JP5218917B2 - Manufacturing method of organic EL panel - Google Patents
Manufacturing method of organic EL panel Download PDFInfo
- Publication number
- JP5218917B2 JP5218917B2 JP2009168973A JP2009168973A JP5218917B2 JP 5218917 B2 JP5218917 B2 JP 5218917B2 JP 2009168973 A JP2009168973 A JP 2009168973A JP 2009168973 A JP2009168973 A JP 2009168973A JP 5218917 B2 JP5218917 B2 JP 5218917B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- organic
- conductor layer
- layer
- wiring
- panel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 21
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 62
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 39
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 16
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 14
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 claims description 12
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 5
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 4
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 92
- 239000010408 film Substances 0.000 description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 description 20
- 229910000521 B alloy Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 9
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 7
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003296 Ni-Mo Inorganic materials 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N magnesium silver Chemical compound [Mg].[Ag] SJCKRGFTWFGHGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- DDTIGTPWGISMKL-UHFFFAOYSA-N molybdenum nickel Chemical compound [Ni].[Mo] DDTIGTPWGISMKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000033116 oxidation-reduction process Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003685 thermal hair damage Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Description
本発明は、配線付き基体を用いた有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネルの製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing an organic EL (electroluminescence) panel using a substrate with wiring.
従来、有機材料によって形成される自発光素子である有機EL素子を備える有機ELパネルは、例えば、陽極となるインジウム錫酸化物(ITO)等からなる第一電極と、少なくとも発光層を有する有機層と、陰極となるアルミニウム(Al)等からなる非透光性の第二電極と、を順次積層して前記有機EL素子を形成するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, an organic EL panel including an organic EL element that is a self-luminous element formed of an organic material is, for example, a first electrode made of indium tin oxide (ITO) or the like serving as an anode, and an organic layer having at least a light emitting layer And a non-translucent second electrode made of aluminum (Al) or the like serving as a cathode are sequentially stacked to form the organic EL element (see, for example, Patent Document 1).
また、ドットマトリクス型の有機ELパネルにおいては、その駆動方式としてパッシブ駆動方式が知られている。パッシブ駆動の有機ELパネルは、基板上に信号電極を複数のライン状に形成し、走査電極を前記信号電極と交差するように複数のライン状に形成して前記信号電極と前記走査電極との交差位置を発光画素とし、この発光画素を複数配置して発光部を構成するものである。かかる有機ELディスプレイは、線順次走査された画像が前記表示部に表示される。かかるパッシブ駆動の有機ELパネルは、アクティブ駆動方式と比較して製造が容易であるといった利点がある。 Further, in the dot matrix type organic EL panel, a passive driving method is known as its driving method. In the passive drive organic EL panel, signal electrodes are formed in a plurality of lines on a substrate, and scanning electrodes are formed in a plurality of lines so as to intersect the signal electrodes. The intersection position is a light emitting pixel, and a plurality of the light emitting pixels are arranged to constitute a light emitting unit. In such an organic EL display, a line-sequentially scanned image is displayed on the display unit. Such a passively driven organic EL panel has the advantage that it is easier to manufacture than the active drive method.
ドットマトリクス型の有機ELパネルは、近年カラー化や高精細化が要求されており、そのために配線部の低抵抗化が必要とされている。しかしながら、従来から配線材料に用いられたITO層の低抵抗化には限界がある。そこで、薄膜トランジスタ(TFT)や液晶パネルに用いられるようにアルミニウム(Al)あるいはAl合金などの低抵抗金属を補助配線としてITO層と組み合わせることで実質的に有機EL素子回路の更なる低抵抗化を実現することが知られている。しかし、Al等は低抵抗ではあるがヒロックが発生しやすく、また、表面にAl酸化物が形成されやすく、他の金属と電気的に接続させる際に接触抵抗が高くなってしまう。さらには、例えばITOなどの透明導電体層とAlなどが直接電気的コンタクトを取ると、Alと透明導電体層との酸化還元電位差が高いため腐食しやすいなどAl及びAl合金を単層で使用できないという不都合がある。 In recent years, dot matrix type organic EL panels have been required to be colored and high-definition. For this reason, it is necessary to reduce the resistance of the wiring portion. However, there is a limit to reducing the resistance of the ITO layer conventionally used for wiring materials. Therefore, by using a low resistance metal such as aluminum (Al) or Al alloy as an auxiliary wiring in combination with the ITO layer as used in thin film transistors (TFTs) and liquid crystal panels, the organic EL element circuit can be further reduced in resistance. It is known to be realized. However, although Al or the like has a low resistance, hillocks are likely to occur, and an Al oxide is easily formed on the surface, resulting in high contact resistance when electrically connected to another metal. Furthermore, for example, when a transparent conductor layer such as ITO and Al etc. are in direct electrical contact, Al and Al alloys are used as a single layer because Al and the transparent conductor layer have a high oxidation-reduction potential difference and are likely to corrode. There is inconvenience that we cannot do it.
これに対し、例えば特許文献2には、モリブデン(Mo)またはMo合金からなるキャップ層をAlの上層及び下層(AlとITOとの間)に形成する方法が知られている。
On the other hand, for example,
また、特許文献3には、陰極と補助電極とのコンタクト抵抗を低減するための技術として、窒化チタン(TiN)あるいはクロム(Cr)を下地層とし、AlあるいはAl合金を上層として、陰極と下地層とを部分的に直接接触させる方法が開示されている。
In
また、引用文献4には、キャップ層を省略可能とする技術として、Alにニッケル(Ni)とボロン(B)を含有させたAl−Ni−B合金が開示されている。
Further, cited
しかしながら、特許文献2に記載の技術においては、配線の低抵抗化のための積層体が3層構造となるため、製造方法が煩雑となり製造コストが上昇して生産性が低下するという問題点があった。また、特許文献3に記載の技術においては、補助配線の形成に2回のフォトリソグラフィー工程が必要となるという問題点があった。さらに、前記下地層としてTiNを用いるにはパターニングにドライエッチングを行う必要があり、生産性に問題が生じる。前記下地層にCrを用いた場合には、初期コンタクト特性が良好であっても100℃程度の高温に放置した場合にはコンタクト抵抗が著しく高くなることがある。また、特許文献4に記載の技術においては、Al−Ni−B合金は抵抗率を減少させるために成膜後に例えば200℃以上に加熱して熱処理を行う。しかしながら、ドットマトリクス型有機ELパネルの製造において発光画素を画定する絶縁膜の形成工程で一般的に行われるフォトエッチングで使用される薬液の中には熱処理後のAl−Ni−B合金を腐食させるものがあり、必ずしもAl−Ni−B合金を単層で使用できないという問題点があった。また、Al−Ni−B合金上にキャップ層を形成する場合であっても熱処理後にパターニングを行うと前記薬液が側面から浸入し、有機ELパネルの品質悪化や歩留まりの低下が起こるという問題点があった。
However, in the technique described in
本発明は、この問題に鑑みなされたものであり、配線付き基体を用いた有機ELパネルにおいて、低抵抗でヒロックが発生しにくく、また、品質及び歩留まりを向上させることが可能な有機ELパネルの製造方法を提供することを目的とするものである。 The present invention has been made in view of this problem. In an organic EL panel using a substrate with wiring, an organic EL panel that has low resistance and hardly generates hillocks, and that can improve quality and yield. The object is to provide a manufacturing method.
本発明は、前記課題を解決するため、アルミニウムとニッケルとボロンとを含有する導体層を含む配線部が形成される基体上に、前記基体側に形成される第一電極とこの第一電極と対向する第二電極とで有機発光層を狭持してなる発光部と、フォトエッチングによってパターニングされ、少なくとも前記第一電極の端部を覆うように形成される絶縁膜と、フォトエッチングによってパターニングされ、前記第二電極を複数に分離するように形成される隔壁と、を形成してなり、前記配線部は前記第一,第二電極の少なくとも一方と電気的に接続されてなる有機ELパネルの製造方法であって、 少なくとも前記配線部,前記絶縁膜及び前記隔壁を形成した後に前記基体を加熱して前記配線部の抵抗率を下げる熱処理を行うことを特徴とする。 In order to solve the above problems, the present invention provides a first electrode formed on the substrate side on the substrate on which a wiring portion including a conductor layer containing aluminum, nickel, and boron is formed, and the first electrode a second electrode and an organic light emitting layer formed by sandwiching a light emitting portion opposed, patterned by photo-etching, an insulating film is formed to cover an end portion of at least the first electrode is patterned by photoetching , it forms a, and partition walls to be formed so as to separate the second electrode into a plurality of the wiring portion is the first, at least one electrically connected to become an organic EL panel of the second electrode In the manufacturing method, at least the wiring portion, the insulating film, and the partition are formed, and then the base is heated to perform a heat treatment for reducing the resistivity of the wiring portion.
また、前記配線部は、前記導体層上にモリブデンまたはモリブデン合金を含有するキャップ層を積層形成してなることを特徴とする。 The wiring portion is formed by laminating a cap layer containing molybdenum or a molybdenum alloy on the conductor layer.
また、前記配線部は、前記基体と前記導体層との間に透明導電体層を形成してなることを特徴とする。 Further, the wiring portion is formed by forming a transparent conductor layer between the base and the conductor layer.
また、前記配線部は、前記第一,第二電極の少なくとも一方と駆動回路とを電気的に接続するための配線であることを特徴とする。 The wiring portion is a wiring for electrically connecting at least one of the first and second electrodes and a drive circuit.
本発明は、配線付き基体を用いた有機ELパネルに関し、低抵抗でヒロックが発生しにくく、また、品質及び歩留まりを向上させることが可能となるものである。 The present invention relates to an organic EL panel using a substrate with wiring, which is low in resistance and hardly generates hillocks, and can improve quality and yield.
以下、本発明を有機ELパネルに適用した実施形態について添付図面に基づいて説明する。図1は、有機ELパネルを示す図である。有機ELパネルは、支持基板(基体)1と、発光領域2と、ドライバーIC(駆動回路)3と、陽極配線部4と、陰極配線部5と、を有する。
Hereinafter, embodiments in which the present invention is applied to an organic EL panel will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a diagram showing an organic EL panel. The organic EL panel includes a support substrate (base) 1, a
支持基板1は、長方形形状の透明ガラス材からなる電気絶縁性の配線付き基体である。支持基板1上には、発光領域2と、ドライバーIC3と、陽極配線部(配線部)4と、陰極配線部(配線部)5と、が形成されている。また、支持基板1上には発光領域2を気密的に覆う封止部材が配設されるが、図1及び図2においては封止部材を省略している。
The
発光領域2には、図2及び図3に示すように、ライン状に複数形成される陽極(第一電極)6と、絶縁膜7と、隔壁8と、機能層9と、ライン状に複数形成される陰極(第二電極)10と、が形成されている。すなわち、有機ELパネルは、各陽極6と各陰極10とが交差するとともに機能層9を陽極6と陰極10とで挟持する個所からなる複数の発光部(有機EL素子)がドットマトリクス状に配置されるものである。また、陽極6及び陰極10は、陽極配線部4及び陰極配線部5を介してドライバーIC3と電気的に接続される。また、前記各発光部は、図3に示すように、封止部材11によって気密的に覆われている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
ドライバーIC3は、発光領域2の前記各発光部を駆動させる駆動回路を構成するものであり、信号線駆動回路及び走査線駆動回路等を備える。ドライバーIC3は、COG(Chip On Glass)技術によって支持基板1上に配設され、陽極配線部4及び陰極配線部5を介して各陽極6及び各陰極10と電気的に接続される。
The driver IC 3 constitutes a drive circuit that drives the light emitting units in the
陽極配線部4及び陰極配線部5は、陽極6及び陰極10とドライバーIC3とをそれぞれ電気的に接続するための部材である。陽極配線部4及び陰極配線部5は、支持基板1上に形成される透明導電体層と、少なくともアルミニウム(Al)にニッケル(Ni)とボロン(B)とを含有するAl−Ni−B合金からなる導体層と、モリブデン(Mo)あるいはMo合金からなるキャップ層とを支持基板1からこの順に積層形成した構造を有する積層体である。図3には、陰極配線部5が示されており、陰極配線部5は、支持基板1上に透明導電体層5a,導体層5b及びキャップ層5cを積層形成してなる。なお、図示しないが陽極配線部4も同様の積層構造を有し、陽極6から延設されるITO等の透明導電体層,導体層及びキャップ層が積層形成されてなる。
The
透明導電体層5aは、例えば陽極6と同材料であるITO等からなり、陽極6と同工程で支持基板1上に形成される。
The
導体層5bは、Al−Ni−B合金からなり、配線を低抵抗化させるために支持基板1の透明導電体層5a上に形成されるものである。Al−Ni−B合金は、透明導電体層5aと直接接合が可能であり、Niは熱処理によりAlとの金属間化合物を形成し透明導電体層5aとの導体層5b直接接合における接合特性を良好にする作用を有する。しかしながら、Niの含有量が多くなると、配線自体の比抵抗が高くなり実用的ではなくなってしまう。逆に、Niの含有量が低くなると、Alとの金属間化合物の生成量が減少し、透明導電体層5aとの直接接合ができなくなり、耐熱性も低下する傾向となる。また、BはNiと同様に耐熱性に作用するがやはり含有量が多くなると配線自体の比抵抗が高くなり実用的ではなくなってしまう。したがって、導体層5bは、Niの含有量をNiの原子百分率Xat%とし、Bの含有量をBの原子百分率Yat%とした場合、
式(1)0.5≦X≦10.0
式(2)0.05≦Y≦11.00
式(3)Y+0.25X≧1.00
式(4)Y+1.15X≦11.50
の各式を満たし、残部がAlとなることが望ましい。さらに、Niの含有量が4.0at%以上であり、Bの含有量が0.8at%以下であると接合信頼性が向上するので好適である。また、導体層5bは、十分な導電性や良好なパターニングが得られるようにその膜厚が100〜500nmであることが好ましい。
The
Formula (1) 0.5 ≦ X ≦ 10.0
Formula (2) 0.05 ≦ Y ≦ 11.00
Formula (3) Y + 0.25X> 1.00
Formula (4) Y + 1.15X <= 11.50
It is desirable that each of the above formulas be satisfied and the balance be Al. Furthermore, it is preferable that the Ni content is 4.0 at% or more and the B content is 0.8 at% or less because the bonding reliability is improved. The
キャップ層5cは、MoあるいはMo合金からなり、導体層5bを腐食から保護するために導体層5b上に形成されるものである。Mo合金の例としては、Ni−Mo,Mo−ニオブ(Nb),Mo−タンタル(Ta),Mo−バナジウム(V),Mo−タングステン(W)などが上げられる。キャップ層5cは、耐湿性及びパターニング性の観点からその膜厚が10〜100nmであることが好ましい。
The
陽極6は、ITO等の透明導電材料からなり、蒸着法やスパッタリング法等の手段によって支持基板1上に透明導電材料を層状を形成した後、フォトエッチング等によって互いに略平行となるようにライン状に複数形成される。また、陽極6は、端部の一方側(図1における下方側)から延設される陽極配線部4を介してドライバーIC3と接続される。
The
絶縁膜7は、例えばポリイミド系の電気絶縁性材料から構成され、陽極6と陰極10との間に位置するように少なくとも陽極6の端部上に形成され両電極6,10の短絡を防止するとともに、発光領域2の前記各発光部を画定する開口部7aを有する。また、絶縁膜7は、陰極配線部5と陰極10との間にも延設されており、陰極配線部5と陰極10とを接続させるコンタクトホール7bを有する。
The insulating
隔壁8は、例えばフェノール系の電気絶縁性材料からなり、絶縁膜7上に形成される。隔壁8は、その断面が絶縁膜7に対して逆テーパー形状となるようにフォトエッチング等の手段によって形成されるものである。また、隔壁8は、陽極6と直交する方向に等間隔にて複数形成される。隔壁8は、その上方から蒸着法やスパッタリング法等によって機能層9及び陰極10となる金属膜を形成する際に機能層9及び前記金属膜を陽極6と直交する方向に複数に分離させるものである。
The
機能層9は、陽極6上に形成されるものであり、少なくとも有機発光層を有するものである。なお、本実施形態においては、機能層9は正孔注入層,正孔輸送層,有機発光層,電子輸送層及び電子注入層を蒸着法等の手段によって順次積層形成してなるものである。
The
陰極10は、アルミニウム(Al)やマグネシウム銀(Mg:Ag)等の陽極6よりも導電率が高い金属性導電材料を蒸着法等の手段により陽極6と交差するようにライン状に複数形成してなるものである。陰極10は、前記導電材料にて形成される前記金属膜が隔壁8によって複数に分離されてなる。また、陰極10は、絶縁膜7に設けられるコンタクトホール7bを介して陰極配線部5と接続され、この陰極配線部5を介してドライバーIC3と電気的に接続されている。
For the
封止部材11は、例えばガラス材料からなる平板部材であり、発光領域2の前記各発光部を収納する凹部11aと、この凹部11aの全周を取り巻くように形成される接合部11bとを備えており、接着剤11cを介して支持基板1上に配設される。
The sealing
以上の各部によって有機ELパネルが構成されている。 The organic EL panel is configured by the above-described units.
次に、配線付き支持基板1及び支持基板1を用いた有機ELパネルの製造方法の一例を図4及び図5を用いて説明する。
Next, an example of a method for manufacturing an organic EL panel using the support substrate with
先ず、陽極等形成工程S1において、スパッタリング法等の手段によって支持基板1上にITO等の透明導電材料を膜厚150nmの層状に形成した後、フォトエッチング等によってパターニングして陽極配線部4の透明導電体層,陰極配線部5の透明導電体層5a及び陽極6を形成する(図5(a)参照)。
First, in the anode etc. forming step S1, a transparent conductive material such as ITO is formed on the
次に、配線部形成工程S2において、支持基板1上にAl−Ni−B合金ターゲットを用いて不活性ガス雰囲気中でスパッタリングして膜厚410nmで成膜し、さらにMo合金系ターゲットを用いてMoあるいはMo合金をスパッタリングして膜厚20nmで成膜る。スパッタリング直後の積層体の抵抗率は10μΩ/cm程度と高い。その後フォトエッチングによってパターニングして陽極配線部4の導体層及びキャップ層と陰極配線部5の導体層5b及びキャップ層5cを形成する(図5(b)参照)。これにより、配線として陽極配線部4及び陰極配線部5を有する配線付き支持基板1が得られる。MoあるいはMo合金はAl−Ni−B合金と同じエッチング液(酸性水溶液)でほぼ同じ速度でエッチングすることができる。したがって、前記キャップ層及びキャップ層5cにMoあるいはMo合金を用いることによって前記導体層及び導体層5bと前記キャップ層及びキャップ層5cを一括してパターニングすることができる。またこのとき、フォトリソグラフィーで使用する温度は、100℃以下とすることで、陽極配線部4及び陰極配線部5はスパッタリング直後の組成や構造を維持している。
Next, in wiring part formation process S2, it sputter | spatters in the inert gas atmosphere on the
次に、絶縁膜形成工程S3において、支持基板1上に電気絶縁性材料を塗布し、その後フォトエッチングによってパターニングして発光領域2の開口部7aとコンタクトホール7bを有する絶縁膜7を形成する(図5(c)参照)。
Next, in an insulating film forming step S3, an electrically insulating material is applied on the
次に、隔壁形成工程S4において、支持基板1上に電気絶縁性材料を塗布し、その後フォトエッチングによってパターニングして絶縁膜7上に陽極6と直交する隔壁8を形成する。
Next, in the partition formation step S4, an electrically insulating material is applied on the
次に、熱処理工程S5において前記導体層及び導体層5bを活性化し、抵抗率を所望の値に下げるために支持基板1を加熱して熱処理を実行する。熱処理工程S4における加熱温度は、絶縁膜7及び隔壁8への熱ダメージが発生せず、かつ陽極配線部4の前記導体層及び陰極配線部5の導体層5bの抵抗率を下げることが可能な温度であることを要する。本実施形態においては、支持基板1を250℃で30分加熱した。また、絶縁膜7や隔壁8の材料によっては、250℃から400℃までの温度で加熱することも可能である。また、加熱時間は、前記導体層及び導体層5bの抵抗率が減少飽和する時間である30分としたが、それ以上の時間加熱を行ってもよい。
Next, in the heat treatment step S5, the conductor layer and the
そして、機能層形成工程S6にて陽極6に対応するように機能層9を積層形成し、さらに、陰極形成工程S7にて機能層9上に陰極10を積層形成して、前記各発光部を得る(図5(d)参照)。
Then, the
そして、封止工程S8において、発光領域2を覆う凹部11aを有する封止部材11を用意し、紫外線硬化性の接着剤11cを介して支持基板1上に配設固定する(図5(d)参照)。凹部11aの前記各発光部との対向面には水分を吸着する吸湿剤(図示しない)が配設されることが望ましい。以上の製造工程により発光領域2を有する有機ELパネルが得られる。
And in sealing process S8, the sealing
かかる配線付き基体である支持基板1を用いた有機ELパネルは、Al−Ni−B合金からなる前記導体層及び導体層5bを形成することによって、低抵抗でヒロックが発生しにくく、また、前記透明導電体層及び透明導電体層5aと直接接合することができることから下層のキャップ層を不要として生産性に優れた配線構造を得ることが可能となる。また、MoあるいはMo合金からなる前記キャップ層及びキャップ層5cを前記導体層及び導体層5b上に形成することによって、前記導体層及び導体層5bの腐食を防ぎ、耐湿性及び耐熱性を向上させることができ、また、前記導体層及び導体層5bと一括してパターニングすることができることからパターニング性能に優れた配線構造を得ることが可能となる。
In the organic EL panel using the
さらに、本製造工程を適用したパッシブマトリクス型有機ELパネルは、不良が一切発生せず、品質及び歩留まりが向上することを確認した。従来、有機ELパネルの品質及び歩留まりの低下は、熱処理によって金属間化合物を形成した状態にある導体層に絶縁膜及び隔壁のフォトエッチングに用いられる薬液が接触することによって腐食が生じ金属間化合物がパネル上に飛散することに起因するものと思われる。本願発明者は、この点に着目し、有機ELパネルの製造工程において、絶縁膜7及び隔壁8の形成後に前記導体層及び導体層5bの抵抗率を下げる熱処理を行うことで、前記導体層及び導体層5bを腐食させることがなく、品質及び歩留まりの低下を抑制することが可能であることを見いだした。
Furthermore, it was confirmed that the passive matrix type organic EL panel to which the present manufacturing process was applied was free from defects and improved in quality and yield. Conventionally, the deterioration of the quality and yield of the organic EL panel is caused by corrosion caused by contact of a chemical solution used for photoetching of an insulating film and a partition wall with a conductive layer in a state where an intermetallic compound is formed by heat treatment. It seems to be caused by scattering on the panel. The inventor of the present application pays attention to this point, and in the manufacturing process of the organic EL panel, after the insulating
なお、本実施形態においては、陰極配線部5は、透明導電体層5a,導体層5b及びキャップ層5cの積層体からなり、陽極配線部4も同様の積層構造からなるものであったが、本発明においては、配線部は少なくともAl−Ni−B合金からなる導体層を含むものであればよく、透明導電体層が形成されず基体上に直接導体層が形成される構成であってもよく、キャップ層が形成されない構成であってもよい。
In the present embodiment, the
本発明は、有機ELパネルの製造方法に関し、特に配線付き基体を用いた有機ELパネルの製造方法に関するものである。 The present invention relates to a method for manufacturing an organic EL panel, and more particularly to a method for manufacturing an organic EL panel using a substrate with wiring.
1 支持基板
2 発光領域
3 ドライバーIC
4 陽極配線部
5 陰極配線部
5a 透明導電体層
5b 導体層
5c キャップ層
6 陽極
7 絶縁膜
7a コンタクトホール
8 隔壁
9 有機層
10 陰極
11 封止部材
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (4)
少なくとも前記配線部,前記絶縁膜及び前記隔壁を形成した後に前記基体を加熱して前記配線部の抵抗率を下げる熱処理を行うことを特徴とする有機ELパネルの製造方法。 An organic light emitting layer is formed by a first electrode formed on the substrate side and a second electrode facing the first electrode on a substrate on which a wiring portion including a conductor layer containing aluminum, nickel, and boron is formed. and sandwiching and formed by the light emitting portion, is patterned by photo-etching, an insulating film is formed to cover an end portion of at least the first electrode is patterned by photoetching to separate the second electrode into a plurality And the wiring portion is electrically connected to at least one of the first and second electrodes, and is a method of manufacturing an organic EL panel,
A method of manufacturing an organic EL panel, comprising: after forming at least the wiring portion, the insulating film, and the partition wall, performing a heat treatment for heating the base to lower the resistivity of the wiring portion.
2. The method of manufacturing an organic EL panel according to claim 1, wherein the wiring portion is a wiring for electrically connecting at least one of the first and second electrodes and a drive circuit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009168973A JP5218917B2 (en) | 2009-07-17 | 2009-07-17 | Manufacturing method of organic EL panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009168973A JP5218917B2 (en) | 2009-07-17 | 2009-07-17 | Manufacturing method of organic EL panel |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011023287A JP2011023287A (en) | 2011-02-03 |
JP5218917B2 true JP5218917B2 (en) | 2013-06-26 |
Family
ID=43633169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009168973A Expired - Fee Related JP5218917B2 (en) | 2009-07-17 | 2009-07-17 | Manufacturing method of organic EL panel |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5218917B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3633641A1 (en) | 2018-10-04 | 2020-04-08 | Volvo Car Corporation | Method and vehicle system for handling parameters associated with surroundings of a vehicle |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3649238B2 (en) * | 2002-10-17 | 2005-05-18 | 旭硝子株式会社 | LAMINATE, SUBSTRATE WITH WIRING, ORGANIC EL DISPLAY ELEMENT, CONNECTION TERMINAL OF ORGANIC EL DISPLAY ELEMENT, AND METHOD FOR PRODUCING THEM |
JP4022891B2 (en) * | 2003-11-20 | 2007-12-19 | 日立金属株式会社 | Al alloy film for wiring film and sputtering target material for forming wiring film |
JP4689439B2 (en) * | 2004-11-04 | 2011-05-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Light emitting device |
JP3979605B2 (en) * | 2005-04-26 | 2007-09-19 | 三井金属鉱業株式会社 | Al-Ni-B alloy wiring material and element structure using the same |
KR100999908B1 (en) * | 2006-10-16 | 2010-12-13 | 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤 | A-Ni-B alloy material for reflecting film |
JP4821670B2 (en) * | 2007-03-26 | 2011-11-24 | 旭硝子株式会社 | Method for manufacturing electrode substrate with auxiliary wiring |
KR20090031500A (en) * | 2007-03-28 | 2009-03-26 | 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤 | Al- ニ -B alloy sputtering target |
JP5251119B2 (en) * | 2007-12-26 | 2013-07-31 | 日立金属株式会社 | Semiconductor porcelain composition |
JP2009105424A (en) * | 2008-12-12 | 2009-05-14 | Kobe Steel Ltd | Thin-film transistor substrate, and display device |
-
2009
- 2009-07-17 JP JP2009168973A patent/JP5218917B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011023287A (en) | 2011-02-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10777766B2 (en) | Organic light-emitting diode display device and method of fabricating the same | |
EP2966689B1 (en) | Organic light emitting display device and manufacturing method thereof | |
US8803167B2 (en) | Organic light emitting diode display | |
JP5579173B2 (en) | THIN FILM TRANSISTOR ARRAY DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM TRANSISTOR ARRAY DEVICE | |
JP4279391B2 (en) | Light emitting display panel and manufacturing method thereof | |
EP2182564A1 (en) | Organic light emitting display device | |
JP5576862B2 (en) | THIN FILM TRANSISTOR ARRAY DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM TRANSISTOR ARRAY DEVICE | |
JP5724105B2 (en) | Thin film transistor array device, EL display panel, EL display device, thin film transistor array device manufacturing method, and EL display panel manufacturing method | |
JP2010192413A5 (en) | ||
CN104733471A (en) | Array substrate of organic light-emitting displaying device and preparing method thereof | |
JP2007280920A (en) | Organic electroluminescent device and manufacturing method thereof | |
KR102553212B1 (en) | Organic light emitting display device and method of fabricating the same | |
CN110582850B (en) | Organic light emitting diode display panel, method of manufacturing the same, and organic light emitting diode counter substrate | |
CN101414610B (en) | Display unit and manufacturing method of the display unit | |
TW200306680A (en) | Organic electroluminescent display device and method of fabricating the same | |
JP5218917B2 (en) | Manufacturing method of organic EL panel | |
KR20160079978A (en) | Organic light emitting display device and method of manufacturing the same | |
JP5256868B2 (en) | Laminated body and organic EL panel | |
JP2010092665A (en) | Organic electroluminescent display | |
US8575598B2 (en) | Organic light emitting diode display | |
WO2011052397A1 (en) | Organic el module | |
WO2011138818A1 (en) | Thin film transistor device, thin film transistor array device, organic el display device, and method for manufacturing thin film transistor device | |
JP2010170773A (en) | Organic el panel | |
JP2007227397A (en) | Light-emitting display panel and manufacturing method therefor | |
JP2005339971A (en) | Organic el panel |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120615 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121207 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121213 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130123 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130208 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130221 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160315 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5218917 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |