JP4706852B2 - カーボンナノチューブの製造方法 - Google Patents
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Description
(1)Arや水素等の気体雰囲気中において炭素棒間でアーク放電を行わせ、陰極上にCNTを堆積させるアーク法、
(2)触媒を混ぜたグラファイトの表面にYAGレーザー等の強いパルス光を当て、これにより発生した炭素の煙を電気炉で加熱し、反応管の下流側でCNTを回収するレーザー蒸発法、
(3)触媒金属微粒子上で炭素化合物(例えば、メタン、アセチレン、ベンゼンなど)を熱分解させる化学気相成長法、
などが知られている。
(1)このような方法により平均粒径約4nmのコバルト粒子が得られる点、
(2)このコバルト粒子をトルエンに分散させた触媒液をシリコン基材上に滴下し、硫化水素/水素混合ガスと接触させることによって基材表面に硫化コバルト粒子を生成させ、この触媒基材を反応管に入れてアセチレン/N2混合ガスを900℃で1時間流通させることによって、直径20〜50nm、長さ0.5〜5μmのCNTが得られる点、及び、
(3)CNT合成用触媒として、5〜8族の金属、例えば、Ni、Co、Mo、Fe、Cu、V、Pd等を用いることができる点、
が記載されている。
(1)薄膜を形成した基板を加熱すると、薄膜内部に触媒として機能する結晶性の金属微粒子が生成する点、
(2)薄膜を形成した基板を加熱し、これと反応性の炭素ガスとを接触させると、基板表面にCNTを成長させることができる点、及び、
(3)鉄又はコバルトに4族元素又は5族元素を添加すると、基板の加熱温度(成長炉温度)を低温化することができる点、
が記載されている。
(1)このような方法によって、平均粒径5.8nm、標準偏差1.09nmであるTi−Co微粒子が得られる点、及び、
(2)この微粒子をSi基板表面に担持し、熱CVD法を用いてCNTを成長させると、平均径5.7nm、標準偏差1.13nmであるCNTが得られる点、
が記載されている。
(1)このような方法により、直径2〜3nmのCoナノ粒子が得られる点、及び、
(2)Coナノ粒子を担持したTiN/Si基板を用いると、外径3〜6.6nmのCNTを成長させることができる点、
が記載されている。
また、非特許文献3には、あらかじめ液相中で合成した粒径の均一なナノ粒子を触媒として、ナノ粒子の径に対応する直径を有するCNTを合成する点が記載されている。
例えば、非特許文献4には、C源であるキシレン(5ml)にフェロセン(0.6g)を溶解させた溶液に水(0〜2.0ml)を加え、この溶液を管状炉に連続的に供給し、石英基板表面にカーボンナノチューブを成長させるカーボンナノチューブの製造方法が開示されている。同文献には、
(1) 水を含む雰囲気下でCNTを合成すると、チューブ壁を覆うアモルファスカーボンを効率的に除去することができる点、
(2) 溶液に水を加えない場合、CNTは直線的であるのに対し、溶液中に水を加えると、CNTが折れ曲がり、その表面も平滑でなくなり、「竹」状の構造になる点、
(3) 水を含む雰囲気下でCNTを合成すると、CNTの側面を構成するグラファイト層が壊れ、連続したグラファイトシートではなくなる点、及び
(4) 溶液中に加える水の量が増加するほど、CNTの成長速度が除々に低下する点、
が記載されている。
(1) CVD合成時に水を添加することによって、触媒の活性及び寿命が向上する点、並びに、
(2) このような方法により、高密度でかつ垂直配向したミリメートル高さ(最高:2.5mm厚)の単層CNTを合成できる点、
が記載されている。
(1) 水濃度100ppmまでは、水濃度の増加に伴いCNTの最大高さが増加し、水濃度が140ppmを超えると、水濃度の増加に伴いCNTの最大高さが減少する点、及び、
(2) 反応管の排出部の水/エチレン比が1/1000の時に膜厚が最大となる点、
が記載されている。
(1) この方法により、10分間で約10μm厚の垂直配向した単層CNTが得られる点、及び、
(2) 酸素を添加しないと、垂直配向した単層CNTが得られない点、
が記載されている。
通常の化学気相成長法によるCNT成長法では、触媒金属の薄膜や触媒金属の前駆体を基板表面に形成し、次いでこれに熱処理やプラズマ処理を施し、微粒子を生成し、これを触媒としてCNTを成長させる。しかしながら、これらの微粒子の粒径、数密度等を制御することは、極めて困難であり、それに伴いCNTの直径を制御することも難しい。
非特許文献3などでは、あらかじめ液相中で合成した粒径の均一なナノ粒子を触媒として、ナノ粒子の径に対応する直径を有するCNTを合成している。しかしながら、これまで報告されている液相合成ナノ粒子の触媒活性は極めて低く、基板上にランダムに成長した低密度のCNTしか得られていない。
一方、非特許文献1に開示されている気相法で生成したTi−Co二元合金微粒子は、微粒子の触媒活性が高いとともに微粒子の直径とCNTの直径がほぼ対応しており、CNTの配向成長と直径制御性に優れている。しかしながら、レーザーアブレーションによって微粒子を生成させ、これを静電的に分級する方法は、均一な粒径の粒子を得る方法としては効率が悪く、小さな粒径において均一なものを得るのが難しい。
さらに、従来の触媒は、触媒活性が低いために、触媒の周囲にアモルファスカーボンが堆積しやすい。そのため、有効に作用する触媒微粒子の数を低減させるという問題がある。また、アモルファスカーボンは、触媒の活性や寿命を低下させ、CNTの成長速度を低下させる原因となっていた。
また、本発明が解決しようとする他の課題は、触媒の周囲にアモルファスカーボンが堆積することに起因する触媒の活性や寿命の低下を抑制することが可能なカーボンナノチューブの製造方法を提供することにある。
(1)前記カーボンナノチューブの製造方法は、
カーボンナノチューブ合成用触媒を分散させた触媒分散液を基板表面に塗布し、前記基板表面に前記カーボンナノチューブ合成用触媒を担持させる触媒担持工程と、
前記カーボンナノチューブ合成用触媒を担持させた前記基板表面にカーボンナノチューブを成長させる成長工程とを備え、
前記カーボンナノチューブ合成用触媒は、8族元素、9族元素及び10族元素から選ばれる1以上の第1元素と、4族元素及び5族元素から選ばれる1以上の第2元素とを含む微粒子と、前記微粒子の周囲を被覆する有機酸及び有機アミンから選ばれる1以上の有機物からなる保護層とを備え、
前記成長工程は、前記基板表面に担持させた前記カーボンナノチューブ合成用触媒上に、少なくとも炭素含有化合物ガスと酸素含有化合物ガスとを流し、化学気相成長法により前記基板表面にカーボンナノチューブを成長させるものである。
(2)前記酸素含有化合物ガスは、水蒸気である。
(3)前記炭素含有化合物ガスは、アセチレンである。
(4)前記アセチレン(x)に対する前記水蒸気(y)のモル比(y/x)は、反応管の導入部において、0.0002以上0.02以下である。
初めに、本発明に係る方法に用いられるCNT合成用触媒について説明する。本発明において、CNT合成用触媒は、第1元素と第2元素とを含む微粒子と、微粒子の周囲を被覆する保護層とを備えている。
「第1元素」とは、8族元素(Fe、Ru、Os)、9族元素(Co、Rh、Ir)及び10族元素(Ni、Pd、Pt)から選ばれる1以上の元素(主触媒元素)をいう。「第2元素」とは、4族元素(Ti、Zr、Hf)及び5族元素(V、Nb、Ta)から選ばれる1以上の元素(助触媒元素)をいう。微粒子は、第1元素及び第2元素のみを含むものでも良く、あるいは、第1元素及び第2元素に加えて、他の元素が含まれていても良い。他の元素としては、その他の金属・非金属元素や、出発原料に由来する元素(例えば、酸素)などがある。
触媒中に複数の第1元素が含まれる場合、それらの比率は、任意に選択することができる。同様に、触媒中に複数の第2元素が含まれる場合、そられらの比率は、任意に選択することができる。触媒に第1元素及び第2元素以外の元素が含まれる場合、微粒子の触媒活性に悪影響を及ぼす元素は、少ない方が好ましい。なお、酸素は、CNTを合成する際に還元(非酸化)雰囲気にさらされることによってある程度除去されるので、触媒中に含まれていても良い。
これらの中でも、4族元素(特に、Ti)は、他の元素に比べて、CNTの成長速度を増大させる効果が大きいので、第2元素として特に好適である。また、5族元素(特に、V)は、他の元素に比べて、合成されたCNTの直径制御性に優れているので、第2元素として特に好適である。
一方、第2元素の含有量が過剰になると、触媒活性度はかえって低下する。従って、第2元素の含有量は、50at%以下が好ましい。
最適な第2元素の含有量は、第1元素及び第2元素の種類に応じて異なる。例えば、Fe−Ti二元合金又はFe−Ti−O系酸化物の場合、Ti含有量は、2〜50at%が好ましく、さらに好ましくは4〜40at%、さらに好ましくは10〜35at%、さらに好ましくは15〜30at%である。
また、例えば、Fe−V二元合金又はFe−V−O系酸化物の場合、V含有量は、2〜50at%が好ましく、さらに好ましくは4〜35at%、さらに好ましくは5〜30at%である。
また、例えば、Fe−Ti−V三元合金又はFe−Ti−V−O系酸化物(Ti/Vの原子比=1)の場合、(Ti+V)の含有量は、2〜50at%が好ましく、さらに好ましくは5〜45at%、さらに好ましくは、7〜35at%、さらに好ましくは11〜27at%である。
後述する本発明に係る製造方法を用いると、直径が1〜15nmである触媒微粒子を合成することができる。また、製造条件を最適化すると、直径が3〜5nmである触媒微粒子を合成することができる。さらに、後述する製造方法を用いると、分級することなく、直径の標準偏差が1nm以下である触媒微粒子を合成することができる。さらに、条件を最適化すると、直径の標準偏差が0.5nm以下である触媒微粒子を合成することができ、また、分散溶媒の極性調整による分別沈殿で、粒子をさらに精密分級することもできる。
有機酸としては、具体的には、RCOOH、RSOH、RPOHなどがある。また有機アミンとしては、具体的には、RNH2、R2NH、R3Nなどがある。なお、Rは、アルキル鎖(CnH2n+1−、nは自然数)を表す。
保護層は、1種類の有機物からなるものでも良く、あるいは、2種以上の有機物からなるものでも良い。特に、2種以上の有機物を保護層として用いると、微粒子の粒子径が安定化し、均一化するという利点がある。
触媒分散液は、上述したカーボンナノチューブ合成用触媒を分散溶媒中に分散させたものからなる。
分散溶媒は、触媒微粒子を均一に分散させることが可能なものであればよい。このような分散溶媒としては、ヘキサン、トルエン、クロロホルムなどの極性の低い有機溶媒が挙げられる。
また、触媒分散液中の触媒微粒子濃度は、目的に応じて任意に選択することができる。一般に、触媒微粒子の濃度が低くなるほど、微粒子を均一に分散させるのが容易化するが、触媒微粒子の濃度が低くなりすぎると、基板表面に触媒微粒子を密に配置させるのが困難となる。従って、触媒微粒子の濃度は、0.001wt%以上が好ましい。
一方、触媒微粒子の濃度が高くなりすぎると、基板表面に粒子の単分子膜を形成するのが困難となる。従って、触媒微粒子の濃度は、1.0wt%以下が好ましい。
最適な触媒微粒子の濃度は、基板の引き上げ速度など、他の製造条件にも依存するので、これらを考慮して最適な濃度を選択するのが好ましい。
カーボンナノチューブ合成用触媒の製造方法は、溶解・混合工程と、加熱工程とを備えている。
溶解工程は、第1原料と、第2原料と、アルコールと、有機物とを有機溶媒中で溶解・混合する工程である。
「第1原料」とは、8族元素、9族元素及び10族元素のいずれか1以上の第1元素を含む化合物であって、有機溶媒に可溶なものをいう。第1原料には、このような条件を満たす1種類の化合物を用いても良く、あるいは、2種以上の化合物を組み合わせて用いても良い。
第1原料としては、具体的には、
(1) 第1元素のイオンに有機物が配位した有機錯体、
(2) 第1元素の有機酸塩
などがある。
第1元素を含む有機錯体としては、具体的には、Fe(III)アセチルアセトナート、Fe(II)アセチルアセトナート、Co(II)アセチルアセトナート、Co(III)アセチルアセトナート、Ni(II)アセチルアセトナート、白金(II)アセチルアセトナートなどがある。
また、第1元素を含む有機酸塩としては、具体的には、酢酸鉄(II)、シュウ酸鉄(II)、シュウ酸鉄(III)、酢酸コバルト(II)、酢酸コバルト(III)、酢酸ニッケル(II)、酢酸パラジウム(II)、硝酸パラジウム水和物(II)、硝酸パラジウム(II)などがある。
第2原料としては、具体的には、
(1) 第2元素(M)のイオン又はMOイオンに有機基が配位した有機錯体、
(2) 第2元素の有機酸塩、
などがある。
第2元素を含む有機錯体としては、具体的には、VOアセチルアセトナート、TiOアセチルアセトナート、Zrトリフルオロアセチルアセトナート、Hfトリフルオロアセチルアセトナート、Tiジイソプロポオキサイドビステトラメチルヘプタンジオネートなどがある。
また、第2元素を含む有機酸塩としては、具体的には、シュウ酸チタン、硫酸チタン、酸化硫酸バナジウム、硫酸バナジウム、酢酸ジルコニウム、硫酸ハフニウムなどがある。
還元剤として使用可能なアルコールとしては、具体的には、1,2−ヘキサデカンジオール、1,2−オクタデカンジオール、1,2−テトラデカンジオールなどがある。
「有機物」とは、上述したように有機酸又は有機アミンからなる。有機物には、1種類の有機酸又は有機アミンを用いても良く、あるいは、2種以上を組み合わせて用いても良い。
有機酸としては、具体的には、オレイン酸、カプロン酸、ラウリン酸、酪酸、リノール酸などがある。
また、有機アミンとしては、具体的には、オレイルアミン、ヘキシルアミン、ラウリルアミンなどがある。
有機溶媒は、上述した第1原料、第2原料、アルコール及び有機物を溶解可能なものであればよい。また、溶液は、後述するように所定の温度に加熱されるので、沸点が200℃以上である溶媒を用いるのが好ましい。有機溶媒としては、具体的には、オクチルエーテル、フェニルエーテルなどがある。これらの有機溶媒は、それぞれ単独で用いても良く、あるいは、2種以上を組み合わせて用いても良い。
また、溶液中における第1原料及び第2原料の濃度は、作製しようとする触媒微粒子の直径、標準偏差等に応じて最適な濃度を選択する。一般に、希薄溶液を用いると、粒径のそろった均一な触媒微粒子が得られる。第1原料及び第2原料に加える溶媒の量は、第1原料及び第2原料の種類にもよるが、通常、第1原料及び第2原料1mmolに対して、10〜50mL程度である。
還元剤は、上述したように溶液中に含まれる第1元素若しくは第2元素のイオン又はMOイオンに電子を与え、非イオンの状態にするためのものである。金属イオン又はMOイオンが還元されると、これらが互いに集まって微粒子を形成する。還元剤の添加量は、第1原料及び第2原料並びにその他の原料の種類にもよるが、通常、溶液中に含まれる第1元素若しくは第2元素のイオン又はMOイオンのモル数の1〜20倍程度である。
有機酸又は有機アミンは、溶液中において第1元素若しくは第2元素のイオン又はMOイオンと結合すると考えられている。この溶液中にさらに還元剤が加えられると、金属イオン又はMOイオンが還元されて微粒子状に凝集すると同時に、微粒子の周囲が有機酸又は有機アミンで被覆された状態となる。有機酸又は有機アミンの添加量は、第1原料及び第2原料並びにその他の原料の種類にもよるが、通常、溶液中に含まれる第1元素若しくは第2元素のイオン又はMOイオンのモル数の1〜10倍程度である。
溶液の加熱は、溶液中で生成した微粒子の酸化を防ぐために不活性雰囲気下(例えば、窒素雰囲気下、アルゴン雰囲気下など)で行う。
加熱温度は、使用する原料の種類や目的とする直径に応じて、最適な温度を選択する。一般に、加熱温度が低すぎると、原料間の反応が不十分となる。原料間の反応を効率よく進行させるためには加熱温度は、180℃以上が好ましい。
一方、加熱温度が高すぎると、微粒子の凝集が進行し、粒子の直径が不均質になる。従って、加熱温度は、300℃以下が好ましい。
反応終了後、遠心分離等の手段を用いて微粒子と溶媒とを分離し、再びこれを適当な分散溶媒中に分散させれば、CNT合成用触媒分散液が得られる。
本発明の第1の実施の形態に係るカーボンナノチューブの製造方法は、触媒担持工程と、成長工程とを備えている。
基板の材質は、特に限定されるものではなく、CNT合成用触媒の組成、後述する成長工程における成長条件、CNTの用途等に応じて最適なものを選択する。基板の材質としては、具体的には、Si、熱酸化膜付Si、サファイヤ、マグネシア、種々の金属、酸化物、窒化物を堆積したSi基板、メソポーラス材料などがある。
表面のみがメソポーラスシリカからなる基板は、具体的には、
(1) シリコンアルコキシドに適量の水、エタノール、界面活性剤、及び酸を加えてゾル状態とし、
(2) これを適当な基板(例えば、Si基板など)表面に塗布して重縮合させることにより、基板表面に界面活性剤を含むメソポーラスシリカ膜を形成し、
(3) メソポーラスシリカ膜から界面活性剤を酸化又は溶媒抽出により除去する、
ことにより得られる。
また、全体がメソポーラスシリカからなる基板は、具体的には、
(1) シリコンアルコキシド(例えば、テトラアルコキシシランなど)に適量の水、エタノール、界面活性剤を加え、塩基性条件下でシリカ原料を加水分解させ、
(2) 溶液から粉末状の生成物を分離し、
(3) 粉末に含まれる界面活性剤を酸化又は溶媒抽出により除去し、
(4) 粉末を板状に成形し、焼結させる、
ことにより得られる。
シリコンアルコキシドに代えて特定の金属元素を含む金属アルコキシドを出発原料に用いると、シリカ以外の材料(例えば、チタニア、ジルコニア、アルミナなど)からなるメソポーラス材料が得られる。
(1) 基板表面に触媒分散液をスプレー、ハケ塗り等により塗布する方法、
(2) 基板表面に触媒分散液をスピンコーティングする方法、
(3) 触媒分散液中に基板をディッピングし、所定の引き上げ速度で基板を引き上げる方法、
などがある。本発明においては、いずれの方法を用いても良い。
特に、ディッピング法は、基板表面に均一に触媒分散液を塗布することができ、また、触媒分散液中の微粒子濃度や基板の引き上げ速度等を最適化すると、基板表面に微粒子を均一かつ密に担持させることができるので、塗布方法として好適である。
また、用いる基板表面が親水性の場合、触媒分散液を塗布する前に基板表面をシランカップリング剤などにより疎水処理する方が好ましい。予め疎水処理を施すことにより、微粒子を均一に担持できる。
基板表面に触媒分散液を塗布した後、基板を乾燥させ、触媒分散液に含まれていた分散溶媒を除去する。少なくとも上記工程後に、上記触媒微粒子は酸化され、金属酸化物微粒子となっている。なお、触媒微粒子表面を覆っている保護層は、成長工程に先立って、酸化雰囲気中での熱処理またはプラズマ処理によって除去しても良く、あるいは、保護層を除去することなく、そのままCNTの合成に用いても良い。本発明においては、後述するように、CNTの合成時に適量の酸素含有化合物ガスが用いられるので、必ずしもCNTの成長に先立って、保護層を除去する必要はない。
CNTの成長は、具体的には、触媒を担持させた基板表面に炭素含有化合物ガスを供給し、炭素含有化合物ガスを熱分解させること(いわゆる、「化学気相成長法」)により行う。基板表面において炭素含有化合物ガスを熱分解させると、基材表面に担持された触媒を種としてCNTが成長する。また、本発明においては、炭素含有化合物ガスを流すと同時に、酸素含有化合物ガスを供給する。
(1) メタン、アセチレン、エタン、プロパン、プロピレン、ベンゼン、トルエン、キシレン等の炭化水素、
(2) 上記炭化水素のHをヒドロキシ基(OH)で置換したメタノール、エタノール等のヒドロキシ化合物、
(3) 一酸化炭素、
などが好適である。これらの炭素含有化合物は、いずれか1種のみを用いても良く、あるいは、2種以上を組み合わせて用いても良い。
これらの中でも、炭化水素及びヒドロキシ化合物は、CNTを効率よく生成させることができ、取り扱いも容易であるので、炭素含有化合物として特に好適である。
酸素含有化合物ガスの添加量は、CNTの成長速度に影響を及ぼす。一般に、酸素含有化合物ガスの添加量が少なくなるほど、CNTの成長速度が低下する。相対的に高い成長速度を得るためには、炭素含有化合物ガス(x)に対する酸素含有化合物ガス(y)のモル比(y/x)は、反応管の導入部において、0.0002以上が好ましい。モル比(y/x)は、さらに好ましくは0.0007以上、さらに好ましくは0.002以上、さらに好ましくは0.003以上である。
一方、酸素含有化合物ガスの添加量が過剰になると、CNTの酸化が進行するため、CNTの成長速度がかえって低下する。従って、モル比(y/x)は、反応管の導入部において、0.02以下が好ましい。モル比(y/x)は、さらに好ましくは0.014以下、さらに好ましくは、0.01以下、さらに好ましくは、0.008以下である。
(1) 反応容器内に基板を配置し、ヒータ、赤外線、レーザーなどを用いて基板を所定温度に加熱し、反応容器内に炭素含有化合物ガスを適当なキャリアガスとともに導入する熱化学気相成長(熱CVD)法、
(2) 反応容器内に基板を配置し、例えば、マイクロ波発振器等を用いて反応容器内にプラズマを発生させることにより基板を所定温度に加熱し、反応容器内に炭素含有化合物ガスを適当なキャリアガスとともに導入するプラズマ気相成長(プラズマCVD)法、
(3) 反応容器内に基板を配置し、基板表面近傍に配置したホットフィラメントを用いて基板を所定温度に加熱し、反応容器内に炭素含有化合物ガスを適当なキャリアガスとともに導入するホットフィラメント気相成長(ホットフィラメント熱CVD)法、
(4) 上述した各種方法の組み合わせ、
などがある。本発明においては、いずれの方法を用いても良い。
CNTの合成温度は、少なくとも、炭素含有化合物ガスを熱分解させることが可能な温度以上であれば良い。CNTの合成温度は、通常、500〜1000℃である。
また、炭素含有化合物ガス、酸素含有化合物ガス、及びキャリアガスの流量比、流量等は、炭素含有化合物ガスや酸素含有化合物ガスの種類、加熱方法等に応じて、最適な条件を選択する。
Fe等の8〜10族元素は、いずれも、CNTを成長させる強い触媒作用があることが知られている。CNTの外径は、CNTが成長し始める時点での触媒微粒子の直径でほぼ決まる。従って、所定の外径を有し、かつ外径のそろったCNTを合成するためには、触媒微粒子の直径及び標準偏差も制御する必要がある。例えば、基板表面に金属薄膜を形成し、これを熱処理する方法では、触媒微粒子の直径及び標準偏差の制御には限界がある。
一方、非特許文献3のように、これらの金属を用いて予め直径のそろった微粒子を作製し、これを触媒とするCNT成長法がある。しかし、この方法では、極めて低い活性度しか得られない。
特許文献1に開示されているように、合金ターゲットのレーザーアブレーションにより、4族元素を含む合金微粒子を作製し、微分型静電分級器で分級すれば、比較的粒度分布の狭い触媒微粒子は得られるが、この方法は、非効率的である。
また、保護層は、合成された微粒子を分散液中に分散させる場合において微粒子の凝集を抑制する作用、及び基板表面に微粒子を配置させる場合に、微粒子を密に配置させるためのスペーサとしての作用もある。そのため、合成された微粒子を適当な分散媒に分散させて触媒分散液とし、この触媒分散液を基材表面に塗布・乾燥させると、粒径のそろった触媒微粒子を基材表面に密に担持させることができる。
また、CNTを成長させる際に、基板としてメソポーラス材料を用いると、触媒微粒子を基板表面に密に配置することができ、かつ、CNT成長時における触媒微粒子の凝集がさらに抑制されるので、CNTの直径制御性がさらに向上する。
さらに、CNTを成長させる際に、少なくとも炭素含有化合物ガス及び酸素含有化合物ガスを含む混合ガス用いると、CNTの成長速度がさらに向上する。これは、反応系内に適度な酸化力を有する適量の酸素含有化合物ガスを導入することによって、触媒周囲やCNT側壁に堆積するアモルファスカーボンが除去されるためと考えられる。
[1. 触媒分散液の作製]
Feアセチルアセトナート(第1原料)、VOアセチルアセトナート(第2原料)、1,2−ヘキサデカンジオール(還元剤)、オレイン酸及びオレイルアミン(保護層)、並びに、オクチルエーテル(溶媒)を不活性ガス雰囲気下において所定の比率で混合し、これを250℃又は290℃で30分間反応させた。オクチルエーテルは、20mlとし、各原料の添加量は、Feアセチルアセトナート:VOアセチルアセトナート:還元剤:オレイン酸:オレイルアミン=0.9mmol:0.1mmol:7mmol:3mmol:3mmolとした。
反応終了後、室温に冷却し、遠心分離により触媒微粒子を得た。これをヘキサンに加えて触媒分散液を作製した。
得られた触媒分散液をTEMグリッドに滴下・乾燥させた後、微粒子のTEM観察を行った。図1(a)及び図1(b)に、Feアセチルアセトナート及びVOアセチルアセトナートを出発原料に用いた触媒微粒子(以下、「Fe−V−O微粒子」という)のTEM写真を示す。図1(a)は、250℃×30分の条件下で合成されたFe−V−O微粒子について、ジャストフォーカスにより格子像を撮影したものである。図1(a)より、平均粒径3.1nmの均一な触媒微粒子が得られていることがわかる。また、図1(b)は、290℃×30分間の条件下で合成されたFe−V−O微粒子について、アンダーフォーカスにより撮影したものである。図1(b)より、平均粒径4.5nmであり、その周囲が保護層で被覆された均一な触媒微粒子が得られていることがわかる。
基板には表面にメソポーラスシリカ膜を形成したSi基板(以下、単に「メソポーラスシリカ基板」という)、及び熱酸化膜付Si基板を用いた。メソポーラスシリカ基板は、公知の方法(例えば、J.Phys.Chem.B 2000, 104, 12095-12097参照)により作製した。すなわち、テトラエトキシシランに水及び酸を加えて熟成したゾル溶液に界面活性剤を加え、これをSi基板表面に塗布し、大気中で焼成することにより、メソポーラスシリカ基板を得た。次いで、メソポーラスシリカ基板にシランカップリング剤により疎水処理を施した。同様に、熱酸化膜付Si基板にも疎水処理を施した。
これらの基板を、それぞれ触媒分散液にディッピングし、一定の引き上げ速度(0.5mm/sec)で基板を引き上げ、乾燥させた。乾燥後、プラズマ処理により保護層を除去した。次いで、この基板を反応容器に入れ、熱CVD法によりCNTを生成させた。熱CVDは、炭素含有化合物ガスとしてアセチレンを用い、アセチレン流量:10sccm(cc/min)、水素(還元ガス)流量:45sccm(cc/min)、反応温度:700℃、反応時間:10minとした。
次に、メソポーラスシリカ基板表面から採取したCNTの外径をTEM観察により測定し、その標準偏差を求めた。同様に、触媒分散液中の触媒微粒子の直径をTEM観察により測定し、その標準偏差を求めた。図3(a)及び図3(b)に、それぞれ、Fe−V−O触媒微粒子及びこれを用いて合成されたCNTのヒストグラムを示す。図3より、触媒微粒子の直径とCNTの直径がほぼ一致しており、標準偏差もほぼ一致していることがわかる。
[1. 触媒分散液の作製]
第2原料としてVOアセチルアセトナート及び/又はTiOアセチルアセトナートを用いて、触媒分散液を作製した。なお、触媒分散液は、以下の4種類を作製した。また、その他の製造条件は、参考例1と同一とした。
(a) Feアセチルアセトナートのみを含むもの(以下、「Fe−O微粒子(比較例1)」という)。
(b) FeアセチルアセトナートとVOアセチルアセトナートの比が、98:2〜50:50であるもの(Fe−V−O微粒子)。
(b) FeアセチルアセトナートとTiOアセチルアセトナートの比が、98:2〜50:50であるもの(以下、「Fe−Ti−O微粒子」という)。
(c) Feアセチルアセトナートと(VOアセチルアセトナート+TiOアセチルアセトナート)の比が98:2〜50:50であり、かつ、VOアセチルアセトナートとTiOアセチルアセトナートの比が1:1であるもの(以下、「Fe−Ti−V−O微粒子」という)。
得られた触媒分散液のICP発光分析を行い、微粒子中のFeとV又はFeとTiの組成比を測定した。図4(a)に、Fe−V−O微粒子の仕込み組成と化学分析組成との関係を示す。また、図4(b)に、Fe−Ti−O微粒子の仕込み組成と化学分析組成との関係を示す。図4より、仕込み組成にほぼ一致する化学分析組成を有する触媒微粒子が得られていることがわかる。なお、図示はしないが、Fe−Ti−V−O微粒子についても同様の結果が得られた。
[1.]で得られた触媒分散液を用いて、CNTを合成した。使用した基板及びCNT合成条件は、参考例1と同一とした。
図5に、触媒組成とCNT膜厚の関係、並びに、Fe−O微粒子及びFe−Ti−O微粒子(Fe−10〜40at%Ti)を用いて合成されたCNT膜の断面のSEM写真を示す。Fe−O微粒子を用いた場合、CNTの生成本数が極めて少なく、CNTは基板表面を這うように生成していた。これに対し、Fe−Ti−O微粒子を用いた場合、基板に対して垂直に、かつ高密度にCNTが生成した。一定時間経過後のCNTの膜厚は、Ti含有量に依存しており、20〜25at%Tiの時に最も膜厚が厚くなった。
Fe−V−O微粒子及びFe−Ti−V−O微粒子を用いた場合も同様であり、いずれの組成も、基板に対して垂直に、かつ高密度にCNTが生成した。一定時間経過後のCNTの膜厚は、V量及びTi量に依存しており、Fe−V−O微粒子の場合は約10at%Vの時に、また、Fe−Ti−V−O微粒子の場合は約15at%(Ti+V)の時に最も膜厚が厚くなった。
(1) S.Sato et al., Chemical Physics Letters 402(2005)149-154(非特許文献1)
(2) M.Hiramasu et al., Japanese Journal of Applied Physics, vol.44, No.22, 2005, pp.L693-695(非特許文献2)
(3) Kobayashi et al., Thin Solid Films, 464(2004)286-289
(4) Cheung et al., J.Phys.Chem.B, 106(2002), 2429-2433
(5) Choi et al., J.Phys.Chem.B, 106(2002)12361-12365
(6) Fu et al., J.Phys.Chem.B, 108(2004)6124-6129
(7) Li et al., J.Phys.Chem.B, 105(2002)2429-2433
(8) Sato et al., Chem.Phys.Lett., 382(2003)361-366
(9) Hiramasu et al., Jpn.J.Appl.Phys., 44(2005)1150-1154
一方、Satoらにより得られたCNTは、高密度であり、かつ基板に対してほぼ垂直に配向していた。また、微粒子の直径とCNTの外径とがほぼ1:1に対応していた。しかしながら、この微粒子は、相対的に平均粒径が大きく、標準偏差も1nmを超えており、しかも、微分型静電分級器を用いて分級されたものであるため、大量合成に適用するのは困難である。また、Hiramasuらにより得られたCNTも同様に、高密度であり、かつ基板に対してほぼ垂直に配向していた。しかしながら、CNT合成中に微粒子が凝集したために、微粒子の直径とCNTの外径との間に1:1の対応関係はない。
これに対し、本発明に係る触媒分散液を用いた場合、高密度かつ垂直配向したCNTが得られ、しかも、いずれの触媒を用いた場合であっても微粒子の直径とCNTの外径との間にほぼ1:1の対応関係があった。さらに、CNTの外径は、3〜5nmの範囲にあり、外径の標準偏差は、いずれも1nm以下であった。
[1. 触媒分散液の作製]
Feアセチルアセトナート(第1原料)、TiOアセチルアセトナート(第2原料)、1,2−ヘキサデカンチオール(還元剤)、オレイン酸及びオレイルアミン(保護層)、オクチルエーテル(溶媒)を不活性ガス雰囲気下において所定の比率で混合し、これを210〜290℃で1〜30分間反応させた。オクチルエーテルは、20mlとし、各原料の添加量は、Feアセチルアセトナート:TiOアセチルアセトナート:還元剤:オレイン酸:オレイルアミン=0.8mmol:0.2mmol:7mmol:3mmol:3mmolとした。
反応終了後、室温まで冷却し、遠心分離器を用いて不純物を除去し、保護層で被覆された微粒子を得た。これをヘキサン中に適切な濃度(吸光度:0.5)で再分散させ、触媒分散液を得た。
疎水化処理(シリル化処理)を施したメソポーラスシリカ基板を[1.]で作製した触媒分散液中に浸漬し、一定速度で大気中に引き上げること(引き上げ速度:0.5mm/sec)によって、微粒子の単分子膜を基板上に自己組織化的に形成した。その後、微粒子の表面を覆っている保護層を、プラズマ処理(10分間)により除去した。次いで、触媒が担持された基板をCNT成長装置内に配置し、成長装置内を1×10-4Pa以下まで減圧した。水蒸気を系内に導入しない場合(比較例2)は、引き続き、水素:アルゴン:アセチレンの流量比を16sccm:24sccm:10sccmに固定し、成長温度:700〜900℃、雰囲気圧:267Pa、成長時間:10minで、基板上にCNT膜の形成を行った。
一方、水蒸気を系内に導入する場合(実施例1)は、水蒸気導入装置(図示せず)を用いて、所望の水蒸気量だけを系内に導入し、成長実験を行った。なお、水蒸気導入装置を用いて水蒸気量を制御する際には、微量水蒸気センサーを反応管の導入部及び排出部に配置し、成長中に系内の水蒸気量が一定となるように制御を行った。
図7に、水/アセチレン比と成長高さとの関係を基板断面写真と共に示す。図7より、アセチレンガスと水蒸気のモル比が0.0002〜0.02の範囲において、CNT膜の成長高さが、水蒸気を導入しない場合の約2倍以上になることがわかる。
次に、得られたCNT膜の結晶性をラマン散乱分光法によって評価(任意の3測定点におけるG/D比の平均値で評価)した。図8に、水蒸気なしの場合及び水蒸気を導入した場合(水/アセチレン比=5/1000)のCNTのラマンスペクトルを示す。
さらに、基板からCNTを剥離させ、有機溶媒中で超音波分散後、透過電子顕微鏡用グリッドに展開し、透過電子顕微鏡を用いてその微細構造を評価した(評価本数:各70本)。図9に、水蒸気なしの場合及び水蒸気を導入した場合(水/アセチレン比=5/1000)のCNTのTEM写真を示す。
事前に微粒子の表面を覆っている保護層を除去しなかった以外は、実施例1と同様にしてCNT膜を成長させた。水/アセチレン比は、5/1000とした。その結果、プラズマ処理を行った場合と同等の100μm厚の垂直配向CNT膜が得られた。
事前に微粒子の表面を覆っている保護層をUVオゾン処理(30秒)によって除去した以外は、実施例1と同様にしてCNT膜を成長させた。水/アセチレン比は、5/1000とした。その結果、プラズマ処理を行った場合と同等の94μm厚の垂直配向CNT膜が得られた。
TiOアセチルアセトナートを用いなかった以外は、実施例1の[1.]と同一条件下で、Fe−O微粒子のみを含む触媒分散液を作製した。得られた触媒分散液を用いて、実施例1の[2.]と同様にしてCNT膜を成長させた。水/アセチレン比は、5/1000とした。その結果、垂直配向CNT膜は得られなかった。
例えば、上記実施例では、炭素含有化合物ガスとしてアセチレンを用いたが、得られるCNTの結晶性、成長速度、成長温度等を考慮して、CNT成長用ガスとして、公知のエチレン、メタン等の炭化水素ガス、アルコール等を用いても良い。
また、水蒸気導入法は、
(1) 一定の温度に保持された水をArなどのキャリアガスでバブリングして反応炉内に導入する方法、
(2) 公知の炭素含有化合物に水を加えて、これを直接又はキャリアガスと共に反応炉内に導入する方法、
(3) 水を直接、反応炉内に噴霧する方法、
などを用いることができる。
Claims (2)
- 以下の構成を備えたカーボンナノチューブの製造方法。
(1)前記カーボンナノチューブの製造方法は、
カーボンナノチューブ合成用触媒を分散させた触媒分散液を基板表面に塗布し、前記基板表面に前記カーボンナノチューブ合成用触媒を担持させる触媒担持工程と、
前記カーボンナノチューブ合成用触媒を担持させた前記基板表面にカーボンナノチューブを成長させる成長工程とを備え、
前記カーボンナノチューブ合成用触媒は、8族元素、9族元素及び10族元素から選ばれる1以上の第1元素と、4族元素及び5族元素から選ばれる1以上の第2元素とを含む微粒子と、前記微粒子の周囲を被覆する有機酸及び有機アミンから選ばれる1以上の有機物からなる保護層とを備え、
前記成長工程は、前記基板表面に担持させた前記カーボンナノチューブ合成用触媒上に、少なくとも炭素含有化合物ガスと酸素含有化合物ガスとを流し、化学気相成長法により前記基板表面にカーボンナノチューブを成長させるものである。
(2)前記酸素含有化合物ガスは、水蒸気である。
(3)前記炭素含有化合物ガスは、アセチレンである。
(4)前記アセチレン(x)に対する前記水蒸気(y)のモル比(y/x)は、反応管の導入部において、0.0002以上0.02以下である。 - 前記y/xは、前記反応管の導入部において、0.002以上0.02以下である請求項1に記載のカーボンナノチューブの製造方法。
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CN116253316A (zh) * | 2021-12-11 | 2023-06-13 | 江苏天奈科技股份有限公司 | 一种可控调节碳纳米管生长的方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002201014A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-07-16 | Honda Motor Co Ltd | カーボンナノチューブの製造方法 |
JP2003144906A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-05-20 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 壁面に付着した炭素質物の除去方法 |
JP2003171832A (ja) * | 2001-12-11 | 2003-06-20 | Showa Denko Kk | 炭素繊維の合成用原料組成物、それを用いた炭素繊維の製造方法および炭素繊維 |
JP2005263564A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | カーボンナノチューブの製造方法 |
JP2005279624A (ja) * | 2004-03-27 | 2005-10-13 | Osaka Prefecture | カーボンナノチューブの製造用触媒、製造方法及び製造装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101005754B1 (ko) * | 2004-07-27 | 2011-01-06 | 도꾸리쯔교세이호진 상교기쥬쯔 소고겡뀨죠 | 단층 카본 나노튜브 및 배향 단층 카본 나노튜브·벌크구조체 및 그들의 제조방법·장치 및 용도 |
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Patent Citations (5)
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---|---|---|---|---|
JP2002201014A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-07-16 | Honda Motor Co Ltd | カーボンナノチューブの製造方法 |
JP2003144906A (ja) * | 2001-11-16 | 2003-05-20 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 壁面に付着した炭素質物の除去方法 |
JP2003171832A (ja) * | 2001-12-11 | 2003-06-20 | Showa Denko Kk | 炭素繊維の合成用原料組成物、それを用いた炭素繊維の製造方法および炭素繊維 |
JP2005263564A (ja) * | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | カーボンナノチューブの製造方法 |
JP2005279624A (ja) * | 2004-03-27 | 2005-10-13 | Osaka Prefecture | カーボンナノチューブの製造用触媒、製造方法及び製造装置 |
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