JP5090063B2 - パワー半導体モジュール - Google Patents
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Description
大電流化、運転周波数の高速化に伴い、電力損失、発熱、ノイズによる誤動作等の諸問題が顕著になるため、外部接続のための電極導出端子においても、大型化、配線インダクタンスの低減化が求められる。
このように端子保持部と外装体とが別部品で構成されていると、基板の大きさに応じて外装体のみ変更し、端子保持部を共通使用することができるという利点がある。
近時、上記の端子保持部や外装体の樹脂材料として、PPS(Polyphenylene Sulfide)樹脂が選択される例が増えている。PPS樹脂は、熱可塑性で環境に優しく、高温硬化が可能で、高い熱伝導性のものが選択でき、また充填材の混入により半導体部品に近い熱膨張係数を選択できる等の多くの利点を有している。
基板上の半導体素子や回路を保護するためにシリカゲルなどのゲル剤が使用されているが、この場合、基板に合わされた上記外装体内にそのゲル剤が充填される。
PPS樹脂は、その多くの利点の一方で、硬化時に反り等の歪みが生じ、寸法精度が出し難いという難点が依然として払拭できていないのは事実である。
特に、上記端子保持部のように3つの端子を長手方向に並べた端子保持部に反りが生じた場合、3つの端子の下端の高さがばらつく。下端の高さがばらついた3つの端子を基板に接続しようとすると、精度よく安定的に接続できず、端子の変形、半田量等によって補うことなり、組立応力の残留、半田量のバラツキによって信頼性が低下するという問題が生じる。
かかる問題に対処するため、端子の下端部の幅を縮小して細長に形成し、基板との接触面が上下するような曲げ変形を容易にすることで、組立応力を低減しつつ接続面への対応力を高め、基板に対して3端子を精度よく安定的に接続し、信頼性を高めよとする手法がある。
しかし、かかる手法によっても、精度よく安定的な接続や、接続部の信頼性について問題を残していた。それに加え、同手法によると、端子の下端部の幅を縮小して細長に形成するため、導電断面積が縮小されて自己インダクタンスの増大等その電気的特性が悪化する。この点は、大電力化を進めるにあたってますます顕著化する問題点と予測される。
端子保持部と外装体の密閉性を高めると、高負荷運転時にゲル剤から生じるガスを逃がすことができないという問題がある。
また、製造過程において外装体に開放部分を作れないと、ゲル剤のキュアー時に生じるガス抜きや、フラックス等の洗浄、内部の目視検査等において不都合を生じる。
端子を基板に接続して端子保持部と基板とを組み合わせた後、外装体を組み合わせる前においては、囲いが無いためゲル剤の充填は難しいが、フラックス洗浄や半田接合部の検査は可能である。しかし、この工程では基板、端子保持部、外装体の3部品間に組立誤差を生じるおそれがあり、無理に組立てると半田接合部に応力を生じさせる結果となり好ましくない。
前記放熱板上に実装され、直列に接続される一対の半導体スイッチング素子を有する回路と、
前記一対の半導体スイッチング素子の両端の陽極P、陰極Nと互いの接続点に当たる中間電極Uからなる3つの電極それぞれを前記回路上から外部に導出する3つの電極導出端子と、
前記放熱板に固定される上下端開口の一体成型された樹脂ケースと、
前記樹脂ケースの上端に嵌合保持されて上端開口を覆う蓋とを備え、
前記一対の半導体スイッチング素子は、中間電極Uに係る電極導出端子を介して直列に接続され、
前記樹脂ケースは、下端が前記放熱板に合わされて前記回路を囲む外囲部と、前記3つの電極導出端子を保持する端子保持部とを有し、
前記端子保持部は、前記回路上方に空間を隔てつつ前記外囲部の対辺間に架設され、
前記電極導出端子は、折り曲げ形成された金属板からなり、前記端子保持部の上面に配置された外部接続部と、前記端子保持部より下方に配置され前記回路に接続する内部接続部と、前記外部接続部と前記内部接続部との間を繋ぐ中間部とを有し、
前記中間部は、前記放熱板に略平行に配されて前記端子保持部に埋設された水平部と、前記水平部の一端から上方へ延設され前記外部接続部に連続する上方延設部と、前記水平部の他端から下方へ延設され前記内部接続部に連続する下方延設部とを有し、
3つの前記水平部が上下に一部を重ねあって前記端子保持部内で3層構造を構成しており、
前記樹脂ケースは、前記端子保持部の側面から延設されて前記外囲部に連続する枝部を有して補強されているパワー半導体モジュールである。
前記放熱板上に実装され、直列に接続される一対の半導体スイッチング素子を有する回路と、
前記一対の半導体スイッチング素子の両端の陽極P、陰極Nと互いの接続点に当たる中間電極Uからなる3つの電極それぞれを前記回路上から外部に導出する3つの電極導出端子と、
前記放熱板に固定される上下端開口の一体成型された樹脂ケースと、
前記樹脂ケースの上端に嵌合保持されて上端開口を覆う蓋とを備え、
前記一対の半導体スイッチング素子は、中間電極Uに係る電極導出端子を介して直列に接続され、
前記樹脂ケースは、下端が前記放熱板に合わされて前記回路を囲む外囲部と、前記3つの電極導出端子を保持する端子保持部とを有し、
前記端子保持部は、前記回路上方に空間を隔てつつ前記外囲部の対辺間に架設され、
前記電極導出端子は、折り曲げ形成された金属板からなり、前記端子保持部の上面に配置された外部接続部と、前記端子保持部より下方に配置され前記回路に接続する内部接続部と、前記外部接続部と前記内部接続部との間を繋ぐ中間部とを有し、
前記中間部は、前記放熱板に略平行に配されて前記端子保持部に埋設された水平部と、前記水平部の一端から上方へ延設され前記外部接続部に連続する上方延設部と、前記水平部の他端から下方へ延設され前記内部接続部に連続する下方延設部とを有し、
3つの前記水平部が上下に一部を重ねあって前記端子保持部内で3層構造を構成しており、
前記端子保持部を構成する樹脂が充填されてこれに保持されるアンカーフォールが、前記放熱板に近い方から2層目及び3層目に係る前記水平部に形成され、前記放熱板に近い方から1層目に係る前記水平部の下面が前記端子保持部を構成する樹脂から露出しているパワー半導体モジュールである。
前記制御電極導出端子が前記枝部に貫通して前記樹脂ケースに保持されている請求項1に記載のパワー半導体モジュールある。
電極U,陰極Nの順で配置されている請求項1又は請求項2に記載のパワー半導体モジュールである。
樹脂ケースは上下開口であるので、半導体スイッチング素子を含む回路が実装された放熱板に電極導出端子を保持した樹脂ケースを実装した後、フラックス等の洗浄、内部の目視検査等は容易に行える。また、樹脂ケース内に容易にゲル剤を充填することができ、ゲル剤のキュアー時に生じるガスを樹脂ケースの上端から抜くことができる。
外囲部と端子保持部との間に隙間はなく、キュアー時のゲル剤の溢れ出しは防がれる。
ゲル剤の充填、キュアー後に、樹脂ケースに嵌合保持させて蓋を被せることによって、高負荷運転時にゲル剤から生じるガスを、樹脂ケースと蓋との嵌合隙間から容易に逃がすことができる構造を構成できる。
また、3つの電極導出端子が重なる部分によって、L成分が相殺され、相互インダクタンスが低減されるという効果がある。
以上により、本発明によれば、高電力化に耐え、精度よく信頼性の高い製品を容易に実現することができる。
さらに、枝部に制御電極導出端子を貫通保持させることによって、制御電極導出端子を位置精度よく保持することができるとともに、構造全体をさらに強化することができ、端子保持部その他の部分の変形をより小さく抑えることができる。
さらにガス溜りの発生を抑えるため、端子保持部の下面等、内部空間内に配置される下面を、上方への袋部を有さない形状に構成することが好ましい。上方への袋部とは、底部を上とした袋状の空洞構造をいう。袋部を有さない形状にするには、全面をフラットにするか、全面フラットに対して一部に凸部を形成した形状とする。但し、凸部を輪状に形成すると袋部が形成されるため、このような形状は除外される。上方へのガスの逃げ道の無い凹部は形成しない。
本発明においては、内部接続部の位置精度の悪さの根本原因を改善したため、電気的特性を優先し、端子保持部から延出する水平部及び下方延設部を内部接続部に対して幅広に構成することが好ましい。これにより、各電極導出端子の自己インダクタンスが低減される。自己インダクタンスの低減化と、上述の相互インダクタンスの低減化の貢献によって、高電力化、高速運転に耐え、信頼性の高い製品をより容易に実現することができる。
このとき、3つの水平部が重なる部分及び3つの電極導出端子の内部接続部を、中間電極Uに係る外部接続部と陽極Pに係る外部接続部との間に配置することが好ましい。かかる配線構造により、3つの電極導出端子のそれぞれについて、水平部と放熱板上の回路間の配線を最短にすることができ、配線の自己インダクタンスをさらに低減化することができる。
さらに、この場合において、一対の半導体スイッチング素子をそれぞれ実装する回路パターンを、同一パターンとして回転対象位置に配置することによって、容易に上記配線構造に対応させることができるとともに、生産性を向上できる。
以上により、高電力化に耐え、精度よく信頼性の高い製品を容易に実現することができる。
U電極導出端子dは、IGBTt1のエミッタ電極E1とIGBTt2のコレクタ電極C2とを接続するとともに、当電極U(C2E1)を回路b1,b2上から外部に導出する。
N電極導出端子eは、IGBTt2のエミッタ電極E2に接続して、当電極N(E2)を回路b2上から外部に導出する。
P電極導出端子fは、IGBTt1のコレクタ電極C1に接続して、当電極P(C1)を回路b1上から外部に導出する。
IGBTチップtの表面のエミッタ電極及びダイオードチップDの表面の電極がボンディングワイヤによって導体パターンb5に接続されている。IGBTチップtの表面のゲート電極がボンディングワイヤによって抵抗素子rに接続されている。抵抗素子rは導体パターンb6上にボンディングされている。ゲート電極は、導体パターンb6からボンディングワイヤによって導体パターンb7まで引き回されている。
中間部は、放熱板aに略平行に配されて端子保持部c3に埋設された水平部d4と、水平部d4の一端から上方へ延設され外部接続部d1に連続する上方延設部d5と、水平部d4の他端から下方へ延設され内部接続部d2,d3にそれぞれ連続する下方延設部d6,d7とを有する。
上方延設部d5にはアンカーホールd8が穿設されている。水平部d4にはアンカーホールd9が穿設されている。
中間部は、放熱板aに略平行に配されて端子保持部c3に埋設された水平部e4と、水平部e4の一端から上方へ延設され外部接続部e1に連続する上方延設部e5と、水平部e4の他端から下方へ延設され内部接続部e2に連続する下方延設部e6とを有する。
上方延設部e5にはアンカーホールe8が穿設されている。水平部e4にはアンカーホールe9が穿設されている。
中間部は、放熱板aに略平行に配されて端子保持部c3に埋設された水平部f4と、水平部f4の一端から上方へ延設され外部接続部f1に連続する上方延設部f5と、水平部f4の他端から下方へ延設され内部接続部f2に連続する下方延設部f6とを有する。
上方延設部f5にはアンカーホールf8が穿設されている。水平部f4にはアンカーホールは設けられていない。
樹脂ケースcの成型するための成形型内に、端子d,e,f,g,h,i,jをその中間部がキャビティ内を通るように配置してキャビティ内に樹脂を充填し、その後、樹脂を硬化させて樹脂ケースcは作製される。
樹脂充填時、アンカーホールd8,d9,e8,e9,f8にも樹脂が充填される。水平部f4の下面が端子保持部c3を構成する樹脂から露出している。樹脂部、端子部含め、下面は上方への袋部を有さない形状に構成されている。水平部f4にアンカーホールを設けると、樹脂の充填不足により袋部を形成するおそれがある。水平部f4の下にも樹脂層を設けると、装置が大型化してしまう。
内部接続部d2は回路b1上の導体パターンb5に、内部接続部d3は回路b2上の導体パターンb4に接続されている。内部接続部e2は回路b2上の導体パターンb5に接続されている。内部接続部f2は回路b1上の導体パターンb4に接続されている(図7等参照)。
G1電極導出端子gは回路b1上の導体パターンb7に、E1電極導出端子hは回路b1上の導体パターンb5に接続されている。G2電極導出端子iは回路b2上の導体パターンb7に、E2電極導出端子jは回路b2上の導体パターンb5に接続されている(図13等参照)。
以上のように、放熱板aを垂直視したとき、3つの水平部d4,e4,f4が重なる部分及び3つの電極導出端子の内部接続部d2,d3,e2,f2、さらには端子g,h,i,jの内部接続部は、中間電極Uに係る外部接続部d1と陽極Pに係る外部接続部f1との間に配置されている。
樹脂ケースcと蓋kとは嵌合させただけであるので、両者の間にはガスが通過できる程度の隙間は残るが、接着剤などで封止せずにこのまま残しておくことによって、高速運転中にゲル剤から生じるガスを、樹脂ケースcと蓋kとの嵌合隙間から容易に逃がすことができる。
b 回路
c 樹脂ケース
c2 外囲部
c3 端子保持部
c4,c5,c6,c7 開口
c8 枝部
c9 枝部
D ダイオードチップ
d U電極導出端子
e N電極導出端子
f P電極導出端子
g G1電極導出端子
h E1電極導出端子
i G2電極導出端子
j E2電極導出端子
t IGBTチップ
Claims (6)
- 放熱板と、
前記放熱板上に実装され、直列に接続される一対の半導体スイッチング素子を有する回路と、
前記一対の半導体スイッチング素子の両端の陽極P、陰極Nと互いの接続点に当たる中間電極Uからなる3つの電極それぞれを前記回路上から外部に導出する3つの電極導出端子と、
前記放熱板に固定される上下端開口の一体成型された樹脂ケースと、
前記樹脂ケースの上端に嵌合保持されて上端開口を覆う蓋とを備え、
前記一対の半導体スイッチング素子は、中間電極Uに係る電極導出端子を介して直列に接続され、
前記樹脂ケースは、下端が前記放熱板に合わされて前記回路を囲む外囲部と、前記3つの電極導出端子を保持する端子保持部とを有し、
前記端子保持部は、前記回路上方に空間を隔てつつ前記外囲部の対辺間に架設され、
前記電極導出端子は、折り曲げ形成された金属板からなり、前記端子保持部の上面に配置された外部接続部と、前記端子保持部より下方に配置され前記回路に接続する内部接続部と、前記外部接続部と前記内部接続部との間を繋ぐ中間部とを有し、
前記中間部は、前記放熱板に略平行に配されて前記端子保持部に埋設された水平部と、前記水平部の一端から上方へ延設され前記外部接続部に連続する上方延設部と、前記水平部の他端から下方へ延設され前記内部接続部に連続する下方延設部とを有し、
3つの前記水平部が上下に一部を重ねあって前記端子保持部内で3層構造を構成しており、
前記樹脂ケースは、前記端子保持部の側面から延設されて前記外囲部に連続する枝部を有して補強されているパワー半導体モジュール。 - 放熱板と、
前記放熱板上に実装され、直列に接続される一対の半導体スイッチング素子を有する回路と、
前記一対の半導体スイッチング素子の両端の陽極P、陰極Nと互いの接続点に当たる中間電極Uからなる3つの電極それぞれを前記回路上から外部に導出する3つの電極導出端子と、
前記放熱板に固定される上下端開口の一体成型された樹脂ケースと、
前記樹脂ケースの上端に嵌合保持されて上端開口を覆う蓋とを備え、
前記一対の半導体スイッチング素子は、中間電極Uに係る電極導出端子を介して直列に接続され、
前記樹脂ケースは、下端が前記放熱板に合わされて前記回路を囲む外囲部と、前記3つの電極導出端子を保持する端子保持部とを有し、
前記端子保持部は、前記回路上方に空間を隔てつつ前記外囲部の対辺間に架設され、
前記電極導出端子は、折り曲げ形成された金属板からなり、前記端子保持部の上面に配置された外部接続部と、前記端子保持部より下方に配置され前記回路に接続する内部接続部と、前記外部接続部と前記内部接続部との間を繋ぐ中間部とを有し、
前記中間部は、前記放熱板に略平行に配されて前記端子保持部に埋設された水平部と、前記水平部の一端から上方へ延設され前記外部接続部に連続する上方延設部と、前記水平部の他端から下方へ延設され前記内部接続部に連続する下方延設部とを有し、
3つの前記水平部が上下に一部を重ねあって前記端子保持部内で3層構造を構成しており、
前記端子保持部を構成する樹脂が充填されてこれに保持されるアンカーフォールが、前記放熱板に近い方から2層目及び3層目に係る前記水平部に形成され、前記放熱板に近い方から1層目に係る前記水平部の下面が前記端子保持部を構成する樹脂から露出しているパワー半導体モジュール。 - 前記半導体スイッチング素子のスイッチングを制御するための制御電圧が印加される電極を前記回路上から外部に導出する制御電極導出端子を有し、
前記制御電極導出端子が前記枝部に貫通して前記樹脂ケースに保持されている請求項1に記載のパワー半導体モジュール。 - 前記樹脂ケースは、外囲部により囲まれる範囲において、前記端子保持部の四方に、上下を連通させる開口を有し、この開口が前記蓋によって覆われてなる請求項1又は請求項2に記載のパワー半導体モジュール。
- 前記外部接続部が前記端子保持部の架設方向に沿って中間電極U,陰極N,陽極Pの順で配置され、前記水平部が前記放熱板に近い方から陽極P,中間電極U,陰極Nの順で配
置されている請求項1又は請求項2に記載のパワー半導体モジュール。 - 前記放熱板を垂直視したとき、3つの前記水平部が重なる部分及び前記3つの電極導出端子の内部接続部は、中間電極Uに係る外部接続部と陽極Pに係る外部接続部との間に配置されている請求項5に記載のパワー半導体モジュール。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007140709A JP5090063B2 (ja) | 2007-05-28 | 2007-05-28 | パワー半導体モジュール |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007140709A JP5090063B2 (ja) | 2007-05-28 | 2007-05-28 | パワー半導体モジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008294362A JP2008294362A (ja) | 2008-12-04 |
JP5090063B2 true JP5090063B2 (ja) | 2012-12-05 |
Family
ID=40168747
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007140709A Expired - Fee Related JP5090063B2 (ja) | 2007-05-28 | 2007-05-28 | パワー半導体モジュール |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5090063B2 (ja) |
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- 2007-05-28 JP JP2007140709A patent/JP5090063B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008294362A (ja) | 2008-12-04 |
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