JP5620773B2 - Resin-sealed semiconductor device - Google Patents
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Description
本発明は、樹脂封止型半導体装置に関する。 The present invention relates to a resin-encapsulated semiconductor device.
シングルインライン型ブリッジダイオードは、従来より各種電源装置に広く用いられている(例えば、非特許文献1参照。)。 Single in-line bridge diodes have been widely used in various power supply devices conventionally (see, for example, Non-Patent Document 1).
図7は、従来のシングルインライン型ブリッジダイオード900を説明するために示す図である。図7(a)及び図7(b)はシングルインライン型ブリッジダイオード900の斜視図であり、図7(c)はシングルインライン型ブリッジダイオード900の断面図である。なお、図7(b)においては樹脂980を透明化してシングルインライン型ブリッジダイオード900を図示している。
FIG. 7 is a diagram for explaining a conventional single in-
従来のシングルインライン型ブリッジダイオード900は、図7に示すように、第1ダイパッド910、第2ダイパッド920、第1リード916,926及び第2リード940,930を備えるフレーム部と、半導体素子972,976,974,978(後述する図8(b)参照。)と、第1連結接続子950及び第2連結接続子960とを備える。
As shown in FIG. 7, the conventional single in-
第1ダイパッド910は、各々が1つの半導体素子972,976を搭載する2つの半導体素子搭載面912,913及びこれらを連結する第1連結部914を有する。また、第2ダイパッド920は、各々が1つの半導体素子978,974を搭載する2つの半導体素子搭載面922,923及びこれらを連結する第2連結部924を有する(後述する図8(a)及び図8(b)参照。)。
第1リード916は、第1ダイパッド910と一体に形成され半導体素子搭載面912から離隔する第1方向Aに延在する。また、第1リード926は、第2ダイパッド920と一体に形成され半導体素子搭載面922から離隔する第1方向Aに延在する。
第2リード940は、第1ダイパッド910とは離隔して配置されるとともに接続部942を有し第1方向Aに延在する。また、第2リード930は、第2ダイパッド920とは離隔して配置されるとともに接続部932を有し第1方向Aに延在する。
The
The
The
半導体素子972は、半導体素子搭載面912に固定され、半導体素子976は、半導体素子搭載面913に固定され、半導体素子978は、半導体素子搭載面922に固定され、半導体素子974は、半導体素子搭載面923に固定されている。
第1連結接続子950は、一方端が半導体素子976,978に接合されるとともに他方端が第2リード940の接続部942に接合され、半導体素子976,978と第2リード940とを電気接続する。
第2連結接続子960は、一方端が半導体素子972,974に接合されるとともに他方端が第2リード930の接続部932に接合され、半導体素子972,974と第2リード930とを電気接続する。
第1ダイパッド910、第2ダイパッド920、第1連結接続子950及び第2連結接続子960は、それぞれ板状の金属部材から作製されている。
The
The
The
The
第1リード916,926は、シングルインライン型ブリッジダイオード900を正面から見たとき、第1リード916,926を半導体素子搭載面912,913,922,923よりも手前側に位置させるために各ダイパッド(第1ダイパッド910及び第2ダイパッド920)と第1リード916,926との間に屈曲部918、928が形成されている。なお、本発明において、正面側とは、放熱フィンを取り付ける面とは反対側の面をいう。
The
上記のように構成された従来のシングルインライン型ブリッジダイオード900は、以下のようにして組み立てることができる。
図8は、従来のシングルインライン型ブリッジダイオード900を組み立てる方法を示す図である。図8(a)〜図8(e)は各工程図である。
The conventional single in-line
FIG. 8 is a diagram illustrating a method for assembling a conventional single in-
まず、図8(a)に示すように、フレーム部の元になるリードフレームを準備する。このとき、第1リード916,926と、第2リード930,940とはタイバー906,908により一体化されている。これは、シングルインライン型ブリッジダイオード900を組み立てる際のハンドリングを容易にするためである。また、樹脂封止工程においてタイバーを、樹脂流出を防止する樹脂封止部として機能させるためである。
First, as shown in FIG. 8A, a lead frame as a base of the frame portion is prepared. At this time, the
次に、図8(b)に示すように、各半導体素子載置面912,923,913,922に、半導体素子972,974,976,978を載置した状態でこれらを接合・固定する。
Next, as shown in FIG. 8B, the
次に、図8(c)に示すように、第1連結接続子950の一方端を半導体素子976,978に接合するとともに他方端を第2リード940の接続部942に接合して、半導体素子976,978と第2リード940とを電気接続する。また、第2連結接続子960の一方端を半導体素子972,974に接合するとともに他方端を第2リード930の接続部932に接合して、半導体素子972,974と第2リード930とを電気接続する。
Next, as shown in FIG. 8C, one end of the first connecting
次に、図8(d)に示すように、フレーム部と、半導体素子972,974,976,978と、第1連結接続子950及び第2連結接続子960とを金型で覆った後、当該金型の内部に樹脂を封入して樹脂を硬化させる。
Next, as shown in FIG. 8D, after the frame portion, the
最後に、図8(e)に示すように、パンチ切断により第1リード916,926及び第2リード930,940のそれぞれをタイバー906,908から切り離す。
Finally, as shown in FIG. 8E, the
このようにして、従来のシングルインライン型ブリッジダイオード900を組み立てることができる。
In this way, the conventional single in-
上記のように構成され、上記のようにして製造されたシングルインライン型ブリッジダイオード900によれば、半導体素子を搭載する各ダイパッド(第1ダイパッド910及び第2ダイパッド920)が奥側に位置するため、シングルインライン型ブリッジダイオードの背面側に取り付けられる放熱フィンと半導体素子との間隔が小さくなり、優れた放熱性能が得られる。
According to the single in-
また、従来のシングルインライン型ブリッジダイオード900によれば、各リード(第1リード916,926及び第2リード930,940)が手前側に位置するため、放熱フィンと各リードとの間隔が大きくなり、優れた絶縁性能が得られる。
Further, according to the conventional single in-line
ところで、近年の電子機器の小型化が進展するに伴い、上記したシングルインライン型ブリッジダイオードにおいても、リードの延在方向に沿った高さが低いこと、すなわち低背化の要求が高まっており、そのような要求を満たすシングルインライン型ブリッジダイオードを提供したいという課題が存在する。なお、このような課題は、シングルインライン型ブリッジダイオードの場合だけに存在する課題ではなく、樹脂封止型半導体装置全般にわたって存在する課題である。 By the way, with the recent progress of miniaturization of electronic devices, the above-mentioned single in-line type bridge diode is also low in height along the lead extending direction, that is, there is an increasing demand for low profile, There is a problem of providing a single in-line bridge diode that satisfies such requirements. Such a problem is not a problem that exists only in the case of a single in-line type bridge diode, but a problem that exists over the entire resin-encapsulated semiconductor device.
そこで、本発明は、上記した課題に鑑みてなされたもので、従来の樹脂封止型半導体装置における優れた放熱性能及び優れた絶縁性能を低下させることなく、従来の樹脂封止型半導体装置よりも低背化の要求を満たすことが可能な樹脂封止型半導体装置を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has been made in view of the above-described problems, and does not degrade the excellent heat dissipation performance and the excellent insulation performance of the conventional resin-encapsulated semiconductor device, but rather than the conventional resin-encapsulated semiconductor device. Another object of the present invention is to provide a resin-encapsulated semiconductor device that can satisfy the demand for a low profile.
[1]本発明の樹脂封止型半導体装置は、半導体素子を搭載する半導体素子搭載面を有するダイパッド、前記ダイパッドと一体に形成され前記半導体素子搭載面から離隔する第1方向に延在する第1リード及び前記ダイパッドとは離隔して配置されるとともに接続部を有し第1方向に延在する第2リードを備えるフレーム部と、前記半導体素子搭載面に固定された前記半導体素子と、一方端が前記半導体素子に接合されるとともに他方端が前記第2リードの前記接続部に接合され、前記半導体素子と前記第2リードとを電気接続する連結接続子とを備える樹脂封止型半導体装置であって、前記樹脂封止型半導体装置を正面から見たとき、前記第1リードを前記半導体素子搭載面よりも手前側に位置させるために前記ダイパッドと前記第1リードとの間に形成する屈曲部が、前記ダイパッドの部分から形成されていることを特徴とする。 [1] A resin-encapsulated semiconductor device according to the present invention includes a die pad having a semiconductor element mounting surface on which a semiconductor element is mounted, and a first pad formed integrally with the die pad and extending in a first direction separated from the semiconductor element mounting surface. A frame portion provided with a second lead which is disposed apart from one lead and the die pad and has a connection portion and extends in the first direction; and the semiconductor element fixed to the semiconductor element mounting surface; A resin-encapsulated semiconductor device having an end joined to the semiconductor element and the other end joined to the connection portion of the second lead, and a connecting connector for electrically connecting the semiconductor element and the second lead When the resin-encapsulated semiconductor device is viewed from the front, the die pad and the first lead are positioned so that the first lead is positioned on the front side of the semiconductor element mounting surface. Bent portion formed between the, characterized in that it is formed from a portion of the die pad.
本発明の樹脂封止型半導体装置によれば、半導体素子を搭載するダイパッドが奥側に位置するため、放熱フィンと半導体素子との間隔が小さくなり、優れた放熱性能が得られる。
また、本発明の樹脂封止型半導体装置によれば、各リード(第1リード及び第2リード)が手前側に位置するため、放熱フィンと各リードとの間隔が大きくなり、優れた絶縁性能が得られる。
さらにまた、本発明の樹脂封止型半導体装置によれば、ダイパッドと第1リードとの間に形成する屈曲部が、ダイパッドの部分から形成されているため、各リード(第1リード及び第2リード)の延在方向に沿った高さを従来の樹脂封止型半導体装置の場合よりもより一層低くすることが可能となる。その結果、本発明の樹脂封止型半導体装置によれば、従来の樹脂封止型半導体装置よりも低背化の要求を満たすことが可能となる。
According to the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention, since the die pad on which the semiconductor element is mounted is located on the back side, the distance between the radiation fin and the semiconductor element is reduced, and excellent heat radiation performance can be obtained.
In addition, according to the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention, since each lead (first lead and second lead) is located on the near side, the space between the heat radiation fin and each lead is increased, and excellent insulation performance is achieved. Is obtained.
Furthermore, according to the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention, since the bent portion formed between the die pad and the first lead is formed from the portion of the die pad, each lead (first lead and second lead). It is possible to make the height along the extending direction of the leads even lower than in the case of the conventional resin-encapsulated semiconductor device. As a result, according to the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention, it is possible to satisfy the demand for lower height than the conventional resin-encapsulated semiconductor device.
なお、本明細書において、「屈曲部がダイパッドの部分から形成されている」とは、屈曲部を形成する前のフレーム部を第1方向を下にした状態で正面から見たとき、屈曲部が、少なくともダイパッドのどこかの部分が存在する高さ位置の部分から形成されていることを意味するものとする。 In this specification, “the bent portion is formed from the die pad portion” means that when the frame portion before forming the bent portion is viewed from the front with the first direction facing down, the bent portion Means that it is formed from a portion at a height position where at least some portion of the die pad exists.
[2]本発明の樹脂封止型半導体装置は、シングルインライン型ブリッジダイオードであって、前記ダイパッドとして、各々が1つの半導体素子を搭載する2つの半導体素子搭載面及びこれらを前記第1方向側で連結する第1連結部を有する第1ダイパッド及び各々が1つの半導体素子を搭載する2つの半導体素子搭載面及びこれらを第1方向とは反対の第2方向側で連結する第2連結部を有する第2ダイパッドを備え、前記第1ダイパッドにおける前記第1連結部及び前記第2ダイパッドにおける前記第2連結部には、それぞれ別の屈曲部が形成されていることを特徴とする。 [2] The resin-encapsulated semiconductor device of the present invention is a single in-line type bridge diode, and as the die pad, two semiconductor element mounting surfaces each mounting one semiconductor element, and these are provided in the first direction side. A first die pad having a first connecting portion to be connected with each other, two semiconductor element mounting surfaces each mounting one semiconductor element, and a second connecting portion for connecting them on the second direction side opposite to the first direction. The first die pad has a second die pad, and the first connecting portion in the first die pad and the second connecting portion in the second die pad are formed with different bent portions, respectively.
このような構成とすることにより、シングルインライン型ブリッジダイオードにおいても、本発明の樹脂封止型半導体装置の効果を得ることができる。また、その場合に、各リード(第1リード及び第2リード)の延在方向Aに沿った高さをより一層低くすることが可能となる。 With such a configuration, the effect of the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention can be obtained even in a single in-line bridge diode. In this case, the height along the extending direction A of each lead (first lead and second lead) can be further reduced.
[3]本発明の樹脂封止型半導体装置は、前記第1連結部及び前記第2連結部には、放熱フィン取り付け用ネジとの絶縁性を確保するための窪みが形成されていることを特徴とする。 [3] In the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention, the first connecting portion and the second connecting portion are formed with a recess for ensuring insulation with a heat radiating fin mounting screw. Features.
このような構成とすることにより、第1連結部及び第2連結部に屈曲部を設けた場合であっても、第1連結部又は第2連結部と放熱フィン取り付け用ネジとの間の絶縁性を確保することが可能となる。 Even if it is a case where a bent part is provided in the 1st connection part and the 2nd connection part by setting it as such composition, insulation between the 1st connection part or the 2nd connection part, and a screw for heat radiation fin attachment It becomes possible to ensure the sex.
[4]本発明の樹脂封止型半導体装置は、2つの半導体素子(例えば、ダイオードなど。)を備える樹脂封止型半導体装置であって、前記第2リードとして、2つの第2リードを備え、前記連結接続子として、一方端が一方の半導体素子に接合されるとともに他方端が一方の第2リードの接続部に接合され、前記一方の半導体素子と前記一方の第2リードとを電気接続する第1連結接続子と、一方端が他方の半導体素子に接合されるとともに他方端が他方の第2リードの接続部に接合され、前記他方の半導体素子と前記他方の第2リードとを電気接続する第2連結接続子とを備えることを特徴とする。 [4] A resin-encapsulated semiconductor device of the present invention is a resin-encapsulated semiconductor device including two semiconductor elements (for example, a diode), and includes two second leads as the second leads. As the connecting connector, one end is joined to one semiconductor element and the other end is joined to a connecting portion of one second lead to electrically connect the one semiconductor element and the one second lead. The first connecting connector, one end of which is joined to the other semiconductor element and the other end is joined to the connecting portion of the other second lead to electrically connect the other semiconductor element and the second second lead. And a second connecting connector to be connected.
このような構成とすることにより、2つの半導体素子を備える樹脂封止型半導体装置においても、本発明の樹脂封止型半導体装置の効果を得ることができる。 With such a configuration, the effect of the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention can be obtained even in a resin-encapsulated semiconductor device including two semiconductor elements.
[5]本発明の樹脂封止型半導体装置は、前記樹脂封止型半導体装置は、3端子の半導体素子を備える半導体装置であって、前記第2リードとして、2つの第2リードを備え、前記連結接続子として、一方端が前記半導体素子の第1領域に接合されるとともに他方端が一方の第2リードの接続部に接合され、前記半導体素子の前記第1領域と前記一方の第2リードとを電気接続する第1連結接続子と、一方端が前記半導体素子の前記第1領域とは異なる第2領域に接合されるとともに他方端が他方の第2リードの接続部に接合され、前記半導体素子の前記第2領域と前記他方の第2リードとを電気接続する第2連結接続子とを備えることを特徴とする。 [5] The resin-encapsulated semiconductor device of the present invention is a semiconductor device including a three-terminal semiconductor element, the resin-encapsulated semiconductor device including two second leads as the second lead, As the connection connector, one end is joined to the first region of the semiconductor element and the other end is joined to the connection portion of one second lead, and the first region and the second one of the semiconductor element are joined. A first connecting connector for electrically connecting the leads, one end is joined to a second region different from the first region of the semiconductor element, and the other end is joined to a connecting portion of the other second lead; And a second connecting connector for electrically connecting the second region of the semiconductor element and the other second lead.
このような構成とすることにより、3端子の半導体素子(例えば、パワーMOSFET、IGBT、サイリスターなど。)を備える樹脂封止型半導体装置においても、本発明の樹脂封止型半導体装置の効果を得ることができる。 With such a configuration, the effect of the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention is obtained even in a resin-encapsulated semiconductor device including a three-terminal semiconductor element (for example, power MOSFET, IGBT, thyristor, etc.). be able to.
以下、本発明の樹脂封止型半導体装置について、図に示す実施の形態に基づいて説明する。 Hereinafter, the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention will be described based on the embodiments shown in the drawings.
[実施形態1]
図1は、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100を説明するために示す図である。図1(a)及び図1(b)は樹脂封止型半導体装置100の斜視図であり、図1(c)は樹脂封止型半導体装置100の断面図である。なお、図1(b)においては樹脂180を透明化して樹脂封止型半導体装置100を図示している。
[Embodiment 1]
FIG. 1 is a view for explaining a resin-encapsulated
実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100は、図1に示すように、第1ダイパッド110、第2ダイパッド120、第1リード116,126及び第2リード140,130を備えるフレーム部と、半導体素子172,176,174,178(後述する図2(b)参照。)と、第1連結接続子150及び第2連結接続子160とを備える。実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100は、シングルインライン型ブリッジダイオードである。
As shown in FIG. 1, the resin-encapsulated
第1ダイパッド110は、各々が1つの半導体素子172,176を搭載する2つの半導体素子搭載面112,113及びこれらを第1方向側で連結する第1連結部114を有する。第2ダイパッド120は、各々が1つの半導体素子178,174を搭載する2つの半導体素子搭載面122,123及びこれらを第1方向とは反対の第2方向側で連結する連結する第2連結部124を有する。
第1リード116は、第1ダイパッド110と一体に形成され半導体素子搭載面112から離隔する第1方向Aに延在する。第1リード126は、第2ダイパッド120と一体に形成され半導体素子搭載面122から離隔する第1方向Aに延在する。
第2リード140は、第1ダイパッド110とは離隔して配置されるとともに接続部142を有し第1方向Aに延在する。第2リード130は、第2ダイパッド120とは離隔して配置されるとともに接続部132を有し第1方向Aに延在する。
The
The
The
半導体素子172は、半導体素子搭載面112に固定され、半導体素子176は、半導体素子搭載面113に固定され、半導体素子178は、半導体素子搭載面122に固定され、半導体素子174は、半導体素子搭載面123に固定されている。
第1連結接続子150は、一方端が半導体素子176,178に接合されるとともに他方端が第2リード140の接続部142に接合され、半導体素子176,178と第2リード140とを電気接続する。
第2連結接続子160は、一方端が半導体素子172,174に接合されるとともに他方端が第2リード130の接続部132に接合され、半導体素子172,174と第2リード130とを電気接続する。
The
The
The
第1リード116,126を半導体素子搭載面112,113,122,123よりも手前側に位置させるために第1ダイパッド110と第1リード116との間に形成する屈曲部118及び第2ダイパッド120と第2リード126との間に形成する屈曲部128が、各ダイパッド(第1ダイパッド110及び第2ダイパッド120)の部分から形成されている。
A
第1ダイパッド110における第1連結部114及び第2ダイパッドにおける第2連結部128には、それぞれ別の屈曲部が形成されていることを第2ダイパッド120における第2連結部124には、別の屈曲部が形成されている。
The first connecting
第1連結部114及び第2連結部124には、放熱フィン取り付け用ネジとの絶縁性を確保するための窪みが形成されている。
The first connecting
上記のように構成された実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100は、以下のようにして組み立てることができる。
図2は、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100を組み立てる方法を示す図である。図2(a)〜図2(e)は各工程図である。
The resin-encapsulated
FIG. 2 is a diagram illustrating a method for assembling the resin-encapsulated
まず、図2(a)に示すように、フレーム部の元になるリードフレームを準備する。このとき、第1リード116,126と、第2リード130,140とはタイバー106,108により一体化されている。これは、樹脂封止型半導体装置100を組み立てる際のハンドリングを容易にするためである。また、樹脂封止工程においてタイバー106を、樹脂流出を防止する樹脂封止部として機能させるためである。
First, as shown in FIG. 2A, a lead frame as a base of the frame portion is prepared. At this time, the first leads 116 and 126 and the second leads 130 and 140 are integrated by the tie bars 106 and 108. This is to facilitate handling when assembling the resin-encapsulated
次に、図2(b)に示すように、各半導体素子載置面112,123,113,122に、半導体素子(ダイオード)172,174,176,178を載置した状態で固定する。
Next, as shown in FIG. 2B, the semiconductor elements (diodes) 172, 174, 176, and 178 are fixed on the semiconductor
次に、図2(c)に示すように、第1連結接続子150の一方端を半導体素子176,178に接合するとともに他方端を第2リード140の接続部142に接合して、半導体素子176,178と第2リード140とを電気接続する。また、第2連結接続子160の一方端を半導体素子172,174に接合するとともに他方端を第2リード130の接続部132に接合して、半導体素子172,174と第2リード130とを電気接続する。
Next, as shown in FIG. 2C, one end of the first connecting
次に、図2(d)に示すように、フレーム部と、半導体素子172,174,176,178と、第1連結接続子150及び第2連結接続子160とを図示しない金型で覆った後、当該金型の内部に樹脂を封入して樹脂を硬化させる。
Next, as shown in FIG. 2D, the frame portion, the
最後に、図2(e)に示すように、パンチ切断により第1リード116,126及び第2リード130,140のそれぞれをタイバー106,108から切り離す。 Finally, as shown in FIG. 2E, the first leads 116 and 126 and the second leads 130 and 140 are separated from the tie bars 106 and 108 by punch cutting.
このようにして、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100を組み立てることができる。
In this way, the resin-encapsulated
上記のように構成され、上記のようにして製造された実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100によれば、半導体素子を搭載する各ダイパッド(第1ダイパッド110及び第2ダイパッド120)が奥側に位置するため、樹脂封止型半導体装置の背面側に取り付けられる放熱フィンと半導体素子との間隔が小さくなり、優れた放熱性能が得られる。
また、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100によれば、各リード(第1リード116,126及び第2リード130,140)が手前側に位置するため、放熱フィンと各リードとの間隔が大きくなり、優れた絶縁性能が得られる。
さらにまた、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100によれば、ダイパッド(第1ダイパッド110及び第2ダイパッド120)と第1リード116,126との間に形成する屈曲部が、各ダイパッドの部分(第1連結部114の部分)から形成されているため、各リード(第1リード及び第2リード)の延在方向Aに沿った高さが従来の樹脂封止型半導体装置(シングルインライン型ブリッジダイオード900)よりも低く、従来の樹脂封止型半導体装置(シングルインライン型ブリッジダイオード900)の場合よりも低背化の要求を満たすことが可能となる。
According to the resin-encapsulated
In addition, according to the resin-encapsulated
Furthermore, according to the resin-encapsulated
また、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100によれば、第1ダイパッド110における第1連結部114及び第2ダイパッド120における第2連結部124には、それぞれ別の屈曲部が形成されているため、各リード(第1リード及び第2リード)の延在方向Aに沿った高さをより一層低くすることが可能となる。
In addition, according to the resin-encapsulated
また、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100によれば、第1連結部114及び第2連結部124には、放熱フィン取り付け用ネジとの絶縁性を確保するための窪みが形成されているため、第1連結部114及び第2連結部124に屈曲部を設けた場合であっても、第1連結部114又は第2連結部124と放熱フィン取り付け用ネジとの間の絶縁性を確保することが可能となる。
In addition, according to the resin-encapsulated
[実施形態2]
図3は、実施形態2に係る樹脂封止型半導体装置200を説明するために示す図である。図3(a)及び図3(b)は樹脂封止型半導体装置200の斜視図であり、図3(c)は樹脂封止型半導体装置200の断面図である。なお、図3(b)においては樹脂280を透明化して樹脂封止型半導体装置200を図示している。
図4は、実施形態2に係る樹脂封止型半導体装置200を組み立てる方法を示す図である。図4(a)〜図4(e)は各工程図である。
[Embodiment 2]
FIG. 3 is a view for explaining the resin-encapsulated
FIG. 4 is a diagram illustrating a method for assembling the resin-encapsulated
実施形態2に係る樹脂封止型半導体装置200は、基本的には実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100と同様の構成を有するが、樹脂封止型半導体装置が2つの半導体素子272,274を備える樹脂封止型半導体装置である点で実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100の場合とは異なる。
The resin-encapsulated
すなわち、実施形態2に係る樹脂封止型半導体装置200は、2つの半導体素子272,274を備える樹脂封止型半導体装置であって、第2リードとして、2つの第2リード230,240を備え、連結接続子として、一方端が一方の半導体素子272に接合されるとともに他方端が一方の第2リード230の接続部232に接合され、一方の半導体素子272と一方の第2リード230とを電気接続する第1連結接続子250と、一方端が他方の半導体素子274に接合されるとともに他方端が他方の第2リード240の接続部242に接合され、他方の半導体素子274と他方の第2リード240とを電気接続する第2連結接続子260とを備える。
That is, the resin-encapsulated
このように、実施形態2に係る樹脂封止型半導体装置200は、樹脂封止型半導体装置が2つの半導体素子272,274を備える樹脂封止型半導体装置である点で実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100の場合とは異なるが、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100の場合と同様に、第1リードを半導体素子搭載面よりも手前側に位置させるためにダイパッドと第1リードとの間に形成する屈曲部218が、ダイパッド210の部分から形成されているため、従来の半導体装置における優れた放熱性能及び優れた絶縁性能を低下させることなく、従来の半導体装置の場合よりも低背化の要求を満たすことが可能となる。
Thus, the resin-encapsulated
なお、実施形態2に係る樹脂封止型半導体装置200は、樹脂封止型半導体装置が2つの半導体素子272,274を備える樹脂封止型半導体装置である点以外の点は実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100の場合と同様であるため、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100が有する効果のうち該当する効果を有する。
The resin-encapsulated
[実施形態3]
図5は、実施形態3に係る樹脂封止型半導体装置300を説明するために示す図である。図5(a)及び図5(b)は樹脂封止型半導体装置300の斜視図であり、図5(c)は樹脂封止型半導体装置300の断面図である。なお、図5(b)においては樹脂380を透明化して樹脂封止型半導体装置300を図示している。
図6は、実施形態3に係る樹脂封止型半導体装置300を組み立てる方法を示す図である。図6(a)〜図6(e)は各工程図である。
[Embodiment 3]
FIG. 5 is a view for explaining the resin-encapsulated
FIG. 6 is a diagram illustrating a method for assembling the resin-encapsulated
実施形態3に係る樹脂封止型半導体装置300は、基本的には実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100と同様の構成を有するが、樹脂封止型半導体装置が3端子の半導体素子372を備える樹脂封止型半導体装置である点で実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100の場合とは異なる。
The resin-encapsulated
すなわち、実施形態3に係る樹脂封止型半導体装置300は、3端子の半導体素子372を備える樹脂封止型半導体装置であって、第2リードとして、2つの第2リード330,340を備え、連結接続子として、一方端が半導体素子372の第1領域に接合されるとともに他方端が一方の第2リード330の接続部332に接合され、半導体素子372の第1領域と一方の第2リード330とを電気接続する第1連結接続子350と、一方端が半導体素子372の第1領域とは異なる第2領域に接合されるとともに他方端が他方の第2リード340の接続部342に接合され、半導体素子372の第2領域と第2リード340とを電気接続する第2連結接続子360とを備える。
That is, the resin-encapsulated
このように、実施形態3に係る樹脂封止型半導体装置300は、樹脂封止型半導体装置が3端子の半導体素子372を備える樹脂封止型半導体装置である点で実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100の場合とは異なるが、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100の場合と同様に、第1リードを半導体素子搭載面よりも手前側に位置させるためにダイパッドと第1リードとの間に形成する屈曲部318が、ダイパッド310の部分から形成されているため、従来の半導体装置における優れた放熱性能及び優れた絶縁性能を低下させることなく、従来の半導体装置の場合よりも低背化の要求を満たすことが可能となる。
Thus, the resin-encapsulated
なお、実施形態3に係る樹脂封止型半導体装置300は、樹脂封止型半導体装置が3端子の半導体素子372を備える樹脂封止型半導体装置である点以外の点は実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100の場合と同様であるため、実施形態1に係る樹脂封止型半導体装置100が有する効果のうち該当する効果を有する。
The resin-encapsulated
以上、本発明の樹脂封止型半導体装置を上記の実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において実施することが可能であり、例えば、次のような変形も可能である。 As described above, the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention has been described based on the above embodiment, but the present invention is not limited to this, and can be implemented without departing from the scope of the present invention. For example, the following modifications are possible.
(1)上記した実施形態1においては、シングルインライン型ブリッジダイオードを用いて本発明の樹脂封止型半導体装置を説明し、上記した実施形態2においては、2つの半導体素子を備える樹脂封止型半導体装置を用いて本発明の樹脂封止型半導体装置を説明し、上記した実施形態3においては、3端子の半導体素子を備える樹脂封止型半導体装置を用いて本発明の樹脂封止型半導体装置を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。シングルインライン型ブリッジダイオード、2つの半導体素子を備える樹脂封止型半導体装置及び3端子の半導体素子を備える樹脂封止型半導体装置以外の樹脂封止型半導体装置に本発明の適用することもできる。 (1) In Embodiment 1 described above, the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention is described using a single in-line bridge diode, and in Embodiment 2 described above, a resin-encapsulated type including two semiconductor elements. The resin-encapsulated semiconductor device of the present invention will be described using a semiconductor device. In the above-described third embodiment, the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention using a resin-encapsulated semiconductor device including a three-terminal semiconductor element. Although the apparatus has been described, the present invention is not limited to this. The present invention can also be applied to resin-encapsulated semiconductor devices other than single-inline bridge diodes, resin-encapsulated semiconductor devices including two semiconductor elements, and resin-encapsulated semiconductor devices including three-terminal semiconductor elements.
(2)上記した各実施形態においては、連結接続子として、板状の金属部材から作製した連結接続子150,160,250,260,350,360を用いたが、本発明はこれに限定されるものではない。連結接続子として、ワイヤー状の連結接続子を用いてもよい。この場合、半導体素子と第2リードの接続部との接続をワイヤーボンディングの手法で接続することができる。
(2) In each of the above-described embodiments, the connecting
100,200,300…樹脂封止型半導体装置、106,108,206,208,306,308,906,908…タイバー、110,910…第1ダイパッド、120,920…第2ダイパッド、112,113,122,123,212,312,912,913,922,923…半導体素子搭載面、114,914…第1連結部、116,126,916,926…第1リード,118,128,218,318…屈曲部、124,924…第2連結部、130,140,230,240,330,340,930,940…第2リード、132,142,232,242、332,342,932,942…接続部、150,250,350,950…第1連結接続子、160,260,360,960…第2連結接続子、172,174,176,178,272,274,372,972,974,976,978…半導体素子、210,310…ダイパッド、180,280,380,980…樹脂、900…シングルインライン型ブリッジダイオード 100, 200, 300 ... Resin-sealed semiconductor device, 106, 108, 206, 208, 306, 308, 906, 908 ... Tie bar, 110, 910 ... First die pad, 120, 920 ... Second die pad, 112, 113 , 122, 123, 212, 312, 912, 913, 922, 923... Semiconductor element mounting surface, 114, 914... First connection portion, 116, 126, 916, 926 ... first lead, 118, 128, 218, 318 ... Bent part, 124,924 ... Second connecting part, 130,140,230,240,330,340,930,940 ... Second lead, 132,142,232,242,332,342,932,942 ... Connection Part, 150, 250, 350, 950... First connecting connector, 160, 260, 360, 960... Second connecting connector, 72,174,176,178,272,274,372,972,974,976,978 ... semiconductor device, 210, 310 ... die pad, 180,280,380,980 ... resin, 900 ... Single-line bridge diode
Claims (2)
前記半導体素子搭載面に固定された前記半導体素子と、
一方端が前記半導体素子に接合されるとともに他方端が前記第2リードの前記接続部に接合され、前記半導体素子と前記第2リードとを電気接続する連結接続子とを備え、
前記樹脂封止型半導体装置を正面から見たとき、前記第1リードを前記半導体素子搭載面よりも手前側に位置させるために前記ダイパッドと前記第1リードとの間に形成する屈曲部が、前記ダイパッドの部分から形成されている樹脂封止型半導体装置であって、
前記樹脂封止型半導体装置は、シングルインライン型ブリッジダイオードであって、
前記ダイパッドとして、各々が1つの半導体素子を搭載する2つの半導体素子搭載面及びこれらを前記第1方向側で連結する第1連結部を有する第1ダイパッド及び各々が1つの半導体素子を搭載する2つの半導体素子搭載面及びこれらを第1方向とは反対の第2方向側で連結する第2連結部を有する第2ダイパッドを備え、
前記第1ダイパッドにおける前記第1連結部及び前記第2ダイパッドにおける前記第2連結部には、それぞれ別の屈曲部が形成されていることを特徴とする樹脂封止型半導体装置。 A die pad having a semiconductor element mounting surface for mounting a semiconductor element, a first lead formed integrally with the die pad and extending in a first direction away from the semiconductor element mounting surface, and the die pad are spaced apart from each other. A frame portion having a second lead that has a connection portion and extends in the first direction;
The semiconductor element fixed to the semiconductor element mounting surface;
One end is joined to the semiconductor element and the other end is joined to the connection portion of the second lead, and includes a connecting connector for electrically connecting the semiconductor element and the second lead ,
When the resin-encapsulated semiconductor device is viewed from the front, a bent portion formed between the die pad and the first lead in order to position the first lead on the front side of the semiconductor element mounting surface, A resin-encapsulated semiconductor device formed from a portion of the die pad ,
The resin-encapsulated semiconductor device is a single in-line bridge diode,
As the die pad, two semiconductor element mounting surfaces each mounting one semiconductor element, and a first die pad having a first connecting portion for connecting them on the first direction side, and each mounting two semiconductor elements. A second die pad having two semiconductor element mounting surfaces and a second connecting portion for connecting these in the second direction opposite to the first direction;
The resin-encapsulated semiconductor device, wherein different bent portions are formed in the first connecting portion in the first die pad and the second connecting portion in the second die pad, respectively .
前記第1連結部及び前記第2連結部には、放熱フィン取り付け用ネジとの絶縁性を確保するための窪みが形成されていることを特徴とする樹脂封止型半導体装置。 The resin-encapsulated semiconductor device according to claim 1 ,
2. A resin-encapsulated semiconductor device, wherein the first connecting portion and the second connecting portion are formed with a recess for ensuring insulation with a heat radiating fin mounting screw.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010217713A JP5620773B2 (en) | 2010-09-28 | 2010-09-28 | Resin-sealed semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010217713A JP5620773B2 (en) | 2010-09-28 | 2010-09-28 | Resin-sealed semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012074511A JP2012074511A (en) | 2012-04-12 |
JP5620773B2 true JP5620773B2 (en) | 2014-11-05 |
Family
ID=46170388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010217713A Expired - Fee Related JP5620773B2 (en) | 2010-09-28 | 2010-09-28 | Resin-sealed semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5620773B2 (en) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59180450U (en) * | 1983-05-20 | 1984-12-01 | 新電元工業株式会社 | Resin-encapsulated semiconductor device |
JPS606253U (en) * | 1983-06-27 | 1985-01-17 | 新電元工業株式会社 | Bridge type semiconductor device |
JPS63174346A (en) * | 1987-01-14 | 1988-07-18 | Mitsubishi Electric Corp | Manufacture of lead frame |
JPH03230555A (en) * | 1990-02-06 | 1991-10-14 | Matsushita Electron Corp | Resin-sealed semiconductor device |
JPH067259U (en) * | 1992-06-29 | 1994-01-28 | 新日本製鐵株式会社 | Semiconductor device |
JP4386628B2 (en) * | 2002-10-16 | 2009-12-16 | 新電元工業株式会社 | Resin-sealed semiconductor device |
JP2008016529A (en) * | 2006-07-04 | 2008-01-24 | Renesas Technology Corp | Semiconductor device |
JP2010103411A (en) * | 2008-10-27 | 2010-05-06 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | Semiconductor device and method of manufacturing the same |
-
2010
- 2010-09-28 JP JP2010217713A patent/JP5620773B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012074511A (en) | 2012-04-12 |
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