JP4701720B2 - MALDI ion trap mass spectrometer and analysis method - Google Patents
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Description
本発明は、イオン源としてMALDI(Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization)を使用し、該イオン源で生成されたイオンを一旦3次元イオントラップ装置等のイオントラップ蓄積装置に蓄積した後、質量分析を行う、MALDIイオントラップ型質量分析装置、及びそれによる分析方法に関する。 In the present invention, MALDI (Matrix-Assisted Laser Desorption / Ionization) is used as an ion source, and ions generated by the ion source are once accumulated in an ion trap storage device such as a three-dimensional ion trap device, and then mass spectrometry is performed. The present invention relates to a MALDI ion trap mass spectrometer and an analysis method using the same.
MALDIイオントラップ型質量分析装置による質量分析の概略は次の通りである。MALDIのサンプルトレイ上に載置された試料にレーザビームを照射し、試料をイオン化する。イオン化された試料は、イオンレンズにより収束され、イオントラップに送り込まれる。イオントラップでは、その時点で電極に適切な電圧を印加することにより、入ってきたイオンを内部のイオントラップ空間に捕捉する。捕捉されたイオンは、そのままイオントラップから放出される場合もあれば、選択・開裂等の操作が行われた後、放出されることもある。イオントラップから放出されたイオンに対しては、TOFMS(Time Of Flight Mass Spectrometer)等の次段の質量分析装置により質量分析が行われる。 The outline of mass spectrometry using a MALDI ion trap mass spectrometer is as follows. A sample placed on a MALDI sample tray is irradiated with a laser beam to ionize the sample. The ionized sample is converged by an ion lens and sent to an ion trap. In the ion trap, an appropriate voltage is applied to the electrode at that time to trap incoming ions in the internal ion trap space. The trapped ions may be released from the ion trap as they are, or may be released after operations such as selection and cleavage. The ions emitted from the ion trap are subjected to mass analysis by a subsequent mass spectrometer such as TOFMS (Time Of Flight Mass Spectrometer).
イオントラップを用いた質量分析装置は一般に、一度に測定することのできる質量範囲が狭い。これは、MALDIで発生するイオンのほとんどが1価であり、かつ、イオントラップの低質量遮断(Lowmass Cutoff)という特徴のためである。すなわち、測定したいイオンの質量電荷比(m/z)の最大値を或る値に設定した場合、その約1/2〜1/3以下の質量電荷比のイオンはイオントラップ内に形成される四重極電場によってトラップすることができず、イオントラップを通過してしまうためである(特許文献1)。この下限となる質量電荷比の値は主にイオントラップにイオンを導入した直後にイオントラップのリング電極に印加される高周波(RF)電圧の値(振幅)によって決まるが、RF電圧印加(RF立ち上げ)とレーザ照射の時間差を変化させることにより微調整を行うことができる。 Mass spectrometers using ion traps generally have a narrow mass range that can be measured at once. This is because most of the ions generated by MALDI are monovalent, and the ion trap has a low mass cutoff. That is, when the maximum value of the mass-to-charge ratio (m / z) of ions to be measured is set to a certain value, ions having a mass-to-charge ratio of about 1/2 to 1/3 or less are formed in the ion trap. This is because they cannot be trapped by the quadrupole electric field and pass through the ion trap (Patent Document 1). The lower limit of the mass-to-charge ratio is determined mainly by the value (amplitude) of the radio frequency (RF) voltage applied to the ring electrode of the ion trap immediately after introducing ions into the ion trap. Fine adjustment can be performed by changing the time difference between the laser beam irradiation and the laser irradiation.
従来のMALDIイオントラップ型質量分析装置による質量分析では、あらかじめ用意された複数の質量範囲(例えば、超低質量、低質量、中質量、高質量、超高質量等)から任意の質量範囲を専用プログラム上で選択し、場合によってはさらにその設定パラメータ、特にレーザ照射時刻を微調整して、測定目的試料の推定質量に最適化して測定を行っている。 In mass spectrometry using a conventional MALDI ion trap mass spectrometer, any mass range can be dedicated from multiple mass ranges prepared in advance (e.g., ultra-low mass, low mass, medium mass, high mass, ultra-high mass, etc.) The selection is made on the program, and in some cases, the setting parameters, particularly the laser irradiation time, are finely adjusted to optimize the estimated mass of the sample to be measured for measurement.
多くの場合、試料の内容は未知であり、あらかじめ最適な質量範囲を設定することはできない。例えば、標準的には中質量範囲で測定すべき試料でも、実際にはやや低質量側に化合物が偏っていたり、逆に高質量側に偏っていたりすることがある。従って、分析条件を真に最適化するためには、検出されるイオンをまず確認してから、レーザ照射のタイミングを微調整し、再度測定を行わなければならない。 In many cases, the content of the sample is unknown, and an optimal mass range cannot be set in advance. For example, even in a sample to be measured in the medium mass range as a standard, the compound may actually be slightly biased toward the low mass side or conversely toward the high mass side. Therefore, in order to truly optimize the analysis conditions, it is necessary to first confirm the ions to be detected, finely adjust the timing of laser irradiation, and perform measurement again.
また、例えば中質量範囲に広く化合物が分布している混合物試料の場合、いかなる設定を行ったとしても、その試料全体を感度良く測定することができない。そのため、ペプチドマスフィンガープリント法(PMF)などのMSデータによるデータベース検索によっては信頼性の高い同定を行うことができない場合、シーケンスカバレージが低くなる場合がある。 For example, in the case of a mixture sample in which a compound is widely distributed in the medium mass range, the entire sample cannot be measured with high sensitivity no matter what setting is made. For this reason, sequence coverage may be lowered when highly reliable identification cannot be performed by database search using MS data such as peptide mass fingerprinting (PMF).
本発明が解決しようとする課題は、MALDIイオントラップ型質量分析装置において、1回の測定でより広い質量範囲をカバーすることのできる方法及び装置構成を提供することである。 The problem to be solved by the present invention is to provide a method and apparatus configuration capable of covering a wider mass range in one measurement in a MALDI ion trap mass spectrometer.
上記課題を解決するために成された本発明は、
第1の動作パラメータに従って試料にパルスレーザを照射するMALDI部と、
MALDI部において生成されたイオンをトラップし、第2の動作パラメータに従って質量分析部に放出するイオントラップ部と、
を備えるMALDIイオントラップ型質量分析装置において、
パルスレーザの照射時刻を前記第1の動作パラメータとするとともに、イオントラップ部のリング電極に高周波電圧を印加する時刻を前記第2の動作パラメータとして、そのパルスレーザ照射時刻とリング電極への高周波電圧印加時刻との時間間隔を変化させつつ1つの試料に対し複数回のパルスレーザ照射を行うように前記MALDI部及び前記イオントラップ部を制御し、そのパルスレーザ照射毎に得られたマススペクトルを加算又は加算平均することにより前記試料についてのマススペクトルを生成する制御部、を備えることを特徴とする。
The present invention made to solve the above problems
A MALDI unit that irradiates the sample with a pulsed laser according to the first operating parameter;
An ion trap unit that traps ions generated in the MALDI unit and releases them to the mass spectrometer unit according to a second operating parameter;
In a MALDI ion trap mass spectrometer equipped with
The pulse laser irradiation time is set as the first operating parameter, and the time when the high frequency voltage is applied to the ring electrode of the ion trap portion is set as the second operating parameter, and the pulse laser irradiation time and the high frequency voltage applied to the ring electrode are set. The MALDI unit and the ion trap unit are controlled so that multiple pulse laser irradiations are performed on one sample while changing the time interval from the application time, and the mass spectrum obtained for each pulse laser irradiation is added. Alternatively, a control unit that generates a mass spectrum for the sample by averaging is provided.
一般的には、イオントラップの電極に電圧を印加する時刻を変えるよりは、パルスレーザの照射時刻を変える方が容易である。
One general, the more change the time for applying a voltage to the electrodes of the ion trap, it is easier to change the irradiation time of the pulsed laser.
従来、MALDIイオントラップ型質量分析装置で1つの試料の分析を行う際は、MALDI部において試料にパルスレーザを複数回照射し、各照射毎に質量分析された結果であるマススペクトルを構成するプロファイルデータを加算又は加算平均していた。ここで、1つの試料が分析される間は、MALDI部における動作を規定するパラメータやイオントラップ部における動作を規定するパラメータは変わることがなかった。従って、同じ条件の下で測定された結果が加算又は加算平均されていた。 Conventionally, when a single sample is analyzed with a MALDI ion trap mass spectrometer, the MALDI unit irradiates the sample with a pulsed laser several times, and a profile that constitutes a mass spectrum that is the result of mass analysis for each irradiation Data was added or averaged. Here, while one sample was analyzed, the parameters defining the operation in the MALDI unit and the parameters defining the operation in the ion trap unit did not change. Therefore, the results measured under the same conditions were added or averaged.
それに対し本発明に係るMALDIイオントラップ型質量分析装置では、同一試料について複数回行われる質量分析の各々において、MALDI部における動作を規定する一つのパラメータである第1の動作パラメータと、イオントラップ部における動作を規定する一つのパラメータである第2の動作パラメータとの関係、つまり、パルスレーザ照射時刻とリング電極への高周波電圧印加時刻との時間間隔を変化させる。
On the other hand, in the MALDI ion trap mass spectrometer according to the present invention, in each of mass spectrometry performed on the same sample a plurality of times, a first operation parameter that is one parameter that defines the operation in the MALDI unit, and the ion trap unit The relationship between the second operation parameter, which is one parameter that defines the operation in the above , that is, the time interval between the pulse laser irradiation time and the high frequency voltage application time to the ring electrode is changed .
制御部が両時刻の時間間隔を変化させつつ複数回のパルスレーザ照射を行うことにより、イオントラップにおいてトラップされる質量電荷比の範囲を広げることができるようになる。すなわち、1回の質量分析でより広い質量範囲をカバーすることができるようになる。 A control unit is by performing a plurality of times of pulse laser irradiation while changing the time interval of two times, it is possible to widen the range of mass-to-charge ratios are trapped in the ion trap. That is, a wider mass range can be covered by one mass analysis.
なお、この場合、イオントラップのリング電極に印加する電圧は高電圧であり、この印加時刻を変更するのは比較的困難であるのに対し、パルスレーザの照射時刻を変更するのは比較的容易である。従って、本方法を採用する場合は、リング電極に高周波高電圧を印加する時刻を固定して、パルスレーザの照射時刻を順次変化させてゆくという方法を採用することが望ましい。 In this case, the voltage applied to the ring electrode of the ion trap is a high voltage, and it is relatively difficult to change the application time, but it is relatively easy to change the irradiation time of the pulse laser. It is. Therefore, when this method is adopted, it is desirable to adopt a method in which the time for applying the high frequency high voltage to the ring electrode is fixed and the irradiation time of the pulse laser is sequentially changed.
本発明の一実施形態であるMALDIイオントラップ型質量分析装置を図1により説明する。本質量分析装置10は、イオン源であるMALDI部11、MALDI部で生成されたイオンを一時的に保持するイオントラップ部12、イオントラップ部から加速して放出されるイオンが飛行し、検出される飛行時間(TOF)型質量分析部13、及び、それら各部を制御する制御部14等から成る。制御部14はその他に、質量分析部13の検出器131から出力される検出データに基づきマススペクトルを生成し、必要に応じてその後のデータ解析を行う機能を有する。
A MALDI ion trap mass spectrometer according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the
このようなMALDIイオントラップ型質量分析装置において、1つの試料の質量分析は図2に示すような手順で行われる。
MALDI部11において、マトリックスに混入された試料111がサンプル板上に載置され、そこにN2レーザ光源112からパルス状のレーザビームが照射されることにより試料111がイオン化され、放出される。放出されたイオンは、イオンレンズ113によりイオントラップ部12の入口側エンドキャップ電極121の開口に集束され、イオントラップ空間122に投入される。イオントラップ空間122では後述のように四重極電場が形成され、これにより、順次投入されてくるイオンがイオントラップ空間122内に保持される。保持されたイオンに対しては、必要に応じて、クーリングや選択、開裂等の処理が行われる。
In such a MALDI ion trap mass spectrometer, mass analysis of one sample is performed according to the procedure shown in FIG.
In the MALDI
イオントラップ空間122内に保持されたイオンは、後述の所定の電極への電圧印加により加速され、一挙に出口側エンドキャップ電極123の開口からTOF型質量分析部13に向けて放出される。この加速の際、イオンはその質量電荷比に応じた速度を与えられ、低質量電荷比のイオンほど高速に加速される。これにより、イオンはTOF型質量分析部13の電磁場の存在しない飛行空間を飛行する間にその質量電荷比により分離され、検出器131によって分離して検出される。
Ions held in the
こうして1回の質量分析が行われると、横軸を質量電荷比(mass/charge)、縦軸をイオン強度とする1つのマススペクトルが生成される。MALDI部11では、サンプル板上にセットされた試料111に対して多数回のレーザパルスの照射が行われ、各照射毎に上記のようなプロセスでマススペクトルが生成される。制御部14では、こうして生成された多数のマススペクトルを加算し、又は加算平均して、その試料に関するマススペクトルを生成する。
When mass spectrometry is performed once in this way, one mass spectrum is generated with the mass / charge ratio on the horizontal axis and the ion intensity on the vertical axis. In the MALDI
以上のような一連の手順において、各動作は図2に示すようなタイミングで行われる。すなわち、まず、時刻t0で試料111にパルスレーザを照射する。このとき、イオントラップ部12の入口側エンドキャップ(EC)電極121には電圧を印加せず(接地し)、出口側エンドキャップ(EC)電極123に正の直流電圧(正イオンの場合)を印加しておく。パルスレーザ照射により生成したイオンは、質量電荷比(m/z)の小さいものから順にイオントラップ空間122内に入るが、出口側エンドキャップ電極123に印加された電圧(Retard電圧)によりその開口から質量分析部13に抜け出ることなく、イオントラップ空間122内にとどまる。
In the series of procedures as described above, each operation is performed at a timing as shown in FIG. That is, first, the
この状態を所定時間継続することにより、全てのイオンがイオントラップ空間122内に導入されるようにする。そして時刻t1に出口側エンドキャップ電極123を接地するとともに、イオントラップ部12のリング電極124に高周波(RF)電圧を印加する。このRF電圧によりイオントラップ空間122内に擬似ポテンシャルが形成され、イオンがトラップされる。トラップされたイオンはイオントラップ空間122内に予め導入されたガス(Heなどの希ガス)と衝突し、エネルギ収束されてイオントラップ空間122の中心に集まってゆく(クーリング)。
By continuing this state for a predetermined time, all ions are introduced into the
MSモードの場合、このクーリング処理が終了した時刻t2において、リング電極124へのRF電圧の印加を停止し、入口側エンドキャップ電極121と出口側エンドキャップ電極123に逆極性の電圧を印加する(正イオンの場合、入口側エンドキャップ電極121に正の、出口側エンドキャップ電極123に負の電圧を印加する)ことによりイオントラップ空間122に強い電圧勾配を形成し、イオンを質量分析部13に向けて加速する。これによりイオンはその質量電荷比に応じた初速を得、出口側エンドキャップ電極123の開口から一斉に飛び出して質量分析部13の飛行空間を等速飛行する。図1の装置の場合、イオンは質量分析部13の終端の反射部(リフレクトロン)で折り返してさらに長い距離を飛行して、検出器131により質量電荷比の小さいもの(初速の大きいもの)から順に検出される。制御部14では、入力したイオンの検出信号強度と飛行時間(Time of Flight)からマススペクトルを生成する。
In the MS mode, application of the RF voltage to the
こうして1回のパルスレーザ照射による質量分析が終わった後、時刻t3において入口側エンドキャップ電極121と出口側エンドキャップ電極123の電圧を待機状態の値(時刻t0における値)に戻し、次のパルスレーザ照射を行う。このようなパルスレーザの照射を多数回(通常、数十から数百回)繰り返し、それにより得られた各マススペクトルを制御部14において加算又は加算平均することにより、この試料111の質量分析データを得る。
After the mass analysis by one pulse laser irradiation is thus completed, the voltage at the inlet
なお、MS/MSモードやMSnモードでは、時刻t2にイオンがイオントラップ部12から放出される前(かつ、クーリングの前)にプリカーサイオンの選択、及びガスによる衝突誘起解離処理が行われる。
In the MS / MS mode and the MS n mode, the precursor ions are selected and the collision-induced dissociation process using gas is performed before ions are released from the
本発明に係るMALDIイオントラップ型質量分析装置10では、このパルスレーザ照射を繰り返す際に、図3に示すように、リング電極124にRF電圧を印加し、出口側エンドキャップ電極123の電圧を接地する時刻t1に対するパルスレーザの照射時刻t01,t02,t03,...を少しずつずらせる。
In the MALDI ion
イオントラップ空間122内にトラップされるイオンの質量電荷比m/zは、理論上、RF電圧の大きさと周波数により定まるが、MALDI部11におけるイオン化、すなわちレーザ照射時刻t0、とRF電圧印加(RF立ち上げ)時刻t1の間の時間によっても有意な影響を受け、レーザ照射時刻t0からRF立ち上げ時刻t1までの時間が長いほど、より大きな質量電荷比を持つイオンがイオントラップ空間122にトラップされるようになる。
The mass-to-charge ratio m / z of ions trapped in the
図3に示すようにパルスレーザの照射時刻t01,t02,t03,...を少しずつずらせることにより、各照射毎にイオントラップ部12にトラップされるイオンの質量電荷比の範囲を少しずつずらせることができる。従って、1つの試料111に対してこうしてパルスレーザ照射時刻をずらして質量分析を行い、それらにより得られたデータを集積する(加算又は加算平均する)ことにより、広い質量電荷比の範囲のイオンの質量分析を行うことができるようになる。
As shown in FIG. 3, by gradually shifting the pulse laser irradiation times t01, t02, t03,..., The range of the mass-to-charge ratio of ions trapped in the
パルスレーザ照射時刻とRF電圧印加時刻の間の時間を変えるためには、パルスレーザ照射時刻を固定してRF電圧印加時刻を変化させる方法も考えられるが、RF電圧は高電圧であるため、その印加時刻を変化させるよりもパルスレーザ照射時刻を変化させる方が実際上は容易である。 In order to change the time between the pulse laser irradiation time and the RF voltage application time, a method of changing the RF voltage application time by fixing the pulse laser irradiation time is also conceivable, but the RF voltage is a high voltage. In practice, it is easier to change the pulse laser irradiation time than to change the application time.
本発明の一実施例である株式会社島津製作所製MALDIイオントラップ型質量分析装置AXIMA-QIT(AXIMAは登録商標)を用いてウシ血清アルブミントリプシン消化物を測定したデータを示す。図4(b)は、パルスレーザの照射時刻t0とRF電圧印加時刻t1の間の時間を標準的な値である23μsecとした場合のマススペクトルであり、質量電荷比m/zが1200以下の部分では検出されるイオンが非常に少ないことがわかる。それに対し、パルスレーザ照射の時刻t0を6μsecだけ遅らせ、t0〜t1の時間を短くした場合には、図4(a)に示すようにマススペクトルが全体的に低質量側にシフトしており、m/zが1200以下の範囲でも多くのイオンが検出されている。 The data which measured the bovine serum albumin trypsin digest using the MALDI ion trap type | mold mass spectrometer AXIMA-QIT (AXIMA is a registered trademark) by Shimadzu Corporation which is one Example of this invention are shown. FIG. 4B is a mass spectrum when the time between pulse laser irradiation time t0 and RF voltage application time t1 is a standard value of 23 μsec, and the mass-to-charge ratio m / z is 1200 or less. It can be seen that there are very few ions detected in the part. On the other hand, when the time t0 of the pulse laser irradiation is delayed by 6 μsec and the time t0 to t1 is shortened, the mass spectrum as a whole is shifted to the low mass side as shown in FIG. Many ions are detected even when m / z is 1200 or less.
同じ試料について、照射時刻t0を少しずつずらせて多数回のパルスレーザを照射し、得られた各プロファイルデータを加算平均すると、図5に示すように、広い質量範囲にわたるマススペクトルが得られた。 For the same sample, irradiation time t0 was shifted little by little, and a plurality of pulse lasers were irradiated. When the obtained profile data were averaged, a mass spectrum over a wide mass range was obtained as shown in FIG.
10…MALDIイオントラップ型質量分析装置
11…MALDI部
111…試料
112…N2レーザ光源
113…イオンレンズ
12…イオントラップ部
121…入口側エンドキャップ電極
122…イオントラップ空間
123…出口側エンドキャップ電極
124…リング電極
13…TOF型質量分析部
131…検出器
14…制御部
DESCRIPTION OF
Claims (3)
MALDI部において生成されたイオンをトラップし、第2の動作パラメータに従って質量分析部に放出するイオントラップ部と、
を備えるMALDIイオントラップ型質量分析装置において、
パルスレーザの照射時刻を前記第1の動作パラメータとするとともに、イオントラップ部のリング電極に高周波電圧を印加する時刻を前記第2の動作パラメータとして、そのパルスレーザ照射時刻とリング電極への高周波電圧印加時刻との時間間隔を変化させつつ1つの試料に対し複数回のパルスレーザ照射を行うように前記MALDI部及び前記イオントラップ部を制御し、そのパルスレーザ照射毎に得られたマススペクトルを加算又は加算平均することにより前記試料についてのマススペクトルを生成する制御部、
を備えることを特徴とするMALDIイオントラップ型質量分析装置。 A MALDI unit that irradiates the sample with a pulsed laser according to the first operating parameter;
An ion trap unit that traps ions generated in the MALDI unit and releases them to the mass spectrometer unit according to a second operating parameter;
In a MALDI ion trap mass spectrometer equipped with
The pulse laser irradiation time is set as the first operating parameter, and the time when the high frequency voltage is applied to the ring electrode of the ion trap portion is set as the second operating parameter, and the pulse laser irradiation time and the high frequency voltage applied to the ring electrode are set. The MALDI unit and the ion trap unit are controlled so that multiple pulse laser irradiations are performed on one sample while changing the time interval from the application time, and the mass spectrum obtained for each pulse laser irradiation is added. Or a control unit that generates a mass spectrum for the sample by averaging.
A MALDI ion trap mass spectrometer.
MALDI部において生成されたイオンをトラップし、第2の動作パラメータに従って質量分析部に放出するイオントラップ部と、
を備えるMALDIイオントラップ型質量分析装置による質量分析方法であって、
パルスレーザの照射時刻を前記第1の動作パラメータとするとともに、イオントラップ部のリング電極に高周波電圧を印加する時刻を前記第2の動作パラメータとして、そのパルスレーザ照射時刻とリング電極への高周波電圧印加時刻との時間間隔を変化させつつ1つの試料に対し複数回のパルスレーザ照射を行うように前記MALDI部及び前記イオントラップ部を制御し、そのパルスレーザ照射毎に得られたマススペクトルを加算又は加算平均することにより前記試料についてのマススペクトルを生成することを特徴とするMALDIイオントラップ型質量分析装置による質量分析方法。 A MALDI unit that irradiates the sample with a pulsed laser according to the first operating parameter;
An ion trap unit that traps ions generated in the MALDI unit and releases them to the mass spectrometer unit according to a second operating parameter;
A mass spectrometry method using a MALDI ion trap mass spectrometer comprising:
The pulse laser irradiation time is set as the first operating parameter, and the time when the high frequency voltage is applied to the ring electrode of the ion trap portion is set as the second operating parameter, and the pulse laser irradiation time and the high frequency voltage applied to the ring electrode are set. The MALDI unit and the ion trap unit are controlled so that multiple pulse laser irradiations are performed on one sample while changing the time interval from the application time, and the mass spectrum obtained for each pulse laser irradiation is added. Alternatively, a mass spectrometry method using a MALDI ion trap mass spectrometer is characterized in that a mass spectrum of the sample is generated by averaging.
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