JP5333354B2 - 力学量センサ - Google Patents
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Description
また、加速度スイッチの構造が、特許文献2の図1に示されているように、3枚の基板を積層した構造であり、中央の基板に片持ち梁部が形成され、その片持ち梁部の上下面と、上下の基板とには、アルミニウムや銅の蒸着によって接点が形成されている。また、各基板間は、ガラス層によって絶縁されている。また、各基板は、それぞれ異なるシリコンウェハにて製造され、各シリコンウェハを個々に分断して得たものを貼り合わせて上記の加速度スイッチを得る。そしてさらに、そのように得た加速度スイッチを複数接続することにより、加速度センサを製造している。
つまり、加速度センサの製造工程が複雑なため、製造効率が悪いという問題がある。
したがって、力学量センサを小型化することができる。
したがって、力学量の印加に応じて異なる電圧を発生することができるため、複数の大きさの加速度を検出することができる。
したがって、相互に隣接する可動片および固定片をスイッチとして機能させることができる。
したがって、1枚のSOI基板から力学量センサを製造することができ、従来のように3枚の異なるシリコンウェハから製造する必要がないので、力学量センサの製造効率を高めることができる。
したがって、1枚のSOI基板から力学量センサを製造することができ、従来のように3枚の異なるシリコンウェハから製造する必要がないので、力学量センサの製造効率を高めることができる。また、各固定片に直列接続する抵抗もSOI基板のシリコン層に形成することができるため、信号処理回路の面積を小さくすることができるので、力学量センサをより一層小型化することができる。
したがって、1枚のSOI基板から力学量センサを製造することができ、従来のように3枚の異なるシリコンウェハから製造する必要がないので、力学量センサの製造効率を高めることができる。
したがって、1枚のSOI基板から力学量センサを製造することができ、従来のように3枚の異なるシリコンウェハから製造する必要がないので、力学量センサの製造効率を高めることができる。
この発明に係る第1実施形態について図を参照して説明する。以下の各実施形態では、この発明に係る力学量センサとして加速度センサを例に挙げて説明する。図1は、この第1実施形態に係る加速度センサの主要構造を示す平面図である。図2は、図1に示す加速度センサの主な電気的構成を示す回路図である。
この実施形態に係る加速度センサの主要構造を説明する。
加速度センサ1は、SOI基板20のシリコン層を周知のMEMS(Micro Electro Mechanical System)加工技術、たとえば、トレンチエッチングによって加工されている。加速度センサ1は、図9に示した従来の静電容量型加速度センサの製造工程と略同じ工程により製造することができる。SOI基板20は、支持基板の基板面に埋込絶縁膜を介してシリコン層を形成してなる基板であり、この実施形態では、支持基板は単結晶シリコンにより形成されており、シリコン層は不純物が注入または拡散されたP型またはN型である。また、埋込絶縁膜はシリコン酸化膜である。
この実施形態では、各可動片4,5は、それぞれ板状部材を立設した形状(板壁状)に形成されており、同じ突出長さおよび突出高さに形成されている。
各可動部2a〜2g、梁構造体3a〜3jおよびアンカー部10,11は、SOI基板20のシリコン層を加工して一体形成されている。
各可動片は、加速度が印加されると、各梁構造体のバネ力に抗して加速度方向F1に変位し、加速度の印加がなくなると、各梁構造体の復元力によって変位前の位置に復帰する。可動片4a〜4iおよび固定片6a〜6iのうち、相互に隣接する可動片および固定片がスイッチを構成している。つまり、相互に隣接する可動片および固定片を1組とした場合に、計7組により、電源Eに並列接続されたスイッチS1〜S7が構成されている(図2)。
なお、説明を分かり易くするため、図1に示す加速度センサ1の構造を簡略化したモデルを用いて説明する。図3(a)は、図1に示す加速度センサ1の構造を簡略化したモデルを加速度方向F1を下向きにして示す平面図、(b)は(a)の模式図である。図4は、図3(a)に示すモデルの主な電気的構成を示す回路図である。図5は、図3(a)に示すモデルの出力電圧および加速度の関係を示すグラフである。
この実施形態では、図3(a)に示すモデルでは、梁構造体3b〜3dの突出長さL1を異ならせることにより、各梁構造体のバネ定数k1〜k3を異ならせている。図示の例において梁構造体3b〜3dの各突出長さL1は、可動部2a,2bを連結する梁構造体3bが最も短く、可動部2cとアンカー部11とを連結する梁構造体3dが最も長い。
梁構造体のバネ定数は、図1の梁構造体3d,3gに示すように、梁構造体の突出長さに加えて梁構造体の構造を他の梁構造体と変えることにより、異ならせることもできる。
たとえば、加速度センサ1を車両の衝突時の加速度検出用に用いれば、衝突したときにエアバッグを作動させるトリガーとなる加速度近傍の範囲を高精度で検出できるため、エアバッグの作動を高精度で制御することができる。
(1)上述した第1実施形態に係る加速度センサ1を実施すれば、加速度の印加に応じて可動部2が変位したときに相互に接触する可動片4a〜4iおよび固定片6a〜6iの組数に応じて異なる電圧を出力することができるため、従来のように静電容量を電圧に変換するCV変換回路およびローパスフィルタが不要である。
したがって、加速度センサを小型化することができる。
したがって、相互に隣接する可動片および固定片をスイッチS1〜S7として機能させることができる。
したがって、1枚のSOI基板20から加速度センサ1を製造することができ、従来のように3枚の異なるシリコンウェハから製造する必要がないので、加速度センサの製造効率を高めることができる。
次に、この発明の第2実施形態について説明する。図7は、この実施形態に係る加速度センサの一部を示す平面図である。なお、この実施形態に係る加速度センサは、各可動片の一部の形状が異なる以外は、第1実施形態に係る加速度センサ1と同じ構成および機能であるため、同じ部分の説明を省略する。
なお、各可動片に突起部を形成するのではなく、固定片に突起部を形成しても良い。
次に、この発明の第3実施形態について説明する。図8は、この実施形態に係る加速度センサの一部を示す平面図である。
したがって、1枚のSOI基板20から加速度センサを製造することができ、従来のように3枚の異なるシリコンウェハから製造する必要がないので、加速度センサの製造効率を高めることができる。
(1)第1実施形態に係る加速度センサ1の信号処理回路22に設けられた抵抗R1〜R7をSOI基板20のシリコン層に形成することもできる。たとえば、シリコン層に注入または拡散する不純物の量を制御することにより、各抵抗を形成することができる。また、各抵抗を各固定部8a〜8gに作り込むこともできる。
この構造を用いれば、信号処理回路22の面積を小さくすることができるので、加速度センサ1をより一層小型化することができる。
したがって、1枚のSOI基板20から加速度センサを製造することができ、従来のように3枚の異なるシリコンウェハから製造する必要がないので、加速度センサの製造効率を高めることができる。
3・・梁構造体(バネ性部材)、4,5・・可動片、6,7・・固定片、
8,9・・固定部、10,11・・アンカー部、12〜15・・電極パッド、
20・・SOI基板。
Claims (15)
- 基板と、
前記基板に支持されており、検出対象の力学量の印加に応じて前記基板の基板面と平行に変位する可動部と、
前記可動部のうち変位方向に沿った両側面から櫛歯状に突出形成された複数の可動片と、
隣接する可動片との間に空間が形成されるように各可動片間に固定して配置されており、相互に絶縁された複数の固定片とを備えており、
相互に隣接する可動片および固定片の各組により、電源に並列接続された複数のスイッチが構成されており、
前記力学量の印加に応じて前記可動部が変位したときに相互に接触する可動片および固定片の組数が前記力学量の大きさに応じて異なり、かつ、前記組数に応じて異なる電圧を発生するように構成されたことを特徴とする力学量センサ。 - 前記複数の固定片には、それぞれ抵抗が直列接続されていることを特徴とする請求項1に記載の力学量センサ。
- 前記複数の可動片および固定片は、それぞれ半導体であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の力学量センサ。
- 前記半導体は、不純物を含むシリコンであることを特徴とする請求項3に記載の力学量センサ。
- 前記基板はSOI基板であり、そのSOI基板表面の不純物を含むシリコン層を加工することにより前記可動部、複数の可動片および固定片が形成されていることを特徴とする請求項4に記載の力学量センサ。
- 前記基板はSOI基板であり、そのSOI基板表面の不純物を含むシリコン層を加工することにより前記可動部、複数の可動片、複数の固定片および各抵抗が形成されていることを特徴とする請求項2に記載の力学量センサ。
- 前記複数の固定片は、それぞれ不純物を含むシリコンによって形成されており、かつ、各固定片のうち接触した可動片によって応力が発生する部位にピエゾ抵抗がそれぞれ形成されていることを特徴とする請求項1に記載の力学量センサ。
- 前記基板はSOI基板であり、そのSOI基板表面の不純物を含むシリコン層を加工することにより前記可動部、前記複数の可動片、複数の固定片および各ピエゾ抵抗が形成されていることを特徴とする請求項7に記載の力学量センサ。
- 前記複数の固定片は、それぞれ不純物を含むシリコンにより形成されており、かつ、各固定片のうち接触した可動片によって応力が発生する部位に圧電素子がそれぞれ形成されていることを特徴とする請求項1に記載の力学量センサ。
- 前記基板はSOI基板であり、そのSOI基板表面の不純物を含むシリコン層を加工することにより前記可動部、複数の可動片、複数の固定片および各圧電素子が形成されていることを特徴とする請求項9に記載の力学量センサ。
- 前記力学量の印加に応じて前記可動部が変位したときに相互に接触する可動片および固定片の組数が前記力学量の大きさに応じて異なるように、各組の可動片および固定片間の間隔が設定されていることを特徴とする請求項1ないし請求項10のいずれか1つに記載の力学量センサ。
- 前記力学量の印加に応じて前記可動部が変位したときに相互に接触する可動片および固定片の組数が前記力学量の大きさに応じて異なるように、前記可動部はそれぞれバネ定数が異なる複数のバネ性部材を介して変位方向に複数に分割されており、各可動片は、それぞれ分割された可動部に配置されていることを特徴とする請求項1ないし請求項11のいずれか1つに記載の力学量センサ。
- 前記複数のバネ性部材は、前記可動部の両側面から前記可動片と同じ方向に突出形成された梁構造体であることを特徴とする請求項12に記載の力学量センサ。
- 特定の範囲の力学量を検出するための可動片および固定片の組数は、前記特定の範囲外の力学量を検出するための可動片および固定片の組数よりも多いことを特徴とする請求項1ないし請求項13のいずれか1つに記載の力学量センサ。
- 前記相互に隣接する可動片および固定片は、一方に設けられた突起部を介して相互に接触可能であることを特徴とする請求項1ないし請求項14のいずれか1つに記載の力学量センサ。
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