JP5192999B2 - イオン化エア供給プログラム - Google Patents
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 20
- 238000007664 blowing Methods 0.000 claims description 7
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 157
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 32
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 22
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 17
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 13
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 13
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 7
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
該カセットステージに載置されたカセットにワークを搬入したり、該カセットに収納されたワークを該カセットから搬出したりする搬送手段と、ワークを保持する保持手段と、 該保持手段に保持されたワークを加工する加工手段と、を具備し、搬送手段は、ワークの一面における少なくとも一部、および該ワークの他面における少なくとも一部が露出する状態に該ワークを保持する保持部を有しており、該搬送手段には、一面にイオン化エアを吹き出す第1のブローノズルと、他面にイオン化エアを吹き出す第2のブローノズルと、カセットと搬送手段とを、該カセットに収納されたワークの厚さ方向に相対的に移動させる移動手段を有し、第1のブローノズルおよび第2のブローノズルから吹き出されるイオン化エアの吹き出し方向がカセットに向かう方向とされた加工装置に適用される制御用のイオン化エア供給プログラムであって、搬送手段をカセットに近接させるステップと、移動手段によって、カセットと搬送手段とを該カセットに収納されたワークの厚さ方向に相対的に移動させて、ワークを第1のブローノズルおよび第2のブローノズルに位置付けるステップと、該ワークに向けて、第1のブローノズルおよび第2のブローノズルからイオン化エアを噴出するステップと、を備えることを特徴としている。
図1は一実施形態の切削加工装置10の全体を示している。この切削加工装置10は、図2に示す半導体ウェーハ(以下、ウェーハと略称)1を、図示せぬ切削ブレードにより自動制御で切削してダイシングするダイシング装置である。当該切削加工装置10の動作の制御は、図1に示す制御手段10Aによりなされる。
図2により先にウェーハ1を説明すると、このウェーハ1はシリコン等の単結晶材料からなる円板状のもので、厚さが例えば100〜700μm程度であり、外周部の一部に、結晶方位を示すマークとしてオリエンテーションフラット1aが形成されている。ウェーハ1の表面には、格子状に形成された分割予定ライン2により多数の矩形状のチップ3が区画されている。各チップ3の表面には、図示せぬICやLSI等の電子回路が形成されている。ウェーハ1は、切削加工装置10により全ての分割予定ライン2が切削加工されて個々のチップ3にダイシングされる。
(2−1)全体構成および基本動作
次に、切削加工装置10の全体構成を、基本動作と併せながら説明する。
図1の符号11はキャビネットである。このキャビネット11の内部には、切削ブレードによってウェーハ1をダイシングする切削加工手段(図示略)が配設されている。キャビネット11のY方向一端側(図1で手前側)には、タッチパネル式の操作表示盤12が設けられており、切削加工の自動運転に係わる各種設定などは、この操作表示盤12を利用して行われる。また、操作表示盤12には、内部の運転状況を表示する機能なども付加されている。操作表示盤12の上方の、キャビネット11の天板には、運転状態を表示したり警告を発したりする表示灯13が取り付けられている。
図3(a)に示すように、上記アーム32の先端には、ウェーハ付きフレーム6を保持する保持部35が設けられている。この保持部35は、アーム32の先端に固定された直方体状のブロック36と、ブロック36に取り付けられた上下一対のブローノズル37A,37Bとを備えている。
上記第1搬送手段30は、前述のように、切削加工前のウェーハ1を備えたウェーハ付きフレーム6をカセット9から搬出したり、切削加工および洗浄処理されたウェーハ1を備えたウェーハ付きフレーム6をカセット9に搬入したりする。
本実施形態によれば、カセット9に対するウェーハ1の搬入/搬出時の他に、カセット9に収納されている多数のウェーハ1にイオン化エアを吹き付けて静電気を除去することができる。図7はその動作例を示しており、保持部35をカセット9に近接させて上下のブローノズル37A,37Bからイオン化エアを噴出しながら、移動手段16によってカセット9を断続的に昇降させることにより、カセット9に積層状態で収納されている各ウェーハ1の上下の面にイオン化エアを吹き付けることができる。このように保持部35のブローノズル37A,37Bからカセット9内にイオン化エアを吹き付けることにより、除電手段を別途設けることなくカセット9内のウェーハ1の除電を行うことができる。
図9は、第1搬送手段30における保持部35の他の実施形態を示している。この保持部35は、図2に示したように粘着テープ5を介してフレーム4で支持したウェーハ1ではなく、ウェーハ1単体を、アーム32の先端に形成された水平なトレー38により直接保持するものである。そして、カセット9にはウェーハ1が単体の状態で収納される。また、この場合にはフレームガイドレール34は用いられない。トレー38のカセットステージ15側には、U字状の切欠き38aが形成され、かつ、切欠き38aの両側に受け部38bが形成されている。左右一対の受け部38bの上面には、ウェーハ1の外周部の裏面に負圧の作用で吸着する吸着部39が設けられている。この保持部35によれば、トレー38の受け部38bの上にウェーハ1を受け、吸着部39でウェーハ1の外周部を吸着することによってウェーハ1を保持する。受け部38bで保持されたウェーハ1においては、上面は全面が露出しており、下面はトレー38で覆われる外周部以外の大部分が露出した状態となる。
Claims (1)
- 板状のワークが収納されたカセットが載置されるカセットステージと、
該カセットステージに載置された前記カセットにワークを搬入したり、該カセットに収納されたワークを該カセットから搬出したりする搬送手段と、
ワークを保持する保持手段と、
該保持手段に保持されたワークを加工する加工手段と、を具備し、
前記搬送手段は、ワークの一面における少なくとも一部、および該ワークの他面における少なくとも一部が露出する状態に該ワークを保持する保持部を有しており、該搬送手段には、前記一面にイオン化エアを吹き出す第1のブローノズルと、前記他面にイオン化エアを吹き出す第2のブローノズルと、
前記カセットと前記搬送手段とを、該カセットに収納されたワークの厚さ方向に相対的に移動させる移動手段を有し、
前記第1のブローノズルおよび前記第2のブローノズルから吹き出される前記イオン化エアの吹き出し方向がカセットに向かう方向とされた加工装置に適用される制御用のイオン化エア供給プログラムであって、
前記搬送手段を前記カセットに近接させるステップと、
前記移動手段によって、前記カセットと前記搬送手段とを該カセットに収納されたワークの厚さ方向に相対的に移動させて、ワークを前記第1のブローノズルおよび前記第2のブローノズルに位置付けるステップと、
該ワークに向けて、前記第1のブローノズルおよび前記第2のブローノズルからイオン化エアを噴出するステップと、
を備えることを特徴とするイオン化エア供給プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008302884A JP5192999B2 (ja) | 2008-11-27 | 2008-11-27 | イオン化エア供給プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008302884A JP5192999B2 (ja) | 2008-11-27 | 2008-11-27 | イオン化エア供給プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010129776A JP2010129776A (ja) | 2010-06-10 |
JP5192999B2 true JP5192999B2 (ja) | 2013-05-08 |
Family
ID=42329968
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008302884A Active JP5192999B2 (ja) | 2008-11-27 | 2008-11-27 | イオン化エア供給プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5192999B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5554661B2 (ja) * | 2010-08-27 | 2014-07-23 | 株式会社ディスコ | ダイシング加工装置 |
JP2012196604A (ja) * | 2011-03-18 | 2012-10-18 | Seiko Epson Corp | 印刷装置及び製造装置 |
JP2014203968A (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-27 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
JP2014204020A (ja) * | 2013-04-08 | 2014-10-27 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
JP6208587B2 (ja) * | 2014-01-17 | 2017-10-04 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
JP7265430B2 (ja) * | 2019-07-02 | 2023-04-26 | 株式会社ディスコ | 処理装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11150174A (ja) * | 1997-11-19 | 1999-06-02 | Hitachi Techno Eng Co Ltd | カセット内ウエハ検出装置 |
JPH11204461A (ja) * | 1998-01-09 | 1999-07-30 | Disco Abrasive Syst Ltd | フレーム位置決め装置及びフレーム位置決め方法 |
JP3260683B2 (ja) * | 1998-02-23 | 2002-02-25 | 鹿児島日本電気株式会社 | 基板移載装置 |
JP2002066865A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-03-05 | Disco Abrasive Syst Ltd | 切削装置 |
-
2008
- 2008-11-27 JP JP2008302884A patent/JP5192999B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010129776A (ja) | 2010-06-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111011 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121025 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160208 Year of fee payment: 3 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160208 Year of fee payment: 3 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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