JP5270891B2 - Image recording method and image recording system - Google Patents
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Description
本発明は、デジタルデータで表される所定の描画パターンを、複数の被描画体に直接描画する画像記録方法、および画像記録システムに関する。 The present invention relates to an image recording method and an image recording system for directly drawing a predetermined drawing pattern represented by digital data on a plurality of drawing objects.
従来、デジタルデータで表される所定の描画パターンを、被描画体に直接描画する画像記録システムが開発されている。画像記録システムとしては、例えば、表面に感光材料が塗布または貼着されたプリント配線基板やフラットパネルディスプレイ用ガラス基板などの被描画体に、描画パターンに応じて変調された光ビームを照射することにより、マスクレスで露光記録を行うデジタル露光システムが知られている。 Conventionally, an image recording system for directly drawing a predetermined drawing pattern represented by digital data on a drawing object has been developed. As an image recording system, for example, an object to be drawn such as a printed wiring board or a glass panel for a flat panel display on which a photosensitive material is applied or pasted is irradiated with a light beam modulated according to a drawing pattern. Therefore, a digital exposure system that performs exposure recording without mask is known.
デジタル露光システムは、描画パターンの設計、被描画体の作製から、露光済みの被描画体の検査、梱包、出荷に至る一連のプロセスを統合した一大製造システムに組み込まれており、そのうちの描画パターンの露光という役割を担っている。描画パターンの設計は、例えば、CAD(Computer Aided Design)で行われ、デジタル露光システムには、CADで設計した描画パターンをCAM(Computer Aided Manufacturing)で編集したベクトルデータが与えられる。デジタル露光システムでは、与えられたベクトルデータをラスターイメージプロセッサ(Raster Image Processor;RIP)でラスタライズし、これにより生成されたラスターデータ(画素毎に露光記録の有無を“0”または“1”の二値で表したもの)に基づいて、DMD(Digital Micromirror Device、登録商標)などの空間光変調素子を駆動制御することで、露光記録を行っている。 The digital exposure system is built into a large manufacturing system that integrates a series of processes from drawing pattern design and drawing object production to inspection of exposed drawing objects, packing, and shipping. It plays the role of pattern exposure. The drawing pattern is designed by, for example, CAD (Computer Aided Design), and vector data obtained by editing the drawing pattern designed by CAD by CAM (Computer Aided Manufacturing) is given to the digital exposure system. In a digital exposure system, given vector data is rasterized by a raster image processor (RIP), and raster data generated thereby (whether exposure recording is performed for each pixel, “0” or “1”). Exposure recording is performed by driving and controlling a spatial light modulation element such as a DMD (Digital Micromirror Device (registered trademark)).
デジタル露光システムでは、扱う製品の性質上、被描画体の正規の位置に、如何にして正確に描画パターンを露光するかが重要な課題となっている。描画パターンの露光位置がずれると、製品の性能が著しく低下するばかりか、場合によっては不良品となって歩留りが悪くなるおそれがあるからである。 In the digital exposure system, an important issue is how to accurately expose the drawing pattern at the normal position of the drawing object due to the nature of the product to be handled. This is because if the exposure position of the drawing pattern is shifted, not only the performance of the product is remarkably deteriorated, but also the product may be defective and the yield may be deteriorated.
ところが、被描画体には、デジタル露光システムに至る前の工程でプレス処理を施した際の熱膨張など、製造条件や周囲の環境に起因する基準サイズからのずれ(縦横方向の二次元的な伸縮)が生じる。このため、被描画体の基準サイズからのずれ量を計測し、この計測結果に応じて、描画パターンの元となるデジタルデータを補正する必要がある。例えば、被描画体の基準サイズを規格化して縦横1倍としたときの被描画体の実測サイズが縦横1.0001、0.9999倍であった場合、デジタルデータにも縦横1.0001、0.9999倍の変倍処理を施すことが必要である。 However, the object to be drawn is shifted from the reference size due to the manufacturing conditions and the surrounding environment, such as thermal expansion when the press process is performed in the process before reaching the digital exposure system (two-dimensional in the vertical and horizontal directions). Expansion and contraction) occurs. For this reason, it is necessary to measure the amount of deviation from the reference size of the drawing object, and to correct the digital data that is the basis of the drawing pattern according to the measurement result. For example, when the actual size of the drawing object is 1.0001 and 0.9999 times when the reference size of the drawing object is standardized to be 1 time in the vertical and horizontal directions, the digital data is also 1.0001 and 0 in the vertical and horizontal directions. It is necessary to perform a magnification process of 9999 times.
上記のような背景を踏まえて、光ビームを制御するクロックパルスの位相のシフト量を、被描画体の基準サイズと実測サイズの寸法差と実質的に一致させ、デジタルデータの一画素単位以下で変倍処理(スケーリング補正処理)を施し得るようにしたレーザ描画装置が提案されている(特許文献1参照)。また、同様のレーザ描画装置において、描画パターン記録後の工程(検査など)を容易ならしめるために、ロット番号などの識別データと伸縮率のデータ(スケーリング補正情報データ)とを、被描画体毎に関係付けて保持する技術が開示されている(特許文献2参照)。 Based on the above background, the phase shift amount of the clock pulse that controls the light beam is substantially matched with the difference between the reference size of the drawing object and the actually measured size, and the digital data is less than one pixel unit. There has been proposed a laser drawing apparatus that can perform zooming processing (scaling correction processing) (see Patent Document 1). Further, in the same laser drawing apparatus, in order to facilitate the process (inspection and the like) after the drawing pattern is recorded, identification data such as a lot number and expansion / contraction rate data (scaling correction information data) are obtained for each drawing object. There is disclosed a technique of holding in relation to (see Patent Document 2).
一方、描画パターンが基準位置からずれる原因としては、上述の被描画体のずれの他に、DMDを含む露光ユニットの組立誤差や部品の製造誤差に起因する光学特性のずれが挙げられる。特許文献3は、かかる露光位置のずれを解消するために、露光ユニットの光学特性のずれを予め知得しておき、これに基づいてラスターデータに電子変倍処理を施している。
特許文献1、2に記載の技術では、個々の被描画体の基準サイズからのずれに応じて、異なる内容のスケーリング補正処理を一々施す必要があるため、一つ一つのスケーリング補正処理に時間が掛かる。したがって、個々の被描画体を露光する時間が長くなり、結果として製品の生産性が低下してしまう。この問題は、たとえ特許文献3に記載の技術を適用したとしても、個々の被描画体に対して異なる変倍率で電子変倍処理を施すことは変わらないので、解決することができない。
In the techniques described in
そのうえ、特許文献1、2では、クロックパルスの位相をシフトさせるために、マルチプレクサやディレイラインなどの多くの部品を追加しなければならない。また、特許文献3には、電子変倍処理を施す具体的な構成については詳述されていないが、電子変倍処理は、通常、ラッチ回路やFiFoメモリなどのハードウエアを用いて、ラスターデータを構成する画素を変倍率に応じて補間、または間引くことで行う(例えば、特開平06−086056号公報参照)ため、変倍率が大きい程、必要なハードウエアの数が多くなり、変倍処理後のラスターデータの画質も低下する。
In addition, in
本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、変倍処理による画像記録時間の増大、および画像の画質劣化を最小限に抑えることができる画像記録方法、および画像記録システムを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and provides an image recording method and an image recording system capable of minimizing an increase in image recording time due to scaling processing and image quality degradation of the image. With the goal.
上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、デジタルデータで表される所定の描画パターンを、複数の被描画体に直接描画する画像記録システムにおいて、前記複数の被描画体に共通する第一の変倍率で、前記デジタルデータに対して第一の電子変倍処理を施す第一変倍処理手段と、前記複数の被描画体の個々で異なる第二の変倍率で、前記デジタルデータに対して第二の電子変倍処理を施す第二変倍処理手段とを備え、前記第一、第二変倍処理手段は、前記第一、第二の電子変倍処理によって、前記被描画体の基準サイズからのずれに起因する前記描画パターンの記録位置のずれを補正することを特徴とする。
In order to achieve the above object, an invention according to
前記第一変倍処理手段は、前記被描画体に前記描画パターンを描画する前の外段取りの作業として、前記第一の電子変倍処理を行い、前記第二変倍処理手段は、前記被描画体に前記描画パターンを描画している最中の内段取りの作業として、前記第二の電子変倍処理を行うことが好ましい。すなわち、前記第一の電子変倍処理は、一つのデジタルデータについて一回だけ実施される。一方、前記第二の電子変倍処理は、前記被描画体に記録を行う毎に実施される。 The first scaling processing means performs the first electronic scaling processing as an external setup operation before drawing the drawing pattern on the drawing object, and the second scaling processing means It is preferable that the second electronic scaling process is performed as an internal setup operation while the drawing pattern is being drawn on the drawing body. That is, the first electronic scaling process is performed only once for one digital data. On the other hand, the second electronic scaling process is performed every time recording is performed on the drawing object.
前記第一の変倍率は、前記被描画体の基準サイズからのずれ量の平均値、または最大、最小値の中間値を元に設定されることが好ましい。 The first scaling factor is preferably set based on an average value of deviation amounts from a reference size of the drawing object or an intermediate value between maximum and minimum values.
なお、前記平均値、または前記中間値は、前記被描画体の過去の製造実績から経験的に求められるものである。あるいは、前記被描画体の基準サイズからのずれ量を実測する第一ずれ量計測手段を備え、前記平均値、または前記中間値は、前記第一ずれ量計測手段による前記ずれ量の実測値から求められるものである。 The average value or the intermediate value is obtained empirically from the past manufacturing results of the drawing object. Alternatively, a first deviation amount measuring unit that actually measures a deviation amount from a reference size of the drawing object is provided, and the average value or the intermediate value is obtained from an actual measurement value of the deviation amount by the first deviation amount measuring unit. It is required.
前記被描画体の基準サイズからのずれ量を実測する第二ずれ量計測手段を備え、前記第二の変倍率は、前記第一の変倍率、および前記第二ずれ量計測手段による前記ずれ量の実測値を元に設定されることが好ましい。 A second shift amount measuring unit that measures a shift amount from a reference size of the drawing object, wherein the second scaling factor is the first scaling factor and the shift amount by the second shift amount measuring unit; It is preferable to set based on the actual measurement value.
前記第一変倍処理手段は、その機能をソフトウエアで実現され、前記第二変倍処理手段は、その機能をハードウエアで実現されていることが好ましい。 It is preferable that the first scaling unit is realized by software, and the second scaling unit is realized by hardware.
前記描画パターンのベクトルデータをラスタライズして、前記デジタルデータとしてラスターデータを生成するラスターイメージプロセッサを備え、前記第一変倍処理手段は、前記ラスタライズの際にRIP解像度を調整することで、前記ラスターデータに前記第一の電子変倍処理を施すことが好ましい。 A raster image processor that rasterizes vector data of the drawing pattern and generates raster data as the digital data, wherein the first scaling processing means adjusts the RIP resolution at the time of the rasterization, so that the raster The data is preferably subjected to the first electronic scaling process.
請求項9に記載の発明は、デジタルデータで表される所定の描画パターンを、複数の被描画体に直接描画する画像記録方法において、前記複数の被描画体に共通する第一の変倍率で、前記デジタルデータに対して第一の電子変倍処理を施す第一変倍処理工程と、前記複数の被描画体の個々で異なる第二の変倍率で、前記デジタルデータに対して第二の電子変倍処理を施す第二変倍処理工程とを備え、前記第一、第二変倍処理工程では、前記第一、第二の電子変倍処理によって、前記被描画体の基準サイズからのずれに起因する前記描画パターンの記録位置のずれを補正することを特徴とする。 According to a ninth aspect of the present invention, there is provided an image recording method for directly drawing a predetermined drawing pattern represented by digital data on a plurality of drawing objects at a first scaling factor common to the plurality of drawing objects. A first scaling process for applying a first electronic scaling process to the digital data, and a second scaling factor that is different for each of the plurality of drawing objects, A second scaling process step for performing an electronic scaling process, and in the first and second scaling process steps, the first and second electronic scaling processes reduce the drawing object from a reference size. The recording position shift of the drawing pattern due to the shift is corrected.
本発明の画像記録方法、および画像記録システムによれば、被描画体の基準サイズからのずれに起因する描画パターンの記録位置のずれを補正するための電子変倍処理を、複数の被描画体に共通の変倍率で行う第一の電子変倍処理と、複数の被描画体の個々で異なる変倍率で行う第二の電子変倍処理の二段階に分けて行うので、補正に必要な電子変倍処理のうちの大部分を第一の電子変倍処理で一回行い、第一の電子変倍処理で調整しきれない残りの部分を被描画体毎の第二の電子変倍処理で微調整することができ、実質的に画像記録時間に影響する処理は、第一の電子変倍処理と比べて変倍率が小さい第二の電子変倍処理のみで済む。したがって、変倍処理による画像記録時間の増大を最小限に抑えることができる。また、画質劣化が少ない構成で第一の電子変倍処理を行えば、変倍処理による画像の画質劣化も最小限に抑えることができる。 According to the image recording method and the image recording system of the present invention, a plurality of objects to be drawn are subjected to an electronic scaling process for correcting a deviation of a drawing pattern recording position caused by a deviation from a reference size of the object to be drawn. This is done in two stages: a first electronic scaling process performed at a common scaling ratio and a second electronic scaling process performed at a different scaling ratio for each of a plurality of drawing objects. Most of the scaling process is performed once by the first electronic scaling process, and the remaining part that cannot be adjusted by the first electronic scaling process is performed by the second electronic scaling process for each drawing object. The process that can be finely adjusted and substantially affects the image recording time is only the second electronic scaling process having a smaller scaling ratio than the first electronic scaling process. Therefore, an increase in image recording time due to the scaling process can be minimized. Further, if the first electronic scaling process is performed with a configuration with little image quality deterioration, the image quality deterioration of the image due to the scaling process can be minimized.
図1において、デジタル露光システム2は、デジタル露光機10、光源ユニット11、画像処理ユニット12、および制御装置13から構成される。デジタル露光システム2は、CAD(Computer Aided Design)で設計した所定の描画パターン(例えば、プリント配線パターンなど)をCAM(Computer Aided Manufacturing)で編集したベクトルデータを画像処理ユニット12でラスタライズし、これにより生成されたラスターデータ(画素毎に露光記録の有無を“0”または“1”の二値で表したもの)を元に、デジタル露光機10および光源ユニット11を用いて被描画体14を露光することで、マスクレスで被描画体14に所望の画像を形成するものである。
In FIG. 1, the
被描画体14は、例えば、表面に感光材料が塗布または貼着されたプリント配線基板や、フラットパネルディスプレイ用ガラス基板からなる。被描画体14の上面には、露光位置の基準を示すアラインメントマーク15が設けられている。アラインメントマーク15は、例えば、薄膜の凹凸によって形成され、被描画体14の四隅にそれぞれ一つずつ、計四個配されている。
The
デジタル露光機10は、平板状の基台16を有している。基台16は、四本の脚部17に支持され、水平面に対して平行に配置されている。基台16の上面には、Y方向(基台16の長手方向に平行な方向)に平行な二本のガイドレール18が並べて設けられている。ガイドレール18には、被描画体14を吸着保持する移動ステージ19が、Y方向にスライド自在となるように取り付けられている。移動ステージ19は、リニアモータなどの駆動源を含むステージ駆動部74(図4参照)によってY方向に往復移動される。また、図示はしていないが、移動ステージ19には、Z方向(水平面と直交する方向)の位置を調整するための機構が取り付けられている。
The
基台16のY方向に関する中央部には、露光部20が配置されている。露光部20は、ガイドレール18を跨ぐように立設された門型の第一ゲート21に固定されている。露光部20には、X方向(水平面上でY方向と直交する方向)に八個ずつ二列に配列された計十六個の円筒状の露光ヘッド22が設けられている。
An
露光ヘッド22には、光源ユニット11から引き出された光ファイバー23と、画像処理ユニット12から引き出された信号ケーブル24とが接続されている。露光ヘッド22は、信号ケーブル24を介して画像処理ユニット12から入力されるフレームデータ(ラスターデータを露光ヘッド22毎に分割したもの)に基づいて、光ファイバー23を介して光源ユニット11から入力されるレーザービーム(以下、LBと略す)を変調する。そして、変調したLBを、移動ステージ19のY方向の移動に伴って直下を通過する被描画体14に照射し、露光を行う。
An
露光ヘッド22は、第一列目と第二列目とで互いに隙間なく配置されている。露光ヘッド22は、第一列目と第二列目とでX方向に1/2ピッチ分(半径分)ずらして配列されている。これにより、第一列目の露光ヘッド22で露光できない部分が第二列目の露光ヘッド22で露光され、被描画体14をX方向に隙間無く露光することができる。なお、露光ヘッド22の個数や配列の仕方は、被描画体14の仕様に応じて適宜変更することが可能である。
The exposure heads 22 are arranged without a gap between the first row and the second row. The exposure heads 22 are arranged so as to be shifted by 1/2 pitch (radius) in the X direction between the first row and the second row. Thereby, the part which cannot be exposed with the
図2において、露光ヘッド22は、入射光学系30、光変調部31、第一出射光学系32、マイクロレンズアレイ33、アパーチャアレイ34、および第二出射光学系35を有する。入射光学系30は、光ファイバー23の出射端部と対面して配置される。入射光学系30は、集光レンズ36と、オプティカルインテグレーター37と、結像レンズ38と、ミラー39とからなる。
In FIG. 2, the
集光レンズ36は、光ファイバー23から出射されたLB(矢印で示す)をオプティカルインテグレーター37に向けて集光する。オプティカルインテグレーター37は、集光レンズ36を通過したLBの光路上に配置されており、例えば、入射端面および出射端面に反射防止膜がコーティングされた四角柱状の透光性ロッドからなる。オプティカルインテグレーター37は、その内部を全反射しながら進行するLBを、ビーム断面内強度が均一化された略平行光とする。オプティカルインテグレーター37で略平行光とされたLBは、結像レンズ38によってミラー39に導かれ、ミラー39によって光変調部31に入射される。
The condensing
光変調部31は、空間光変調素子であるデジタルマイクロミラーデバイス(Digital Micromirror Device、以下、DMDと略す)40と、DMD40の動作を制御するDMDドライバ41と、ミラー39を介して入射したLBをDMD40に向けて反射させる全反射プリズム42とを備えている。
The
図3において、DMD40は、SRAMセルアレイ60を構成する各SRAMセル上に、マイクロミラー61が支柱により傾斜自在に支持されてなる。マイクロミラー61は、例えば、600個×800個の二次元正方格子状に配列されている。
In FIG. 3, the
各SRAMセルには、DMDドライバ41を介してフレームデータが書き込まれる。SRAMセルは、フリップフロップ回路によって構成されており、書き込まれるフレームデータ(“0”または“1”)によって電荷状態が切り替わる。マイクロミラー61は、SRAMセルの電荷状態に応じた静電気力によって傾斜角度が変化し、これによりLBの反射方向も変化する。例えば、フレームデータ“0”が書き込まれたSRAMセルのマイクロミラー61は、LBが第一出射光学系32に入射するように傾斜する。反対に“1”が書き込まれた場合は、LBが光吸収体(図示せず)に入射するように傾斜する。光吸収体に入射したLBは、光吸収体に吸収されて露光には寄与しない。なお、DMD40は、各露光ヘッド22による走査軌跡のX方向における間隔を狭めて露光の解像度を高めるために、その短辺がY方向に対して僅かに傾斜(例えば、0.1°〜0.5°)して配置されている。
Frame data is written into each SRAM cell via the
図2に戻って、第一出射光学系32は、レンズ43、44を備え、光変調部31からのLBを所定の倍率に拡大してマイクロレンズアレイ33上に入射させる。マイクロレンズアレイ33は、透光性を有する材料、例えば、石英ガラスからなり、平凸レンズ状の複数のマイクロレンズ45が一体的に形成されてなる。マイクロレンズ45は、マイクロミラー61に一対一で対応し、入射したLBの光軸上に位置している。このマイクロレンズ45の作用により、入射したLBが鮮鋭化されてアパーチャアレイ34に入射される。
Returning to FIG. 2, the first emission
アパーチャアレイ34は、マイクロミラー61に対応して二次元正方格子状に配列された複数のアパーチャ46を有している。アパーチャアレイ34は、例えば、石英ガラス板にクロムなどの遮光膜を蒸着し、遮光膜にアパーチャ46となる孔を形成してなる。マイクロレンズアレイ33から入射したLBは、アパーチャ46の位置で焦点を結び、第二出射光学系35へと導かれる。このアパーチャアレイ34によって、マイクロミラー61のチャタリングに起因する不要光の通過が防止され、LBの鮮鋭度がさらに増す。
The
第二出射光学系35は、レンズ47、48、およびプリズムペア49を備えている。レンズ47、48は、アパーチャアレイ34からのLBを所定の倍率に拡大するか、あるいは等倍率のままでプリズムペア49に入射させる。プリズムペア49は、例えば、透明な平行平板を、この平行平板の平行平面に対して斜めに傾く平面で切断して得られる一対の楔形プリズム49a、49bで構成される。楔形プリズム49aは、ステッピングモータなどの駆動源を含むフォーカス制御部(図示せず)によって、楔形プリズム49bに対して傾斜面に沿う方向に移動可能に設けられており、楔形プリズム49aが移動することによって、露光面14aにLBが合焦するように、LBの焦点調節を行う。
The second emission
図1に戻って、光源ユニット11には、350nm〜450nmの範囲(例えば、405nm)の発振波長のLBを発するGaN系半導体レーザーが複数設けられている。GaN系半導体レーザーは、マルチモードの場合には100mW、シングルモードの場合には50mW程度の最大出力を有する。GaN系半導体レーザーの各々から発せられたLBは、そのまま、あるいは数個ずつ合波されて光ファイバー23の入射端部に導かれる。なお、GaN系半導体レーザーの代わりに、他の種類の半導体レーザーや発光ダイオード(LED)を用いてもよい。
Returning to FIG. 1, the
基台16には、さらに、ガイドレール18を跨ぐように門型の第二ゲート25が立設されている。また、基台16のY方向の一端部には、一対の測長器26が取り付けられている。第二ゲート25には、移動ステージ19のY方向の移動に伴って直下を通過する被描画体14をZ方向上方から撮影する三台のカメラ27が設置されている。カメラ27は、CCDイメージセンサなどの固体撮像素子を内蔵しており、固体撮像素子で得られた撮像信号を位置検出部75(図4参照)に出力する。
A gate-shaped
測長器26には、例えば、移動ステージ19の側端面にレーザー光を照射し、その反射光を受光するタイミングによって、移動ステージ19のY方向における位置を測定するレーザー干渉式が採用されている。測長器26は、制御装置13に接続されており(図4参照)、測長結果を制御装置13に出力する。なお、測長器としては、超音波送受信機やステレオカメラで構成されるものを用いてもよい。
The
図4において、制御装置13は、デジタル露光システム2の全体の動作を統括的に制御する。制御装置13には、前述の制御を行うためのプログラムやデータが、HDDやROMなどの記憶部(図示せず)に予め記憶されている。制御装置13は、記憶部から必要なプログラムやデータを読み出してRAMなどの作業用メモリに展開し、読み出したプログラムを逐次処理する。
In FIG. 4, the
制御装置13には、前述の光源ユニット11の他に、画像処理ユニット12のメモリ70、ラスターイメージプロセッサ(Raster Image Processor、以下、RIPと略す)71、調整変倍処理部(第二変倍処理手段に相当)72、およびフレームデータ生成部73、並びにデジタル露光機10のDMDドライバ41、ステージ駆動部74、位置検出部75、および測長器26が接続されている。
In addition to the
メモリ70は、CAMなどの外部機器から送信されるベクトルデータを一時的に記憶する。RIP71は、メモリ70からベクトルデータを読み出し、ベクトルデータをラスタライズしてラスターデータを生成する。RIP71は、生成したラスターデータを調整変倍処理部72に出力する。
The
RIP71には、基準変倍処理部(第一変倍処理手段に相当)76が設けられている。基準変倍処理部76は、ニアレストネイバー法などの周知の画素補間技術を用いて、ラスタライズの際にRIP解像度を調整する(ラスターデータを構成する画素を基準変倍率に応じて補間(拡大)、または間引く(縮小))ことで、ラスターデータに電子変倍処理を施す。基準変倍処理部76は、新たなベクトルデータがメモリ70から読み出されたときに、被描画体14に露光を行う前の外段取り(オフライン)の作業として、一回だけ上記電子変倍処理を行う。
The
ここで、基準変倍率とは、第一の変倍率に相当し、図5に概念的に示すように、被描画体14の基準サイズからのずれ量(基準サイズを規格化して縦横1倍としたときの倍率、例えば、縦横0.9995、1.0008倍など)の平均値である。 Here, the reference scaling factor corresponds to the first scaling factor, and as conceptually shown in FIG. 5, the amount of deviation from the reference size of the drawing object 14 (standard size is normalized to 1 × vertical and horizontal). (For example, 0.9995 in height and width, 1.0008 times).
被描画体14の基準サイズからのずれは、デジタル露光システム2に至る前の工程で被描画体14にプレス処理が施された際の熱膨張などによって生じるものであり、その程度はおよそ0.1%である。また、ずれ量の平均値、すなわち基準変倍率は、過去の製造実績から経験的に略正確な値を推量することができる。本実施形態では、経験的に求めた基準変倍率を用いて処理を行う。具体的には、経験的に求めた基準変倍率のデータを制御装置13の記憶部に予め記憶しておき、このデータを基準変倍処理部76に読み出して、読み出したデータに基づいて基準変倍処理を行う。
The deviation of the
なお、基準変倍率は、図5の下段に示す計算式のように、露光の対象となる全ての被描画体14についてずれ量を測定し、これを積算して個数(n)で除算して求めたものを用いてもよいし、露光の対象となる被描画体14のうち、ランダムに選んだ数個のずれ量を測定して、その平均値を用いてもよい。あるいは、ずれ量の平均値ではなく、最大、最小の中間値を用いてもよい。この場合、例えば、最大が1.0008、最小が0.9994であれば、中間値は、(1.0008+0.9994)/2=1.0001である。
The reference scaling factor is obtained by measuring the deviation amounts of all the drawing objects 14 to be exposed as shown in the calculation formula shown in the lower part of FIG. 5 and adding up and dividing the result by the number (n). You may use what was calculated | required and may measure the amount of shift | offset | differences selected several randomly among the to-
RIP71は、制御装置13の記憶部に記憶されたRIP用のプログラムにしたがって、DSP(Digital Signal Processor)などのデジタル信号処理用マイクロプロセッサを動作させることで実現される、いわゆるソフトウエアRIPである。勿論、RIP71内の基準変倍処理部76の機能も、ソフトウエアで実現されている。
The
調整変倍処理部72は、基準変倍処理部76と同様の手法を用いて、RIP71からのラスターデータに調整変倍率に応じた電子変倍処理を施す。調整変倍処理部72は、露光の対象となる被描画体14が入れ替わる毎に、被描画体14に露光を行っている最中の内段取り(オンライン)の作業として、上記電子変倍処理を行う。
The
調整変倍率は、第二の変倍率に相当し、基準変倍処理部76によって拡縮されたラスターデータのサイズを、位置検出部75によって実測された被描画体14のサイズで除算したものである。例えば、基準変倍率が縦横1.0001、0.9991倍で、位置検出部75による被描画体14の実測サイズが縦横1.0002、0.9992倍であった場合、調整変倍率は、縦横(1.0002/1.0001≒1.00009999)、(0.9992/0.9991≒1.0001001)倍である。つまり、調整変倍率は、基準変倍処理で調整しきれない被描画体14の個々のサイズのずれを吸収し、全ての被描画体14のサイズとラスターデータのサイズとが一致するように微調整するものであり、当然ながら基準変倍率に比べて極小さい値をとる。
The adjustment scaling factor corresponds to the second scaling factor, and is obtained by dividing the size of the raster data scaled by the reference
調整変倍処理部72は、RIP71や基準変倍処理部76のようにソフトウエアで実現されるものではなく、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)やFPGA(Field Programmable Gate Array)などの、調整変倍処理の機能を専用に担うハードウエアによって構築されている。
The adjustment
フレームデータ生成部73は、マイクロミラー61および露光ヘッド22の配置によって決まる被描画体14への各露光ヘッド22の露光位置に基づいて、調整変倍処理部72からのラスターデータを露光ヘッド22毎に分割したフレームデータを生成する。また、フレームデータ生成部73は、位置検出部75で検出される移動ステージ19上の基準位置に対する被描画体14のずれ量に応じて、ずれが生じていない場合と同一の位置に露光がなされるように、フレームデータを補正する。フレームデータ生成部73は、生成したフレームデータを該当する露光ヘッド22のDMDドライバ41に出力する。DMDドライバ41は、前述のように、フレームデータ生成部73からのフレームデータをSRAMセルに書き込む。なお、上記のフレームデータの補正は、移動ステージ19上の被描画体14の基準載置位置からのずれを補正するもので、被描画体14自体の基準サイズからのずれを補正する基準、調整変倍処理とは別の処理である。
The frame
位置検出部75は、カメラ27からの撮像信号を、周知の信号処理によってデジタルの画像データに変換する。位置検出部75は、変換した画像データ、カメラ27のX方向における位置、およびその撮影タイミング(位置、撮影タイミングともに既知)を元に、移動ステージ19上の被描画体14のアラインメントマーク15の位置を検出する。位置検出部75は、位置の検出結果を制御装置13に出力する。
The
制御装置13は、位置検出部75からの検出結果を受けて、移動ステージ19上の基準位置に対する被描画体14のX方向、Y方向、およびθ方向(Z方向を軸とした回転方向、図1参照)のずれ量を算出する。また、制御装置13は、被描画体14の基準サイズからのずれ量を算出する。具体的には、位置検出部75で実測したアラインメントマーク15のXY方向の位置座標と、記憶部に予め記憶された基準の位置座標とから、被描画体14の縦横のサイズの実測値と基準値とを求め、これらの比をとる。制御装置13は、算出したこれらのずれ量から、調整変倍率、およびフレームデータの補正量を算出し、これらの情報をそれぞれ、調整変倍処理部72、およびフレームデータ生成部73に出力する。
The
次に、上記構成によるデジタル露光システム2の動作手順について、図6のフローチャートを参照して説明する。まず、S10において、露光記録に先立ち、CAMなどの外部機器から、メモリ70にベクトルデータが送信され、メモリ70にベクトルデータが記憶される。
Next, the operation procedure of the
メモリ70に記憶されたベクトルデータは、RIP71に読み出される。S11において、RIP71では、ベクトルデータがラスタライズされてラスターデータが生成される。このとき、基準変倍処理部76によって、制御装置13の記憶部から読み出した基準変倍率のデータに基づいてRIP解像度が調整され、ラスターデータに基準変倍処理が施される。基準変倍処理が施されたラスターデータは、調整変倍処理部72に出力される。以上の処理は、被描画体14に露光を行う前の外段取り(オフライン)の作業として行われる。
The vector data stored in the
外段取りの作業終了後、あるいは外段取りの作業中に、被描画体14への露光記録が指示されると、S12において、図1に示す位置にある移動ステージ19上に被描画体14がセットされる。そして、S13において、制御装置13によってステージ駆動部74が駆動され、移動ステージ19が第二ゲート25に向けてY方向に等速度で移動される。
When the exposure recording to the
移動ステージ19はY方向に移動され、第二ゲート25の直下を通過する。このとき、S14において、カメラ27で移動ステージ19上の被描画体14が撮影される。カメラ27で得られた撮像信号は、位置検出部75に出力される。そして、位置検出部75でデジタルの画像データに変換される。S15において、位置検出部75では、画像データ、カメラ27のX方向における位置、およびその撮影タイミングを元に、移動ステージ19上の被描画体14のアラインメントマーク15の位置が検出される。位置検出部75の検出結果は、制御装置13に出力される。
The moving
制御装置13では、位置検出部75からのアラインメントマーク15の検出結果が解析され、移動ステージ19上の基準位置に対する、被描画体14のX方向、Y方向、およびθ方向のずれ量、並びに被描画体14の基準サイズからのずれ量が算出される。次いで、S16に示すように、算出したずれ量から、調整変倍率、およびフレームデータの補正量が算出される。算出された調整変倍率、およびフレームデータの補正量はそれぞれ、調整変倍処理部72、およびフレームデータ生成部73に出力される。
In the
次に、S17において、調整変倍処理部72によって、RIP71からのラスターデータに、制御装置13からの調整変倍率に応じた調整変倍処理が施される。調整変倍処理が施されたラスターデータは、フレームデータ生成部73に出力され、S18に示すように、フレームデータ生成部73にて、各露光ヘッド22に応じたフレームデータとされる。このとき、制御装置13からの補正量に応じて、ずれが生じていない場合と同一の位置に露光がなされるように、フレームデータが補正される。生成されたフレームデータは、該当する露光ヘッド22のDMDドライバ41に出力される。フレームデータの生成が終わると、S19に示すように、最初の方向とは逆に、元の位置に向けて移動ステージ19が等速度で移動され、S20において、制御装置13により光源ユニット11が駆動され、露光部20による露光記録が開始される。
Next, in S <b> 17, the adjustment
DMDドライバ41に出力されたフレームデータは、測長器26で測定される移動ステージ19のY方向における位置に応じて、順次SRAMセルに書き込まれる。これにより、書き込まれるフレームデータによってSRAMセルの電荷状態が切り替わり、ひいてはマイクロミラー61の傾斜角度が変化して、光ファイバー23、入射光学系30を介して与えられる光源ユニット11からのLBの反射方向も変化される。つまり、光源ユニット11からのLBが、DMD40などから構成される光変調部31によって、フレームデータに応じて光変調される。
The frame data output to the
光変調部31で変調されたLBは、第一出射光学系32で所定の倍率に拡大され、マイクロレンズ45によって鮮鋭化されてアパーチャアレイ34に入射される。そして、アパーチャアレイ34によってさらに鮮鋭化され、マイクロミラー61のチャタリングに起因する不要光の通過が防止される。
The LB modulated by the
アパーチャアレイ34を通過したLBは、第二出射光学系35で所定の倍率に拡大されるか、あるいは等倍率のままでプリズムペア49に入射され、プリズムペア49で焦点調節がなされる。プリズムペア49で焦点調節されたLBは、移動ステージ19上の被描画体14に照射され、これにより所望の画像が被描画体14に露光記録される。
The LB that has passed through the
一つの被描画体14への露光記録終了後、次の被描画体14がある場合(S21でyes)は、S22に示すように、露光記録が終了した被描画体14が移動ステージ19上から回収されるとともに、S12に戻って、次の被描画体14が移動ステージ19上にセットされ、調整変倍処理などの以下の工程が繰り返される。すなわち、調整変倍処理は、被描画体14が入れ替えられて露光記録が行われる毎に実施される。
After the exposure recording on one
一方、次の被描画体14がなく(S21でno)、ベクトルデータの入れ替えが指示された場合(S23でyes)は、入れ替えられたベクトルデータに適合する被描画体14が用意され、S10に戻って、ラスタライズ、基準変倍処理などの以下の工程が繰り返される。ベクトルデータの入れ替えが指示されなかった場合(S23でno)は、処理が終了される。すなわち、基準変倍処理は、ベクトルデータが入れ替えられるまでは実施されず、ベクトルデータの入力毎に一回だけ実施される。
On the other hand, when there is no next drawing object 14 (no in S21) and the replacement of vector data is instructed (yes in S23), the drawing
以上説明したように、被描画体14のサイズに応じてラスターデータに施す電子変倍処理を、基準変倍処理と調整変倍処理とに分けて二段階で行うので、基準変倍処理である程度の変倍率を稼ぎ、その後の微調整を調整変倍処理で行うことができる。
As described above, the electronic scaling process applied to the raster data in accordance with the size of the
基準変倍処理を外段取りの作業として行うので、露光時間に影響する処理は内段取りの作業として行う調整変倍処理のみとなるが、基準変倍処理で大方の電子変倍処理が終えられていて、調整変倍処理は、極小さい変倍率、さらに言えば略等倍の処理となるため、露光時間の増大を最小限に抑えることができる。また、調整変倍処理部72は、極小さい変倍率の処理をこなせる程度の規模でよく、大規模な構成を必要としない。
Since the standard scaling process is performed as an external setup operation, the only process that affects the exposure time is the adjustment scaling process performed as an internal setup work, but most of the electronic scaling processes have been completed in the standard scaling process. Thus, the adjustment scaling process is an extremely small scaling ratio, that is, a process of approximately equal magnification, so that an increase in exposure time can be minimized. Further, the adjustment
基準変倍処理部76の機能をソフトウエアで実現するので、画素補間、または間引きによる画質劣化を極力抑えるアルゴリズムを盛り込んだプログラムを用いるなど、自由度が高い電子変倍処理を施すことができる。また、近年の先端技術の飛躍的な進歩から、プログラムに記述された電子変倍処理の内容が陳腐化することが懸念されるが、基準変倍処理部76の機能がソフトウエアで実現されていれば、新たなプログラムを作成してアップグレードするなど、柔軟な対応をとることができる。
Since the function of the reference
調整変倍処理部72の機能をハードウエアで構築するので、ソフトウエアの場合と比べて電子変倍処理が高速となる。このため、さらなる露光時間の削減に寄与することができる。ただ、調整変倍処理部72の機能をハードウエアで構築すると、上で述べたソフトウエアの利点(画質劣化の抑制)はなくなるが、調整変倍処理は極小さい変倍率の処理であるため、基準変倍処理と比べて画質劣化の影響は少なく、したがってハードウエアとしたことによる弊害よりも、電子変倍処理の高速化という利点のほうが遥かに大きい。つまり、基準変倍処理部76の機能をソフトウエアで実現することと、調整変倍処理部72の機能をハードウエアで構築することとは、ソフトウエア、ハードウエアそれぞれの利点を最大限に活用した態様であるといえる。
Since the function of the adjustment
RIP71でラスタライズする際にRIP解像度を調整することで基準変倍処理を行うので、描画パターンの線幅ばらつきが少ない電子変倍処理を行うことができる。
Since the reference scaling process is performed by adjusting the RIP resolution when rasterizing with the
なお、上記実施形態では、空間光変調素子としてDMD40を示したが、空間光変調素子は、これに限ることなく、例えば、SLM(Special Light Modulator)や液晶光シャッタ、及びPLZT(Piezo-electric Lanthanum-modified lead Zirconate Titanate)素子などを用いてもよい。また、上記実施形態では、露光対象として感光材料が塗布または貼着された被描画体14を示したが、例えば、写真フイルムや印画紙などであってもよい。さらに、上記実施形態では、デジタル露光システム2に本発明を適用した例を示したが、例えば、ポリゴンミラーで光ビームを偏向反射させて露光を行うシステムに適用してもよい。
In the above embodiment, the
2 デジタル露光システム
10 デジタル露光機
11 光源ユニット
12 画像処理ユニット
13 制御装置
14 被描画体
15 アラインメントマーク
20 露光部
22 露光ヘッド
27 カメラ
40 DMD
71 RIP
72 調整変倍処理部
75 位置検出部
76 基準変倍処理部
DESCRIPTION OF
71 RIP
72 Adjustment
Claims (8)
前記複数の被描画体に共通する第一の変倍率で、前記デジタルデータに対して第一の電子変倍処理を施す第一変倍処理手段と、
前記複数の被描画体の個々で異なる第二の変倍率で、前記デジタルデータに対して第二の電子変倍処理を施す第二変倍処理手段と、
前記被描画体の基準サイズからのずれ量を実測する第二ずれ量計測手段とを備え、
前記第二の変倍率は、前記第一の変倍率、および前記第二ずれ量計測手段による前記ずれ量の実測値を元に設定され、
前記第一、第二変倍処理手段は、前記第一、第二の電子変倍処理によって、前記被描画体の基準サイズからのずれに起因する前記描画パターンの記録位置のずれを補正することを特徴とする画像記録システム。 In an image recording system that directly draws a predetermined drawing pattern represented by digital data on a plurality of drawing objects,
First scaling processing means for applying a first electronic scaling process to the digital data at a first scaling factor common to the plurality of objects to be drawn;
In a different second magnification individual of the plurality of the drawing member, and a second variable scale magnification process means for performing a second electronic magnification processing on the digital data,
A second deviation amount measuring means for actually measuring the deviation amount from the reference size of the drawing object ,
The second scaling factor is set based on the first scaling factor and an actual measurement value of the deviation amount by the second deviation amount measuring means,
The first and second scaling processing means correct the recording position shift of the drawing pattern due to the shift from the reference size of the drawing object by the first and second electronic scaling processing. An image recording system characterized by the above.
前記第二変倍処理手段は、前記被描画体に前記描画パターンを描画している最中の内段取りの作業として、前記第二の電子変倍処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の画像記録システム。 The first scaling process means performs the first electronic scaling process as an external setup work before drawing the drawing pattern on the drawing object,
2. The second scaling process according to claim 1, wherein the second scaling process unit performs the second electronic scaling process as an internal setup operation while the drawing pattern is being drawn on the drawing object. The image recording system described.
前記平均値、または前記中間値は、前記第一ずれ量計測手段による前記ずれ量の実測値から求められるものであることを特徴とする請求項3または4に記載の画像記録システム。 A first deviation amount measuring means for actually measuring the deviation amount from the reference size of the drawing object;
5. The image recording system according to claim 3, wherein the average value or the intermediate value is obtained from an actual measurement value of the deviation amount by the first deviation amount measuring unit.
前記第二変倍処理手段は、その機能をハードウエアで実現されていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の画像記録システム。 The first scaling unit is realized by software,
The second variable magnification processing means, an image recording system according to any one of claims 1 to 5, characterized in that it is realized the function in hardware.
前記第一変倍処理手段は、前記ラスタライズの際にRIP解像度を調整することで、前記ラスターデータに前記第一の電子変倍処理を施すことを特徴とする請求項1ないし6のいずれかに記載の画像記録システム。 A raster image processor that rasterizes vector data of the drawing pattern and generates raster data as the digital data;
It said first flexure magnification process unit, by adjusting the RIP resolution during the rasterization, in any one of claims 1 to 6, characterized by applying said first electronic variable scale magnification process in the raster data The image recording system described.
前記複数の被描画体に共通する第一の変倍率で、前記デジタルデータに対して第一の電子変倍処理を施す第一変倍処理工程と、
前記複数の被描画体の個々で異なる第二の変倍率で、前記デジタルデータに対して第二の電子変倍処理を施す第二変倍処理工程と、
前記被描画体の基準サイズからのずれ量を実測するずれ量計測工程とを備え、
前記第二の変倍率は、前記第一の変倍率、および前記ずれ量計測工程で実測された前記ずれ量の実測値を元に設定され、
前記第一、第二変倍処理工程では、前記第一、第二の電子変倍処理によって、前記被描画体の基準サイズからのずれに起因する前記描画パターンの記録位置のずれを補正することを特徴とする画像記録方法。 In an image recording method for directly drawing a predetermined drawing pattern represented by digital data on a plurality of drawing objects,
A first scaling process step of applying a first electronic scaling process to the digital data at a first scaling factor common to the plurality of objects to be drawn;
A second scaling step of performing a second electronic scaling process on the digital data at a second scaling factor that is different for each of the plurality of drawing objects;
A deviation amount measuring step of actually measuring the deviation amount from the reference size of the drawing object ,
The second scaling factor is set based on the first scaling factor and an actual measurement value of the deviation amount actually measured in the deviation amount measurement step,
In the first and second scaling processing steps, the first and second electronic scaling processing corrects a shift in the recording position of the drawing pattern caused by a shift from the reference size of the drawing target. An image recording method characterized by the above.
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