JP5586877B2 - 露光装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
一方、特開2000−323391号公報(特許文献2)では、ジョブキューテーブル(キューは待ち行列)の情報に従って、次ジョブ以降の複数のレチクルをレチクルステージの近傍に設けられた複数のレチクル待機部に予め搬入しておく方法が提案されている。
この場合、(1)PPCの検査ステージ上に配置されているレチクルを別の待機部に退避させる必要がある。例えば、PPCの検査ステージ上にあるレチクルをレチクル回収位置(レチクルライブラリ等)に一旦回収した後、異物検査を行いたいレチクルをPPCの検査ステージ上に配置する必要がある。このため、必要以上に異物検査に時間が掛かり、異物検査ができないおそれがある。
また、(2)次ロット以降のジョブとは無関係なレチクルがPPCの検査ステージ上で異物検査されている間、次ジョブのレチクルがレチクル回収位置に存在するため、次ジョブの処理開始までに時間が掛かってしまう。
この場合、(1)レチクル固体識別情報読み取り装置のステージ上に配置されているレチクルを別の待機部に退避させる必要がある。例えば、レチクル固体識別情報読み取り装置のステージ上にあるレチクルをレチクル回収位置(レチクルライブラリ)に一旦回収した後、レチクル情報の読み取りを行いたいレチクルをレチクル固体識別情報読み取り装置のステージ上に配置する必要がある。このため、必要以上にレチクル情報の読み取りに時間が掛かり、レチクル情報の読み取りができないおそれがある。
また、(2)次ロット以降のジョブとは無関係なレチクルがレチクル固体識別情報読み取り装置のステージ上でレチクル情報の読み取り処理がされている間、次ジョブのレチクルがレチクル回収位置に存在するため、次ジョブの処理開始までに時間が掛かる。
そこで、本発明は、例えば、スループットの点で有利な露光装置を提供することを目的とする。
前記原版を保持し且つ移動される原版ステージと、
前記原版を待機させるのに使用可能な複数の待機部と、
前記原版ステージに前記原版を搬送する搬送手段と、
前記原版を待機させる待機部としての使用可否を前記複数の待機部のそれぞれに関して選択する選択手段と、
前記選択手段により使用可として選択された待機部に前記ジョブの情報に従って原版を待機させるよう、かつ前記選択手段により使用不可として選択された待機部をその他の待機部にある原版の退避場所とするよう、前記搬送手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする露光装置である。
原版を待機させる待機部としての使用可否を、原版ステージに搬送されるべき原版を待機させるのに使用可能な複数の待機部のそれぞれに関して選択し、
前記選択により使用可として選択された待機部に前記ジョブの情報に従って原版を待機させるよう、かつ前記選択により使用不可として選択された待機部をその他の待機部にある原版の退避場所とするよう、該原版を搬送する、
ことを特徴とする原版搬送方法である。
図1は、本発明の一実施例の露光装置の概略構成図である。本実施例の露光装置は、待ち行列中のジョブの情報に含まれる原版であるレチクル2の情報に従って、レチクル2を介して基板であるウエハ9を露光する装置である。照明装置1は、光源とシャッタとを有し、原版ステージであるレチクルステージ3は、回路パターンが描かれたレチクル2を保持し且つ移動されるステージである。レチクル位置計測機構4は、レチクルステージ3上のレチクル2の位置を計測する機構で、焼付け用の投影光学系5は、回路パターンを基板であるウエハ9に投影する光学系である。基板ステージを構成するXYステージ6は、焼付け対象のウエハ8を載せてXY平面内でXおよびYの2方向に移動するステージで、レーザー干渉計7は、XYステージ6の位置を計測する手段である。基板ステージを構成するウエハZステージ8は、ウエハ9を載せ露光時のピントを調節する(フォーカシングする)ためにウエハ9を垂直方向に移動させるステージで、オートフォーカスユニット10は、ウエハ9のピント位置を計測する手段である。
露光装置チャンバー11には、外部からレチクルの出し入れを可能とするレチクル搬入搬出口18が設けられている。オペレータは、このレチクル搬入搬出口18よりレチクルをレチクルカセットに入れた状態で露光装置内に挿入する。
搬送手段であるカセットロボット13あるいはレチクル搬送ロボット16は、レチクル2を待機させる待機部を有し、レチクルステージ3にレチクル2を搬送する搬送手段である。
この待機部は、PPC17で異物が検出されなかったレチクル2が、当該検査の後、再度の検査を経ることなくレチクルステージ3に保持され、ウエハ8の露光に使用されるまで待機する場所である。従って、当該待機部には、露光に使用されたレチクル2が、ライブラリやカセット等に収納されることなく再度、レチクルステージ3に保持され、ウエハ8の露光に使用されるまで待機することもある。
待機部は、複数設けられ、レチクル2を一時的に収納する手段であるレチクルライブラリ12(収納部)、レチクル2を保持するハンド(レチクル搬送ロボット16のハンド)、レチクル2の異物を検査するPPC17(検査部)と、レチクル2の固体識別情報を読み取るRBCR22(読取部)およびレチクル2をプリアライメントするレチクルプリステージ15(プリアライメント部)の少なくとも1つを含む。
さらに、待機部は、一時的に収納される手段である中継収納ユニット14、レチクル2が一時的に載置され回転される原版回転装置であるレチクル回転装置30などを有する。
また、端末20は、複数の待機部のうち、レチクルを待機させる待機部を設定する設定手段でもある。
ワークステーション21およびレチクル搬送制御ボード19は、前記ジョブの情報と端末20による設定に従って搬送手段であるカセットロボット13あるいはレチクル搬送ロボット16を制御する制御手段である。
ワークステーション21、レチクル搬送制御ボード19は、PPC17による異物検査の後、または、RBCR22によるレチクル2の固体識別情報の読み取りの後に、レチクルステージ3にレチクル2を搬送する場合もある。
さらに、ワークステーション21およびレチクル搬送制御ボード19(制御手段)は、待機部にレチクル2が待機した状態において、前記待ち行列中にないジョブに対応したレチクル2の待機部への搬送を少なくとも一時的に禁止する場合もある。
さらに、ワークステーション21およびレチクル搬送制御ボード19は、前記待機部にレチクルを待機した前記ジョブを実行しようとした際に端末20により警告表示を行う場合もある。
No.に従ってジョブを順番に実行する。各ジョブで使用するレチクルは、reticle欄に記載してあるレチクルを使用し、ジョブの切り替えに伴いレチクルを変更する。レチクル搬送制御ボード19は、それぞれの処理に掛かる時間を予め知っており、処理時間を考慮してレチクルの搬送を制御する。また、ジョブ中での異物検査処理はPPC17のステージを待機部として使用しない場合でも実行する。
図4において、レチクルライブラリ12から中継収納ユニット14へのレチクルカセットの搬送(表2中の処理1)は、カセットロボット13にて行う。その際、中継収納ユニット14にはレチクルがカセットに入ったまま収納される。レチクルライブラリ12から中継収納ユニット14へのレチクルカセットの搬送は、カセットロボットが1台しかないため同時に行うことはできない。中継収納ユニット14からPPC17へのレチクルの搬送は、まず、レチクル搬送ロボット16のハンドで行う。
レチクル搬送制御ボード19はPPC実行コマンドを受信したか否かを判断する(ステップS302)。PPC実行コマンドを受信していない場合は再度、ステップS302を実行する。PPC実行コマンドを受信した場合はステップS303へ進む。
中継収納ユニット14にはPPCを実行したいレチクルhを搬入する空きスロットが無いため、クリーンエリア内のレチクルの内、ジョブ順の遅いレチクルeを回収する必要がある。まず、レチクル搬送ロボット16のハンド上のレチクルcとRBCR22のステージ上のレチクルeを交換する(ステップS303)。その後、ステップS304へ進む。
中継収納ユニット14に搬送したレチクルeをレチクルライブラリ12へ格納する(ステップS305)。その後、ステップS306へ進む。
異物検査を実行したいレチクルhを中継収納ユニット14に搬送する(ステップS306)。その後、ステップS307へ進む。
中継収納ユニット14にあるレチクルhをレチクル搬送ロボット16のハンドにて、PPC17のステージまで搬送する。その際にハンド上のレチクルhとPPC17のステージ上のレチクルdを交換する(ステップS307)。その後、ステップS308へ進む。
PPC17のステージ上にある、異物検査処理が完了したレチクルhとレチクル搬送ロボット16のハンド上のレチクルcを配置交換する(ステップS310)。その後、ステップS311へ進む。
レチクル搬送ロボット16のハンド上にあるレチクルhを中継収納ユニット14の所定のカセット位置へ搬送する(ステップS311)。その後、ステップS312へ進む。
レチクルライブラリ12に一旦回収したレチクルeを中継収納ユニット14へ搬送する(ステップS313)。その後、ステップS314へ進む。
中継収納ユニット14にあるレチクルeをハンドにて、RBCR22のステージまで搬送する。その際にRBCR22のステージ上にあるレチクルdとレチクルロボット13のハンド上にあるレチクルeを配置交換する(ステップS314)。その後、ステップS315へ進む。
PPC17のステージ上のレチクルcとレチクル搬送ロボット16のハンド上にあるレチクルdの配置交換を実施する(ステップS315)。その後、ステップS316へ進む。
レチクルhの異物検査前の元の状態に戻る(ステップS316)。
レチクル搬送制御ボード19はPPC実行コマンドを受信したか否かを判断する。PPC実行コマンドを受信していない場合は再度S402を実行する(ステップS402)。PPC実行コマンドを受信した場合はステップS403へ進む。
中継収納ユニット14で待機しているレチクルeをレチクルライブラリ12へ格納する(ステップS403)。
レチクルhを中継収納ユニット14へ搬送する(ステップS404)。その際、同時にレチクルロボットのハンド上にあるレチクルcをPPC17のステージ上へ配置する(ステップS405)。その後、ステップS406へ進む。
中継収納ユニット14に格納した、異物検査を実行したいレチクルhをレチクル搬送ロボット16のハンドにてPPC17のステージ上へ搬送する。その際、PPC17のステージ上にあるレチクルcとレチクル搬送ロボット16のハンド上にあるレチクルhを配置交換する(ステップS406)。その後、ステップS407に進む。
PPC17のステージ上にある異物検査が完了したレチクルhとレチクル搬送ロボット16のハンド上のレチクルcを配置交換する(ステップS408)。その後、ステップS409へ進む。
レチクル搬送ロボット16のハンド上にあるレチクルhを中継収納ユニット14へ搬送する(ステップS409)。その後、ステップS410へ進む。
中継収納ユニット14にあるレチクルhをレチクルライブラリ12へ搬送する(ステップS410)。その後S411へ進む。
一旦、ライブラリに回収したレチクルeを中継収納ユニット14へ搬送する。その際、同時にS412においてPPC17のステージ上にあるレチクルcをレチクル搬送ロボット16のハンド上へ配置する(ステップS411)。その後、ステップS413へ進み、元の状態に戻る。
レチクルの待機部としてPPC17のステージを使用する設定となっている場合において、以下の場所にレチクルが待機している状態を想定する。すなわち、レチクルステージ3、レチクルプリステージ15、レチクル搬送ロボット16のハンド、PPC17のステージ、RBCR22のステージ、中継収納ユニット14にジョブに使用するレチクルが待機している状態を想定する。さらに、ジョブとは無関係なレチクルを異物検査する場合を想定している。
さらに、レチクルの待機部としてPPC17のステージを使用しない設定になっている場合において、以下の場所にレチクルが待機している状態を想定する。すなわち、レチクルステージ3、レチクルプリステージ15、レチクル搬送ロボット16のハンド、RBCR22のステージ、中継収納ユニット14にジョブに使用するレチクルが待機している状態を想定する。さらに、ジョブとは無関係なレチクルを異物検査する場合を想定している。
また、異物検査が行われている間は、異物検査実行前のジョブが継続して行われている場合を想定し、異物検査実行前の状態からジョブに無関係なレチクルを異物検査し、再度異物検査実行前の状態に戻るまでに掛かる時間を示している。図9上段がPPC17のステージをレチクル待機部として使用する設定を選択した場合を示し、図9下段がPPC17のステージをレチクル待機部として使用しない設定を選択した場合を示している。
図10上段には、PPC17のステージを待機部として使用する設定を選択した場合が示される。この場合は、PPC実行命令を受信した時に、レチクルbがレチクルステージ3にあり、レチクルaがプリステージ15上にある。さらに、レチクルeはRBCR22のステージ上、レチクルcおよびレチクルdは配置換えのタイミングなので両方ともレチクル搬送ロボット16のハンド上にある。PPC実行命令を受信していなければレチクルdはPPC17のステージに置かれることになるが、PPC実行命令を受信したため、中継収納14に空きスロットを得るために、レチクルeはレチクルライブラリ12まで一旦回収することになる。レチクルeをレチクルライブラリ12に収納後、レチクルhをPPC17のステージまで搬送し、異物検査処理を実行する。レチクルhの異物検査処理が完了し、レチクルライブラリ12まで回収された後、再度レチクルeをRBCR22のステージまで搬送する。その後は、継続してジョブが行われることになる。
RBCR22を待機部として使用しても、PPC17のステージを待機部として使用しない設定の場合に、ジョブ実行に無関係なレチクルを複数枚異物検査したい場合がある。この場合には、ジョブの実行の過程で異物検査処理が完了しているレチクルをクリーンエリア外に搬出する必要が生じることがある。その際には、再度クリーンエリア内に搬送したときに再度異物検査処理を行う必要があるため、ロット処理に大きく遅延を与える可能性がある。
図12に示されるようにシーケンスがスタートする(ステップS501)。
PPC17のステージを待機部とする設定が選択されているか否かを判断する(ステップS502)。PPC17のステージを待機部とする場合はステップS503へ、待機部として使用しない際はステップS504へ進む。
PPC実行ボタンを押下可能な設定となっている場合は(ステップS503)、ステップS504へ進み、押下不可となっている際はステップS509へ進む。押下不可の際は、ジョブとは無関係なレチクルの異物検査を行うことはできない。
レチクル搬送制御ボード19はPPC実行コマンドを受信したか否かを判断する(ステップS505)。PPC実行コマンドを受信していない場合は再度、ステップS507を実行する。PPC実行コマンドを受信した場合はステップS505へ進む。
ロット処理が遅延する旨の警告を出した後(ステップS506)、ステップS508へ進む。
ステップS507およびステップS508において異物検査処理を実行し、処理完了後、ステップS509へ進みシーケンスが終了する。
本実施例では、RBCR22とレチクル2を180度回転させる原版回転装置が同一配置場所であるが、RBCR22と、レチクル2を180度回転させる原版回転装置が別配置場所となる場合もあり、同一配置場所となる場合と同様な効果が得られる。
この予約レチクル待機部の使用可否を選択設定可能な機能を採用することにより、ユーザの運用に合わせた待機部の使用可否設定が可能となり、運用スループットの低下を低減する。
なお、これまでは、異物検査に合格したレチクルをクリーンエリア外に移動したのち再度異物検査すると再度合格になることを前提に全体の処理時間について説明してきた。しかし、場合によっては、再度異物検査した際、その結果が不合格となる場合も考えられる。こうした場合は、レチクルを装置外に一旦搬出し、クリーニングを行ってから再度装置内に搬入することになり、大幅な時間遅れが発生しうる。例えば、クリーンエリア外に配置されるレチクルカセットはユーザが管理するものであるため、当該カセット内の汚染状況によって、出し入れによりレチクルが汚染される危険性が異なる。そこで、カセット内のクリーン状況を勘案してユーザが待機場所を選択できるようにすれば、より効率の良い運用を実現することができる。
つぎに、本発明の一実施形態のデバイス(半導体デバイス、液晶表示デバイス等)の製造方法について説明する。当該方法において、本発明を適用した露光装置を使用し得る。 半導体デバイスは、ウエハ(半導体基板)に集積回路を作る前工程と、前工程で作られたウエハ上の集積回路チップを製品として完成させる後工程とを経ることにより製造される。前工程は、前述の露光装置を用いて、感光剤が塗布されたウエハを露光する工程と、その工程で露光されたウエハを現像する工程とを含みうる。後工程は、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)と、パッケージング工程(封入)とを含みうる。また、液晶表示デバイスは、透明電極を形成する工程を経ることにより製造される。透明電極を形成する工程は、透明導電膜が蒸着されたガラス基板に感光剤を塗布する工程と、前述の露光装置を用いて、感光剤が塗布されたガラス基板を露光する工程と、その工程で露光されたガラス基板を現像する工程とを含みうる。 本実施形態のデバイス製造方法は、デバイスの性能、品質、生産性および生産コストの少なくとも一つにおいて従来よりも有利である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
22:RBCR 30:レチクル回転装置
Claims (7)
- 待ち行列中のジョブの情報に含まれる原版の情報に従って、原版を介して基板を露光する露光装置であって、
前記原版を保持し且つ移動される原版ステージと、
前記原版を待機させるのに使用可能な複数の待機部と、
前記原版ステージに前記原版を搬送する搬送手段と、
前記原版を待機させる待機部としての使用可否を前記複数の待機部のそれぞれに関して選択する選択手段と、
前記選択手段により使用可として選択された待機部に前記ジョブの情報に従って原版を待機させるよう、かつ前記選択手段により使用不可として選択された待機部をその他の待機部にある原版の退避場所とするよう、前記搬送手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする露光装置。 - 前記複数の待機部は、前記原版を一時的に収納する収納部、前記原版を保持するハンド、前記原版の異物を検査する検査部、前記原版の固体識別情報を読み取る読取部、および前記原版をプリアライメントするプリアライメント部の少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 前記検査部による検査の後、または、前記読取部による読み取りの後に、前記原版ステージに前記原版を搬送することを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
- 前記制御手段は、前記選択手段により使用可として選択された待機部に原版が待機した状態において、前記待ち行列中にないジョブに対応した原版の当該待機部への搬送を少なくとも一時的に禁止することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の露光装置。
- 前記搬送手段は、2つのハンドを有し、かつ前記複数の待機部のうちの一つを構成する、ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の露光装置。
- 請求項1乃至5のいずれかに記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
前記工程で露光された基板を現像する工程と、
を有することを特徴とするデバイス製造方法。 - 待ち行列中のジョブの情報に含まれる原版の情報に従って原版を介し基板を露光する装置に適用される原版搬送方法であって、
原版を待機させる待機部としての使用可否を、原版ステージに搬送されるべき原版を待機させるのに使用可能な複数の待機部のそれぞれに関して選択し、
前記選択により使用可として選択された待機部に前記ジョブの情報に従って原版を待機させるよう、かつ前記選択により使用不可として選択された待機部をその他の待機部にある原版の退避場所とするよう、該原版を搬送する、
ことを特徴とする原版搬送方法。
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