JP4873046B2 - 高周波モジュール - Google Patents
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Description
この構成により、第2の信号回路から第1の信号回路への信号の漏れを防ぐことができ、第2の信号回路から漏れる信号による第1の信号回路での高調波歪みの発生やハーモニック特性の劣化を抑制できる。
この構成により、第1および第2のスイッチ素子がONする際に、第1の信号回路における第2の信号ポートから第1の信号ポートへの信号の漏れを抑制できる。また、第1および第2のスイッチ素子がOFFする際に、前述の第1のインダクタと第1のキャパシタと第2のインダクタとを直列共振させて、第2の信号回路から第1の信号回路への信号の漏れを抑制できる。したがって、第1のインダクタにダイオードのON時とOFF時とで異なる役割を持たせることができ、素子数の低減とモジュールサイズの小型化を進展させられる。
この構成により、第1のキャパシタと第2のインダクタとに、フィルタ素子の整合回路としての機能を持たせて、素子数の低減とモジュールサイズの小型化とを進展させられる。
この構成により、高周波信号回路である第1の信号回路で第2のインダクタや第1のキャパシタのサイズが低減する。
本実施形態で例示する高周波モジュールは、携帯電話機のフロントエンド部に採用され、GSM850、GSM900、GSM1800、およびGSM1900の4つの通信システムに対応する。
図1は、本実施形態に係る高周波モジュールの概略の回路図である。
これにより、ダイオードDD1がONになって信号ポート1800/1900-TxからアンテナポートANTへ送信信号が伝搬する。この時、ダイオードDD2もONになるため、インダクタDSL2の第二端がキャパシタDC5を介してグランドに接続され、ダイオードDD2のインダクタンス成分とキャパシタDC5とが直列共振する。インダクタDSL2の線路長は、GSM1800/1900の送信信号の波長のほぼ1/4電気長に設定されており、インダクタDSL2のダイオードDD2側は直列共振により接地される。このため、ダイプレクサDPXから見てインダクタDSL2とダイオードDD1との接続点からインダクタDSL2側を見ると開放状態になり、信号ポート1800-RXまたは信号ポート1900-Rxへの送信信号の伝搬が抑えられる。なお、ダイオードDD2の動作時のインダクタンス成分とキャパシタDC5とインダクタDSL2とが直列共振するように構成してもよい。
これにより、ダイオードDD1がOFFになって信号ポート1800/1900-Txへの受信信号の伝搬が遮断される。この時、ダイオードDD2もOFFになるため、ダイオードDD2とインダクタDSL2との接続が遮断される。これにより、アンテナポートANTから信号ポート1800-Rxまたは信号ポート1900-Rxへ受信信号が伝搬するようになる。
本実施形態では、GSM850またはGSM900の利用時にはスイッチ回路SW1のダイオードDD1およびダイオードDD2はOFFさせる。ダイオードDD2はOFF時の容量が十分に小さいため、インピーダンスが高く反射係数が大きくなって、高周波的にダイプレクサDPXから見てダイオードDD2とインダクタDSL2との接続点からダイオードDD2側が開放になる。また、表面弾性波フィルタSAW1は、GSM850またはGSM900の送信帯域でインピーダンスが十分に高いため、反射係数が大きく、高周波的にダイプレクサDPXから見て表面弾性波フィルタSAW1とインダクタDLとの接続点から表面弾性波フィルタSAW1側も開放になる。図2は、GSM850またはGSM900の利用時における高周波モジュール1の等価回路図である。
キャパシタDCを3pFとして直列共振を生じさせた場合、GSM850の送信信号に対する2次高調波歪みは−83.1dBc、3次高調波歪みは−85.4dBc、GSM900の送信信号に対する2次高調波歪みは−81.4dBc、3次高調波歪みは−86.2dBcであった。一方、キャパシタDCを設けずに直列共振を生じさせなかった場合、GSM850の送信信号に対する2次高調波歪みは−64.6dBc、3次高調波歪みは−82.8dBc、GSM900の送信信号に対する2次高調波歪みは−60.9dBc、3次高調波歪みは−76.7dBcであった。
このように各高調波歪みは直列共振を生じさせない場合に比べて直列共振させた場合にレベルを抑えられた実験結果を確認できた。
これにより、ダイオードGD1がONになって信号ポート850/900-TxからアンテナポートANTへ送信信号が伝搬する。この時、ダイオードGD2がONになるため、インダクタGSL2の第二端がキャパシタGC5を介してグランドに接続され、ダイオードGD2のインダクタンス成分とキャパシタGC5とが直列共振する。インダクタGSL2の線路長は、GSM850/900の送信信号の波長のほぼ1/4電気長に設定されており、インダクタGSL2のダイオードGD2側が直列共振により接地される。このため、ダイプレクサDPXから見てインダクタGSL2とダイオードGD1との接続点からインダクタGSL2側が高周波的に開放状態になり、信号ポート850-RXまたは900-Rxへの送信信号の伝搬が抑えられる。なお、ダイオードGD2の動作時のインダクタンス成分とキャパシタGC5とインダクタGSL2とが直列共振するように構成してもよい。
これにより、ダイオードGD1がOFFになって信号ポート850/900-TxからアンテナポートANTへの送信信号の伝搬が遮断される。この時、ダイオードGD2もOFFになるため、ダイオードGD2とインダクタGSL2との接続が遮断される。これにより、アンテナポートANTから信号ポート850-Rxまたは900-Rxへ受信信号が伝搬するようになる。
本実施形態では、スイッチ回路SW2のダイオードGD1およびダイオードGD2はOFFさせる。この時、インダクタGSL2とキャパシタGCとインダクタGLとで直列共振が生じる。この直列共振の共振周波数をGSM1800およびGSM1900の帯域、特に送信帯域に設定することで、スイッチ回路SW2とダイプレクサDPXとの接続点のインピーダンスがショートになって、GSM1800およびGSM1900側の回路からの信号の漏れを反射することができる。これにより、ダイオードGD1やダイオードGD2などにGSM1800やGSM1900の信号が漏れて高調波歪みが生じることを抑制して、高周波モジュール1のハーモニック特性を改善できる。
図3(A)は高周波モジュール1の最下層を下面視した図である。
高周波モジュール1の下面は実装面になっていて、複数の実装電極が形成されている。各実装電極のポート名を図中に示す。
高周波モジュール1の上面は素子搭載面になっていて、複数の表面電極が形成されて、各素子が搭載されている。各素子の名称を図中に示す。なお、本実施形態では、キャパシタGC,DCを素子実装するようにして、前述の直列共振の周波数調整を容易に行えるようにしている。
基板(B)は多層基板の最下層から2層目に積層され、基板下面に内装グランド電極が設けられる。
基板(C)は多層基板の最下層から3層目に積層され、基板下面にキャパシタGC5,Ct2,DCu1,DCu2,DCu3,GCu1,GCu2を構成するパターン電極と、キャパシタGC5を構成するパターン電極とが設けられる。
基板(D)は多層基板の最下層から4層目に積層され、基板下面に内装グランド電極が設けられる。
基板(E)は多層基板の最下層から5層目に積層され、基板下面にキャパシタCu1を構成するパターン電極が設けられる。
基板(F)は多層基板の最下層から6層目に積層され、基板下面に内装グランド電極が設けられる。
基板(G)は多層基板の最下層から7層目に積層される。
基板(H)は多層基板の最下層から8層目に積層される。
ここでは、基板(B)から基板(F)にかけてキャパシタGC5,Ct2,DCu1,DCu2,DCu3,GCu1,GCu2,Cu1を構成している。
基板(J)は多層基板の最下層から10層目に積層され、基板下面にインダクタGSL2,GL,Lt1,GLt1,DLt1,DLt2,DLを構成するパターン電極が設けられる。
基板(K)は多層基板の最下層から11層目に積層され、基板下面にインダクタGSL2,GL,Lt2,DSL2,Lt1,GLt1,DLt1,DLt2,DLを構成するパターン電極が設けられる。
基板(L)は多層基板の最下層から12層目に積層され、基板下面にインダクタGSL2,GL,DSL2,GLt1,DLを構成するパターン電極が設けられる。
基板(M)は多層基板の最下層から13層目に積層され、基板下面にインダクタGSL2,GL,DSL2,Lt2,DLを構成するパターン電極が設けられる。
基板(N)は多層基板の最下層から14層目に積層され、基板下面にインダクタGLを構成するパターン電極が設けられる。
ここでは、基板(I)から基板(N)にかけてインダクタGSL2,GL,Lt2,DSL2,Lt1,GLt1,DLt1,DLt2,DLを構成している。
基板(P)は多層基板の最下層から16層目に積層され、基板下面にキャパシタCt1/Ct2,GCc1を構成するパターン電極が設けられる。
基板(Q)は多層基板の最下層から17層目に積層され、基板下面にキャパシタCc1/Cc2,GCc1,DCc1/DCc2を構成するパターン電極が設けられる。
基板(R)は多層基板の最下層から18層目に積層され、基板下面にキャパシタCc2を構成するパターン電極が設けられる。
基板(S)は多層基板の最下層から19層目に積層され、基板下面にキャパシタDCc1を構成するパターン電極と、内層グランド電極を構成するパターン電極とが設けられる。
ここでは、基板(O)から基板(S)にかけて、キャパシタCt1,DCc1,Ct2,GCc1,Cc1,Cc2,DCc2を構成している。
高周波モジュール11は、ダイプレクサDPX、スイッチ回路SW1,SW12、ローパスフィルタLPF1,LPF2、および、表面弾性波型フィルタSAW1,SAW12を備える。また、外部接続ポートとして、アンテナポートANTと、信号ポート1800/1900-Tx,1800-Rx,1900-Rx,900-Tx,900-Rxと、制御ポートVc1,Vc2と、を備える。
DPX…ダイプレクサ
HPF…ハイパスフィルタ
LPF,LPF1,LPF2…ローパスフィルタ
SAW1,SAW2,SAW12…表面弾性波型フィルタ
SW1,SW2,SW12…スイッチ回路
DC,DC5,GC,GC5…キャパシタ
DD1,DD2,GD1,GD2…ダイオード
DSL2,DL,GSL2,GL…インダクタ
Claims (3)
- 共通するアンテナポートと複数の信号ポートとの間にそれぞれ接続される複数の信号回路を備える高周波モジュールであって、
第1の信号回路が、
前記アンテナポートと第1の信号ポートとの間にシリーズに接続される第1のインダクタと、
前記第1のインダクタと前記第1の信号ポートとの間にシリーズに接続される第1のキャパシタと、
前記第1のキャパシタと前記第1の信号ポートとの間にシャントに接続される第2のインダクタと、
前記第1のインダクタと前記第1のキャパシタとの間に第一端を接続される第1のスイッチ素子と、
前記第1のスイッチ素子の第二端とグランドとの間にシリーズに接続される第2のキャパシタと、
前記アンテナポートと第2の信号ポートとの間にシリーズに接続される第2のスイッチ素子と、を備え、
前記第1のインダクタは、前記アンテナポートと前記第2の信号ポートとの間を伝搬する信号の1/4波長の電気長を有する線路であり、
前記第1のインダクタと前記第1のキャパシタと前記第2のインダクタとを、第2の信号回路が対象とする信号の帯域に重なる周波数で直列共振させ、
前記第2のキャパシタと前記第1のスイッチ素子の動作時に前記第1のスイッチ素子に発生するインダクタとを、前記アンテナポートと前記第2の信号ポートとの間を伝搬する信号の帯域に重なる周波数で直列共振させた高周波モジュール。 - 前記第1の信号回路が、前記第1のキャパシタと前記第1の信号ポートとの間にシリーズに接続したフィルタ素子をさらに備え、
前記第2のインダクタは、前記第1のキャパシタと前記フィルタ素子との間に一端が接続され、前記第1のキャパシタおよび前記第2のインダクタが前記フィルタ素子の整合回路として機能する、請求項1に記載の高周波モジュール。 - 前記第1の信号回路を伝搬する信号の周波数が、前記第2の信号回路を伝搬する信号の周波数よりも高い、請求項1または請求項2に記載の高周波モジュール。
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