JP5002963B2 - 要因推定装置、要因推定プログラム、要因推定プログラムを記録した記録媒体、および要因推定方法 - Google Patents
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Description
まず、本実施形態に係る工程管理システムが適用されるプリント基板の生産システム(処理システム)1について、図2に基づいて説明する。生産システム1における生産ラインは、プリント基板を製造する各工程(印刷工程、実装工程、リフロー工程等)を含んでいる。同図に示す例では、生産システム1は、基板上に半田をペーストする半田印刷工程を行う印刷装置11、基板上に電子部品を実装する部品実装工程を行う装着装置12、基板上の電子部品を半田付けするリフロー工程を行う半田付け装置13、および生産システム1の管理を行う工程管理装置(要因推定装置)10を備えている。印刷装置11、装着装置12、および半田付け装置13は、生産システム1の製造品の流れにおける上流から下流に向けてこの順序で配置されている。
次に、工程管理装置10の構成について図1を参照しながら以下に説明する。同図に示すように、工程管理装置10は、制御部30、検査結果入力部(検査結果入力手段)40、入力部21、表示部22、推定知識記録部23、質問データ記録部24、推論過程一時記憶部25、工程状態データベース(検査結果記録部)26、着目ノードスタック記憶部27、関連項目記録部28、および項目データ取得方法記録部(取得方法記録部)29を備えた構成となっている。
次に、推定知識記録部23に記録されている要因推定知識情報としての因果ネットワークについて説明する。因果ネットワークは、各不良結果から該不良結果の要因(以降、不良要因と称する)に至る推論の過程をネットワーク構造の知識として示す情報である。因果ネットワークには、不良結果から不良要因に至る診断パスの途中に複数のノードが存在している。このノードにおいて診断パスの分岐が生じることによって、特定の不良結果から複数の不良要因に至る診断パスが形成されることになる。なお、因果ネットワークは、親のノードがたかだか1つであるツリー構造の知識として示す情報であってもよい。
次に、知識変換部33による、因果ネットワークの診断パスからプロダクションルールを生成する処理について説明する。プロダクションルールは、前記したように、要因推定の推論処理をコンピュータに行わせるのに適したデータ形式の情報である。知識変換部33は、推定知識記録部23に記録されている因果ネットワークの情報から対象となる診断パスの情報を読み出し、該診断パスに対応するプロダクションルールを生成する。
次に、適合度演算部62による適合度の算出処理について説明する。適合度とは、上記のプロダクションルールにおける、各ノード間に設定されている条件を満たす度合いを示している。この適合度は、0以上1以下の数字で表され、数が大きいほど条件を満たす度合いが高いものとする。
次に、確信度演算部63による確信度の算出処理について説明する。確信度とは、各不良要因に対応して設けられる値であり、該不良要因が、推定対象としての不良結果の不良要因である可能性の高さを示す値である。
certainty factor(c1)=max(min(g1,g2,g3,g4),min(g1,g3,g4,g5))
によって求められる。
次に、影響度演算部64による影響度の算出処理について説明する。影響度とは、各入力項目に対応して設けられる値であり、該入力項目に対するデータが得られた場合に、各不良要因に対する確信度の変化量の総和を示す値である。すなわち、影響度は次式で表される。
影響度=Σc|現在の確信度−確信度予測値|。
ここで、Σcは不良要因毎の総和を示している。
次に、項目データ取得部65による入力項目のデータの取得処理について説明する。項目データ取得部65は、サブネットワーク内の各入力項目に対応する影響度を推論過程一時記憶部25から読み出して、影響度が最も高い入力項目を特定する。なお、サブネットワーク内に入力項目が存在しない場合、または、所定値よりも高い影響度を有する入力項目が存在しない場合、項目データ取得部65は、当該サブネットワーク内の入力項目のデータをこれ以上取得しても確信度への影響が無いまたは少ないため、入力項目のデータの取得処理を終了し、着目ノード決定部66に通知する。
次に、着目ノード決定部66による着目ノードの決定処理について説明する。項目データ取得部65が取得した入力項目のデータが、該入力項目に対応する条件を満たす場合、着目ノード決定部66は、上記条件の分岐先のノードを着目ノードとして決定する。着目ノード決定部66は、決定した着目ノードのノードIDを着目ノードスタック記憶部27にプッシュする。これにより、サブネットワークを絞り込むことができる。したがって、入力項目のデータを取得するためにユーザに質問を行う場合、次々と絞り込まれたサブネットワーク内の入力項目に対応する質問がなされるため、質問の流れの一貫性を損なわない。
次に、因果ネットワークの具体例について図15を参照しながら説明する。同図に示す例では、不良結果としての「ブリッジ不良」についての因果ネットワークが示されている。この例において、「ブリッジ不良」に対して、「実装位置ずれ」、「リード曲がり」、「ペーストのフラックス活性度が低い」、「部品の酸化」、「部品の汚れ」、「ペーストの面積が大きい」、「ペーストの位置ずれ」、および「ヒーターの温度設定が高い」の8個の不良要因が候補となっている。そして、「ブリッジ不良」という不良結果から、上記8個の不良要因に至るまでの診断パスがネットワーク構造の知識として設定されている。
IF((リードとランドの接触がある)=Yes & (部品位置ずれ)=(大きい)) then (実装位置ずれ)
IF((リードとランドの接触がある)=Yes & (部品位置ずれ)=(普通)) then (リード曲がり)
IF((ペーストが無いランドがある)=Yes & (ランドに不濡れがある)= Yes & (ペーストのフラックスの活性度)=(低い)) then (ペーストのフラックス活性度が低い)
となる。
IF((熱だれ性が規定値外である)=Yes & (ペーストの量)=(多い)) then (ペーストの面積が大きい)
IF((リードの肩までペーストがぬれ上がる現象がある)=Yes & (リフロー炉の温度)=(普通)) then (ペーストの面積が大きい)
となる。
IF((リードの肩までペーストがぬれ上がる現象がある)=Yes & (リフロー炉の温度)=(高い) & (ヒーターの設定値)=(高い) & (基板全体でペーストがぬれ上がる現象がある)= Yes) then (ペーストの面積が大きい)
となる。
次に、要因推定処理の流れについて図16に示すフローチャートを参照しながら説明する。要因推定処理が開始されると、まずステップ1(以降、S1のように称する)において、入力表示制御部31によって表示部22に対して質問画面が表示される。この質問画面における質問表示領域には、不良結果を入力する領域が設けられる。この不良結果を入力する領域に対して、ユーザによって不良結果が入力され、この入力情報が質問入出力制御部51によって受け付けられる(S2)。そして、不良結果情報が、推論処理部61によって推論過程一時記憶部25に記憶される。
11 印刷装置
12 装着装置
13 装置
14 検査装置
14a 印刷検査装置
14b 装着検査装置
14c 検査装置
21 入力部
22 表示部
23 推定知識記録部
24 質問データ記録部
25 推論過程一時記憶部
26 工程状態データベース(検査結果記録部)
27 着目ノードスタック記憶部
28 関連項目記録部
29 項目データ取得方法記録部(取得方法記録部)
30 制御部
31 入力表示制御部
32 推論部
33 知識変換部
34 質問生成部
35 特徴量演算部
36 関連項目選択部
40 検査結果入力部(検査結果入力手段)
41 印刷結果入力部
42 装着結果入力部
43 半田付け結果入力部
44 製造装置履歴入力部
51 質問入出力制御部(入力制御手段)
52 要因出力制御部
61 推論処理部(推論処理手段)
62 適合度演算部(適合度演算手段)
63 確信度演算部(確信度演算手段)
64 影響度演算部(影響度演算手段)
65 項目データ取得部(項目データ取得手段)
66 着目ノード決定部(着目ノード決定手段)
Claims (11)
- 診断対象のシステムにおいて発生した結果から要因を推定する要因推定装置であって、
上記システムにおいて発生し得る複数の結果のそれぞれに対して、要因の候補を1つ以上対応付けるとともに、各結果から該結果に対応する各要因に至る要因推定のパスを、条件分岐によるネットワーク構造の知識として示す要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、
上記推定知識記録部に記録されている上記要因推定知識情報に基づいて要因推定処理を行う推論処理手段と、
上記推論処理手段によって要因推定処理が行われる過程において、上記要因推定知識情報に含まれる条件に対応する入力項目のデータを取得する項目データ取得手段と、
該項目データ取得手段が取得したデータに基づいて、上記条件を満たす度合いを示す適合度を算出する適合度演算手段と、
上記要因推定のパスに含まれる条件に対する適合度の集合を代表する値を確信度として上記要因ごとに算出する確信度演算手段と、
或る入力項目に関して、該入力項目のデータを取得した場合における各要因に対する上記確信度の変化量の総和を示す値である影響度を、入力項目ごとに算出する影響度演算手段とを備え、
上記項目データ取得手段は、上記影響度の高い入力項目のデータを取得することを特徴とする要因推定装置。 - 上記項目データ取得手段が取得したデータが、条件を満たす場合、該条件分岐先のノードを着目ノードとして決定する着目ノード決定手段をさらに備え、
上記項目データ取得手段は、上記着目ノードとその下流側のノードとに対応する入力項目のうち、上記影響度の高い入力項目のデータを取得することを特徴とする請求項1に記載の要因推定装置。 - 上記着目ノード決定手段は、上記影響度が所定値以上である入力項目が存在しない場合、前の着目ノードに戻し、前の着目ノードが存在しないとき、上記要因推定処理を終了することを特徴とする請求項2に記載の要因推定装置。
- 関連する複数の入力項目の情報をグループ化して記憶する関連項目記録部をさらに備え、
上記項目データ取得手段は、上記影響度の高い入力項目のデータと、該入力項目と同じグループに属する入力項目のデータとを取得することを特徴とする請求項1に記載の要因推定装置。 - 上記項目データ取得手段は、上記影響度の高い入力項目のデータと、該入力項目と同じグループに属する入力項目であって、上記影響度が所定値以上である入力項目のデータとを取得することを特徴とする請求項4に記載の要因推定装置。
- 上記要因推定知識情報に含まれる条件に対応する質問に対するユーザからの回答を取得する入力制御手段をさらに備え、
上記項目データ取得手段は、上記入力制御手段が取得する回答に基づいて、上記入力項目のデータを取得することを特徴とする請求項1に記載の要因推定装置。 - 上記システムを検査する検査装置から検査結果データを受け付ける検査結果入力手段と、
上記検査結果入力手段によって受け付けられた検査結果データを記録する検査結果記録部と、
上記入力項目のデータを、ユーザおよび上記検査結果データの何れから取得するか、或いは両方から取得するかを示す取得方法の情報を上記入力項目の情報とともに記憶する取得方法記録部とを備え、
上記項目データ取得手段は、上記入力項目に対応する取得方法の情報に基づいて、上記入力項目のデータを取得することを特徴とする請求項6に記載の要因推定装置。 - 被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生した不良結果から不良要因を推定することを特徴とする請求項1に記載の要因推定装置。
- 請求項1から8のいずれか1項に記載の要因推定装置を動作させる要因推定プログラムであって、コンピュータを上記の各手段として機能させるための要因推定プログラム。
- 請求項9に記載の要因推定プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 診断対象のシステムにおいて発生した結果から要因を推定する要因推定装置であって、上記システムにおいて発生し得る複数の結果のそれぞれに対して、要因の候補を1つ以上対応付けるとともに、各結果から該結果に対応する各要因に至る要因推定のパスを、条件分岐によるネットワーク構造の知識として示す要因推定知識情報を記録する推定知識記録部を備える要因推定装置の要因推定方法であって、
上記推定知識記録部に記録されている上記要因推定知識情報に基づいて要因推定処理を行う推論処理ステップと、
上記推論処理ステップによって要因推定処理が行われる過程において、上記要因推定知識情報に含まれる条件に対応する入力項目のデータを取得する項目データ取得ステップと、
該項目データ取得ステップが取得したデータに基づいて、上記条件を満たす度合いを示す適合度を算出する適合度演算ステップと、
上記要因推定のパスに含まれる条件に対する適合度の集合を代表する値を確信度として上記要因ごとに算出する確信度演算ステップと、
或る入力項目に関して、該入力項目のデータを取得した場合における各要因に対する上記確信度の変化量の総和を示す値である影響度を、入力項目ごとに算出する影響度演算ステップとを含み、
上記項目データ取得ステップにおいて、上記影響度の高い入力項目のデータを取得することを特徴とする要因推定方法。
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