JP5272349B2 - 電子放出源用ペースト及び電子放出素子 - Google Patents
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Description
また、吸着ガスにN2を、キャリアガスにN2/He=30/70を用いる流動法BET一点法比表面積測定装置(ユアサアイオニクス(株)製、MONOSORB)で導電性粒子の平均粒径を測定することができる。導電性粒子の平均粒径とは、流動法BET一点法により得られる比表面積(m2/g)と密度(g/cm3)を用いて次式から得られる値をさす。
平均粒径=6/(密度×比表面積)。
酸化ホウ素は、20重量%以上とすることで、ガラス転移点、軟化点を低く抑えガラス基板への焼き付けを容易にする。また、45重量%以下とすることでガラスの化学的安定性を維持することができる。
また、酸化亜鉛は含有しなくてもよいが5重量%まで含有させると軟化点を下げることができる。5重量%より多いとガラスが不安定になる。
電子放出源用ペーストは、各種成分を所定の組成になるよう調合した後、3本ローラー、ボールミル、ビーズミル等の混練機で均質に混合分散することによって作製することができる。ペースト粘度は、ガラス粉末、導電性粒子、増粘剤、有機溶媒、可塑剤および沈殿防止剤等の添加割合によって適宜調整されるが、その範囲は2〜200Pa・sである。例えば、基板への塗布をスリットダイコーター法やスクリーン印刷法以外にスピンコート法やスプレー法で行う場合は、0.001〜5Pa・sが好ましい。
CNT1:東レ(株)製2層CNT、平均直径1.2nm
CNT2:東レ(株)製2層CNT、平均直径4.8nm
CNT3:東レ(株)製多層CNT、平均直径6.5nm
CNT4:東レ(株)製多層CNT、平均直径8.6nm
CNT5:東レ(株)製多層CNT、平均直径12nm
導電性粒子1:白色導電性粉末(球状の酸化チタンを核として、SnO2 /Sb導電層を被覆したもの)、石原産業(株)製、ET−500W、比表面積6.9m2/g、密度4.6g/cm3、平均粒径0.19μm
導電性粒子2:銀粉末、三井金属鉱業(株)製、FHD、比表面積2.54m2/g、密度10.5g/cm3、平均粒径0.22μm
導電性粒子3:銀粉末、三井金属鉱業(株)製、SPQ05S、比表面積1.08m2/g、密度10.5g/cm3、平均粒径0.53μm
導電性粒子4:銀粉末、三井金属鉱業(株)製、350、比表面積0.8m2/g、密度10.5g/cm3、平均粒径0.78μm
導電性粒子5:白色導電性粉末(球状の酸化チタンを核として、SnO2/Sb導電層を被覆したもの)、石原産業(株)製、ET−300W、比表面積28m2/g、密度5g/cm3、平均粒径0.04μm
導電性粒子6:銀粉末、三井金属鉱業(株)製、SPN10J、比表面積0.52m2/g、密度10.5g/cm3、平均粒径1.1μm
ガラス粉末1:ビスマス系ガラス(酸化ビスマス:84重量%、酸化ホウ素:7重量%、酸化ケイ素:1重量%、酸化亜鉛:8重量%)、軟化点380℃、平均粒径0.6μm
ガラス粉末2:ガラス粉末1の平均粒径0.3μm品
ガラス粉末3:ビスマス系ガラス(酸化ビスマス:50重量%、酸化ホウ素:21重量%、酸化ケイ素:7重量%、酸化亜鉛:22重量%)、軟化点447℃、平均粒径0.4μm
ガラス粉末4:ガラス粉末3の平均粒径0.1μm品
ガラス粉末5:ビスマス系ガラス(酸化ビスマス:75重量%、酸化ホウ素:0.9重量%、酸化ケイ素:1.9重量%、酸化亜鉛:12重量%、酸化アルミニウム:0.2重量%、酸化ナトリム:4重量%)、軟化点394℃、平均粒径0.5μm
ガラス粉末6:ビスマス系ガラス(酸化ビスマス:85重量%、酸化ホウ素:4重量%、酸化ケイ素:1.5重量%、酸化亜鉛:9.5重量%)、軟化点415℃、平均粒径0.8μm
ガラス粉末7:アルカリ系ガラス(酸化ホウ素:35重量%、酸化アルミニウム:22.7重量%、酸化ケイ素:12.9重量%、酸化リチウム:12.4重量%、酸化マグネシウム:6.4重量%、酸化バリウム:4.2重量%、酸化カルシウム:4.1重量%、酸化亜鉛:2.3重量%)、軟化点458℃、粒径0.7μm
ガラス粉末8:ガラス粉末6の平均粒径1.3μm品
バインダー樹脂溶液1:和光純薬工業(株)製エチルセルロース(約49%エトキシ)100をテルピネオールに30重量%溶解させたもの
バインダー樹脂溶液2:メタクリル酸/メタクリル酸メチル/スチレン=40/40/30からなる共重合体のカルボキシル基に対して0.4当量のグリシジルメタクリレートを付加反応させたもの(重量平均分子量43000、酸価100)をテルピネオールに40重量%溶解させたもの
感光性モノマー:テトラプロピレングリコールジメタクリレート
光重合開始剤:チバスペシャリティーケミカルズ社製イルガキュア369(2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)ブタノン−1)。
熱分解性金属化合物1:ニッケルアセチルアセトネート錯体
熱分解性金属化合物2:亜鉛アセチルアセトネート錯体
熱分解性金属化合物3:テトラブトキシ錫
熱分解性金属化合物4:錫アセチルアセトネート錯体
熱分解性金属化合物5:インジウムアセチルアセトネート錯体
熱分解性金属化合物6:トリフェニルアンチモン
CNTの平均直径測定
(株)日立製作所製透過型電子顕微鏡H7100型により、2,000,000倍で観察した画像からCNTをランダムに10カ所選び、その平均をCNTの平均直径とした。
用いた導電性粒子の平均粒径(μm)は、吸着ガスにN2を、キャリアガスにN2/He=30/70を用いる流動法BET一点法比表面積測定装置(ユアサアイオニクス(株)製、MONOSORB)により得られた比表面積(m2/g)から、密度(g/cm3)を用いて次式により算出した。
平均粒径=6/(密度×比表面積)。
用いたガラス粉末の累積50%粒径を粒子径分布測定装置(日機装(株)製、マイクロトラック9320HRA)を用いて測定した。
ガラス粉末の軟化点の測定
用いたガラス粉末の軟化点を熱機械分析装置(セイコーインスツル(株)製、EXTER6000 TMA/SS)を用いて測定した。ガラス粒子を800℃で溶融し、直径5mm、高さ2cmのロッド状に加工して測定サンプルとした。測定サンプルのガラスロッド及び標準試料の石英ガラスロッドにそれぞれ10g重の加重をかけて室温から10℃/分で昇温して得られたTMA曲線の最大長さとなった時の温度を軟化点とした。
走査型拡がり抵抗顕微鏡(Veeco社Digital Instruments製NanoScopeIIIaAFM Dimension3100ステージシステム)を用い、CoCrコートシリコンカチレバーをエミッタ表面に接触させ、カソード電極に−0.5VのDCバイアスを印加したときの抵抗値を、3μm×4μmの面内において測定し、その面内平均値を接触抵抗値とした。接触抵抗が109Ω以下であれば良好とした。
東京精密(株)製サーフコム1400を用いてJIS B0601−1982に準じて
触針式で、電子放出素子表面の10点平均粗さRzの測定を行った。表面粗さRzが1μm以下を良好とした。
カソード電極上に作成したCNT膜に剥離接着強さ0.1N/20mm、0.5N/20mm、1N/20mmの粘着テープをそれぞれ貼り、略180°の角度を保ちながら速度300mm/分で引き剥がすことでCNT膜とカソード電極の接着性を評価した。CNT膜とカソード電極の接着力が弱く、0.1N/20mmのテープ剥離によってCNT膜が剥離してカソード電極面が見えてしまうものを×、0.5N/20mmのテープ剥離によってCNT膜が剥離してカソード電極面が見えてしまうものを△、1N/20mmのテープ剥離によってCNT膜が剥離してカソード電極面が見えてしまうものを○、いずれのテープ剥離によってもCNT膜の剥離が見られないものを◎とした。
真空度を5×10−4Paにした真空チャンバー内に、ITO基板上に1cm×1cm角の電子放出素子が形成された背面基板と、ITO基板上に厚み5μmの蛍光体層(P22)を形成した前面基板を、100μmのギャップフィルムを挟んで対向させ、電圧印可装置(菊水電子工業(株)製耐電圧/絶縁抵抗試験器TOS9201)によって0.5kVの電圧を印加して、前面基板を発光させた。発光面積はCCDカメラによって発光像を取り込み、1cm×1cm角の電子放出素子内での発光部分割合を測定し、数値化した。
真空度を5×10−4Paにした真空チャンバー内に、ITO基板上に1cm×1cm角の電子放出素子が形成された背面基板と、ITO基板上に厚み5μmの蛍光体層(P22)を形成した前面基板を、100μmのギャップフィルムを挟んで対向させ、電圧印可装置(菊水電子工業(株)製耐電圧/絶縁抵抗試験器TOS9201)によって0.25V/秒で電圧印加した。得られた電流電圧曲線(最大電流値10mA/cm2)から1mA/cm2に達する電界強度を求めた。2回目の1mA/cm2に達する電界強度の測定も、1回目の測定後に同様にして行った。1回目と2回目の1mA/cm2に達する電界強度の差が少ないものほど良好である。また、電界強度の値が小さいものほど電子放出特性は良好である。
本発明の電子放出源用ペーストは以下の要領で作製した。容積500mlのジルコニア製容器にCNT1gと、CNT1gに対して表1に記載した比率になるように導電性粒子を秤量後、バインダー溶液1を70g、溶媒である一級ターピネオール(異性体混合物、東京化成工業(株)製)を26g加えた。0.3μmφのジルコニアビーズ(東レ(株)製トレセラム(商品名))をそこに加え、遊星式ボールミル(フリッチュ・ジャパン(株)製遊星型ボールミルP−5)にて100rpmで予備分散した。次に、ジルコニアビーズを取り除いた混合物を3本ローラーにて混練し、電子放出源用ペーストとした。
容積500mlのジルコニア製容器にCNT1gと、CNT1gに対して表2に記載した比率になるように導電性粒子を、導電性粒子1gに対して表2に記載した比率になるようにガラス粉末を秤量後、バインダー溶液1を70g、溶媒(一級ターピネオール(異性体混合物、東京化成工業(株)製))を26g加え、実施例1と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、発光面積、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表2に示す。
容積500mlのジルコニア製容器にCNT1gと、CNT1gに対して表3に記載した比率になるように導電性粒子を、導電性粒子1gに対して表3に記載した比率になるようにガラス粉末を秤量後、バインダー溶液2を60g、感光性モノマーを1g、光重合開始剤を1g、溶媒(一級ターピネオール(異性体混合物、東京化成工業(株)製))を30g加え、実施例1と同様にして電子放出源用ペーストを作製した。
導電性粒子を加えないこと以外は、実施例1と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表4に示す。
表4に記載した比率で平均粒径が0.1〜1μmの範囲からはずれた導電性粒子を用いたこと以外は、実施例1と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表4に示す。
表4に記載した比率で平均粒径が0.1〜1μmの範囲からはずれた導電性粒子を用いたこと以外は、実施例8と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表4に示す。
容積500mlのジルコニア製容器にCNT1gと、CNT1gに対して表5に記載した比率になるように導電性粒子を、導電性粒子1gに対して表5に記載した比率になるようにガラス粉末、ガラス粉末1gに対して表5に記載した比率になるように熱分解性金属化合物を秤量後、バインダー溶液2を60g、感光性モノマーを1g、光重合開始剤を1g、溶媒(一級ターピネオール(異性体混合物、東京化成工業(株)製))を30g加え、実施例1と同様にして電子放出源用ペーストを作製した。
CNT1の代わりにCNT4を用いる以外は実施例1と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表6に示す。
ガラス粉末1の代わりにガラス粉末8を用いる以外は実施例7と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、発光面積、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表6に示す。
CNT1の代わりにCNT5を用いる以外は実施例1と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表6に示す。
導電性粒子を加えないことおよびCNTとガラス粉末の重量比がCNT/ガラス粉末=1/3となるようにしたこと以外は実施例8と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表6に示す。
熱分解性金属化合物4を、ガラス粉末と該熱分解性金属化合物4の重量比がガラス粉末/熱分解性金属化合物4=1/1となるように加えた以外は比較例11と同様にして電子放出源用ペーストおよび電子放出素子を作製した。接触抵抗、表面粗さ、接着性、1mA/cm2に達する電界強度の測定結果を表6に示す。
Claims (12)
- 直径が1nm以上7nm以下であるカーボンナノチューブと、平均粒径が0.1〜1μmの導電性粒子を含み、前記導電性粒子が酸化物表面の一部または全部に導電性材料がコーティングされた粒子である電子放出源用ペースト。
- 前記導電性粒子の平均粒径が0.1〜0.6μmである電子放出源用ペースト。
- ガラス粉末を含む請求項1記載の電子放出源用ペースト。
- 前記ガラス粉末の平均粒径が0.05〜1μmである請求項3記載の電子放出源用ペースト。
- 前記導電性粒子1重量部に対して前記ガラス粉末が0.5〜500重量部である請求項3または4に記載の電子放出源用ペースト。
- 熱分解性の金属化合物を含む請求項1〜5のいずれかに記載の電子放出源用ペースト。
- 前記熱分解性の金属化合物に含まれる金属がSn、InおよびSbから選ばれる少なくとも1種以上である請求項6記載の電子放出源用ペースト。
- 電子放出源用ペースト全体に対して前記熱分解性の金属化合物が0.1〜20重量%である請求項6または7記載の電子放出源用ペースト。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の電子放出源用ペーストを用いた電子放出源。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の電子放出源用ペーストを用いた電子放出素子。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の電子放出源用ペーストを焼成して電子放出源を製造する方法。
- 電子放出源とカソード電極を有する背面基板と、アノード電極を有する前面基板を貼り合わせて電子放出素子を製造する方法であって、カソード電極上に請求項1〜8のいずれかに記載の電子放出源用ペーストをパターン形成した後、焼成して前記電子放出源を製造する工程を含むことを特徴とする、電子放出素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007214420A JP5272349B2 (ja) | 2007-02-26 | 2007-08-21 | 電子放出源用ペースト及び電子放出素子 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007045117 | 2007-02-26 | ||
JP2007045117 | 2007-02-26 | ||
JP2007214420A JP5272349B2 (ja) | 2007-02-26 | 2007-08-21 | 電子放出源用ペースト及び電子放出素子 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008243789A JP2008243789A (ja) | 2008-10-09 |
JP2008243789A5 JP2008243789A5 (ja) | 2010-05-13 |
JP5272349B2 true JP5272349B2 (ja) | 2013-08-28 |
Family
ID=39721113
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007214420A Expired - Fee Related JP5272349B2 (ja) | 2007-02-26 | 2007-08-21 | 電子放出源用ペースト及び電子放出素子 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8206615B2 (ja) |
EP (1) | EP2120250B1 (ja) |
JP (1) | JP5272349B2 (ja) |
KR (1) | KR101389848B1 (ja) |
CN (1) | CN101622686B (ja) |
TW (1) | TWI420560B (ja) |
WO (1) | WO2008105278A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4107417B2 (ja) * | 2002-10-15 | 2008-06-25 | 日東電工株式会社 | チップ状ワークの固定方法 |
KR20100066199A (ko) * | 2008-12-09 | 2010-06-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 일체형 캐소드 전극-전자 방출원 형성용 페이스트 조성물, 이를 이용한 일체형 캐소드 전극-전자 방출원의 제조방법, 및 이를 이용한 전자 방출 소자 |
US7887992B2 (en) * | 2008-12-23 | 2011-02-15 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Photosensitive paste and process for production of pattern using the same |
WO2011018958A1 (ja) * | 2009-08-11 | 2011-02-17 | 東レ株式会社 | 電子放出源用ペーストおよび電子放出源 |
WO2011108338A1 (ja) * | 2010-03-02 | 2011-09-09 | 東レ株式会社 | 電子放出源用ペースト、これを用いた電子放出源および電子放出素子ならびにこれらの製造方法 |
CN102347180B (zh) * | 2010-07-29 | 2015-06-10 | 海洋王照明科技股份有限公司 | 碳纳米管阴极材料及其制备方法 |
JP5885463B2 (ja) * | 2010-11-02 | 2016-03-15 | 三菱マテリアル株式会社 | カーボンナノファイバー分散液、ならびに塗料組成物およびペースト組成物 |
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KR101309537B1 (ko) | 2012-04-06 | 2013-10-14 | (주) 브이에스아이 | 카본나노튜브 페이스트 및 이의 제조방법 |
KR101716549B1 (ko) * | 2014-11-19 | 2017-03-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 태양전지 전극 형성용 조성물 및 이로부터 제조된 전극 |
JP6853749B2 (ja) * | 2017-07-31 | 2021-03-31 | シャープ株式会社 | 電子放出素子 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5741301A (en) * | 1980-08-26 | 1982-03-08 | Shinroku Kawakado | Production of powder coated with noble metal |
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JP2006339007A (ja) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Hitachi Displays Ltd | 自発光平面表示装置 |
EP1746629A1 (en) | 2005-07-22 | 2007-01-24 | ICT, Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik Mbh | Field emitter arrangement and method of cleansing an emitting surface of a field emitter |
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KR20070105491A (ko) * | 2006-04-26 | 2007-10-31 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출원 형성용 조성물, 이를 이용하여 제조된 전자방출원 및 상기 전자 방출원을 포함하는 백라이트 유닛 |
KR20080047917A (ko) * | 2006-11-27 | 2008-05-30 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전자 방출원용 카본계 물질, 이를 포함한 전자 방출원,상기 전자 방출원을 구비한 전자 방출 소자 및 상기 전자방출원의 제조 방법 |
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-
2007
- 2007-08-21 JP JP2007214420A patent/JP5272349B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-02-20 CN CN2008800060857A patent/CN101622686B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-02-20 WO PCT/JP2008/052796 patent/WO2008105278A1/ja active Application Filing
- 2008-02-20 KR KR1020097012347A patent/KR101389848B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2008-02-20 US US12/449,777 patent/US8206615B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-02-20 EP EP08720761.9A patent/EP2120250B1/en not_active Not-in-force
- 2008-02-25 TW TW097106399A patent/TWI420560B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2120250A1 (en) | 2009-11-18 |
US8206615B2 (en) | 2012-06-26 |
EP2120250B1 (en) | 2014-06-11 |
TWI420560B (zh) | 2013-12-21 |
TW200901260A (en) | 2009-01-01 |
KR101389848B1 (ko) | 2014-04-29 |
WO2008105278A1 (ja) | 2008-09-04 |
CN101622686B (zh) | 2013-04-24 |
EP2120250A4 (en) | 2010-12-29 |
JP2008243789A (ja) | 2008-10-09 |
CN101622686A (zh) | 2010-01-06 |
KR20090113823A (ko) | 2009-11-02 |
US20100096972A1 (en) | 2010-04-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
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|
A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |