JP5697236B2 - イメージセンサー及びその動作方法 - Google Patents
イメージセンサー及びその動作方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5697236B2 JP5697236B2 JP2010247373A JP2010247373A JP5697236B2 JP 5697236 B2 JP5697236 B2 JP 5697236B2 JP 2010247373 A JP2010247373 A JP 2010247373A JP 2010247373 A JP2010247373 A JP 2010247373A JP 5697236 B2 JP5697236 B2 JP 5697236B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- unit
- voltage
- sensing
- image sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 111
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 65
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 48
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 43
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 40
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 36
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 28
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 28
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 31
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 13
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 13
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- -1 ZnO or TiO 2 Chemical class 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000013144 data compression Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Description
前記光感知部は、酸化物トランジスタ及び酸化物ダイオードのうち少なくとも1つを含む。前記酸化物トランジスタ及び前記酸化物ダイオードのうち少なくとも1つは、ZnO、TiO2のうち少なくとも1つを含む。
図1を参照すれば、イメージセンサー1は、ピクセルアレイ10、ロードライバ20、光検出信号生成部30、及びアナログ−デジタル変換部40を備えることができる。図1では、便宜上、イメージセンサー1が4つのブロックを含むと図示されているが、イメージセンサー1は、ローデコーダ、カラムデコーダ、カラムドライバ及び/またはイメージ処理部などのさらに多くのブロックを備えることができる。
図3を参照すれば、X軸は、ゲート電極Gとソース電極Sとの間の電圧VGSをV単位で表し、Y軸は、ドレイン電極Dとソース電極Sとの間に流れる電流IDSをA単位で表す。ドレイン電極Dに印加されるドレイン電圧VDが10Vである時、入射光の光量が相異なる3つの場合、すなわち、入射光の光量が少ない場合(L0)、光量が中間である場合(L1)及び光量が多い場合(L2)に、光感知部PSの電圧−電流特性曲線は相異なる。具体的に、同じ電圧VGSで光量が多いほど、光感知部PSのドレイン電極Dとソース電極Sとの間にはさらに多くの電流IDSが流れる。
図4を参照すれば、X軸は、ゲート電極Gとソース電極Sとの間の電圧VGSをV単位で表し、Y軸は、ドレイン電極Dとソース電極Sとの間に流れる電流IDSをA単位で表す。ドレイン電極Dの電圧VDが5Vである時、入射光の波長が相異なる3つの場合、すなわち、赤色光、緑色光及び青色光の場合に、光感知部PSの電圧−電流特性曲線は相異なる。具体的に、同じ電圧VGSで波長が短いほど(すなわち、エネルギーが大きいほど)、光感知部PSのドレイン電極Dとソース電極Sとの間にはさらに多くの電流IDSが流れる。このように、波長によって光感知部PSの電圧−電流特性が変化する場合には、イメージセンサーが別途のカラーフィルタを備えなくても、イメージセンサーは光感知部PSの電圧−電流特性を分析して入射光の波長を検出でき、赤色光、緑色光及び青色光(RGB)を一つのピクセルで感知することもできる。
図5Aを参照すれば、ピクセル100は、光感知部PS、伝達部101、リセット部102、変換部103、増幅部104及び選択部105を備えることができる。例えば、伝達部101、リセット部102、変換部103、増幅部104及び選択部105はいずれも単一層に配され、その上層に光感知部PSが配されうる。したがって、イメージセンサー1で単一ピクセル100が占める面積を低減させることができる。
図6を参照すれば、イメージセンサー1は、複数のピクセル100を含むピクセルアレイ10、ロードライバ20、光検出信号生成部30及びアナログ−デジタル変換部40を備える。ここで、ピクセルアレイ10は、複数のピクセルを含むことができる。
図7を参照すれば、ピクセル100、光検出信号生成部30及びアナログ−デジタル変換部40が図示されているが、光検出信号生成部30は、変換トランジスタ31、サンプリング回路32、増幅器33及びラッチ34を備えることができる。一実施形態で、光検出信号生成部30はCDS(correlated double sampling)回路で具現されうるが、CDS回路を利用する場合、低周波数ノイズを除去できる。以下では、まず、光検出信号生成部30に含まれた構成要素について詳述する。
図7及び図8を参照すれば、リセット信号RSTがオンになれば(すなわち、論理ハイレベルを持つようになれば)、リセット部102は、活性化して基準電流を出力でき、変換部103は、リセット部102から出力された基準電流を電圧に変換して、基準電圧レベルを持つ電圧VTを出力できる。増幅部104は、変換部103から出力された電圧VTに基づいて基準信号を生成できる。選択信号SELがオンになれば、選択部105は、増幅部104で生成された基準信号を変換トランジスタ31に出力でき、変換トランジスタ31は、基準信号を基準電圧信号に変換できる。リセットサンプリング信号RSがオンになれば、基準電圧信号は第1キャパシタC1に提供できる。
図9を参照すれば、イメージセンサー1’は、ピクセルアレイ10’、ロードライバ20、光検出信号生成部30及びアナログ−デジタル変換部40を備えることができる。本実施形態によるイメージセンサー1’は、図6のイメージセンサー1の一部構成を変形したものであるので、重なる説明は省略する。
図10Aを参照すれば、ピクセル200は、光感知部PS、伝達部201、リセット部202、変換部203及び選択部204を備えることができる。本実施形態によるピクセル200は、図5Aのピクセル100の一部構成を変形したものであるので、重なる説明は省略する。
図11を参照すれば、ピクセル200、光検出信号生成部30’及びアナログ−デジタル変換部40が図示されているが、光検出信号生成部30’は、サンプリング回路32、増幅器33及びラッチ34を備えることができる。本実施形態によるイメージセンサーは、図7のイメージセンサーの一部構成を変形したものであるので、重なる説明は省略する。
リセット信号RSTがオンになれば、リセット部202は活性化して基準電流を出力でき、変換部203はリセット部202から出力された基準電流を電圧に変換して、基準電圧レベルを持つ電圧VTを出力できる。選択信号SELがオンになれば、選択部204は、変換部203から出力された基準電圧レベルを持つ電圧を出力でき、リセットサンプリング信号RSがオンになれば、基準電圧レベルを持つ電圧は第1キャパシタC1に提供されうる。
図13を参照すれば、ピクセル300、光検出信号生成部30及びアナログ−デジタル変換部40が図示されているが、光検出信号生成部30は、変換トランジスタ31、サンプリング回路32、増幅器33及びラッチ34を備えることができる。本実施形態によるイメージセンサーは、図7のイメージセンサーの一部構成を変形したものであるので、重なる説明は省略する。
リセット信号RSTがオンなれば、リセット部302は活性化して基準電流を出力でき、選択信号SELがオンになれば、選択部303はリセット部302から出力された基準電流を出力でき、変換トランジスタ31は、基準電流を電圧に変換して基準電圧信号を生成できる。リセットサンプリング信号RSがオンになれば、基準電圧信号は第1キャパシタC1に提供できる。
図14Aを参照すれば、ピクセル400は光感知部PSを備えることができるが、光感知部PSは入射光のエネルギーによって電圧−電流特性が変化し、入射光のエネルギーによって決定される感知電流を生成できる。光感知部PSは、図5Aのピクセル100に備えられた光感知部PSと実質的に同一であるので、これについての重なる説明は省略する。
図15を参照すれば、ピクセル400、光検出信号生成部30及びアナログ−デジタル変換部40が図示されているので、光検出信号生成部30は変換トランジスタ31、サンプリング回路32、増幅器33及びラッチ34を備えることができる。本実施形態によるイメージセンサーは、図7のイメージセンサーの一部構成を変形したものであるので、重なる説明は省略する。
光感知部PSのゲートに第1電圧V1を印加して第1感知電流を出力し、変換トランジスタ31は、第1感知電流を第1感知電圧に変換する。リセットサンプリング信号RSがオンになれば、第1感知電圧は第1キャパシタC1に提供される。
図16を参照すれば、プロセッサー基盤システム1600は、プロセッサー1610、RAM 1620、ハードドライブ1630、イメージセンサー1640及び入出力装置1650を備えることができ、これらは、バス1660を通じて通信できる。ここで、イメージセンサー1640は、図1ないし15のイメージセンサーを備えることができる。イメージセンサー1640は、プロセッサー1610またはシステム1600の他の装置から制御信号またはデータを受け取ることができる。イメージセンサー1640は、受け取った制御信号またはデータに基づいてイメージを定義する信号をプロセッサー1610に提供でき、プロセッサー1610は、イメージセンサー1640から受け取った信号を処理できる。
101 伝達部
102 リセット部
103 変換部
104 増幅部
105 選択部
PS 光感知部
Claims (29)
- ピクセルを備え、
前記ピクセルは、
光感知部であって、前記光感知部の電圧−電流特性は入射光のエネルギーに基づいて変化し、前記電圧−電流特性に基づいて感知電流を生成する光感知部と、
リセット信号に基づいて基準電流を生成するリセット部と、
前記感知電流を感知電圧に変換し、前記基準電流を基準電圧に変換する変換部と、
を備え、
前記光感知部は、アクティブレイヤが酸化物で構成される、少なくとも一つの酸化物トランジスタを備え、
前記変換部は、キャパシタを備えず、前記リセット部と接地電圧との間に接続されたトランジスタであり、
前記変換部のトランジスタは、ゲートに印加されるバイアス電圧によって前記リセット部と連結されるノードの電圧を制御するイメージセンサー。 - 前記ピクセルは、セット信号に基づいて、前記感知電流を前記変換部に伝達する伝達部をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載のイメージセンサー。
- 前記ピクセルは、
前記感知電圧を増幅して感知信号を生成し、前記基準電圧を増幅して基準信号を生成する増幅部と、
選択信号に基づいて、前記感知信号及び前記基準信号を出力する選択部と、
をさらに備えることを特徴とする請求項2に記載のイメージセンサー。 - 前記セット信号、前記リセット信号及び前記選択信号を前記ピクセルに提供するロードライバと、
前記感知信号及び前記基準信号に基づいて光検出信号を生成する光検出信号生成部と、
前記光検出信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換部と、
をさらに備えることを特徴とする請求項3に記載のイメージセンサー。 - 前記光検出信号生成部は、
前記感知信号を感知電圧信号に変換し、前記基準信号を基準電圧信号に変換する第2変換部と、
リセットサンプリング信号に基づいて前記基準電圧信号をサンプリングして基準出力信号を生成し、セットサンプリング信号に基づいて前記感知電圧信号をサンプリングして感知出力信号を生成するサンプリング回路と、
前記基準出力信号と前記感知出力信号との差を増幅して前記光検出信号を生成する増幅器と、
を備えることを特徴とする請求項4に記載のイメージセンサー。 - 前記光検出信号生成部は、前記光検出信号をラッチするラッチをさらに備えることを特徴とする請求項5に記載のイメージセンサー。
- 前記ピクセルは複数のピクセルであり、
前記複数のピクセルのうち少なくとも2つは、前記リセット部、前記変換部、前記増幅部及び前記選択部のうち少なくとも1つを共有することを特徴とする請求項3に記載のイメージセンサー。 - 前記ピクセルは、選択信号に基づいて、前記感知電圧を感知信号に出力し、前記基準電圧を基準信号に出力する選択部をさらに備える請求項2に記載のイメージセンサー。
- 前記セット信号、前記リセット信号及び前記選択信号を前記ピクセルに提供するロードライバと、
前記感知信号及び前記基準信号に基づいて光検出信号を生成する光検出信号生成部と、
前記光検出信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換部と、
をさらに備えることを特徴とする請求項8に記載のイメージセンサー。 - 前記光検出信号生成部は、
リセットサンプリング信号に基づいて、前記基準信号をサンプリングして基準出力信号を生成し、セットサンプリング信号に基づいて、前記感知信号をサンプリングして感知出力信号を生成するサンプリング回路と、
前記基準出力信号と前記感知出力信号との差を増幅して、前記光検出信号を生成する増幅器と、
を備えることを特徴とする請求項9に記載のイメージセンサー。 - 前記ピクセルは複数のピクセルであり、
前記複数のピクセルのうち少なくとも2つは、前記リセット部、前記変換部及び前記選択部のうち少なくとも1つを共有することを特徴とする請求項8に記載のイメージセンサー。 - 前記変換部は、前記伝達部及び前記リセット部のうち少なくとも一つの出力に基づいてスイッチングされるスイッチ素子を含むことを特徴とする請求項2に記載のイメージセンサー。
- 前記変換部は、バイアス電圧に基づいてスイッチングされるスイッチ素子を含むことを特徴とする請求項1に記載のイメージセンサー。
- 前記光感知部は、酸化物トランジスタ及び酸化物ダイオードのうち少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1に記載のイメージセンサー。
- 前記酸化物トランジスタ及び前記酸化物ダイオードのうち少なくとも1つは、ZnO、TiO2のうち少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項14に記載のイメージセンサー。
- ピクセルを備え、
前記ピクセルは、
光感知部であって、前記光感知部の電圧−電流特性は、入射光のエネルギーに基づいて変化し、前記電圧−電流特性に基づいて感知電流を生成する光感知部と、
リセット信号に基づいて基準電流を生成するリセット部と、
選択信号に基づいて、前記感知電流を感知信号に出力する選択部と、
前記感知電流を感知電圧に変換し、前記基準電流を基準電圧に変換する変換部と、
を備え、
前記光感知部は、アクティブレイヤが酸化物で構成される、少なくとも一つの酸化物トランジスタを備え、
前記変換部は、キャパシタを備えず、前記リセット部と接地電圧との間に接続されたトランジスタであり、
前記変換部のトランジスタは、ゲートに印加されるバイアス電圧によって前記リセット部と連結されるノードの電圧を制御するイメージセンサー。 - 前記選択部は、前記感知電流を前記感知信号に出力し、前記基準電流を基準信号に出力することを特徴とする請求項16に記載のイメージセンサー。
- 前記ピクセルは、セット信号に基づいて、前記感知電流を前記選択部に提供する伝達部をさらに備えることを特徴とする請求項17に記載のイメージセンサー。
- 前記セット信号、前記リセット信号及び前記選択信号のうち少なくとも1つを前記ピクセルに提供するロードライバと、
前記感知信号及び前記基準信号に基づいて光検出信号を生成する光検出信号生成部と、
前記光検出信号をデジタル信号に変換するアナログ・デジタル変換部と、
をさらに備えることを特徴とする請求項18に記載のイメージセンサー。 - 前記光検出信号生成部は、
前記感知信号を感知電圧信号に変換し、前記基準信号を基準電圧信号に変換する変換部と、
リセットサンプリング信号に基づいて、前記基準電圧信号をサンプリングして基準出力信号を生成し、セットサンプリング信号に基づいて、前記感知電圧信号をサンプリングして感知出力信号を生成するサンプリング回路と、
前記基準出力信号と前記感知出力信号との差を増幅して、前記光検出信号を生成する増幅器と、
を備えることを特徴とする請求項19に記載のイメージセンサー。 - 前記ピクセルは複数のピクセルであり、
前記複数のピクセルのうち少なくとも2つは、前記リセット部及び前記選択部のうち少なくとも1つを共有することを特徴とする請求項17に記載のイメージセンサー。 - 前記光感知部は、酸化物トランジスタ及び酸化物ダイオードのうち少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項16に記載のイメージセンサー。
- 請求項1のイメージセンサーの動作方法であって、
光感知部上に入射される光のエネルギーに基づいて、ピクセルの光感知部で感知電流を生成する段階であって、前記光感知部の電圧−電流特性は、前記入射される光のエネルギーに基づいて変化される段階と、
リセット信号に基づいて前記ピクセルで基準電流を生成する段階と、
を含み、
前記光感知部は、アクティブレイヤが酸化物で構成される、少なくとも一つの酸化物トランジスタを備えるイメージセンサーの動作方法。 - 選択信号に基づいて、前記ピクセルから前記感知電流及び前記基準電流を出力する段階をさらに含むことを特徴とする請求項23に記載のイメージセンサーの動作方法。
- 前記感知電流及び前記基準電流に基づいて光検出信号を生成する段階と、
前記生成された光検出信号をデジタル信号に変換する段階
をさらに含むことを特徴とする請求項24に記載のイメージセンサーの動作方法。 - 前記感知電流を感知電圧に変換し、前記基準電流を基準電圧に変換する段階と、
選択信号に基づいて、前記ピクセルから前記感知電圧及び前記基準電圧を出力する段階
をさらに含むことを特徴とする請求項23に記載のイメージセンサーの動作方法。 - 前記感知電圧と前記基準電圧との差に基づいて光検出信号を生成する段階と、
前記生成された光検出信号をデジタル信号に変換する段階と、
をさらに含むことを特徴とする請求項26に記載のイメージセンサーの動作方法。 - 前記感知電流を感知電圧に変換し、前記基準電流を基準電圧に変換する段階と、
前記感知電圧を増幅して感知信号を生成し、前記基準電圧を増幅して基準信号を生成する段階と、
選択信号に基づいて、前記ピクセルから前記感知信号及び前記基準信号に出力する段階
をさらに含むことを特徴とする請求項23に記載のイメージセンサーの動作方法。 - 前記感知信号と前記基準信号との差に基づいて光検出信号を生成する段階と、
前記生成された光検出信号をデジタル信号に変換する段階と、
をさらに含むことを特徴とする請求項28に記載のイメージセンサーの動作方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2009-0108660 | 2009-11-11 | ||
KR1020090108660A KR101696410B1 (ko) | 2009-11-11 | 2009-11-11 | 이미지 센서 및 그 동작 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011103651A JP2011103651A (ja) | 2011-05-26 |
JP5697236B2 true JP5697236B2 (ja) | 2015-04-08 |
Family
ID=43973446
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010247373A Active JP5697236B2 (ja) | 2009-11-11 | 2010-11-04 | イメージセンサー及びその動作方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9118795B2 (ja) |
JP (1) | JP5697236B2 (ja) |
KR (1) | KR101696410B1 (ja) |
CN (1) | CN102065247B (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI434271B (zh) * | 2011-08-03 | 2014-04-11 | Au Optronics Corp | 可擷取影像之顯示面板 |
TWI486563B (zh) * | 2012-08-16 | 2015-06-01 | E Ink Holdings Inc | 光感測器及其光電晶體的驅動方法 |
WO2014030551A1 (ja) * | 2012-08-23 | 2014-02-27 | ソニー株式会社 | 電流/電圧変換回路及び撮像装置 |
KR20140047494A (ko) * | 2012-10-12 | 2014-04-22 | 삼성전자주식회사 | 서브픽셀, 이를 포함하는 이미지 센서, 및 이미지 센싱 시스템 |
US11064142B1 (en) | 2013-09-11 | 2021-07-13 | Varex Imaging Corporation | Imaging system with a digital conversion circuit for generating a digital correlated signal sample and related imaging method |
JP6321182B2 (ja) | 2013-09-11 | 2018-05-09 | ヴァレックス イメージング コーポレイション | 一定の電圧でバイアスされたフォトダイオードを有する画素回路及び関連する撮像方法 |
TWI543183B (zh) * | 2014-12-25 | 2016-07-21 | 群聯電子股份有限公司 | 資料取樣電路模組、資料取樣方法及記憶體儲存裝置 |
JP6814429B2 (ja) * | 2015-08-10 | 2021-01-20 | 天馬微電子有限公司 | 光センサ素子及び光電変換装置 |
US9741290B1 (en) * | 2016-06-30 | 2017-08-22 | Secugen Corporation | Multi-mode display |
CN107093417B (zh) * | 2017-07-03 | 2020-06-16 | 京东方科技集团股份有限公司 | 感光电路及其驱动方法、电子装置 |
CN108061599B (zh) * | 2018-01-03 | 2020-03-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 光检测电路及其检测方法、光检测装置 |
CN108519151B (zh) * | 2018-03-23 | 2020-05-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 光检测电路、光检测方法和光检测装置 |
KR102686300B1 (ko) * | 2019-07-23 | 2024-07-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치의 열화 보상 방법 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3774499B2 (ja) * | 1996-01-24 | 2006-05-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
JP3064982B2 (ja) * | 1997-08-29 | 2000-07-12 | エヌティティエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
JP2000083198A (ja) | 1998-09-04 | 2000-03-21 | Honda Motor Co Ltd | 光センサ回路およびこれを用いたイメージセンサ |
JP4178702B2 (ja) * | 1999-12-28 | 2008-11-12 | ソニー株式会社 | 差動増幅器、コンパレータ、及びa/dコンバータ |
US6541754B2 (en) | 2000-07-05 | 2003-04-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for measuring photoelectric conversion characteristics of photoelectric conversion device |
JP4183990B2 (ja) * | 2002-07-11 | 2008-11-19 | シャープ株式会社 | 薄膜フォトトランジスタ及びそれを用いたアクティブマトリクス基板並びにそれを用いた画像読み取り装置。 |
WO2004027879A2 (en) * | 2002-09-19 | 2004-04-01 | Quantum Semiconductor Llc | Light-sensing device |
US7067843B2 (en) * | 2002-10-11 | 2006-06-27 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Transparent oxide semiconductor thin film transistors |
US7372493B2 (en) * | 2004-07-12 | 2008-05-13 | Micron Technology, Inc. | Column-wise clamp voltage driver for suppression of noise in an imager |
JP4459098B2 (ja) * | 2005-03-18 | 2010-04-28 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及びカメラ |
JP4420402B2 (ja) | 2005-12-01 | 2010-02-24 | 本田技研工業株式会社 | 光センサ回路およびイメージセンサ |
JP5369366B2 (ja) | 2006-02-16 | 2013-12-18 | ソニー株式会社 | 光電変換素子、半導体装置および電子機器 |
US7663165B2 (en) * | 2006-08-31 | 2010-02-16 | Aptina Imaging Corporation | Transparent-channel thin-film transistor-based pixels for high-performance image sensors |
US20080070340A1 (en) | 2006-09-14 | 2008-03-20 | Nicholas Francis Borrelli | Image sensor using thin-film SOI |
JP4650445B2 (ja) * | 2007-04-02 | 2011-03-16 | ソニー株式会社 | クランプ信号生成装置およびクランプ信号生成方法 |
JP4935486B2 (ja) * | 2007-04-23 | 2012-05-23 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、固体撮像装置の信号処理方法および撮像装置 |
KR100884887B1 (ko) | 2007-05-28 | 2009-02-23 | 광주과학기술원 | 반도체 양자점을 이용한 비휘발성 메모리 소자 |
KR20090046179A (ko) | 2007-11-05 | 2009-05-11 | 주식회사 동부하이텍 | 투명 박막 트랜지스터, 이미지 센서 및 투명 박막트랜지스터의 제조 방법 |
JP5121478B2 (ja) * | 2008-01-31 | 2013-01-16 | 株式会社ジャパンディスプレイウェスト | 光センサー素子、撮像装置、電子機器、およびメモリー素子 |
-
2009
- 2009-11-11 KR KR1020090108660A patent/KR101696410B1/ko active IP Right Grant
-
2010
- 2010-08-17 US US12/805,723 patent/US9118795B2/en active Active
- 2010-10-27 CN CN201010525974.3A patent/CN102065247B/zh active Active
- 2010-11-04 JP JP2010247373A patent/JP5697236B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102065247B (zh) | 2015-07-22 |
KR20110051859A (ko) | 2011-05-18 |
KR101696410B1 (ko) | 2017-01-16 |
US9118795B2 (en) | 2015-08-25 |
CN102065247A (zh) | 2011-05-18 |
JP2011103651A (ja) | 2011-05-26 |
US20110108704A1 (en) | 2011-05-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5697236B2 (ja) | イメージセンサー及びその動作方法 | |
TWI478578B (zh) | 固態影像拾取器件、驅動其之方法、用於其之信號處理方法、以及影像拾取裝置 | |
US11303857B2 (en) | Imaging device including pixel array and addition circuit | |
US8493489B2 (en) | Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus | |
KR101900273B1 (ko) | 시모스 이미지 센서 | |
US9648267B2 (en) | Image sensor and control method for image sensor | |
US11323639B2 (en) | Image sensor and operation method thereof | |
US7157683B2 (en) | Method, apparatus and system providing configurable current source device for image sensors | |
JP6351423B2 (ja) | 撮像装置及び撮像システム | |
KR102502955B1 (ko) | 단위 픽셀 및 그 동작 방법과 그를 이용한 씨모스 이미지 센서 | |
US20160360132A1 (en) | Imaging device including pixels | |
KR20210107957A (ko) | 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 장치 | |
KR102017713B1 (ko) | 시모스 이미지 센서 | |
TWI525307B (zh) | 用於影像感測器之感光單元及其感光電路 | |
US9807329B2 (en) | Imaging device and imaging system | |
KR102244616B1 (ko) | 채널 편차를 감소시키는 이미지 센서 및 이를 포함하는 이미지 처리 시스템 | |
KR20110050063A (ko) | 픽셀과 이를 포함하는 이미지 처리 장치들 | |
US11665445B2 (en) | Image sensing device for cancelling a horizontal banding noise | |
KR20180007716A (ko) | 픽셀 신호 리드아웃 장치 및 그 방법과 그를 이용한 씨모스 이미지 센서 | |
US20140103191A1 (en) | Sensing methods for image sensors | |
JP4198047B2 (ja) | 光検出装置、固体撮像装置およびカメラシステム | |
US20240259713A1 (en) | Comparator and image sensor including the same | |
JP4618170B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
US20220345657A1 (en) | Analog-to-digital converter for separately applying a bias voltage depending on an operation mode, and an image sensor including the same | |
TW201041382A (en) | Image sensor and low noise pixel readout circuit with high conversion gain |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131021 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140410 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140513 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140812 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140909 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141209 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20141226 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150113 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150209 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5697236 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |