JP5528193B2 - Component mounting apparatus and method for identifying cause of reduction in production throughput - Google Patents
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Description
本発明は、チップマウンタなどの部品を基板に実装する部品実装装置に関し、特に、その生産スループットの低下を特定する技術に関する。 The present invention relates to a component mounting apparatus for mounting a component such as a chip mounter on a substrate, and more particularly to a technique for specifying a decrease in production throughput.
電子部品を回路基板に装着する部品実装装置では、部品供給装置のフィーダに保持されている部品を、装着ヘッドの吸着ノズルで吸着して、回路基板の所定の位置に搬送して装着している。 In a component mounting apparatus that mounts an electronic component on a circuit board, the component held by the feeder of the component supply apparatus is sucked by the suction nozzle of the mounting head, and is transported and mounted at a predetermined position on the circuit board. .
このような部品実装装置では、部品が装着された回路基板を生産する速さである生産スループットを高く保つことが重要である。そのため生産スループット低下時には、その低下原因を特定して対策することが必要になる。 In such a component mounting apparatus, it is important to maintain a high production throughput, which is the speed of producing a circuit board on which components are mounted. For this reason, when the production throughput decreases, it is necessary to identify the cause of the decrease and take countermeasures.
生産スループット低下の要因として、部品実装装置の各部位の動作異常が挙げられる。例えば、部品実装装置は部品を吸着ノズルで吸着した後に、部品を吸着した吸着ノズルをセンサにて計測し、部品の姿勢の異常を判定する。そして、部品の姿勢に異常がある場合は、部品の再吸着動作と部品の廃棄動作とを行う。そのため、その廃棄と再吸着動作の分だけ生産スループットは低下する。 As a factor of a decrease in production throughput, there is an abnormal operation of each part of the component mounting apparatus. For example, after the component mounting apparatus sucks the component with the suction nozzle, the suction nozzle that sucks the component is measured by a sensor to determine whether the posture of the component is abnormal. When there is an abnormality in the posture of the component, the component re-adsorption operation and the component disposal operation are performed. Therefore, the production throughput is reduced by the amount of the discarding and re-adsorption operations.
生産スループットを低下させる動作異常として、前述の姿勢判定の例のように追加の動作を部品実装装置が実行することや、部品実装装置の実行する動作が想定された速さに達しない場合が挙げられる。 As an operation abnormality that reduces the production throughput, there are cases where the component mounting apparatus executes an additional operation as in the above-described posture determination example, or the operation performed by the component mounting apparatus does not reach the assumed speed. It is done.
したがって、部品実装装置の生産スループットが低下した場合には、その低下の要因となっている動作異常の原因を特定し、対策することが必要である。 Therefore, when the production throughput of the component mounting apparatus decreases, it is necessary to identify the cause of the abnormal operation that causes the decrease and take countermeasures.
このような部品実装装置において、部品を回路基板に装着する速さを測定しその速さから、部品実装装置の生産スループット低下の原因を特定する方法が知られている[例えば、特許第3583121号公報(特許文献1)参照]。 In such a component mounting apparatus, a method is known in which the speed of mounting a component on a circuit board is measured and the cause of a decrease in production throughput of the component mounting apparatus is identified from the speed [for example, Japanese Patent No. 3583121 Gazette (patent document 1)].
しかしながら、特許文献1に記載された方法では、生産スループット低下の継続性を判定することができない。また、特定した原因の確からしさに応じて対策の必要性を判定することができない。
However, the method described in
部品実装装置の生産スループット低下に対策するためには、部品実装装置の生産を停止することが必要になるため、生産スループット低下が一時的なものであれば、対策をしない方が生産スループットを高く保つことができる。 Since it is necessary to stop the production of the component mounting equipment in order to cope with the reduction in the production throughput of the component mounting apparatus, if the decrease in the production throughput is temporary, the production throughput should be increased without taking countermeasures. Can keep.
また、誤った原因について対策を実行してしまうと、対策しても生産スループットを高めることができず、対策のために部品実装装置を停止させた分だけ生産スループットが低下してしまうため、特定した原因の確からしさが低い場合には、対策しない方が生産スループットを高く保つことができる。 Also, if countermeasures are taken for the wrong cause, the production throughput cannot be increased even if the countermeasures are taken, and the production throughput is reduced by the amount that the component mounting equipment is stopped for countermeasures. If the probability of the cause is low, it is possible to keep the production throughput high without taking measures.
そこで、本発明の目的は、生産スループット低下の継続性を判定し、生産スループット低下の原因とその原因の確からしさを表す確率を算出し、生産スループット低下が継続し、かつ確率の値が大きい場合に、生産スループット低下の原因と対策を提示することができる部品実装装置およびその生産スループット低下原因特定方法を提供することにある。 Therefore, the object of the present invention is to determine the continuity of a decrease in production throughput, calculate the probability that indicates the cause of the decrease in production throughput and the probability of the cause, the decrease in production throughput continues, and the probability value is large It is another object of the present invention to provide a component mounting apparatus capable of presenting a cause and a countermeasure for a decrease in production throughput and a method for identifying the cause of the decrease in production throughput.
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。 The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次の通りである。 Of the inventions disclosed in the present application, the outline of typical ones will be briefly described as follows.
すなわち、代表的なものの概要は、部品を吸着し基板に装着する装着装置の状態を計測する計測装置の計測結果に基づいて、部品実装装置の動作に生産スループットを低下させる動作が発生したか否かを判定し、生産スループットを低下させる動作が発生した場合に、その発生時刻を記憶部に記憶させる演算装置を備え、演算装置は、記憶部に記憶された発生時刻の情報に基づいて、発生間隔を算出し、発生間隔の情報に基づいて、生産スループットの低下が継続するか否かを判定し、生産スループットの低下が継続すると判定した場合に、部品実装装置の動作に生産スループットを低下させる動作が発生したことを出力するものである。 That is, the outline of a typical one is whether or not an operation that reduces the production throughput has occurred in the operation of the component mounting apparatus based on the measurement result of the measuring apparatus that measures the state of the mounting apparatus that sucks and mounts the component on the board. And an operation device that stores the generation time in the storage unit when an operation that lowers the production throughput occurs, the calculation device generates the occurrence based on the information on the generation time stored in the storage unit. Calculate the interval, determine whether or not the decrease in production throughput continues based on the occurrence interval information, and reduce the production throughput to the operation of the component mounting apparatus when it is determined that the decrease in production throughput continues Outputs that an operation has occurred.
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下の通りである。 The effects obtained by typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.
すなわち、代表的なものによって得られる効果は、部品実装装置の生産スループットの低下が継続し、かつ生産スループット低下の原因が特定できた場合に、部品実装装置に対策を施すことができるため、不必要な対策によって部品実装装置の生産スループットを低下させることなく部品実装装置を運用可能となる。 In other words, the effect obtained by a typical one is not effective because the component mounting apparatus can take measures when the decrease in production throughput of the component mounting apparatus continues and the cause of the decrease in production throughput can be identified. The component mounting apparatus can be operated without reducing the production throughput of the component mounting apparatus due to necessary measures.
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that components having the same function are denoted by the same reference symbols throughout the drawings for describing the embodiment, and the repetitive description thereof will be omitted.
図1〜図6により、本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の構成について説明する。図1は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の全体構成を示す構成図、図2は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置のフィーダベース、ヘッドおよびビームの構成を示す上面図、図3は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置のヘッドの構成を示す下面図、図4は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の計測装置が取得した画像の一例を示す図、図5は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の装着情報テーブルの一例を示す図、図6は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の姿勢判定情報テーブルの一例を示す図である。 A configuration of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a configuration diagram showing an overall configuration of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an upper surface showing configurations of a feeder base, a head, and a beam of the component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention. 3 is a bottom view showing the configuration of the head of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 4 is an example of an image acquired by the measuring apparatus of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 5 is a diagram showing an example of a mounting information table of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is an attitude determination information table of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention. It is a figure which shows an example.
図1において、部品実装装置100は、供給装置110と、装着装置120と、計測装置130と、全体制御装置140と、演算装置150と、入力部170と、出力部171と、IF部172とを備え、これらはバス173を介して相互に接続されている。
In FIG. 1, the
供給装置110は、フィーダベース111と、IF部112とを備えている。
The
フィーダベース111は、図2に示すように、複数のフィーダ111aが配置されている。
As shown in FIG. 2, the
フィーダ111aは、後述する全体制御装置140の指示に応じて、フィーダ111aの保持している部品が、後述する吸着ノズル123に吸着された場合に、保持している残りの部品を吸着ノズル123の吸着可能な位置にまで搬送する。
In response to an instruction from the
IF部112は、バス173を介して情報の送受信を行うためのインタフェースである。
The
装着装置120は、ヘッド121と、ビーム122と、吸着ノズル123と、駆動制御部124と、IF部125とを備えている。
The
ヘッド121は、図2に示すように、ビーム122に沿って、1つの座標軸方向(図2では、X方向)に移動させることができるようにされている。
As shown in FIG. 2, the
ビーム122は、図2に示すように、ガイド122aに沿って、ヘッド121が移動する座標軸方向と交差する他の座標軸方向(図2では、Y方向)に移動することができるようにされている。
As shown in FIG. 2, the
吸着ノズル123は、図3に示すように、ヘッド121の下面にあるヘッド回転部121aに、円状に複数個配置されており、ヘッド回転部121aを回転させることにより、吸着ノズル123の位置を変えることができるようにされている。
As shown in FIG. 3, a plurality of
また、吸着ノズル123は、X方向およびY方向に交差する方向に上下できるようにされている。
Further, the
そして、ヘッド121およびビーム122をX方向およびY方向に移動させ、ヘッド回転部121aを回転させ、吸着ノズル123をX方向およびY方向に交差する方向に上下させることにより、予め定められた吸着ノズル123で、フィーダベース111に搭載されているフィーダ111aより部品を吸着し、基板180の予め定められた位置に部品を装着できるようにされている。
Then, the
駆動制御部124は、後述する全体制御装置140からの指示に応じて、後述する装着情報テーブル142aで特定される装着順序および装着位置に部品を装着するよう、ヘッド121、ヘッド回転部121a、ビーム122および吸着ノズル123を制御する。
In response to an instruction from the
また、駆動制御部124は、吸着ノズル123で部品を吸着するよう制御した際に、部品を吸着したことを示す吸着情報を、IF部125を介して、全体制御装置140に送信する処理を行う。
In addition, when the
IF部125は、バス173を介して情報の送受信を行うためのインタフェースである。
The
計測装置130は、光源131と、センサ132と、IF部133とを備えている。
The
光源131は、吸着ノズル123が部品を吸着した後に、後述のセンサ132の方向に向けて、吸着ノズル123に光を照射する。光源131も前述のヘッド回転部121aの回転時に、吸着ノズル123と同じ角度だけ回転する。
The
光源131自体が、吸着ノズル123と同じ角度で回転しているため、光源131の表面のある特定の部分は、常に特定の吸着ノズル123に対応している。
Since the
センサ132は、光源131が照射した光を検出し、図4に示すような、部品を吸着した吸着ノズル123の画像を取得する。図4において着色された部分が、吸着ノズル123、部品、光源131またはセンサ132の傷や汚れによって照射した光が遮られた部分となる。
The
なお、光源131と吸着ノズル123はヘッド回転部121aの回転時に同じ角度だけ回転しているため、例えば、光源131の表面に傷や汚れがある場合は、ヘッド回転部121aの中心から見て光源131の傷や汚れのある角度と撮像される吸着ノズル123が同じ角度にある時のみ、汚れや傷が撮像される。
Since the
そして、センサ132は、取得した画像を演算装置150に出力する。
Then, the
IF部133は、バス173を介して情報の送受信を行うためのインタフェースである。
The
全体制御装置140は、記憶部141と、全体制御部144と、IF部145とを備えている。
The
記憶部141は、装着情報記憶領域142と、姿勢判定情報記憶領域143とを備えている。装着情報記憶領域142には、部品の装着順序および吸着順序と、部品を基板に装着する位置と、部品の供給位置とを特定する装着情報が記憶される。例えば、本実施の形態においては、図5に示すような装着情報テーブル142aが記憶されている。
The
図5に示すように、装着情報テーブル142aは、順序フィールド142bと、部品装着座標フィールド142cと、フィーダ番号フィールド142dとを有する。
As shown in FIG. 5, the mounting information table 142a has an
順序フィールド142bには、部品の装着順序と、部品の吸着順序とを特定する情報が格納される。ここで、本実施の形態においては、部品の装着順序および吸着順序が同じになるようにしているが、これらが別々の順番になるようにしてもよい。
The
部品装着座標フィールド142cには、フィーダ番号フィールド142dで特定されるフィーダ111aのフィーダベース111における搭載位置から吸着される部品を、基板180に装着する位置を特定する情報が格納される。
The component mounting coordinate
フィーダ番号フィールド142dには、順序フィールド142bで特定される順序において、部品装着座標フィールド142cで特定される座標に装着される部品を保持するフィーダ111aのフィーダベース111における搭載位置を特定する情報が格納される。
The
ここで、本実施の形態においては、フィーダベース111における搭載位置を特定する情報として、フィーダベース111における搭載位置を一意に識別するための識別情報であるフィーダ番号が格納される。
Here, in the present embodiment, a feeder number that is identification information for uniquely identifying the mounting position on the
姿勢判定情報記憶領域143には、吸着ノズル123が吸着した部品の姿勢の良否を判定するための情報が格納される。例えば、本実施の形態においては、図6に示すような姿勢判定情報テーブル143aが記憶されている。
The posture determination
図6に示すように、姿勢判定情報テーブル143aは、姿勢判定フィールド143bを有する。
As shown in FIG. 6, the posture determination information table 143a has a
姿勢判定フィールド143bには、吸着ノズル123が吸着した部品の姿勢の良否を判定するための情報が格納される。センサ132が撮像した部品を吸着した吸着ノズル123の画像の、画像上面から画像下面までの距離が、姿勢判定フィールド143bに格納された値よりも大きい場合、部品の姿勢は悪いと判定される。
The
全体制御部144は、供給装置110、装着装置120、計測装置130、演算装置150、入力部170、出力部171およびIF部172で行う処理を制御する。
The
例えば、全体制御部144は、供給装置110および装着装置120に対して、装着情報テーブル142aで特定される順序および装着座標に部品が装着されるように必要な指示を出力する。
For example, the
また、全体制御部144は、吸着ノズル123が部品を吸着した後に、部品を吸着した吸着ノズル123の画像を計測するように、計測装置130に必要な指示を出力する。
In addition, the
IF部145は、バス173を介して情報の送受信を行うためのインタフェースである。
The
また、入力部170は、情報の入力を受け付けるための入力装置であって、例えば、マウスやキーボードなどによって構成することができる。
The
出力部171は、情報を出力する出力装置であって、例えば、ディスプレイなどによって構成することができる。
The
IF部172は、ネットワークを介して、他の装置と情報の送受信を行うためのインタフェースである。
The
バス173は、供給装置110、装着装置120、計測装置130、全体制御装置140、演算装置150、入力部170、出力部171およびIF部172を連結する通信路である。
The
次に、図7〜図13により、本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の演算装置の構成について説明する。図7は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の演算装置の構成を示す構成図、図8〜図13は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の演算装置の各テーブルの一例を示す図であり、図8は要因情報テーブルの一例、図9は計測値情報テーブルの一例、図10は閾値情報テーブルの一例、図11は係数情報テーブルの一例、図12は確率情報テーブル、図13は判定区間情報テーブルの一例を示している。 Next, the configuration of the arithmetic unit of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of the arithmetic unit of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIGS. 8 to 13 show the tables of the arithmetic unit of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 8 is an example of a factor information table, FIG. 9 is an example of a measurement value information table, FIG. 10 is an example of a threshold information table, FIG. 11 is an example of a coefficient information table, and FIG. 12 is a probability information table. FIG. 13 shows an example of the determination section information table.
図7において、演算装置150は、記憶部151と、制御部160と、入力部161と、出力部162と、IF部163とを備えている。
In FIG. 7, the
記憶部151は、要因情報記憶領域152と、計測値情報記憶領域153と、閾値情報記憶領域154と、係数情報記憶領域155と、確率情報記憶領域156と、判定区間情報記憶領域157とを備えている。
The
要因情報記憶領域152には、部品実装装置100に発生した生産スループット低下要因の発生の時刻を特定する情報が格納される。例えば、本実施の形態においては図8に示すような要因情報テーブル152aが記憶されている。
The factor
図8に示すように、要因情報テーブル152aは、要因発生時刻フィールド152bを有している。
As shown in FIG. 8, the factor information table 152a has a factor
要因発生時刻フィールド152bには、部品実装装置100に発生した生産スループット低下要因の発生時刻を特定する情報が格納される。
The factor
計測値情報記憶領域153には、計測装置130の計測値を特定する情報が格納される。例えば、本実施の形態においては、図9に示すような計測値情報テーブル153aが記憶されている。
In the measurement value
図9に示すように、計測値情報テーブル153aは、計測値フィールド153bを有している。計測値フィールド153bには、計測装置130の計測値を特定する情報が格納される。
As shown in FIG. 9, the measurement value information table 153a has a
閾値情報記憶領域154には、後述する図17に示すフローチャートにて判定に用いられる値を特定する情報が格納される。例えば、本実施の形態においては、図10に示すような閾値情報テーブル154aが記憶されている。
The threshold
図10に示すように、閾値情報テーブル154aは、閾値回数フィールド154bと、閾値平均フィールド154cと、閾値確率フィールド154dと、閾値確率回数フィールド154eと、回数2フィールド154fとを有している。
As shown in FIG. 10, the threshold information table 154a has a
閾値回数フィールド154bと、閾値平均フィールド154cと、閾値確率フィールド154dと、閾値確率回数フィールド154eと、回数2フィールド154fとには、部品実装装置100の設計者やユーザによって定められた値を特定する情報が各々格納される。回数2フィールド154fには、例えば、閾値回数フィールド154bの値の2倍程度の値が格納される。
The
係数情報記憶領域155には、後述する図17に示すフローチャートにて確率の計算に用いられる値を特定する情報が格納される。例えば、本実施の形態においては、図11に示すような係数情報テーブル155aが記憶されている。
The coefficient
図11に示すように、係数情報テーブル155aは、係数aフィールド155bと、係数bフィールド155cとを有している。
As shown in FIG. 11, the coefficient information table 155a has a coefficient a
係数aフィールド155bと、係数bフィールド155cとには、部品実装装置100の設計者やユーザによって定められた値を特定する情報が各々格納される。
In the coefficient a
確率情報記憶領域156には、後述する図17に示すフローチャートにて算出された確率の値を特定する情報が格納される。例えば、本実施の形態においては、図12に示すような確率情報テーブル156aが記憶されている。
The probability
図12に示すように、確率情報テーブル156aは、光源フィールド156bと、吸着ノズルフィールド156cと、センサフィールド156dとを有している。
As shown in FIG. 12, the probability information table 156a has a
光源フィールド156bと、吸着ノズルフィールド156cと、センサフィールド156dとには、後述する図17に示すフローチャートにて算出された、生産スループット低下の原因が光源131なのか、吸着ノズル123なのか、センサ132なのかを特定するための確率の情報が格納される。
In the
判定区間情報記憶領域157には、後述する図17に示すフローチャートにて要因発生回数と要因発生間隔の平均を算出する時間を特定する情報が格納される。例えば、本実施の形態においては図13に示すような判定区間情報テーブル157aが記憶されている。
The determination section
図13に示すように、判定区間情報テーブル157aは、判定区間フィールド157bを有している。
As illustrated in FIG. 13, the determination section information table 157a includes a
判定区間フィールド157bには、後述する図17に示すフローチャートにて、要因発生回数と要因発生間隔の平均を対象とする時間を特定する情報が格納される。例えば、1分という情報が格納された場合は、現在時刻から1分前までの時刻までの間に記憶された要因情報について、要因発生回数と要因発生間隔の平均を算出することになる。
In the
制御部160は、演算装置150での処理の全体を制御しており、以下の各処理を行っている。
・部品実装装置100に生産スループットを低下させる要因が発生した場合に、要因情報テーブル152aに情報を格納し、更新する処理を行う。
・計測装置130と姿勢判定情報テーブル143aから必要な情報を取得して、吸着ノズル123が吸着した部品の姿勢の良否を判定し、計測値情報テーブル153aに情報を格納し、更新する処理を行う。
・要因情報テーブル152aに格納されている情報と閾値情報テーブル154aに格納されている情報により、生産スループット低下が継続するか否かを判定する処理を行う。
・計測値情報テーブル153aに格納されている情報と係数情報テーブル155aに格納されている情報とにより、生産スループット低下の原因が吸着ノズル123にある確率と生産スループット低下の原因が計測装置130にある確率の値とを算出し、確率情報テーブル156aに情報を格納し、更新する処理を行う。
・確率情報テーブル156aに格納されている情報と要因情報テーブル152aに格納されている情報と閾値情報テーブル154aに格納されている情報とにより、生産スループット低下の原因を示す情報を出力部162または出力部171に出力する処理を行う。
The
When a factor that lowers the production throughput occurs in the
-Necessary information is acquired from the
A process for determining whether or not a decrease in production throughput continues based on information stored in the factor information table 152a and information stored in the threshold information table 154a is performed.
Based on the information stored in the measurement value information table 153a and the information stored in the coefficient information table 155a, there is a probability that the production throughput decline is caused by the
The information indicating the cause of the decrease in production throughput is output by the
また、入力部161は、情報の入力を受け付け、出力部162は、情報を出力している。また、IF部163は、バス173を介して情報の送受信を行うためのインタフェースである。
The
以上に記載した演算装置150は、例えば、CPU(Central Processing Unit)と、メモリやHDD(Hard Disk Drive)などの記憶媒体と、キーボードやマウスなどの入力装置と、ディスプレイなどの出力装置と、バス173に接続するためのI/F(InterFace)とを備えた一般的なコンピュータで実現することができる。
The
次に、図14〜図21により、本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の演算装置150の処理について説明する。図14は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の演算装置150の処理を示すフローチャートであり、部品の姿勢の良否を判定し、要因情報および計測値情報を更新する処理を示している。
Next, processing of the
図15は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の計測装置が取得した画像と計測値の関係を示す図、図16は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の部品姿勢に異常がある場合に計測装置が取得した画像の一例を示す図、図17は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の演算装置の処理を示すフローチャートであり、部品実装装置の生産スループット低下の継続性を判定し、生産スループット低下の原因の候補について原因となる確率を算出し、生産スループット低下への対策指示を出力する処理を示している。 FIG. 15 is a diagram illustrating a relationship between an image acquired by the measurement device of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention and a measured value, and FIG. 16 illustrates a component posture of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 17 is a flowchart illustrating an example of an image acquired by the measurement apparatus when there is an abnormality. FIG. 17 is a flowchart illustrating processing of the arithmetic unit of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention. In this example, the continuity of the production throughput is determined, the probability of causing the production throughput reduction candidate is calculated, and a countermeasure instruction for the production throughput reduction is output.
図18は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の要因発生間隔を説明するための説明図、図19は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の計測装置に傷や汚れがある場合に計測装置が取得した画像の一例を示す図、図20は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の生産スループット低下継続と判定した場合に、出力部に表示される画像の一例を示す図、図21は本発明の一実施の形態に係る部品実装装置の部品の発注可否を確認する場合に、出力部に表示される画像の一例を示す図である。 FIG. 18 is an explanatory diagram for explaining the factor generation interval of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 19 is a scratch or a stain on the measuring apparatus of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 20 is a diagram illustrating an example of an image acquired by the measurement device in a certain case, and FIG. 20 is an example of an image displayed on the output unit when it is determined that the production throughput of the component mounting device according to the embodiment of the present invention continues to decrease. FIG. 21 is a diagram showing an example of an image displayed on the output unit when confirming whether or not an order for parts of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention is available.
まず、演算装置150の制御部160は、IF部163を介して、計測装置130より吸着ノズル123の画像が送信されると、図14のフローチャートに示す処理を実行する。
First, when the image of the
ステップS10では、制御部160は、図15に示すように、吸着ノズル123の画像のうち吸着ノズル123の画像の上端部から連続する着色部について、吸着ノズル123の画像の上端部から着色部の下端部までの距離L01を算出する。
In step S10, as shown in FIG. 15, the
ステップS11では、制御部160は、計測値L01と、姿勢判定情報テーブル143aの姿勢判定フィールド143bに格納されている情報(判定値L02と呼ぶ)とを比較する。
In step S11, the
例えば、図16に示すように、吸着した部品の姿勢が悪く計測値L01が大きくなり判定値L02よりも大きい場合は、部品が吸着ノズル123に水平に吸着されていないことを意味する。この場合、基板への部品の装着に失敗するため、吸着ノズル123が部品を水平に吸着するように、部品を廃棄し、再度部品を吸着することが必要となる。
For example, as shown in FIG. 16, when the picked-up component has a poor posture and the measured value L01 is larger than the determination value L02, it means that the component is not picked up horizontally by the
そこで、ステップS11で計測値L01が判定値L02よりも大きい場合は、制御部160は、ステップS13およびステップS14を実行する。
Therefore, when the measurement value L01 is larger than the determination value L02 in step S11, the
計測値L01が判定値L02と等しいか、または計測値L01が判定値L02より小さい場合は、制御部160は、ステップS12にて、全体制御装置140に動作継続を指示する。
When the measured value L01 is equal to the determination value L02 or the measured value L01 is smaller than the determination value L02, the
ステップS13では、制御部160は、要因情報テーブル152aの要因発生時刻フィールド152bの最終行に新たに1行追加し、そこに現在の時刻を格納する。これは部品の姿勢が悪いことにより、後述するように部品の再吸着動作および部品の廃棄動作が発生し、その動作の分だけ部品実装装置100の生産スループットが低下するためである。
In step S13, the
なお、本実施の形態では、計測値L01と判定値L02との比較結果により、要因情報テーブル152aの要因発生時刻フィールド152bに現在の時刻を格納しているが、部品実装装置100が、計測値L01以外の情報に基づいて、基板への部品の装着動作をやり直した場合に、その装着動作をやり直した時刻を格納するようにしてもよい。
In the present embodiment, the current time is stored in the factor
制御部160は、このように部品実装装置100の生産スループット低下の要因となる動作異常が発生した場合に、その動作異常の発生時刻を要因情報テーブル152aの要因発生時刻フィールド152bに格納する。
When an operation abnormality that causes a reduction in production throughput of the
なお、ここでは部品の再吸着動作を動作異常として記憶しているが、これ以外の生産スループットを低下させる動作の異常が発生した場合(例えば、ヘッドの移動速度が低下し所定の閾値を下回った場合)も、要因情報テーブル152aの要因発生時刻フィールド152bに現在時刻が記憶される。
Here, the component re-suction operation is stored as an operation abnormality. However, when an operation abnormality that lowers the production throughput occurs (for example, the head moving speed decreases and falls below a predetermined threshold). The current time is stored in the factor
さらに、制御部160は、計測値情報テーブル153aの計測値フィールド153bの最終行に新たに1行追加し、そこに計測値L01の値を格納する。
Further, the
ステップS14では、制御部160は、全体制御装置140に別の部品を吸着していない吸着ノズル123にて、再度部品吸着動作を行うように指示し、姿勢の悪い部品を廃棄するように指示する。
In step S <b> 14, the
ステップS10において、センサ132または光源131に傷や汚れがある場合、図19に示すように、吸着ノズル123が部品を水平に吸着していた場合でも、計測値L01が判定値L02よりも大きくなる。その結果、ステップS11において、部品の吸着に問題がなくても再度部品吸着動作と部品廃棄が行われることになる。
In step S10, when the
そのため、センサ132または光源131の傷や汚れは、生産スループット低下の原因となる。
Therefore, scratches and dirt on the
そこで、演算装置150において、部品実装装置100の生産スループット低下の継続性を判定し、生産スループット低下の原因の候補について原因となる確率を算出し、生産スループット低下への対策指示を出力する処理としては、演算装置150は、IF部163を介して、入力部161または全体制御装置140より、生産スループット低下判定処理の実行命令が送信されると、図17のフローチャートに示す処理を実行する。
Therefore, the
ステップS20では、制御部160は、要因情報テーブル152aの要因発生時刻フィールド152bに記憶された値のうち、現在時刻から判定区間情報テーブル157aの判定区間フィールド157bに記憶された値を引いた時刻よりも大きいものの個数を特定する。
In step S20, the
例えば、現在時刻が「2009/1/22 1:33:00」であり、要因情報テーブル152aの要因発生時刻フィールド152bに記憶された値が「1分」である場合、「2009/1/22 1:32:00」よりも大きな時刻であるデータの個数を特定する。図8に示す例では、5となる。ここで、特定されたデータの個数をd01と呼ぶ。
For example, when the current time is “2009/1/22 1:33:00” and the value stored in the factor
ステップS21では、制御部160は、要因情報テーブル152aの要因発生時刻フィールド152bに記憶された値のうち、現在時刻から判定区間情報テーブル157aの判定区間フィールド157bに記憶された値を時刻よりも大きいものについて、要因発生間隔として、ある要因発生時刻から次の要因発生時刻まで時間を算出し、その要因発生間隔の平均を算出する。
In step S21, the
例えば、現在時刻が「2009/1/22 1:33:00」であり、判定区間情報テーブル157aの判定区間フィールド157bに記憶された値が「1分」である場合、「2009/1/22 1:32:00」よりも大きな時刻のデータが対象となり、その対象となったデータの差分を算出する。
For example, when the current time is “2009/1/22 1:33:00” and the value stored in the
例えば、図18に示すように差分が算出される。図18において、d02_i(i=1、2、・・・n)と記した値が、要因発生間隔である、要因発生時刻と次の要因発生時刻の差分を示している。そして、d02_iから次の(1)式を用いて、要因発生間隔の平均(d02)を算出する。 For example, the difference is calculated as shown in FIG. In FIG. 18, the value d02_i (i = 1, 2,... N) indicates the difference between the factor occurrence time and the next factor occurrence time, which is the factor occurrence interval. Then, the average (d02) of the factor occurrence intervals is calculated from d02_i using the following equation (1).
ここでnはd02_iのデータ総数を表している。 Here, n represents the total number of data of d02_i.
ステップS22では、制御部160は、d01と閾値情報テーブル154aの閾値回数フィールド154bに記憶された値とを比較し、また、d02と閾値情報テーブル154aの閾値平均フィールド154cに記憶された値とを比較し、d01が閾値情報テーブル154aの閾値回数フィールド154bに記憶された値よりも大きく、かつ、d02が閾値情報テーブル154aの閾値平均フィールド154cに記憶された値よりも大きい場合は、生産スループット低下の継続性ありと判定する。
In step S22, the
ここで、d02が閾値情報テーブル154aの閾値平均フィールド154cに記憶された値よりも大きいことは、生産スループット低下要因が、ある一定以上の間隔を保って発生していることを示している。部品実装装置100のようにヘッド121やビーム122や吸着ノズル123や計測装置130がある特定のパターンで繰り返し動作する装置では、ある特定の部位に問題がある場合には、その部位が動作する時ごとに生産スループットを低下させる動作異常が発生する。
Here, the fact that d02 is larger than the value stored in the threshold
例えば、ある特定の吸着ノズル123に問題があり、その吸着ノズル123では部品を傾いて吸着してしまう場合には、その吸着ノズル123が利用される時ごとに、再吸着動作が実施される。そのため、生産スループットを低下させる動作異常は、ある特定の部位が動作する間隔に合わせて、ある一定の間隔を保って発生することになり、生産スループット低下要因の発生間隔は大きくなる。
For example, when there is a problem with a
そこで、生産スループット低下要因の発生間隔の平均が大きければ、特定の部位に問題があるために低下要因が周期的に発生しているとみなし、生産スループット低下要因はその特定の部位が使われるたびに再度発生する、つまり生産スループット低下は継続する、と判定する。 Therefore, if the average of the occurrence intervals of the production throughput reduction factor is large, it is considered that the reduction factor is periodically generated because there is a problem in a specific part, and the production throughput reduction factor is determined every time that specific part is used. It occurs again, that is, it is determined that the decrease in production throughput continues.
また、要因発生回数であるd01を比較する理由は、要因発生間隔の平均であるd02を計算するためのサンプルデータ数を十分大きくするためである。 The reason why the factor occurrence count d01 is compared is to sufficiently increase the number of sample data for calculating d02 which is the average factor occurrence interval.
ステップS22での比較の結果、生産スループット低下の継続性ありと判定した場合には、制御部160はステップS23を実行する。
As a result of the comparison in step S22, when it is determined that there is continuity in the production throughput reduction, the
また、生産スループット低下の継続性ありと判定しなかった場合には、ステップS28では、制御部160は、d01と閾値情報テーブル154aの回数2フィールド154fに記憶された値とを比較し、d01の値が、閾値情報テーブル154aの回数2フィールド154fの値より大きければ、制御部160はステップS23を実行し、d01の値が、閾値情報テーブル154aの回数2フィールド154fの値より大きくなければ、処理を終了する。
If it is not determined that there is continuity in production throughput reduction, in step S28, the
ステップS23では、制御部160は、計測値情報テーブル153aの計測値フィールド153bにおいて1番下の行に記憶される値(d03_1と呼ぶ)と計測値情報テーブル153aの計測値フィールド153bにおいて下から2番目の行に記憶される値(d03_2と呼ぶ)より、次の式(2)にて計測値の差分(d03と呼ぶ)を算出する。
In step S23, the
ステップS24では、制御部160は、生産スループット低下の原因の候補である計測装置130の異常について、生産スループット低下の原因となる確率を、次の式(3)にて算出する。
In step S24, the
ここで、d04は計測装置130の光源131またはセンサ132が原因となっている確率を、aは係数情報テーブル155aの係数aフィールド155bに記憶された値を、bは係数情報テーブル155aの係数bフィールド155cに記憶された値を表している。
Here, d04 is a probability caused by the
上記の式(3)は、d03が係数bフィールド155cに格納された値よりも小さければ小さいほど1に近い値を出力する。光源131またはセンサ132に傷や汚れがある場合、図19に示すように傷や汚れが撮像され、画像上面から傷や汚れの下面までの距離がL01として記憶される。
The above equation (3) outputs a value closer to 1 as d03 is smaller than the value stored in the
傷や汚れの光源131またはセンサ132における位置は変わらないため、傷や汚れがなくなるまでL01としてほぼ同じ値が出力される。その場合、d03は0に近い値となり、その結果d04は1に近い値が出力される。
Since the position of the scratch or dirt in the
逆に、吸着ノズル123に問題があった場合は、吸着ノズル123による部品の吸着にはばらつきが生じるため、L01としては、毎回異なる値が出力され、d03の値が大きくなり、その結果d04の値が小さくなる。
On the other hand, if there is a problem with the
そして、制御部160は、d04を確率情報テーブル156aの光源フィールド156bまたはセンサフィールド156dに格納する。
Then, the
このd04の格納は、ステップS22において、生産スループット低下の継続性ありと判定した場合は、光源131に傷や汚れがある可能性が高いため光源フィールド156bに格納し、ステップS28でd01の値が、閾値情報テーブル154aの回数2フィールド154fの値より大きい場合は、要因発生回数が大きい場合であり、センサ132に傷や汚れがある可能性が高いためセンサフィールド156dに格納する。光源131のある吸着ノズル123に面した部位に傷や汚れがある場合、その吸着ノズル123が利用される時のみ部品の再吸着動作が発生する。そのため、光源131に傷や汚れがある場合は、要因の発生間隔はその吸着ノズル123の利用間隔以上の大きさになる。
The storage of d04 is stored in the
また、吸着ノズルフィールド156cには、(1−d04)の値が格納される。
Further, the value (1-d04) is stored in the
したがって、吸着ノズル123に問題があった場合は、d04の値が小さくなり、(1−d04)の値が大きくなるため、吸着ノズル123が原因と特定することができる。
Therefore, when there is a problem with the
ステップS25では、制御部160は、d04と閾値確率フィールド154dに記憶される値とを比較し、d01とd04の積と閾値確率回数フィールド154eに記憶される値とを比較し、ステップS26の実行もしくは処理の終了を選択する。
In step S25,
d04(または1−d04)が閾値確率フィールド154dに記憶される値よりも大きく、かつ、d01とd04(または1−d04)の積が閾値確率回数フィールド154eに記憶される値よりも大きい場合は、原因が高い確率で特定できており、かつ、生産スループット低下の度合いも大きいため、制御部160はステップS26にて対策指示を要求する。この条件に当てはまらない場合は、制御部160は処理を終了する。
When d04 (or 1-d04) is larger than the value stored in the
ステップS26では、制御部160は、出力部162、出力部171または全体制御装置140に、図20に示すように、部品実装装置100の生産スループットが低下していることを示す情報と生産スループット低下の原因とその対策を示す情報とを出力する。
In step S <b> 26, the
ステップS27では、制御部160は、出力部162、出力部171または全体制御装置140に、図21に示すように、生産スループット低下の原因となる部位について発注の可否を問い合わせる。そして、部品発注が許可された場合は、制御部160は、IF部172を通じて、部品を購入する資材部または部品購入先のメーカに生産スループット低下の原因となる部位の交換部品を要求する。
In step S27, the
以上のように、本実施の形態では、部品実装装置の生産スループットの低下が一時的ではなく、生産スループットの低下が継続し、かつ生産スループット低下の原因が特定できた場合に、部品実装装置に対策を施すことができるため、不必要な対策によって部品実装装置の生産スループットを低下させることなく部品実装装置を運用可能となる。 As described above, in the present embodiment, when the decrease in the production throughput of the component mounting apparatus is not temporary, the decrease in the production throughput continues, and the cause of the decrease in the production throughput can be identified, the component mounting apparatus Since measures can be taken, the component mounting apparatus can be operated without reducing the production throughput of the component mounting apparatus due to unnecessary measures.
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。 As mentioned above, the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiment. However, the present invention is not limited to the embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.
本発明は、チップマウンタなどの部品を基板に実装する部品実装装置に関し、生産スループットの低下を抑えることが必要な装置やシステムなどに広く適用可能である。 The present invention relates to a component mounting apparatus that mounts a component such as a chip mounter on a substrate, and can be widely applied to devices and systems that need to suppress a decrease in production throughput.
100…部品実装装置、110…供給装置、111…フィーダベース、112、125、133、145、163…IF部、120…装着装置、121…ヘッド、122…ビーム、123…吸着ノズル、124…駆動制御部、130…計測装置、131…光源、132…センサ、140…全体制御装置、141…記憶部、142…装着情報記憶領域、143…姿勢判定情報記憶領域、144…全体制御部、150…演算装置、151…記憶部、152…要因情報記憶領域、153…計測値情報記憶領域、154…閾値情報記憶領域、155…係数情報記憶領域、156…確率情報記憶領域、157…判定区間情報記憶領域、160…制御部、161、170…入力部、162、171…出力部。
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記部品を吸着し前記基板に装着する装着装置と、
前記装着装置の吸着ノズルの形状を複数回計測する計測装置と、
前記計測装置の計測結果に基づいて、前記部品実装装置の動作に生産スループットを低下させる動作が発生したか否かを判定し、前記生産スループットを低下させる動作が発生した場合に、その発生時刻を記憶部に記憶させる演算装置とを備え、
前記演算装置は、前記記憶部に記憶された前記発生時刻の情報に基づいて、発生間隔を算出し、前記発生間隔の情報が予め定められた閾値よりも大きい場合には前記生産スループットの低下が継続すると判定し、
前記生産スループットの低下が継続すると判定した場合に、前記演算装置は、前記吸着ノズルの形状の計測値間の差分の情報に基づいて、前記計測装置が前記生産スループットの低下の原因である確率を算出し、前記確率、または前記確率と前記生産スループットの低下量との積が所定の閾値よりも大きい場合に、前記計測装置を生産スループット低下の原因として対策を出力することを特徴とする部品実装装置。 A component mounting apparatus for mounting a component on a board,
A mounting device for sucking and mounting the component on the substrate;
A measuring device for measuring the shape of the suction nozzle of the mounting device a plurality of times ;
Based on the measurement result of the measuring device, it is determined whether or not an operation for reducing the production throughput has occurred in the operation of the component mounting device. An arithmetic device for storing in the storage unit,
The computing device calculates an occurrence interval based on the occurrence time information stored in the storage unit, and if the occurrence interval information is larger than a predetermined threshold, the production throughput is reduced. Decide to continue,
When it is determined that the decrease in the production throughput continues, the arithmetic device determines the probability that the measurement device is the cause of the decrease in the production throughput based on information on the difference between the measurement values of the shape of the suction nozzle. Component mounting, characterized in that, when the probability, or the product of the probability or the reduction amount of the production throughput, is greater than a predetermined threshold, the measure is output as a cause of the production throughput reduction. apparatus.
前記演算装置は、前記基板への前記部品の装着動作をやり直した場合に、その装着動作をやり直した時刻を前記発生時刻として前記記憶部に記憶させることを特徴とする部品実装装置。 The component mounting apparatus according to claim 1,
When the mounting operation of the component on the board is redone, the arithmetic device stores the time when the mounting operation is redone in the storage unit as the generation time.
前記演算装置は、前記生産スループットの低下の原因または前記原因に対する対策に対応した前記部品実装装置の部位の取り寄せ指示を出力することを特徴とする部品実装装置。 The component mounting apparatus according to claim 1 ,
The component mounting apparatus outputs an instruction for obtaining a part of the component mounting apparatus corresponding to a cause of a decrease in the production throughput or a countermeasure for the cause.
前記部品実装装置の演算装置により、前記部品実装装置の動作に生産スループットを低下させる動作が発生したか否かを判定し、前記生産スループットを低下させる動作が発生した場合に、その発生時刻を記憶部に記憶させ、前記記憶部に記憶された前記発生時刻の情報に基づいて、発生間隔を算出し、前記発生間隔の情報が予め定められた閾値よりも大きい場合には前記生産スループットの低下が継続すると判定し、前記生産スループットの低下が継続すると判定した場合に、吸着ノズル形状の計測値間の差分の情報に基づいて、計測装置が前記生産スループットの低下の原因である確率を算出し、前記確率、または前記確率と前記生産スループットの低下量との積が所定の閾値よりも大きい場合に、前記計測装置を生産スループット低下の原因として対策を出力することを特徴とする部品実装装置の生産スループット低下原因特定方法。 A method for identifying the cause of a decrease in production throughput of a component mounting apparatus that mounts the component on a board using a mounting apparatus that sucks and mounts the part on the board,
The arithmetic unit of the component mounting apparatus determines whether or not an operation for reducing the production throughput has occurred in the operation of the component mounting apparatus, and stores an occurrence time when an operation for reducing the production throughput occurs. The generation interval is calculated based on the occurrence time information stored in the storage unit and stored in the storage unit. When the occurrence interval information is larger than a predetermined threshold, the production throughput is reduced. When it is determined to continue, and when it is determined that the decrease in the production throughput continues , based on the information of the difference between the measurement values of the suction nozzle shape, the probability that the measurement device is the cause of the decrease in the production throughput is calculated, When the probability, or the product of the probability and the amount of decrease in the production throughput, is greater than a predetermined threshold, the measuring device is reduced in production throughput. Production throughput decreases cause identification method of the component mounting apparatus and outputs the measures as the cause.
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