JP5517065B2 - スイッチング素子及びスイッチアレイ - Google Patents
スイッチング素子及びスイッチアレイ Download PDFInfo
- Publication number
- JP5517065B2 JP5517065B2 JP2010242874A JP2010242874A JP5517065B2 JP 5517065 B2 JP5517065 B2 JP 5517065B2 JP 2010242874 A JP2010242874 A JP 2010242874A JP 2010242874 A JP2010242874 A JP 2010242874A JP 5517065 B2 JP5517065 B2 JP 5517065B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- switching element
- salt
- polymer organic
- electrolyte salt
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 44
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims description 39
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 30
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 30
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 27
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 27
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 23
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 claims description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 11
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 9
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 7
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 6
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 claims description 6
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011572 manganese Substances 0.000 claims description 6
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims description 6
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 6
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229920003171 Poly (ethylene oxide) Polymers 0.000 claims description 5
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 4
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 claims description 4
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 claims description 4
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 claims description 4
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 claims description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 4
- 239000002033 PVDF binder Substances 0.000 claims description 3
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 claims description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 3
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 claims description 3
- 229920002239 polyacrylonitrile Polymers 0.000 claims description 3
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 claims description 3
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 claims description 3
- 229920002981 polyvinylidene fluoride Polymers 0.000 claims description 3
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 claims description 3
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 claims description 3
- 239000001267 polyvinylpyrrolidone Substances 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 2
- 239000005486 organic electrolyte Substances 0.000 claims 8
- 239000005518 polymer electrolyte Substances 0.000 description 18
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- FOIXSVOLVBLSDH-UHFFFAOYSA-N Silver ion Chemical compound [Ag+] FOIXSVOLVBLSDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 2
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 2
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 2
- 238000006479 redox reaction Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 101710134784 Agnoprotein Proteins 0.000 description 1
- 229910020366 ClO 4 Inorganic materials 0.000 description 1
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229920005601 base polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 1
- 239000011344 liquid material Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 150000003378 silver Chemical class 0.000 description 1
- YDHABVNRCBNRNZ-UHFFFAOYSA-M silver perchlorate Chemical compound [Ag+].[O-]Cl(=O)(=O)=O YDHABVNRCBNRNZ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Memories (AREA)
Description
また、前記高分子電解質材料の電解質塩が銀電解質塩、銅電解質塩、マグネシウム電解質塩、鉄電解質塩、ニッケル電解質塩、コバルト電解質塩、またはマンガン電解質塩であってよい。
また、前記第1の電極の少なくとも一部が銀、銅、マグネシウム、鉄、ニッケル、コバルト、またはマンガンで形成されてよい。
また、前記第2の電極が白金、金、イリジウム、タングステン、アルミニウムのいずれかであってよい。
前記高分子電解質材料の厚さが1μm以下であってよい。
また、前記高分子電解質材料の電解質塩の濃度を調整することによって、高抵抗状態から低抵抗状態に遷移するオン電圧および低抵抗状態から高抵抗状態に遷移するオフ電圧を制御してよい。
また、このスイッチング素子は、印加電圧をゼロにしても低抵抗状態を保持する、揮発性を有するものであってよい。
また、このスイッチング素子は、印加電圧をゼロにすると低抵抗状態を保持しない、揮発性を有するものであってよい。
また、このスイッチング素子は、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリイミドなどのプラスチック基板上に形成してよい。
本発明の他の側面によれば、基板上に、前記第1の電極と第2の電極の少なくとも一方が電気的に共通線に接続された前記スイッチング素子が少なくとも2つ以上配列されたスイッチアレイが与えられる。
ここにおいて、前記基板は柔軟な材料で構成してよい。
なお、ここで使用できる高分子には、これに限定されるものではないが、例えばポリエチレングリコール、ポリエチレンオキシド、ポリビニルビロリドン、ポリアクリルニトリル、ポリフッ化ビニリデン、ポリメチルメタクリレートなどがある。一般的にはこの高分子は以下の条件を満たすことが好ましい。
1)ガラス転移温度が室温よりも低いこと
高分子中のイオン伝導性は高分子の「柔らかさ」に起因している。つまり,熱的な振動に伴ってイオンは高分子中を移動する。一般的に、高分子は温度によってその状態が変わり、温度の上昇とともにガラス(完全な固体)状態→ゴムのような伸び縮みする状態→液体状態をとる。最初のガラス→ゴムへの転移をガラス転移温度、ゴム→液体への転移を融点と定義する。ガラス状態では電荷(イオンも電子も)は全く動かないので、イオン伝導性を発現するためには使用温度はガラス転移温度よりも高い必要がある。逆に言えば、室温で動作させることを考えると、ガラス転移温度は少なくとも室温よりも低くなければならない。より好ましくは、ガラス転移温度は0℃以下である方がよい。一方,融点に関しても、実際に動作させる温度で液体になっては困るので、室温領域での動作を考えると70℃以上程度であるのが好ましい。
2)平均分子量が1万以上であること
なお、好ましい分子量は高分子電解質の塗布方法(例えばインクジェット印刷技術など)で決まるものであるため、一般的に特定の値の範囲でなければならないとはいえない。
2)水及び有機溶剤に対する溶解性
高分子膜を作るためには,高分子と電解質塩を液材に溶かしてそれを基板に滴下する。したがって、高分子および電解質塩には水及び有機溶剤に対する溶解性があることが望まれる。
高分子電解質として、ポリエチレンオキシド(PEO)に過塩素酸銀(AgClO4)を1から6重量%(wt%)まで異なる塩濃度で電解質液を用意し、前記方法で図1の構造を有するスイッチング素子を作製した。
作製したスイッチング素子の電流電圧曲線(I−V曲線)を測定した。塩濃度が2、4、5、および6重量%の素子に対する結果の典型例を図4に示した。図4(a)は塩濃度が2wt%の素子のI−V曲線である。銀電極に対して正の電圧を印加すると素子は高抵抗(オフ)状態から低抵抗(オン)状態に急峻に変化する。この低抵抗状態は印加電圧を0Vに戻しても保持される。すなわち、不揮発性のスイッチ動作を示す。次に負の電圧を印加すると、オン状態からオフ状態に急峻に戻る。このオン−オフは、繰り返し可能であることが確認された。図4(b)は塩濃度が4wt%のI−V曲線である。オフ状態からオン状態に遷移するオン電圧は上昇するが、不揮発性動作は維持される。図4(c)は塩濃度が5wt%のI−V曲線である。オン電圧はさらに上昇し、印加電圧が0Vに戻る前に素子はオフ状態に遷移する。すなわち、揮発性の動作を示す。図4(d)は塩濃度が6wt%のI−V曲線である。この濃度では、もはやスイッチング動作は起こらない。
上記スイッチング素子のメモリ特性を測定した。銀電極に対して正の電圧を印加して素子をオン状態にした後、このオン状態の持続時間を測定した。その結果の一例を図7に示した。素子には1分間隔で5秒間だけ0.05Vを印加し、その時の電流を計測した。それ以外は、素子には電圧は印加しない。この測定の結果、電圧が印加されない状態でON状態は少なくとも1週間以上保持されることが認められた。さらに、オフ状態も1週間以上の保持耐性があることも確認された。これらの結果は、上記スイッチング素子がメモリ素子として十分な特性を有することを示している。
上記スイッチング素子のスイッチ速度を評価するために、パルス電圧印加の応答電流を計測した。その結果の一例を図8に示す。ON状態にするための書き込み用パルスは+1V、OFF状態にするための消去用パルスは−1V、素子の状態を確認する読み出しパルスは±0.2Vとし、それぞれのパルス幅は8ミリ秒に設定した。スイッチ速度は、少なくとも0.1ミリ秒以下であることが確認された。これは、50Hzで駆動するペーパーディスプレイ、フラットパネルディスプレイ回路への応用も可能であることを示している。
12 密着層
13、32 下部金属電極
14、33 高分子電解質膜
15、34 上部金属電極
21 銀電極
22 白金電極
23 高分子
24 カチオン(金属イオン)
25 アニオン
26 析出した金属
27 金属フィラメント
31 プラスチック基板
Claims (10)
- イオン伝導性を有する高分子有機電解質材料と、
前記高分子有機電解質材料中に存在する金属塩と、
前記高分子有機電解質材料中の前記金属塩と同じ金属を含む第1の電極と、
前記第1の電極中の金属よりも電気化学的活性の低い第2の金属からなる第2の電極と
を設け、
前記高分子有機電解質材料のガラス転移温度よりも高温かつその融点よりも低温で使用されるスイッチング素子。 - 前記高分子有機電解質材料の高分子がポリエチレングリコール、ポリエチレンオキシド、ポリビニルビロリドン、ポリアクリルニトリル、ポリフッ化ビニリデン、ポリメチルメタクリレートのいずれかである、請求項1に記載のスイッチング素子。
- 前記高分子有機電解質材料の電解質塩が銀電解質塩、銅電解質塩、マグネシウム電解質塩、鉄電解質塩、ニッケル電解質塩、コバルト電解質塩、またはマンガン電解質塩である、請求項1または2に記載のスイッチング素子。
- 前記第1の電極の少なくとも一部が銀、銅、マグネシウム、鉄、ニッケル、コバルト、またはマンガンで形成されている、請求項3に記載のスイッチング素子。
- 前記第2の電極が白金、金、イリジウム、タングステン、アルミニウムのいずれかである、請求項1から4のいずれかに記載のスイッチング素子。
- 前記高分子有機電解質材料の厚さが1μm以下である、請求項1から5のいずれかに記載のスイッチング素子。
- 前記高分子有機電解質材料の電解質塩の濃度を調整することによって、高抵抗状態から低抵抗状態に遷移するオン電圧および低抵抗状態から高抵抗状態に遷移するオフ電圧を制御する、請求項1から6のいずれかに記載のスイッチング素子。
- ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリイミドなどのプラスチック基板上に形成される、請求項1から7の何れかに記載のスイッチング素子。
- 基板上に、前記第1の電極と第2の電極の少なくとも一方が電気的に共通線に接続された請求項1から8の何れかに記載のスイッチング素子が少なくとも2つ以上配列されたスイッチアレイ。
- 前記基板は柔軟な材料で構成される、請求項9に記載のスイッチアレイ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010242874A JP5517065B2 (ja) | 2010-10-29 | 2010-10-29 | スイッチング素子及びスイッチアレイ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010242874A JP5517065B2 (ja) | 2010-10-29 | 2010-10-29 | スイッチング素子及びスイッチアレイ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012094786A JP2012094786A (ja) | 2012-05-17 |
JP5517065B2 true JP5517065B2 (ja) | 2014-06-11 |
Family
ID=46387784
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010242874A Expired - Fee Related JP5517065B2 (ja) | 2010-10-29 | 2010-10-29 | スイッチング素子及びスイッチアレイ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5517065B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102464065B1 (ko) * | 2016-01-27 | 2022-11-08 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 스위칭 소자, 이의 제조 방법, 스위칭 소자를 선택 소자로서 포함하는 저항 변화 메모리 장치 |
KR102310913B1 (ko) * | 2020-04-21 | 2021-10-08 | 포항공과대학교 산학협력단 | 액상 저항변화 메모리 소자 |
CN113555500B (zh) * | 2021-06-25 | 2023-10-27 | 深圳大学 | 一种阻变存储器及制备方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0260166A (ja) * | 1988-08-26 | 1990-02-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | フルバレン類薄膜を用いたメモリー素子 |
NO321555B1 (no) * | 2004-03-26 | 2006-05-29 | Thin Film Electronics Asa | Organisk elektronisk innretning og fremgangsmate til fremstilling av en slik innretning |
JP5565570B2 (ja) * | 2010-05-13 | 2014-08-06 | 日本電気株式会社 | スイッチング素子、スイッチング素子の製造方法および半導体装置 |
-
2010
- 2010-10-29 JP JP2010242874A patent/JP5517065B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012094786A (ja) | 2012-05-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Kund et al. | Conductive bridging RAM (CBRAM): An emerging non-volatile memory technology scalable to sub 20nm | |
Tsuruoka et al. | Temperature effects on the switching kinetics of a Cu–Ta2O5-based atomic switch | |
Wu et al. | A polymer‐electrolyte‐based atomic switch | |
Tsuruoka et al. | Forming and switching mechanisms of a cation-migration-based oxide resistivememory | |
TWI491023B (zh) | 記憶體元件,製造其之方法,及記憶體裝置 | |
Mohammad et al. | State of the art of metal oxide memristor devices | |
US8097874B2 (en) | Programmable resistive memory cell with sacrificial metal | |
Edwards et al. | Reconfigurable memristive device technologies | |
US8188466B2 (en) | Resistance variable element | |
JP3603188B2 (ja) | 不揮発性メモリ及びその製造方法 | |
TWI542054B (zh) | 記憶體元件,製造其之方法,及記憶體裝置 | |
Choi et al. | Reliable multilevel memristive neuromorphic devices based on amorphous matrix via quasi-1D filament confinement and buffer layer | |
KR101390011B1 (ko) | 유기 메모리 소자 및 그의 제조방법 | |
US8450712B2 (en) | Resistance switchable conductive filler for ReRAM and its preparation method | |
JP2009218260A (ja) | 抵抗変化型素子 | |
WO2011008651A1 (en) | Pcmo non-volatile resitive memory with improved switching | |
Mohapatra et al. | Effects of temperature and ambient pressure on the resistive switching behaviour of polymer-based atomic switches | |
Schindler et al. | Resistive switching in Ag-Ge-Se with extremely low write currents | |
WO2019240139A1 (ja) | 導電性ブリッジ型のメモリ装置及びその製造方法並びにスイッチ素子 | |
Chen | Ionic memory technology | |
JP5517065B2 (ja) | スイッチング素子及びスイッチアレイ | |
JP7116377B2 (ja) | 2つのメタ安定相の間の可逆介在イオン移動に基づくメモリスタ・デバイス | |
Valov et al. | Mobile ions, transport and redox processes in memristive devices | |
US10879460B2 (en) | Method of forming a metallic conductive filament and a random access memory device for carrying out the method | |
KR102118470B1 (ko) | 멤리스터 및 이의 제조 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131003 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131224 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140224 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140318 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140320 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5517065 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |