JP5234653B2 - Light wave distance meter - Google Patents
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Description
本発明は、位相差方式の光波距離計に関する。 The present invention relates to a phase difference type lightwave distance meter.
位相差方式の光波距離計としては、下記特許文献1に開示されたようなものが知られている。図14に、この光波距離計のブロック図を示す。
As a phase difference type optical wave distance meter, the one disclosed in
この光波距離計では、レーザダイオ−ド等の光源3Pから出射された測距光Lは、プリズム10P、12P、ミラー4P、対物レンズ5P等の送光光学系を経て、測点上に置かれたターゲット(プリズム等)6Pに向けて出射される。この光源3Pは変調器2Pに接続されており、変調器2Pは基準信号発振器1Pに接続されており、測距光Lは基準信号発振器1Pで発生された基準信号Kによって変調される。
In this light wave distance meter, distance measuring light L emitted from a
ターゲット6Pで反射された測距光Lは、対物レンズ5Pとミラー4Pからなる受光光学系を経て、ホトダイオード等の検出器(受光素子)7Pに入射する。すると、検出器7Pによって、測距光Lが測距信号Mなる電気信号に変換される。この測距信号Mと、変調器2Pから送られてくる基準信号Kとは、位相計9Pによって互いの位相差が測定され、この位相差からターゲット6Pまでの距離が求まる。
The distance measuring light L reflected by the
一方、光源3Pから出射された測距光Lは、シャッター8Pの位置を切り換えることにより、測距光Lがターゲット6Pまで往復する外部光路を経た場合と、このような外部光路を経ずに、プリズム10P、11P、12Pから構成される内部光路を経て参照光Rとして直ちに検出器7Pに入射する場合とに切換え可能にできる。この内部光路を経た参照光Rを用いて、外部光路を経た測距光Lと同様に距離測定すると、この光波距離計に固有な誤差を知ることができる。こうして、測距光Lによる測定と参照光Rによる測定を交互に行うことによって、測距光Lを用いて測定した距離から光波距離計に固有な誤差を補正して、ターゲット6Pまでの精確な距離を求めることができる。
On the other hand, the distance measuring light L emitted from the
一般に、前述した位相差方式の光波距離計においては、測距光Lは複数の基準信号Kを用いて変調されている。ここで、基準信号Kによる変調周波数F1、F2、F3を、それぞれ75MHz、3.75MHz、250kHzとすると、それぞれの波長は4m、80m、1200mとなり、それぞれの測定可能な範囲は2m、40m、600mとなる。これから分かるように、遠距離測定の際には低い変調周波数を使用する必要がある。しかし、数百kHz以下の変調周波数を使用すると、空気中の微粒子からの測距光Lの反射量が増して測定誤差が大きくなるという問題もあった。特に近年の高精度の光波距離計では、遠距離測定の際の空気中の微粒子からの測距光Lの反射量が無視できない程度になってきた。 Generally, in the above-described phase difference type lightwave distance meter, the distance measuring light L is modulated using a plurality of reference signals K. Here, if the modulation frequencies F 1 , F 2 , and F 3 based on the reference signal K are 75 MHz, 3.75 MHz, and 250 kHz, respectively, the respective wavelengths are 4 m, 80 m, and 1200 m, and each measurable range is 2 m, 40m and 600m. As can be seen, it is necessary to use a low modulation frequency for long distance measurements. However, when a modulation frequency of several hundred kHz or less is used, there is a problem in that the amount of reflection of the distance measuring light L from the fine particles in the air increases and the measurement error increases. In particular, in recent high-accuracy lightwave rangefinders, the amount of reflection of ranging light L from fine particles in the air at the time of long-distance measurement has reached a level that cannot be ignored.
本発明は、前記問題に鑑みてなされたもので、位相差方式の光波距離計による遠距離測定の測定誤差を小さくすることを課題とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to reduce measurement errors in long-distance measurement using a phase-difference optical wave distance meter.
前記課題を解決するため、請求項1に係る発明では、複数の変調周波数を重ね合わせる周波数重畳回路と、該周波数重畳回路で重ね合わされた複数の変調周波数で変調された光を出射する発光素子と、該発光素子から出射された光を受光する受光素子と、該受光素子に接続される複数の周波数変換器とを備えた光波距離計において、前記周波数重畳回路が、最も低い変調周波数以外の変調周波数が入力されるAND回路と、該AND回路の出力及び最も低い変調周波数が入力されるXOR回路とから構成されることを特徴とする。
In order to solve the above problems, in the invention according to
請求項2に係る発明では、請求項1に係る発明において、最も低い周波数の局部発振信号が2番目に低い変調周波数と最も低い変調周波数との差又は和といくらか異なる周波数であることを特徴とする。
The invention according to
請求項3に係る発明では、請求項1に係る発明において、前記複数の周波数変換器にはそれぞれ異なる周波数の局部発振信号が加えられ、最も低い周波数の局部発振信号が最も低い変調周波数以外の1つの変調周波数と最も低い変調周波数との差又は和といくらか異なる周波数であることを特徴とする。
In the invention according to
請求項4に係る発明では、請求項1、2又は3に係る発明において、最も低い変調周波数の変調信号のデューテイ比が18〜23%又は77〜85%で、最も低い変調周波数以外の変調信号のデューテイ比が50%であることを特徴とする。
In the invention according to
請求項1に係る発明によれば、周波数重畳回路が、最も低い変調周波数以外の変調周波数が入力されるAND回路と、該AND回路の出力及び最も低い変調周波数が入力されるXOR回路とから構成されたから、最も低い変調周波数F3に係る信号が、従来の一個のAND回路だけの場合に比べて強くなって、遠距離測定の精度と信頼性を向上させることができる。 According to the first aspect of the present invention, the frequency superimposing circuit includes an AND circuit to which a modulation frequency other than the lowest modulation frequency is input, and an XOR circuit to which the output of the AND circuit and the lowest modulation frequency are input. because is, the signal of the lowest modulation frequency F 3 is, it becomes stronger than in the case of only the conventional one of the aND circuit, thereby improving the accuracy and reliability of long-distance measurement.
請求項2に係る発明によれば、請求項1に係る発明において、最も低い周波数の局部発振信号が2番目に低い変調周波数と最も低い変調周波数との差又は和といくらか異なる周波数にしたから、2番目に低い変調周波数と最も低い変調周波数の差となる周波数成分に最も低い周波数の局部発振信号が乗算されて得られた中間周波信号から、2番目に低い変調周波数と最も低い変調周波数の差となる周波数の変調周波数を用いた場合の測距値が得られる。2番目に低い変調周波数と最も低い変調周波数の差は、2番目に低い変調周波数と接近しているので、近接法によって、測距信号から最も低い変調周波数成分を検出することなく、最も低い変調周波数を用いた場合の測距値を得ることができる。これにより、測距光の空気中の微粒子による反射による影響を少なくすることができる。しかも、2番目に低い変調周波数と最も低い変調周波数の差又は和の周波数成分は、充分なレベルを保つことができ、充分なS/N比が得られるので、いっそう遠距離測定の精度と信頼性を向上させることができる。
According to the invention according to
請求項3に係る発明によれば、請求項1に係る発明において、最も低い周波数の局部発振信号が最も低い変調周波数以外の1つの変調周波数と最も低い変調周波数との差又は和といくらか異なる周波数とされたので、請求項2に係る発明と同様に、近接法によって、測距信号から最も低い変調周波数成分を検出することなく、最も低い変調周波数を用いた場合の測距値を得ることができる。しかも、最も低い変調周波数以外の1つの変調周波数と最も低い変調周波数との差又は和の周波数成分は、充分なレベルを保つことができ、充分なS/N比が得られる。これにより、請求項2に係る発明と同様な効果を奏する。
According to the invention of
請求項4に係る発明によれば、請求項1、2又は3に係る発明において、最も低い変調周波数の変調信号のデューテイ比が18〜23%又は77〜85%で、最も低い変調周波数以外の変調信号のデューテイ比が50%としたことにより、全ての変調周波数に係る信号を所定以上のレベルに維持でき、全ての測定レンジで測定の精度と信頼性をいっそう向上させることができる。
According to the invention according to
以下、図面に基づいて、本発明の光波距離計の一実施例について説明する。 Hereinafter, an embodiment of the lightwave distance meter of the present invention will be described with reference to the drawings.
まず、この光波距離計について、図1に示したブロック図に基づいて詳細に説明する。 First, the lightwave distance meter will be described in detail based on the block diagram shown in FIG.
発振器1で変調周波数F1の信号を発生させる。この変調周波数F1の信号は、分周部2に入力されるとともに、PLL5を介して、発振器6に入力される。PLL5は、発振器6から出力される信号を正確に発振器1から出力される信号と同期させるために使用する。
In the
分周部2は、変調周波数F1の信号を分周して、変調周波数F2及びF3の信号を発生する。この変調周波数F2及びF3の信号と変調周波数F1の信号とは、周波数重畳回路3を経て駆動回路4へ入力される。負荷抵抗8に接続された発光素子11は、駆動回路4によって駆動され、変調周波数F1、F2及びF3で変調された光を出射する。
The
発振器6は、変調周波数F1といくらか異なる局部発振周波数F1+Δf1の信号を発生する。この局部発振周波数F1+Δf1の信号からは、周波数生成回路12で分周されて、変調周波数F2及びF3とそれぞれいくらか異なる局部発振周波数F2+Δf2及びF2−F3+Δf3の局部発振信号も生成される。これらの局部発振周波数F1+Δf1、F2+Δf2及びF2−F3+Δf3の局部発振信号は、後述するように、それぞれ周波数変換器32、35、38へ入力される。
The
発光素子11から出射された光は、ビームスプリッタ20で2つに分けられ、シャッター28を切換えることにより、一方が図示しない送光光学系から測距光として出射され、目標反射物22までを往復する測距光路23を経て受光素子30に入射し、他方が参照光として、光波距離計内部の参照光路26を経て受光素子30に入射する。測距光路23には、受光素子30の前に、受光光学系24と光量調整用の可変濃度フィルタ25が配置されている。参照光路26にも、受光素子30の前に光量減衰用の濃度フィルタ27が配置されている。
The light emitted from the
受光素子30から出力される測距信号は、増幅器31を経て3つに分けられ、一つ目は第1の周波数変換器32に入力され、2つ目は第2の周波数変換器35に入力され、3つ目は第3の周波数変換器38に入力される。
A distance measurement signal output from the
第1の周波数変換器32は、測距光路23を経た測距光又は参照光路26を経た参照光から得られた測距信号の周波数F1成分に、前述した周波数F1といくらか異なる局部発振周波数F1+Δf1の信号を乗算して、周波数Δf1の中間周波信号を発生させる。第2の周波数変換器35は、測距光路23を経た測距光又は参照光路26を経た参照光から得られた測距信号の周波数F2成分に、前述した周波数F2といくらか異なる局部発振周波数F2+Δf2の信号を乗算して、周波数Δf2の中間周波信号を発生させる。
The
ところで、発光素子11を周波数F1、F2、F3で変調すると、周波数F1>F2>F3の場合、図2に示したように、周波数F1、F2、F3の成分の他に、周波数F1+F3、F1−F3、F2+F3、F2−F3の成分も含まれることになる。なお、周波数F1+F2、F1−F2の成分も発生するが、周波数F1又はF2とは周波数が大きくかけ離れるため、図2に示していない。
By the way, when the
第3の周波数変換器38には、前述した周波数F2−F3といくらか異なる局部発振周波数F2−F3+Δf3が加えられているので、測距光路23を経た測距光又は参照光路26を経た参照光から得られた測距信号の周波数F2−F3成分に局部発振周波数F2−F3+Δf3の信号を乗算して、周波数Δf3の中間周波信号を発生させる。ここでは、前述したように、周波数F2−F3といくらか異なる局部発振周波数F2−F3+Δf3を用いたが、局部発振周波数としてはF2−F3−Δf3を用いることも可能である。
The
各周波数変換器32、35、38から出力された中間周波信号は、それぞれ、低域フィルタ33、36、39によって高周波成分が除去される。
The intermediate frequency signals output from the
各低域フィルタ33、36、39を経た中間周波信号は、それぞれA/D変換器34、37、40に入力される。そして、これらの中間周波信号は、図示しないCPU(演算制御部)によって初期位相及び振幅が求められる。各中間周波信号の初期位相が求まると、目標反射物22までの距離が光波距離計内部で発生する誤差を補正して算出される。また、各中間周波信号の振幅も求まると、これらの振幅は可変濃度フィルタ25による光量調節に利用される。
The intermediate frequency signals that have passed through the low-
本実施例によれば、従来と同様にして変調周波数F1及びF2での測距値が得られる。また、近接法により、近接した2つの変調周波数F2及びF2−F3の差となる変調周波数F3での測距値d3も得られる。以下、変調周波数F3での測距値が得られる理由を説明する。 According to the present embodiment, ranging values at the modulation frequencies F 1 and F 2 can be obtained in the same manner as in the past. Further, a distance measurement value d 3 at the modulation frequency F 3 that is the difference between the two adjacent modulation frequencies F 2 and F 2 −F 3 is also obtained by the proximity method. Hereinafter, explaining the reason why the distance value at the modulation frequency F 3 is obtained.
変調周波数F2、F3は、一般に変調周波数F1を分周して作る。例えば、周波数F1を20分周して周波数F2を作り、周波数F1を300分周して周波数F3を作ったとする。例えば、F1を75MHzとすると、F2は3.75MHz、F3は250kHzとなる。したがって、測距信号からは、周波数F2−F3=3.5MHzの成分も検出できることになる。近接した周波数F2、F2−F3の両成分からは、図3に示したように、ビート(うなり)により両周波数F2、F2−F3の差の周波数F3の成分を生じる。この例から分かるように、一般的に次式が成立する。
F3=F2−(F2−F3) (1)
The modulation frequencies F 2 and F 3 are generally generated by dividing the modulation frequency F 1 . For example, to make a frequency F 2 to the frequencies F 1 and circumferential 20 minutes, and made a frequency F 3 and the frequencies F 1 300 divided. For example, if the F 1 and 75 MHz, F 2 is 3.75 MHz, F 3 becomes 250 kHz. Therefore, a component of frequency F 2 −F 3 = 3.5 MHz can be detected from the distance measurement signal. As shown in FIG. 3, a component of the frequency F 3 that is the difference between the two frequencies F 2 and F 2 -F 3 is generated from both components of the adjacent frequencies F 2 and F 2 -F 3 by a beat. . As can be seen from this example, the following equation generally holds.
F 3 = F 2 - (F 2 -F 3) (1)
周波数F3での波長をλ3、周波数F2での波長をλ2、周波数F2−F3での波長をλ23、光速をcとすると、(1)式は次式のようにも書ける。
c/λ3=c/λ2−c/λ23 又は 1/λ3=1/λ2−1/λ23 (2)
Assuming that the wavelength at the frequency F 3 is λ 3 , the wavelength at the frequency F 2 is λ 2 , the wavelength at the frequency F 2 -F 3 is λ 23 , and the speed of light is c, the equation (1) can also be expressed as I can write.
c / λ 3 = c / λ 2 −c / λ 23 or 1 / λ 3 = 1 / λ 2 −1 / λ 23 (2)
図4に、周波数F2とF2−F3とが近接した3.75MHz(波長80m)と3.5MHz(波長約86m)の場合の、距離と位相との関係を示す。距離600m(往復1200m)で両者の位相差は2πになる。一方、両周波数F3とF2−F3との差となる周波数F3(波長1200m)の位相も2πになる。これから、周波数F3の位相は、周波数F3の位相と周波数F2−F3の位相との位相差に等しいことが分かる。一般に、周波数F3での測距値をd3、周波数F2での測距値をd2、周波数F2−F3での測距値をd23とすると、次式が成立する。
2d3/λ3=2d2/λ2−2d23/λ23=θ/(2π) (3)
FIG. 4 shows the relationship between distance and phase when the frequencies F 2 and F 2 -F 3 are close to 3.75 MHz (wavelength 80 m) and 3.5 MHz (wavelength about 86 m). At a distance of 600 m (roundtrip 1200 m), the phase difference between the two becomes 2π. On the other hand, the phase of the frequency F 3 (wavelength 1200 m) that is the difference between the two frequencies F 3 and F 2 −F 3 is also 2π. Now, the phase of the frequency F 3, it is seen equal the phase difference between the frequency F 3 phase and frequency F 2 -F 3 phases. In general, when the distance measurement value at the frequency F 3 is d 3 , the distance measurement value at the frequency F 2 is d 2 , and the distance measurement value at the frequency F 2 -F 3 is d 23 , the following equation is established.
2d 3 / λ 3 = 2d 2 / λ 2 -2d 23 / λ 23 = θ / (2π) (3)
ただし、θは周波数F3での位相である。したがって、この位相θは、周波数F2での位相2π(2d2/λ2)と周波数F2−F3での位相2π(2d23/λ23)の位相差から算出できる。なお、(3)式において、2d3、2d2、2d23としたのは、測距光が目標反射物22までを往復するからである。もし、2d2/λ2−2d23/λ23の値が負の場合は、2πを加えてこの位相角θを算出する。こうして位相角θを算出すると、次式から周波数F3での測距値d3を算出できる。
d3=λ3・θ /(4π) (4)
However, θ is the phase of the frequency F 3. Therefore, the phase θ can be calculated from the phase difference of the phase 2π (2d 23 / λ 23) of the phase 2π (2d 2 / λ 2) and the frequency F 2 -F 3 at the frequency F 2. In Equation (3), 2d 3 , 2d 2 , and 2d 23 are set because the distance measuring light reciprocates to the
d 3 = λ 3 · θ / (4π) (4)
このように、周波数F2とF2−F3とが近接した3.75MHzと3.5MHzであれば、両周波数F3とF2−F3との差となる周波数F3は、250kHzで、その波長は1200mとなる。こうして、測距信号から極めて低い周波数F3成分を検出することなく、極めて低い変調周波数F3を用いた場合の測距値d3を得ることができ、遠距離測定が可能となり、しかも従来よりも誤差を小さくできる。 Thus, if the 3.75MHz and 3.5MHz for the frequency F 2 and F 2 -F 3 is close, the frequency F 3 which is a difference between the two frequencies F 3 and F 2 -F 3 is a 250kHz The wavelength is 1200 m. In this way, it is possible to obtain the distance value d 3 when the extremely low modulation frequency F 3 is used without detecting the extremely low frequency F 3 component from the distance measurement signal, and it becomes possible to measure a long distance, and moreover than before. Can also reduce the error.
ところで、本実施例において、前記周波数重畳回路3として単純にAND回路を用いることが考えられるが、周波数重畳回路3の出力では一般に周波数F2−F3成分が周波数F3成分に比べて小さくなるため(図10参照)、特に遠距離測定の場合、充分なS/N比が得られず、変調周波数F3をそのまま用いた測定に比べて、精度や信頼性が格別向上しない恐れもある。そこで、本実施例では、周波数F2−F3成分をなるべく大きくするため、周波数重畳回路3を図5に示したように、変調周波数F1、F2が入力されるAND回路3Aと、AND回路3Aの出力と変調周波数F3が入力されるXOR回路(排他的OR回路)3Xから構成する。
Incidentally, in this embodiment, the it is conceivable to simply use AND circuit as the
図6〜図13に基づいて、本実施例における周波数重畳回路3の効果を説明する。図6は、周波数F1(75MHz)、F2(3.75MHz)、F3(250kHz)で、それぞれデューテイ比50%の信号を全て単独のAND回路に入力させたときのAND回路の出力について、周波数F1付近をフーリエ級数展開したシミュレーションの結果である。図7は、同じく、周波数F2(3.75MHz)付近をフーリエ級数展開したシミュレーションの結果である。図8は、周波数F1(75MHz)、F2(3.75MHz)でそれぞれデューティ比50%の信号と、周波数F3(250kHz)でデューティ比77.17%の信号を本実施例の周波数重畳回路3に入力させたときの周波数重畳回路3からの出力について、周波数F1付近をフーリエ級数展開したシミュレーションの結果である。図9は、同じく、周波数F2(3.75MHz)付近をフーリエ級数展開したシミュレーションの結果である。図10は、図6〜図9に示した結果の要点を説明する表である。図11は、周波数F3のデューティ比と周波数F1の信号レベルとの関係を示す図である。図12は、周波数F3のデューティ比と周波数F2の信号レベルとの関係を示す図である。図13は、周波数F3のデューティ比と周波数F3の信号レベルとの関係を示す図である。
The effect of the
図10から分かるように、本実施例では、周波数F1の信号レベルは、周波数重畳回路3が一個のAND回路だけの場合より強くなっている。周波数F2の信号レベルは、一個のAND回路だけの場合よりいくらか弱くなっているが、その差は1dB以内で問題はない。本実施例で特筆すべきことは、周波数F2±F3、特にF2−F3に係る信号は、一個のAND回路だけの場合に比べて、かなり強くなっていて、周波数F3の信号に比べてもさほど遜色のないことである。したがって、本実施例によれば、変調周波数F2−F3に係る信号で充分なS/N比が得られ、遠距離測定の精度と信頼性を向上させることができる。
As can be seen from FIG. 10, in this embodiment, the signal level of the frequency F 1 is stronger than when the
また、図11〜図13から分かるように、周波数F1、F2、F3に係る信号レベルが全て略−10dB以上になるように、周波数F3のデューティ比は18〜23%又は77〜85%程度が適切である。 As can be seen from FIGS. 11 to 13, the duty ratio of the frequency F 3 is 18 to 23% or 77 to so that the signal levels related to the frequencies F 1 , F 2 , and F 3 are all about −10 dB or more. About 85% is appropriate.
ところで、本発明は、前記各実施例の光波距離計だけに限るものではなく、光波距離計を内蔵した測量機、例えばトータルステーションや、その他の距離測定装置等にも広く利用できる。 By the way, the present invention is not limited to the lightwave distance meter of each of the above embodiments, but can be widely used in surveying instruments having a built-in lightwave distance meter, for example, a total station or other distance measuring devices.
また、前述した周波数F2−F3の代わりに、図2に示された周波数F2+F3(4MHz、波長75m)、F1−F3(75.25MHz、波長5.99m)、F1+F3(74.75MHz、波長4.01m)を使用してもよい。これらの場合は、図1の実施例において、周波数変換器38に、それぞれ周波数F2+F3±Δf3、F1−F3±Δf3、F1+F3±Δf3の局部発振信号を加え、周波数Δf3の中間周波信号を得る。いずれの場合でも近接法により周波数F3での測距値が得られる。
Further, instead of the frequency F 2 -F 3 as described above, the frequency F 2 +
さらに、空気中の粒子による測距光の反射が少ない環境(高地や宇宙空間等)では、近接法を用いずに変調周波数F3で直接測定しても、遠距離測定の精度と信頼性を向上させることができる。この場合は、図1の実施例において、周波数変換器38に加える局部発振周波数はF3±Δf3と変更する。
Furthermore, the environmental reflections is less of the distance measuring light by particles in the air (high altitude or space, etc.), be measured directly at the modulation frequency F 3 without using a proximity method, the accuracy and reliability of long-distance measurement Can be improved. In this case, in the embodiment of FIG. 1, the local oscillation frequency applied to the
3 周波数重畳回路
3A AND回路
3X XOR回路
11 発光素子
22 目標反射物
23 測距光路
26 参照光路
28 シャッター
30 受光素子
32、35、38 周波数変換器
F1、F2、F3 変調周波数
F1+ΔF1、F2+ΔF2、F2−F3+ΔF3 局部発振周波数
3 frequency superimposing circuit 3A AND circuit
Claims (4)
前記周波数重畳回路が、最も低い変調周波数以外の変調周波数が入力されるAND回路と、該AND回路の出力及び最も低い変調周波数が入力されるXOR回路とから構成されたことを特徴とする光波距離計。 A frequency superimposing circuit that superimposes a plurality of modulation frequencies, a light emitting element that emits light modulated at a plurality of modulation frequencies superimposed by the frequency superimposing circuit, and a light receiving element that receives the light emitted from the light emitting element; In a lightwave distance meter comprising a plurality of frequency converters connected to the light receiving element and applied with local oscillation signals of different frequencies,
The frequency superimposing circuit is composed of an AND circuit to which a modulation frequency other than the lowest modulation frequency is input, and an XOR circuit to which an output of the AND circuit and the lowest modulation frequency are input, Total.
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