JP4958455B2 - 超音波診断装置 - Google Patents
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Description
2 3D用超音波探触子
3 穿刺針支持金具
4 穿刺針
8 画像構成部
8b 2Dスキャンコンバージョン部
8c 3D生成用フレームメモリ
8d 3Dスキャンコンバージョン部
8e 断面像生成部
8f グラフィックス生成部
8g 画像合成部
9 モニタ
11 制御部
12 入力部
13 ガイド穴
19 特定超音波像
20 断面像
21 穿刺ガイドライン
22 直交線
23 穿刺針通過点マーク
Claims (6)
- 被検体との間で超音波を3次元的に送受信する3次元探触子と、
該3次元探触子に装着され前記被検体に刺入する穿刺針を挿通するガイド穴を有する穿刺針支持金具と、
前記3次元探触子により受信された反射エコー信号に基づいて複数の超音波像を再構成する画像処理部と、
前記複数の超音波像のデータから予め設定された前記穿刺針の刺入経路を含む特定超音波像を抽出する抽出部と、
前記複数の超音波像のデータを蓄える画像メモリと、
前記穿刺針の刺入経路を表す穿刺ガイドラインを生成するグラフィックス生成部と、
前記画像メモリに蓄えられた超音波像データ群に基づいて前記穿刺ガイドラインに直交した断面位置の断面像を再構成する断面像処理部と、
前記特定超音波像と前記穿刺ガイドラインとを重ねて前記断面像と並べて合成する画像合成部と、
該画像合成部で合成された画像を表示する表示部と、
前記刺入ガイドラインにおいて、ドプラ信号が検出される位置まで前記断面像の断面位置を設定する制御手段と
を備えてなる超音波診断装置。 - 前記グラフィックス生成部は、前記制御手段により設定された前記断面位置を表すマークを生成し、前記ドプラ信号が検出される前記断面位置を表す前記マークを変化させて前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1に記載の超音波診断装置。
- 前記制御手段は、外部入力手段から入力される前記断面位置の指令信号に基づいて前記断面位置の設定を変更することを特徴とする請求項2に記載の超音波診断装置。
- 前記制御手段は、前記断面位置を予め設定された位置に順次移動させる自動設定手段を有することを特徴とする請求項2に記載の超音波診断装置。
- 前記グラフィックス生成部は、前記制御手段により設定される前記断面位置を表すマークを複数生成して前記表示部に表示させ、前記断面像処理部は、前記制御手段により設定される複数の前記断面位置における前記断面像をそれぞれ再構成して前記表示部に表示させることを特徴とする請求項3に記載の超音波診断装置。
- 前記グラフィックス生成部は、前記断面像上に前記穿刺針が通過する場所を表すマークを生成して前記表示部に表示させることを特徴とする請求項5に記載の超音波診断装置。
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