JP5396617B2 - 赤外線アレイセンサ - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 111
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 22
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 11
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 18
- 230000006870 function Effects 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 11
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 8
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000003292 diminished effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
- G01J5/22—Electrical features thereof
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S3/00—Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received
- G01S3/78—Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received using electromagnetic waves other than radio waves
- G01S3/781—Details
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- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S3/00—Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received
- G01S3/78—Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received using electromagnetic waves other than radio waves
- G01S3/782—Systems for determining direction or deviation from predetermined direction
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- H—ELECTRICITY
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- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/20—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming only infrared radiation into image signals
- H04N25/21—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming only infrared radiation into image signals for transforming thermal infrared radiation into image signals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14649—Infrared imagers
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Description
i=iaa+iab=iba+ibb=ica+icb=ida+idb、
Ia=iaa+iba+ica+ida、
Ib=iab+ibb+icb+idb
となる。
iba:ibb=3:2
となり、定電流源の電流の大きさが決まれば、ibaとibbを決定することができる。その他の電流成分についても同じようにして求めることができ、回路全体の電流は、図10(a)に示すように、上記のようにして求めた個々の電流成分の加算したものになる。
△ia:△ib=3:2
となる。この場合、左側の端子51aから流れ込む電流の増分△iaは△iaに等しく、右側の端子51bから流れ込む電流の増分△ibは△ibに等しい。従って、左側の電流の増分の方が右側の電流の増分より大きいことがわかる。
△ia:△ib=4:1
、右から2番目の定電流源の電流のみが増加した場合は、
△ia:△ib=2:3
、一番右側の定電流源の電流のみが増加した場合は、
△ia:△ib=1:4
となる。このように、増加した電流の位置に応じて左右に分割される電流値が変わるので、左右の電流の増分を計測し比較することで、どの位置の電流源の電流が増大したかを検知することができ、その結果、どの列の信号が大きくなったかを知ることができ、検知対象物Tの存在する列を特定することができる。行方向についても、同様の動作により検知対象物Tの位置特定ができる。そして、行列の情報を組み合わせることで、検知対象物Tの2次元空間上での位置を特定できる。
2 第1の温度センサ
3 第2の温度センサ
4、101 熱型赤外線検知器
4A 脚部
4B 検知器構造体
5、102 画素
6、32 行方向直列回路
6a、32a 一端
6b、32b 他端
7、33 列方向直列回路
7a、33a 一端
7b、33b 他端
8 基板
9 温度センサ
T 検知対象物
12 行加算回路
13 列加算回路
34 切替手段
35,36,37,38 スイッチングトランジスタ
42、43 電源
44、45 アンプ(増幅器)
46、47 MOSトランジスタジスタ
48、49 抵抗体
50a、50b、51a、50b 端子
62a、62b、63a、63b 電流−電圧変換アンプ
64、65 差動アンプ
66、67 加算回路
68,69,70,71 端子
82、83 MOSトランジスタ
84、85 補正データ供給回路
86、87 アンプ
88、89 端子
103 行出力取出手段
104 列出力取出手段
A (スイッチングトランジスタの)第1の入出力端子
B (スイッチングトランジスタの)第2の入出力端子
Claims (16)
- 赤外線の入射により生じる温度変化に応じて電気特性が変化する第1及び第2の温度センサを備えた熱型赤外線検知器を有する画素を2次元マトリックス状に配列して同時に視野全体をみるようにした赤外線アレイセンサであって、
各行ごとに前記第1の温度センサをそれぞれ電気的に直列に接続することにより前記第1の温度センサがそれぞれ示す電気特性の和となる電気特性に応じた電気信号を外部に出力として取り出し得るように構成された行方向直列回路と、
各列ごとに前記第2の温度センサをそれぞれ電気的に直列に接続することにより前記第2の温度センサがそれぞれ示す電気特性の和となる電気特性に応じた電気信号を外部に出力として取り出し得るように構成されて列方向直列回路と、を備え、
前記温度センサは、サーモパイル型温度センサ、抵抗ボロメータ型温度センサ、又はダイオード型温度センサのいずれかで構成されたことを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 赤外線の入射により生じる温度変化に応じて電気特性が変化する温度センサを1つ備えた熱型赤外線検知器を有する画素を2次元マトリックス状に配列した赤外線アレイセンサであって、
各行ごとに前記温度センサをそれぞれ電気的に直列に接続する行方向直列回路と、
各列ごとに前記温度センサをそれぞれ電気的に直列に接続する列方向直列回路と、
各前記行方向直列回路を電気的に接続し異なる列間の前記温度センサの電気的な接続を全て切断する状態と、前記各列方向直列回路を電気的に接続し行間の前記温度センサの電気的な接続を全て切断する状態とを切り替える切替手段と、を設けており、
前記温度センサは、サーモパイル型温度センサ、抵抗ボロメータ型温度センサ、又はダイオード型温度センサのいずれかで構成されたことを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項2の赤外線アレイセンサであって、
行方向及び列方向にそれぞれ隣接する前記画素の前記温度センサの間にそれぞれスイッチングトランジスタを電気的に直列に接続し、
前記切替手段が、2つの制御信号によって前記スイッチングトランジスタをON/OFFすることにより前記状態を切り替えることを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項1〜3のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
前記各温度センサは、赤外線の入射により生じる温度変化に応じて電気特性が同等に変化することを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項1〜4のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
前記温度センサは、前記各画素ごとに熱的に独立する検知部位における温度変化に応じて電気特性が変化することを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項1〜5のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
前記温度センサを、ヒートシンクとなる基板上に脚部を介して支持された検知器構造体上に設けたことを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項1〜6のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
各前記行方向直列回路の一端及び/又は各前記列方向直列回路の一端を全て短絡させ、短絡された一端を電源又は接地レベルに接続したことを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項1〜7のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
各行又は各列の少なくとも一方に、各前記行方向直列回路及び各前記列方向直列回路から取り出した信号を入力信号として該入力信号に応じて定まる電流を流す定電流源をそれぞれ有し、各前記定電流源の第1の端子を一定電位にそれぞれ接続し、隣接する前記定電流源の第2の端子をそれぞれ抵抗を介して接続し、両最外行及び両最両外列の各前記定電流源の第2の端子をそれぞれ抵抗を介して電圧源に接続したことを特徴とした赤外線アレイセンサ。 - 請求項8の赤外線アレイセンサであって、
少なくとも各行又は各列の隣接する前記定電流源の第2の端子間に接続される各抵抗の抵抗値が全て同等であることを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項8又は9の赤外線アレイセンサであって、
少なくとも各行又は各列の各前記定電流源の入力信号に対して流す電流の交換特性が全て同等であることを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項8〜10のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
両最外行又は両最外列の前記定電流源の第2の端子に抵抗を介して接続した電圧源の電源電圧が同等であることを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項8〜11のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
前記両最外行又は前記両最外列の少なくとも一方の各前記定電流源に接続された抵抗に定電圧を供給する電圧源を備えた電流−電圧交換アンプをそれぞれ接続し、各前記電流−電圧変換アンプの出力端子を差動アンプと加算アンプとにそれぞれ接続し、前記差動アンプと加算アンプの出力を当該センサの出力とすることを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項8〜12の赤外線アレイセンサであって、
行又は列の少なくとも一方について、行及び列の和信号を制御入力信号として、上記和信号によって決まる電流を流すことのできる第1の定電流源が抵抗列に接続された節に、第1の端子が接続され、電流量を制御することができる入力を持った第2の定電流源を有し、前記定電流源の第2の端子を一定電位に接続し、前記定電流源の電流量を制御するためのデータを供給するための補正データ供給回路を有することを特徴とした赤外線アレイセンサ。 - 請求項1〜7のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
第1の状態において各前記列方向直列回路から取り出される出力と第2の状態において各前記列方向直列回路から取り出される出力との差が最大となる行を検知するピーク行検知回路、及び/又は、
第1の状態において各前記列方向直列回路から取り出される出力と、第2の状態において各前記列方向直列回路から取り出される出力との差が最大となる列を検知するピーク列検知回路を備えたことを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項1〜7のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
第1の状態において各前記行方向直列回路から取り出される出力と、第2の状態において各前記行方向直列回路から取り出される出力との差を関数にフィッティングし、そのフィッティングされた関数の値が最大となる行位置を検知するピーク行位置検知回路、及び/又は、
第1の状態において各前記列方向直列回路から取り出される出力と、第2の状態において各前記列方向直列回路から取り出される出力との差を関数にフィッティングし、そのフィッティングされた関数の値が最大となる列位置を検知するピーク列位置検知回路を備えたことを特徴とする赤外線アレイセンサ。 - 請求項1〜7のいずれかの赤外線アレイセンサであって、
第1の状態において各前記行方向直列回路から取り出される出力と、第2の状態において各前記行方向直列回路から取り出される出力との差を全ての行について加算する行加算回路、及び/又は、
第1の状態において各前記列方向直列回路から取り出される出力と、第2の状態において各前記列方向直列回路から取り出される出力との差を全ての列について加算する列加算回路を備えたことを特徴とする赤外線アレイセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008516590A JP5396617B2 (ja) | 2006-05-24 | 2007-05-07 | 赤外線アレイセンサ |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006143965 | 2006-05-24 | ||
JP2006143965 | 2006-05-24 | ||
PCT/JP2007/059457 WO2007135850A1 (ja) | 2006-05-24 | 2007-05-07 | 赤外線アレイセンサ |
JP2008516590A JP5396617B2 (ja) | 2006-05-24 | 2007-05-07 | 赤外線アレイセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2007135850A1 JPWO2007135850A1 (ja) | 2009-10-01 |
JP5396617B2 true JP5396617B2 (ja) | 2014-01-22 |
Family
ID=38723162
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008516590A Expired - Fee Related JP5396617B2 (ja) | 2006-05-24 | 2007-05-07 | 赤外線アレイセンサ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7728297B2 (ja) |
EP (1) | EP2034285B1 (ja) |
JP (1) | JP5396617B2 (ja) |
WO (1) | WO2007135850A1 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 2007-05-07 WO PCT/JP2007/059457 patent/WO2007135850A1/ja active Application Filing
- 2007-05-07 JP JP2008516590A patent/JP5396617B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-07 EP EP07742892A patent/EP2034285B1/en not_active Not-in-force
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2008
- 2008-11-21 US US12/275,407 patent/US7728297B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11146150A (ja) * | 1997-11-12 | 1999-05-28 | Nec Shizuoka Ltd | ハンディスキャナ |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2007135850A1 (ja) | 2007-11-29 |
US7728297B2 (en) | 2010-06-01 |
US20090101821A1 (en) | 2009-04-23 |
EP2034285A1 (en) | 2009-03-11 |
EP2034285B1 (en) | 2013-04-03 |
JPWO2007135850A1 (ja) | 2009-10-01 |
EP2034285A4 (en) | 2012-02-08 |
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Legal Events
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R250 | Receipt of annual fees |
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