JP5383342B2 - 加工方法 - Google Patents
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Description
まず、図1(a)に示すように、被加工物1表面に、例えば、一辺の長さaであって所望の凹形状より深さが浅い(凹底部の被加工物表面からの距離が短い)高低差の小さい凹形パターン2を、間隔pで格子状に形成する。本実施形態では正方形の凹形パターンを格子状に配置したが、正方形の他、円形、楕円形、線状、あるいは長方形であってもよい。この凹形パターンを形成する工程を、以降、基本形状形成工程と称することにする。この凹形パターンの加工方法は特に限定されるものではない。例えばレーザ加工、イオンビーム加工、電子ビーム加工、フォトリソグラフィーなど、得たいパターン形状の寸法や形状精度、被加工物の材質、コストなどの観点から最適な加工法を選択すればよい。例えばレーザ加工を選択した場合、次の工程で用いるレーザ発振源を利用することも可能であり、1台の装置での加工が実施が可能となる。
被加工物1の表面に形成された凹形パターン2に対してレーザ光を照射する。例えば、図1(b)に示すようなレーザ加工装置を用いる。図1(b)において、レーザ発振源(図示せず)からのレーザビーム10は、シャッター11を通過した後、NDフィルタ12によって適宜減衰させた後、ミラー13を介し、ビーム整形器14に導入する。ビーム整形器14は屈折型のビーム整形手段であり、ビーム径の調整機能も兼ねる。なお、屈折型のビーム整形手段は、例えば、文献「F.M.Dickey et al.“Laser Beam Shaping”Marcel Dekker,Inc.p168−174(2000)」に記載されている方法を用いることができる。このようなレーザ加工装置を用いて、前記凹形パターンの幅よりも大きいビーム径のレーザ光を、前記凹形パターンに照射する。これにより凹部底面と被加工物表面の高さの差(高低差)を増大させることが可能となる。その理由は以下の通りであると考えられる。
加工しようとする凹部の短手方向の幅は0.2μm以上10μm未満であるのが好ましい。
前記実施形態で説明した加工方法について具体的に説明する。基本形状形成工程として収束イオンビーム加工観察装置(以下、FIB装置)を用いて図1(a)に示す凹形状のパターン(凹形パターン)2を被加工物1に形成した。被加工物1は、銅板であり、この銅板上に一辺の長さaが2.5μmの正方形の、所望の凹凸形状より高低差の小さい凹形パターン2を、4.2μmの間隔pで格子状に形成した。この工程は、FIB装置のワークステージに被加工物1を載置し、加速電圧40kVにてガリウムイオンビームを加速し電子レンズにて収束させたビームを150μmのアパーチャを介して被加工物表面に照射した。このようにして、被加工物表面の除去加工を行い、パターン2の深さが0.15μmとなるように加工を行った。このときの原子間力顕微鏡による断面形状計測結果を図2(a)に示す。
図3は、本実施例の基本形状形成工程と形状成長工程において使用した加工装置を示す。使用したレーザ発振源(図示せず)は波長800nm、パルス幅130fs、繰り返し周波数1kHzのチタンサファイア再生増幅器である。該発振源より波長800nm、パルス幅130fs、繰り返し周波数1kHz、パルスエネルギー1.2mJ、ビーム直径8mmのレーザビーム31が得られる。これを、アパーチャ32を介してビーム径5mmに切り出す。アッテネータ33、シャッタ34、ミラー35を介してビームスプリッタ36で2つのビームに分岐した。1方のビームはシャッタ37、ミラー38を通り、集光レンズ39によって集光し、ステージ45上に設置された被加工物21の表面に照射する。もう一方のビームは光路長調整器40、NDフィルタ41、ミラー42を通り、集光レンズ43によって被加工物21の表面に照射する。被加工物表面での2つのビームスポットが一致するようにした。光路長調整器40は2枚のミラーからなり、それらが図示の矢印の方向に平行移動可能な構成となっており、他方のビームとの光路長差をなくすように調整される。NDフィルタ41は分岐後のミラー枚数の違いなどにより発生する2つのビームの光強度差を、被加工物21の表面において等しい強度となるようにその透過率が選定される。
2 パターン
10、31 レーザビーム
11、34、37 シャッタ
12、41 NDフィルタ
13、35、38、42 ミラー
14 ビーム整形器
15、45 ステージ
32 アパーチャ
33 アッテネータ
36 ビームスプリッタ
39、43 集光レンズ
40 光路長調整器
Claims (4)
- 被加工物表面に凹形状を加工するための加工方法において、
被加工物表面に前記凹形状よりも深さが浅い凹形パターンを形成する基本形状形成工程と、
前記凹形パターンの幅よりも大きいビーム径のレーザ光を、前記凹形パターンに照射して、凹形状を加工する形状成長工程とを有することを特徴とする加工方法。 - 前記レーザ光は、パルスの時間幅が10フェムト秒以上1ナノ秒未満であるパルスレーザ光であることを特徴とする請求項1に記載の加工方法。
- 前記レーザ光の照射量は被加工物の加工閾値の1倍以上40倍以下であることを特徴とする請求項1に記載の加工方法。
- 前記凹形パターンの幅が0.2μm以上10μm未満であることを特徴とする請求項1に記載の加工方法。
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