JP5500073B2 - 金属膜付きフィルム - Google Patents
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Description
[1] 算術平均粗さ(Ra)が50nm以下の支持体層表面に離型層が形成され、該離型層上に金属膜層が形成されている金属膜付きフィルム。
[2] 離型層の厚さが0.1〜5μmである、上記[1]記載の金属膜付きフィルム。
[3] 金属膜層の層厚が50nm〜5000nmである、上記[1]又は[2]記載の金属膜付きフィルム。
[4] 金属膜層が、蒸着法、スパッタリング法及びイオンプレーティング法から選ばれる1種以上の方法により形成されたものである、上記[1]〜[3]いずれかに記載の金属膜付きフィルム。
[5] 離型層の少なくとも金属膜層と接着する面が水溶性セルロース樹脂、水溶性ポリエステル樹脂及び水溶性アクリル樹脂から選択される1種以上の水溶性高分子から形成されている、上記[1]〜[4]いずれかに記載の金属膜付きフィルム。
[6] 支持体層がプラスチックフィルムである、上記[1]〜[5]いずれかに記載の金属膜付きフィルム。
[7] 支持体層がポリエチレンテレフタレートフィルムである、上記[1]〜[5]いずれかに記載の金属膜付きフィルム。
[8] 支持体層の層厚が10μm〜70μmである、上記[1]〜[7]いずれかに記載の金属膜付きフィルム。
[9] 少なくとも表層が硬化性樹脂組成物よりなる被着体に、上記[1]〜[8]いずれかに記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層が被着体の表面に接するように重ねて積層し、硬化性樹脂組成物を硬化する工程、及び支持体層を剥離する工程を含む金属膜層の転写方法。
[10] 少なくとも表層が硬化性樹脂組成物よりなる被着体に、上記[5]〜[8]いずれかに記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層が被着体の表面に接するように重ねて積層し、硬化性樹脂組成物を硬化する工程、支持体層を剥離する工程、及び金属膜層上に存在する離型層を水溶液で溶解除去する工程を含む金属膜層の転写方法。
[11] 内層回路基板上の硬化性樹脂組成物層に、上記[1]〜[8]いずれかに記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層が硬化性樹脂組成物層表面に接するように重ねて積層し、硬化性樹脂組成物層を硬化する工程、及び支持体層を剥離する工程を含む回路基板の製造方法。
[12] 内層回路基板上の硬化性樹脂組成物層に、上記[5]〜[8]いずれかに記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層が硬化性樹脂組成物層表面に接するように重ねて積層し、硬化性樹脂組成物層を硬化する工程、支持体層を剥離する工程、及び金属膜層上に存在する離型層を水溶液で溶解除去する工程を含む回路基板の製造方法。
[13] 金属膜層上にメッキにより導体層を形成する工程をさらに含む、上記[11]又は[12]記載の方法。
[14] 硬化性樹脂組成物層が、繊維からなるシート状基材に硬化性樹脂組成物が含浸されたプリプレグからなる、上記[11]〜[13]いずれかに記載の方法。
[15] 単一のプリプレグ又は複数枚のプリプレグを重ねて多層化した多層プリプレグの片面又は両面に上記[1]〜[8]いずれかに記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層がプリプレグの表面に接するように重ねて加熱加圧する工程、及び支持体層を剥離する工程を含む、金属張積層板の製造方法。
[16] 単一のプリプレグ又は複数枚のプリプレグを重ねて多層化した多層プリプレグの片面又は両面に上記[5]〜[8]いずれかに記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層がプリプレグの表面に接するように重ねて加熱加圧する工程、支持体層を剥離する工程、及び金属膜層上に存在する離型層を水溶液で溶解除去する工程を含む、金属張積層板の製造方法。
[17] 上記[1]〜[8]いずれかに記載のフィルムの金属膜層上に、さらに硬化性樹脂組成物層が形成されている、金属膜付き接着フィルム。
[18] 上記[17]記載の金属膜付き接着フィルムを、硬化性樹脂組成物層が内層回路基板と接するよう内層回路基板に重ねて積層する工程、硬化性樹脂組成物層を硬化する工程、及び支持体層を剥離する工程を含む、回路基板の製造方法。
[19] 上記[5]〜[8]いずれかに記載のフィルムの金属膜層上に、さらに硬化性樹脂組成物層が形成されている金属膜付き接着フィルムを、硬化性樹脂組成物層が内層回路基板と接するよう内層回路基板に重ねて積層する工程、硬化性樹脂組成物層を硬化する工程、支持体層を剥離する工程、及び金属膜層上に存在する離型層を水溶液で溶解除去する工程を含む、回路基板の製造方法。
[20] 金属膜層上にメッキにより導体層を形成する工程をさらに含む、上記[18]又は[19]記載の方法。
[支持体層]
支持体層を構成する支持体は自己支持性を有するフィルム乃至シート状物であり、プラスチックフィルムが好適に用いられる。プラスチックフィルムとしては、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリイミドフィルム、ポリアミドイミドフィルム、ポリアミドフィルム、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、ポリカーボネートフィルム等が挙げられ、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルムが好ましく、中でも、安価なポリエチレンテレフタレートフィルムが特に好ましい。
本発明においては、算術平均粗さ(Ra)が50nm以下の支持体表面に離型層が形成される。
離型層としては、フッ素樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリビニルアルコール樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、メラミン樹脂、セルロース等を用いて形成することができるが、本発明のフィルムにより、被着体上に均一な金属膜層を形成する観点から、水溶性セルロース樹脂、水溶性アクリル樹脂及び水溶性ポリエステル樹脂から選択される1種以上により形成するのが好ましい。これらの水溶性高分子を離型層として採用した場合、被着体である硬化性樹脂組成物の硬化後に支持体層−離型層間で支持体層の剥離が可能となり、その後、金属膜層上に残る離型層は水溶液で簡便に除去されるため、被着体上に均一性に優れる金属膜を形成することが可能となる。これらの中でも、水溶性セルロース樹脂及び水溶性ポリエステル樹脂がより好ましく、特に水溶性セルロース樹脂が好ましい。通常、水溶性高分子離型層には、いずれかの水溶性高分子が単独で用いられるが、2種以上の水溶性高分子を混合して用いることもできる。また、通常、水溶性高分子離型層は単層で形成されるが、使用される水溶性高分子が異なる2以上の層から形成される多層構造を有していてもよい。また水溶性高分子離型層と支持体層間での剥離性を向上させるため、シリコーン樹脂、アルキッド樹脂、フッ素樹脂等の他の離型層が支持体層上に存在していてもよい。すなわち、離型層に水溶性高分子を適用する場合、離型層の少なくとも金属膜層と接着する面が水溶性高分子で形成されていればよく、例えば、離型層を水溶性高分子離型層のみで形成するか、またはその金属膜層と接着する面が水溶性高分子で形成されるように、水溶性高分子離型層と他の離型層との2層構造等にすることができる。支持体層−離型層間での支持体の剥離は、離型層が水溶性高分子のみで形成される場合、支持体と離型層の界面で行われ、離型層がアルキッド樹脂等の他の離型層と上記水溶性高分子離型層の2層からなる場合は、該他の離型層と該水溶性高分子離型層の界面で行われる。なおアルキッド樹脂の離型剤としては、AL−5(リンテック(株)製)が挙げられる。
本発明でいう「水溶性セルロース樹脂」とは、セルロースに水溶性を付与するための処理を施したセルロース誘導体のことであり、好適には、セルロースエーテル、セルロースエーテルエステル等が挙げられる。
これらの中でも、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート、ヒドロキシプロピルメチルセルロースアセテートサクシネート、ヒドロキシプロピルメチルセルロースアセテートフタレートが好ましい。
本発明でいう「水溶性ポリエステル樹脂」とは、多価カルボン酸またはそのエステル形成性誘導体と多価アルコールまたはそのエステル形成性誘導体を主たる原料とする通常の重縮合反応によって合成されるような、実質的に線状のポリマーからなるポリエステル樹脂であって、分子中または分子末端に親水基が導入されたものである。ここで、親水基としては、スルホ基、カルボキシル基、燐酸基等の有機酸基またはその塩等が挙げられ、好ましくは、スルホン酸基またはその塩、カルボン酸基またはその塩である。水溶性ポリエステル樹脂としては、特にスルホ基もしくはその塩及び/又はカルボキシル基もしくはその塩を有するものが好ましい。
本発明でいう「水溶性アクリル樹脂」とは、カルボキシル基含有単量体を必須成分として含有することで、水に分散乃至溶解するアクリル樹脂である。
本発明で使用する金属膜付きフィルムにおいて、金属膜層としては、金、白金、銀、銅、コバルト、クロム、ニッケル、チタン、タングステン、アルミニウム、亜鉛、鉄、スズ、インジウム等の金属単体のほか、適宜2種類以上の金属の固溶体(アロイ)などのあらゆる種類の金属を使用することができるが、中でも、コスト、蒸着法やスパッタリング法を適用できる汎用性、電気伝導性等の点から、クロム、ニッケル、チタン、ニッケル・クロムアロイ、アルミニウム、亜鉛、銅・ニッケルアロイ、銅・チタンアロイ、金、銀及び銅が好ましく、クロム、ニッケル、チタン、ニッケル・クロムアロイ、アルミニウム、亜鉛、金、銀及び銅がより好ましく、銅が特に好ましい。また、金属膜層は単層であっても2層以上の積層で構成されていてもよい。例えば、硬化性樹脂組成物層の熱硬化の際に、銅層の硬化性樹脂組成物層への拡散によって樹脂の熱劣化(分解)等が懸念される系では、必要により、銅層上にクロム層、ニッケル・クロムアロイ層又はチタン層を設けることができる。すなわち、水溶性高分子離型層上に銅層を形成した後、クロム層、ニッケル・クロムアロイ層又はチタン層を更に形成することができる。
スパッタリング法は、公知の方法を用いることができ、例えば、離型層を有する支持体を真空容器内に入れ、アルゴン等の不活性ガスを導入し、直流電圧を印加して、イオン化した不活性ガスをターゲット金属に衝突させ、叩き出された金属により離型層上に膜形成を行うことができる。
蒸着法(真空蒸着法)も、公知の方法を用いることができ、例えば、離型層を有する支持体を真空容器内に入れ、金属を加熱蒸発させることにより離型層上に膜形成を行うことができる。
イオンプレーティング法も、公知の方法を用いることができ、例えば、離型層を有する支持体を真空容器内に入れ、グロー放電雰囲気下で、金属を加熱蒸発させ、イオン化した蒸発金属により離型層上に膜形成を行うことができる。
金属膜形成後、室温まで冷却される過程で、離型層厚が小さく、かつ離型層が設けられた支持体表面の算術平均粗さ(Ra)の値が大きい場合は、金属膜にクラックが発生し易くなる。
接着フィルムにおける硬化性樹脂組成物層には、その硬化物が、十分な硬度と絶縁性を有するものであれば、特に限定なく使用でき、エポキシ樹脂、シアネートエステル樹脂、フェノール樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、ビニルベンジル樹脂等の硬化性樹脂にその硬化剤を少なくとも配合した組成物が使用される。なかでも、硬化性樹脂がエポキシ樹脂である組成物が好ましく、(a)エポキシ樹脂、(b)熱可塑性樹脂及び(c)硬化剤を少なくとも含む組成物がより好ましい。
本発明の回路基板の製造において、金属膜付き接着フィルムを用いる場合は、硬化性樹脂組成物層を接着面として、内層回路基板に積層すればよい。一方、金属膜付きフィルムを用いる場合は、金属膜層が、内層回路基板上に存在する硬化性樹脂組成物層の表面に接するように重ねて積層すればよい。
<金属膜付きフィルムの作製>
厚み38μmのポリエチレンテレフタレート(以下、「PET」とも略称する)フィルムであるT60(東レ(株)製、Ra=22nm)上に、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート(信越化学工業(株)製「HP−55」)のメチルエチルケトン(以下、「MEK」と略す)とN,N−ジメチルホルムアミド(以下、「DMF」と略す)の1:1溶液(固形分10重量%)をダイコーターにより塗布し、熱風乾燥炉を用いて室温から140℃まで昇温速度3℃/秒で昇温することで溶剤を除去し、PETフィルム上に約0.5μmのヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層を形成させた。次いで、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層上に蒸着法により、銅膜層約500nmを形成し、金属膜付きフィルムを作製した。金属膜層(銅膜層)にクラックは発生していなかった。図1はこのクラックが発生していない金属膜層表面の写真である。
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(828EL)28部と、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂(HP−4700)28部とをMEK15部とシクロヘキサノン15部の混合液に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、フェノール系硬化剤であるトリアジン構造を含むノボラック樹脂(固形物のフェノール性水酸基当量120、大日本インキ化学工業(株)製「LA7052」、固形分60重量%のMEK溶液)50部、フェノキシ樹脂(分子量 50000、ジャパンエポキシレジン(株)製「E1256」の固形分40重量%のMEK溶液)20部、硬化触媒(2E4MZ)0.1部、球形シリカ(SOC2)55部、ポリビニルブチラール樹脂(積水化学工業(株)製「KS−1」)の固形分15重量%のエタノールとトルエンの1:1溶液30部、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂(分子量 27000、ダイセル化学工業(株)製「PB−3600」)3部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。厚み38μmのPETフィルム上に上記ワニスをダイコーターにより塗布し、熱風乾燥炉を用いて溶剤を除去し、硬化性樹脂組成物層の厚みが40μmである接着フィルムを作製した。
18μm厚の銅層で回路が形成されているガラスエポキシ基板の銅層上をCZ8100(アゾール類の銅錯体、有機酸を含む表面処理剤(メック(株)製))処理にて粗化を施した。次に、上記接着フィルムの硬化性樹脂組成物層が銅回路表面と接するようにし、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP−500((株)名機製作所製商品名)を用いて、接着フィルムを回路基板の両面にラミネートした。ラミネートは30秒間減圧して気圧を13hPa以下で行った。次いで、室温に冷却後、接着フィルムの支持体層を剥離し、回路基板の両面に硬化性樹脂組成物層を形成した。
上記で調製した金属膜付きフィルムを金属膜層(銅膜層)が硬化性樹脂組成物層と接するようにして内層回路基板に積層した。積層は、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP−500((株)名機製作所製、商品名)を用いて、内層回路基板の両面にラミネートすることにより行った。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、圧力7.54kgf/cm2でプレスすることにより行った。その後、硬化性樹脂組成物層を150℃で30分、更に180℃で30分間硬化させ、絶縁層(硬化物層)を形成した。該絶縁層から支持体のPETフィルムを剥離した。剥離性は良好で手で容易に剥離できた。その後、絶縁層上に存在する離型層(ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層)を1重量%炭酸ナトリウム水溶液で溶解除去した。金属膜層は均一に転写され、樹脂と金属膜層間の膨れ、金属膜層のしわ、金属膜層のクラックといった異常は見られなかった。
実施例1において、ポリエチレンテレフタレートフィルムを東洋紡(株)製の厚み50μmのポリエチレンテレフタレートフィルム、A4100(平滑面のRa=12nm)にした以外は、実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作製し、金属膜層の転写を行った。ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレートのコーティングはA4100の平滑面(Ra=12nm)に行った。金属膜付きフィルムの製造工程で、金属膜にクラックは発生しなかった。また、金属膜層は均一に転写され、樹脂と金属膜層間の膨れ、金属膜層のしわ、金属膜層のクラックといった異常は見られなかった。
実施例1において、ポリエチレンテレフタレートフィルムを帝人デュポンフィルム(株)製の厚み38μmのポリエチレンナフタレートフィルム、Q83(平滑面のRa=32nm)にし、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層の層厚を約0.5μm、金属膜層の層厚を約2500nmにした以外は、実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作製し、金属膜層の転写を行った。金属膜付きフィルムの製造工程で、金属膜層にクラックは発生しなかった。また、金属膜層は均一に転写され、樹脂と金属膜層間の膨れ、金属膜層のしわ、金属膜層のクラックといった異常は見られなかった。
実施例1において、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層の層厚を約2μmにした以外は実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作成し、金属膜層の転写を行った。金属膜付きフィルムの製造工程で、金属膜層にクラックは発生しなかった。また、金属膜層は均一に転写され、樹脂と金属膜間の膨れ、金属膜層のしわ、金属膜層のクラックといった異常は見られなかった。
実施例3において、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層の層厚を約2μmにした以外は実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作製し、金属膜層の転写を行った。金属膜付きフィルムの製造工程で、金属膜層にクラックは発生しなかった。また、金属膜層は均一に転写され、樹脂と金属膜層間の膨れ、金属膜層のしわ、金属膜層のクラックといった異常は見られなかった。
実施例1において、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層の層厚を約4μmにした以外は実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作製し、金属膜層の転写を行った。金属膜付きフィルムの製造工程で、金属膜層にクラックは発生しなかった。また、金属膜層は均一に転写され、樹脂と金属膜層間の膨れ、金属膜層のしわ、金属膜層のクラックといった異常は見られなかった。
実施例1で作製した金属膜付きフィルムを実施例1で作製した接着フィルムの硬化性樹脂組成物層と金属膜層が接するように90℃で貼り合わせ、巻き取り、金属膜付き接着フィルムを作製した。
18μm厚の銅層で回路が形成されているガラスエポキシ基板の銅層上をCZ8100(アゾール類の銅錯体及び有機酸を含む表面処理剤、メック(株)製)で処理して粗化を施した。次いで、上記作製した金属膜付き接着フィルムの接着フィルム側の支持体を剥離し、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP−500((株)名機製作所製、商品名)を用いて、金属膜付き接着フィルムを基板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下にして行った。その後、硬化性樹脂組成物層を150℃で30分、更に180℃で30分間硬化させ、絶縁層(硬化物層)を形成した。該絶縁層から金属膜付き接着フィルム側の支持体層であるPETフィルムを剥離した。剥離性は良好で手で容易に剥離できた。その後、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層を1重量%炭酸ナトリウム水溶液に室温で1分間浸漬(攪拌付)し、溶解除去した。金属膜層は均一に転写され、樹脂と金属膜層間の膨れ、金属膜層のしわ、金属膜層の亀裂といった異常は見られなかった。
<プリプレグの作製>
実施例1で作製した樹脂ワニスを厚さ50μmのガラス繊維に含侵させ、135℃で4分間乾燥させ、樹脂ワニス含有量が52重量%のプリプレグを作製した。
実施例1で作製した金属膜付きフィルムで、上記で作製したプリプレグ2枚をプリプレグと金属膜層が接するように上下に配置し、10kgf/cm2の圧力下、130℃で30分、その後30kgf/cm2の圧力下、190℃で90分真空プレスにて金属膜張積層板を作製した。該絶縁層から金属膜付きフィルム側の支持体層であるPETフィルムを剥離した。剥離性は良好で手で容易に剥離できた。その後、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層を1重量%炭酸ナトリウム水溶液に室温で1分間浸漬(攪拌付)し、溶解除去した。金属膜層は均一に転写され、樹脂と金属膜層間の膨れ、金属膜層のしわ、金属膜層の亀裂といった異常は見られなかった。
実施例1において、ポリエチレンテレフタレートフィルムを、東レ(株)製の厚み38μmのポリエチレンテレフタレートフィルム、R56(Ra=67nm)にした以外は、実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作製した。しかし、金属膜層に無数のクラックが発生していた。
実施例1において、ポリエチレンテレフタレートフィルムを、東レ(株)製の厚み38μmのポリエチレンテレフタレートフィルム、R56(Ra=67nm)にし、金属膜層(銅膜層)の層厚を約500nmから約2500nmに変更した以外は、実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作製した。しかし、金属膜層に無数のクラックが発生していた。
実施例1において、ポリエチレンテレフタレートフィルムを、東レ(株)製の厚み38μmのポリエチレンテレフタレートフィルム、R56(Ra=67nm)にし、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層の層厚を約0.5μmから約7μmに変更した以外は、実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作製し、金属膜の転写を行った。金属膜付きフィルムの製造工程では、金属膜層にクラックは発生しなかったが、転写された金属膜層に無数のクラックが発生していた。
実施例1において、ポリエチレンテレフタレートフィルムを、東レ(株)製の厚み38μmのポリエチレンテレフタレートフィルム、R56(Ra=67nm)にし、ヒドロキシプロピルメチルセルロースフタレート層の層厚を約0.5μmから約7μm、金属膜層の層厚を約500nmから約2500nmに変更した以外は、実施例1と同様の操作により金属膜付きフィルムを作製した。金属膜付きフィルムの製造工程では、金属膜層にクラックは発生しなかったが、転写された金属膜層に無数のクラックが発生していた。
算術平均粗さ(Ra値)の測定は、非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして行った。
作製した金属膜付きフィルムの金属膜層の膜厚は、エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)製、蛍光X線膜厚測定器「SFT9455」にて測定し、その値を読み取った。
離型層の膜厚は、離型層を形成する前と離型層を形成した後のフィルムの重さをそれぞれ電子天秤で量り、その差を求め、離型層の単位面積当たりの付着量を求めた。そして、離型層の比重を0.9g/cm3として、層厚を計算した。
クラックとは金属膜層に生じるひび割れのことをいい、クラックの評価は顕微鏡(株式会社キーエンス、超深度顕微鏡「VK−8510」)を用いて観察した。倍率100倍で金属膜層表面を観察した際のクラックの様子を図示した。クラックが見られた場合を「あり」とし、クラックが見られなかった場合を「なし」とした。
Claims (19)
- 算術平均粗さ(Ra)が50nm以下の支持体層表面に離型層が形成され、該離型層上に金属膜層が形成されており、
該離型層の少なくとも該金属膜層と接着する面が水溶性セルロース樹脂、水溶性ポリエステル樹脂及び水溶性アクリル樹脂から選択される1種以上の水溶性高分子から形成されている、金属膜付きフィルム。 - 離型層の厚さが0.1〜5μmである、請求項1記載の金属膜付きフィルム。
- 金属膜層の層厚が50nm〜5000nmである、請求項1又は2記載の金属膜付きフィルム。
- 金属膜層が、蒸着法、スパッタリング法及びイオンプレーティング法から選ばれる1種以上の方法により形成されたものである、請求項1〜3のいずれか1項に記載の金属膜付きフィルム。
- 支持体層がプラスチックフィルムである、請求項1〜4のいずれか1項に記載の金属膜付きフィルム。
- 支持体層がポリエチレンテレフタレートフィルムである、請求項1〜4のいずれか1項に記載の金属膜付きフィルム。
- 支持体層の層厚が10μm〜70μmである、請求項1〜6のいずれか1項に記載の金属膜付きフィルム。
- 少なくとも表層が硬化性樹脂組成物よりなる被着体に、請求項1〜7のいずれか1項に記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層が被着体の表面に接するように重ねて積層し、硬化性樹脂組成物を硬化する工程、及び支持体層を剥離する工程を含む金属膜層の転写方法。
- 金属膜層上に存在する離型層を水溶液で溶解除去する工程をさらに含む、請求項8記載の金属膜層の転写方法。
- 内層回路基板上に形成された硬化性樹脂組成物層に、請求項1〜7のいずれか1項に記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層が硬化性樹脂組成物層表面に接するように重ねて積層し、硬化性樹脂組成物層を硬化する工程、及び支持体層を剥離する工程を含む回路基板の製造方法。
- 金属膜層上に存在する離型層を水溶液で溶解除去する工程をさらに含む、請求項10記載の回路基板の製造方法。
- 金属膜層上にメッキにより導体層を形成する工程をさらに含む、請求項10又は11記載の方法。
- 硬化性樹脂組成物層が、繊維からなるシート状基材に硬化性樹脂組成物が含浸されたプリプレグからなる、請求項10〜12のいずれか1項に記載の方法。
- 単一のプリプレグ又は複数枚のプリプレグを重ねて多層化した多層プリプレグの片面又は両面に請求項1〜7のいずれか1項に記載の金属膜付きフィルムを、金属膜層がプリプレグの表面に接するように重ねて加熱加圧する工程、及び支持体層を剥離する工程を含む、金属張積層板の製造方法。
- 金属膜層上に存在する離型層を水溶液で溶解除去する工程をさらに含む、請求項14記載の金属張積層板の製造方法。
- 請求項1〜7いずれか1項に記載のフィルムの金属膜層上に、さらに硬化性樹脂組成物層が形成されている、金属膜付き接着フィルム。
- 請求項16記載の金属膜付き接着フィルムを、硬化性樹脂組成物層が内層回路基板と接するよう内層回路基板に重ねて積層する工程、硬化性樹脂組成物層を硬化する工程、及び支持体層を剥離する工程を含む、回路基板の製造方法。
- 金属膜層上に存在する離型層を水溶液で溶解除去する工程をさらに含む、請求項17記載の回路基板の製造方法。
- 金属膜層上にメッキにより導体層を形成する工程をさらに含む、請求項17又は18記載の方法。
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