶液を酸クロ溶液Iと呼ぶ。
2 保護膜
3 第1導体層
4 層間絶縁膜層
5 感光樹脂層
6A、6B、6C、6D 窓
7 第2導体層
8 表面保護膜層
Claims (6)
- (a)一般式(1)及び(2)のいずれかで表される構造単位を有し、かつ下記条件(i)及び/又は(ii)を満たすポリベンゾオキサゾール又はその前駆体となるポリマーと、(b)活性光線照射により酸を発生する化合物と、及び(c)熱により前記(a)成分と架橋又は重合し得る、一般式(3)で表される構造を有する化合物とを含有してなり、
前記(c)成分を、前記(a)成分100重量部に対して、20重量部以上含むことを特徴とするポジ型感光性樹脂組成物。
条件(i):末端基として熱硬化時に前記(c)成分と反応し得る官能基を有すること。
条件(ii):前記(a)成分が前記一般式(I)で表される構造を含む場合、一般式(I)におけるc+f=0ならばd+e≧3であること。
- 前記(a)成分が、末端基として、熱硬化時に前記(c)成分と反応し得る官能基を有することを特徴とする請求項1に記載のポジ型感光性樹脂組成物。
- 前記(b)成分が、o−キノンジアジド化合物であることを特徴とする請求項1又は2に記載のポジ型感光性樹脂組成物。
- さらに溶剤を含有することを特徴とする請求項1から3のうち、いずれか1項に記載のポジ型感光性樹脂組成物。
- 請求項1から請求項4のうち、いずれか1項に記載のポジ型感光性樹脂組成物を支持基板上に塗布、乾燥して感光性樹脂膜を形成する工程と、前記塗布、乾燥工程により得られた感光性樹脂膜を露光する工程と、前記露光後の感光性樹脂膜の露光部を除去するためにアルカリ水溶液を用いて現像する工程と、及び前記現像後の感光性樹脂膜を加熱処理する工程とを含むことを特徴とするパターンの製造方法。
- 請求項5に記載のパターンの製造方法により得られるパターンの層を有してなる電子デバイスを有する電子部品であって、前記電子デバイス中に前記パターンの層が層間絶縁膜層、再配線層又は表面保護膜層として設けられていることを特徴とする電子部品。
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