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JP5517065B2 - スイッチング素子及びスイッチアレイ - Google Patents

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Description

本発明は、抵抗変化型ランダムアクセスメモリ素子(Resistive Random Access Memory、 RRAM)などとして使用可能な高分子電解質膜を用いたスイッチング素子及びそのようなスイッチング素子を使用して構成されたスイッチアレイに関する。
従来から、電解質膜を用いたスイッチング素子について様々な提案がなされている。例えば、非特許文献1には銅と白金電極で挟んだCuSに電圧を印加すると銅イオンの移動により抵抗変化することが記載されている。しかし,CuSは力学強度に乏しく脆い性質を有するため、フレキシブル素子には向かないという問題がある。
また、非特許文献2には、ナノメートルオーダーの空隙をもったAgSと白金の対向電極に電圧を印加すると、酸化還元反応により電極間に銀が析出して抵抗変化することが記載されている。しかし、AgSもCuSと同様の性質があるため、フレキシブル性が欠けるという問題は解決されていない。
さらに、非特許論文3には、TiO膜の両側を白金電極で挟んだ構造において電圧を印加すると、酸素イオンの移動により抵抗変化を起こさせることが記載されている。しかし,ここに記載された構成でもフレキシブル性に欠けるという問題は依然として解決されていない。
上記の無機材料を用いたRRAM素子は、真空装置内での電解質膜の形成、電子線露光による電極のパターニング及びエッチング処理といった複雑な製造工程を経て作製されており、高い製造コストと誘起溶剤の大量消費という問題を抱えている。
本発明の課題は、上記問題点を解決して、フレキシブルなスイッチング素子を提供することにある。
ここにおいて、前記高分子電解質材料の高分子がポリエチレングリコール、ポリエチレンオキシド、ポリビニルビロリドン、ポリアクリルニトリル、ポリフッ化ビニリデン、ポリメチルメタクリレートのいずれかであってよい。
また、前記高分子電解質材料の電解質塩が銀電解質塩、銅電解質塩、マグネシウム電解質塩、鉄電解質塩、ニッケル電解質塩、コバルト電解質塩、またはマンガン電解質塩であってよい。
また、前記第1の電極の少なくとも一部が銀、銅、マグネシウム、鉄、ニッケル、コバルト、またはマンガンで形成されてよい。
また、前記第2の電極が白金、金、イリジウム、タングステン、アルミニウムのいずれかであってよい。
前記高分子電解質材料の厚さが1μm以下であってよい。
また、前記高分子電解質材料の電解質塩の濃度を調整することによって、高抵抗状態から低抵抗状態に遷移するオン電圧および低抵抗状態から高抵抗状態に遷移するオフ電圧を制御してよい。
また、このスイッチング素子は、印加電圧をゼロにしても低抵抗状態を保持する、揮発性を有するものであってよい。
また、このスイッチング素子は、印加電圧をゼロにすると低抵抗状態を保持しない、揮発性を有するものであってよい。
また、このスイッチング素子は、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリイミドなどのプラスチック基板上に形成してよい。
本発明の他の側面によれば、基板上に、前記第1の電極と第2の電極の少なくとも一方が電気的に共通線に接続された前記スイッチング素子が少なくとも2つ以上配列されたスイッチアレイが与えられる。
ここにおいて、前記基板は柔軟な材料で構成してよい。
本発明により、フレキシブルなスイッチング素子の作製が可能になる。特に無機材料では、フレキシブル性に欠け、製造工程が高温になり、製造コストも高かった。本発明はこの無機材料の欠点を回避しており、フォトレジスト等によるパターン化及びエッチング等の処理を必要とせず、インクジェット等の印刷技術により低コストで作製可能であるという効果も得られる。
さらに、50Hz以上のスイッチ速度が得られることから、ペーパーディスプレイ、フラットパネルディスプレイの駆動回路への応用も可能になる。
本発明のスイッチング素子の構成の概念図。 本発明のスイッチング素子の動作機構の概念図。 本発明のスイッチアレイの構成の概念図を示す。 実施例で作製したスイッチング素子のI−V曲線の一例を示すグラフ。 実施例で作製したスイッチング素子のオン電圧とオフ電圧の塩濃度依存性を示すグラフ。 実施例で作製したスイッチング動作のオン/オフ比の一例を示すグラフ。 実施例で作製したスイッチング素子のON状態の保持耐性の一例を示すグラフ。 実施例で作製したスイッチング素子のパルス印加電圧応答の一例を示すグラフ。
本発明のスイッチング素子は、例えば図1に示されるように、ガラスやプラスチックから成る基板11上に密着層12、下部金属電極13、500nm厚以下の高分子電解質膜14、および上部金属電極15を積層させた構造となっている。図1に示す例では、密着層12としてチタン、不活性な下部金属電極13として白金を、電気化学的に活性な金属電極15として銀を用いている。ここで電気化学的に活性な金属とは電圧を印加したときに陽極酸化反応によって高分子電解質中に溶け出し得る金属(具体的には銀、銅、マグネシウム、鉄、ニッケル、コバルト、マンガン等)である。電極15は別の金属を含んでいてもよいし、またこの電気化学的に活性な金属は電極15の高分子電解質膜14に接触する側にだけ設けられていてもよい。また電気化学的に不活性な金属とは電圧を印加しても高分子電解質中に溶け出さない金属のことを言う。また、基板11の材料としてプラスチックを使用する場合には、もちろんこれに限定されるものではないが、たとえばポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、またはポリイミドを使用することができる。
図1では高分子電解質膜14として、高分子に重量比で数%の電解質塩を混合したものを用いている。電解質膜の作製方法は以下の通りである。まず、メタノールないし純水に高分子と電解質塩を必要量混合し、スターラーで12時間以上攪拌して電解液を作製する。この電解液を白金電極上に数μリットル滴下した後、真空乾燥機内で120℃12時間以上加熱することによって電解質膜を形成する。ここで、電解質塩としては、金属電極15に使用する電気化学的に活性な金属の塩であり、例えばAgClO、AgNOなどの銀電解質塩、Cu(ClOなどの銅電解質塩、Mg(NOなどのマグネシウム電解質塩、Fe(NOなどの鉄電解質塩、Ni(NOなどのニッケル電解質塩、Co(NOなどのコバルト電解質塩、又はMn(NOなどのマンガン電解質塩を使用することができる。
なお、ここで使用できる高分子には、これに限定されるものではないが、例えばポリエチレングリコール、ポリエチレンオキシド、ポリビニルビロリドン、ポリアクリルニトリル、ポリフッ化ビニリデン、ポリメチルメタクリレートなどがある。一般的にはこの高分子は以下の条件を満たすことが好ましい。
1)ガラス転移温度が室温よりも低いこと
高分子中のイオン伝導性は高分子の「柔らかさ」に起因している。つまり,熱的な振動に伴ってイオンは高分子中を移動する。一般的に、高分子は温度によってその状態が変わり、温度の上昇とともにガラス(完全な固体)状態→ゴムのような伸び縮みする状態→液体状態をとる。最初のガラス→ゴムへの転移をガラス転移温度、ゴム→液体への転移を融点と定義する。ガラス状態では電荷(イオンも電子も)は全く動かないので、イオン伝導性を発現するためには使用温度はガラス転移温度よりも高い必要がある。逆に言えば、室温で動作させることを考えると、ガラス転移温度は少なくとも室温よりも低くなければならない。より好ましくは、ガラス転移温度は0℃以下である方がよい。一方,融点に関しても、実際に動作させる温度で液体になっては困るので、室温領域での動作を考えると70℃以上程度であるのが好ましい。
2)平均分子量が1万以上であること
なお、好ましい分子量は高分子電解質の塗布方法(例えばインクジェット印刷技術など)で決まるものであるため、一般的に特定の値の範囲でなければならないとはいえない。
2)水及び有機溶剤に対する溶解性
高分子膜を作るためには,高分子と電解質塩を液材に溶かしてそれを基板に滴下する。したがって、高分子および電解質塩には水及び有機溶剤に対する溶解性があることが望まれる。
次に素子構造全体の作製方法について説明する。まず、基板11上にメタルマスクを用いたスパッタ法によりチタン密着層12および白金電極13を形成する。その後、前記方法で高分子電解質膜14を形成する。最後に、メタルマスクを用いた真空蒸着法により銀電極5を形成する。この銀電極はスパッタ法によっても形成できるが、高分子膜に損傷を与えるため素子特性の劣化が見られた。また、電極形成時の温度が高いと銀が高分子電解質膜中に拡散してしまうため、電極間の初期抵抗が低くなってしまうこともわかった。本発明者による実験・検討の結果、冷却水で基板を冷却しながら真空蒸着ないしは電子線蒸着するのが最も良いことがわかった。
本発明のスイッチング素子の動作機構の様子を、銀/銀イオン伝導性高分子電解質/白金構造を例にして図2に示す。図2(a)に示すように、銀電極21に対して正の電圧を印加すると、電解質膜中の銀イオン(カチオン)24は白金電極22へ、アニオン25は銀電極21へと、母体高分子23の熱振動を介して移動する。このとき、銀/電解質界面では、陽極酸化反応により銀原子がイオン化し、それらの銀イオン24も白金電極22へと移動する。
銀イオン24の移動により白金電極22上の銀イオン濃度は過飽和に達し、白金電極22上で多数の銀の不均一核形成が起こる。この銀の核は、銀イオン24を取り込みながら銀電極21に向かって優先的に成長し、やがて銀核の一つが銀電極に到達し、図2(b)に示すように、電極間に金属フィラメント27を形成して素子は低抵抗状態となる。
この低抵抗状態において、銀電極21に対して負の電圧を印加すると、フィラメント27の表面は酸化反応によって溶解する。その結果、図2(c)に示すように、最も細い部分でフィラメント27は切断され、素子は高抵抗状態に遷移する。
この高抵抗状態において、銀電極21に対して正の電圧を印加すると、母体高分子23中に溶解した銀イオン24が切断されたフィラメント27の先端に集まってきて、不均一核形成によりフィラメントが再構築される(図2(d))。
以後、正負の電圧を印加すると、銀フィラメント27の構築と溶解を繰り返しながら、素子は低抵抗状態と高抵抗状態をとる。このようにして、本発明では、高分子電解質中の金属イオンの移動とその酸化還元反応を印加電圧によって制御することにより、電極間の抵抗変化を繰り返し実現することができる。従来、無機材料の固体電解質を用いて同様の素子構造で抵抗変化が起こることは、特許文献1で述べられているが、無機材料の固体電解質では柔軟性がなく、応用に制限の有ることは上に述べたとおりである。高分子材料でスイッチ動作することは知られてなかったことであり、発明者らが初めて発見したものである。
図3は、本発明の別の実施形態である、スイッチアレイの構成例を示す。ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリイミドなどのプラスチック基板31上に、下部金属電極32、高分子電解質膜33、及び上部金属電極34をクロスバー型の構造で形成する。上部(行)及び下部(列)金属電極は共通化されており、特定の行及び列に電圧を印加することにより上部−下部電極間を電気的に接続することができる。このように、高分子の機械的な柔軟性を用いて、フレキシブルスイッチアレイを構築することが簡単に可能となる。
以下に実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する。以下の実施例に示す材料、使用料、割合、処理手順、基板の種類等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜、変更することができる。従って、本発明の範囲は下記の実施例に制限されるものではない。
(素子作製)
高分子電解質として、ポリエチレンオキシド(PEO)に過塩素酸銀(AgClO)を1から6重量%(wt%)まで異なる塩濃度で電解質液を用意し、前記方法で図1の構造を有するスイッチング素子を作製した。
(電流―電圧特性の測定)
作製したスイッチング素子の電流電圧曲線(I−V曲線)を測定した。塩濃度が2、4、5、および6重量%の素子に対する結果の典型例を図4に示した。図4(a)は塩濃度が2wt%の素子のI−V曲線である。銀電極に対して正の電圧を印加すると素子は高抵抗(オフ)状態から低抵抗(オン)状態に急峻に変化する。この低抵抗状態は印加電圧を0Vに戻しても保持される。すなわち、不揮発性のスイッチ動作を示す。次に負の電圧を印加すると、オン状態からオフ状態に急峻に戻る。このオン−オフは、繰り返し可能であることが確認された。図4(b)は塩濃度が4wt%のI−V曲線である。オフ状態からオン状態に遷移するオン電圧は上昇するが、不揮発性動作は維持される。図4(c)は塩濃度が5wt%のI−V曲線である。オン電圧はさらに上昇し、印加電圧が0Vに戻る前に素子はオフ状態に遷移する。すなわち、揮発性の動作を示す。図4(d)は塩濃度が6wt%のI−V曲線である。この濃度では、もはやスイッチング動作は起こらない。
図5は観測されたオン電圧及びオフ電圧を塩濃度の関数として表示したものである。塩濃度が高くなるにつれて、オン電圧は大きくなり、一方オフ電圧は小さくなる。5wt%では、揮発性のスイッチ動作をすることもわかった。このことは、塩濃度を調整することによってオン/オフ電圧の値及び不揮発性/揮発性動作を制御できることを示唆する。
図6は塩濃度が3wt%の素子を抵抗―電圧曲線の一例を示した。電圧印加による抵抗変化、すなわちオン/オフ比は10程度と極めて高いことが確認された。
(メモリ動作の確認)
上記スイッチング素子のメモリ特性を測定した。銀電極に対して正の電圧を印加して素子をオン状態にした後、このオン状態の持続時間を測定した。その結果の一例を図7に示した。素子には1分間隔で5秒間だけ0.05Vを印加し、その時の電流を計測した。それ以外は、素子には電圧は印加しない。この測定の結果、電圧が印加されない状態でON状態は少なくとも1週間以上保持されることが認められた。さらに、オフ状態も1週間以上の保持耐性があることも確認された。これらの結果は、上記スイッチング素子がメモリ素子として十分な特性を有することを示している。
(スイッチ速度の測定)
上記スイッチング素子のスイッチ速度を評価するために、パルス電圧印加の応答電流を計測した。その結果の一例を図8に示す。ON状態にするための書き込み用パルスは+1V、OFF状態にするための消去用パルスは−1V、素子の状態を確認する読み出しパルスは±0.2Vとし、それぞれのパルス幅は8ミリ秒に設定した。スイッチ速度は、少なくとも0.1ミリ秒以下であることが確認された。これは、50Hzで駆動するペーパーディスプレイ、フラットパネルディスプレイ回路への応用も可能であることを示している。
以上詳細に説明したように、本発明は、電極間の電解質中で金属フィラメントの形成と切断を起こすことによるスイッチング素子において、このような電解質の材料として高分子を使用するという従来全く試みられていない構成のスイッチング素子及びそれを使用したスイッチアレイを提供するものである。本発明により柔軟性が高いために無機電解質を利用した従来型のスイッチング素子では不可能であった応用が可能となる。また低電圧で書き込みを行うことができるとともに、書き込み結果が長期間持続するため、ペーパーディスプレイやフラットパネルディスプレイ回路などの幅広い用途が期待される。
11 基板
12 密着層
13、32 下部金属電極
14、33 高分子電解質膜
15、34 上部金属電極
21 銀電極
22 白金電極
23 高分子
24 カチオン(金属イオン)
25 アニオン
26 析出した金属
27 金属フィラメント
31 プラスチック基板
WO2003/028124
Appl. Phys. Lett. 82 (2003) 3032 Nature 433 (2005) 47 Nature Nanotech. 3 (2008) 429

Claims (10)

  1. イオン伝導性を有する高分子有機電解質材料と、
    前記高分子有機電解質材料中に存在する金属塩と、
    前記高分子有機電解質材料中の前記金属塩と同じ金属を含む第1の電極と、
    前記第1の電極中の金属よりも電気化学的活性の低い第2の金属からなる第2の電極と
    を設け
    前記高分子有機電解質材料のガラス転移温度よりも高温かつその融点よりも低温で使用されるスイッチング素子。
  2. 前記高分子有機電解質材料の高分子がポリエチレングリコール、ポリエチレンオキシド、ポリビニルビロリドン、ポリアクリルニトリル、ポリフッ化ビニリデン、ポリメチルメタクリレートのいずれかである、請求項1に記載のスイッチング素子。
  3. 前記高分子有機電解質材料の電解質塩が銀電解質塩、銅電解質塩、マグネシウム電解質塩、鉄電解質塩、ニッケル電解質塩、コバルト電解質塩、またはマンガン電解質塩である、請求項1または2に記載のスイッチング素子。
  4. 前記第1の電極の少なくとも一部が銀、銅、マグネシウム、鉄、ニッケル、コバルト、またはマンガンで形成されている、請求項3に記載のスイッチング素子。
  5. 前記第2の電極が白金、金、イリジウム、タングステン、アルミニウムのいずれかである、請求項1から4のいずれかに記載のスイッチング素子。
  6. 前記高分子有機電解質材料の厚さが1μm以下である、請求項1から5のいずれかに記載のスイッチング素子。
  7. 前記高分子有機電解質材料の電解質塩の濃度を調整することによって、高抵抗状態から低抵抗状態に遷移するオン電圧および低抵抗状態から高抵抗状態に遷移するオフ電圧を制御する、請求項1から6のいずれかに記載のスイッチング素子。
  8. ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリイミドなどのプラスチック基板上に形成される、請求項1から7の何れかに記載のスイッチング素子。
  9. 基板上に、前記第1の電極と第2の電極の少なくとも一方が電気的に共通線に接続された請求項1から8の何れかに記載のスイッチング素子が少なくとも2つ以上配列されたスイッチアレイ。
  10. 前記基板は柔軟な材料で構成される、請求項9に記載のスイッチアレイ。
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KR102310913B1 (ko) * 2020-04-21 2021-10-08 포항공과대학교 산학협력단 액상 저항변화 메모리 소자
CN113555500B (zh) * 2021-06-25 2023-10-27 深圳大学 一种阻变存储器及制备方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0260166A (ja) * 1988-08-26 1990-02-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> フルバレン類薄膜を用いたメモリー素子
NO321555B1 (no) * 2004-03-26 2006-05-29 Thin Film Electronics Asa Organisk elektronisk innretning og fremgangsmate til fremstilling av en slik innretning
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